KR950012085B1 - 비데오 컨트롤러 테스트 장치 및 방법 - Google Patents

비데오 컨트롤러 테스트 장치 및 방법 Download PDF

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레너드 해리슨 골든
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아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니
디.에이.마샬
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Abstract

내용 없음.

Description

비데오 컨트롤러 테스트 장치 및 방법
제1도는 CRT 스크린상에 디스플레이 배치를 형성하도록 모니터 단말기와 함께 사용된 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하기 위한 본 발명에 따른 장치의 블럭도.
제2도는 본 발명의 한 실시예에 따라 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 형성된 전형적인 테스트 패턴 어레이를 도시한 도면.
제3도는 본 발명에 따라 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위한 서브루틴을 도시한 도면.
제4도 및 제5도는 본 발명에 따라 제1도에 도시된 비데오 컨트롤러 디바이스를 동작시키는 단계를 도시한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 테스트 장치 2, 20 : 비데오 컨트롤러 디바이스
3 : 컴퓨터 단말기 장치 10 : 중앙 처리 장치
11 : 메모리 12 : 멀티 플렉스
13 : 카운터 14 : 래치
15 : 버스 16 : 스위치
17 : 인터페이스
본 발명은 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
데이타 서비스를 사용하는 단말기 모니터는 컴퓨터 및 데이타 서비스에 의해 형성된 정보의 배치를 디스플레이한다.
전형적으로, 이러한 모니터는 보통 CRTs로 공지된 음극선관으로, 이때 정보를 나타내는 발광점을 제공하도록 빈약한 전자빔이 발생되어 형광 스크린상에 투영된다. 한 배치에 있어서, CRT 디스플레이는 각 열이 80문자 길이인 24열로 구성된 페이지로 생각될 수 있다. 각각의 문자는 수자, 문자 및 특별한 기호를 형성하도록 배치될 수 있는 "다트" 또는 "픽셀" 어레이로부터 현성된다.
전자 빔이 턴온될 때 뚜렷한 픽셀이 스크린상에 나타나도록 전자 빔을 턴온 및 턴 오프시키므로써 픽셀이 CRT 스크린상에 형성된다. 상기 전자 빔은 빔이 스크린을 가로질러 수평 및 수직으로 이동하고 전자 빔을 턴온 및 턴 오프 시키므로써 CRT 스크린으로 하여금 디스플레이를 형성하는 픽셀을 묘사하도록 CRT를 컨트롤함으로써 디스플레이를 나타내는 입력 데이타에 응답하는 비데오 디스플레이 디바이스에 의해 제어된다.
비데오 컨트롤러 디바이스를 제조함에 있어서, 각각의 장치는 특정 테스트 패턴을 규정하는 디지탈 데이타를 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키므로써 테스트 된다. 상기 비데오 컨트롤러 디바이스는 단말기 CRT 스크린으로 하여금 테스트된 비데오 컨트롤러디티바이스에 의해 발생된 출력을 묘하사도록 함으로써 상기 인가된 데이타에 응답한다. 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 디스플레이를 특정 테스트 패턴과 비교하기 위해 인간 관찰이 사용된다. 인간 관찰을 불완전한 비데오 컨트롤러에 의해 발생된 패턴과 특정 테스트 패턴사이에 방생할 수도 있는 에러를 결정하기 어렵게 하는 고해상도 CRTs로의 디스플레이를 진보된 비데오 컨트롤러 디바이스의 디자인이 묘사한다는 문제점이 있다.
