JPS58162839A - 水分含有率測定装置 - Google Patents
水分含有率測定装置Info
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- JPS58162839A JPS58162839A JP4562182A JP4562182A JPS58162839A JP S58162839 A JPS58162839 A JP S58162839A JP 4562182 A JP4562182 A JP 4562182A JP 4562182 A JP4562182 A JP 4562182A JP S58162839 A JPS58162839 A JP S58162839A
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- moisture
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
- G01N5/04—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder
- G01N5/045—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder for determining moisture content
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料物質の水分含有ｉｔ （ｃ−２１１１１熱
装置と天秤装置を用い自動的に測定する装置に関し、特
にここで提供する発明装置はいわゆる加熱乾燥式水分測
定装置に関する。
装置と天秤装置を用い自動的に測定する装置に関し、特
にここで提供する発明装置はいわゆる加熱乾燥式水分測
定装置に関する。
加熱乾燥式水分測定装置は加熱装置として赤外線ランプ
′ｌｋｆ用し天秤装置にょ多試料の初期重量およびその
重量減少分を測定する。時間（分）あたシの試料重量減
少量が所定値以下になったとき「恒量に達した」と判断
されその時の重量減少菫と初期重量とから含水率が求め
られる。
′ｌｋｆ用し天秤装置にょ多試料の初期重量およびその
重量減少分を測定する。時間（分）あたシの試料重量減
少量が所定値以下になったとき「恒量に達した」と判断
されその時の重量減少菫と初期重量とから含水率が求め
られる。
このような方式の水分測定装置は、ＴＩ８．ＪＡＳで定
められた加熱乾燥法による水分測定に代るものとしてあ
らゆる試料に適応でき、高い８度が得られる反面、初期
重量の測定、加熱温度の設定、乾燥時間の確ｇ（恒量に
達する時間）、水分測定値の記録等のため常に測定者が
付いていなければならない欠点がある。
められた加熱乾燥法による水分測定に代るものとしてあ
らゆる試料に適応でき、高い８度が得られる反面、初期
重量の測定、加熱温度の設定、乾燥時間の確ｇ（恒量に
達する時間）、水分測定値の記録等のため常に測定者が
付いていなければならない欠点がある。
このような欠点全解消するために、測定試料の重量減少
割合と乾燥時間の関係が加熱温度を一定とすれば＃ミぼ
一様に特定され各試料は固有の特性を有することを利用
して、試料ごとにカロ熱温度。
割合と乾燥時間の関係が加熱温度を一定とすれば＃ミぼ
一様に特定され各試料は固有の特性を有することを利用
して、試料ごとにカロ熱温度。
乾燥時間を予め設定し重ｔｇ少が止まったとき（恒量に
達したとき）に水分値を自動的に表示させる方式が提案
されている。
達したとき）に水分値を自動的に表示させる方式が提案
されている。
本発明はこれを更に発展させた本のであり、測定試料を
選択するために押ボタンスイッチを用い「玄米」、「精
米」、「砂糖」等の押ボタンを水分測定装置に組込むこ
と全基本的に考えたものであるが、これでは多種類の試
料に対応できない欠点がある。
選択するために押ボタンスイッチを用い「玄米」、「精
米」、「砂糖」等の押ボタンを水分測定装置に組込むこ
と全基本的に考えたものであるが、これでは多種類の試
料に対応できない欠点がある。
本発明はこのような欠点を解消するためになされたもの
であり、試料ごとにカードを用意し、このカードに試料
ごとの乾燥時間および加熱温度が予め記憶され、このカ
ードを選択して入力端子にセットし任意の重量（ある程
度限定される）の試料を試料皿に採出した後測定を開始
することによ）カードの水分減少割合に準じて自動的に
加熱温度および乾燥時間が設定され最終水分値が表示さ
れる水分含有率測定装置の提供を目的とする。
