JPS58101752A - 被膜形成装置 - Google Patents
被膜形成装置Info
- Publication number
- JPS58101752A JPS58101752A JP19928381A JP19928381A JPS58101752A JP S58101752 A JPS58101752 A JP S58101752A JP 19928381 A JP19928381 A JP 19928381A JP 19928381 A JP19928381 A JP 19928381A JP S58101752 A JPS58101752 A JP S58101752A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- coating
- coating liquid
- applying
- liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Coating Apparatus (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えば金属薄膜磁気テープを製造するのに用い
る表面被膜形成装置に関する。
る表面被膜形成装置に関する。
ここで金属薄膜磁気テープは、ポリエチレンテレフタレ
ート、ポリイミド、ポリアミトモアセテート、セロファ
ン等のグラスチックフィルム基板上ニ、鉄、コバルト、
ニッケルの単体、又は合金の磁性薄膜を、蒸着、スパッ
タリング、メッキ等の手段で形成させたものである。
ート、ポリイミド、ポリアミトモアセテート、セロファ
ン等のグラスチックフィルム基板上ニ、鉄、コバルト、
ニッケルの単体、又は合金の磁性薄膜を、蒸着、スパッ
タリング、メッキ等の手段で形成させたものである。
このなかで特に蒸着による磁性薄膜の形成方法について
いうと、例えば、10〜10Torrの真空中で、円筒
状のキャンにポリエチレンテレフタレート等のプラスチ
ック基板をそわせて搬送しながら、数1oKVに加速さ
れた電子ビームによシ加熱されたルツボ中の、コバルト
又はコバルトを主成分とするニッケル合金等の磁性金属
を微量な酸素ガス雰囲気中で飛散させ、前記キャン上の
プラスチック基板の表面に磁性膜を形成させるものであ
る。
いうと、例えば、10〜10Torrの真空中で、円筒
状のキャンにポリエチレンテレフタレート等のプラスチ
ック基板をそわせて搬送しながら、数1oKVに加速さ
れた電子ビームによシ加熱されたルツボ中の、コバルト
又はコバルトを主成分とするニッケル合金等の磁性金属
を微量な酸素ガス雰囲気中で飛散させ、前記キャン上の
プラスチック基板の表面に磁性膜を形成させるものであ
る。
金属薄膜磁気テープは、記録再生特性において特に記録
波長が数μ以下の短かい領域での出力特性が優れており
、短波長記録を利用しているVTR用テープ、マイクロ
カセット用テープ、PCI記録用テープとして適してい
る。
波長が数μ以下の短かい領域での出力特性が優れており
、短波長記録を利用しているVTR用テープ、マイクロ
カセット用テープ、PCI記録用テープとして適してい
る。
ところで、磁性膜が金属磁性体で構成されていることか
ら、磁気テープとして使用する際、従来の塗布形テープ
と違い、走行性にやや問題がある。
ら、磁気テープとして使用する際、従来の塗布形テープ
と違い、走行性にやや問題がある。
このため、磁性膜の上に滑シ性のよい有機物層を設けて
走行性を改良することがよく行われている。
走行性を改良することがよく行われている。
しかしながら上記のように有機物層を設けると、短波長
領域で磁性膜とヘッド間での隙間損失が大きく、したが
って磁性膜上の有機物層は厚くできない。ここで隙間損
失は次式で表わされる。
領域で磁性膜とヘッド間での隙間損失が大きく、したが
って磁性膜上の有機物層は厚くできない。ここで隙間損
失は次式で表わされる。
隙間損失(dB)=s4・θd/λ
(なお、d=テープ・ヘッド間の隙間、λ=記録波長。
)
上式によシ、例えば、記録波長λ=1μ、隙間d=0.