픽셀 어레이에 의해 표시된 문자를 확인하는데 사용할 목적으로 문자 인식 장지가 고안되었다. 이러한 장치는 픽셀 어레이 주위에 윈도우를 형성하므로써 문자를 확인하고 변이가 오프로부터 온으로 도달할때까지 어레이의 상부 및 하부로부터와 각 측면으로부터 안으로 픽셀을 카운트하므로써 어레이안에 인코딩된 문자를 개략적으로 확인한다. 상기 어레이가 특정 문자 세트중 하나가 될 수 있도록 결정하기 위해 픽셀 카운트 정보가 결합되고 웨이팅된다. 이 픽셀 카운팅 장치가 단지 디스플레이의 외부에지만을 나타내고 문자를 확인하도록 결합되어야 하며 웨이팅 되어야 한다는 문제가 발생한다. 이러한 장치는 테스트 패턴 중앙의 세부사항을 확인하지 못하며 그에 따라 테스트된 비데오 디스플레이 디바이스안에 존재할 수도 있는 에러를 검출하지 못하게 된다. 이러한 장치는 칼라 CRTs상에서의 디스플레이를 묘사하는데 사용된 비데오 컨트롤러 디바이스와 관계가 있지 않으며 다중-칼라 디스플레이에 사용된 칼라 픽셀 사이에 구별하지 않는다.
전술된 문제점들은 테스트 패턴 어레이안의 픽셀 변이에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트와 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가되거나 저장된 테스트 패턴 데이타에 융답하여 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 비교하므로써 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하기 위한 장치 및 방법에 의해 해결된다. 상기 장치 및 방법은 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는데 사용할 목적으로 테스트 패턴 디스플레이의 픽셀 어레이안의 앞서 결정된 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록한다. 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 디지탈 데이타 또는 스타트 신호가 비데오 컨트롤러 디바이스의 입력에 인가되고 인가된 데이타에 응답하여 비데오 컨트롤러 디바이스의 출력에 발생된 픽셀 변이의 카운트가 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 전체 성능을 결정하기 위해 앞서 기록된 픽셀 변이 카운트와 비교된다. 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴는 테스트된 비데오 디스플레이 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트를 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 정합시키지 못함에 따라 발생한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본원 명세서를 보다 상세히 설명하겠다.
제1도는 장치(1)는 표준 기중 비데오 컨트롤러 디바이스에 대해 각기 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 성능을 결정하기 위해 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는데 사용된다. 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)는 픽셀 디스플레이 배치를 디스플레이 하도록 컴퓨터 또는 단자와 함께 조합된 CRT 모니터를 제어 하기 위해 컴퓨터 단말기(3)와 같은 컴퓨터 또는 단말기와 함께 사용될 회로 기판일 수도 있다. 전형적인 CRT 모니터는 정보를 나타내는 발광점을 제공하도록 빈약한 전자빔이 형광 스크린상에 발생되고 투영되는 음극선관일 수도 있다. 한 배치에 있어서, CRT 디스플레이는 각각의 열이 80문자 길이인 24문자 열로 구성된 페이지로 생각될 수 있다. 각각의 문자는 수자, 문자 및 특정 기호를 형성하도록 구성될 수 있는 "다트" 또는 "픽셀" 어레이로 부터 형성된다.
전자 빔이 턴온 될때 뚜렷한 픽셀이 스크린상에 나타나게 되도록 전자빔을 턴 온 및 턴 오프시키므로써 픽셀이 CRT 스크린상에 형성된다. 상기 CRT 스크린을 수평 및 수직으로 주사하도록 수직 및 수평 신호가 CRT 모니터의 전자총을 제어하는데 사용된다. 상기 전자 빔은 차후 비데오 신호로 불리는 제어 신호에 의해 전자 빔을 턴 온 및 턴 오프시키므로써 디스플레이를 나타내는 입력 데이타에 응답하는 비데오 디스플레이 디바이스(2,20)에 의해 제어되며, 그에 따라 CRT 스크린으로 하여금 디스플레이를 형성하는 픽셀을 묘사하게 한다. 상기 전자 빔을 뚜렷한 디스플레이의 일부분을 포함하는 다트 정보를 디스플레이 하도록 턴온된 전자빔이 CRT 스크린상의 픽셀을 비추게 하기 위해 디스플레이 데이타의 부재를 나타내고 오프로부터 온으로 변이를 일으키도록 턴 오프된다. 상기 전자 빔은 디스플레이된 다트 정보의 끝에서 픽셀을 어둡게 하도록 다른 변이를 일으키기 위해 턴 오프 된다.
