JPH1168584A - ビタビ復号装置、ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法及び入力タイミング制御装置 - Google Patents
ビタビ復号装置、ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法及び入力タイミング制御装置Info
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- JPH1168584A JPH1168584A JP9216435A JP21643597A JPH1168584A JP H1168584 A JPH1168584 A JP H1168584A JP 9216435 A JP9216435 A JP 9216435A JP 21643597 A JP21643597 A JP 21643597A JP H1168584 A JPH1168584 A JP H1168584A
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- H03M13/635—Error control coding in combination with rate matching
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- H03M13/37—Decoding methods or techniques, not specific to the particular type of coding provided for in groups H03M13/03 - H03M13/35
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- Error Detection And Correction (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 畳み込み符号の伝送路のノイズの度合い等に
関係なく、デパンクチャー回路が常に正確な畳み込み符
号を同期入力できるビタビ復号装置を得る。 【解決手段】 比較器４は、レジスタ群２のレジスタＲ
１〜ＲＮにそれぞれ格納されたスリップ状態１〜Ｎのエ
ラー数を相対比較して、最小のエラー数を格納したレジ
スタＲｋ（ｋ＝１〜Ｎのいずれか）を検出して、スリッ
プ状態ｋを指示する最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰを
スリップ状態決定部５に出力する。スリップ状態決定部
５は、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ回以上連続
して同一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリッ
プ状態ＭＩＮＳＬＩＰを確定スリップ状態ＤＳＬＩＰと
して決定する。
関係なく、デパンクチャー回路が常に正確な畳み込み符
号を同期入力できるビタビ復号装置を得る。 【解決手段】 比較器４は、レジスタ群２のレジスタＲ
１〜ＲＮにそれぞれ格納されたスリップ状態１〜Ｎのエ
ラー数を相対比較して、最小のエラー数を格納したレジ
スタＲｋ（ｋ＝１〜Ｎのいずれか）を検出して、スリッ
プ状態ｋを指示する最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰを
スリップ状態決定部５に出力する。スリップ状態決定部
５は、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ回以上連続
して同一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリッ
プ状態ＭＩＮＳＬＩＰを確定スリップ状態ＤＳＬＩＰと
して決定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はビタビ復号装置に
おける畳み込み符号の入力タイミングに関する。
おける畳み込み符号の入力タイミングに関する。
【０００２】
【従来の技術】図９は従来のビタビ復号装置の構成を示
すブロック図である。同図に示すように、畳み込み符号
ＣＣがデパンクチャー回路２１及び遅延回路２５に入力
される。
すブロック図である。同図に示すように、畳み込み符号
ＣＣがデパンクチャー回路２１及び遅延回路２５に入力
される。
【０００３】まず、畳み込み符号ＣＣについて説明す
る。図１０に示すように、ＢＣＣ（Binary Convolution
al Coder）回路３２は、入力データ（Ｄ０，Ｄ１，Ｄ
２，Ｄ３）に対し、拘束長Ｋ＝５，符号化率Ｒ＝１／２
で所定の生成多項式によって畳み込み処理を行い、出力
ｇ１，ｇ２からそれぞれ畳み込み符号（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ
２，Ｘ３）、（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３）を出力する。
る。図１０に示すように、ＢＣＣ（Binary Convolution
al Coder）回路３２は、入力データ（Ｄ０，Ｄ１，Ｄ
２，Ｄ３）に対し、拘束長Ｋ＝５，符号化率Ｒ＝１／２
で所定の生成多項式によって畳み込み処理を行い、出力
ｇ１，ｇ２からそれぞれ畳み込み符号（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ
２，Ｘ３）、（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３）を出力する。
【０００４】パンクチャー回路３３は、入力する畳み込
み符号（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３），（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ
２，Ｙ３）のうち、消去パターンＣ３（０００１），Ｃ
４（１１１１）に基づき、消去される畳み込み符号Ｃ２
（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ２）を消去して、最終的に符号化率４
／５の畳み込み符号（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｘ３，Ｙ３）
を出力する。
み符号（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３），（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ
２，Ｙ３）のうち、消去パターンＣ３（０００１），Ｃ
４（１１１１）に基づき、消去される畳み込み符号Ｃ２
（Ｘ０，Ｘ１，Ｘ２）を消去して、最終的に符号化率４
／５の畳み込み符号（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｘ３，Ｙ３）
を出力する。
【０００５】ビタビ復号装置が入力する畳み込み符号Ｃ
Ｃは図１０で示すような回路によってパンクチャー処理
された畳み込み符号を意味する。
Ｃは図１０で示すような回路によってパンクチャー処理
された畳み込み符号を意味する。
【０００６】デパンクチャー回路２１は畳み込み符号Ｃ
Ｃに対しデパンクチャー処理して２つの出力Ｇ１，Ｇ２
からデパンクチャーされた符号を出力する。
Ｃに対しデパンクチャー処理して２つの出力Ｇ１，Ｇ２
からデパンクチャーされた符号を出力する。
【０００７】デパンクチャー回路２１は、例えば、図１
１に示すように、畳み込み符号ＣＣが（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ
２，Ｘ３，Ｙ３）（図１０のパンクチャー回路３３の出
力）であるとき、出力Ｇ１からダミーシンボルＣ１
（０，０，０）を挿入して、（０，０，０，Ｘ３）を出
力し、出力Ｇ２から（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３）を出力
する。このように、消去された符号の位置にダミーシン
ボルを挿入するとともに、２つの出力Ｇ１，Ｇ２に振り
分けて出力される符号がデパンクチャーされた符号であ
る。
１に示すように、畳み込み符号ＣＣが（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ
２，Ｘ３，Ｙ３）（図１０のパンクチャー回路３３の出
力）であるとき、出力Ｇ１からダミーシンボルＣ１
（０，０，０）を挿入して、（０，０，０，Ｘ３）を出
力し、出力Ｇ２から（Ｙ０，Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３）を出力
する。このように、消去された符号の位置にダミーシン
ボルを挿入するとともに、２つの出力Ｇ１，Ｇ２に振り
分けて出力される符号がデパンクチャーされた符号であ
る。
【０００８】デパンクチャー回路２１によってデパンク
チャーされた符号は、枝メトリック計算回路２２より枝
メトリックが求められ、さらに、ＡＣＳ回路２３によっ
てパスメトリックと枝メトリックとの加算、比較、選択
処理が行われ、最終的に、パスメモリ２４によって最尤
値により復号され、ビタビ復号データＤ０が出力され
る。
チャーされた符号は、枝メトリック計算回路２２より枝
メトリックが求められ、さらに、ＡＣＳ回路２３によっ
てパスメトリックと枝メトリックとの加算、比較、選択
処理が行われ、最終的に、パスメモリ２４によって最尤
値により復号され、ビタビ復号データＤ０が出力され
る。
【０００９】ビタビ復号データＤ０は外部に出力される
ともに、内部のリコーダ２６に与えられる。リコーダ２
６は、ビタビ復号データＤ０に対して、図１０で示した
回路と同様な処理を施し、パンクチャー処理された比較
用畳み込み符号ＲＣＣを出力する。一方、遅延回路２５
は畳み込み符号ＣＣをデパンクチャー回路２１、枝メト
リック計算回路２２、ＡＣＳ回路２３、パスメモリ２４
及びリコーダ２６の合計処理時間分遅延させて遅延畳み
込み符号ＤＣＣを出力する。
ともに、内部のリコーダ２６に与えられる。リコーダ２
６は、ビタビ復号データＤ０に対して、図１０で示した
回路と同様な処理を施し、パンクチャー処理された比較
用畳み込み符号ＲＣＣを出力する。一方、遅延回路２５
は畳み込み符号ＣＣをデパンクチャー回路２１、枝メト
リック計算回路２２、ＡＣＳ回路２３、パスメモリ２４
及びリコーダ２６の合計処理時間分遅延させて遅延畳み
込み符号ＤＣＣを出力する。
【００１０】比較器２７は遅延畳み込み符号ＤＣＣと比
較用畳み込み符号ＲＣＣとをビット単位に比較してその
比較結果をＮビットカウンタ２８に出力する。このと
き、ビタビ復号データＤ０が正確に復号されたデータで
あれば比較結果は一致を指示し、誤って復号されたデー
タが含んでいれば比較結果の一部は不一致を指示する。
較用畳み込み符号ＲＣＣとをビット単位に比較してその
比較結果をＮビットカウンタ２８に出力する。このと
き、ビタビ復号データＤ０が正確に復号されたデータで
あれば比較結果は一致を指示し、誤って復号されたデー
タが含んでいれば比較結果の一部は不一致を指示する。
【００１１】Ｎビットカウンタ２８は、比較器２７の比
較結果が不一致を指示する数をカウントして、その合計
値を（残留）エラー数ＥＲＲＯＲとしてビット同期制御
回路２９に出力する。
較結果が不一致を指示する数をカウントして、その合計
値を（残留）エラー数ＥＲＲＯＲとしてビット同期制御
回路２９に出力する。
【００１２】ビット同期制御回路２９はエラー数ＥＲＲ
ＯＲと外部から入力される閾値数ＴＨとを比較し、エラ
ー数ＥＲＲＯＲが閾値数ＴＨを上回った場合に、スリッ
プ状態の変更を要求する信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴ
を出力し、デパンクチャー回路２１に現状のスリップ状
態の変更を促す。
ＯＲと外部から入力される閾値数ＴＨとを比較し、エラ
ー数ＥＲＲＯＲが閾値数ＴＨを上回った場合に、スリッ
プ状態の変更を要求する信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴ
を出力し、デパンクチャー回路２１に現状のスリップ状
態の変更を促す。
【００１３】以下、デパンクチャー回路２１のスリップ
状態について説明する。デパンクチャー回路２１は畳み
込み符号ＣＣを５ビット単位でデパンクチャー処理する
ため、どのビットを先頭ビットして取り込むかで５通り
の同期の仕方があり、それぞれのビットぶれ相対位置に
基づき番号付けを行うことによりスリップ状態１〜５と
して分類される。すなわち、設定されるスリップ状態に
よってデパンクチャー回路２１の畳み込み符号ＣＣの入
力タイミングが規定される。
状態について説明する。デパンクチャー回路２１は畳み
込み符号ＣＣを５ビット単位でデパンクチャー処理する
ため、どのビットを先頭ビットして取り込むかで５通り
の同期の仕方があり、それぞれのビットぶれ相対位置に
基づき番号付けを行うことによりスリップ状態１〜５と
して分類される。すなわち、設定されるスリップ状態に
よってデパンクチャー回路２１の畳み込み符号ＣＣの入
力タイミングが規定される。
【００１４】設定されるスリップ状態が正確な場合、図
１２の(a)に示すように、Ｙ０，Ｙ４，Ｙ８をそれぞれ
先頭ビットして取り込むため、ダミーシンボル“０”を
正しく挿入してデパンクチャー処理を行うことができ
る。しかしながら、スリップ状態が正確でない場合、図
１２の(b)〜(e)に示すように、ダミーシンボルが正しく
挿入されない。
１２の(a)に示すように、Ｙ０，Ｙ４，Ｙ８をそれぞれ
先頭ビットして取り込むため、ダミーシンボル“０”を
正しく挿入してデパンクチャー処理を行うことができ
る。しかしながら、スリップ状態が正確でない場合、図
１２の(b)〜(e)に示すように、ダミーシンボルが正しく
挿入されない。
【００１５】仮に、図１２の(a)の状態がスリップ状態
１とすると、図１２の(b)はＹ１，Ｙ５，Ｙ９をそれぞ
れ先頭ビットして取り込むスリップ状態２となり、図１
２の(c)はＹ２，Ｙ６，Ｙ１０をそれぞれ先頭ビットし
て取り込むスリップ状態３となり、図１２の(d)はＸ
３，Ｘ７，Ｙ１１をそれぞれ先頭ビットして取り込むス
リップ状態４となり、図１２の(e)はＹ３，Ｙ７，Ｙ１
１をそれぞれ先頭ビットして取り込むスリップ状態５と
なる。
１とすると、図１２の(b)はＹ１，Ｙ５，Ｙ９をそれぞ
れ先頭ビットして取り込むスリップ状態２となり、図１
