JPS58107946A - キ−ボ−ドの試験方法 - Google Patents

キ−ボ−ドの試験方法

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JPS58107946A
JPS58107946A JP56208478A JP20847881A JPS58107946A JP S58107946 A JPS58107946 A JP S58107946A JP 56208478 A JP56208478 A JP 56208478A JP 20847881 A JP20847881 A JP 20847881A JP S58107946 A JPS58107946 A JP S58107946A
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JP
Japan
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keyboard
test
keys
key
tested
Prior art date
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JP56208478A
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English (en)
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JPH0219488B2 (ja
Inventor
Takeo Kuwabara
桑原 健夫
Takaya Taniya
谷矢 貴也
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (al  発明の技術分野 本発明はキーボードの試験方法に関する。
fbl  従来技術と問題点 キーボードを試験するにはキーボードを構成する多数の
キーのそれぞれについて、その機能とキーの種別を示す
キートップ上の表示とを検査しなければならない。上記
多数のキーにはその機能から見て文字キーと機能キーと
があり、文字キーは表示装置上に文字を表示せいめるた
めのキーであるのに対し、機能キーはシステムに一連の
動作の実行を指令するためのキーである。このような機
能キーの機能を直接試験するには、試験対象キーボード
に、各キーの機能に関連する各種装置を接続し、各機能
キーを押下して前記各種装置を実際に動作させ、その動
作が正常か否かを確かめねばならない。
従ってかかるキーボードを試験するのに、従来は一連の
システムを必要とし、しかも試験者は多種類にわたるキ
ーボードの各キーの機能を熟知していなければならなか
った。
(C1発明の目的 本発明の目的は上記問題点を解消し、キーボードの機能
を知らなくても試験可能なキーボードの試験方法を提供
することにある。
+dl  発明の構成 本発明の特徴は、中央処理装置と記憶装置と表示装置と
を設け、前記記憶装置には被試験キーボードの試験プロ
グラムとキーの配列及びそれらキーのコードとを予め格
納しておき、キーボードの試験に際して、前記中央処理
装置は前記試験プログラムにより、前記表示装置に、該
被試験キーボードの被試験キーを順次表示して指示せし
めると共に、該指定されたキーを押下したとき送出され
るコードと前記記憶装置に格納されたコードとの比較結
果としての前記キーの良否を表示せしめることにある。
te+  発明の実施例 以下本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明す
る。
第1図は上記一実施例に使用した、キーボードの試験装
置を示す要部システム構成図である。同図において、■
はマイクロプロセッサ(MPU)のような中央処理装置
、2は記憶装置、3はインタフェース、4は試験対象キ
ーボードの機種に対応する試験プログラムを選択するた
めのセレクタ・スイッチのような操作卓、5はCRTの
ような表示装置、6はスピーカ、7は試験対象キーボー
ド、8はバス線でこれにより前記記憶装置2やインタフ
ェース3がMPUIに接続される。また上記記憶装置2
は、2組の読み出し専用半導体記憶装置(ROM)9.
10により構成し、一方(9)に試験プログラムを、他
方(10)に各キーのコードを予めキーボードの種類に
対応して格納しである。
次に上記試験装置を用いた本実施例のキーボードの試験
方法を、第2図のフローチャートを参照しながら説明す
る。
まずセレクタ・スイッチ4を所定の位置にセットするこ
とにより、試験対象キーボード7の機種を試験装置に通
知する。MPUIはセレクタ・スイッチ4から送出され
た信号により試験対象機種を検知し、記憶装置2のRO
M9をして対応する試験プログラムを呼び出して試験装
置の初期化等の試験の準備を行なった後、表示装置5の
