JPS58120110A - 投光式測距装置における制御回路 - Google Patents
投光式測距装置における制御回路Info
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- JPS58120110A JPS58120110A JP57002618A JP261882A JPS58120110A JP S58120110 A JPS58120110 A JP S58120110A JP 57002618 A JP57002618 A JP 57002618A JP 261882 A JP261882 A JP 261882A JP S58120110 A JPS58120110 A JP S58120110A
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- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B13/00—Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
- G03B13/18—Focusing aids
- G03B13/20—Rangefinders coupled with focusing arrangements, e.g. adjustment of rangefinder automatically focusing camera
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、小型カメラ等に適した測距装置における毒し
御回路に関し、特に元ビームを被写体に向けて投光し、
その反射光を受光して電気信号に変換する回路と、上記
反射光の結像位置を機械的走査によって検知することに
１って被写体゛までの距離を自動的に検出する装置の制
御回路に関するものでろる。
御回路に関し、特に元ビームを被写体に向けて投光し、
その反射光を受光して電気信号に変換する回路と、上記
反射光の結像位置を機械的走査によって検知することに
１って被写体゛までの距離を自動的に検出する装置の制
御回路に関するものでろる。
従来、三角測距の原理を利用しｆｃ元投射式の測距装置
は種々提案されている。その中で既に本出願人により提
案をした測距装ｆｉａｔ、（特願昭５５−１２４２６Ｂ
）は、単一の受光素子面上をｍ元板が屯査することに
よって、受光素子の光逼出力が変化することを検出して
測距を行なうシステムである。以下、遮光板走査型測距
装置と呼ぶ。
は種々提案されている。その中で既に本出願人により提
案をした測距装ｆｉａｔ、（特願昭５５−１２４２６Ｂ
）は、単一の受光素子面上をｍ元板が屯査することに
よって、受光素子の光逼出力が変化することを検出して
測距を行なうシステムである。以下、遮光板走査型測距
装置と呼ぶ。
本発明ｔよ、この遮光板走査型測距装置における敢通ｆ
！、制御回路、安全装置、お工ひ警告システム寺に関す
るもので必る。
！、制御回路、安全装置、お工ひ警告システム寺に関す
るもので必る。
従来の投光式測距装置においては被写体からの反射光の
ピーク全走査検出するか、または最大感度の受光素子を
捜すもの、あるいは、二個の受光素子のバランスを取る
ものなとで、いず扛もその制御回路のダイナミックレン
ジにろっては非常に広いものが要求され、近距離０．８
ｍから遠距離８ｍとしても１０００倍以上のレンジとな
る。
ピーク全走査検出するか、または最大感度の受光素子を
捜すもの、あるいは、二個の受光素子のバランスを取る
ものなとで、いず扛もその制御回路のダイナミックレン
ジにろっては非常に広いものが要求され、近距離０．８
ｍから遠距離８ｍとしても１０００倍以上のレンジとな
る。
従って、５ｖ８ｖの電池を使うカメラにおいては圧縮回
路を使うなどの特殊な回路処理が行なわれなけれはなら
ない。
路を使うなどの特殊な回路処理が行なわれなけれはなら
ない。
仝発明の遮光板走査型測距装置ｆにおける制御回路では
、被写体からの反射光による光電出力の負のビーク、す
なわち反射光が遮光されて最も弱くなる点を検出すれば
良いので、上記ダイナミックレンジの問題は考慮する必
要がない。反射光が遮光されない状態では回路が全く飽
和していても遮光板が走査することによって出力がゼロ
までディラグするために、その点を検出すれば良いから
である。ダイナミックレンジを考慮する必要がないため
に非常に有利になるのは、受光素子からの信号の増幅率
をＳＮ比で制約を受ける限界まで上げることができ、従
って遠距離での測距精度が向上するつ 以下図面に従って実施例について説明する。
、被写体からの反射光による光電出力の負のビーク、す
なわち反射光が遮光されて最も弱くなる点を検出すれば
良いので、上記ダイナミックレンジの問題は考慮する必
要がない。反射光が遮光されない状態では回路が全く飽
和していても遮光板が走査することによって出力がゼロ
までディラグするために、その点を検出すれば良いから
である。ダイナミックレンジを考慮する必要がないため
に非常に有利になるのは、受光素子からの信号の増幅率
をＳＮ比で制約を受ける限界まで上げることができ、従
って遠距離での測距精度が向上するつ 以下図面に従って実施例について説明する。
第１図は、遮光板走査型の投光式測距装置の原理図であ
る。図において１は発光素子、２は投光レンズ、３は投