２の(c)はＹ２，Ｙ６，Ｙ１０をそれぞれ先頭ビットし
て取り込むスリップ状態３となり、図１２の(d)はＸ
３，Ｘ７，Ｙ１１をそれぞれ先頭ビットして取り込むス
リップ状態４となり、図１２の(e)はＹ３，Ｙ７，Ｙ１
１をそれぞれ先頭ビットして取り込むスリップ状態５と
なる。
【００１６】したがって、ビット同期制御回路２９は、
エラー数ＥＲＲＯＲが閾値数ＴＨより大きい場合は、デ
パンクチャー回路２１が畳み込み符号ＣＣの入力に正し
く同期していない（図１２の(b)〜(e)の状態）と判断
し、新たなスリップ状態への変更を指示する信号ＳＬＩ
Ｐ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパンクチャー回路２１に出力す
る。
エラー数ＥＲＲＯＲが閾値数ＴＨより大きい場合は、デ
パンクチャー回路２１が畳み込み符号ＣＣの入力に正し
く同期していない（図１２の(b)〜(e)の状態）と判断
し、新たなスリップ状態への変更を指示する信号ＳＬＩ
Ｐ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパンクチャー回路２１に出力す
る。
【００１７】新たなスリップ状態への変更を指示する信
号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを受けたデパンクチャー回
路２１は、スリップ状態を現在の状態から異なる状態に
変更して畳み込み符号ＣＣを取り込み、デパンクチャー
処理を行う。
号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを受けたデパンクチャー回
路２１は、スリップ状態を現在の状態から異なる状態に
変更して畳み込み符号ＣＣを取り込み、デパンクチャー
処理を行う。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】従来のビタビ復号装置
のビット同期制御回路２９は、所定の測定期間中にカウ
ントされたエラー数ＥＲＲＯＲと予め設定された閾値数
ＴＨとを比較することによって、デパンクチャー回路２
１が畳み込み符号ＣＣの入力に正しく同期しているか否
かを判断していた。
のビット同期制御回路２９は、所定の測定期間中にカウ
ントされたエラー数ＥＲＲＯＲと予め設定された閾値数
ＴＨとを比較することによって、デパンクチャー回路２
１が畳み込み符号ＣＣの入力に正しく同期しているか否
かを判断していた。
【００１９】しかしながら、閾値数ＴＨは一種類しか設
定できないため、伝送路のノイズの度合い等によって閾
値数ＴＨが適切な値となっていない場合、ビット同期制
御回路はデパンクチャー回路が畳み込み符号ＣＣの入力
に同期しているか否かを正確に判定することができな
い。
定できないため、伝送路のノイズの度合い等によって閾
値数ＴＨが適切な値となっていない場合、ビット同期制
御回路はデパンクチャー回路が畳み込み符号ＣＣの入力
に同期しているか否かを正確に判定することができな
い。
【００２０】その結果、デパンクチャー回路はスリップ
状態が正しく設定されなくなり、畳み込み符号の入力に
同期できず、正しくビタビ復号処理を行うことができな
いという問題点があった。
状態が正しく設定されなくなり、畳み込み符号の入力に
同期できず、正しくビタビ復号処理を行うことができな
いという問題点があった。
【００２１】この発明は上記問題点を解決するためにな
されたもので、畳み込み符号の伝送路のノイズの度合い
等に関係なく、デパンクチャー回路が常に正確な畳み込
み符号を同期入力できるビタビ復号装置を得ることを目
的とする。
されたもので、畳み込み符号の伝送路のノイズの度合い
等に関係なく、デパンクチャー回路が常に正確な畳み込
み符号を同期入力できるビタビ復号装置を得ることを目
的とする。
【００２２】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項１
記載のビタビ復号装置は、パンクチャー処理が施された
畳み込み符号を設定用スリップ状態に基づく入力タイミ
ングで取り込み、ビタビ復号法により復号処理を行いビ
タビ復号データを出力する復号処理部と、前記ビタビ復
号データの復号誤り数をカウントして出力するカウント
手段と、活性状態時に、前記復号誤り数に基づき、複数
のスリップ状態のうち一のスリップ状態を前記設定用ス
リップ状態とする同期制御手段とを備え、前記同期制御
手段は、所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前
記設定用スリップ状態として、前記複数のスリップ状態
それぞれの復号誤り数を前記カウント手段の出力から得
るスリップ状態別誤り数算出手段と、前記複数のスリッ
プ状態それぞれの復号誤り数の相対比較に基づき、前記
設定用スリップ状態を設定するスリップ状態設定手段と
を備えている。
記載のビタビ復号装置は、パンクチャー処理が施された
畳み込み符号を設定用スリップ状態に基づく入力タイミ
ングで取り込み、ビタビ復号法により復号処理を行いビ
タビ復号データを出力する復号処理部と、前記ビタビ復
号データの復号誤り数をカウントして出力するカウント
手段と、活性状態時に、前記復号誤り数に基づき、複数
のスリップ状態のうち一のスリップ状態を前記設定用ス
リップ状態とする同期制御手段とを備え、前記同期制御
手段は、所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前
記設定用スリップ状態として、前記複数のスリップ状態
それぞれの復号誤り数を前記カウント手段の出力から得
るスリップ状態別誤り数算出手段と、前記複数のスリッ
プ状態それぞれの復号誤り数の相対比較に基づき、前記
設定用スリップ状態を設定するスリップ状態設定手段と
を備えている。
【００２３】また、請求項２記載のビタビ復号装置にお
いて、前記カウント手段は、初期化時からの前記復号誤
り数をカウントし、前記スリップ別誤り数算出手段は、
前記所定時間毎に前記カウント手段を初期化させるとと
もに、前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出
終了時にその終了を指示する誤り数算出終了情報を出力
する制御手段を含み、前記スリップ状態設定手段は、前
記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を前記複数
のスリップ状態に対応させて記憶する記憶部と、前記誤
り数算出終了情報が前記複数のスリップ状態全ての復号
誤り数の算出終了を指示する時、前記記憶部に記憶され
た前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を相対
比較して最小の復号誤り数に対応するスリップ状態を指
示する情報を最小スリップ状態の情報として出力する比
較部と、前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定
用スリップ状態を決定するスリップ状態決定部とを含ん
でいる。
いて、前記カウント手段は、初期化時からの前記復号誤
り数をカウントし、前記スリップ別誤り数算出手段は、
前記所定時間毎に前記カウント手段を初期化させるとと
もに、前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出
終了時にその終了を指示する誤り数算出終了情報を出力
する制御手段を含み、前記スリップ状態設定手段は、前
記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を前記複数
のスリップ状態に対応させて記憶する記憶部と、前記誤
り数算出終了情報が前記複数のスリップ状態全ての復号
誤り数の算出終了を指示する時、前記記憶部に記憶され
た前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を相対
比較して最小の復号誤り数に対応するスリップ状態を指
示する情報を最小スリップ状態の情報として出力する比
較部と、前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定
用スリップ状態を決定するスリップ状態決定部とを含ん
でいる。
【００２４】また、請求項３記載のビタビ復号装置にお
いて、前記カウント手段は、初期化時からの前記復号誤
り数をカウントし、前記スリップ別誤り数算出手段は、
前記所定時間毎に前記カウント手段を初期化させるとと
もに、前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出
終了時にその終了を指示する誤り数算出終了情報を出力
する制御手段を含み、前記スリップ状態設定手段は、比
較用スリップ状態の情報と比較用誤り数とを格納する比
較用記憶部と、前記複数のスリップ状態それぞれの復号
誤り数を順次受け、前記比較用記憶部に記憶された前記
比較用誤り数と比較し、前記復号誤り数が前記比較用誤
り数より小さい場合に、当該復号誤り数及びそのスリッ
プ状態を指示する情報を新たな前記比較用誤り数及び前
記比較用スリップ状態の情報として、前記比較用記憶部
の格納内容を更新する比較部と、前記誤り数算出終了情
報が前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出終
了を指示する時、前記比較用記憶部に最終的に記憶され
た前記比較用スリップ状態の情報を最小スリップ状態の
情報として出力する最小スリップ状態出力部と、前記最
小スリップ状態の情報に基づき前記設定用スリップ状態
を決定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
いて、前記カウント手段は、初期化時からの前記復号誤
り数をカウントし、前記スリップ別誤り数算出手段は、
前記所定時間毎に前記カウント手段を初期化させるとと
もに、前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出
終了時にその終了を指示する誤り数算出終了情報を出力
する制御手段を含み、前記スリップ状態設定手段は、比
較用スリップ状態の情報と比較用誤り数とを格納する比
較用記憶部と、前記複数のスリップ状態それぞれの復号
誤り数を順次受け、前記比較用記憶部に記憶された前記
比較用誤り数と比較し、前記復号誤り数が前記比較用誤
り数より小さい場合に、当該復号誤り数及びそのスリッ
プ状態を指示する情報を新たな前記比較用誤り数及び前
記比較用スリップ状態の情報として、前記比較用記憶部
の格納内容を更新する比較部と、前記誤り数算出終了情
報が前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出終
了を指示する時、前記比較用記憶部に最終的に記憶され
た前記比較用スリップ状態の情報を最小スリップ状態の
情報として出力する最小スリップ状態出力部と、前記最
小スリップ状態の情報に基づき前記設定用スリップ状態
を決定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
【００２５】また、請求項４記載のビタビ復号装置にお
いて、前記スリップ状態別誤り数算出手段は、前記複数
のスリップ状態全ての復号誤り数の算出処理を繰り返し
行い、前記スリップ状態決定部は、前記最小スリップ状
態の情報がＭ（≧１）回連続して同一のスリップ状態を
指示する場合に、前記最小スリップ状態の指示するスリ
ップ状態を前記設定用スリップ状態として決定してい
る。
いて、前記スリップ状態別誤り数算出手段は、前記複数
のスリップ状態全ての復号誤り数の算出処理を繰り返し
行い、前記スリップ状態決定部は、前記最小スリップ状
態の情報がＭ（≧１）回連続して同一のスリップ状態を
指示する場合に、前記最小スリップ状態の指示するスリ
ップ状態を前記設定用スリップ状態として決定してい
る。
【００２６】この発明に係る請求項５記載のビタビ復号
装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法
は、パンクチャー処理が施された畳み込み符号を設定用
スリップ状態に基づく入力タイミングで取り込み、ビタ
ビ復号法により復号処理を行いビタビ復号データを出力
する復号処理部と、前記ビタビ復号データの復号誤り数
をカウントする誤りカウント手段とを備え、前記設定用
スリップ状態の候補として複数のスリップ状態を有し、
(a)所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設
定用スリップ状態として、前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を得るステップと、(b)前記ステップ
(a)の後、前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り
数の相対比較に基づき、前記設定用スリップ状態を設定
するステップとを備えている。
装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法
は、パンクチャー処理が施された畳み込み符号を設定用
スリップ状態に基づく入力タイミングで取り込み、ビタ
ビ復号法により復号処理を行いビタビ復号データを出力
する復号処理部と、前記ビタビ復号データの復号誤り数
をカウントする誤りカウント手段とを備え、前記設定用
スリップ状態の候補として複数のスリップ状態を有し、
(a)所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設
定用スリップ状態として、前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を得るステップと、(b)前記ステップ
(a)の後、前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り
数の相対比較に基づき、前記設定用スリップ状態を設定
するステップとを備えている。
【００２７】また、請求項６記載のビタビ復号装置にお
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)は、(a-1)前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を前記複数のスリップ状態に対応させ
て記憶部に記憶させるステップを含み、前記ステップ
(b)は、(b-1)前記記憶部より得られる前記複数のスリッ
プ状態それぞれの復号誤り数を相対比較して最小の復号
誤り数に対応するスリップ状態を指示する最小スリップ
状態の情報を求めるステップと、(bー2)前記最小スリッ
