JPS58102566A - 半導体圧力変換器 - Google Patents
半導体圧力変換器Info
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- JPS58102566A JPS58102566A JP20127381A JP20127381A JPS58102566A JP S58102566 A JPS58102566 A JP S58102566A JP 20127381 A JP20127381 A JP 20127381A JP 20127381 A JP20127381 A JP 20127381A JP S58102566 A JPS58102566 A JP S58102566A
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- piezoresistive element
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- semiconductor
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- Pending
Links
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 21
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/84—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体単結晶からなるピエゾ抵抗素子を用い
九半導体圧力変換器に関するものである。
九半導体圧力変換器に関するものである。
従来ヒの種の半導体圧力変換器においては、半導体単結
晶基板の略中央部に設けた圧力に応じて起歪する起歪部
に、轟鋏基板と異なる導電形を有するピエゾ抵抗領域を
形成した構造を有しておシ、ピエゾ抵抗領域間の絶縁は
、当鋏抵抗領域と基板間のPN接合によって保たれてい
る。このため、特に高温時において、PN接合間のリー
ク電流に起因して8N比が低下する等の欠点が生じた。
晶基板の略中央部に設けた圧力に応じて起歪する起歪部
に、轟鋏基板と異なる導電形を有するピエゾ抵抗領域を
形成した構造を有しておシ、ピエゾ抵抗領域間の絶縁は
、当鋏抵抗領域と基板間のPN接合によって保たれてい
る。このため、特に高温時において、PN接合間のリー
ク電流に起因して8N比が低下する等の欠点が生じた。
本発明は、このような状況に鑑みて表されたものであシ
、その目的は、リーク電流を小さくすることによシ圧カ
センナとしてのSN比を向上させ、よシ高い温度での使
用が可能な半導体圧力変換器を提供することにある。
、その目的は、リーク電流を小さくすることによシ圧カ
センナとしてのSN比を向上させ、よシ高い温度での使
用が可能な半導体圧力変換器を提供することにある。
このような目的を達成するために、本発明は、半導体単
結晶基板の略中央部に設けた起歪部の上に、前記半導体
の化合物からなる絶縁層を設け、この絶縁層の上部に半
導体単結晶からなるピエゾ抵抗素子を設けたものである
。
結晶基板の略中央部に設けた起歪部の上に、前記半導体
の化合物からなる絶縁層を設け、この絶縁層の上部に半
導体単結晶からなるピエゾ抵抗素子を設けたものである
。
以下、実施例を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、零発IjlNの一実施例を示す半導体圧力変
換器を示す断面pである。同図において、1は単結晶シ
リコンからなる基板である。この基板1は、エツチング
によシ真面の略中央部を削除して形成したダイヤフラム
1a と周縁部の固定部 1bとからなシ、その表面上
にニ酸化シリコンからなる絶縁層2が設けである。3は
単結晶シリコンからなるピエゾ抵抗素子、4は[極とし
てのメタリゼーションバタンでアル。
換器を示す断面pである。同図において、1は単結晶シ
リコンからなる基板である。この基板1は、エツチング
によシ真面の略中央部を削除して形成したダイヤフラム
1a と周縁部の固定部 1bとからなシ、その表面上
にニ酸化シリコンからなる絶縁層2が設けである。3は
単結晶シリコンからなるピエゾ抵抗素子、4は[極とし
てのメタリゼーションバタンでアル。
このように、単結晶シリコンからなる基板10表面上に
二酸化シリコンからなる絶縁層2を設けその上にピエゾ
抵抗素子3を形成したことによシ、ピエゾ抵抗素子3は
完全な絶縁体によって絶紗が保たれるため、従来のPN
接合による場合に比較して高温時のり−ク宣流が極めて
小さくなる。また、従来、上記11Ng合のディプし・
ツション効果によシ五圧と抵抗とが比例しない現象が生
じたが、上述したようにピエゾ抵抗素子3と基板1との
間に絶縁層2を介在させたことによシ、この現象を抑制
することができる。
二酸化シリコンからなる絶縁層2を設けその上にピエゾ
抵抗素子3を形成したことによシ、ピエゾ抵抗素子3は
完全な絶縁体によって絶紗が保たれるため、従来のPN
接合による場合に比較して高温時のり−ク宣流が極めて
小さくなる。また、従来、上記11Ng合のディプし・
ツション効果によシ五圧と抵抗とが比例しない現象が生