光軸を示す。４は被写体８がらの反射元軸を示し、５は
受光レンズ、６は受光素子である。、７は前記受光素子
の面上を走査する遮光板である。９は前記測距装置を組
み込んだカメラボディである５作動について説明すると
、発光素子１から出た元は投光レンズによって集光し光
ビ ５− −ムとなって被写体８に当り、反射光が受光レンズ５に
よって受光素子６上の一点Ｖこ光スポットとして結像す
る。一方遮元板７は、被写体までの距離とある相関ヶ持
って図上右から左に走査する。
る。図において１は発光素子、２は投光レンズ、３は投
光軸を示す。４は被写体８がらの反射元軸を示し、５は
受光レンズ、６は受光素子である。、７は前記受光素子
の面上を走査する遮光板である。９は前記測距装置を組
み込んだカメラボディである５作動について説明すると
、発光素子１から出た元は投光レンズによって集光し光
ビ ５− −ムとなって被写体８に当り、反射光が受光レンズ５に
よって受光素子６上の一点Ｖこ光スポットとして結像す
る。一方遮元板７は、被写体までの距離とある相関ヶ持
って図上右から左に走査する。
前記連元数７が元軸４を横切った時、被写体からの反射
光は辿られ受光素子６上に当りなくなって、受光素子６
の光電出力は減衰する。遮光板７が光軸４４ｆ通り過さ
゛てし１うと再び出力は元のレベルに上る。この関係を
第２図に示し、負のピークとなった点！、 １）が被写
体までの距離である。被写体が遠くなる程第１図の受光
素子６上にできる元スポットの位置は左にずれる。
光は辿られ受光素子６上に当りなくなって、受光素子６
の光電出力は減衰する。遮光板７が光軸４４ｆ通り過さ
゛てし１うと再び出力は元のレベルに上る。この関係を
第２図に示し、負のピークとなった点！、 １）が被写
体までの距離である。被写体が遠くなる程第１図の受光
素子６上にできる元スポットの位置は左にずれる。
第６図は、本発明の制御回路と共にカメラに組み込ま往
る測距装置の伎桐の一例を示す。図において１１はレリ
ーズレバ−で、バネ１２によって上方に付勢されている
。１７は走糞板で、受光素子１６の表面を走査する遮光
板１７ａがある。また走査板１７はバネ１８に工って右
方向に付勢されているが係止部材１３およびバネ１４に
よって保止されている。１９はギヤ、２０はアンクルで
−６＝ 走査板の走行スピードを制御する。２１は制御レバーで
、バネ２２によって時計方向に回転習性が与えられてお
シ、走査板１７上のビン１７ｃに係合しして回転する。
る測距装置の伎桐の一例を示す。図において１１はレリ
ーズレバ−で、バネ１２によって上方に付勢されている
。１７は走糞板で、受光素子１６の表面を走査する遮光
板１７ａがある。また走査板１７はバネ１８に工って右
方向に付勢されているが係止部材１３およびバネ１４に
よって保止されている。１９はギヤ、２０はアンクルで
−６＝ 走査板の走行スピードを制御する。２１は制御レバーで
、バネ２２によって時計方向に回転習性が与えられてお
シ、走査板１７上のビン１７ｃに係合しして回転する。
２６は電磁石、２４は鉄片でバネ２５が電磁石よシ引き
離し方向に作用している。２６は、シャッタ前走レバー
２８の係止部材で、２９はシャッタ前走レバーを右方向
に付勢するバネである。３０は対物レンズの繰シ出し量
を決定するための段カムでアリ、バネ３２によって反時
計方向に回転習性が与えられている。６３は接片で、対
物レンズの繰シ出しに応じて抵抗３６を選足し、フラッ
シュマチック等の距離情報として使用するためのもので
ある。
離し方向に作用している。２６は、シャッタ前走レバー
２８の係止部材で、２９はシャッタ前走レバーを右方向
に付勢するバネである。３０は対物レンズの繰シ出し量
を決定するための段カムでアリ、バネ３２によって反時
計方向に回転習性が与えられている。６３は接片で、対
物レンズの繰シ出しに応じて抵抗３６を選足し、フラッ
シュマチック等の距離情報として使用するためのもので
ある。
第４図は、本発明の測距装置における制御回路の一実施
例である。図中、ＦＤは受光素子で、初段の増幅器Ａ１
によって短絡電流を電圧に変換している。Ｒ１は帰還抵
抗である。ｃｌは交流結合用コンデンサ、Ａ２は２段目
の増幅器で交流増幅を行なっている。Ｃ！２．Ｒ５は帰
還コンデンサおよび抵抗である。Ｄｌは検波用夕′イオ
ード、Ｒ６Ｃ５は積分用抵抗およびコンデンサ、Ｒ５は
放電抵抗でめる。ｌ Ａ６はボルテージ７オロワ、Ａ４
は積分出力の１αα流暢器でＲ７は入力抵抗、Ｒ８は帰
還抵抗である。ＳＨはサンフール・ホールド回路で、Ａ
５は差動増幅器全形成し、入力抵抗はＲＩＯとＲ１１で
ある。ＣＰｌはコンパレータで非反転入力には積分出力
また、反転入力にはコンデンサＣ６と抵抗Ｒ１７ｉ、人
力間にはダイオードＤ６を接続してフラング回路を作っ
ている。コンパレータＣＰ１の出力はトランジスタＴｒ
１に接続されているっＲ１３，Ｃ５は第２の積分回路用
抵抗とコンデンサでりる。Ａ６は反転増幅器で出力はコ
ンハＬ／−タＣＰ２の非反転入力に接続ちれている。Ｐ
ＳＤは正傾斜検出回路で、この出力と、コンパレータＣ
Ｐ２の出力がオア回路ＯＲに入り、さらにフリラフ−・
フロングＦＦに接続さ扛ているＴｒ２は測距用電磁石Ｍ
ｇ制側ｊ用のトランジスタである。ＣＦ２はコンパレー
タで非反転入力は第１の積分出力９反転入力は抵抗Ｒ１
９、Ｒ２０から成るブリーダーに接続されている。ＡＮ
ＤＩ。
例である。図中、ＦＤは受光素子で、初段の増幅器Ａ１
によって短絡電流を電圧に変換している。Ｒ１は帰還抵