であり、試料ごとにカードを用意し、このカードに試料
ごとの乾燥時間および加熱温度が予め記憶され、このカ
ードを選択して入力端子にセットし任意の重量（ある程
度限定される）の試料を試料皿に採出した後測定を開始
することによ）カードの水分減少割合に準じて自動的に
加熱温度および乾燥時間が設定され最終水分値が表示さ
れる水分含有率測定装置の提供を目的とする。
以下、本発明に係る測定装置の一実施例を添附図面につ
いて説明する。第１図は本発明装置の構成を示すゾロツ
ク図である。１は加熱装置部であ夛、加熱器１０および
加熱制御回路１２を含む。
いて説明する。第１図は本発明装置の構成を示すゾロツ
ク図である。１は加熱装置部であ夛、加熱器１０および
加熱制御回路１２を含む。
加熱器１０は加熱制御回路１２からの制御信号によりＯ
Ｎ・ＱＦ’？ される。２は測定装置部であり１皿２７
を有する天秤２０、増幅器２１、Ａ／Ｄコンバータ２２
ｔ−含む重量測定部分と、温度検出系子２４、増幅器２
５、Ａ／Ｄコ／バータ２６を含む加熱温度測定部分と、
ムＡコンバータ２２および２６からのデジタル信号を受
ける入出力制御部分２３から成る。３は入力装置部であ
夛１時間設定スイッチ３０、温度設定スイッチ３１、メ
モリカード入力部３２およびこれらの入力情報を受は入
れる入出力制御部３３を含む。メモリカード入力部３２
は試料ごとに用意され試料ごとの乾燥時間および加熱温
度が予め記憶されたメモリカードを受は入れる。時間設
定スイッチ３０および温度設定スイッチ３１はメモリー
カードが用意されていない試料について乾燥時間および
加熱温度全手動で設定するときに使用される。４は表示
装置部であ夛、乾燥時間を表示する時間表示部分４０と
、加熱温度を表示する温度表示部分４２と、試料の水分
含有率又は水分含有重量を選択的に表示する水分表示部
分４４と、これらの表示部分に対応して設けられこれら
の表示部分に表示信号を供給する入出力制御部分４１，
４３．４５とを含む。５はアドレス制御部であシ、アド
レス制御レコーダ５０を含む。アドレス制御レコーダ５
０は測定装置部２、入力装置部分３および表示装置部４
のそれぞれの入出力制御部分のアドレス制御をするため
のタイミング信号を発生する。Ｔは演算装置部であシ、
周辺インターフェースアダプタ（ｐ工Ａｌ）６１、中央
処理ユニット（ＭＰＵ ） ６２、リードオンリーメモ
リ（ＲＯＭ ） ６３ 、ランダムアクセスメモリ（Ｒ
ＡＭ ） ６４、アドレス制御レコーダ５０、および周
辺インターフェースアダプタ（ＰＩエム）６５をハード
ウェアにて制御する。Ｐエム１６１ はＦＢ端子から加
熱制御回路１２に制御信号全印加し、ＦＡ端子において
入出力制御部分２３および３３からのデジタル入力信号
を受は入れる。ＭｎＢ２はＡＢ端子からＰｌよ６１．Ｒ
ＯＭ６３、ＲＡＭ６４、Ｐエム２６５ およびアドレス
制御レコーダ５０のそれぞれのムＢ端子金介してアドレ
ス信号を供給する。ＲＱＭ ６３はＤＢ端子からＰ工Ａ
１６ＬｕｐＵ６２、ＲＡＭ ５４およびＰエム２６５
のそれぞれのＤＢ 端子を介してデータ信号を供給する
。７は選択スイッチ部であシ、装置全体を動作および停
止させるスタート／ストップスイッチ、メモリカードに
よる温度と時間の自動設定および手動による温度と時間
の設定全選択する選択スイッチ、および動作中における
設定された時間と温度全確認するための確認スイッチ群
７０から構成される。
Ｎ・ＱＦ’？ される。２は測定装置部であり１皿２７
を有する天秤２０、増幅器２１、Ａ／Ｄコンバータ２２
ｔ−含む重量測定部分と、温度検出系子２４、増幅器２
５、Ａ／Ｄコ／バータ２６を含む加熱温度測定部分と、
ムＡコンバータ２２および２６からのデジタル信号を受
ける入出力制御部分２３から成る。３は入力装置部であ
夛１時間設定スイッチ３０、温度設定スイッチ３１、メ
モリカード入力部３２およびこれらの入力情報を受は入
れる入出力制御部３３を含む。メモリカード入力部３２
は試料ごとに用意され試料ごとの乾燥時間および加熱温
度が予め記憶されたメモリカードを受は入れる。時間設
定スイッチ３０および温度設定スイッチ３１はメモリー
カードが用意されていない試料について乾燥時間および
加熱温度全手動で設定するときに使用される。４は表示
装置部であ夛、乾燥時間を表示する時間表示部分４０と
、加熱温度を表示する温度表示部分４２と、試料の水分
含有率又は水分含有重量を選択的に表示する水分表示部
分４４と、これらの表示部分に対応して設けられこれら
の表示部分に表示信号を供給する入出力制御部分４１，
４３．４５とを含む。５はアドレス制御部であシ、アド