プ状態の情報に基づき前記設定用スリップ状態を決定す
るステップとを含んでいる。
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)は、(a-1)前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を前記複数のスリップ状態に対応させ
て記憶部に記憶させるステップを含み、前記ステップ
(b)は、(b-1)前記記憶部より得られる前記複数のスリッ
プ状態それぞれの復号誤り数を相対比較して最小の復号
誤り数に対応するスリップ状態を指示する最小スリップ
状態の情報を求めるステップと、(bー2)前記最小スリッ
プ状態の情報に基づき前記設定用スリップ状態を決定す
るステップとを含んでいる。
【００２８】また、請求項７記載のビタビ復号装置にお
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)は、(a-1)前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を順次受け、比較用誤り数と比較して
前記復号誤り数が小さい場合に当該復号誤り数及びその
スリップ状態を指示する情報を新たな前記比較用誤り数
及び比較用スリップ状態の情報とするステップを含み、
前記ステップ(b)は、(b-1)前記ステップ(a)終了後の前
記比較用スリップ状態の情報を最小スリップ状態の情報
とするステップと、(bー2)前記最小スリップ状態の情報
に基づき前記設定用スリップ状態を決定するステップと
を含んでいる。
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)は、(a-1)前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を順次受け、比較用誤り数と比較して
前記復号誤り数が小さい場合に当該復号誤り数及びその
スリップ状態を指示する情報を新たな前記比較用誤り数
及び比較用スリップ状態の情報とするステップを含み、
前記ステップ(b)は、(b-1)前記ステップ(a)終了後の前
記比較用スリップ状態の情報を最小スリップ状態の情報
とするステップと、(bー2)前記最小スリップ状態の情報
に基づき前記設定用スリップ状態を決定するステップと
を含んでいる。
【００２９】また、請求項８記載のビタビ復号装置にお
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)及び(b)は繰り返し行われ、前記ステッ
プ(bー2)は、(b-2-1)前記ステップ(a)の終了毎に得られ
る前記最小スリップ状態の情報がＭ（≧１）回連続して
同一のスリップ状態を指示する場合に、前記最小スリッ
プ状態を指示するスリップ状態を前記設定用スリップ状
態として決定するステップを含んでいる。
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法において、
前記ステップ(a)及び(b)は繰り返し行われ、前記ステッ
プ(bー2)は、(b-2-1)前記ステップ(a)の終了毎に得られ
る前記最小スリップ状態の情報がＭ（≧１）回連続して
同一のスリップ状態を指示する場合に、前記最小スリッ
プ状態を指示するスリップ状態を前記設定用スリップ状
態として決定するステップを含んでいる。
【００３０】この発明に係る請求項９記載の入力タイミ
ング制御装置は、パンクチャー処理が施された畳み込み
符号をビタビ復号装置が取り込む入力タイミングを制御
する装置であって、前記ビタビ復号装置は設定用スリッ
プ状態によって前記入力タイミングが規定され、前記ビ
タビ復号データの復号誤り数をカウントする機能を有
し、所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設
定用スリップ状態とすることにより前記複数のスリップ
状態それぞれの復号誤り数を得るスリップ状態別誤り数
算出手段と、前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤
り数の相対比較に基づき、前記設定用スリップ状態を設
定するスリップ状態設定手段とを備えている。
ング制御装置は、パンクチャー処理が施された畳み込み
符号をビタビ復号装置が取り込む入力タイミングを制御
する装置であって、前記ビタビ復号装置は設定用スリッ
プ状態によって前記入力タイミングが規定され、前記ビ
タビ復号データの復号誤り数をカウントする機能を有
し、所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設
定用スリップ状態とすることにより前記複数のスリップ
状態それぞれの復号誤り数を得るスリップ状態別誤り数
算出手段と、前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤
り数の相対比較に基づき、前記設定用スリップ状態を設
定するスリップ状態設定手段とを備えている。
【００３１】
＜＜実施の形態１＞＞ ＜全体構成＞図１はこの発明の実施の形態１のビタビ復
号装置の全体構成を示すブロック図である。同図に示す
ように、ビット同期制御回路１０は、外部からの制御信
号ＳＴにより活性／非活性が制御され、Ｎビットカウン
タ２８からの復号エラー数（残留エラー数）ＥＲＲＯＲ
を受け、スリップ状態の変更／固定を指示する信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパンクチャー回路２１に出力
するとともに、Ｎビットカウンタ２８の初期化を指示用
のリセット信号ＳＲを出力する。なお、他の全体構成は
図９で示した従来のビタビ復号装置と同様である。
号装置の全体構成を示すブロック図である。同図に示す
ように、ビット同期制御回路１０は、外部からの制御信
号ＳＴにより活性／非活性が制御され、Ｎビットカウン
タ２８からの復号エラー数（残留エラー数）ＥＲＲＯＲ
を受け、スリップ状態の変更／固定を指示する信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパンクチャー回路２１に出力
するとともに、Ｎビットカウンタ２８の初期化を指示用
のリセット信号ＳＲを出力する。なお、他の全体構成は
図９で示した従来のビタビ復号装置と同様である。
【００３２】＜内部構成＞図２は、この発明の実施の形
態１であるビタビ復号装置のビット同期制御回路１０の
内部構成を示すブロック図である。なお、実施の形態１
のビット同期制御回路１０は制御信号ＳＴにより活性／
非活性が制御され、非活性状態時には常にスリップ状態
を固定することを指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥ
ＱＵＥＳＴを出力する。
態１であるビタビ復号装置のビット同期制御回路１０の
内部構成を示すブロック図である。なお、実施の形態１
のビット同期制御回路１０は制御信号ＳＴにより活性／
非活性が制御され、非活性状態時には常にスリップ状態
を固定することを指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥ
ＱＵＥＳＴを出力する。
【００３３】スリップ状態制御部１は内部にタイマ（図
示せず）を有し、活性状態を指示する制御信号ＳＴを受
けると活性状態となり所定の初期状態から起動し、測定
時間ＴＥＲごとに変更されるスリップ状態に基づき、現
在のスリップ状態を指示する現状スリップ状態（の情
報）ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部６に出力す
る。また、スリップ状態制御部１は、活性状態時にスリ
ップ状態の変更タイミングに同期して、レジスタ群２の
レジスタＲ１〜ＲＮのうち一のレジスタへの格納の切り
替えを指示する選択信号ＳＥＬをセレクタ３に与えると
ともに初期化を指示するリセット信号ＳＲをＮビットカ
ウンタ２８に出力する。さらに、スリップ状態制御部１
は、すべてのスリップ状態それぞれの測定が終了した時
点から所定期間（比較器４が比較処理を行うのに十分な
期間）において比較器４を活性状態とする比較起動信号
ＣＭＰ１を比較器４に出力する。
示せず）を有し、活性状態を指示する制御信号ＳＴを受
けると活性状態となり所定の初期状態から起動し、測定
時間ＴＥＲごとに変更されるスリップ状態に基づき、現
在のスリップ状態を指示する現状スリップ状態（の情
報）ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部６に出力す
る。また、スリップ状態制御部１は、活性状態時にスリ
ップ状態の変更タイミングに同期して、レジスタ群２の
レジスタＲ１〜ＲＮのうち一のレジスタへの格納の切り
替えを指示する選択信号ＳＥＬをセレクタ３に与えると
ともに初期化を指示するリセット信号ＳＲをＮビットカ
ウンタ２８に出力する。さらに、スリップ状態制御部１
は、すべてのスリップ状態それぞれの測定が終了した時
点から所定期間（比較器４が比較処理を行うのに十分な
期間）において比較器４を活性状態とする比較起動信号
ＣＭＰ１を比較器４に出力する。
【００３４】レジスタ群２のレジスタＲ１〜ＲＮ（Ｎ≧
２）は、スリップ状態１〜Ｎにそれぞれ対応して設けら
れ、対応のスリップ状態のエラー数ＥＲＲＯＲをそれぞ
れ格納する。
２）は、スリップ状態１〜Ｎにそれぞれ対応して設けら
れ、対応のスリップ状態のエラー数ＥＲＲＯＲをそれぞ
れ格納する。
【００３５】セレクタ３は、レジスタ群２のレジスタＲ
１〜ＲＮのうち選択信号ＳＥＬの指示するレジスタにエ
ラー数ＥＲＲＯＲを格納する。
１〜ＲＮのうち選択信号ＳＥＬの指示するレジスタにエ
ラー数ＥＲＲＯＲを格納する。
【００３６】比較器４は、活性状態を指示する比較起動
信号ＣＭＰ１を受けると活性状態となり、レジスタ群２
のレジスタＲ１〜ＲＮにそれぞれ格納されたエラー数を
比較して、最小のエラー数を格納したレジスタＲｋ（ｋ
＝１〜Ｎのいずれか）を検出して、スリップ状態ｋを指
示する最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰをス
リップ状態決定部５に出力する。この最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰがデパンクチャー回路２１に設定される
スリップ状態の候補となる。
信号ＣＭＰ１を受けると活性状態となり、レジスタ群２
のレジスタＲ１〜ＲＮにそれぞれ格納されたエラー数を
比較して、最小のエラー数を格納したレジスタＲｋ（ｋ
＝１〜Ｎのいずれか）を検出して、スリップ状態ｋを指
示する最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰをス
リップ状態決定部５に出力する。この最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰがデパンクチャー回路２１に設定される
スリップ状態の候補となる。
【００３７】スリップ状態決定部５は、最小スリップ状
態ＭＩＮＳＬＩＰを受け、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰがＭ（≧１）回以上連続して同一のスリップ状態を
指示する場合に、最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳ
ＬＩＰを確定スリップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして
決定しスリップ要求出力部６に出力する。
態ＭＩＮＳＬＩＰを受け、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰがＭ（≧１）回以上連続して同一のスリップ状態を
指示する場合に、最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳ
ＬＩＰを確定スリップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして
決定しスリップ要求出力部６に出力する。
【００３８】スリップ要求出力部６は活性状態を指示す
る制御信号ＳＴを受けると活性状態となり、スリップ状
態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥ
ＳＴを出力し始める。なお、スリップ要求出力部６は非
活性状態を指示する制御信号ＳＴを受ける非活性状態時
には常にスリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号Ｓ
ＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
る制御信号ＳＴを受けると活性状態となり、スリップ状
態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥ
ＳＴを出力し始める。なお、スリップ要求出力部６は非
活性状態を指示する制御信号ＳＴを受ける非活性状態時
には常にスリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号Ｓ
ＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
【００３９】また、“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥ
ＳＴが出力されると所定のスリップ周期ごとにデパンク
チャー回路２１のスリップ状態が変化する。本実施の形
態ではスリップ周期と測定時間ＴＥＲとが同一に設定さ
れる。
ＳＴが出力されると所定のスリップ周期ごとにデパンク
チャー回路２１のスリップ状態が変化する。本実施の形
態ではスリップ周期と測定時間ＴＥＲとが同一に設定さ
れる。
【００４０】スリップ要求出力部６は、確定スリップ状
態ＤＳＬＩＰを受けると、現状スリップ状態ＮＯＷＳＬ
ＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとの指示するスリッ
プ状態が一致するまで、スリップ状態の変更を指示する
“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、その
後、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩ
Ｐ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
態ＤＳＬＩＰを受けると、現状スリップ状態ＮＯＷＳＬ
ＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとの指示するスリッ
プ状態が一致するまで、スリップ状態の変更を指示する
“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、その
後、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩ
Ｐ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
【００４１】＜動作＞図３は図２で示したビット同期制
御回路１０の動作を示すフローチャートである。図４は
ビット同期制御回路１０の動作を示すタイミング図であ
る。以下、これらの図を参照して、ビット同期制御回路
１０の活性状態時の動作について説明する。
御回路１０の動作を示すフローチャートである。図４は
ビット同期制御回路１０の動作を示すタイミング図であ
る。以下、これらの図を参照して、ビット同期制御回路
１０の活性状態時の動作について説明する。
【００４２】まず、ステップＳ１で、スリップ状態制御
部１は、スリップ状態識別用の識別番号Ｉを“１”に初
期設定し、スリップ状態１に対応したレジスタＲ１への
格納を指示する選択信号ＳＥＬをセレクタ３に出力する
とともにリセット信号ＳＲによりＮビットカウンタ２８
を初期化する。このとき、スリップ状態制御部１はスリ
ップ状態１を指示する現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰ
をスリップ要求出力部６に出力している。
部１は、スリップ状態識別用の識別番号Ｉを“１”に初
期設定し、スリップ状態１に対応したレジスタＲ１への
格納を指示する選択信号ＳＥＬをセレクタ３に出力する
とともにリセット信号ＳＲによりＮビットカウンタ２８
を初期化する。このとき、スリップ状態制御部１はスリ
ップ状態１を指示する現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰ
をスリップ要求出力部６に出力している。
【００４３】ステップＳ２において、セレクタ３は、選
択信号ＳＥＬに基づき、Ｎビットカウンタ２８からのエ
ラー数ＥＲＲＯＲがレジスタ群２のレジスタＲ１に格納
されるように選択動作を行う。
択信号ＳＥＬに基づき、Ｎビットカウンタ２８からのエ
ラー数ＥＲＲＯＲがレジスタ群２のレジスタＲ１に格納
されるように選択動作を行う。
【００４４】ステップＳ３においてＩ＝Ｎでないため、
ステップＳ４で、スリップ状態制御部１は識別番号Ｉを
“２”にインクリメントし、スリップ状態２に対応した
レジスタＲ２への格納を指示する選択信号ＳＥＬをセレ
クタ３に出力するとともにリセット信号ＳＲによりＮビ
ットカウンタ２８を初期化する。このとき、スリップ状
態制御部１はスリップ状態２を指示する現状スリップ状
態ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部６に出力してい
る。
ステップＳ４で、スリップ状態制御部１は識別番号Ｉを
“２”にインクリメントし、スリップ状態２に対応した
レジスタＲ２への格納を指示する選択信号ＳＥＬをセレ
クタ３に出力するとともにリセット信号ＳＲによりＮビ
ットカウンタ２８を初期化する。このとき、スリップ状
態制御部１はスリップ状態２を指示する現状スリップ状
態ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部６に出力してい
る。
【００４５】再び、ステップＳ２において、セレクタ３
は、Ｎビットカウンタ２８からのエラー数ＥＲＲＯＲが
レジスタ群２のレジスタＲ２に格納されるように選択動
作を行う。したがって、図４の期間Ｔ１（測定時間ＴＥ
Ｒ）におけるエラー数ＥＲＲＯＲはレジスタＲ１に格納
され、図４の期間Ｔ２（測定時間ＴＥＲ）におけるエラ
ー数ＥＲＲＯＲはレジスタＲ２に格納されることにな
る。
は、Ｎビットカウンタ２８からのエラー数ＥＲＲＯＲが
レジスタ群２のレジスタＲ２に格納されるように選択動
作を行う。したがって、図４の期間Ｔ１（測定時間ＴＥ
Ｒ）におけるエラー数ＥＲＲＯＲはレジスタＲ１に格納
され、図４の期間Ｔ２（測定時間ＴＥＲ）におけるエラ
ー数ＥＲＲＯＲはレジスタＲ２に格納されることにな
る。
【００４６】以降、識別番号ＩがＮに達するまで、ステ
ップＳ２〜Ｓ４の処理が繰り返され、識別番号ＩがＮに
達するとステップＳ５に移行する。このとき、レジスタ
群２のレジスタＲ１〜ＲＮにはそれぞれスリップ状態１
〜Ｎでの測定時間ＴＥＲ中のエラー数ＥＲＲＯＲが既に
格納されることになる。
ップＳ２〜Ｓ４の処理が繰り返され、識別番号ＩがＮに
達するとステップＳ５に移行する。このとき、レジスタ
群２のレジスタＲ１〜ＲＮにはそれぞれスリップ状態１
〜Ｎでの測定時間ＴＥＲ中のエラー数ＥＲＲＯＲが既に
格納されることになる。
【００４７】ステップＳ５において、スリップ状態制御
部１より比較処理を促す比較起動信号ＣＭＰ１を受けた
（図４の時刻ｔ１）比較器４はレジスタＲ１〜ＲＮそれ
ぞれが格納したエラー数のうち、一番最小のエラー数を
格納したレジスタＲｋ（ｋ＝１〜Ｎのいずれか）に対応
するスリップ状態ｋを指示する最小スリップ状態ＭＩＮ
ＳＬＩＰをデパンクチャー回路２１の設定用スリップ状
態の候補としてスリップ状態決定部５に出力する。
部１より比較処理を促す比較起動信号ＣＭＰ１を受けた
（図４の時刻ｔ１）比較器４はレジスタＲ１〜ＲＮそれ
ぞれが格納したエラー数のうち、一番最小のエラー数を
格納したレジスタＲｋ（ｋ＝１〜Ｎのいずれか）に対応
するスリップ状態ｋを指示する最小スリップ状態ＭＩＮ
ＳＬＩＰをデパンクチャー回路２１の設定用スリップ状
態の候補としてスリップ状態決定部５に出力する。
【００４８】ステップＳ６において、スリップ状態決定
部５は、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）
回連続で同一のスリップ状態を指示していない場合、ス
テップＳ１に戻りさらなるスリップ状態１〜Ｎでのエラ
ー測定（エラー数ＥＲＲＯＲ集計処理）を行わせ、Ｍ回
連続で同一のスリップ状態となった場合、ステップＳ７
に移行する。
部５は、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）
回連続で同一のスリップ状態を指示していない場合、ス
テップＳ１に戻りさらなるスリップ状態１〜Ｎでのエラ
ー測定（エラー数ＥＲＲＯＲ集計処理）を行わせ、Ｍ回
連続で同一のスリップ状態となった場合、ステップＳ７
に移行する。
【００４９】ステップＳ７において、スリップ状態決定
部５は、Ｍ回連続して同一のスリップ状態を指示する最
小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰを確定スリッ
プ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして決定してスリップ要
求出力部６に出力する。なお、図４はＭ＝１の場合、す
なわち、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰが即、確定ス
リップ状態ＤＳＬＩＰとなる場合（ステップＳ６が常に
ＹＥＳとなる場合）を示している。
部５は、Ｍ回連続して同一のスリップ状態を指示する最
小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰを確定スリッ
プ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして決定してスリップ要
求出力部６に出力する。なお、図４はＭ＝１の場合、す
なわち、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰが即、確定ス
リップ状態ＤＳＬＩＰとなる場合（ステップＳ６が常に
ＹＥＳとなる場合）を示している。
【００５０】そして、ステップＳ８において、スリップ
要求出力部６は、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを受ける
と、スリップ状態制御部１より受ける現状スリップ状態
ＮＯＷＳＬＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとが指示
するスリップ状態が一致するまでは、スリップ状態の変
更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを
維持し、一致すると信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを、
スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”に立ち下げる。な
お、図４は、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰがスリップ状
態２を指示する場合を示しており、時刻ｔ２で信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが“Ｌ”に立ち下がり、デパンク
チャー回路２１はスリップ状態２で固定される。
要求出力部６は、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを受ける
と、スリップ状態制御部１より受ける現状スリップ状態
ＮＯＷＳＬＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとが指示
するスリップ状態が一致するまでは、スリップ状態の変
更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを
維持し、一致すると信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを、
スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”に立ち下げる。な
お、図４は、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰがスリップ状
態２を指示する場合を示しており、時刻ｔ２で信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが“Ｌ”に立ち下がり、デパンク
チャー回路２１はスリップ状態２で固定される。
【００５１】このように、実施の形態２のビタビ復号装
置は、ビット同期制御回路１０を活性状態にすると、確
定スリップ状態ＤＳＬＩＰが指示する、Ｍ回連続して最
もエラー数が少なかったスリップ状態にデパンクチャー
回路２１のスリップ状態を設定する。
置は、ビット同期制御回路１０を活性状態にすると、確
定スリップ状態ＤＳＬＩＰが指示する、Ｍ回連続して最
もエラー数が少なかったスリップ状態にデパンクチャー
回路２１のスリップ状態を設定する。
【００５２】その結果、実施の形態１のビタビ復号装置
は、従来のように現在のスリップ状態の復号誤り数と閾
値数との絶対比較ではなく、全てのスリップ状態間のエ
ラー数の相対関係によってデパンクチャー回路２１のス
リップ状態を設定するため、畳み込み符号ＣＣの伝送路
に混入するノイズの度合いに関係なく、デパンクチャー
回路２１は常に正確なスリップ状態で畳み込み符号ＣＣ
の入力に同期することができる。
は、従来のように現在のスリップ状態の復号誤り数と閾
値数との絶対比較ではなく、全てのスリップ状態間のエ
ラー数の相対関係によってデパンクチャー回路２１のス
リップ状態を設定するため、畳み込み符号ＣＣの伝送路
に混入するノイズの度合いに関係なく、デパンクチャー
回路２１は常に正確なスリップ状態で畳み込み符号ＣＣ
の入力に同期することができる。
【００５３】加えて、全てのスリップ状態間のエラー数
の相対関係によってデパンクチャー回路２１のスリップ
状態を設定することにより、測定時間ＴＥＲも従来の１
／１００程度に抑えることができ、スリップ状態の数
Ｎ、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの連続数Ｍ（Ｎ・
Ｍ＜１００は十分に可能）を考慮しても、従来よりも早
期にデパンクチャー回路２１のスリップ状態を設定する
ことができる。
の相対関係によってデパンクチャー回路２１のスリップ
状態を設定することにより、測定時間ＴＥＲも従来の１
／１００程度に抑えることができ、スリップ状態の数
Ｎ、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの連続数Ｍ（Ｎ・
Ｍ＜１００は十分に可能）を考慮しても、従来よりも早
期にデパンクチャー回路２１のスリップ状態を設定する
ことができる。
【００５４】また、レジスタ群２に全てのスリップ状態
のエラー数を格納することにより、比較器４による一回
の相対比較処理によって、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰを求めることができる。
のエラー数を格納することにより、比較器４による一回
の相対比較処理によって、最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰを求めることができる。
【００５５】さらに、スリップ位置決定回路５は、最小
スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）回連続して同
一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰの指示するスリップ状態を確定スリップ
状態ＤＳＬＩＰとして決定するため、Ｍの大きさに比例
して信頼性の高い確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを決定す
ることにより、実施の形態１のビタビ復号装置は、さら
に一層正確に畳み込み符号ＣＣの入力に同期することが
できる。
スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）回連続して同
一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰの指示するスリップ状態を確定スリップ
状態ＤＳＬＩＰとして決定するため、Ｍの大きさに比例
して信頼性の高い確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを決定す
ることにより、実施の形態１のビタビ復号装置は、さら