抗である。ｃｌは交流結合用コンデンサ、Ａ２は２段目
の増幅器で交流増幅を行なっている。Ｃ！２．Ｒ５は帰
還コンデンサおよび抵抗である。Ｄｌは検波用夕′イオ
ード、Ｒ６Ｃ５は積分用抵抗およびコンデンサ、Ｒ５は
放電抵抗でめる。ｌ Ａ６はボルテージ７オロワ、Ａ４
は積分出力の１αα流暢器でＲ７は入力抵抗、Ｒ８は帰
還抵抗である。ＳＨはサンフール・ホールド回路で、Ａ
５は差動増幅器全形成し、入力抵抗はＲＩＯとＲ１１で
ある。ＣＰｌはコンパレータで非反転入力には積分出力
また、反転入力にはコンデンサＣ６と抵抗Ｒ１７ｉ、人
力間にはダイオードＤ６を接続してフラング回路を作っ
ている。コンパレータＣＰ１の出力はトランジスタＴｒ
１に接続されているっＲ１３，Ｃ５は第２の積分回路用
抵抗とコンデンサでりる。Ａ６は反転増幅器で出力はコ
ンハＬ／−タＣＰ２の非反転入力に接続ちれている。Ｐ
ＳＤは正傾斜検出回路で、この出力と、コンパレータＣ
Ｐ２の出力がオア回路ＯＲに入り、さらにフリラフ−・
フロングＦＦに接続さ扛ているＴｒ２は測距用電磁石Ｍ
ｇ制側ｊ用のトランジスタである。ＣＦ２はコンパレー
タで非反転入力は第１の積分出力９反転入力は抵抗Ｒ１
９、Ｒ２０から成るブリーダーに接続されている。ＡＮ
ＤＩ。
ＡＮ２はアンドゲート、工ＮＶはインバーター、Ｓ２は
走査板が走査完了点に近い所でＯＮするスイッチである
。Ｔｒ３は警告用ＬＥＤ制御用トランジスタ、Ｔｒ４
は電子ブザーＢ制御用トランジスタでろる。Ｏ２０は
発撮器、ＴＭＥはタイマー回路でシャッタのレリーズス
イッチＳ３でトリガー作動し、ＩＲＥＤ 駆動回路ＤＲ
Ｖの作動を制御する。ＩＲＥＤ は投光用赤外発光ダ
イオードで、トランジスタＴｒ５ でパルス駆動される
。Ｓｌは電源スィッチである。
走査板が走査完了点に近い所でＯＮするスイッチである
。Ｔｒ３は警告用ＬＥＤ制御用トランジスタ、Ｔｒ４
は電子ブザーＢ制御用トランジスタでろる。Ｏ２０は
発撮器、ＴＭＥはタイマー回路でシャッタのレリーズス
イッチＳ３でトリガー作動し、ＩＲＥＤ 駆動回路ＤＲ
Ｖの作動を制御する。ＩＲＥＤ は投光用赤外発光ダ
イオードで、トランジスタＴｒ５ でパルス駆動される
。Ｓｌは電源スィッチである。
次に第６図、第４図の作動について説明する。
回路各部の作動波形は第５図に示す。
レリーズレバ−１１を押し下げると、電源スイッチＳ１
が入シ回路各部に給電が行なわれ、受光回路が作動状態
となり、投光用工ＲＥＤ が駆動回路ＤＲＶによって
一定周期のパルス駆動される。
が入シ回路各部に給電が行なわれ、受光回路が作動状態
となり、投光用工ＲＥＤ が駆動回路ＤＲＶによって
一定周期のパルス駆動される。
きらにレリーズレバ−１１を押し下げると保止部拐１３
による走査板１７の保止が外れ、ガバナー１９．２０に
よって一定スピードで走査板１７は図中矢印方向に走行
開始する。第５図ｓｃＰが ９− 走査板１７の作動を示し、ｎは至近距離である。
による走査板１７の保止が外れ、ガバナー１９．２０に
よって一定スピードで走査板１７は図中矢印方向に走行
開始する。第５図ｓｃＰが ９− 走査板１７の作動を示し、ｎは至近距離である。
遮光＆１７ａが受光素子１６上を走査し、受光素子上の
元スポットを遮光しはじめると、交流増幅器Ａ２の出力
＠の波形（グ第５図のように像幅が変化する。この交流
信号をダイオードＤ１にエフ検波し、Ｒ６，０５で積分
し、増幅器Ａ４によって増幅された波形は■に示すよう
にディラフ°波形となる。サンプル・ホールド回路ｓｕ
ｅ弁した波形はＱのように階段状になる。■と■の波形
を差動増幅器Ａ５に入力すると出力■が得らｎる。ここ
でフラング回路がＣＰＩ 、Ｄ３，０６．Ｒｉ７ に
よって構成され、ａｐｌ の反転入力波形は◎で示すよ
うに上記■のティッ７ｅ、形に対して立下りの遅れを持
つ回路となっている。セして■≧■の時トランジスタＴ
ｒｉ はＯＮして差動増幅器Ａ５の出力をクラン１し
ている。こｔ″Ｌ、は、元スポットに避元板１７ａが当
っていない時に外乱等によって積分出力■が微小に変化
するのを押え込んで、誤作＠を防止する。出力■を抵抗
ＲＩ６とコンデンサＣ５で積分し、反転増幅器Ａ６で増
幅した出力−１０− が■でめる。前記反転増幅器Ａ６の出力はコンノ（レー
タＣＰ２の非反転入力に接続され、また、このコンパレ
ータＣＰ２の反転入力ｕ Ｇ ｎ ａ レベルにある
。非反転および反転入力のオフセットを圧を■とすれは
、上記非反転入力がｅｎｄ レベルよりＶを超えた時
出力が反転し、その波形を■で示す。オア回路ＱＲＫｉ
”ｃ上記コンノくレータＯＰ２の出力と後述する正１頃
斜検出回路ＰＳＰの出力が入力されており、コンパレー
タｅＰ２の出力が反転するとオア回路ＱＲｉ介して次段
のフリラフ−・フロップＦＦをセットし、出力可が反転
してトランジスタＴｒ２ がＯＦＦ となる。征って、
曲］距用電磁石Ｍｇがカットオフする。すなわち遮光板
１７ａが受光素子１６＋を定食することによって積分出
力は■の工うにティップし、そのピーク点で電磁石Ｍｇ
がオフとなる。電磁石Ｍｇがオフになった時点の走査板
１７の位置が被写体までの距離に対応している。第４図
の匍＋（１１４＋レバー２１は、走査板１７０走行に追
従して時計方間に回転金始めている。前記電磁石Ｍｇ
（２３）がオフすることによって鉄片２４のフックが
制御レバー２１のラチェット部２１ａに入力、制御レバ
ー２１の回転を止める。さらにレリーズレバ−１１を押