비데오 콘트롤러 디바이스(2,20)는 입력에 의해 표시된 정보 또는 ROM 저장 데이타를 디스플레이 하도록 CRT 모니터의 동작을 제어하는 수직 및 수평 싱크 신호 및 비데오 신호를 발생시키도록 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 제어하는 데이타를 포함하는 프로그램된 판독 전용 기억장치(ROM)를 가질 수도 있고 또는 컴퓨터나 단말기의 다른 회로로부터 데이타를 수신할 수도 있다. 단색 CRT 모니터에 있어서, CRT 모니터상의 데이타를 디스플레이 하기 위해 수직 및 수평 싱크 신호 및 비데오 신호에 의해 제어되는 단일 총이 존재할 수도 있다. 칼라 모니터 CRT 스크린상에 칼라 디스플레이 배치를 제공하기 위해 칼라 모니터는 수직 및 수평 싱크 신호와 적색, 녹색 및 청색 비데오 신호에 의해 제어된 적색, 녹색 및 청색 총을 가질 수도 있다.
장치(1)가 표준 기준 비데오 콘트롤러 디바이스에 대해 완성될 비데오 콘트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하도록 비데오 컨트롤러(2,20)를 제조하는 동안 사용될 것이다. 중앙 처리 장치(10)는 제조된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는데 사용될 테스트 패턴 디스플레이를 제공하도록 표준 기준 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생되는 픽셀 변이의 카운트를 메모리(11)안에 미리 기록시킨다. 장치(1)는 미리기록된 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타 또는 리드(102)를 경유하여 리세트 신호를 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)에 인가시키며, 인가된 테스트 패턴 데이타에 응답하여, 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 테스트된 비데오 컨트롤러 디바디스(2,20)의 성능을 결정하기 위해 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교한다. 장치(1)는 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 총 출력에 대해 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교했을때 발생된 픽셀 변이 카운트를 정합시키지 못함에 따른 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 성능 감퇴를 인지한다.
제1도의 중앙 처리 장치(10)는 서로다른 수많은 유형의 컴퓨터중 하나일 수 있으며, 본 발명을 이해하기 위해 상세히 설명될 필요는 없으며 일반적으로 어드레스, 데이타 및 제어 리드에 의해 버스(15)에 접속된다. 버스(15)는 중앙 처리 장치(10)와 메모리 유니트(11), 스위치(16), 래치(14), 및 카운터(13)를 연결한다. 중앙 처리 유니트(10)는 데이타가 중앙 처리 유니트(10)와 컴퓨터 단말기(3) 상이에서 교환될 수 있도록 컴퓨터 단말기(3)까지 연장되는 데이타 링크(317)와 장치(1)를 상호 접속시키는 인터페이스 유니트(17)와 연결된다. 컴퓨터 단말기(3)는 공지된 수많은 컴퓨터 단말기중 하나일 수 있으며 본 발명을 이해하기 위해 상세히 설명될 필요는 없다.
장치(1)는 단색 비데오 컨트롤러 디바이스(20)의 출력인 수직 및 수평 싱크 리드(213,2125)와 비데오 신호 리드(2124) 및 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 수직 및 수평 싱크 리드(213,2123)와 적색, 녹색 및 청색 비데오 출력 리드(2120,2121,2122)와 연결된 다수의 멀티플렉스 유니트(120,121)를 가진 멀티플렉스(12)를 갖는다. 동작중, 중앙 처리 유니트(10)는 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)가 제조된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는데 사용할 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 출력 신호를 발생시키도록 데이타를 리드(102)에 인가하므로써 동시에 다수의 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트한다.
중앙 처리 장치(10)는 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스(2)와 같은 제1비데오 컨트롤러 디바이스를 선택하도록 제어 리드(142)를 경유하며 멀티플렉스 유니트(120,121)중 하나, 즉 멀티플렉스 유니트(120)을 세트시키기 위해 래치(14)를 제어하도록 버스(15)를 통해 디지탈 신호를 전송하므로써 비데오 컨트롤러 디바이스(2)중 하나를 선택 한다. 선택된 멀티플렉스 유니트(120)는 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 수직 및 수평 싱크 리드(213,2123)와 적색, 녹색 및 청색 비데오 리드(2120,2121,2122)를 카운터(13)와 접속시키도록 동작한다. 카운터(13)는 적색, 녹색 및 청색 비데오 출력 리드(2120,2121,2122)상의 각각의 비데오 신호 출력에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트 및 선택된 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 수평 싱크 리드(2123)에 의해 표시된 수평 라인의 수를 계수하고 메모리(11)안에 기록하기 위해 스타트 신호를 스타트 리드(1013)에 인가시키는 중앙 처리 장치(10)와 수직 싱크 리드(213)상에 나타나는 수직 싱크 신호에 의해 동작된다.
