JPS58108472A - 部分放電測定法 - Google Patents
部分放電測定法Info
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- JPS58108472A JPS58108472A JP20772081A JP20772081A JPS58108472A JP S58108472 A JPS58108472 A JP S58108472A JP 20772081 A JP20772081 A JP 20772081A JP 20772081 A JP20772081 A JP 20772081A JP S58108472 A JPS58108472 A JP S58108472A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は電カケープルやこのケーブルの接続部の絶縁劣
化を測定する場合に有用な部分放電測定法に関するもの
である。
化を測定する場合に有用な部分放電測定法に関するもの
である。
(発明の技術的背景とその問題点)
電カケープルやケーブル接続部の部分放電測定法として
は第1図に示すような方法が知られている。
は第1図に示すような方法が知られている。
すなわち、供試ケーブル1の導体の一端とブロッキング
コイル2間を結ぶリード線3の一点は、結合コンデンサ
4およびこれ(二直列に接続された検出素子5を介して
接地されている。
コイル2間を結ぶリード線3の一点は、結合コンデンサ
4およびこれ(二直列に接続された検出素子5を介して
接地されている。
またケーブルの遮蔽層6の一点も接地されている。
上記構成の測定回路において、ブロッキングコイル2の
一端に高圧電源7を接続すれば供試ケーブル内部で発生
した部分放電信号は検出素子5で検出される。
一端に高圧電源7を接続すれば供試ケーブル内部で発生
した部分放電信号は検出素子5で検出される。
しかしながら、このような従来の測定方法においては、
結合コンダン+4と検出素子5からなるパルス検出回路
が空間的に組立てられているので静電誘導や電磁誘導に
よる外来ノイズが入り込み易い欠点がある。
結合コンダン+4と検出素子5からなるパルス検出回路
が空間的に組立てられているので静電誘導や電磁誘導に
よる外来ノイズが入り込み易い欠点がある。
このため、第2図に示すように、結合コンデンサとして
、ケーブル絶縁体の静電容量を利用した結合コンデンサ
用ケーブル8で代用し、かつ外来ノイズをバラン夛9に
よって除去する方法が提案されている。
、ケーブル絶縁体の静電容量を利用した結合コンデンサ
用ケーブル8で代用し、かつ外来ノイズをバラン夛9に
よって除去する方法が提案されている。
すなわち、上記の測定回路においては、供試ケーブル接
続部10および結合コンデンサ用ケーブル8の各遮蔽層
11.12が検出素子13.〜14を介して接地され、
この検出素子13.14で検出される部分放電信号の極
性が異な6時のみの信号を測定することによって外来ノ
イズを除去している。
続部10および結合コンデンサ用ケーブル8の各遮蔽層
11.12が検出素子13.〜14を介して接地され、
この検出素子13.14で検出される部分放電信号の極
性が異な6時のみの信号を測定することによって外来ノ
イズを除去している。
しかし、かかる部分放電の測定法においては、測定回路
のループが長尺化しているので外来ノイズが入来し易い
欠点がある。
のループが長尺化しているので外来ノイズが入来し易い
欠点がある。
このため、この外来ノイズの入来を小さくする分離測定
法が提案されている。
法が提案されている。
この分離測定法においては、遮蔽層の一部を切除するこ
とにより測定回路のループ長を電気的に短尺化している
ので、外来ノイズを小さくなしうる利点を有するが以下
に述べる欠点がある。
とにより測定回路のループ長を電気的に短尺化している
ので、外来ノイズを小さくなしうる利点を有するが以下
に述べる欠点がある。
すなわち、第3図に示すようにOFケーブル等からなる
結合コンデンサ用ケーブル8の任意個所の金属シース1
5を所要長切除し、この切除部分に一対の円筒体16.
17を被せ、絶縁筒18を介して一対のフランジ19.
20どうしを連結する。
結合コンデンサ用ケーブル8の任意個所の金属シース1
5を所要長切除し、この切除部分に一対の円筒体16.
17を被せ、絶縁筒18を介して一対のフランジ19.