し下げることによって、係止レバー２６によって静止が
はずれたシャッタ前走部材２８が走行し、図示しない機
構によって捷ず段カム６０を反時計方向に回転させる。
元スポットを遮光しはじめると、交流増幅器Ａ２の出力
＠の波形（グ第５図のように像幅が変化する。この交流
信号をダイオードＤ１にエフ検波し、Ｒ６，０５で積分
し、増幅器Ａ４によって増幅された波形は■に示すよう
にディラフ°波形となる。サンプル・ホールド回路ｓｕ
ｅ弁した波形はＱのように階段状になる。■と■の波形
を差動増幅器Ａ５に入力すると出力■が得らｎる。ここ
でフラング回路がＣＰＩ 、Ｄ３，０６．Ｒｉ７ に
よって構成され、ａｐｌ の反転入力波形は◎で示すよ
うに上記■のティッ７ｅ、形に対して立下りの遅れを持
つ回路となっている。セして■≧■の時トランジスタＴ
ｒｉ はＯＮして差動増幅器Ａ５の出力をクラン１し
ている。こｔ″Ｌ、は、元スポットに避元板１７ａが当
っていない時に外乱等によって積分出力■が微小に変化
するのを押え込んで、誤作＠を防止する。出力■を抵抗
ＲＩ６とコンデンサＣ５で積分し、反転増幅器Ａ６で増
幅した出力−１０− が■でめる。前記反転増幅器Ａ６の出力はコンノ（レー
タＣＰ２の非反転入力に接続され、また、このコンパレ
ータＣＰ２の反転入力ｕ Ｇ ｎ ａ レベルにある
。非反転および反転入力のオフセットを圧を■とすれは
、上記非反転入力がｅｎｄ レベルよりＶを超えた時
出力が反転し、その波形を■で示す。オア回路ＱＲＫｉ
”ｃ上記コンノくレータＯＰ２の出力と後述する正１頃
斜検出回路ＰＳＰの出力が入力されており、コンパレー
タｅＰ２の出力が反転するとオア回路ＱＲｉ介して次段
のフリラフ−・フロップＦＦをセットし、出力可が反転
してトランジスタＴｒ２ がＯＦＦ となる。征って、
曲］距用電磁石Ｍｇがカットオフする。すなわち遮光板
１７ａが受光素子１６＋を定食することによって積分出
力は■の工うにティップし、そのピーク点で電磁石Ｍｇ
がオフとなる。電磁石Ｍｇがオフになった時点の走査板
１７の位置が被写体までの距離に対応している。第４図
の匍＋（１１４＋レバー２１は、走査板１７０走行に追
従して時計方間に回転金始めている。前記電磁石Ｍｇ
（２３）がオフすることによって鉄片２４のフックが
制御レバー２１のラチェット部２１ａに入力、制御レバ
ー２１の回転を止める。さらにレリーズレバ−１１を押
し下げることによって、係止レバー２６によって静止が
はずれたシャッタ前走部材２８が走行し、図示しない機
構によって捷ず段カム６０を反時計方向に回転させる。
前記制御レバー２１０段カムストッパー＠５ｚ１ｂによ
って段カムの回転角度が制御され、従って対物レンズの
繰り出し量が自動的に決まる。
って段カムの回転角度が制御され、従って対物レンズの
繰り出し量が自動的に決まる。
この後でシャッタの開閉作動が行なわれる。対物レンズ
の繰シ田しと共に接片３６も回転し、被写体距離に応じ
た抵抗価が選択されて、フラッシュマチックあるいは連
動外警告用の情報として使用きれる。スイッチＳ２は走
査板が近距離から遠距離に定食全終了した時にＯＮする
スイッチで、後述する連動外警告のためのタイミング信
号を作ったシ、赤外発光ダイオードエＲＢ Ｄ のオフ
信号として使つ、スイッチＳ３は、シャッタ前走部材２
８の作動でＯＮＬ、タイマー回路ＴＭＥのトリガー信号
として使う。タイマー回路ＴＭＥの目的は、レリーズレ
バ−１１を早押しした場合でも測距作動が終るまでは工
ＲｗＤｆｏＮさせておくためで、この場合はスイッチＳ
２は工ＲＥＤをオフさせるためには必要ではなくなる。
の繰シ田しと共に接片３６も回転し、被写体距離に応じ
た抵抗価が選択されて、フラッシュマチックあるいは連
動外警告用の情報として使用きれる。スイッチＳ２は走
査板が近距離から遠距離に定食全終了した時にＯＮする
スイッチで、後述する連動外警告のためのタイミング信
号を作ったシ、赤外発光ダイオードエＲＢ Ｄ のオフ
信号として使つ、スイッチＳ３は、シャッタ前走部材２
８の作動でＯＮＬ、タイマー回路ＴＭＥのトリガー信号
として使う。タイマー回路ＴＭＥの目的は、レリーズレ
バ−１１を早押しした場合でも測距作動が終るまでは工
ＲｗＤｆｏＮさせておくためで、この場合はスイッチＳ
２は工ＲＥＤをオフさせるためには必要ではなくなる。
また電磁石Ｍｇのオフで工ＲＥＤをオフすることも可能
である。
である。
次に第６図と、警告回路について説明する。第６図中、
第６図と同−査号は同一機能を有する部材でるる。この
実施例で受光素子１６は走査板１７上に取り付けられて
お、す、また中火に不感ゾーン１６ａ全有する受光素子
である。走査板１７が走行することによって、前記第６
図の実施例と全く同様に光電出力変化が現われるので第
４図に示す回路で制御できるものである。またレリーズ
レバ−１１を常に戻す方向に働らくレバー６６が、バネ
３４と共に配置さｎｌ レリーズレバ−１１から指を離
すとレリーズレバ−１１、走査板１７は常に元の状態に
なる。この機構に２いて走査板１７はレリーズレバ−１
１の押し下げにフォローして走行するが、前述の実施例
と同様に、積分波形のディップした頂点で電磁石２６が
オフし、制御レー １５− バー２１の位相を決定する。また第４図のコンパレータ
ｃｐｓの非反転入力には、第１の積分出力が入力され、
反転入力にはブリーダーＲ１９，Ｒ２０の分圧が入力さ
れている。また、アンドケートＡＮＤ１には、上記コン