중앙 처리 장치(10)는 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2)에 의해 발생되어 메모리 유니트(11)안에 기록된 픽셀 변이 카운트를 적색, 녹색 및 청색 비데오 출력 리드(2120,2121,2122)상에 나타난 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스의 각 비데오 신호 출력에 대한 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교하고 이 비교과정을 기초로하여 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 성능을 결정한다. 중앙 처리 장치(10)는 상기 발생되는 기록된 픽셀 변이 카운트를 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 각 비데오 신호 출력에 대해 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트를 정합시키지 못함에 따른 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 성능 감퇴를 나타낸다. 감퇴된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 확인은 데이타 링크(1017,317)를 경유하여 컴퓨터 단말기(3)로 전달될 수 있으며 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스중 어느 것이 표준 비데오 컨트롤러 디바이스와 부합되지 못하는 가가 알려지게 되는 오퍼레이터에 비쥬얼 디스플레이(visual display)를 제공하도록 인터페이스 장치(17)에 전달될 수도 있다.
본 발명의 다른 실시예에 있어서, 중앙 처리 장치(10)는 메모리(11)안에 기록된 발생된 픽셀 변이 카운트 및 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트 데이타를 데이타 링크(1017 및 317)를 가로질러 인터페이스 장치(17)를 경유하여 원격 컴퓨터 단말기(3)로 전달할 수도 있다. 전달된 픽셀 변이 카운트 데이타를 수신함에 따라 컴퓨터 단말장치(3)는 발생되어 기록된 픽셀 변이 카운트를 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 각 비데오 신호 출력에 대해 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교한다. 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 성능 감퇴는 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교시 방생되어 기록된 픽셀 카운트 정합의 실패를 검출하는 컴퓨터 단말기(3)에 의해 결정된다. 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 성능 감퇴는 적색, 녹색 또는 청색 비데오 출력 리드(2120,2121,2122)중 하나 또는 비데오 출력 리드(2124) 또는 수평 싱크 리드(2123,2125)상에 나타나는 한 비데오 신호 출력의 픽셀 변이 카운트가 표준 기준 비데오 컨트롤러 디바이스의 대응 비데오 신호에 대해 앞서 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 정합되지 못할때 발생한다.
장치(1)는 ROM에 대해 앞서 프로그램된 데이타에 따라 픽셀 디스플레이 배치를 발생시키도록 모니터 단말기를 제어하도록 앞서 프로그램된 ROM을 가진 단색 및 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스를테스트하는데 사용될 수 있다. 표준 기준 비데오 컨트롤러 디바이스의 각 비데오 출력 리드에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트가 메모리(11)안에 미리 기록된다. 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 ROM으로 하여금 단색 비데오 컨트롤러 디바이스(20)에 대한 단일 비데오 출력 리드나 또는 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 적색, 녹색 및 청색 비데오 출력 리드(2120,2121,2122)상에 픽셀 디스플레이 배치를 나타내는 픽셀 데이타를 발생시키도록 제어 신호가 장치(1)에 의해 데이타 리드(102)중 하나를 거쳐 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)에 인가된다. 발생된 픽셀 변이는 카운터(13)에 의해 카운트되고 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위해 앞서 기록된 테스트 디스플레이 배치 픽셀 변이 카운트와 비교된다.
비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는 방법은 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는데 사용할 표준 기준 테스트 패턴 디스플레이 내의 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록하는 단계와 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타를 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)에 인가하는 단계를 갖는다. 인가된 데이타 또는 제어 신호에 응답하여 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트가 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)의 성능을 결정하기 위해 스위치(16)에 의해 결정된 앞서 기록된 픽셀 변이 카운트와 비교된다.
