JPS58107945A - キ−ボ−ドの試験方法 - Google Patents

キ−ボ−ドの試験方法

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Publication number
JPS58107945A
JPS58107945A JP56208477A JP20847781A JPS58107945A JP S58107945 A JPS58107945 A JP S58107945A JP 56208477 A JP56208477 A JP 56208477A JP 20847781 A JP20847781 A JP 20847781A JP S58107945 A JPS58107945 A JP S58107945A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
key
keyboard
test
keys
code
Prior art date
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Pending
Application number
JP56208477A
Other languages
English (en)
Inventor
Takaya Taniya
谷矢 貴也
Takeo Kuwabara
桑原 健夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP56208477A priority Critical patent/JPS58107945A/ja
Publication of JPS58107945A publication Critical patent/JPS58107945A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/32Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324Display of status information
    • G06F11/327Alarm or error message display

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ta)  発明の技術分野 本発明はキーボードの試験方法に関する。
fb)  従来技術と問題点 キーボードを試験するにはキーボードを構成する多数の
キーのそれぞれについて、その機能とキーの種類を示す
キートップ上の表示とを検査しなければならない。上記
多数のキーにはその機能から見て文字キーと機能キーと
があり、文字キーは表示装置上に文字を表示せしめるた
めのキーであるのに対し、機能キーはシステムに一連の
動作の実行を指令するためのキーである。このような機
能キーの機能を直接試験するには、試験対象キーボード
に、各キーの機能に関連する各種装置を接続し、各機能
キーを押下して前記各種装置を実際に動作させ、その動
作が正常か否かを確かめねばならない。
従ってかかるキーボードを試験するのに、従来は一連の
システムを必要とし、しかも試験者は多種類にわたるキ
ーボードの各キーの機能を熟知していなければならなか
った。
そこで本願の発明者らは簡単な試験装置を用いることに
より、一連のシステムを必要とせず、且つキーの機能を
知らなくても良いキーボードの試験方法を別の特許出願
で提唱した。その試験方法について簡単に述べると、そ
れは中央処理装置と記憶装置と表示装置とを設け、前記
記憶装置には予め試験対象キーボードのの試験プログラ
ムと該キーボードのキーの配列及びそれらキーのコード
とを格納しておき、キーボードの試験に際して前記中央
処理装置が、前記試験プログラムにより、前記表示装置
に試験対象キーボードの被試験キーを順次表示して指定
せしめると共に、該指定されたキーを押下したとき送出
されるコードと前記記憶装置に格納されたコードの比較
結果としての前記押下キーの良否即ちキーボードの良否
を表示せしめる方法である。
この試験方法によれば、試験者は指定されたキーのキー
トップ上の刻印を確認し、そのキーを押すのみでよく、
各キーの機能を知らなくても良いこと、及び試験を行う
のに従来の如く一連のシステムを必要としないという効
果がある。その反面試験者が表示装置上に指定されたキ
ーを、キーボード上で捜さなければならないため、試験
者は表示装置とキーボードを交互に見るという動作が必
要であった。この種の動作を長時間続けることはかなり
の疲労を招(ため、作業能率が安定しない。
+c+  発明の目的 本発明の目的は試験者が一々表示装置を見なくても良い
キーボードの試験方法を提供することにある。
+d)  発明の構成 本発明の特徴は、中央処理装置と記憶装置とキーの照射
手段と音声発生手段とを設け、前記記憶装置には被試験
キーボードの試験プログラムとキーの配列及び各キーの
コードとを予め格納しておき、キーボードの試験に際し
て、前記中央処理装置は前記試験プログラムにより、前
記照射手段を駆動して被試験キーのキートップを順次照
射することにより指定せしめると共に、前記音声発生手
段を駆動して前記指定キーのキートップ表面の表示を音
声により知らせることにある。
tel  発明の実施例 以下本発明の一実施例を図面により説明する。
第1図は上記一実施例に使用したキーボード上試験装置
の要部を示すシステム構成図である。同図において、■
はマイクロプロセッサ(MPU)のような中央処理装置
、2は記憶装置、3はインタフェース、4は試験対象キ
ーボードの機種に対応する試験プログラムを選択するた
めのセレクタ・スイッチのような操作卓、5はCRTの