パレータ出力とフリップ・フロップＦＦ出力およびスイ
ッチｓ２の反転信号が入力されている。すなわち、走査
板１７が走行終了してスイッチＳ２がＯＮした時点で、
電磁石２３のオフ信号がまだ得られておらず、且つ、第
１積分出力が十分に高い場合には、このアントゲ−）Ｉ
ＮＤＩが開き、次のアンド回路ＡＮＤ２で発奈器Ｏ９Ｃ
出力と共に駆動回路Ｔｒｙ、Ｔｒ４を作動させる。ＬＦ
ｉＤの点滅又は、亀子ブザーＢの断続音によって、測距
装置が正常に働らかなかったこと、おるいは超至近短離
でめることを警告する。そこで撮影者はレリーズレバ−
１１力・ら指を離し測距のやりなおしをすることができ
る。ここで電磁石、２６の鉄片レバー２４は図示しない
公知の方法で祠セットされる。
第６図と同−査号は同一機能を有する部材でるる。この
実施例で受光素子１６は走査板１７上に取り付けられて
お、す、また中火に不感ゾーン１６ａ全有する受光素子
である。走査板１７が走行することによって、前記第６
図の実施例と全く同様に光電出力変化が現われるので第
４図に示す回路で制御できるものである。またレリーズ
レバ−１１を常に戻す方向に働らくレバー６６が、バネ
３４と共に配置さｎｌ レリーズレバ−１１から指を離
すとレリーズレバ−１１、走査板１７は常に元の状態に
なる。この機構に２いて走査板１７はレリーズレバ−１
１の押し下げにフォローして走行するが、前述の実施例
と同様に、積分波形のディップした頂点で電磁石２６が
オフし、制御レー １５− バー２１の位相を決定する。また第４図のコンパレータ
ｃｐｓの非反転入力には、第１の積分出力が入力され、
反転入力にはブリーダーＲ１９，Ｒ２０の分圧が入力さ
れている。また、アンドケートＡＮＤ１には、上記コン
パレータ出力とフリップ・フロップＦＦ出力およびスイ
ッチｓ２の反転信号が入力されている。すなわち、走査
板１７が走行終了してスイッチＳ２がＯＮした時点で、
電磁石２３のオフ信号がまだ得られておらず、且つ、第
１積分出力が十分に高い場合には、このアントゲ−）Ｉ
ＮＤＩが開き、次のアンド回路ＡＮＤ２で発奈器Ｏ９Ｃ
出力と共に駆動回路Ｔｒｙ、Ｔｒ４を作動させる。ＬＦ
ｉＤの点滅又は、亀子ブザーＢの断続音によって、測距
装置が正常に働らかなかったこと、おるいは超至近短離
でめることを警告する。そこで撮影者はレリーズレバ−
１１力・ら指を離し測距のやりなおしをすることができ
る。ここで電磁石、２６の鉄片レバー２４は図示しない
公知の方法で祠セットされる。
次に第７図により正傾斜検出回路について説明−１４−
する。第７図（ａ）に示すように受光素子１６゜遮光板
１７ａ、元スポット３５が理想状態よシわずかにず扛た
場合を想定する。これは、生産時の取υ付は誤差前で起
き得る問題である。同図（Ｃ）の■に示すように、走査
板１７（ＳＯＰ）が走行すると積分出力はティップ−せ
ず単調増加の信号となる。この場合でも電磁石Ｍｇがオ
フするための回路の例として、同図（ｂ）のような回路
全形成する。コンパレータＯＰ４と、非反転入力にはコ
ンデンサＣ７と、光重用抵抗Ｓ２５、さらにスイッチン
グトランジスタＴｒ６ｉ、上記コンパレータの出力によ
って作動する工うに′４何威し、コン・（レータの反転
入力に前記第１積分出力を入力する。
１７ａ、元スポット３５が理想状態よシわずかにず扛た
場合を想定する。これは、生産時の取υ付は誤差前で起
き得る問題である。同図（Ｃ）の■に示すように、走査
板１７（ＳＯＰ）が走行すると積分出力はティップ−せ
ず単調増加の信号となる。この場合でも電磁石Ｍｇがオ
フするための回路の例として、同図（ｂ）のような回路
全形成する。コンパレータＯＰ４と、非反転入力にはコ
ンデンサＣ７と、光重用抵抗Ｓ２５、さらにスイッチン
グトランジスタＴｒ６ｉ、上記コンパレータの出力によ
って作動する工うに′４何威し、コン・（レータの反転
入力に前記第１積分出力を入力する。
この回路によって、前記紀１積分出力が増加を始めたこ
とによって次段のオアゲー）ＯＲの作ｉｊｊ／Ｉ信号を
送り、電磁石２６をオフすることかできるものである。
とによって次段のオアゲー）ＯＲの作ｉｊｊ／Ｉ信号を
送り、電磁石２６をオフすることかできるものである。
前記オア回路ＯＲには、ティップ゛のビーク検出出力も
入力されているので、通常は、第４図におけるコンパレ
ータＣＰ２ の出力、または正傾斜検出回路ＰＳＤの出
力のどちらか早い力のタイミングでオアゲートＯＲが開
き、７リツグ・フロラフ−ＦＦが作動する。
入力されているので、通常は、第４図におけるコンパレ
ータＣＰ２ の出力、または正傾斜検出回路ＰＳＤの出
力のどちらか早い力のタイミングでオアゲートＯＲが開
き、７リツグ・フロラフ−ＦＦが作動する。
第８図は、測距用電磁石Ｍｇ制御回路の曲の実施例であ
る。同図（ｃ）に示すように、走査板ｓｃ、ｐ が走
査する以前に、何らかの原因で被写体からの反射光の強
度が■のように変動した場合には、従来の方法では電磁
石Ｍｇはａ点でオフしてしまい、誤測距となるが、（Ｃ
）のＭｇ波形のようにすぐに再励磁１〜で、正規のディ
ップ信号のピークすなわちｂ点で再度オフすることによ
って正しい測距が可能となる。同図（ａ）において電磁
石２６の鉄片２４Ａはスライド式を利用し、走査板１７
が走行開始するまでは、係止部１７ｃＬで、ロツクレ／
＜ −２４Ｂの作動を阻止している。従って走査板１７
が走行開始した後は、制御レバー２１のラチェット全ロ
ックレバ−２４Ｂによって止めることが可能となる。回
