JPS58178535A - 半導体基板の移し替え装置 - Google Patents
半導体基板の移し替え装置Info
- Publication number
- JPS58178535A JPS58178535A JP6139182A JP6139182A JPS58178535A JP S58178535 A JPS58178535 A JP S58178535A JP 6139182 A JP6139182 A JP 6139182A JP 6139182 A JP6139182 A JP 6139182A JP S58178535 A JPS58178535 A JP S58178535A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- pitch
- wafers
- fins
- frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H01L21/67781—Batch transfer of wafers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体製造プロセスで使用ざhる゛1′導体基
板収納箱(以下キャリアと称する)間の・(へ導体基板
(以rウェハーと称する)の移し竹え装置、特に77い
に倍数倍のピッチを有するキャリア間におけるウェハー
の移し替え装置に関するものである0 一般にノ1:いにピッチの異なるキャリア間において面
接一度にウェハーの移し替えを行なうことはfIt)能
であり、その間には双方のキャリアピッチを満足させる
ためのアダプター機能が斐求される1、■−記要求を満
足するために従来いくつかの方法が試みられているが、
本発明は1−記要求に応じて4案されたもので、特にn
ピッチと20ピツチとのキャリア相If間におけるウェ
ハーの移し替えを一度にできるようにした装置を提供す
るものである。
板収納箱(以下キャリアと称する)間の・(へ導体基板
(以rウェハーと称する)の移し竹え装置、特に77い
に倍数倍のピッチを有するキャリア間におけるウェハー
の移し替え装置に関するものである0 一般にノ1:いにピッチの異なるキャリア間において面
接一度にウェハーの移し替えを行なうことはfIt)能
であり、その間には双方のキャリアピッチを満足させる
ためのアダプター機能が斐求される1、■−記要求を満
足するために従来いくつかの方法が試みられているが、
本発明は1−記要求に応じて4案されたもので、特にn
ピッチと20ピツチとのキャリア相If間におけるウェ
ハーの移し替えを一度にできるようにした装置を提供す
るものである。
本発明は移し替える相手キャリアのピッチが2倍あるい
は1/2 igであることを利用して、内枠をnの距離
だけ移動させて2nピンザキヤリアに収納可能な枚数の
ウェハーを一度Gこ移し替えるようにしたことを特徴と
するものである。
は1/2 igであることを利用して、内枠をnの距離
だけ移動させて2nピンザキヤリアに収納可能な枚数の
ウェハーを一度Gこ移し替えるようにしたことを特徴と
するものである。
以下本発明の実施例を図面によって詳細に説明する。
第1図〜第3図は本発明の一実施例であり第1図は本発
明のアダプター機能を示す斜視図、第2図及び第3図は
第1図のx −x’断面図にnピッチ千ヤリア及び2n
ピツチキヤリアの溝断面を重ねた図である。
明のアダプター機能を示す斜視図、第2図及び第3図は
第1図のx −x’断面図にnピッチ千ヤリア及び2n
ピツチキヤリアの溝断面を重ねた図である。
第1図において、本発明は矩形の外枠1と、外枠1内に
嵌まり込む矩形の内枠2と、内枠2内部の両端に等間隔
ピッチで配列固定されたチー/A状フィン6・・とから
構成し、外枠1に長手方向に延びる長溝18を設け、該
長溝13内に、内枠2のピン5を嵌合させて前記内枠2
を、外枠1に対してフィン3の配列方向(第1図におい
てl ト″方向)にフィン5の配列ピッチ1/2の距離
たけ移動可能としたものである。また、フィン5により
ウエノ・−をキャリアに導く溝”ra、 3a、ろa、
・を形成し、該溝の一方の開CJ端を20ピツチキヤリ
了8の谷溝8 a 、 8 a’、 8 j’、 に
対応させ、他ノjの開11端を一溝おきにnピッチキャ
リア6の溝6 a + 671’l 64’+・・(又
は6 b、 6 b’、 6 b″、・・・)に対応さ
せる。4はキャリアの位置決めピンを差し込む内枠2の
位置決y)穴であり、外枠1にも同様に設けられている
。
嵌まり込む矩形の内枠2と、内枠2内部の両端に等間隔
ピッチで配列固定されたチー/A状フィン6・・とから
構成し、外枠1に長手方向に延びる長溝18を設け、該
長溝13内に、内枠2のピン5を嵌合させて前記内枠2
を、外枠1に対してフィン3の配列方向(第1図におい