ような表示装置、6は音声発生装置、7はスピーカ、8
は照射装置、9は前記照射装置8の駆動装置、10は試
験対象キーボード、11はバス線でこれにより前記記憶
装置2やインタフェース3がMPUIに接続される。ま
た上記記憶装置2は、2組の読み出すし専用の半導体記
憶装置(ROM)12.13により構成し、一方(12
)に試験プログラムを、他方(13)に各キーのコード
を予めキーボードの機種に対応して格納しである。
次に上記試験装置によるキーボードの試験方法を、第2
図のフローチャートを参照しながら説明する。
まずセレクタ・スイッチ4を所定の位置にセットするこ
とにより、試験対象キーボード10の機種を試験装置に
通知する。MPUIはセレクタ・スイッチ4から送出さ
れた信号により試験対象機種を検知し、記憶装置2のR
OM12をして対応する試験プログラムを呼び出して試
験装置の初期化等の試験の準備を行なった後、表示装置
5の画面上に試験可能であることを表示する。
試験可能となったら、試験対象キーボード10を試験装
置に接続する。するとMPUIは駆動装置9を作動させ
、照射装置8により試験すべきキーを照射する。このと
きキートップ全面を照らしても良くまたスポット状の光
点を当てても良い。このようにして試験すべきキーを指
定すると共に、MPUIは前記音声発生装置6を駆動し
てスピーカ7より前記指定したキーのキートップ上の正
しい表示を音声によって試験者に教える。そこで試験者
は指定されたキーの刻印を確認し、そのキーを押す。キ
ーが押されるとキーボード10から押されたキーに対応
するコードが送出され、MPUIはこれを記憶装置2の
ROM13に格納されている当該キーのコードと比較す
る。そして両者が一致しているか否かによって良または
不良であることを、表示装置5に表示し且つスピーカ7
から音声により知らせる。以後この操作をキーボード1
0上の総てのキーについて繰り返す。
上述の如く本実施例によれば、試験すべきキーは光を照
射することにより指定され、試験者はキーボード10上
に注意を払うのみで良く、前述の別室による試験のよう
にキーボード10と表示装置5とを交互に見る必要がな
(なった。そのため疲労度は著しく軽減され、キーボー
ド10の試験作業が極めて容易となった。また試験に際
し、関連する一連のシステムが不要となったこと、及び
試験者がキーの機能を熟知する必要のないことは勿論で
、特に説明するまでもないであろう。
なお本実施例に使用した試験装置は、通常用いられるデ
ィスプレイ装置を若干改造することにより作成出来るの
で、装置費用も安価である。
(fl  発明の詳細 な説明した如く本発明によれば、試験すべきキー及びそ
のキーの表示を試験者が表示装置を見て確認する必要の
ない、極めて作業性の良いキーボードの試験方法が提供
出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に用いた試験装置を示す要部
システム構成図、第2図は上記第1図の試験装置による
試験方法を説明するためのフローチャートである。 図において、1は中央処理装置、2は記憶装置、4は試
験対象機種に対応する試験プログラム選択用の操作卓、
5は表示装置、6は音声発生装置、7はスピーカ、8は
照射装置、9は駆動装置、10は試験対象キーボードを
示す。 第1閃 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数個のキーが二次元的に配列されてなり、前記キーを
    押下することにより各キーに対応せるコードを送出する
    キーボードの試験方法において、中央処理装置と記憶装
    置とキーの照射手段と音声発生手段とを設け、前記記憶
    装置には被試験キーボードの試験プログラムとキーの配
    列及び各キーのコードとを予め格納しておき、キーボー
    ドの試験に際して、前記中央処理装置は前記試験プログ
    ラムにより、前記照射手段を駆動して被試験キーのキー
    トップを順次照射することにより指定せしめると共に、
    前記音声発生手段を駆動して前記指定キーのキートップ
    表面の表示を音声により知らせることを特徴とするキー
    ボードの試験方法。
JP56208477A 1981-12-22 1981-12-22 キ−ボ−ドの試験方法 Pending JPS58107945A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56208477A JPS58107945A (ja) 1981-12-22 1981-12-22 キ−ボ−ドの試験方法

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56208477A JPS58107945A (ja) 1981-12-22 1981-12-22 キ−ボ−ドの試験方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58107945A true JPS58107945A (ja) 1983-06-27

Family

ID=16556811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56208477A Pending JPS58107945A (ja) 1981-12-22 1981-12-22 キ−ボ−ドの試験方法

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JP (1) JPS58107945A (ja)

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