路は同図（ｂ）に示すように、オア回路ＯＲ，の次段Ｖ
こ、ワンショット・マルチバイブレータＯ８Ｔ を入れ
ることによって成り立つ。
る。同図（ｃ）に示すように、走査板ｓｃ、ｐ が走
査する以前に、何らかの原因で被写体からの反射光の強
度が■のように変動した場合には、従来の方法では電磁
石Ｍｇはａ点でオフしてしまい、誤測距となるが、（Ｃ
）のＭｇ波形のようにすぐに再励磁１〜で、正規のディ
ップ信号のピークすなわちｂ点で再度オフすることによ
って正しい測距が可能となる。同図（ａ）において電磁
石２６の鉄片２４Ａはスライド式を利用し、走査板１７
が走行開始するまでは、係止部１７ｃＬで、ロツクレ／
＜ −２４Ｂの作動を阻止している。従って走査板１７
が走行開始した後は、制御レバー２１のラチェット全ロ
ックレバ−２４Ｂによって止めることが可能となる。回
路は同図（ｂ）に示すように、オア回路ＯＲ，の次段Ｖ
こ、ワンショット・マルチバイブレータＯ８Ｔ を入れ
ることによって成り立つ。
電磁石２６がオフしている期間は、コンデンサＣ８と抵
抗Ｒ２７の値で決まる。
抗Ｒ２７の値で決まる。
甘た、距離表示については、制御レバー２１の回転角度
に応じた表示部材を設けることに簡単に実施することが
できる。原理的には、段カムのストッパ一部２１ｂ’５
７フアインダー内から見えるよりにすればよいう さらに、定食板１７の走行を電磁石２３のオフによって
停止するように構成すれば１表示部材は走査ｖｉ１７に
連動する部相を設けることによっても可能である。
に応じた表示部材を設けることに簡単に実施することが
できる。原理的には、段カムのストッパ一部２１ｂ’５
７フアインダー内から見えるよりにすればよいう さらに、定食板１７の走行を電磁石２３のオフによって
停止するように構成すれば１表示部材は走査ｖｉ１７に
連動する部相を設けることによっても可能である。
以上のように本発明は、遮光板逝査型の投光式測距装置
（不感ンーンを有する受光素子の走査方式も含む）にお
いて、光電出刃のディツノした最小点を検出するための
回路として、９：流暢幅器、検波回路、積分回路、サン
プル・ホールド回路、差動増幅器、電圧コンパレータ、
フリット７０ツブ等を用いたものでるる。この様な回路
構成によってディップのピーク検出を正確に旨精度に行
なうと共に、光電出力かティップをしない定常状−１７
− 態においては入力過大となって、増幅回路が飽和してい
ても測距精度は影魯全受けず、従って可能な限シ増幅度
を上げることができるので遠距離の測距精度は非常に同
上するものである。
（不感ンーンを有する受光素子の走査方式も含む）にお
いて、光電出刃のディツノした最小点を検出するための
回路として、９：流暢幅器、検波回路、積分回路、サン
プル・ホールド回路、差動増幅器、電圧コンパレータ、
フリット７０ツブ等を用いたものでるる。この様な回路
構成によってディップのピーク検出を正確に旨精度に行
なうと共に、光電出力かティップをしない定常状−１７
− 態においては入力過大となって、増幅回路が飽和してい
ても測距精度は影魯全受けず、従って可能な限シ増幅度
を上げることができるので遠距離の測距精度は非常に同
上するものである。
また、光電出力の定常状態での外乱寺による誤作動防止
のためのクラン１回路、わるいは、受光素子と遮光板の
取シ付は誤差前にエシデイツ１波形を生じない場合の正
傾斜検出回路ときらには、電源投入後、走査板の作動開
始以前に被写体の条件が急激に変化したために生ずる信
号に対しては電磁石のオフパルス駆動（再励磁方式）に
よって解決できるなどの各種の安全装置ｅこニジ、より
確実ｖＣ測距できるものである。また、十分な入力が得
ら扛ながら測距信号が田なかった場合には、ＴＪＥＤ又
は電子ブサー等によって、測距のクシなおすだめの警告
信号を出すことも可能であるなど実用上極めて有効なシ
ステムである。
のためのクラン１回路、わるいは、受光素子と遮光板の
取シ付は誤差前にエシデイツ１波形を生じない場合の正
傾斜検出回路ときらには、電源投入後、走査板の作動開
始以前に被写体の条件が急激に変化したために生ずる信
号に対しては電磁石のオフパルス駆動（再励磁方式）に
よって解決できるなどの各種の安全装置ｅこニジ、より
確実ｖＣ測距できるものである。また、十分な入力が得
ら扛ながら測距信号が田なかった場合には、ＴＪＥＤ又
は電子ブサー等によって、測距のクシなおすだめの警告
信号を出すことも可能であるなど実用上極めて有効なシ
ステムである。
第１図は邂元板屯査型投光式測距装置の原理説−１ｄ
− 明のための図、第２図は同測距装置における光電出力波
形図、第３図は本発明＆（よる制御回路と共動して測距
装置を構成する＋Ｍ栴の一例、第４図は本発明の測距装
置における制御回路の一実施例でるる。８５図は、不発
明の上記制御回路の作動説明のための各部の出力波ブレ
を示す図、第６図は、測距装置のための曲の機構の一例
、第７図は正傾斜検出同格の例と、作動鰭、明のンヒめ
の図、第８図は測距用電磁石の駆動回路およびＴＲ構の
曲の実施例と、作動説明のための図である。 Ａ１．Ａ２〜Ａ６・・・・・・増幅器 ＣＰ１〜ＣＰ６・・・・・・電圧コンパレータＳ［（・
・・・・・サンプル・ホールド回路ＰＳＤ ・・・・・
・正傾斜検出回路 ＯＳＣ・・・・・・発壺器 ＦＤ・・・・・・受光
累子工ｌ（Ｅ Ｄ・・・・・・赤外発光ダイオードＴＭ
Ｋ・・・・・・タイマー回路 ＤＲＶ・・・・・・ＩＲＥＤ 駆動回路Ｂ・・・・・・