に一層正確に畳み込み符号ＣＣの入力に同期することが
できる。
【００５６】＜＜実施の形態２＞＞ ＜内部構成＞図５は、この発明の実施の形態２であるビ
タビ復号装置のビット同期制御回路２０の内部構成を示
すブロック図である。なお、全体構成は図１で示した実
施の形態１の全体構成と同様であり、ビット同期制御回
路１０にビット同期制御回路２０が置き代わるだけであ
る。
タビ復号装置のビット同期制御回路２０の内部構成を示
すブロック図である。なお、全体構成は図１で示した実
施の形態１の全体構成と同様であり、ビット同期制御回
路１０にビット同期制御回路２０が置き代わるだけであ
る。
【００５７】したがって、ビット同期制御回路２０は、
ビット同期制御回路１０同様、外部からの制御信号ＳＴ
により活性／非活性が制御され、Ｎビットカウンタ２８
からエラー数ＥＲＲＯＲを受け、スリップ状態の変更／
固定を指示する信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパン
クチャー回路２１に出力するとともに、Ｎビットカウン
タ２８の初期化を指示用のリセット信号ＳＲを出力す
る。また、ビット同期制御回路２０は、ビット同期制御
回路１０と同様、非活性状態時には常にスリップ状態を
固定することを指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱ
ＵＥＳＴを出力する。
ビット同期制御回路１０同様、外部からの制御信号ＳＴ
により活性／非活性が制御され、Ｎビットカウンタ２８
からエラー数ＥＲＲＯＲを受け、スリップ状態の変更／
固定を指示する信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴをデパン
クチャー回路２１に出力するとともに、Ｎビットカウン
タ２８の初期化を指示用のリセット信号ＳＲを出力す
る。また、ビット同期制御回路２０は、ビット同期制御
回路１０と同様、非活性状態時には常にスリップ状態を
固定することを指示する“Ｌ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱ
ＵＥＳＴを出力する。
【００５８】スリップ状態制御部１１は内部にタイマ
（図示せず）を有し、活性状態を指示する制御信号ＳＴ
を受けると活性状態となり所定の初期状態から起動し、
測定時間ＴＥＲごとに変更されるスリップ状態に基づ
き、現在のスリップ状態を指示するＮＯＷＳＬＩＰをス
リップ要求出力部１６に出力する。また、スリップ状態
制御部１１は、活性状態時にスリップ状態の変更に同期
して、比較器１２を活性状態とする比較起動信号ＣＭＰ
２を出力するとともに初期化を指示するリセット信号Ｓ
ＲをＮビットカウンタ２８に出力する。さらに、スリッ
プ状態制御部１１は、すべてのスリップ状態におけるエ
ラー数ＥＲＲＯＲの測定が終了した時点で、最小スリッ
プ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示するタイミング制御
信号ＣＨＫをタイミングレジスタ１４に出力する。
（図示せず）を有し、活性状態を指示する制御信号ＳＴ
を受けると活性状態となり所定の初期状態から起動し、
測定時間ＴＥＲごとに変更されるスリップ状態に基づ
き、現在のスリップ状態を指示するＮＯＷＳＬＩＰをス
リップ要求出力部１６に出力する。また、スリップ状態
制御部１１は、活性状態時にスリップ状態の変更に同期
して、比較器１２を活性状態とする比較起動信号ＣＭＰ
２を出力するとともに初期化を指示するリセット信号Ｓ
ＲをＮビットカウンタ２８に出力する。さらに、スリッ
プ状態制御部１１は、すべてのスリップ状態におけるエ
ラー数ＥＲＲＯＲの測定が終了した時点で、最小スリッ
プ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示するタイミング制御
信号ＣＨＫをタイミングレジスタ１４に出力する。
【００５９】比較用レジスタ１３は、比較用エラー数Ｒ
ＭＥと比較用スリップ状態の情報ＲＭＳとを格納してお
り、比較用エラー数ＲＭＥを比較器１２に出力するとと
もに、比較用スリップ状態の情報ＲＭＳをタイミングレ
ジスタ１４に出力する。なお、比較用レジスタ１３はタ
イミングレジスタ１４より初期化信号を受けると比較用
エラー数ＲＭＥ及び比較用スリップ状態ＲＭＳを初期化
する。
ＭＥと比較用スリップ状態の情報ＲＭＳとを格納してお
り、比較用エラー数ＲＭＥを比較器１２に出力するとと
もに、比較用スリップ状態の情報ＲＭＳをタイミングレ
ジスタ１４に出力する。なお、比較用レジスタ１３はタ
イミングレジスタ１４より初期化信号を受けると比較用
エラー数ＲＭＥ及び比較用スリップ状態ＲＭＳを初期化
する。
【００６０】比較器１２は、活性状態を指示する比較起
動信号ＣＭＰ２を受けると活性状態となり、現在受けて
いるエラー数ＥＲＲＯＲと比較用レジスタ１３に格納さ
れた比較用エラー数とを比較して、現在受けているエラ
ー数ＥＲＲＯＲの方が小さい場合に、そのエラー数ＥＲ
ＲＯＲを新たな比較用エラーとして比較用レジスタ１３
に格納内容を更新するとともに、現状スリップ状態（の
情報）ＮＯＷＳＬＩＰを比較用スリップ状態の情報とし
て比較用レジスタ１３の格納内容を更新する。
動信号ＣＭＰ２を受けると活性状態となり、現在受けて
いるエラー数ＥＲＲＯＲと比較用レジスタ１３に格納さ
れた比較用エラー数とを比較して、現在受けているエラ
ー数ＥＲＲＯＲの方が小さい場合に、そのエラー数ＥＲ
ＲＯＲを新たな比較用エラーとして比較用レジスタ１３
に格納内容を更新するとともに、現状スリップ状態（の
情報）ＮＯＷＳＬＩＰを比較用スリップ状態の情報とし
て比較用レジスタ１３の格納内容を更新する。
【００６１】タイミングレジスタ１４は、比較用スリッ
プ状態の情報ＲＭＳを格納し、タイミング制御信号ＣＨ
Ｋが最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示した
時、格納した比較用スリップ状態の情報ＲＭＳを最小ス
リップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ要
求出力部１６に出力する。そして、比較用レジスタ１３
に初期化信号を出力する。最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰがデパンクチャー回路２１に設定されるスリップ状
態の候補となる。
プ状態の情報ＲＭＳを格納し、タイミング制御信号ＣＨ
Ｋが最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示した
時、格納した比較用スリップ状態の情報ＲＭＳを最小ス
リップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ要
求出力部１６に出力する。そして、比較用レジスタ１３
に初期化信号を出力する。最小スリップ状態ＭＩＮＳＬ
ＩＰがデパンクチャー回路２１に設定されるスリップ状
態の候補となる。
【００６２】スリップ状態決定部１５は、最小スリップ
状態ＭＩＮＳＬＩＰを受け、最小スリップ状態ＭＩＮＳ
ＬＩＰがＭ（≧１）回以上連続して同一のスリップ状態
を指示した場合に、最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮ
ＳＬＩＰを確定スリップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとし
て決定する。
状態ＭＩＮＳＬＩＰを受け、最小スリップ状態ＭＩＮＳ
ＬＩＰがＭ（≧１）回以上連続して同一のスリップ状態
を指示した場合に、最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮ
ＳＬＩＰを確定スリップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとし
て決定する。
【００６３】スリップ要求出力部１６は活性状態を指示
する制御信号ＳＴを受けると活性状態となり、スリップ
状態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵ
ＥＳＴを出力し始める。なお、スリップ要求出力部１６
は非活性状態を指示する制御信号ＳＴを受ける非活性状
態時には常にスリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信
号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。また、“Ｈ”
の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが出力されると所定の
スリップ周期ごとにデパンクチャー回路２１のスリップ
状態が変化する。本実施の形態ではスリップ周期と測定
時間ＴＥＲとが同一に設定される。
する制御信号ＳＴを受けると活性状態となり、スリップ
状態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵ
ＥＳＴを出力し始める。なお、スリップ要求出力部１６
は非活性状態を指示する制御信号ＳＴを受ける非活性状
態時には常にスリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信
号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。また、“Ｈ”
の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが出力されると所定の
スリップ周期ごとにデパンクチャー回路２１のスリップ
状態が変化する。本実施の形態ではスリップ周期と測定
時間ＴＥＲとが同一に設定される。
【００６４】スリップ要求出力部１６は、確定スリップ
状態ＤＳＬＩＰを受けると、現状スリップ状態ＮＯＷＳ
ＬＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとの指示するスリ
ップ状態が一致するまで、スリップ状態の変更を指示す
る“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、そ
の後、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
状態ＤＳＬＩＰを受けると、現状スリップ状態ＮＯＷＳ
ＬＩＰと確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとの指示するスリ
ップ状態が一致するまで、スリップ状態の変更を指示す
る“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、そ
の後、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”の信号ＳＬ
ＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴを出力する。
【００６５】＜動作＞図６は図５で示したビット同期制
御回路２０の動作を示すフローチャートである。図７は
ビット同期制御回路２０の動作を示すタイミング図であ
る。以下、これらの図を参照して、ビット同期制御回路
２０の活性状態時の動作について説明する。
御回路２０の動作を示すフローチャートである。図７は
ビット同期制御回路２０の動作を示すタイミング図であ
る。以下、これらの図を参照して、ビット同期制御回路
２０の活性状態時の動作について説明する。
【００６６】まず、ステップＳ１１で、スリップ状態制
御部１１は、スリップ状態識別用の識別番号Ｉを“１”
に初期設定し、リセット信号ＳＲによりＮビットカウン
タ２８を初期化するとともに、スリップ状態１を指示す
る現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰと比較器１２の活性
状態を指示する比較起動信号ＣＭＰ２とを比較器１２に
出力する。このとき、スリップ状態制御部１１は現状ス
リップ状態ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部１６に
も出力している。
御部１１は、スリップ状態識別用の識別番号Ｉを“１”
に初期設定し、リセット信号ＳＲによりＮビットカウン
タ２８を初期化するとともに、スリップ状態１を指示す
る現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰと比較器１２の活性
状態を指示する比較起動信号ＣＭＰ２とを比較器１２に
出力する。このとき、スリップ状態制御部１１は現状ス
リップ状態ＮＯＷＳＬＩＰをスリップ要求出力部１６に
も出力している。
【００６７】ステップＳ１２において、比較器１２は現
在のエラー数ＥＲＲＯＲと比較用エラー数ＲＭＥとを比
較して、エラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥよ
り小さい場合に、ステップＳ１３でスリップ状態１を比
較用スリップ状態の情報ＲＭＳ、スリップ状態１のエラ
ー数ＥＲＲＯＲを比較用エラー数ＲＭＥとして比較用レ
ジスタ１３の格納内容を更新する。ただし、比較用レジ
スタ１３の初期化時の比較用エラー数ＲＭＥを十分大き
く設定しておくことにより、ステップ状態１の場合は無
条件でそのエラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥ
となり、ステップ状態１を指示する比較用スリップ状態
ＲＭＳとなる。
在のエラー数ＥＲＲＯＲと比較用エラー数ＲＭＥとを比
較して、エラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥよ
り小さい場合に、ステップＳ１３でスリップ状態１を比
較用スリップ状態の情報ＲＭＳ、スリップ状態１のエラ
ー数ＥＲＲＯＲを比較用エラー数ＲＭＥとして比較用レ
ジスタ１３の格納内容を更新する。ただし、比較用レジ
スタ１３の初期化時の比較用エラー数ＲＭＥを十分大き
く設定しておくことにより、ステップ状態１の場合は無
条件でそのエラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥ
となり、ステップ状態１を指示する比較用スリップ状態
ＲＭＳとなる。
【００６８】ステップＳ１４においてＩ＝Ｎでないた
め、ステップＳ１５で、スリップ状態制御部１１は識別
番号Ｉを“２”（Ｉ＋１）にインクリメントし、リセッ
ト信号ＳＲによりＮビットカウンタ２８を初期化すると
ともに、スリップ状態２を指示する現状スリップ状態Ｎ