비데오 콘트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는 시퀸스를 시작함에 있어서, 장치(1)는 테스트되어야 하는 비데오 컨트롤러 디바이스의 타입을 판정하기 위해 제4도에서 스위치(16)를 세트 시킨다. 스텝(1000,1001), 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스는 단색 모니터의 동작을 제어하는데 사용되는 단일 비데오 신호 출력 리드(2124)를 가지며, 특정 디스플레이 배치에 대해 데이타를 발생시키도록 앞서 프로그램된 ROM을 갖거나 또는 외부 회로로부터 테스트 패턴 디스플레이 배치 데이타를 수신할 수도 있는 비데오 컨트롤러 디바이스(20), 제1도를 가질 수 있다. 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스는 칼라모니터의 동작을 제어하는데 사용되는 적색, 녹색 및 청색 비데오 신호 출력 리드(2120,2121, 및 2122)를 가지며, 앞서 프로그램된 ROM를 가질 수도 있고 또는 외부 회로로부터 테스트 패턴 디스플레이 배치 데이타를 수신할 수도 있는 비데오 컨트롤러 디바이스(2), 제1도, 일수 있다.
중앙 처리 장치(10)는 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스가 장치(1)에 가입된 정보로부터 제어되고 메모리(11)안에 기록되도록 모니터 총의 타입을 판정한다. 제4도, 스텝(1002). 특정 비데오 컨트롤러 디바이스가 테스트될 비데오 컨트롤러 디바이스로부터 선택되며, 스텝(1003), 선택된 컨트롤러 디바이스에 미리 프로그램된 ROM이 제공되는지 여부가 판정된다. 스탭(1064). 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스가 미리 프로그램된 ROM을 갖는 것으로 결정될때, 중앙 처리 장치(10), 제1도는 데이타 리드(102)중 하나를 거쳐 인에이블 신호를 선택될 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)로 전송한다, 제4도, 스텝(1006). 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스가 입력 디스플레이 배치 데이타를 필요로 하는 것이 결정될 경우, 스텝(1004), 중앙 처리 장치(10)는 미리 기록된 테스트 패턴 디스플레이 데이타를 데이타리드(102)를 지쳐 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스로 전달할 것이다. 스탭 (1005).
선택된 비데오 컨트롤러 디바이스, 예컨대, 비데오 컨트롤러 디바이스(20)가 단색 모니터를 제어하게될 경우, 스텝(1007), 중앙 처리 장치(10), 제1도는 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 수평 싱크 리드(2123) 및 적색 비데오 신호 출력 리드(2120)를 카운터(13)에 접속시키도록 래치(14)가 멀티플렉스(12)로 향하게 세트시키기 위해 버스(15)를 거쳐 디지탈 신호를 전송한다. 중앙 처리 장치(10)는 리드(1013)를 경유하여 스타트 신호를 카운터(13)로 전송한다. 수직 싱크 리드(213), 제4도, 스텝(1008), 상에서 수신된 수직 스윕의 시작을 리시브하자마자, 카운터(13)는 인가된 테스트 패턴 또는 ROM 데이타에 응답하여 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이의 수를 카운트한다, 스텝(1009). 카운트(13)는 준비 신호를 리드(1310)를 경유하여 중앙 처리 장치(10)에 복귀시키므로써 픽셀 변이 카운트가 기록되는 것을 나타낸다.