電子ブザー １・・・・・・発光素子６・・・・・
・受′ｙｔＳ索子 ７・・・・・・：Ｉ！！！党
板１７・・・・・・走査板 ２１・・・・・・制
御レノ々−２６・・・・・・電磁石 ３０・・・
・・・段カムＳ１・・・・・・電源スイッチ ６６・・
・・・・接片６５・・・・・・元スポット 以 上 出願人セイコー九機株式会社 第１図 第２図
− 明のための図、第２図は同測距装置における光電出力波
形図、第３図は本発明＆（よる制御回路と共動して測距
装置を構成する＋Ｍ栴の一例、第４図は本発明の測距装
置における制御回路の一実施例でるる。８５図は、不発
明の上記制御回路の作動説明のための各部の出力波ブレ
を示す図、第６図は、測距装置のための曲の機構の一例
、第７図は正傾斜検出同格の例と、作動鰭、明のンヒめ
の図、第８図は測距用電磁石の駆動回路およびＴＲ構の
曲の実施例と、作動説明のための図である。 Ａ１．Ａ２〜Ａ６・・・・・・増幅器 ＣＰ１〜ＣＰ６・・・・・・電圧コンパレータＳ［（・
・・・・・サンプル・ホールド回路ＰＳＤ ・・・・・
・正傾斜検出回路 ＯＳＣ・・・・・・発壺器 ＦＤ・・・・・・受光
累子工ｌ（Ｅ Ｄ・・・・・・赤外発光ダイオードＴＭ
Ｋ・・・・・・タイマー回路 ＤＲＶ・・・・・・ＩＲＥＤ 駆動回路Ｂ・・・・・・
電子ブザー １・・・・・・発光素子６・・・・・
・受′ｙｔＳ索子 ７・・・・・・：Ｉ！！！党
板１７・・・・・・走査板 ２１・・・・・・制
御レノ々−２６・・・・・・電磁石 ３０・・・
・・・段カムＳ１・・・・・・電源スイッチ ６６・・
・・・・接片６５・・・・・・元スポット 以 上 出願人セイコー九機株式会社 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）発光素子と投光レンズから成る投光手段によって
投光し、被写体からの反射光を受けて回路処理すること
によって距離検出する測距装置において、受光素子の面
上全被写体までの距離に相関を持って走査する遮光部Ｉ
と、上記発光素子をパルス駆動するための駆動回路と上
記受ｊｔ、素子の光電出力を増幅するための交流増幅回
路と、上記光電出力の変化を直流信号の変化にするえ・
めの検波回路および積分回路と、ピーク検出回路と、電
磁石制御回路等から成る投光式測距装量における制御回
路。 （２、特許請求の範囲第１項記載のものにおいて遮光板
を配置するかわシに、不感ゾーンを有する受光素子を走
査させることを特徴とする投光式測距装置における制御
回路。 （３）特許請求の範囲第１項および第２項記載のものに
おいて、検波後の積分信号が一定値以上の象徴な変化を
した時のみ出力を次段に通すためのフラング回路を有す
ることを特徴とする投光式測距装置における制御回路。 （４） 特許請求の範囲第１項、第２．ＴＪ記載のも
のにおいて、ピーク検出回路は、サンフ′ルホールド回
路と、差動増幅器と積分回路および電圧コンパレータ寺
から成ることを特徴とする投光式測距装置における制御
回路。 （５） 特許請求の範囲第１項、第２項記載のものに
おいて、測距用電磁石を制御するための回路はフリップ
フロップとそのナツト人力にオア回路を接続し、核オア
師」路には、正傾斜検出（ロ）路と、上記ピーク検出回
路の出力が入力されていることを％徴とする投光式測距
装置に２ける制御回路。 （６）特許請求の範囲第１項、第２項記載のものにおい
て、測距用電磁石制御回路は、ワンショットマルチバイ
ブレータ−回路を含むことを特徴とする投光式測距装置
に訃ける制御回路。 （７）特許請求の範囲第１項、第２項記載のものにおい
て、警告用のＬＥＤおよび電子ブサー回路を有し、該警
告回路は測距のための走査終了信号と、測距用電磁石制
御信号と、レベル横用回路の出力とのアンド回路を介し
て駆動さねさらに、パルス発振出力によって変調された
信号を入力とすることを特徴とする投光式測距装置にお
ける制御回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57002618A JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
| GB08300532A GB2113500B (en) | 1982-01-11 | 1983-01-10 | Automatic focusing |
| US06/456,789 US4497560A (en) | 1982-01-11 | 1983-01-10 | Control circuit for active type range finder |
| DE19833300695 DE3300695A1 (de) | 1982-01-11 | 1983-01-11 | Steuerschaltung fuer eine entfernungsmesseinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57002618A JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
Related Child Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11367390A Division JPH0367118A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