20どうしを連結する。
同様にしてケーブル遮蔽層21も切除され、核部の絶縁
体22外周に所要の抵抗値を有するカーボン紙等の半導
体層23を、ケーブル遮蔽層21゜21間に跨って設け
る。
体22外周に所要の抵抗値を有するカーボン紙等の半導
体層23を、ケーブル遮蔽層21゜21間に跨って設け
る。
なお、上記の半導体層23の抵抗値は、検出素子13,
14.の抵抗値より大きい値、例えば1000以上とさ
れるが、ケーブル絶縁体22外周に外部半導電層(図示
せず)が形成されている場合ζ:おいては、この外部半
導電層の抵抗で代用しても上上記のケーブル遮蔽層の切
除部分に所要の半導体層を設けるのは、ケーブル遮蔽層
の完全分離によってこの遮蔽端部に集中する電界のスト
レスを緩和するためである。
14.の抵抗値より大きい値、例えば1000以上とさ
れるが、ケーブル絶縁体22外周に外部半導電層(図示
せず)が形成されている場合ζ:おいては、この外部半
導電層の抵抗で代用しても上上記のケーブル遮蔽層の切
除部分に所要の半導体層を設けるのは、ケーブル遮蔽層
の完全分離によってこの遮蔽端部に集中する電界のスト
レスを緩和するためである。
以上によって測定回路のループ長を短尺化するいわゆる
分離作業が終了するがかかる分離作業においては、金属
シースの切除作業が困難であり、またケーブル遮蔽層の
切除作業時に絶縁体を損傷させる欠点がある。
分離作業が終了するがかかる分離作業においては、金属
シースの切除作業が困難であり、またケーブル遮蔽層の
切除作業時に絶縁体を損傷させる欠点がある。
また、部分放電の測定を行なう毎に結合コンデンサ用ケ
ーブルを作成しなければならない欠点がある。
ーブルを作成しなければならない欠点がある。
(発明の目的)
本発明は、上記事情に基づきなされたも−ので、ケーブ
ル絶縁体を損傷させることがなくまた試験毎に結合コン
デンサ用ケーブルを作成しなくとも試験を行ないうる部
分放電測定法を提供しようとするものである。
ル絶縁体を損傷させることがなくまた試験毎に結合コン
デンサ用ケーブルを作成しなくとも試験を行ないうる部
分放電測定法を提供しようとするものである。
(発明の概要)
本発明においては、結合コンデンサ用ケーブルおよび例
えば供試ケーブルの各端末を終端処理し、得られた各ケ
ーブルの終端部の一方側の終端部どうしの導体のみを電
気的に接続することにより、前記目的を達成している。
えば供試ケーブルの各端末を終端処理し、得られた各ケ
ーブルの終端部の一方側の終端部どうしの導体のみを電
気的に接続することにより、前記目的を達成している。
(発明の実施例)
以下、本発明な一実施例の図面に基づいてその詳細を説
明する。
明する。
第4図において、例えばCvケーブルやOFケーブル等
の接続部で構成される供試体24および前記ケーブルと
同様構成のケーブルで構成される結合コンデンサ用ケー
ブル25の各端末は常法によりそれぞれ終端処理され、
これによって形成さ ′れた供試体および結合コン
デンサ用ケーブルの−刃側の終端部26.27どうしの
導体のみが電気的に接続され、この接続部分は、必要に
より、接地した密閉金属ケース28で包被される。
の接続部で構成される供試体24および前記ケーブルと
同様構成のケーブルで構成される結合コンデンサ用ケー
ブル25の各端末は常法によりそれぞれ終端処理され、
これによって形成さ ′れた供試体および結合コン
デンサ用ケーブルの−刃側の終端部26.27どうしの
導体のみが電気的に接続され、この接続部分は、必要に
より、接地した密閉金属ケース28で包被される。
供試体24の他方の終端部29は、必要により接地した
密閉金属ケース30で包被され、結合コンデンサ用ケー
ブル25の他方の終端部31はそのまま、すなわち気中
終端とされ、その頂部にはケーブル導体に電気的に接続
された電極棒32が露出されている。
密閉金属ケース30で包被され、結合コンデンサ用ケー
ブル25の他方の終端部31はそのまま、すなわち気中
終端とされ、その頂部にはケーブル導体に電気的に接続
された電極棒32が露出されている。
一方、供試体および結合コンデンサ用ケーブルの各遮蔽
層33.34は、それぞれ検出素子35゜66を介して
接地され、各リード線37.38間にはパランサ69を
介して部分放電検出器40が接続されている。
層33.34は、それぞれ検出素子35゜66を介して
接地され、各リード線37.38間にはパランサ69を
介して部分放電検出器40が接続されている。
測定回路のループ長を短尺にする分離部41は、第5因
に示すようにして形成されている。
に示すようにして形成されている。
すなわち、結合コンデンサ用ケーブルおよび供試体の端
末はそれぞれ段剥処理され、これによって外部半導電層
42、ケーブル遮蔽層4Sおよびケーブル絶縁体44が
それぞれ露出され、露出された絶縁体外周には、補強絶
縁層45およびこの頂部外周に設けたエポキシベルマウ
ス46等により構成される電界緩和手段47が設けられ
、この手段のテーパ部分にはケーブル遮蔽層43に跨が
る遮蔽体48が設けられている。
末はそれぞれ段剥処理され、これによって外部半導電層
42、ケーブル遮蔽層4Sおよびケーブル絶縁体44が
それぞれ露出され、露出された絶縁体外周には、補強絶
縁層45およびこの頂部外周に設けたエポキシベルマウ
ス46等により構成される電界緩和手段47が設けられ
、この手段のテーパ部分にはケーブル遮蔽層43に跨が
る遮蔽体48が設けられている。
一方、結合コンデンサ用ケーブルおよび供試体の金属シ
ース49端部には小径フランジ50を有する筒状金具5
1が被嵌され、その端部は鉛工処理によって金属シース
49に固着されている。
ース49端部には小径フランジ50を有する筒状金具5
1が被嵌され、その端部は鉛工処理によって金属シース
49に固着されている。
また、一端に大径フランジ52、他端に小径フランジ5
3を有する筒状金具54の大径フランジ52側は、密閉
金属ケース28または30にボルト55類により固着さ
れている。