てl ト″方向)にフィン5の配列ピッチ1/2の距離
たけ移動可能としたものである。また、フィン5により
ウエノ・−をキャリアに導く溝”ra、 3a、ろa、
・を形成し、該溝の一方の開CJ端を20ピツチキヤリ
了8の谷溝8 a 、 8 a’、 8 j’、 に
対応させ、他ノjの開11端を一溝おきにnピッチキャ
リア6の溝6 a + 671’l 64’+・・(又
は6 b、 6 b’、 6 b″、・・・)に対応さ
せる。4はキャリアの位置決めピンを差し込む内枠2の
位置決y)穴であり、外枠1にも同様に設けられている
。
本実施例において、nピッチのキャリアから20ピツチ
のキャリアヘウエノ1−を移し皆える場合について説明
する。第2図の状態において各キャリア6.8の位置決
めピン7.9を利用し、外。
のキャリアヘウエノ1−を移し皆える場合について説明
する。第2図の状態において各キャリア6.8の位置決
めピン7.9を利用し、外。
枠1にウェハーを収納したnピッチキャリア6、内枠2
に空の2nピツチキヤリア8を設置i¥して両キャリア
6.8を内外枠を挾んで対向させ、ギヤリア6を矢視C
方向に傾斜させれば、(ij 6 a、 6 a’。
に空の2nピツチキヤリア8を設置i¥して両キャリア
6.8を内外枠を挾んで対向させ、ギヤリア6を矢視C
方向に傾斜させれば、(ij 6 a、 6 a’。
6 、(’、・・・に収納されているウェハーはフィン
ろ・・で構成される満3a、ろa′、3名・・・を通り
2nピンチキヤリア8のtjI48a、 8a’、 8
i;・・に収納される。このとき、キャリア6のill
6b、 6b’、 6H’、・・・に収納されている
ウェハーはフィン5かストッパーとなり、nピッチキャ
リア内に保持されたままである。この状態で20ピツチ
キヤリア8を内枠2から抜き取った後、全体を矢視り方
向に傾斜させてもとの状態まで復帰させる。さらに内枠
2を矢視A方向にnの距離たけ移動させ第6図の状態に
する。この状0で新たに空の20ピンチキヤリア8を内
枠2に設置し、全体を矢視C方向へ傾斜させれば、キャ
リア乙の+146b、 6b’、 6Bニー・・に収納
されるウェハーがフィン5・・・で構成されるp 3
a、 5’a’、 3 a”;・を通い2nピツチキヤ
リーf 8 (7) S8 a、 8 a’、 8 a
”、・−に収納される。
ろ・・で構成される満3a、ろa′、3名・・・を通り
2nピンチキヤリア8のtjI48a、 8a’、 8
i;・・に収納される。このとき、キャリア6のill
6b、 6b’、 6H’、・・・に収納されている
ウェハーはフィン5かストッパーとなり、nピッチキャ
リア内に保持されたままである。この状態で20ピツチ
キヤリア8を内枠2から抜き取った後、全体を矢視り方
向に傾斜させてもとの状態まで復帰させる。さらに内枠
2を矢視A方向にnの距離たけ移動させ第6図の状態に
する。この状0で新たに空の20ピンチキヤリア8を内
枠2に設置し、全体を矢視C方向へ傾斜させれば、キャ
リア乙の+146b、 6b’、 6Bニー・・に収納
されるウェハーがフィン5・・・で構成されるp 3
a、 5’a’、 3 a”;・を通い2nピツチキヤ
リーf 8 (7) S8 a、 8 a’、 8 a
”、・−に収納される。
次に20ピツチキヤリアからnピンチキャリアヘウエハ
ーを移し替える場合について1悦明する。
ーを移し替える場合について1悦明する。
第3図の状態において空のnピッチキャリア6を外枠1
ヘウエハーを収納した2nピツチキヤリア8を内枠2へ
設置し、全体を矢視I)方向・\傾斜させれば、キャリ
ア8の溝B a、 B a/、 B att、・に収納
されるウェハーはフィン6・・で構成される溝3a。
ヘウエハーを収納した2nピツチキヤリア8を内枠2へ
設置し、全体を矢視I)方向・\傾斜させれば、キャリ
ア8の溝B a、 B a/、 B att、・に収納
されるウェハーはフィン6・・で構成される溝3a。
3 a/、 3 /、、、゛を通りnピッチキャリア6
の尚6 b 。
の尚6 b 。
6 b’、 6 b″、・・へと収納される。その後、
全体を矢視C方向に傾斜させてもとの状態にもどして内
枠2を矢視B方向へ移動させ、第2図の状態にする。
全体を矢視C方向に傾斜させてもとの状態にもどして内
枠2を矢視B方向へ移動させ、第2図の状態にする。
ここで新たにつyバーを収納した2nピツ子キヤリア8
を内枠2に設置し全体を矢I I)方向へ傾ふ(させれ
ばウェハーはnピッチキャリア6の而6.I。
を内枠2に設置し全体を矢I I)方向へ傾ふ(させれ
ばウェハーはnピッチキャリア6の而6.I。
63′、6a″、・・・に収納される。
以1−説明したように本発明は、nピッチキャリアと2
0ピツチキヤリアとの間のウニ/・−の移し替える際に
、最初の20ピツチキヤリJ′に収納されるウェハーを