画面上に試験可能であることを表示する。
試験可能となったら、試験対象キーボード7を試験装置
に接続する。すると表示装置5に試験すべきキーが表示
されるので、試験者は表示に従って指定されたキーを押
下する。例えば表示装置5に’AJと表示されたときは
、試験者はキートップ上に’AJと刻印されたキーを押
す。キーが押されるとキーボード7から押されたキーに
対応するコードが送出され、MPUIはこれを記憶装置
2のROMl0に格納されている当該機種の’AJのコ
ードと比較する。そして両者が一致しているか否かによ
って、良または不良であることを、表示装置5の画面に
表示する。このときスピーカ6より音声或いは音色を用
いて上記良否を知らせることも可能である。
本実施例ではこの操作を表示に従って順次繰り返すので
あるが、ここで注目すべきは各キーの機能を直接検査す
るのではなく、キーを押下したときに送出されるコード
を検査するのみであるから、従来の試験方法のように一
連のシステムを接続する必要がなく、しかも上記コード
の検査は試験装置が行うので試験者は各キーの機能を熟
知している必要はないことである。
以後、上記操作を終了の表示が出るまで繰り返すことに
より、キーボード7の試験が終了する。
このように本実施例においては、試験者は表示に従って
指定されたキーを押下することと、そのキートップの刻
印を確認するのみで良く、従来方法のように各キーの機
能を熟知している必要はなくなった。しかも本実施例で
は、試験対象キーボード7の機種を変更するに際しても
、単にセレクタ・スイッチ4の設定を変更するのみで良
く、試験対象キーボードが多種類にわたってもなんら問
題はない。
なお本発明は上記一実施例に限定されることなく種々変
形して実施し得る。
例えば試験対象機種に対応する試験プログラムを選択す
るための手段は、上述のセレクタ・スイッチに変えて、
キーボードに機種を示すバーコードを添付しておき、こ
れをバーコード読取り装置により検知し、対応する試験
プログラムを呼び出すようにしても良い。試験対象機種
が一種類の場合にはこのような試験プログラムの選択手
段を要しないことは勿論である。
(fl  発明の詳細 な説明した如く本発明によれば、試験対象キーボードの
多数のキーの機能を熟知している必要がないので、キー
ボードの試験が極めて容易となる。また本発明を実施す
るに当っては機能キーに関連する各種装置よりなる一連
のシステムを使用する必要がなく、使用する試験装置は
通常用いられるディスプレイ装置を若干改良することに
より作成出来るので、装置費用も安価である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に用いた試験装置を示す要部
システム構成図、第2図は上記第1図の試験装置による
試験方法を説明するためのフローチャートである。 図において、■は中央処理装置、2は記憶装置、4は試
験対象キーボード選択用の操作卓、5は表示装置、7は
試験対象キーボードを示す。 第]rlJ 第2F!lJ 塾\ttカでN−1で°−ドめ 特嫁1試験袋11二蚊 え3゜ 表刃−Q[11ht−才〒1−X゛さ ヘーめるネtv!表万3tろ。 育べ」沙1有a代−ト−/7°/+を・1叩を確電乞・
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Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数個のキーが二次元的に配列されてなり、前記キーを
    押下することにより各キーに対応するコードを送出する
    キーボードの試験方法において、中央処理装置と記憶装
    置と表示装置とを設け、前記記憶装置には被試験キーボ
    ードの試験プログラムとキーの配列及びそれらキーのコ
    ードとを予め格納しておき、キーボードの試験に際して
    、前記中央処理装置は前記試験プログラムにより、前記
    表示装置に、該被試験キーボードの被試験キーを順次表
    示して指示せしめると共に、該指定されたキーを押下し
    たとき送出されるコードと前記記憶装置に格納されたコ
    ードとの比較結果としての前記キーの良否を表示せしめ
    ることを特徴とするキーボードの試験方法。
JP56208478A 1981-12-22 1981-12-22 キ−ボ−ドの試験方法 Granted JPS58107946A (ja)

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JPS58107946A true JPS58107946A (ja) 1983-06-27
JPH0219488B2 JPH0219488B2 (ja) 1990-05-02

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