3を有する筒状金具54の大径フランジ52側は、密閉
金属ケース28または30にボルト55類により固着さ
れている。
しかして上記の小径フランジ50.53どうしを絶縁リ
ング56を介して絶縁ボルト57類で連結すれば、金属
シース49のパルス的な切離作業が完成する。
ング56を介して絶縁ボルト57類で連結すれば、金属
シース49のパルス的な切離作業が完成する。
なお、58はケーブル端末を包囲するエポキシ套管でこ
の頂部にはコロナシールド59が設けられている。
の頂部にはコロナシールド59が設けられている。
また、各密閉金属ケース内には8F・ガスもしくは絶縁
油等の絶縁性流体が封入もしくは油填されている。
油等の絶縁性流体が封入もしくは油填されている。
第4図および第5図と同一部分に同一番号を付した9J
S6図は1.結合コンデンサ用ケーブルの他方の終端部
にブロッキングコイル60を接続し、この接続部分を前
記同様に接地した密閉金属ケース61で包被した場合の
実施例を示している。
S6図は1.結合コンデンサ用ケーブルの他方の終端部
にブロッキングコイル60を接続し、この接続部分を前
記同様に接地した密閉金属ケース61で包被した場合の
実施例を示している。
この実施例においては、試験電圧の印加側すなわち気中
終端部から入来する外来ノイズをブロッキングコイルで
除去できる利点がある。
終端部から入来する外来ノイズをブロッキングコイルで
除去できる利点がある。
また、密閉金属ケース間は、例えば第6図の点線で示す
ように接地した筒金具62で包被してもよいっ この場合においては測定回路全体が接地した密閉体で包
被された形となるので、外来ノイズの入来を更に減少で
きる利点がある。
ように接地した筒金具62で包被してもよいっ この場合においては測定回路全体が接地した密閉体で包
被された形となるので、外来ノイズの入来を更に減少で
きる利点がある。
上記のごとくして測定回路を構成し、コンデンサ用ケー
ブルの他方の終端部に試験電圧を印加すれば、供試体2
4内部糾生じた部分放電信号は各検出素子35.56で
検出される。
ブルの他方の終端部に試験電圧を印加すれば、供試体2
4内部糾生じた部分放電信号は各検出素子35.56で
検出される。
しかして、これらの各盲号を、その極性が異なるときに
作動するバランサ39を介して部分放電検出器40で検
出すれば外来ノイズを含まない部分放電信号を測定でき
る。
作動するバランサ39を介して部分放電検出器40で検
出すれば外来ノイズを含まない部分放電信号を測定でき
る。
なお、前述の実施例においては、供試体としてケーブル
接続部を用いた場合について述べであるが、本発明はこ
れに限定されず、例えばケーブルに適用してもよい。
接続部を用いた場合について述べであるが、本発明はこ
れに限定されず、例えばケーブルに適用してもよい。
図中、63は鉛工部、64は部分放電検出器を示してい
る。
る。
(発明の効果)
上述した本発明においては、結合コンデンサ用ケーブル
および例えば供試ケーブルの各端末を終端処理し、得ら
れた各ケーブルの終端部の一方側の終端部どうしの導体
のみを電気的に接続しているので、結合コンデンサ用ケ
ーブルの金属レースおよびケーブル遮蔽層を供試体のそ
れから分離して測定回路の閉ループを短尺化できる。
および例えば供試ケーブルの各端末を終端処理し、得ら
れた各ケーブルの終端部の一方側の終端部どうしの導体
のみを電気的に接続しているので、結合コンデンサ用ケ
ーブルの金属レースおよびケーブル遮蔽層を供試体のそ
れから分離して測定回路の閉ループを短尺化できる。
すなわち、結合コンデンサ用ケーブルおよび供試体のそ
れぞれの一方側の終端部どうしを絶縁筒な介して小径フ
ランジどうしを連結することで、いわゆるレースの分離
作業を行な゛いうるので、従来困難であった任意個所で
の金属シースの切除作業が不要であり、また絶縁体を損
傷させるおそれもない。
れぞれの一方側の終端部どうしを絶縁筒な介して小径フ
ランジどうしを連結することで、いわゆるレースの分離
作業を行な゛いうるので、従来困難であった任意個所で
の金属シースの切除作業が不要であり、また絶縁体を損
傷させるおそれもない。
また、本発明においては、両路端処理した結合コンデン
サ用ケーブルを一度作成しておけば、この結合コンデン
サ用ケーブルを他の部分放電試験にも再使用できるので
作業時間を短縮できる。
サ用ケーブルを一度作成しておけば、この結合コンデン
サ用ケーブルを他の部分放電試験にも再使用できるので
作業時間を短縮できる。
“4、図面の簡単な説明
第1図は、従来の部分放電測定法における回路図、第2
図は分離測定法における模式図、第6図は、遮蔽層の分
離状況を示す要部縦断面図、第4図は本発明の部分放電
測定法における模式図、第5図は本発明における遮蔽層
の分離状況を示す要部縦断面図、第6図は本発明の他の
実施例を示す模式図である。
図は分離測定法における模式図、第6図は、遮蔽層の分
離状況を示す要部縦断面図、第4図は本発明の部分放電
測定法における模式図、第5図は本発明における遮蔽層
の分離状況を示す要部縦断面図、第6図は本発明の他の
実施例を示す模式図である。
24 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
供試体25 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・結合コンデンサ用ケーブル26.27,29.31
・・・終端部 28.30.61 ・・・・・・・・・密閉金属ケース
33.54 ・・・・・・・・・・・・・・・遮蔽層
35.36 ・・・・・・・・・・・・・・・検出素
子39 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
