JPH1165103A - ナフタレン含有誘導体フォトレジスト - Google Patents

ナフタレン含有誘導体フォトレジスト

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JPH1165103A
JPH1165103A JP9246577A JP24657797A JPH1165103A JP H1165103 A JPH1165103 A JP H1165103A JP 9246577 A JP9246577 A JP 9246577A JP 24657797 A JP24657797 A JP 24657797A JP H1165103 A JPH1165103 A JP H1165103A
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JP
Japan
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naphthalene
inhibitor
photoresist
containing derivative
resin
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JP9246577A
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English (en)
Inventor
榮豊 ▲ライ▼
Eiho Rai
Hokei Ka
邦慶 何
Shigyoku Rin
紫▲ギョク▼ 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TAIWAN YONGGUANG CHEM IND CO L
TAIWAN YONGGUANG CHEM IND CO Ltd
Industrial Technology Research Institute ITRI
Original Assignee
TAIWAN YONGGUANG CHEM IND CO L
TAIWAN YONGGUANG CHEM IND CO Ltd
Industrial Technology Research Institute ITRI
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 193nmで用いるのに適したフォトレジス
ト組成物を提供する。 【解決手段】 樹脂と、インヒビターとして5〜40重
量%のナフタレン誘導体と、フォト酸発生体とを含むフ
ォトレジスト組成物である。該樹脂は、ポリアクリレー
ト共重合体、ポリカーボネート共重合体、ポリヒドロキ
シスチレン共重合体からなるグループから選ばれ、該ナ
フタレン誘導体は、2つの酸反応活性基を含み、分子量
は1000未満である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はナフタレン含有誘導
体フォトレジスト組成物に関する。より具体的には、本
発明はインヒビター(inhibitor)として二官能ナフタ
レン誘導体を含むフォトレジスト組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】193nm用フォトレジストの進歩にお
いて、今まで未解決のいくつかの問題がなお残ってい
る。その1つは、193nm用フォトレジストのエッチ
ング耐性が製造要件を満たさない点であり、もう1つ
は、市販の現像液の標準濃度である2.38%にまで上
げられない点である。しかしながら、上記の問題は、2
48nm用光レジストの現像のばあいには起きていな
い。
【0003】現像液の濃度の問題は、248nm用フォ
トレジストの現像のばあいには起きない。それは、24
8nm用フォトレジストではフェノール型樹脂が使われ
るのに対して、193nm用光レジストではポリアクリ
レート型樹脂が使われており、フェノール型樹脂の水酸
基の酸性度が、ポリアクリレート型樹脂のカルボキシル
基の酸性度よりもはるかに弱いことによる。この問題を
解決するために、フォトレジストのアルカリ水溶液中へ
の溶解を低速にするよう、特定の溶解インヒビターが添
加される。
【0004】ナフタレンの単体は193nmにおける吸
収値が低いことから、その誘導体は193nm用フォト