1μである時の損失は5.46dBになり、出力は隙間
損失のない時の半分程度にまでなる。
1μである時の損失は5.46dBになり、出力は隙間
損失のない時の半分程度にまでなる。
1μ以下の記録波長を利用する磁気記録再生装置では、
磁性膜上の有機物層は200八以下の厚さであることが
望ましい、このようにした時の損失は、記録波長λ−1
μで約1dB10・6μで211Bである。
磁性膜上の有機物層は200八以下の厚さであることが
望ましい、このようにした時の損失は、記録波長λ−1
μで約1dB10・6μで211Bである。
以上のことかられかるように磁性膜上には非常に薄い有
機物層を形成することが必要であるが、従来技術ではき
わめて困難である。
機物層を形成することが必要であるが、従来技術ではき
わめて困難である。
従来例えば、有機物質を均一に塗布する技術としては、
グラビアロールで塗布する技術があるが、その場合版ロ
ールと塗布液の濃度を制御しても0・6μ以上の塗布厚
となり、厚さ0.02部程度の塗布に適する技術は現在
のところ見当らない。
グラビアロールで塗布する技術があるが、その場合版ロ
ールと塗布液の濃度を制御しても0・6μ以上の塗布厚
となり、厚さ0.02部程度の塗布に適する技術は現在
のところ見当らない。
本発明は以上のような点に鑑みなされたもので、以下に
図面を用いその実施例を説明する。
図面を用いその実施例を説明する。
第1図は本発明による被膜形成装置の構成を示す。
図において、1は処理すべき金属薄膜テープ原反21の
供給部、2は金属薄膜テープの原反21を搬送する1対
の供給ローラーで、テープ原反21を挾持しながら回転
し定速で送り出す。3は塗布部において原反21を保持
するローラでバックアップロールと呼ばれる。”+
6+ 6s 7は、テープ原反21を搬送するだめ
のガイドローラである。8は処理された原反の巻取り部
である。
供給部、2は金属薄膜テープの原反21を搬送する1対
の供給ローラーで、テープ原反21を挾持しながら回転
し定速で送り出す。3は塗布部において原反21を保持
するローラでバックアップロールと呼ばれる。”+
6+ 6s 7は、テープ原反21を搬送するだめ
のガイドローラである。8は処理された原反の巻取り部
である。
9.10は加熱乾燥炉で、表面処理時の溶剤成分を完全
に飛散させるためのものである。
に飛散させるためのものである。
11は付着させるべく成分を有する塗布液を塗布する塗
布部、12は塗布液の供給ポンプ、13は塗布液のタン
クである。
布部、12は塗布液の供給ポンプ、13は塗布液のタン
クである。
14は上記塗布液を希釈する溶剤を塗布する希釈溶剤塗
布部である。
布部である。
16は希釈溶剤を供給するポンプ、16は希釈溶剤のタ
ンクである。
ンクである。
17は上記希釈剤により希釈された塗布液の不要部分を
飛散させるためのエアーナイフ、18はエアーナイフに
送るガスの圧縮ポンプで、通常ガスは空気が使用される
が、目的によってはN2tムrガスが使用される。19
はフィルターで、金属薄膜テープの製造時には、0.1
μ以上の粉塵は除去する様なフィルターが使用される。
飛散させるためのエアーナイフ、18はエアーナイフに
送るガスの圧縮ポンプで、通常ガスは空気が使用される
が、目的によってはN2tムrガスが使用される。19
はフィルターで、金属薄膜テープの製造時には、0.1
μ以上の粉塵は除去する様なフィルターが使用される。
20はエアーナイフで飛ばした溶剤と空気とを回収する
装置で、ファンで強制的に外部へ排気する様にしである
。
装置で、ファンで強制的に外部へ排気する様にしである
。
第2図は塗布部を拡大して示す。
図において、22は塗布液を示す。23は原反21を支
えるバックアップロール、24は塗布ノズル、25は塗
布液を送り出すノズルである。
えるバックアップロール、24は塗布ノズル、25は塗
布液を送り出すノズルである。
26は液溜で、ノズル全面から均一に液が出る様に圧力
の調整を行うためのも°のである。
の調整を行うためのも°のである。
27は塗布液の供給口、28は塗布ノズルの後方へこぼ
れた塗布液を回収する受は部、29は塗布液回収のため
の溝である。
れた塗布液を回収する受は部、29は塗布液回収のため
の溝である。
第2図に示すように、塗布部は、塗布ノズル24の先端
から塗布液22を供給し、原反21とノズル24の間隙
に塗布液22を溜めて、原反21が移動する時、表面張
力で液22が原反21に付着し塗布されるものである。
から塗布液22を供給し、原反21とノズル24の間隙
に塗布液22を溜めて、原反21が移動する時、表面張
力で液22が原反21に付着し塗布されるものである。
本装置による処理の例において、第1図の塗布部11で
塗布する塗布液の組成は磁性体表面の走行性の改良を目
的とした場合でいうと、アセトンヲ溶剤トして、アセチ
ルセルロース10部、ステアリン酸0・6部・シリコン
オイル0・1部を溶かしたものが使用される。
塗布する塗布液の組成は磁性体表面の走行性の改良を目
的とした場合でいうと、アセトンヲ溶剤トして、アセチ
ルセルロース10部、ステアリン酸0・6部・シリコン
オイル0・1部を溶かしたものが使用される。
塗布部11で塗布した液は塗布部14のノズル前を通過