レス制御レコーダ５０を含む。アドレス制御レコーダ５
０は測定装置部２、入力装置部分３および表示装置部４
のそれぞれの入出力制御部分のアドレス制御をするため
のタイミング信号を発生する。Ｔは演算装置部であシ、
周辺インターフェースアダプタ（ｐ工Ａｌ）６１、中央
処理ユニット（ＭＰＵ ） ６２、リードオンリーメモ
リ（ＲＯＭ ） ６３ 、ランダムアクセスメモリ（Ｒ
ＡＭ ） ６４、アドレス制御レコーダ５０、および周
辺インターフェースアダプタ（ＰＩエム）６５をハード
ウェアにて制御する。Ｐエム１６１ はＦＢ端子から加
熱制御回路１２に制御信号全印加し、ＦＡ端子において
入出力制御部分２３および３３からのデジタル入力信号
を受は入れる。ＭｎＢ２はＡＢ端子からＰｌよ６１．Ｒ
ＯＭ６３、ＲＡＭ６４、Ｐエム２６５ およびアドレス
制御レコーダ５０のそれぞれのムＢ端子金介してアドレ
ス信号を供給する。ＲＱＭ ６３はＤＢ端子からＰ工Ａ
１６ＬｕｐＵ６２、ＲＡＭ ５４およびＰエム２６５
のそれぞれのＤＢ 端子を介してデータ信号を供給する
。７は選択スイッチ部であシ、装置全体を動作および停
止させるスタート／ストップスイッチ、メモリカードに
よる温度と時間の自動設定および手動による温度と時間
の設定全選択する選択スイッチ、および動作中における
設定された時間と温度全確認するための確認スイッチ群
７０から構成される。
選択スイッチ群７０からのスイッチ信号はコントロール
ラインを経てＰエム、６１、ＭＰＵ ６２、ＲＯＭ＄３
．ＲＡＭ５４、アドレス制御レコーダ５０およびＰエム
２６５のそれぞれＯＣＲ端子に印加される。
ラインを経てＰエム、６１、ＭＰＵ ６２、ＲＯＭ＄３
．ＲＡＭ５４、アドレス制御レコーダ５０およびＰエム
２６５のそれぞれＯＣＲ端子に印加される。
次に不発明装置の動作を第２図に示されたフローチャー
トと共に説明する。ステップ１００において、電源スィ
ッチが投入されると、装置が動作可能な状態にするため
に演算装置部７の各構成部分が初期状態に設定される。
トと共に説明する。ステップ１００において、電源スィ
ッチが投入されると、装置が動作可能な状態にするため
に演算装置部７の各構成部分が初期状態に設定される。
ステップ１０１において、ストップ（８ＴＯＰ ）
信号の有無が判別され。
信号の有無が判別され。
ストップ信号が存在すると、演算結果がホールド状態に
される。ステップ１０２において、天秤２０によシ試料
の重量がアナログ信号として検出されこれをデシタル信
号に変換した後ＰＩＡ１のＰ入端子に印加される。ＭＰ
Ｕ ６２はＰエム１６１のＤＢ端子からデータバスを経
て試料重量データを取９込む。ステップ１０３において
、ＭＰＵ ５２はＰＩエム１６１ら取シ込んだ重量デー
タの良否判定、誤差補正、平均値等のサンプリング演算
を行う。その演算結果はＲＡＭ ５４にストアされる。
される。ステップ１０２において、天秤２０によシ試料
の重量がアナログ信号として検出されこれをデシタル信
号に変換した後ＰＩＡ１のＰ入端子に印加される。ＭＰ
Ｕ ６２はＰエム１６１のＤＢ端子からデータバスを経
て試料重量データを取９込む。ステップ１０３において
、ＭＰＵ ５２はＰＩエム１６１ら取シ込んだ重量デー
タの良否判定、誤差補正、平均値等のサンプリング演算
を行う。その演算結果はＲＡＭ ５４にストアされる。
ステップ１０４において１選択スイッチにより水分含有
重量（ｇ）又は水分含有率←）が選択され（ｇ） を選
択すればステツｆ１０６に進み、（９））を選択すれば
ステップ１０５において水分含有率の演算が行われる。
重量（ｇ）又は水分含有率←）が選択され（ｇ） を選
択すればステツｆ１０６に進み、（９））を選択すれば
ステップ１０５において水分含有率の演算が行われる。
水分含有率は（初期Ｎ蓋−恒量時］１ｊ１．）／初期重
量×１００←）で表わされる。ステップ１０６において
、（７）演算又はＣ）演算データに応じてＰ工Ａ２５５
から表示データが水分表示部４４に選択的に表示される
。
量×１００←）で表わされる。ステップ１０６において
、（７）演算又はＣ）演算データに応じてＰ工Ａ２５５
から表示データが水分表示部４４に選択的に表示される
。
ステップ１０７において、メモリスイッチによ少メモリ
部分にデータ値を記憶動作させるか判別する。データ値
記憶動作中であれば、ステップ１０８においてそのデー
タ値がどこのアドレスに記憶されることが可能か會アド
レススイッチにより判別する。設定が可能であれば、ス
テップ１０９においてＰＩＡ１５１ から温度設定デ
ータの取込み全行い、ステップ１１０においてＰＩＡ１