レジストの添加剤として使うのに適している。米国特許
第5,310,619号は、フォトレジストの溶解イン
ヒビターとしてナフタレン誘導体を用いること開示して
いる。しかし、そこに開示されたフォトレジストは、
(I):
【0005】
【化8】
【0006】で示されるフェノール型樹脂を使ってお
り、この樹脂は193nmにおける吸収値が高いので、
193nm用フォトレジストの添加剤としての使用には
適切でない。
【0007】SPIE(1995)、2438、445
および日本応用物理学界誌(1994)33巻、702
8頁は、樹脂成分としてアクリル型重合体を含むフォト
レジスト組成物を開示しているが、この組成物は193
nmにおける吸収値が低く、インヒビターとして式(I
I):
【0008】
【化9】
【0009】で示される単官能ナフタレン誘導体を用い
ている。
【0010】しかしながら、式(III):
【0011】
【化10】
【0012】に示すような単純な構造のアクリル型樹脂
は、製造要件を満たさないため、もっと複雑な構造をも
つ様々な樹脂が合成されている。たとえば、SPIE
(1996)、2724、377においては、式(I
V):
【0013】
【化11】
【0014】の共重合体がこの目的で検討されている。
なお、式中、TCDはトリシクロデカンを表わす。
【0015】このような条件では、後ベーキングの過程
で生ずる二酸化炭素やイソブチレンの量は確実に減少
し、フォトレジストの露光部を軟化させる効果は少な
く、その溶解速度は低下する。単官能ナフタレン誘導体
の重量比を上げることによって、このような要求を満た
すことができるが、フォトレジストの光感度はそれによ
り低下するであろう。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
の問題を解決し、193nmで用いるのに適したフォト
レジスト組成物を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、(a)ポリア
クリレート共重合体、ポリカーボネート共重合体、ポリ
ヒドロキシスチレン共重合体よりなる群から選択される
樹脂;(b)該樹脂に対し5〜40重量%の量であっ
て、分子量が1000未満の、式(A):
【0018】
【化12】
【0019】および式(B):
【0020】
【化13】
【0021】(式中、R1、R2およびR3はそれぞれ独
立して、水素、炭素数1〜8の炭化水素、フェニル誘導
体、ベンジル誘導体またはシクロアルキル誘導体であ
る)で示されるナフタレン誘導体よりなる群から選択さ
れるインヒビター、ならびに(c)フォト酸発生体を含
むナフタレン含有誘導体フォトレジストに関する。
【0022】前記樹脂が構造式:
【0023】
【化14】
【0024】(式中、k、l、mおよびnはそれぞれ独
立して整数であり、Rは環状脂肪族ラジカルである)を
有するのが好ましい。
【0025】n/(k+l+m+n)の比が約0.05
〜0.3であるのが好ましい。
【0026】前記インヒビターが構造式(A):
【0027】
【化15】
【0028】(式中、R1、R2およびR3は、前記と同
様に定義される)を有するのが好ましい。
【0029】前記インヒビターが構造式:
【0030】
【化16】
【0031】を有するのが好ましい。
【0032】前記インヒビターがナフタレン−2,7−
二炭酸ジ−t−ブチルであるのが好ましい。
【0033】前記インヒビターがナフタレン−2,6−
二炭酸ジ−t−ブチルであるのが好ましい。
【0034】前記インヒビターがナフタレン−1,5−
二炭酸ジ−t−ブチルであるのが好ましい。
【0035】前記インヒビターが構造式(B):
【0036】
【化17】
【0037】(式中、R1、R2およびR3は、前記と同
様に定義される)を有するのが好ましい。
【0038】前記インヒビターが構造式:
【0039】
【化18】
【0040】を有するのが好ましい。
【0041】前記インヒビターがナフタレン−2,6−
ジカルボン酸ジ−t−ブチルであるのが好ましい。
【0042】前記フォト酸発生体が、ヨードニウム塩、
スルホニウム塩およびヒドロキシイミド誘導体よりなる
群から選択されるのが好ましい。
【0043】本発明はまた、添加物をさらに含む前記ナ
フタレン含有誘導体フォトレジストにも関する。