する時、アセトンが塗布部14のノズルで塗布されるた
め、塗布部11で塗布した液のアセチルセルロース、ス
テアリン酸の成分は希釈される。しかしながらテープ2
1の磁性膜上には、濃い塗布液で薄い膜がすでに形成さ
れており、希釈された塗布液は不用となる。この様な過
程を経ながら、・エアナイフ17で希釈された不用の塗
布液を飛散させると、磁性膜の表面には、薄い質の良い
被膜が形成される。しかしながら、上記被膜はまだ溶剤
成分を少し含んでいるので、乾燥炉9゜10で完全に溶
剤を飛ばすことにより被膜の形成は完了する。
する時、アセトンが塗布部14のノズルで塗布されるた
め、塗布部11で塗布した液のアセチルセルロース、ス
テアリン酸の成分は希釈される。しかしながらテープ2
1の磁性膜上には、濃い塗布液で薄い膜がすでに形成さ
れており、希釈された塗布液は不用となる。この様な過
程を経ながら、・エアナイフ17で希釈された不用の塗
布液を飛散させると、磁性膜の表面には、薄い質の良い
被膜が形成される。しかしながら、上記被膜はまだ溶剤
成分を少し含んでいるので、乾燥炉9゜10で完全に溶
剤を飛ばすことにより被膜の形成は完了する。
なおここで単に厚さの薄い被膜を形成する一例として、
始めから塗布液中の固形分濃度を下げておくことによっ
ても厚さの薄い被膜を形成することはできるが、被膜の
品質については保障されない。又不用な塗布液が残ると
膜厚は厚くなり、走行性の向上を目的とする被膜の品質
は低下する。
始めから塗布液中の固形分濃度を下げておくことによっ
ても厚さの薄い被膜を形成することはできるが、被膜の
品質については保障されない。又不用な塗布液が残ると
膜厚は厚くなり、走行性の向上を目的とする被膜の品質
は低下する。
次に走行性の向上と防錆効果を期待できる被膜形成の一
例について説明する。第1図の塗布部11のノズルで塗
布する塗布液は、パーフルオロアルキルカルボン酸(O
n F zn+1000H)の金属塩を使用する。この
場合の金属塩の種類は、 Co 、 Ni 。
例について説明する。第1図の塗布部11のノズルで塗
布する塗布液は、パーフルオロアルキルカルボン酸(O
n F zn+1000H)の金属塩を使用する。この
場合の金属塩の種類は、 Co 、 Ni 。
Or、Cu等の金属塩が選ばれ、溶剤としては水が使用
される。濃度は0・1%〜0.01重ilチの範囲て゛
選ばれる。塗布部14のノズルで塗布される液は、この
場合水である。塗布部11のノズルで塗布された磁性膜
上においては、パーフルオロアルキルカルボン酸の金属
塩の金属部と磁性膜表面が化学的に反応し、単分子膜に
近い膜が形成されていると考えられる。そのような膜形
成直後に、水で不用塗布液を希釈洗浄すると、所望の被
膜が磁性膜上に形成される。
される。濃度は0・1%〜0.01重ilチの範囲て゛
選ばれる。塗布部14のノズルで塗布される液は、この
場合水である。塗布部11のノズルで塗布された磁性膜
上においては、パーフルオロアルキルカルボン酸の金属
塩の金属部と磁性膜表面が化学的に反応し、単分子膜に
近い膜が形成されていると考えられる。そのような膜形
成直後に、水で不用塗布液を希釈洗浄すると、所望の被
膜が磁性膜上に形成される。
なお余分な不用塗布液は、エアナイフ17で飛散させ、
膜厚が厚くなることを防ぐ。その後乾燥炉9,10間を
通過せしめて水分を完全に飛ばすことにより被膜形成は
完了する。
膜厚が厚くなることを防ぐ。その後乾燥炉9,10間を
通過せしめて水分を完全に飛ばすことにより被膜形成は
完了する。
次に、前述のようにして磁性膜上にアセチルセルロース
とステアリン酸よりなる被膜を形成して完成した金属薄
膜テープについての試験結果を下の表に示す。
とステアリン酸よりなる被膜を形成して完成した金属薄
膜テープについての試験結果を下の表に示す。
表中記録波長1μの出力は、金属薄膜テープを1μの記
録波長で飽和記録したものを再生した時の出力値を比較
したものである。比較の基準として、磁性膜上に被膜が
設けられていないテープの出力をodB とした。上記
テープでは、測定の際、走行性が悪く測定条件は悪かっ
たが出力の最大値を基準の値とした。磁性面の摩擦係数
は、材質がSUSの直径10111の丸棒で表面をパフ
仕上げしたものを使用し、テープの磁性面をπ/2〔ラ
ジアン〕の角度分だけ上記丸棒に接触させtsotyx
/秒の速度で移動した時の摩擦力を測定し求めたもので
ある。また表中、ム法とは本発、明による装置を用いた
方法をいい、B法とは本発明による装置のなかで希釈溶
剤塗布部14を使用しないで被膜形成を行った方法をい
う。
録波長で飽和記録したものを再生した時の出力値を比較
したものである。比較の基準として、磁性膜上に被膜が
設けられていないテープの出力をodB とした。上記
テープでは、測定の際、走行性が悪く測定条件は悪かっ
たが出力の最大値を基準の値とした。磁性面の摩擦係数
は、材質がSUSの直径10111の丸棒で表面をパフ
仕上げしたものを使用し、テープの磁性面をπ/2〔ラ
ジアン〕の角度分だけ上記丸棒に接触させtsotyx
/秒の速度で移動した時の摩擦力を測定し求めたもので
ある。また表中、ム法とは本発、明による装置を用いた