５ ｌ がら時間設定データの取込みを行う。ステラ
７’１０９およびステラｆ１１０はメモリカードにより
入力するときは温度設定データおよび時間設定データの
取込みを同時に行う。
部分にデータ値を記憶動作させるか判別する。データ値
記憶動作中であれば、ステップ１０８においてそのデー
タ値がどこのアドレスに記憶されることが可能か會アド
レススイッチにより判別する。設定が可能であれば、ス
テップ１０９においてＰＩＡ１５１ から温度設定デ
ータの取込み全行い、ステップ１１０においてＰＩＡ１
５ ｌ がら時間設定データの取込みを行う。ステラ
７’１０９およびステラｆ１１０はメモリカードにより
入力するときは温度設定データおよび時間設定データの
取込みを同時に行う。
ステップ１０７において記憶動作でないとき、ステップ
２００において処理ルーチン回数が奇数か偶数かが判別
される。処理回数が奇数のとき、ステップ２０１におい
て自動か手動かを判別する。
２００において処理ルーチン回数が奇数か偶数かが判別
される。処理回数が奇数のとき、ステップ２０１におい
て自動か手動かを判別する。
自動（すなわち予定のデ〜りで処理を行う場合）および
手動（すなわちメモリカードおよびノリセーットスイッ
チによる場合）は選択スイッチにより行なわれる。自動
のときはステップ２０２において設定値がどのアドレス
にあるが全判別し、その設定データが読み出される。手
動の場合はステップ２０３においてＰＩＡ１５ ｉ
から時間設定データが取込まれる。ステップ２０４にお
いて、スタートスイッチによルタイマー動作が開始され
ているかどうかが判別される。タイマー動作がまた開始
されていなければ、ステップ２０５においてタイマー動
作が開始される。ステップ２０６において、モニタース
イッチによ）′ｌＪＪ作途中において設定時間データの
確認の判別がなされる。モニタースイッチがオンされれ
ば設定時間データが読み出され（ステップ２０７）、モ
ニタースイッチがオフであれば現在の動作時間データが
読み出される（ステップ２０８）。読み出された時間デ
ータはステップ２０９においてＰＩエム２６５から出力
表示される。ステップ２１０において設定時間データ値
とタイマー値が一致したかどうかを判別し、一致してい
ればステップ２１１において加熱器がオフさくホールド
）される。
手動（すなわちメモリカードおよびノリセーットスイッ
チによる場合）は選択スイッチにより行なわれる。自動
のときはステップ２０２において設定値がどのアドレス
にあるが全判別し、その設定データが読み出される。手
動の場合はステップ２０３においてＰＩＡ１５ ｉ
から時間設定データが取込まれる。ステップ２０４にお
いて、スタートスイッチによルタイマー動作が開始され
ているかどうかが判別される。タイマー動作がまた開始
されていなければ、ステップ２０５においてタイマー動
作が開始される。ステップ２０６において、モニタース
イッチによ）′ｌＪＪ作途中において設定時間データの
確認の判別がなされる。モニタースイッチがオンされれ
ば設定時間データが読み出され（ステップ２０７）、モ
ニタースイッチがオフであれば現在の動作時間データが
読み出される（ステップ２０８）。読み出された時間デ
ータはステップ２０９においてＰＩエム２６５から出力
表示される。ステップ２１０において設定時間データ値
とタイマー値が一致したかどうかを判別し、一致してい
ればステップ２１１において加熱器がオフさくホールド
）される。
ステツノ２１０において、設定値とタイマー値が不一致
のときはステップ１０１に戻り、上記ステップを繰返す
。繰返し処理ルーチン数が偶数のときは、ステップ３０
０において自動処理が手動処理かの判別がなされる。自
動処理のときはステップ３０１において予定設定値のア
ドレス判別が行なわれ、その設定温度データが読み出さ
れる。
のときはステップ１０１に戻り、上記ステップを繰返す
。繰返し処理ルーチン数が偶数のときは、ステップ３０
０において自動処理が手動処理かの判別がなされる。自
動処理のときはステップ３０１において予定設定値のア
ドレス判別が行なわれ、その設定温度データが読み出さ
れる。
手動処理のとぎはステップ３０２においてシリセットス
イッチ又はメモリーカードにょ多温度設定データがＰエ
ム１６１ から取込まれる。ステップ３０３において、
Ａ／Ｄ変換された実際の温度デー／ カＰＩＡ１６１
からＭＰＵ６２に取込まれる。ステップ３０４にお
いて装置が動作しているがどうかが判別され、動作して
いればステップ３０５において設定温度と測定温度の差
