JPS5818780B2 - 半導体ペレットの検出方法 - Google Patents
半導体ペレットの検出方法Info
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- JPS5818780B2 JPS5818780B2 JP50018288A JP1828875A JPS5818780B2 JP S5818780 B2 JPS5818780 B2 JP S5818780B2 JP 50018288 A JP50018288 A JP 50018288A JP 1828875 A JP1828875 A JP 1828875A JP S5818780 B2 JPS5818780 B2 JP S5818780B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- wafer
- probing
- photosensitive agent
- pellets
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- Expired
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50018288A JPS5818780B2 (ja) | 1975-02-12 | 1975-02-12 | 半導体ペレットの検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50018288A JPS5818780B2 (ja) | 1975-02-12 | 1975-02-12 | 半導体ペレットの検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5193169A JPS5193169A (online.php) | 1976-08-16 |
| JPS5818780B2 true JPS5818780B2 (ja) | 1983-04-14 |
Family
ID=11967429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50018288A Expired JPS5818780B2 (ja) | 1975-02-12 | 1975-02-12 | 半導体ペレットの検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818780B2 (online.php) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5599736A (en) * | 1979-01-25 | 1980-07-30 | Nec Corp | Marking method for semiconductor wafer |
-
1975
- 1975-02-12 JP JP50018288A patent/JPS5818780B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5193169A (online.php) | 1976-08-16 |
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