一度に11ピツチキヤリ了の一γjlj j)きに収納
し、第2の2nピツチに収納されるウエハーヲ一度にn
ピッチキャリアの別の・溝おきに収納でき、又nピッチ
キャリアに収納されたウェハーは2回の操作で20ピツ
チキヤリ了2個に収納できるため、実質的には同一ピン
チキャリア相47、間の移し替えと同様に操作でき移し
皆え時間を大幅に短縮でき、nピッチキャリアと20ピ
ンチキャリア相r4H間のウェハー移し替えを機械化で
きる効果を有するものである。
0ピツチキヤリアとの間のウニ/・−の移し替える際に
、最初の20ピツチキヤリJ′に収納されるウェハーを
一度に11ピツチキヤリ了の一γjlj j)きに収納
し、第2の2nピツチに収納されるウエハーヲ一度にn
ピッチキャリアの別の・溝おきに収納でき、又nピッチ
キャリアに収納されたウェハーは2回の操作で20ピツ
チキヤリ了2個に収納できるため、実質的には同一ピン
チキャリア相47、間の移し替えと同様に操作でき移し
皆え時間を大幅に短縮でき、nピッチキャリアと20ピ
ンチキャリア相r4H間のウェハー移し替えを機械化で
きる効果を有するものである。
尚、以−Lの実施例においては、ピッチの異なるキャリ
アの溝幅及び溝入「4形状を考慮するためにアダプター
機能のフィン6をテーパ状とする等第1図〜第5図で示
される形状で説明したか、本発明の特徴である、内枠が
外枠に対してnのピッチだけ移動することを利用して2
nピツチキヤリアに収納可能な枚数のウェハーを一度に
nピンチキャリアとの間で移し替えるアダ/ター機能を
有する限り、形状の如何を問わずすべての構成に及ぶこ
とは言うまでもない。
アの溝幅及び溝入「4形状を考慮するためにアダプター
機能のフィン6をテーパ状とする等第1図〜第5図で示
される形状で説明したか、本発明の特徴である、内枠が
外枠に対してnのピッチだけ移動することを利用して2
nピツチキヤリアに収納可能な枚数のウェハーを一度に
nピンチキャリアとの間で移し替えるアダ/ター機能を
有する限り、形状の如何を問わずすべての構成に及ぶこ
とは言うまでもない。
第1図は本発明の一実施例におけるアダプター機能を示
す斜視図、第2図及び第3図は第1図のX−X′断面図
にnピッチキャリア及び2nピツチキヤリアの溝断面を
重ねた断面図である。。 1・・・外枠、2・・・内枠、3゛°フイン、ろa +
5 (+’+3a″・・溝、4・・・位置決め穴、5
・・外枠・内枠接続ピン、6・・nピッチキャリア、6
a、6a′、6a″・・・溝、6b、 6 b46 b
″−溝、7・・・位置決めピン、8−2 nピッチキャ
リア、8a、 8a’、 8a″・・・溝、9・・位置
決めピン。 特許出願人 丸州[1本電気株式会社代理人弁理士
菅 野 中 第1図 α:)−一一一一 く嘴− の−−H− <−−
す斜視図、第2図及び第3図は第1図のX−X′断面図
にnピッチキャリア及び2nピツチキヤリアの溝断面を
重ねた断面図である。。 1・・・外枠、2・・・内枠、3゛°フイン、ろa +
5 (+’+3a″・・溝、4・・・位置決め穴、5
・・外枠・内枠接続ピン、6・・nピッチキャリア、6
a、6a′、6a″・・・溝、6b、 6 b46 b
″−溝、7・・・位置決めピン、8−2 nピッチキャ
リア、8a、 8a’、 8a″・・・溝、9・・位置
決めピン。 特許出願人 丸州[1本電気株式会社代理人弁理士
菅 野 中 第1図 α:)−一一一一 く嘴− の−−H− <−−
Claims (1)
- ill 外枠と、前記外枠内部にはまり込む内枠と、
前記内枠内部の両端に等間隔ピンチで配列固宇さ第1た
フィン状部材とから構成し、前記内枠を、前記外枠に対
してAiJ記フィン状部材の配列/、向にフィン状部材
の配列ピッチの1Aの距離たけ移動可能としたことを特
徴とする半導体基板の移し替え装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6139182A JPS58178535A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 半導体基板の移し替え装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6139182A JPS58178535A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 半導体基板の移し替え装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58178535A true JPS58178535A (ja) | 1983-10-19 |
Family