【0044】
【発明の実施の形態】本発明のフォトレジスト組成物
は、インヒビターとして二官能ナフタレン誘導体を用い
ているので、二酸化炭素やイソブチレンの量は充分であ
り、露光部を軟化させる効果もはるかに大きい。したが
って、インヒビターの重量比を増加させる必要がなく、
光感度の低下が避けられる。
【0045】本発明の1つの側面によれば、溶解インヒ
ビターとして、2つの酸反応活性基を含むナフタレン誘
導体が用いられる。このナフタレン誘導体は、ポリアク
リレート共重合体またはポリカーボネート共重合体と組
み合わせて193nm用のフォトレジストをうることが
でき、また、ポリヒドロキシスチレン共重合体と組み合
わせて248nm用のフォトレジストをうることができ
る。
【0046】本発明の上記目的は、樹脂と、インヒビタ
ーとして二官能ナフタレン誘導体と、そしてフォト酸発
生体とを含むフォトレジスト組成物を提供することによ
り達成される。
【0047】フォトレジスト組成物の各成分について、
より詳しく説明する。
【0048】本発明に用いるのに適した樹脂は、ポリア
クリレート共重合体、ポリカーボネート共重合体、そし
てポリヒドロキシスチレン共重合体を含むが、これに限
定されるものではない。ここで、ポリアクリレート共重
合体とポリカーボネート共重合体は193nm用のフォ
トレジストに用いられ、ポリヒドロキシスチレン共重合
体は248nm用のフォトレジストに用いられる。ポリ
アクリレート共重合体の代表例を下記に示す:
【0049】
【化19】
【0050】(式中、k、l、mおよびnはそれぞれ独
立して整数であり、n/(k+l+m+n)の比は約
0.05〜0.3であり、Rは環状脂肪族ラジカルであ
る)。
【0051】本発明において、インヒビターすなわち二
官能ナフタレン誘導体は、樹脂の重量を基準として5〜
40%の量で存在する。ナフタレン誘導体自体はアルカ
リ水溶液に不溶であるが、2つの酸反応活性基は、酸の
存在下で熱すると(120〜150℃)分解し、その結
果、ナフタレン誘導体がアルカリ水溶液に溶ける化合物
に転化する。ナフタレン誘導体の分子量は1000未満
であり、式(A):
【0052】
【化20】
【0053】および式(B):
【0054】
【化21】
【0055】(式中、R1、R2およびR3はそれぞれ独
立して水素、炭素数1〜8の炭化水素、フェニル誘導
体、ベンジル誘導体またはシクロアルキル誘導体であ
る)で示される化合物ならびにそれらの混合物から選ば
れる。代表的な例としては、ナフタレン−2,7−二炭
酸ジ−t−ブチル(2,7−di−t−butyl n
aphthalenedicarbonate)(a
1)、ナフタレン−1,5−二炭酸ジ−t−ブチル(a
2)、ナフタレン−2,6−二炭酸ジ−t−ブチル(a
3)およびナフタレン−2,6−ジカルボン酸ジ−t−
ブチル(2,6−di−t−butyl naphth
alenedicarboxylate)(b1)があ
げられる:
【0056】
【化22】
【0057】ナフタレン−二炭酸ジ−t−ブチルa1〜
a3は、下記の反応によって合成される:
【0058】
【化23】
【0059】a1〜a3を調製する手順を次に説明す
る。ジヒドロキシナフタレンを、ジクロロメタンと1.
05当量のトリエチルアミンに溶解した後、1.05当
量の二炭酸ジ−t−ブチルを添加する。ついで一晩放置
した後、水で洗って不純物を除く。ジクロロメタンを除
いた後、メタノールの再結晶によりナフタレン−二炭酸
ジ−t−ブチルa1〜a3がえられる。
【0060】ナフタレン−2,6−ジカルボン酸ジ−t
−ブチルb1は、下記の反応によって合成される:
【0061】
【化24】
【0062】b1を調製する手順を以下に説明する。沸
騰しているテトラヒドロフランに、ナフタレン−ジカル
ボン酸を添加して塩化チオニルと反応させる。この反応
を一晩続けて中間体を生成させる。塩化チオニルの過剰
分とテトラヒドロフランを除いた後、追加のテトラヒド
ロフランとカリウム−t−ブトオキシドとを添加して、
所望の生成物b1をうる。
【0063】本発明に用いるのに適したフォト酸発生体
(photoacid generators)には、ヨードニウム塩、スル
ホニウム塩およびヒドロキシイミド誘導体があるが、こ
れらに限定されない。