が演算され温度差に比例した加熱器制御信号が発生する
（ステップ３０６）。ステップ３０７において動作中の
設定温度の確認の判別が行われる。モニタースイッチが
オフであれば測定温度が絖み出される（ステラｆ３０９
）。読み出された温度データはＰＩＡ２．６５から温
度表示部４０において出力表示される（ステップ３１０
）。ステップ３１０からステップ１０１に戻シ同様のス
テップを繰返す。加熱温度は一般的には測定開始のとき
には高目に設定し、測定終期には低目に設定する。
イッチ又はメモリーカードにょ多温度設定データがＰエ
ム１６１ から取込まれる。ステップ３０３において、
Ａ／Ｄ変換された実際の温度デー／ カＰＩＡ１６１
からＭＰＵ６２に取込まれる。ステップ３０４にお
いて装置が動作しているがどうかが判別され、動作して
いればステップ３０５において設定温度と測定温度の差
が演算され温度差に比例した加熱器制御信号が発生する
（ステップ３０６）。ステップ３０７において動作中の
設定温度の確認の判別が行われる。モニタースイッチが
オフであれば測定温度が絖み出される（ステラｆ３０９
）。読み出された温度データはＰＩＡ２．６５から温
度表示部４０において出力表示される（ステップ３１０
）。ステップ３１０からステップ１０１に戻シ同様のス
テップを繰返す。加熱温度は一般的には測定開始のとき
には高目に設定し、測定終期には低目に設定する。
一般に穀物の乾燥による水分値測定においては、第３図
（−）、（ｂ）のように水分乾燥曲線が漸近線ム（水分
の絶乾値）が一定であっても、また乾燥時間が一定であ
っても、乾燥途中の水分値曲線は、被測定試料、水分値
、初期重量等の違いにより 一つの曲線とすることが出
来ず、また近似的にするとしても、厳密な分類データを
数多く取らねばならず、ましてこれをマイコン等に記憶
させるのもたいへんである、よってこれを能率よく正確
に行う為めにマイコン等によシ乾燥途中のデータによ）
漸近線を見い出し乾燥曲線回帰を行い水分値を見つけ出
す方法により、乾燥時間の自動化と乾燥時間の短縮がで
きる。
（−）、（ｂ）のように水分乾燥曲線が漸近線ム（水分
の絶乾値）が一定であっても、また乾燥時間が一定であ
っても、乾燥途中の水分値曲線は、被測定試料、水分値
、初期重量等の違いにより 一つの曲線とすることが出
来ず、また近似的にするとしても、厳密な分類データを
数多く取らねばならず、ましてこれをマイコン等に記憶
させるのもたいへんである、よってこれを能率よく正確
に行う為めにマイコン等によシ乾燥途中のデータによ）
漸近線を見い出し乾燥曲線回帰を行い水分値を見つけ出
す方法により、乾燥時間の自動化と乾燥時間の短縮がで
きる。
実験による乾燥法の水分値曲線は第６図（０）のような
ものである。この曲線を数学的に解析するとニュートン
・ラファソンの反復法、スコアリング法を応用して最小
２乗法（重みづけ最小２乗法）によシデンバーツ曲線ｘ
＝Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）θ−８を解くと、 ただしＬ：初期値 Ｕ：終シ値（漸近線） Ａ：定数 Ｂ：定数 ｔ：時間 り、Ｕ、Ａ、Ｂ％ｔ：未知の正の母数 時間１ａ での水分値を表わす確率変数Ｘａ に対する
インパーツ模型は Ｘα＝ Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）ｅ−θムーＢｔα＋ｅαα＝１
．２．３．４．・へ・ｎ ｅａ：ｘａの誤差の確率変数 ｎ個のデータ （ｘｚ、ｔｌｌ（Ｘ２＋ｔ２）＋（Ｘ３
＋ｔ３）＋ ”’（ｘ（１＋ ｔｎ）にもとすく４つの
未知の母数の最小２乗推定値は これを反復法によｆｉＬとＵｔ−第１近似値を既知の値
として −Ｌ Ｚ ＝ ｌｏｇ（−１ｏｇ−） ＝ Ａ−Ｂｔ−Ｌ とする。
ものである。この曲線を数学的に解析するとニュートン
・ラファソンの反復法、スコアリング法を応用して最小
２乗法（重みづけ最小２乗法）によシデンバーツ曲線ｘ
＝Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）θ−８を解くと、 ただしＬ：初期値 Ｕ：終シ値（漸近線） Ａ：定数 Ｂ：定数 ｔ：時間 り、Ｕ、Ａ、Ｂ％ｔ：未知の正の母数 時間１ａ での水分値を表わす確率変数Ｘａ に対する
インパーツ模型は Ｘα＝ Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）ｅ−θムーＢｔα＋ｅαα＝１
．２．３．４．・へ・ｎ ｅａ：ｘａの誤差の確率変数 ｎ個のデータ （ｘｚ、ｔｌｌ（Ｘ２＋ｔ２）＋（Ｘ３