方法をいい、B法とは本発明による装置のなかで希釈溶
剤塗布部14を使用しないで被膜形成を行った方法をい
う。
さて表に示した被膜なしのものは、当然のことながら磁
性面とヘッドの間の隙間が一番小さく、したがってスペ
ーシングロスは少なくなるが、走行性が悪いことに起因
して変動は大きいものの最大出力が得られる状態にあり
、そこでその最大出力を基準出力としである。そして被
膜なしのものの摩擦係数は、0.4と大きい値になって
いる。
性面とヘッドの間の隙間が一番小さく、したがってスペ
ーシングロスは少なくなるが、走行性が悪いことに起因
して変動は大きいものの最大出力が得られる状態にあり
、そこでその最大出力を基準出力としである。そして被
膜なしのものの摩擦係数は、0.4と大きい値になって
いる。
一方ム法による被膜形成のものでは、出力の変動が少な
くなシ、しかも最大値の出力が得られる。
くなシ、しかも最大値の出力が得られる。
このことは、磁性面とヘッドの間の隙間が問題にならな
い程度の厚さに被膜が形成され、かつ摩擦係数が下がっ
て走行性が改善されたことを示す。
い程度の厚さに被膜が形成され、かつ摩擦係数が下がっ
て走行性が改善されたことを示す。
B法による被膜形成のものでは、出力特性の劣化が目立
ち、初期値より611B も悪くなっている。
ち、初期値より611B も悪くなっている。
これは磁性膜表面に形成された被膜が厚いことによるも
のであることが確認された。このB法による被膜形成の
ものでは、摩擦係数は別に大きくないが前述のような問
題により磁気テープとしては使用できない。
のであることが確認された。このB法による被膜形成の
ものでは、摩擦係数は別に大きくないが前述のような問
題により磁気テープとしては使用できない。
ナオパーフルオロアルキルカ、ルボン酸の金属塩を使用
したものでは、走行性改善以外に、防錆効果の向上も認
められた。これは上記金属塩の作用が加わっているため
と思われる。
したものでは、走行性改善以外に、防錆効果の向上も認
められた。これは上記金属塩の作用が加わっているため
と思われる。
以上のように、本発明による装置を用いることにより、
厚さが非常に薄く品質のすぐれた被膜を容易に形成する
ことができる。
厚さが非常に薄く品質のすぐれた被膜を容易に形成する
ことができる。
なお前記実施例の説明では、金属薄膜テープ製造に本発
明による装置を用いた場合について説明したが、本発明
による装置は他の分野にも用いることができ、その産業
上の価値は犬である。
明による装置を用いた場合について説明したが、本発明
による装置は他の分野にも用いることができ、その産業
上の価値は犬である。
第1図は本発明による被膜形成装置の構成を示す図、第
2図は上記装置の要部の断面図である。 1・・・・・・供給部、s、 a、 5.8.7・・・
・・・ローラ、8・・・・・・巻取シ部、9,10・・
・・・・乾燥炉、11.14・・・・・・塗布部、17
・・・・・・エアナイフ、21・・・・・・テープ原反
、22・・・・・・塗布液、26・・・・・・ノズル、
26・・・・・・液溜め。
2図は上記装置の要部の断面図である。 1・・・・・・供給部、s、 a、 5.8.7・・・
・・・ローラ、8・・・・・・巻取シ部、9,10・・
・・・・乾燥炉、11.14・・・・・・塗布部、17
・・・・・・エアナイフ、21・・・・・・テープ原反
、22・・・・・・塗布液、26・・・・・・ノズル、
26・・・・・・液溜め。
Claims (1)
- 表面に被膜を形成すべき原反を供給する供給手段と、上
記供給手段から供給された上記原反の表面に塗布液を付
着させる塗布部と、上記原反の表面に付着した塗布液に
希釈液を加え上記塗布液を希釈する希釈部と、上記希釈
液により希釈された塗布液の不要部分を飛散させるエア
ナイフ発生手段と、上記エアナイフ発生手段により上記
塗布液の不要部分が飛散された原反を加熱乾燥する手段
とよりなることを特徴とする被膜形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19928381A JPS58101752A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 被膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19928381A JPS58101752A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 被膜形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58101752A true JPS58101752A (ja) | 1983-06-17 |
JPH034265B2 JPH034265B2 (ja) | 1991-01-22 |
Family
