JPS58158980A - 混成集積回路装置の製造方法 - Google Patents

混成集積回路装置の製造方法

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JPS58158980A
JPS58158980A JP57041047A JP4104782A JPS58158980A JP S58158980 A JPS58158980 A JP S58158980A JP 57041047 A JP57041047 A JP 57041047A JP 4104782 A JP4104782 A JP 4104782A JP S58158980 A JPS58158980 A JP S58158980A
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JP
Japan
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lead
paste
pattern
bonding strength
integrated circuit
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Pending
Application number
JP57041047A
Other languages
English (en)
Inventor
Hajime Nakamura
肇 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS58158980A publication Critical patent/JPS58158980A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/18Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
    • G01K7/183Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer characterised by the use of the resistive element
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は混成集積回路装置の製造方法に関する。
白金の温度変化に供う抵抗値変化を利用した白金温度セ
ンサーが各種の分野で利用されている。
白金温度センサーの製造方法としては各穐あるが、代表
的な方法として、セラミック等の絶縁基板上に、スパッ
タリング等で白金薄膜を被着し、ホトエツチングにより
所望の回路パターンを形成し抵抗温度係数(以稜TCR
と記す)を高めるための熱処理を行いしかる後、白金の
リード線を、該基板上の白金電極パターン上に浴接によ
り機械的、電気的に接続される方法が採られている(第
1図)。
しかし、白金薄膜と、セラミック基板間の接着強度は必
ずしも充分ではない。特に白金薄膜のTCRを高めるた
めの熱処理は800〜1400’O程度の高温で行われ
るため、セラミック基板と白金薄膜の間に中間の金属層
を介在させることにより接着強度の向上を計ろうとして
もその効果は離々期待できない。
従って、核白金N極パターン上に接続される白金リード
線のセラミック基板との密着強度も充分な密着強贋が得
られない。
本発明は、厚模導体ペーストを利用することによりセラ
ミック基板と、白金リードの間で充分な密着強饗を得る
と同時に、白金電極と白金リードの閣で充分な宵、気的
接続を得ることにより上記の欠点を除去した混成集積[
ol路装置の灸遣方法を提供するものである。
以下図面をお照して本発明の詳細な説明する。
第2図(イ)〜(ハ)は本発明の実施例における断面図
である。セラミック基板等の絶縁基lの表面に白金等の
金属薄膜2をスパッタリング尋で被着した後、ホトエツ
チングにより金属薄膜2のパターン形成を行う。白金温
度センサー等の場合TCRをvI4整するために800
〜1400°0の高温雰囲気で熱処理を行う(第2図(
イ))。
次に該金属薄膜2の外部リード接続用電極3上に白金リ
ード等の全域リード4を搭載する。尚外部リード接続用
電極3は従来より小さく形成しておく(第2図c口))
次に該基板の金fi IJ−ド搭載部分に、銀−パラジ
ウムペースト等の厚膜導体ペースト5を、全綱11−ド
4を充分に覆い、叶、白金電極3より充分広くセラミッ
ク基板上の領域に、被着する。
しかる後該厚模導体ペースト5を400〜1000℃程
度O温度で焼成する(第2図(・))。
以上が本発明実施例の説明である。厚膜導体ペーストは
セラミック基板との接着力が強いため、外部リード接続
用W極3の存在しない領域で、厚膜導体ペーストはセラ
ミック基板lと金mIJ−ド4を強固に接続させること
ができ、また、外部リード接続用電極3の存在する領域
では、外部IJ−ド接続用を極3と全域リード4の電気
的接続を実現することが可能であるため製造工程を複雑
化することなく信頼度の高い、混成集積回路装置の製造
が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の方法で形成した混成集積回路装置の断面
図である。第2図(イ)〜(ハ)は本発明による各製造
工程の断面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶縁基板上に金楓薄模パターンを形成する第1の工程と
    、しかる後、金禰薄膜パターン上に金属リードを搭載す
    る第2の工程と、金属薄嘆パターンと金属リードの接続
    部分を含む領域に、厚膜導体ペーストを被着し、焼成す
    る第3の工程を少なくとも含むことを特徴とする混成集
    積回路装置の製造方法。
JP57041047A 1982-03-16 1982-03-16 混成集積回路装置の製造方法 Pending JPS58158980A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0809094A1 (de) * 1996-05-24 1997-11-26 Heraeus Sensor-Nite GmbH Verfahren zur Herstellung einer Sensoranordung für die Temperaturmessung
US6189767B1 (en) * 1996-10-30 2001-02-20 U.S. Philips Corporation Method of securing an electric contact to a ceramic layer as well as a resistance element thus manufactured
WO2017036760A1 (de) * 2015-08-28 2017-03-09 Innovative Sensor Technology Ist Ag Verfahren zur herstellung eines temperatursensors

Cited By (4)

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