제1도에서 발생된 픽셀 변이 버스(15)를 거쳐 중앙 처리 장치(10)에 전달되고 메모리(11)안에 기록된 적절한 테스트 패턴 디스플레이에 대해 미리 기록된 픽셀 변이 카운트와 비교된다. 선택된 단색 비데오 컨트롤러 디바이스(20)에 대해, 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(20)에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트가 단색 모니터를 위한 테스트 패턴 디스플레이에 대해 미리 기록된 픽셀 변이 카운트와 비교된다. 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 적색 비데오 신호 출력 리드(2120)상에 나타나는 신호에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트가 칼라 모니터의 테스트 패턴 디스플레이를 위해 미리기록된 적색 픽셀 변이 카운트와 비교된다. 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스 발생 픽셀 변이 카운트가 비교되고 미리 기록된 픽셀 변이 카운트와 정합하지 않을때, 제5도, 스텝(1010,1011), 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스는 기능 감퇴를 하는 것으로 판정되어 거절된다, 스텝(1012). 거절에 따라, 중앙 처리 장치(10)는 모든 비데오 컨트롤러 디바이스가 테스트 될 경우, 스텝(1015), 테스트 시퀸스를 종결한다. 스텝(1006). 부가된 비데오 컨트롤러 디바이스가 테스트되어야 하는 것으로 결정될때, 스텝(1015,1017), 중앙 처리 장치(10)는 다음 비데오 컨트롤러 디바이스를 선택하고, 스텝(1003), 스텝(1004 내지 1011)을 반복한다.
테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 비데오 신호외 픽셀 변이 카운트가 테스트 패턴 디스플레이를 위해 미리기록된 픽셀 변이 카운트와 정합할때, 스텝(1011), 중앙 처리 장치(10)는 모든 타입의 픽셀 카운트가 기록되는지 여부를 결정한다, 스텝(1013). 비데오 신호를 제어하는 모든 총이 기록될 경우, 중앙 처리 장치(10)는 모든 비데오 컨트롤러 디바이스가 테스트되는지 여부를 질문하며, 스텝(1015), 그것이 종결될경우, 테스트 시퀸스를 종결한다, 스텝(1016). 테스트되어야 할 비데오 컨트롤러 디바이스가 남아있음이 결정될때, 중앙 처리 장치(10)는 계속 동작하여 다음 비데오 컨트롤러 디바이스를 선택하고, 스텝(1017,1003), 스텝(1004 내지 1011)을 반복한다.
선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2), 제1도의 적색 비데오 신호 출력 리드(2120)상에 나타나는 신호에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트가 칼라 모니터 테스트 패턴 디스플레이를 위해 미리 기록된 적색 픽셀 변이 카운트와 비교되고 정합한후, 제5도, 스텝(1013,1014), 장치(1)는 녹색 비데오 신호 출력 리드(2121)를 선택한다. 메모리(11)안에 기록된 명령어의 제어하에서 동작하는 중앙 처리 장치(10)는 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 녹색 비데오 신호 리드를 선택하고 스텝(1007 내지 1011)을 반복한다.
테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 비데오 신호외 픽셀 변이 카운트가 테스트 패턴 디스플레이를 위해 미리기록된 픽셀 변이 카운트와 정합할때, 스텝(1011), 중앙 처리 장치(10)는 모든 타입의 픽셀 카운트가 기록되는지 여부를 결정한다, 스텝(1013). 비데오 신호를 제어하는 모든 총이 기록될 경우, 중앙 처리 장치(10)는 모든 비데오 컨트롤러 디바이스가 테스트되는지 여부를 질문하며, 스텝(1015), 그것이 종결될 경우, 테스트 시퀸스를 종결한다, 스텝(1016). 테스트되어야 할 비데오 컨트롤러 디바이스가 남아있음이 결정될때, 중앙 처리 장치(10)는 계속 동작하여 다음 비데오 컨트롤러 디바이스를 선택하고, 스텝(1017,1003), 스텝(1004 내지 1011)을 반복한다.
선택된 비데오 컨트롤러 디바이스(2), 제1도의 적색 비데오 신호 출력 리드(2120)상에 나타나는 신호에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트가 칼라 모니터 테스트 패턴 디스플레이를 위해 미리 기록된 적색 픽셀 변이 카운트와 비교되고 정합한후, 제5도, 스텝(1013,1014), 장치(1)는 녹색 비데오 신호 출력 리드(2121)를 선택한다. 메모리(11)안에 기록된 명령어의 제어하에서 동작하는 중앙 처리 장치(10)는 비데오 컨트롤러 디바이스(2)의 녹색 비데오 신호 리드를 선택하고 스텝(1007 내지 1011)을 반복한다.