ID=16405214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19928381A Granted JPS58101752A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 被膜形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58101752A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05228416A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 塗工装置における隠蔽塗料の塗膜ムラ防止方法及び装置 |
JP2007075683A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Nippon Zeon Co Ltd | 塗膜形成装置 |
CN103691629A (zh) * | 2013-12-26 | 2014-04-02 | 山东泰宝包装制品有限公司 | 一种涂布机网纹辊除胶的方法及其装置 |
-
1981
- 1981-12-09 JP JP19928381A patent/JPS58101752A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05228416A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 塗工装置における隠蔽塗料の塗膜ムラ防止方法及び装置 |
JP2007075683A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Nippon Zeon Co Ltd | 塗膜形成装置 |
CN103691629A (zh) * | 2013-12-26 | 2014-04-02 | 山东泰宝包装制品有限公司 | 一种涂布机网纹辊除胶的方法及其装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH034265B2 (ja) | 1991-01-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS58101752A (ja) | 被膜形成装置 | |
US5104685A (en) | Method of producing magnetic recording medium | |
JPH10289445A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0223926B2 (ja) | ||
JP2554277B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
WO1996037886A1 (fr) | Support d'enregistrement magnetique | |
JPH06215367A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0319602B2 (ja) | ||
JP3606416B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法及びその製造装置 | |
JPH05143968A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPS59215023A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS639022A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH02137125A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH06251364A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH02137123A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH04353623A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH053653B2 (ja) | ||
JPH0654535B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS59186132A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS60231908A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPS63275031A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0944846A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS62256228A (ja) | 磁気記録媒体の製造装置 | |
JPH06103557A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH0991692A (ja) | 磁気記録媒体の表面処理方法及び表面処理装置 |