ＯＷＳＬＩＰと比較器１２の活性状態を指示する比較起
動信号ＣＭＰ２とを比較器１２に出力する。このとき、
スリップ状態制御部１１は現状スリップ状態ＮＯＷＳＬ
ＩＰをスリップ要求出力部１６にも出力している。
め、ステップＳ１５で、スリップ状態制御部１１は識別
番号Ｉを“２”（Ｉ＋１）にインクリメントし、リセッ
ト信号ＳＲによりＮビットカウンタ２８を初期化すると
ともに、スリップ状態２を指示する現状スリップ状態Ｎ
ＯＷＳＬＩＰと比較器１２の活性状態を指示する比較起
動信号ＣＭＰ２とを比較器１２に出力する。このとき、
スリップ状態制御部１１は現状スリップ状態ＮＯＷＳＬ
ＩＰをスリップ要求出力部１６にも出力している。
【００６９】再び、ステップＳ１２において、比較器１
２は現在のエラー数ＥＲＲＯＲと比較用エラー数ＲＭＥ
とを比較して、エラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数Ｒ
ＭＥより小さい場合に、ステップＳ１３で、スリップ状
態１を比較用スリップ状態の情報ＲＭＳ、スリップ状態
２のエラー数ＥＲＲＯＲを比較用エラー数ＲＭＥとして
比較用レジスタ１３に格納する。なお、ステップＳ１２
でエラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥより小さ
くない場合はステップＳ１３を飛ばしてステップＳ１４
に移行する。
２は現在のエラー数ＥＲＲＯＲと比較用エラー数ＲＭＥ
とを比較して、エラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数Ｒ
ＭＥより小さい場合に、ステップＳ１３で、スリップ状
態１を比較用スリップ状態の情報ＲＭＳ、スリップ状態
２のエラー数ＥＲＲＯＲを比較用エラー数ＲＭＥとして
比較用レジスタ１３に格納する。なお、ステップＳ１２
でエラー数ＥＲＲＯＲが比較用エラー数ＲＭＥより小さ
くない場合はステップＳ１３を飛ばしてステップＳ１４
に移行する。
【００７０】以降、識別番号ＩがＮに達するまで、ステ
ップＳ１２〜Ｓ１５の処理が繰り返され、識別番号Ｉが
Ｎに達するとステップＳ１６に移行する。このとき、比
較用レジスタ１３及びタイミングレジスタ１４には、エ
ラー数ＥＲＲＯＲが最小であったスリップ状態ｋ（ｋ＝
１〜Ｎのいずれか）及びそのエラー数ＥＲＲＯＲがそれ
ぞれ比較用スリップ状態の情報ＲＭＳ及び比較用エラー
数ＲＭＥとして自動的に格納され、比較用レジスタ１３
の比較用スリップ状態の情報ＲＭＳがタイミングレジス
タ１４にも格納される。
ップＳ１２〜Ｓ１５の処理が繰り返され、識別番号Ｉが
Ｎに達するとステップＳ１６に移行する。このとき、比
較用レジスタ１３及びタイミングレジスタ１４には、エ
ラー数ＥＲＲＯＲが最小であったスリップ状態ｋ（ｋ＝
１〜Ｎのいずれか）及びそのエラー数ＥＲＲＯＲがそれ
ぞれ比較用スリップ状態の情報ＲＭＳ及び比較用エラー
数ＲＭＥとして自動的に格納され、比較用レジスタ１３
の比較用スリップ状態の情報ＲＭＳがタイミングレジス
タ１４にも格納される。
【００７１】ステップＳ１６において、スリップ状態制
御部１１より最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を
指示するタイミング制御信号ＣＨＫを受けた（図７の時
刻ｔ１１）タイミングレジスタ１４は、格納した比較用
スリップ状態の情報ＲＭＳを最小スリップ状態（の情
報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ状態決定部１５に出
力し、比較用レジスタ１３を初期化する。
御部１１より最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を
指示するタイミング制御信号ＣＨＫを受けた（図７の時
刻ｔ１１）タイミングレジスタ１４は、格納した比較用
スリップ状態の情報ＲＭＳを最小スリップ状態（の情
報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ状態決定部１５に出
力し、比較用レジスタ１３を初期化する。
【００７２】ステップＳ１７において、スリップ状態決
定部１５は、デパンクチャー回路２１の設定用スリップ
状態の候補である最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ
（≧１）回連続で同一のスリップ状態を指示しない場
合、ステップＳ１１に戻りさらなるスリップ状態１〜Ｎ
でのエラー測定（エラー数ＥＲＲＯＲ集計処理）を行わ
せ、Ｍ回連続で同一のスリップ状態となった場合、ステ
ップＳ１７に移行する。
定部１５は、デパンクチャー回路２１の設定用スリップ
状態の候補である最小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ
（≧１）回連続で同一のスリップ状態を指示しない場
合、ステップＳ１１に戻りさらなるスリップ状態１〜Ｎ
でのエラー測定（エラー数ＥＲＲＯＲ集計処理）を行わ
せ、Ｍ回連続で同一のスリップ状態となった場合、ステ
ップＳ１７に移行する。
【００７３】ステップＳ１８において、スリップ状態決
定部１５は、Ｍ回連続して同一のスリップ状態を指示し
た最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰを確定ス
リップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして決定する。な
お、図７はＭ＝１の場合、すなわち、最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰが即、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとな
る場合（ステップＳ１７が常にＹＥＳとなる場合）を示
している。
定部１５は、Ｍ回連続して同一のスリップ状態を指示し
た最小スリップ状態（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰを確定ス
リップ状態（の情報）ＤＳＬＩＰとして決定する。な
お、図７はＭ＝１の場合、すなわち、最小スリップ状態
ＭＩＮＳＬＩＰが即、確定スリップ状態ＤＳＬＩＰとな
る場合（ステップＳ１７が常にＹＥＳとなる場合）を示
している。
【００７４】そして、ステップＳ１９において、スリッ
プ要求出力部１６は、スリップ状態制御部１１より受け
る現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰと確定スリップ状態
ＤＳＬＩＰとが指示するスリップ状態が一致するまで、
スリップ状態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−
ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、一致すると信号ＳＬＩＰ−Ｒ
ＥＱＵＥＳＴを、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”
に立ち下げる。なお、図７は、確定スリップ状態ＤＳＬ
ＩＰがスリップ状態２を指示する場合を示しており、時
刻ｔ１２で信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが“Ｌ”に立
ち下がり、デパンクチャー回路２１はスリップ状態２で
固定される。
プ要求出力部１６は、スリップ状態制御部１１より受け
る現状スリップ状態ＮＯＷＳＬＩＰと確定スリップ状態
ＤＳＬＩＰとが指示するスリップ状態が一致するまで、
スリップ状態の変更を指示する“Ｈ”の信号ＳＬＩＰ−
ＲＥＱＵＥＳＴを維持し、一致すると信号ＳＬＩＰ−Ｒ
ＥＱＵＥＳＴを、スリップ状態の固定を指示する“Ｌ”
に立ち下げる。なお、図７は、確定スリップ状態ＤＳＬ
ＩＰがスリップ状態２を指示する場合を示しており、時
刻ｔ１２で信号ＳＬＩＰ−ＲＥＱＵＥＳＴが“Ｌ”に立
ち下がり、デパンクチャー回路２１はスリップ状態２で
固定される。
【００７５】このように、実施の形態２のビタビ復号装
置は、ビット同期制御回路２０を活性状態にすると、確
定スリップ状態が指示する、ＤＳＬＩＰＭ回連続して最
もエラー数が少なかったスリップ状態にデパンクチャー
回路２１のスリップ状態を設定する。
置は、ビット同期制御回路２０を活性状態にすると、確
定スリップ状態が指示する、ＤＳＬＩＰＭ回連続して最
もエラー数が少なかったスリップ状態にデパンクチャー
回路２１のスリップ状態を設定する。
【００７６】その結果、実施の形態２のビタビ復号装置
は、従来のように現在のスリップ状態の復号誤り数と閾
値数との絶対比較ではなく、全てのスリップ状態間のエ
ラー数の相対関係によってデパンクチャー回路２１のス
リップ状態を設定するため、伝送路に混入するノイズの
度合いに関係なく、デパンクチャー回路２１は常に正確
なスリップ状態で畳み込み符号ＣＣの入力に同期するこ
とができる。加えて、実施の形態２と同様、従来よりも
早期にデパンクチャー回路２１のスリップ状態を設定す
ることができる。
は、従来のように現在のスリップ状態の復号誤り数と閾
値数との絶対比較ではなく、全てのスリップ状態間のエ
ラー数の相対関係によってデパンクチャー回路２１のス
リップ状態を設定するため、伝送路に混入するノイズの
度合いに関係なく、デパンクチャー回路２１は常に正確
なスリップ状態で畳み込み符号ＣＣの入力に同期するこ
とができる。加えて、実施の形態２と同様、従来よりも
早期にデパンクチャー回路２１のスリップ状態を設定す
ることができる。
【００７７】加えて、比較用レジスタ１３は、１組の比
較用誤り数ＲＭＥと比較用スリップ状態の情報ＲＭＳと
が格納可能な容量があれば十分である。
較用誤り数ＲＭＥと比較用スリップ状態の情報ＲＭＳと
が格納可能な容量があれば十分である。
【００７８】さらに、スリップ位置決定回路１５は、最
小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）回連続して
同一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリップ状
態ＭＩＮＳＬＩＰの指示するスリップ状態を確定スリッ
プ状態ＤＳＬＩＰとして決定するため、Ｍの大きさに比
例して信頼性の高い確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを決定
することにより、実施の形態２のビタビ復号装置は、さ
らに一層正確に畳み込み符号ＣＣの入力に同期すること
ができる。
小スリップ状態ＭＩＮＳＬＩＰがＭ（≧１）回連続して
同一のスリップ状態を指示する場合に、最小スリップ状
態ＭＩＮＳＬＩＰの指示するスリップ状態を確定スリッ
プ状態ＤＳＬＩＰとして決定するため、Ｍの大きさに比
例して信頼性の高い確定スリップ状態ＤＳＬＩＰを決定
することにより、実施の形態２のビタビ復号装置は、さ
らに一層正確に畳み込み符号ＣＣの入力に同期すること
ができる。
【００７９】＜変形例＞図５で示したビット同期制御回
路２０に置き換えて図８のビット同期制御回路３０を用
いても良い。以下、図５の構成と異なる点のみ述べる。
路２０に置き換えて図８のビット同期制御回路３０を用
いても良い。以下、図５の構成と異なる点のみ述べる。
【００８０】比較用レジスタ１７は、タイミング制御信
号ＣＨＫを受け、タイミング制御信号ＣＨＫが最小スリ
ップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示する時、格納した
比較用スリップ状態の情報ＲＭＳを最小スリップ状態
（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ状態決定部１
５に出力した後、比較用エラー数ＲＭＥ及び比較用スリ
ップ状態ＲＭＳを初期化する。
号ＣＨＫを受け、タイミング制御信号ＣＨＫが最小スリ
ップ状態ＭＩＮＳＬＩＰの出力を指示する時、格納した
比較用スリップ状態の情報ＲＭＳを最小スリップ状態
（の情報）ＭＩＮＳＬＩＰとしてスリップ状態決定部１
５に出力した後、比較用エラー数ＲＭＥ及び比較用スリ
ップ状態ＲＭＳを初期化する。
【００８１】なお、比較用レジスタ１７の他の動作は図
５で示した比較用レジスタ１３と同様である。このよう
に構成することにより、タイミングレジスタ１４を省略
することができる。
５で示した比較用レジスタ１３と同様である。このよう
に構成することにより、タイミングレジスタ１４を省略
することができる。
【００８２】
【発明の効果】以上説明したように、この発明における
請求項１記載のビタビ復号装置におけるスリップ状態設
定手段は、従来のように復号誤り数と閾値数との絶対比
較ではなく、複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数
の相対比較に基づき、設定用スリップ状態を設定するた
め、畳み込み符号の伝送路に混入するノイズの度合いに
関係なく畳み込み符号の入力に正確に同期することがで
きる。
請求項１記載のビタビ復号装置におけるスリップ状態設
定手段は、従来のように復号誤り数と閾値数との絶対比
較ではなく、複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数
の相対比較に基づき、設定用スリップ状態を設定するた
め、畳み込み符号の伝送路に混入するノイズの度合いに
関係なく畳み込み符号の入力に正確に同期することがで
きる。
【００８３】加えて、複数のスリップ状態それぞれの復
号誤り数の相対比較に基づき設定用スリップ状態を設定
することにより、所定期間を従来より大幅に短縮するこ
とができるため、従来よりも早期に設定用スリップ状態
を決定することができる。
号誤り数の相対比較に基づき設定用スリップ状態を設定
することにより、所定期間を従来より大幅に短縮するこ
とができるため、従来よりも早期に設定用スリップ状態
を決定することができる。
【００８４】また、請求項２記載のビタビ復号装置にお
けるスリップ状態設定手段は、記憶部に記憶された複数
のスリップ状態それぞれの復号誤り数を相対比較して最
小の復号誤り数に対応するスリップ状態を指示する情報
を最小スリップ状態の情報として出力する比較部と、最
小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ状態を決
定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
けるスリップ状態設定手段は、記憶部に記憶された複数
のスリップ状態それぞれの復号誤り数を相対比較して最