＋ｔ３）＋ ”’（ｘ（１＋ ｔｎ）にもとすく４つの
未知の母数の最小２乗推定値は これを反復法によｆｉＬとＵｔ−第１近似値を既知の値
として −Ｌ Ｚ ＝ ｌｏｇ（−１ｏｇ−） ＝ Ａ−Ｂｔ−Ｌ とする。
Ｌはスイッチを入れた後最初の測定値とする。
以後一定時間ごとにデータをマイコンに取込み記比較し
Ｉβ−ｘ４≦０．２（適当と思われる数字）になるまで
データの取込みを行いＸβ−χ４≦０．２になったらＸ
β＋０．５の値ｉＵの値として定める。
Ｉβ−ｘ４≦０．２（適当と思われる数字）になるまで
データの取込みを行いＸβ−χ４≦０．２になったらＸ
β＋０．５の値ｉＵの値として定める。
２とｔとの関係は線形となる。しくχ〈Ｕにおいて適当
な重みＷａに対して Ｑｌ＝ΣＷａ（Ｚａ−Ａ＋Ｂｔａ）２に最φにするム、
Ｂのα；１ 推定値を求める。つぎにその人とＢｉ与えられたＡ−Ｂ
ｔα Ｘ（１＝Ｌ＋（Ｔ：Ｉ Ｌ）ｅ ’ はｚ ＝＝
Ｌ＋（Ｕ Ｌ）ｕとなシ、ＸとＵの関係は線形となる、
そこで Ｑ２；Σ１ｘａ−Ｌ （Ｕ−Ｌ）ｕα）２ を最小にす
るＬおよびα；１ Ｕの値を求め、それをＬおよびＵの新しい推定値とする
。以下この手続をＡ、Ｂ％Ｌ、Ｕめ推定値がある程度安
定するまで繰シ返す。うぎに、これらの値を初期値とし
てスコアリング法を適用し、順次得られた推定値を修正
して４つの未知の母数の同時推定値を求め
Ａ−ＢｔＸ＝Ｌ＋ （Ｕ Ｌ）ｅ−８の 曲線を定める。この曲線にデータＸβ、ｔβ後の１β＋
１ 全代入してＸβ＋１ の値を計算し実迎」値ｘ／＋
１の値と比較してＩＭ’／＋Ｉ Ｘ／＋１１：ｓｏ、
２であれば、式ｘ＝＝Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）ｅ ’ にｘ
β＋ｎ（ｎは実験により定める正の、数）になるｔ％ｎ
ｆ−代入して目的水分値を求める。
な重みＷａに対して Ｑｌ＝ΣＷａ（Ｚａ−Ａ＋Ｂｔａ）２に最φにするム、
Ｂのα；１ 推定値を求める。つぎにその人とＢｉ与えられたＡ−Ｂ
ｔα Ｘ（１＝Ｌ＋（Ｔ：Ｉ Ｌ）ｅ ’ はｚ ＝＝
Ｌ＋（Ｕ Ｌ）ｕとなシ、ＸとＵの関係は線形となる、
そこで Ｑ２；Σ１ｘａ−Ｌ （Ｕ−Ｌ）ｕα）２ を最小にす
るＬおよびα；１ Ｕの値を求め、それをＬおよびＵの新しい推定値とする
。以下この手続をＡ、Ｂ％Ｌ、Ｕめ推定値がある程度安
定するまで繰シ返す。うぎに、これらの値を初期値とし
てスコアリング法を適用し、順次得られた推定値を修正
して４つの未知の母数の同時推定値を求め
Ａ−ＢｔＸ＝Ｌ＋ （Ｕ Ｌ）ｅ−８の 曲線を定める。この曲線にデータＸβ、ｔβ後の１β＋
１ 全代入してＸβ＋１ の値を計算し実迎」値ｘ／＋
１の値と比較してＩＭ’／＋Ｉ Ｘ／＋１１：ｓｏ、
２であれば、式ｘ＝＝Ｌ＋（Ｕ−Ｌ）ｅ ’ にｘ
β＋ｎ（ｎは実験により定める正の、数）になるｔ％ｎ
ｆ−代入して目的水分値を求める。
以上の方法によれば、自動的に乾燥時間が決められ、正
確な水分値を求めることが出来、また乾燥初期の乾燥率
は大きく、漸近線に近ずくほど乾燥率は小さくなシ、乾
燥時間が長くなるのでこ声を計算によシ算出すれば時間
の短縮が出来る。このように、メモリカード方式とすれ
ば１本発明「水分含有率測定装置Ｊの使用者は新しい測
定対象試料に対して次々にカードを提供することによシ
種々の試料の水分測定に対応できる。
確な水分値を求めることが出来、また乾燥初期の乾燥率
は大きく、漸近線に近ずくほど乾燥率は小さくなシ、乾
燥時間が長くなるのでこ声を計算によシ算出すれば時間
の短縮が出来る。このように、メモリカード方式とすれ
ば１本発明「水分含有率測定装置Ｊの使用者は新しい測
定対象試料に対して次々にカードを提供することによシ
種々の試料の水分測定に対応できる。
第１図は本発明に係る測定装置の構成を示すデｐツク図
、Ｍ２図は本発明装置の動作を説明するためのフローチ
ャート、および第６図（ａ）、 （ｂ）、 （０）は水
分含有率と乾燥時間の関係を示す図である。 １・・・加熱装置部 ２・・・測定装置部 ３・・・入力装置部 ４・・・表示装置部 ５・・・アドレス制御部 ６・・・演算装置部 ７・・・選択スイッチ部 第３図 屹壕ｑ−藺ｉＨ’１ 乾煉時聞（珍） を 転庫叶聞（紗） 昭和５８年１ 月１０口 特許庁長官殿 り事件の表示 昭和５７年特許願第 ４５６２１ 月２、発明の名称 水分含有率測定装置 ３、袖山をする者 事１′トとの関係 牛’ｆｄ’ｌ出病人住 所 氏？・ 株式会社ケット科学研究所（名 ｌ！