| JP11367290A Division JPH03102211A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
| JP11367190A Division JPH03102210A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58120110A true JPS58120110A (ja) | 1983-07-16 |
| JPH0419487B2 JPH0419487B2 (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=11534389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57002618A Granted JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4497560A (ja) |
| JP (1) | JPS58120110A (ja) |
| DE (1) | DE3300695A1 (ja) |
| GB (1) | GB2113500B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148034A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-24 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | カメラの測距装置 |
| JPS60158309A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-19 | Seiko Koki Kk | 距離検出装置 |
| DE3502634A1 (de) * | 1985-01-26 | 1985-06-20 | Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln | Optisch-elektronischer entfernungsmesser |
| JP2890175B2 (ja) * | 1995-05-10 | 1999-05-10 | 日清紡績株式会社 | 織成方法 |
| US6494095B1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-12-17 | Opticnet, Inc. | Micro electromechanical switch for detecting acceleration or decelaration |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56138206A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-28 | Anritsu Corp | Displacement measuring equipment |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4291223A (en) * | 1978-02-24 | 1981-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Distance detecting device |
| DE2853978A1 (de) * | 1978-12-14 | 1980-07-03 | Bosch Gmbh Robert | Entfernungsmesser |
-
1982
- 1982-01-11 JP JP57002618A patent/JPS58120110A/ja active Granted
-
1983
- 1983-01-10 US US06/456,789 patent/US4497560A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-01-10 GB GB08300532A patent/GB2113500B/en not_active Expired
- 1983-01-11 DE DE19833300695 patent/DE3300695A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56138206A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-28 | Anritsu Corp | Displacement measuring equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0419487B2 (ja) | 1992-03-30 |
| GB2113500A (en) | 1983-08-03 |
| GB8300532D0 (en) | 1983-02-09 |
| US4497560A (en) | 1985-02-05 |
| GB2113500B (en) | 1986-08-06 |
| DE3300695A1 (de) | 1983-07-21 |
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