ID=13169815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6139182A Pending JPS58178535A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 半導体基板の移し替え装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58178535A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2680503A1 (fr) * | 1991-08-20 | 1993-02-26 | Photowatt Int | Dispositif de transfert de plaques, notamment de plaques de silicium. |
US20120126375A1 (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for forming metrology structures from fins in integrated circuitry |
US8633076B2 (en) | 2010-11-23 | 2014-01-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for adjusting fin width in integrated circuitry |
US9472550B2 (en) | 2010-11-23 | 2016-10-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Adjusted fin width in integrated circuitry |
CN110571178A (zh) * | 2018-06-06 | 2019-12-13 | 环球晶圆股份有限公司 | 晶圆转换装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5548924A (en) * | 1978-10-02 | 1980-04-08 | Hitachi Ltd | Jig for wafer transfer in bulk |
-
1982
- 1982-04-13 JP JP6139182A patent/JPS58178535A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5548924A (en) * | 1978-10-02 | 1980-04-08 | Hitachi Ltd | Jig for wafer transfer in bulk |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2680503A1 (fr) * | 1991-08-20 | 1993-02-26 | Photowatt Int | Dispositif de transfert de plaques, notamment de plaques de silicium. |
US20120126375A1 (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for forming metrology structures from fins in integrated circuitry |
US8486769B2 (en) * | 2010-11-19 | 2013-07-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for forming metrology structures from fins in integrated circuitry |
US8633076B2 (en) | 2010-11-23 | 2014-01-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for adjusting fin width in integrated circuitry |
US9472550B2 (en) | 2010-11-23 | 2016-10-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Adjusted fin width in integrated circuitry |
CN110571178A (zh) * | 2018-06-06 | 2019-12-13 | 环球晶圆股份有限公司 | 晶圆转换装置 |
CN110571178B (zh) * | 2018-06-06 | 2022-03-04 | 环球晶圆股份有限公司 | 晶圆转换装置 |
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