、） ４、代」］１′人 昭（ＩＩ ｌ： 月 日 ６、袖山により増加する発明の数 ７、袖１１Ｑ）対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 図面 ８、袖！１．の内容 別紙のとおり １．１１１ 明細書第１２ページ、第２行の「反復法
、」の直後に「又はｊを挿入する。 （２）同第１２ページ、第６行の「初期値」を「下限値
１と訂正する。 （３）同第１３ページ、第８行から第１３行の「Ｌは・
・・・・・定める。」を以下のように訂正する。 ｆ＜ｒ＝はスイッチを入ねた後最初の測定値とする。以
後一定時間ごとにデータをマイコンに取込み記憶演算し
て、ｘｏの時の終り値Ｕａと、ある時間後Ｘ、ｙの時の
終り値Ｕβとな比較し１ｘβ−−１≦０．２（適当と思
われる数字）になるまでデータの取込みな行い、ｌ Ｘ
７ Ｘａ ｌ≦０．２になった時の値をＵの値と定め
る。）ｊ （４） 同第１６ページ、第１５行の［過当な重みＷ
Ｑに対してＪをｊｗ、−７丁（分散値の逆数、ただしδ
２（−？″ルタ：関数Ｘの分散）としてｊと訂正する。 （５） 同第１４ページ、第８行の［スコアリング法
」す［ニュートン、ラファソンの漸近法１と訂正する。 １６） 同第１４ページ、第１１行から第１６行の「
この曲線に・・・・・・・・・求める。」を以下のよう
に訂正する。 １この曲線式にて、 Ｘ、 、 Ｘβの時の終り値Ｕａ
とＵｂとを算出して、ＩＵｂ−ＩＪａｌ≦０．０２いｌ
的当と思われる数字）であればその時のＵの値を正しい
終り値として定め、これにり水分値を求める。ｊ ２、 図面の第６図ｔｅｌを添付のものと差しかえる。
、Ｍ２図は本発明装置の動作を説明するためのフローチ
ャート、および第６図（ａ）、 （ｂ）、 （０）は水
分含有率と乾燥時間の関係を示す図である。 １・・・加熱装置部 ２・・・測定装置部 ３・・・入力装置部 ４・・・表示装置部 ５・・・アドレス制御部 ６・・・演算装置部 ７・・・選択スイッチ部 第３図 屹壕ｑ−藺ｉＨ’１ 乾煉時聞（珍） を 転庫叶聞（紗） 昭和５８年１ 月１０口 特許庁長官殿 り事件の表示 昭和５７年特許願第 ４５６２１ 月２、発明の名称 水分含有率測定装置 ３、袖山をする者 事１′トとの関係 牛’ｆｄ’ｌ出病人住 所 氏？・ 株式会社ケット科学研究所（名 ｌ！
、） ４、代」］１′人 昭（ＩＩ ｌ： 月 日 ６、袖山により増加する発明の数 ７、袖１１Ｑ）対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 図面 ８、袖！１．の内容 別紙のとおり １．１１１ 明細書第１２ページ、第２行の「反復法
、」の直後に「又はｊを挿入する。 （２）同第１２ページ、第６行の「初期値」を「下限値
１と訂正する。 （３）同第１３ページ、第８行から第１３行の「Ｌは・
・・・・・定める。」を以下のように訂正する。 ｆ＜ｒ＝はスイッチを入ねた後最初の測定値とする。以
後一定時間ごとにデータをマイコンに取込み記憶演算し
て、ｘｏの時の終り値Ｕａと、ある時間後Ｘ、ｙの時の
終り値Ｕβとな比較し１ｘβ−−１≦０．２（適当と思
われる数字）になるまでデータの取込みな行い、ｌ Ｘ
７ Ｘａ ｌ≦０．２になった時の値をＵの値と定め
る。）ｊ （４） 同第１６ページ、第１５行の［過当な重みＷ
Ｑに対してＪをｊｗ、−７丁（分散値の逆数、ただしδ
２（−？″ルタ：関数Ｘの分散）としてｊと訂正する。 （５） 同第１４ページ、第８行の［スコアリング法
」す［ニュートン、ラファソンの漸近法１と訂正する。 １６） 同第１４ページ、第１１行から第１６行の「
この曲線に・・・・・・・・・求める。」を以下のよう
に訂正する。 １この曲線式にて、 Ｘ、 、 Ｘβの時の終り値Ｕａ
とＵｂとを算出して、ＩＵｂ−ＩＪａｌ≦０．０２いｌ
的当と思われる数字）であればその時のＵの値を正しい
終り値として定め、これにり水分値を求める。ｊ ２、 図面の第６図ｔｅｌを添付のものと差しかえる。
Claims (1)
- 試料を加熱する加熱手段と、前記試料の重量および加熱
温度を測定しその重量を表示する電気信号および加熱温
度を表示する電気信号を発生する測定手段と、前記試料
に対応して選択され前記試料の所定の加熱時間および加
熱温度情報が記憶されたメモリカードと、該メモリカー
ド上受は入れる入力手段と、前記測定手段からの″ｊＬ
ｔ信号および加熱温度信号並びに前記入力手段からの所
定の加熱時間信号および加熱温度信号に基づいて前記試
料の水分含有率を演算する演算手段と、該演算手段から
の水分含有率信号に基づいて前記試料の水分含有率全表