小の復号誤り数に対応するスリップ状態を指示する情報
を最小スリップ状態の情報として出力する比較部と、最
小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ状態を決
定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
【００８５】したがって、請求項２記載のビタビ復号装
置は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ
状態を決定することにより、複数のスリップ状態のうち
最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用スリップ
状態の候補となるため、より正確に畳み込み符号の入力
に同期することができる。
置は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ
状態を決定することにより、複数のスリップ状態のうち
最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用スリップ
状態の候補となるため、より正確に畳み込み符号の入力
に同期することができる。
【００８６】また、請求項２記載のビタビ復号装置は、
記憶部に全てのスリップ状態の復号誤り数を格納するこ
とにより、比較部による一回の相対比較処理によって、
最小スリップ状態の情報を求めることができる。
記憶部に全てのスリップ状態の復号誤り数を格納するこ
とにより、比較部による一回の相対比較処理によって、
最小スリップ状態の情報を求めることができる。
【００８７】請求項３記載のビタビ復号装置におけるス
リップ状態設定手段は、複数のスリップ状態それぞれの
復号誤り数を順次受け、比較用記憶部に記憶された比較
用誤り数と比較し、復号誤り数が比較用誤り数より小さ
い場合に、当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示
する情報を新たな比較用誤り数及び比較用スリップ状態
の情報として、比較用記憶部の格納内容を更新する比較
部と、誤り数算出終了情報に基づき複数のスリップ状態
全ての復号誤り数の算出終了時に、比較用記憶部に最終
的に記憶された比較用スリップ状態の情報を最小スリッ
プ状態の情報として出力する最小スリップ状態出力部
と、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ状
態を決定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
リップ状態設定手段は、複数のスリップ状態それぞれの
復号誤り数を順次受け、比較用記憶部に記憶された比較
用誤り数と比較し、復号誤り数が比較用誤り数より小さ
い場合に、当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示
する情報を新たな比較用誤り数及び比較用スリップ状態
の情報として、比較用記憶部の格納内容を更新する比較
部と、誤り数算出終了情報に基づき複数のスリップ状態
全ての復号誤り数の算出終了時に、比較用記憶部に最終
的に記憶された比較用スリップ状態の情報を最小スリッ
プ状態の情報として出力する最小スリップ状態出力部
と、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ状
態を決定するスリップ状態決定部とを含んでいる。
【００８８】したがって、請求項３記載のビタビ復号装
置は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ
状態を決定することにより、複数のスリップ状態のうち
最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用スリップ
状態の候補となるため、より正確に畳み込み符号の入力
に同期することができる。
置は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリップ
状態を決定することにより、複数のスリップ状態のうち
最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用スリップ
状態の候補となるため、より正確に畳み込み符号の入力
に同期することができる。
【００８９】加えて、比較用記憶部は、１組の比較用誤
り数と比較用スリップ状態の情報とが格納可能な容量が
あれば十分である。
り数と比較用スリップ状態の情報とが格納可能な容量が
あれば十分である。
【００９０】さらに、請求項４記載のビタビ復号装置の
スリップ状態決定部は、最小スリップ状態の情報がＭ
（≧１）回連続して同一のスリップ状態を指示する場合
に、最小スリップ状態の指示するスリップ状態を設定用
スリップ状態として決定するため、Ｍの大きさに比例し
て信頼性の高い設定用スリップ状態を決定することによ
り、さらに一層正確に畳み込み符号の入力に同期するこ
とができる。
スリップ状態決定部は、最小スリップ状態の情報がＭ
（≧１）回連続して同一のスリップ状態を指示する場合
に、最小スリップ状態の指示するスリップ状態を設定用
スリップ状態として決定するため、Ｍの大きさに比例し
て信頼性の高い設定用スリップ状態を決定することによ
り、さらに一層正確に畳み込み符号の入力に同期するこ
とができる。
【００９１】この発明における請求項５記載のビタビ復
号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法
のステップ(b)は、従来のように復号誤り数と閾値数と
の絶対比較ではなく、複数のスリップ状態それぞれの復
号誤り数の相対比較に基づき、設定用スリップ状態を設
定するため、畳み込み符号の伝送路に混入するノイズの
度合いに関係なく畳み込み符号の入力に正確に同期する
ことができる。
号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法
のステップ(b)は、従来のように復号誤り数と閾値数と
の絶対比較ではなく、複数のスリップ状態それぞれの復
号誤り数の相対比較に基づき、設定用スリップ状態を設
定するため、畳み込み符号の伝送路に混入するノイズの
度合いに関係なく畳み込み符号の入力に正確に同期する
ことができる。
【００９２】また、請求項６記載のビタビ復号装置にお
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステップ
(b)は、(b-1)複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数
を相対比較して最小の復号誤り数に対応するスリップ状
態を求めるステップと、(bー2)最小スリップ状態の情報
に基づき設定用スリップ状態を決定するスリップ《Ｓ６
〜Ｓ８》とを含んでいる。
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステップ
(b)は、(b-1)複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数
を相対比較して最小の復号誤り数に対応するスリップ状
態を求めるステップと、(bー2)最小スリップ状態の情報
に基づき設定用スリップ状態を決定するスリップ《Ｓ６
〜Ｓ８》とを含んでいる。
【００９３】したがって、請求項６記載の入力タイミン
グ制御方法は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用
スリップ状態を決定することにより、複数のスリップ状
態のうち最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用
スリップ状態の候補となるため、より正確に畳み込み符
号の入力に同期することができる。
グ制御方法は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用
スリップ状態を決定することにより、複数のスリップ状
態のうち最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用
スリップ状態の候補となるため、より正確に畳み込み符
号の入力に同期することができる。
【００９４】また、請求項７記載のビタビ復号装置にお
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステップ
(a)は(a-1)複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を
順次受け、比較用誤り数と比較して復号誤り数が小さい
場合に当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示する
情報を新たな比較用誤り数及び比較用スリップ状態の情
報とするステップを含み、ステップ(b)は、(b-1)比較用
スリップ状態の情報を最小スリップ状態の情報とするス
テップと、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリ
ップ状態を決定するステップとを含んでいる。
ける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステップ
(a)は(a-1)複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を
順次受け、比較用誤り数と比較して復号誤り数が小さい
場合に当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示する
情報を新たな比較用誤り数及び比較用スリップ状態の情
報とするステップを含み、ステップ(b)は、(b-1)比較用
スリップ状態の情報を最小スリップ状態の情報とするス
テップと、最小スリップ状態の情報に基づき設定用スリ
ップ状態を決定するステップとを含んでいる。
【００９５】したがって、請求項７記載の入力タイミン
グ制御方法は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用
スリップ状態を決定することにより、複数のスリップ状
態のうち最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用
スリップ状態の候補となるため、より正確に畳み込み符
号の入力に同期することができる。
グ制御方法は、最小スリップ状態の情報に基づき設定用
スリップ状態を決定することにより、複数のスリップ状
態のうち最も復号誤り数の少ないスリップ状態が設定用
スリップ状態の候補となるため、より正確に畳み込み符
号の入力に同期することができる。
【００９６】加えて、請求項８記載のビタビ復号装置に
おける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステッ
プ(b-2-1)は、最小スリップ状態の情報がＭ（≧１）回
連続して同一のスリップ状態を指示する場合に、最小ス
リップ状態を指示するスリップ状態を設定用スリップ状
態として決定するため、Ｍの大きさに比例して十分に信
頼性の高い設定用スリップ状態を決定することにより、
さらに一層正確に畳み込み符号の入力に同期することが
できる。
おける畳み込み符号の入力タイミング制御方法のステッ
プ(b-2-1)は、最小スリップ状態の情報がＭ（≧１）回
連続して同一のスリップ状態を指示する場合に、最小ス
リップ状態を指示するスリップ状態を設定用スリップ状
態として決定するため、Ｍの大きさに比例して十分に信
頼性の高い設定用スリップ状態を決定することにより、
さらに一層正確に畳み込み符号の入力に同期することが
できる。
【００９７】この発明における請求項９記載の入力タイ
ミング制御装置のスリップ状態設定手段は、従来のよう
に復号誤り数と閾値数との絶対比較ではなく、複数のス
リップ状態それぞれの復号誤り数の相対比較に基づき、
設定用スリップ状態を設定するため、畳み込み符号の伝
送路に混入するノイズの度合いに関係なくビタビ復号装
置を畳み込み符号の入力に正確に同期させることができ
る。
ミング制御装置のスリップ状態設定手段は、従来のよう
に復号誤り数と閾値数との絶対比較ではなく、複数のス
リップ状態それぞれの復号誤り数の相対比較に基づき、
設定用スリップ状態を設定するため、畳み込み符号の伝
送路に混入するノイズの度合いに関係なくビタビ復号装
置を畳み込み符号の入力に正確に同期させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明の実施の形態１であるビタビ復号装
置の全体構成を示すブロック図である。
置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】 実施の形態１のビット同期制御回路の内部構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図３】 実施の形態１の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図４】 実施の形態１の動作を示すタイミング図であ
る。
る。
【図５】 実施の形態２のビット同期制御回路の内部構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図６】 実施の形態２の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図７】 実施の形態２の動作を示すタイミング図であ
る。
る。
【図８】 実施の形態２のビット同期制御回路の変形例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図９】 従来のビタビ復号装置の全体構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図１０】 畳み込み符号の生成過程を示すブロック図
である。
である。
【図１１】 デパンクチャー処理を示すブロック図であ
る。
る。
【図１２】 デパンクチャー処理を示す説明図である。
１，１１ スリップ状態制御部、２ レジスタ群、３
セレクタ、４，１２比較器、５，１５ スリップ位置決
定部、６，１６ スリップ要求出力部、１０，２０，３
０ ビット同期制御回路、１３，１７ 比較用レジス
タ、１４ タイミングレジスタ、２１ デパンクチャー
回路。
セレクタ、４，１２比較器、５，１５ スリップ位置決
定部、６，１６ スリップ要求出力部、１０，２０，３
０ ビット同期制御回路、１３，１７ 比較用レジス