【0064】必要に応じて、本発明のフォトレジスト組
成物に、その特性を改良するための添加物をさらに含ま
せることができる。
【0065】以下の実施例によって、本発明のプロセス
とその効果をより完全に説明するが、当業者にとって多
くの修正・変形が可能であるから、本発明はこれらに限
定されるものではない。
【0066】
【実施例】
実施例1 以下の手順で共重合体c1、c2、c3およびc4を調
製した。
【0067】テトラヒドロフランの溶液に、ポリメタク
リル酸メチル、ポリメタクリル酸t−ブチルおよびポリ
アクリル酸メチルの各成分を、モル比l:m:nで添加
した後、触媒として0.25〜2重量%のアゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を更に添加した。この反応系の
固形分は、約10〜30%であった。反応混合物を40
〜60℃で8〜24時間加熱した後、n−ヘキサンを添
加して共重合体を析出させた。各成分のモル比を表1に
示す。
【0068】
【化25】
【0069】
【表1】
【0070】実施例2 以下の手順でインヒビターa1、a2およびa3を調製
した。
【0071】10ミリモルのジヒドロキシナフタレン
と、1.05当量のトリエチルアミンとを、100〜2
00mlのジクロロメタンの中に溶解し、充分に攪拌し
た後、1.05当量の二炭酸ジ−t−ブチルをさらに加
えた。ついで、この混合物を一晩放置した後、水で洗っ
て不純物を除いた。ジクロロメタンを除いた後、メタノ
ールの再結晶によりナフタレン−二炭酸ジ−t−ブチル
生成物a1〜a3をえた。
【0072】
【化26】
【0073】インヒビターb1は以下の手順で調製し
た。
【0074】10ミリモルのナフタレン−ジカルボン酸
と、10mlの塩化チオニルとを、50mlのテトラヒ
ドロフランに添加し、この混合物を一晩還流させた。塩
化チオニルの過剰分とテトラヒドロフランを真空下で除
いた後、30mlの追加のテトラヒドロフランと1当量
のカリウム−t−ブトキシドとを更に加えた。これでナ
フタレン−ジカルボン酸ジ−t−ブチルが25%の収率
でえられた。
【0075】
【化27】
【0076】実施例3 固形分が約15〜25%の酢酸2−(1−メトキシ)プ
ロピルを用いて、フォトレジスト組成物を調製した。様
々なフォトレジスト組成物を、シリコンウエハーの上に
スピン塗布した。膜厚は約7000〜8000Åであっ
た。塗布したウエハーを100〜120℃でベークした
後、通常の2.38%の水酸化テトラメチルアンモニウ
ム現像液中に浸漬した。その時の溶解速度を、溶解速度
モニタ(DRM)で測定した。結果を表2に示す。表2に
おいて、インヒビターa1を含むフォトレジスト組成物
の溶解速度が減速されていることが分かる。
【0077】
【表2】
【0078】実施例4 固形分(88%が樹脂c1、10%がインヒビターa
1、そして2%が2−ナフタレンスルホン酸)が約15
〜25%の酢酸2−(1−メトキシ)プロピル溶液を用
いて、フォトレジスト組成物を調製した。このフォトレ
ジスト組成物をシリコンウエハーの上にスピン塗布した
後、表3に示す条件でベークした。その後は実施例3と
同じ方法で溶解速度を測定した。結果を表3に示す。
【0079】
【表3】
【0080】(i):溶解速度の検出不能。 (ii):フォトレジスト組成物のベーキング温度を12
0℃まで上げると、インヒビターの炭酸t−ブチル基は
酸の存在下で分解し、ヒドロキシル基、二酸化炭素およ
びイソブチレンを生ずる。このうちイソブチレンと二酸
化炭素は塗布膜を軟化させ、ヒドロキシル基はアルカリ
水溶液中での溶解を助ける。
【0081】上記各実施例は、インヒビターとして二官
能ナフタレン誘導体を用いることにより、フォトレジス
トの標準の2.38%現像液中での溶解度が下がるこ
と、ならびに、このフォトレジスト組成物は、酸の存在
下で加熱した後アルカリ水溶液に可溶になることが確か
められたことを示している。さらに、二官能インヒビタ
ーを用いるため、インヒビターの重量比を増す必要はな
い。上記の実施例のインヒビターをポリアクリレート共
重合体と併用すると、193nmで用いるのに適したフ
ォトレジストをうるが、これに限定されると考えてはな
らない。このインヒビターは、ポリヒドロキシスチレン