示する表示手段とｔ含むことを特徴とする水分含有率測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4562182A JPS58162839A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | 水分含有率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4562182A JPS58162839A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | 水分含有率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58162839A true JPS58162839A (ja) | 1983-09-27 |
Family
ID=12724440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4562182A Pending JPS58162839A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | 水分含有率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58162839A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2573530A1 (fr) * | 1984-11-21 | 1986-05-23 | Siderurgie Fse Inst Rech | Appareil pour la determination rapide du taux d'humidite d'un materiau. |
| FR2587801A1 (fr) * | 1985-09-20 | 1987-03-27 | Tabacs & Allumettes Ind | Procede et appareil de dessication controlee d'une masse d'un echantillon de tabac |
| JPS6367923U (ja) * | 1986-10-23 | 1988-05-07 | ||
| JPH01315352A (ja) * | 1988-06-13 | 1989-12-20 | Yamamoto Mfg Co Ltd | メモリカードを用いた穀物処理装置 |
| CN103575615A (zh) * | 2013-11-07 | 2014-02-12 | 广州有色金属研究院 | 一种含锡物料中银量的测定方法 |
| CN112284960A (zh) * | 2020-10-21 | 2021-01-29 | 西澳戴密谱(南京)检测科技有限公司 | 一种全自动水分监测方法 |
-
1982
- 1982-03-24 JP JP4562182A patent/JPS58162839A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2573530A1 (fr) * | 1984-11-21 | 1986-05-23 | Siderurgie Fse Inst Rech | Appareil pour la determination rapide du taux d'humidite d'un materiau. |
| FR2587801A1 (fr) * | 1985-09-20 | 1987-03-27 | Tabacs & Allumettes Ind | Procede et appareil de dessication controlee d'une masse d'un echantillon de tabac |
| JPS6367923U (ja) * | 1986-10-23 | 1988-05-07 | ||
| JPH01315352A (ja) * | 1988-06-13 | 1989-12-20 | Yamamoto Mfg Co Ltd | メモリカードを用いた穀物処理装置 |
| CN103575615A (zh) * | 2013-11-07 | 2014-02-12 | 广州有色金属研究院 | 一种含锡物料中银量的测定方法 |
| CN112284960A (zh) * | 2020-10-21 | 2021-01-29 | 西澳戴密谱(南京)检测科技有限公司 | 一种全自动水分监测方法 |
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