タ、１４ タイミングレジスタ、２１ デパンクチャー
回路。
Claims (9)
- 【請求項１】 パンクチャー処理が施された畳み込み符
号を設定用スリップ状態に基づく入力タイミングで取り
込み、ビタビ復号法により復号処理を行いビタビ復号デ
ータを出力する復号処理部と、 前記ビタビ復号データの復号誤り数をカウントして出力
するカウント手段と、 活性状態時に、前記復号誤り数に基づき、複数のスリッ
プ状態のうち一のスリップ状態を前記設定用スリップ状
態とする同期制御手段とを備え、 前記同期制御手段は、 所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設定用
スリップ状態として、前記複数のスリップ状態それぞれ
の復号誤り数を前記カウント手段の出力から得るスリッ
プ状態別誤り数算出手段と、 前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数の相対比
較に基づき、前記設定用スリップ状態を設定するスリッ
プ状態設定手段とを備える、ビタビ復号装置。 - 【請求項２】 前記カウント手段は、初期化時からの前
記復号誤り数をカウントし、 前記スリップ別誤り数算出手段は、前記所定時間毎に前
記カウント手段を初期化させるとともに、前記複数のス
リップ状態全ての復号誤り数の算出終了時にその終了を
指示する誤り数算出終了情報を出力する制御手段を含
み、 前記スリップ状態設定手段は、 前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を前記複
数のスリップ状態に対応させて記憶する記憶部と、 前記誤り数算出終了情報が前記複数のスリップ状態全て
の復号誤り数の算出終了を指示する時、前記記憶部に記
憶された前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数
を相対比較して最小の復号誤り数に対応するスリップ状
態を指示する情報を最小スリップ状態の情報として出力
する比較部と、 前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定用スリッ
プ状態を決定するスリップ状態決定部と、 を含む請求項１記載のビタビ復号装置。 - 【請求項３】 前記カウント手段は、初期化時からの前
記復号誤り数をカウントし、 前記スリップ別誤り数算出手段は、前記所定時間毎に前
記カウント手段を初期化させるとともに、前記複数のス
リップ状態全ての復号誤り数の算出終了時にその終了を
指示する誤り数算出終了情報を出力する制御手段を含
み、 前記スリップ状態設定手段は、 比較用スリップ状態の情報と比較用誤り数とを格納する
比較用記憶部と、 前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を順次受
け、前記比較用記憶部に記憶された前記比較用誤り数と
比較し、前記復号誤り数が前記比較用誤り数より小さい
場合に、当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示す
る情報を新たな前記比較用誤り数及び前記比較用スリッ
プ状態の情報として、前記比較用記憶部の格納内容を更
新する比較部と、 前記誤り数算出終了情報が前記複数のスリップ状態全て
の復号誤り数の算出終了を指示する時、前記比較用記憶
部に最終的に記憶された前記比較用スリップ状態の情報
を最小スリップ状態の情報として出力する最小スリップ
状態出力部と、 前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定用スリッ
プ状態を決定するスリップ状態決定部と、を含む請求項
１記載のビタビ復号装置。 - 【請求項４】 前記スリップ状態別誤り数算出手段は、
前記複数のスリップ状態全ての復号誤り数の算出処理を
繰り返し行い、 前記スリップ状態決定部は、前記最小スリップ状態の情
報がＭ（≧１）回連続して同一のスリップ状態を指示す
る場合に、前記最小スリップ状態の指示するスリップ状
態を前記設定用スリップ状態として決定する、請求項２
あるいは請求項３記載のビタビ復号装置。 - 【請求項５】 パンクチャー処理が施された畳み込み符
号を設定用スリップ状態に基づく入力タイミングで取り
込み、ビタビ復号法により復号処理を行いビタビ復号デ
ータを出力する復号処理部と、前記ビタビ復号データの
復号誤り数をカウントする誤りカウント手段とを備え、
前記設定用スリップ状態の候補として複数のスリップ状
態を有するビタビ復号装置における畳み込み符号の入力
タイミング制御方法であって、 (a)所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設
定用スリップ状態として、前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数を得るステップと、 (b)前記ステップ(a)の後、前記複数のスリップ状態それ
ぞれの復号誤り数の相対比較に基づき、前記設定用スリ
ップ状態を設定するステップと、 を備えるビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タ
イミング制御方法。 - 【請求項６】 前記ステップ(a)は、 (a-1)前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を
前記複数のスリップ状態に対応させて記憶部に記憶させ
るステップを含み、 前記ステップ(b)は、 (b-1)前記記憶部より得られる前記複数のスリップ状態
それぞれの復号誤り数を相対比較して最小の復号誤り数
に対応するスリップ状態を指示する最小スリップ状態の
情報を求めるステップと、 (bー2)前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定用
スリップ状態を決定するステップと、を含む請求項５記
載のビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミ
ング制御方法。 - 【請求項７】 前記ステップ(a)は、 (a-1)前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数を
順次受け、比較用誤り数と比較して前記復号誤り数が小
さい場合に当該復号誤り数及びそのスリップ状態を指示
する情報を新たな前記比較用誤り数及び比較用スリップ
状態の情報とするステップを含み、 前記ステップ(b)は、 (b-1)前記ステップ(a)終了後の前記比較用スリップ状態
の情報を最小スリップ状態の情報とするステップと、 (bー2)前記最小スリップ状態の情報に基づき前記設定用
スリップ状態を決定するステップと、を含む請求項５記
載のビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミ
ング制御方法。 - 【請求項８】 前記ステップ(a)及び(b)は繰り返し行わ
れ、 前記ステップ(bー2)は、 (b-2-1)前記ステップ(a)の終了毎に得られる前記最小ス
リップ状態の情報がＭ（≧１）回連続して同一のスリッ
プ状態を指示する場合に、前記最小スリップ状態を指示
するスリップ状態を前記設定用スリップ状態として決定
するステップを含む、請求項６あるいは請求項７記載の
ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング
制御方法。 - 【請求項９】 パンクチャー処理が施された畳み込み符
号をビタビ復号装置が取り込む入力タイミングを制御す
る入力タイミング制御装置であって、前記ビタビ復号装
置は設定用スリップ状態によって前記入力タイミングが
規定され、前記ビタビ復号データの復号誤り数をカウン
トする機能を有し、 所定時間毎に前記複数のスリップ状態を順次前記設定用
スリップ状態とすることにより前記複数のスリップ状態
それぞれの復号誤り数を得るスリップ状態別誤り数算出
手段と、 前記複数のスリップ状態それぞれの復号誤り数の相対比
較に基づき、前記設定用スリップ状態を設定するスリッ
プ状態設定手段と、を備える入力タイミング制御装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9216435A JPH1168584A (ja) | 1997-08-11 | 1997-08-11 | ビタビ復号装置、ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法及び入力タイミング制御装置 |
| US09/001,808 US6094741A (en) | 1997-08-11 | 1997-12-31 | Viterbi decoding apparatus, method for controlling slip state of convolutional code in viterbi decoding apparatus, and slip state control apparatus |
| DE19814901A DE19814901C2 (de) | 1997-08-11 | 1998-04-02 | Viterbi-Dekodiervorrichtung, Verfahren zur Steuerung eines Gleitzustands eines Faltungscodes in einer Viterbi-Dekodiervorrichtung und Gleitzustand-Steuervorrichtung |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9216435A JPH1168584A (ja) | 1997-08-11 | 1997-08-11 | ビタビ復号装置、ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法及び入力タイミング制御装置 |
| US09/001,808 US6094741A (en) | 1997-08-11 | 1997-12-31 | Viterbi decoding apparatus, method for controlling slip state of convolutional code in viterbi decoding apparatus, and slip state control apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1168584A true JPH1168584A (ja) | 1999-03-09 |
Family
ID=26521432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9216435A Pending JPH1168584A (ja) | 1997-08-11 | 1997-08-11 | ビタビ復号装置、ビタビ復号装置における畳み込み符号の入力タイミング制御方法及び入力タイミング制御装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6094741A (ja) |
| JP (1) | JPH1168584A (ja) |
| DE (1) | DE19814901C2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7865812B2 (en) * | 2007-02-16 | 2011-01-04 | Mediatek Inc. | Apparatus and method for determining a detected punctured position in punctured convolutional codes |
| CN101771499B (zh) * | 2009-01-05 | 2012-08-08 | 华为技术有限公司 | 打孔比特集合查找方法、装置以及打孔的方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1276693A (en) * | 1969-06-30 | 1972-06-07 | Riken Vitamin Oil Co Ltd | Process for preparing powders of lipophilic food emulsifiers |
| JP2597872B2 (ja) * | 1988-02-13 | 1997-04-09 | 日本電信電話株式会社 | ブロック同期方式 |
| JPH07114424B2 (ja) * | 1988-04-15 | 1995-12-06 | 日本電信電話株式会社 | 搬送波同期復調装置 |
| US5113400A (en) * | 1990-11-21 | 1992-05-12 | Motorola, Inc. | Error detection system |
| JP2786342B2 (ja) * | 1991-05-10 | 1998-08-13 | 三菱電機株式会社 | ビタビ復号器 |
| JP3203289B2 (ja) * | 1994-03-09 | 2001-08-27 | 株式会社ケンウッド | 並列処理復号器の時系列同期回路 |
| US5745570A (en) * | 1996-04-15 | 1998-04-28 | International Business Machines Corporation | Object-oriented programming environment that provides object encapsulation via encryption |
-
1997
- 1997-08-11 JP JP9216435A patent/JPH1168584A/ja active Pending
- 1997-12-31 US US09/001,808 patent/US6094741A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-02 DE DE19814901A patent/DE19814901C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19814901C2 (de) | 2000-07-06 |
| US6094741A (en) | 2000-07-25 |
| DE19814901A1 (de) | 1999-02-18 |
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