테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 비데오 신호의 픽셀 변이 카운트가 테스트 패턴 디스플레이에 대해 미리 기록된 픽셀 변이 카운트와 정합할때, 스텝(1011), 중앙 처리 장치(10)는 모든 타입의 픽셀 카운트가 기록되었는지 여부를 결정한다. 스텝(1013). 비데오 신호를 제어하는 모든 총이 기록될 경우, 중앙 처리 장치(10)는 모든 비데오 콘트롤러 디바이스가 테스트되었는지 여부를 질문하며, 스텝(1015), 이것이 완성되었을 경우, 테스트 시퀸스를 종결한다, 스텝(1016). 나머지 비데오 제어장치가 테스트되어야 함이 결정될때 중앙 처리 장치(10)는 계속해서 다음 비데오 컨트롤러 디바이스를 선택하며, 스텝(1017,1003), 스텝(1004 내지 1011)을 반복한다.
상기 테스트 스퀸스는 그룹안에는 모든 비데오 컨트롤러 디바이스에 대해 계속된다. 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴가 발생된 픽셀 변이 카운트와 비데오 신호 출력 리드를 제어하는 총에 대해 미리기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 결합시키지 못하므로서 발생할때, 선택되어 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스는 거절된다. 장치(1)는 모든 비데오 장치 그룹이 테스트될 때까지 테스트 시퀸스를 계속한다.
CRT 모니터(310)상에서의 디스플레이를 위한 전형적인 테스트 패턴 디스플레이(3100), 제2도는 일반적으로 각 외부 코너로부터 연장하여 중앙의 수직 및 수평선을 교차하는 대각선과 함께 중앙의 수직 및 수평선을 가진 세개의 직사각형을 포함하는 기하학적인 구성을 가질 수 있다. 단색의 CRT 모니터상에 디스플레이된 테스트 패턴(3100)에 대해 미리 규정된 수평 싱크 및 픽셀 변이 카운트가 각각 450 및 99로 가정될 수도 있다. 제3도. 장치(1), 제1도, 은 테스트 패턴 디스플레이(3100)를 나타내는 데이타를 단색 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키고 인가된 이 테스트 패턴 데이타에 응답하여 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 비교한다. 상기 발생된 수평 싱크 카운트(450) 및 픽셀 변이 카운트(99)가 미리규정된 수평 싱크(450) 및 픽셀 변이 카운트(99)의 정합할때, 상기 테스트된 단색 비데오 컨트롤러 장치는 성능 테스트를 통과한 것으로 결정된다.
칼라 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는데 사용되는 테스트 패턴(3100), 제2도, 은 하나의 적색, 녹색 및 청색 직사각형으로 구성될 수도 있다. 따라서, 칼라 CRT 모니터(31)사어에 디스플레이된 테스트 패턴(3100)의 적색, 녹색, 및 청색 직사각형 구조를 위해 미리 규정된 수평 싱크 및 픽셀 변이 카운트는 각 픽셀 변이 카운트, 제3도에 대해 각각 450 및 33으로 가정될 수 있다. 테스트된 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스의 수평 싱크 및 적색, 녹색, 및 청색 비데오 신호 출력 리드의 발생된 수평 싱크 및 픽셀 변이 카운트가 미리 규정된 수평 싱크 및 픽셀 변이 카운트와 정합할 때, 테스트된 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스가 성능 테스트를 통과한다. 제3도에 도시된 실시예에 있어서, 발생된 수평 싱크(450) 및 적색 및 녹색 픽셀 카운트(33)는 미리 규정된 수평 싱크(450) 및 픽셀 변이 카운트(33)를 정합시킨다. 한편, 발생된 청색 픽셀변이 카운트(30)가 미리 규정된 청색 픽셀 변이(33)를 정합시키지 않음에 따라 테스트된 칼라 비데오 컨트롤러 디바이스를 나타내게 된다.