パランサ40 ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・部分放電検出器41 ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・分離部47 ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・電界緩和手段56 ・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・絶縁リング
60 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
プロブキングコイル代理人弁理士 須 山 佐 − 同 上 山 1) 明 信。
供試体25 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・結合コンデンサ用ケーブル26.27,29.31
・・・終端部 28.30.61 ・・・・・・・・・密閉金属ケース
33.54 ・・・・・・・・・・・・・・・遮蔽層
35.36 ・・・・・・・・・・・・・・・検出素
子39 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
パランサ40 ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・部分放電検出器41 ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・分離部47 ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・電界緩和手段56 ・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・絶縁リング
60 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
プロブキングコイル代理人弁理士 須 山 佐 − 同 上 山 1) 明 信。
□
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、それぞれの両端に終端部が形成され、それぞれの遮
蔽層が検出素子を介して接地されてなる結合コンデンサ
用ケーブルと供試体の一方の終端部どうしの導体のみを
電気的に連結し、前記結合コンデンナ用ケーブルの他方
の終端部の導体に試験電圧を印加したときに前記各検出
素子で検出される部分放電信号の極性が異なるときの部
分放電信号の測定を行なうことを特徴とする部分放電測
定法。 2、結合コンデンサ用ケーブルと供試体の一方の終端部
どうしの連結部および供試体の他方の終端部を接地した
相聞金属ケースで包被してなることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の部分放電測定法。 3、試験電圧が、結合コンデンサ用ケーブルの他方の終
端部の導体に電気的に接続されたブロッキングコイルを
介して印加されることを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項記載の部分放電測定法。 4、ブロッキングコイルおよびこれに接続された結合コ
ンデンサ用ケーブルの他方の終端部が、接地した密閉金
属ケースで包被されることを特徴とする特許請求の範囲
第3項記載の部分放電測定法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20772081A JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20772081A JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58108472A true JPS58108472A (ja) | 1983-06-28 |
JPH0153428B2 JPH0153428B2 (ja) | 1989-11-14 |
Family
ID=16544428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20772081A Granted JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58108472A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6072578U (ja) * | 1983-10-21 | 1985-05-22 | 三菱電線工業株式会社 | ケ−ブルの部分放電測定装置 |
JPS60123673U (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-20 | 昭和電線電纜株式会社 | 部分放電測定装置 |
JPS61251779A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 部分放電測定方法 |
JPS63253269A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Fujikura Ltd | 部分放電測定用終端装置 |
JPH01124578U (ja) * | 1988-02-17 | 1989-08-24 | ||
JPH01285868A (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-16 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 電力機器の故障検査装置 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP20772081A patent/JPS58108472A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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