共重合体と併用すれば、248nm用のフォトレジスト
をうることもできる。
【0082】
【発明の効果】本発明によれば、193nmで用いるの
に適したフォトレジスト組成物をうることができる。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)ポリアクリレート共重合体、ポリ
    カーボネート共重合体、ポリヒドロキシスチレン共重合
    体よりなる群から選択される樹脂; (b)該樹脂に対し5〜40重量%の量であって、分子
    量が1000未満の、式(A): 【化1】 および式(B): 【化2】 (式中、R1、R2およびR3はそれぞれ独立して、水
    素、炭素数1〜8の炭化水素、フェニル誘導体、ベンジ
    ル誘導体またはシクロアルキル誘導体である)で示され
    るナフタレン誘導体よりなる群から選択されるインヒビ
    ター、ならびに (c)フォト酸発生体を含むナフタレン含有誘導体フォ
    トレジスト。
  2. 【請求項2】 前記樹脂が構造式: 【化3】 (式中、k、l、mおよびnはそれぞれ独立して整数で
    あり、Rは環状脂肪族ラジカルである)を有する請求項
    1記載のナフタレン含有誘導体フォトレジスト。
  3. 【請求項3】 n/(k+l+m+n)の比が約0.0
    5〜0.3である請求項2記載のナフタレン含有誘導体
    フォトレジスト。
  4. 【請求項4】 前記インヒビターが構造式(A): 【化4】 (式中、R1、R2およびR3は、前記と同様に定義され
    る)を有する請求項1記載のナフタレン含有誘導体フォ
    トレジスト。
  5. 【請求項5】 前記インヒビターが構造式: 【化5】 を有する請求項4記載のナフタレン含有誘導体フォトレ
    ジスト。
  6. 【請求項6】 前記インヒビターがナフタレン−2,7
    −二炭酸ジ−t−ブチルである請求項5記載のナフタレ
    ン含有誘導体フォトレジスト。
  7. 【請求項7】 前記インヒビターがナフタレン−2,6
    −二炭酸ジ−t−ブチルである請求項5記載のナフタレ
    ン含有誘導体フォトレジスト。
  8. 【請求項8】 前記インヒビターがナフタレン−1,5
    −二炭酸ジ−t−ブチルである請求項5記載のナフタレ
    ン含有誘導体フォトレジスト。
  9. 【請求項9】 前記インヒビターが構造式(B): 【化6】 (式中、R1、R2およびR3は、前記と同様に定義され
    る)を有する請求項1記載のナフタレン含有誘導体フォ
    トレジスト。
  10. 【請求項10】 前記インヒビターが構造式: 【化7】 を有する請求項9記載のナフタレン含有誘導体フォトレ
    ジスト。
  11. 【請求項11】 前記インヒビターがナフタレン−2,
    6−ジカルボン酸ジ−t−ブチルである請求項10記載
    のナフタレン含有誘導体フォトレジスト。
  12. 【請求項12】 前記フォト酸発生体が、ヨードニウム
    塩、スルホニウム塩およびヒドロキシイミド誘導体より
    なる群から選択される請求項1記載のナフタレン含有誘
    導体フォトレジスト。
  13. 【請求項13】 添加物をさらに含む請求項1記載のナ
    フタレン含有誘導体フォトレジスト。
JP9246577A 1997-06-21 1997-09-11 ナフタレン含有誘導体フォトレジスト Pending JPH1165103A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007079552A (ja) * 2005-08-17 2007-03-29 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物
JP2007298631A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Shin Etsu Chem Co Ltd フォトマスクブランクの製造方法およびフォトマスクブランク
CN112578633A (zh) * 2020-11-30 2021-03-30 珠海市能动科技光学产业有限公司 一种光致抗蚀剂

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