Claims (10)

  1. 단말기 모니터사에 디스플레이 배치를 제공하도록 모니터 단말기를 사용하는 비데오 컨트롤러 디바이스(2,20)를 테스트하는 장치(1)에 있어서, 상기 비데오 컨트롤러 디바이스 테스킹 장치가, 상기 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는데 사용되는 테스트 패턴 디스플레이안에서 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록하기 위한 수단, 및 상기 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타를 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키고 상기 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위해 상기 인가된 테스트 패턴 데이타에 응답하여 상기 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 상기 미리기록된 테스트 패턴 픽셀변이 카운트와 비교하는 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 데이타 인가 수단이, 상기 테스트 패턴 디스플레이를 다수의 비데오 컨트롤러 디바이스에 동시에 인가하는 수단, 및 상기 다수의 비데오 컨트롤러 디바이스중 하나를 선택하고 카운터로 하여금 각기 선택된 비데오 컨트롤러 디바이스중 건 출력에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 메모리 안에 기록시키게하는 수단을 포함하는 거사을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 데이타 인가 수단이, 상기 다수의 비데오 컨트롤러 디바이스중 각각의 건출력에 대해 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 상기 기록되어 발생된 픽셀 변이 카운트를 비교하고 이 비교에 의거하여 상기 각 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위한 연산 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 데이타 인가 수단이, 상기 기록되어 발생된 픽셀 변이 카운트를 상기 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 각 건 출력에 대해 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 정합시키지 못함에 따른 상기 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴를 나타내는 연상 수단을 포함하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 기록되어 발생된 픽셀 변이 카운트 및 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트를 데이타 링크를 거쳐 원결 컴퓨터 단말기로 이동시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 컴퓨터 단말기가, 상기 이동된 픽셀 변이 카운트를 수신하여 상기 기록되어 발생된 픽셀 변이 카운트를 상기 다수의 비데오 컨트롤러 디바이스의 각 건 출력중 상기 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교하며 상기 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 비교하여 상기 기록되어 발생된 픽셀 변이 카운트를 정합시키지 못함에 따른 상기 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴를 나타내는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 데이타 인가 수단이, 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트 하는데 사용되는 칼라 테스트 패턴 디스플레이를 발생시키기 위해 다중 건 출력에 의해 발생된 각 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록하는 수단, 및 상기 칼라 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타를 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키고 상기 테스트 페턴 데이타에 응답하여 상기 비데오 컨트롤러 디바이스의 각 건 출력에 의해 방생된 픽셀 변이의 카운트를 비교하고 상기 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위해 각 건에 대해 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 각각의 건 출력에 의해 발생된 픽셀 변이 카운트를 비교하는 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 데이타 인가 수단이, 픽셀 변이 카운트 발생 건 출력을 상응하는 건 출력에 대해 상기 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 정합시키지 못함에 따른 상기 테스트된 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴를 나타내는 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 장치.
  9. 단말기 모니터상에 디스플레이 구조를 발생시키도록 모니터 단말기를 사용하는 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는 방법에 있어서, 상기 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는데 사용되는 테스트 패턴 디스플레이 안에 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록하는 단계, 및 상기 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타를 상기 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키고 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능을 결정하기 위해 인가된 데이타에 응답하여 상기 비데오 컨트롤러 디바이스에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 상기 미리 기록된 픽셀 변이 카운트와 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 방법.
  10. 제9항에 있어서, 비데오 컨트롤러 디바이스를 테스트하는데 사용되는 칼라 테스트 패턴 디스플레이를 발생시키도록 비데오 컨트롤러 디바이스의 건 출력에 의해 발생된 각 픽셀 변이의 카운트를 미리 기록시키는 단계, 상기 칼라 테스트 패턴 디스플레이를 나타내는 데이타를 상기 비데오 컨트롤러 디바이스에 인가시키는 단계, 상기 인가된 칼라 테스트 패턴 데이타에 응답하여 비데오 컨트롤러 디바이스의 건 출력에 의해 발생된 픽셀 변이의 카운트를 각각의 건 출력에 대해 미리 기록된 테스트 패턴 픽셀변이 카운트를 비교하는 단계 및 상기 임의의 건 출력에 의해 발생된 픽셀 카운트를 상기 건 출력에 대해 미리 기록된 칼라 테스트 패턴 픽셀 변이 카운트와 정합시키지 못함에 따른 비데오 컨트롤러 디바이스의 성능 감퇴를 나타내는 단계를 포함하는 비데오 컨트롤러 디바이스 테스트 방법.
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