じたが、上述したようにピエゾ抵抗素子3と基板1との
間に絶縁層2を介在させたことによシ、この現象を抑制
することができる。
この場合、絶縁層2は、基板1やピエゾ抵抗索子3を構
成するシリコンの熱酸化物によって構成しであるため、
各界面での整合性は良好で、熱膨張係数の差違による歪
の発生等を有効に回避することができる。
成するシリコンの熱酸化物によって構成しであるため、
各界面での整合性は良好で、熱膨張係数の差違による歪
の発生等を有効に回避することができる。
このような圧電咬換器は例えば次のようにして形成され
る。
る。
即ち、第2図において、シリコン単結晶ウェハからなる
基板1(第2図(a))の表面上に、熱酸、化により二
酸化シリコン層5を形成する(第2図ω)・ ゛ )。
基板1(第2図(a))の表面上に、熱酸、化により二
酸化シリコン層5を形成する(第2図ω)・ ゛ )。
次いで、この表面上に、CvD もしくはスパッタリン
グ等により、ポリシリコン層6を形成した後(第2図(
c))、レーザビームを照射することによりこのポリシ
リコン層6を再結晶化する。この再結晶化によシ、上記
ポリシリコン層5は単結晶化し、単結晶シリコン層Tが
形成される(第2図(d) ”)。この場合、レーザビ
ームのスキャン方向によって、結晶軸の方向は容易に制
御することができる。
グ等により、ポリシリコン層6を形成した後(第2図(
c))、レーザビームを照射することによりこのポリシ
リコン層6を再結晶化する。この再結晶化によシ、上記
ポリシリコン層5は単結晶化し、単結晶シリコン層Tが
形成される(第2図(d) ”)。この場合、レーザビ
ームのスキャン方向によって、結晶軸の方向は容易に制
御することができる。
次に、上記単結晶シリコン層7t−エツチングして略中
央部に所望の形状を有するピエゾ抵抗素子3を形成する
(第2図(e))。なお、このエツチング工程と前記単
結晶化工程とは、入れ換えても支障はない。即ち、ポリ
シリコン層6を形成した後、エツチングによシパタニン
グし、その後、レーザビーム照射を行なって単結晶シリ
コンからなるピエゾ抵抗素子3を形成してもよい。次い
で、再び熱酸化によシ二酸化シリコン層Sを形成して上
記ピエゾ抵抗素子3を覆5(第2図び))。
央部に所望の形状を有するピエゾ抵抗素子3を形成する
(第2図(e))。なお、このエツチング工程と前記単
結晶化工程とは、入れ換えても支障はない。即ち、ポリ
シリコン層6を形成した後、エツチングによシパタニン
グし、その後、レーザビーム照射を行なって単結晶シリ
コンからなるピエゾ抵抗素子3を形成してもよい。次い
で、再び熱酸化によシ二酸化シリコン層Sを形成して上
記ピエゾ抵抗素子3を覆5(第2図び))。
次イで、図上省略したが、この二酸化シリコン層sO上
KCVD によシ更に二酸化シリコン層を形成してコー
ティングを施した後、電極形成のため、第1図に示すよ
うにこれら二酸化シリコンからなる絶縁層2に、エツチ
ングによシ孔を設け、金属膜を形成した後、エツチング
して所望のパタンを有するメタリゼーションパタン4を
形成する〇次いで、基板1の裏面略中央部をエツチング
によシ削除してダイヤフラム1.Lを形成することによ
シ、第1図に示すような半導体圧電変換器が形成できる
。
KCVD によシ更に二酸化シリコン層を形成してコー
ティングを施した後、電極形成のため、第1図に示すよ
うにこれら二酸化シリコンからなる絶縁層2に、エツチ
ングによシ孔を設け、金属膜を形成した後、エツチング
して所望のパタンを有するメタリゼーションパタン4を
形成する〇次いで、基板1の裏面略中央部をエツチング
によシ削除してダイヤフラム1.Lを形成することによ
シ、第1図に示すような半導体圧電変換器が形成できる
。
このように、ピエゾ抵抗素子3は、ポリシリコン層6を
レーザビーム照射で単結晶化する仁とによって形成する
ため、多結晶界面のずれに起因するヒステリシスを減少
することができる。
レーザビーム照射で単結晶化する仁とによって形成する
ため、多結晶界面のずれに起因するヒステリシスを減少
することができる。
また、P形シリコンからなるピエゾ抵抗体は、N形のも
のに比較して圧力−抵抗のりニアリテイが良く、ピエゾ
抵抗係数が最大になる(100)面、<110> 方
向において、対称性の良好な正逆両方向の出力が取出せ
るが、ピエゾ抵抗凧子3と基板1との間に絶縁層2を介
在させることによ〕、ピエゾ抵抗素子3および基板1と
4にP形シリコンで形成することが可能となる。
のに比較して圧力−抵抗のりニアリテイが良く、ピエゾ
抵抗係数が最大になる(100)面、<110> 方
向において、対称性の良好な正逆両方向の出力が取出せ
るが、ピエゾ抵抗凧子3と基板1との間に絶縁層2を介
在させることによ〕、ピエゾ抵抗素子3および基板1と
4にP形シリコンで形成することが可能となる。
以上説明したように、本発明によれば、半導体単結晶か
らなるピエゾ抵抗素子を、起歪部を構成する半導体単結
晶基板の表面上に、幽該半導体の化合物からなる絶縁層
を介して設けたことによシ、ピエゾ抵抗索子を確実に馳
嶽する仁とができ、リーク電流に起因するSN比の低下
を防ぐととがで亀る。また、ピエゾ抵抗素子は、絶縁層
上にポリシリコンを堆積させ、これをレーザビーム照射
によp単結晶化することによって容易に形成でき、単結
晶であるために、多結晶のような結晶界面のずれがない
。更に、ピエゾ抵抗索子および基板ともにP形シリコン
によって形成することが可能となシ、電気的、機械的に
種々の面で、高い性能を有する半導体圧力変換器が得ら
れるという優れた効果を有する。
らなるピエゾ抵抗素子を、起歪部を構成する半導体単結
晶基板の表面上に、幽該半導体の化合物からなる絶縁層
を介して設けたことによシ、ピエゾ抵抗索子を確実に馳
嶽する仁とができ、リーク電流に起因するSN比の低下
を防ぐととがで亀る。また、ピエゾ抵抗素子は、絶縁層
上にポリシリコンを堆積させ、これをレーザビーム照射
によp単結晶化することによって容易に形成でき、単結
晶であるために、多結晶のような結晶界面のずれがない
。更に、ピエゾ抵抗索子および基板ともにP形シリコン
によって形成することが可能となシ、電気的、機械的に
種々の面で、高い性能を有する半導体圧力変換器が得ら
れるという優れた効果を有する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、tiX2図−
)〜(f)はその各製造工@における断面図である。 1・・・・基板、11 @ @ @・ダイヤフラム、
1b・・・・固定部、2・・−・絶縁層、3・畢・・ピ
エゾ抵抗素子、4・・Φ・メタリゼーションバタン。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山 川 政 樹(ほか1名)第1図 〃 第2図 〜1 ノ5 〜1 .6 5 1 ノ 5 1 5 へ1 5 1 /−1
)〜(f)はその各製造工@における断面図である。 1・・・・基板、11 @ @ @・ダイヤフラム、
1b・・・・固定部、2・・−・絶縁層、3・畢・・ピ
エゾ抵抗素子、4・・Φ・メタリゼーションバタン。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山 川 政 樹(ほか1名)第1図 〃 第2図 〜1 ノ5 〜1 .6 5 1 ノ 5 1 5 へ1 5 1 /−1
Claims (1)
- 圧力に応じて起歪するダイヤフラム状の起歪部およびこ
の起歪部周縁部を支持する固定部からなる半導体単結晶
基板と、この基板の前記起歪部上に形成し九前記半導体
の化合物からなる絶縁層と、この絶縁層の上部に形成し
た半導体単結晶からなるピエゾ抵抗素子と、このピエゾ
抵抗素子の電極を構成するメタリゼーションバクンとを
有スル半導体圧力変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20127381A JPS58102566A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 半導体圧力変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20127381A JPS58102566A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 半導体圧力変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58102566A true JPS58102566A (ja) | 1983-06-18 |
Family
ID=16438219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20127381A Pending JPS58102566A (ja) | 1981-12-14 | 1981-12-14 | 半導体圧力変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58102566A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4879911B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2012-02-22 | オーチス エレベータ カンパニー | エレベータ救出システムを備えるエレベータ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039085A (ja) * | 1973-08-08 | 1975-04-10 |
-
1981
- 1981-12-14 JP JP20127381A patent/JPS58102566A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039085A (ja) * | 1973-08-08 | 1975-04-10 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4879911B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2012-02-22 | オーチス エレベータ カンパニー | エレベータ救出システムを備えるエレベータ |
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