JPH1154832A - 分布帰還型半導体レーザ - Google Patents

分布帰還型半導体レーザ

Info

Publication number
JPH1154832A
JPH1154832A JP9210847A JP21084797A JPH1154832A JP H1154832 A JPH1154832 A JP H1154832A JP 9210847 A JP9210847 A JP 9210847A JP 21084797 A JP21084797 A JP 21084797A JP H1154832 A JPH1154832 A JP H1154832A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diffraction grating
period
resonator
center
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9210847A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3180725B2 (ja
Inventor
Kenji Sato
健二 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP21084797A priority Critical patent/JP3180725B2/ja
Priority to US09/124,768 priority patent/US6175581B1/en
Publication of JPH1154832A publication Critical patent/JPH1154832A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3180725B2 publication Critical patent/JP3180725B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/1203Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers over only a part of the length of the active region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/1206Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/1206Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
    • H01S5/1215Multiplicity of periods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/124Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/124Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
    • H01S5/1243Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts by other means than a jump in the grating period, e.g. bent waveguides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/124Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
    • H01S5/1246Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts plurality of phase shifts

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、本発明は、レーザ共振器の軸方向
の電界強度分布を均一にすることにより、バイアス電流
が変化した場合であっても前方後方出力比が変動するこ
となく、システム上で光出力をモニターし易い半導体レ
ーザを提供することを目的とする。 【解決手段】 回折格子によって光帰還を行う分布帰還
型半導体レーザにおいて、この回折格子が、レーザ共振
器の中央に回折格子全体の平均周期である基本周期の半
周期分の位相シフト構造5を有しており、回折格子の中
央部分に周期が基本周期と異なる周期変動部分(第2の
回折格子4および第3の回折格子6)を設け、この周期
変動部分が、基本周期に対する変化量が位相シフト構造
を中心として共振器の両方の端面方向に、互いに絶対値
が等しくかつ符号が反転するように設定されていること
を特徴とする分布帰還型半導体レーザ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体レーザに関
し、特にデジタル光伝送システムに用いられるモード安
定性の高い位相シフト分布帰還型(DFB)半導体レー
ザに関する。
【0002】
【従来の技術】従来デジタル光伝送システムには、レー
ザ共振器中央で回折格子の位相を半周期シフトさせたλ
/4位相シフト分布帰還型半導体レーザと呼ばれる単一
モード性の高い半導体レーザが用いられている。λ/4
位相シフト構造は公知の構造で、例えば、「1994
年、オーム社刊、応用物理学会編、半導体レーザ272
頁図12・12」に記載されている。
【0003】λ/4位相シフト分布帰還型半導体レーザ
は図5に断面図を示すように、第1の回折格子43と第
2の回折格子44の位相を半周期分シフトさせたλ/4
位相シフト構造45をレーザ共振器中央に有している。
この構造では、neffを実効屈折率とすると、回折格子
周期Λが決定するブラッグ波長λB、すなわち λB=2Λneff で発振するため、副モード抑圧比が高くとれるという特
徴がある。
【0004】しかしこの構造では、前方と後方からのレ
ーザ光出力の比が、バイアス電流により変動するため、
前方の光出力を後方からの光出力で監視することができ
ない(トラッキングエラー)という問題があった。ま
た、変調時の波長変動(チャーピング)が大きく、長距
離伝送において符号誤りをひき起こすという問題点があ
った。これらの問題点は、レーザ共振器中央にλ/4位
相シフト構造が存在するため、この位相シフト部で電界
が非常に強くなり、バイアスを高くするにつれて内部の
電界強度分布が極端に不均一になり、キャリア変動によ
る屈折率変化が共振器内の位置により大きく異なるため
に生じる。
【0005】また、レーザ共振器中央付近で電界が強く
なるために、外部へ光が出力されにくくなるために、電
流対光出力変換効率が低いという問題もあった。
【0006】この問題を解決するために、特開平02−
025086号公報には、図6(A)にその断面図を示
すようにλ/4位相シフト構造を共振器中央の1点に位
置させず、第1の回折格子53および第3の回折格子5
5の周期に対してわずかに周期の異なる第2の回折格子
54を、共振器中央の100ミクロン程度の領域に配置
させて両端の回折格子53および55の間の位相を合計
でλ/4だけシフトさせるような構造の例が記載されて
いる。この構造では、前記λ/4位相シフト分布帰還型
半導体レーザに比べて、共振器の軸方向で電界強度分布
が平坦になるという特徴がある。しかしながら、この構
造では回折格子周期が共振器内で一定でないため、ブラ
ッグ波長で発振しなくなるためレーザ発振モードの安定
性が低くなるという問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、レーザ共振
器の軸方向の電界強度分布を均一にすることにより、バ
イアス電流が変化した場合であっても前方後方出力比が
変動することなく、システム上で光出力をモニターし易
い半導体レーザを提供することを目的とする。また同時
にレーザ共振器の軸方向の電界強度分布を均一にするこ
とにより、変調時の波長変動を低減し、変調時でも安定
動作が可能で、電流対光出力変換効率の高い半導体レー
ザを提供することを目的とする。
【0008】また、本発明は、レーザ発振モードの安定
性を高めることにより、従来の半導体レーザに比べ、デ
ジタル変調時における符号誤り率を低くできる半導体レ
ーザを提供することを目的とする。
【0009】さらに本発明は、量産時における素子間の
特性のばらつきを小さくし、歩留まりの高い半導体レー
ザを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の分布帰還型半導
体レーザは、回折格子によって光帰還を行う分布帰還型
半導体レーザにおいて、この回折格子が、レーザ共振器
の中央に回折格子全体の平均周期である基本周期の半周
期分の位相シフト構造を有しており、回折格子の中央部
分に周期が基本周期と異なる周期変動部分を設け、この
周期変動部分が、基本周期に対する変化量が位相シフト
構造を中心として共振器の両方の端面方向に、互いに絶
対値が等しくかつ符号が反転するように設定されている
ことを特徴とする。
【0011】また、本発明の分布帰還型半導体レーザ
は、回折格子によって光帰還を行う分布帰還型半導体レ
ーザにおいて、この回折格子が、レーザ共振器の中央に
回折格子全体の平均周期である基本周期の半周期分の位
相シフト構造を有しており、共振器中央部分に回折格子
のない部分を設け、この部分の両側に周期が基本周期と
異なる周期変動部分を設け、この周期変動部分が、基本
周期に対する変化量が位相シフト構造を中心として共振
器の両方の端面方向に、互いに絶対値が等しくかつ符号
が反転するように設定されていることを特徴とする。
【0012】さらに本発明の分布帰還型半導体レーザ
は、回折格子によって光帰還を行う分布帰還型半導体レ
ーザにおいて、この回折格子が、レーザ共振器の中央に
半周期分の位相シフト構造を有しており、共振器中央部
分に回折格子のない部分を設け、この部分の両側に周期
の等しい回折格子を位相シフト構造を対称の中心として
共振器の両方の端面方向に設けたことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】従来のλ/4位相シフト分布帰還
型半導体レーザは、前述のように、光の帰還が中央付近
で強くなり過ぎるため、光が中央付近に集中する。本発
明では、中央付近の回折格子の周期を、元の基本周期と
異なる周期にすることで、中央付近の回折格子による光
の帰還量を下げる。しかし、単に回折格子の周期を変化
させるだけでは、等価的に位相シフト構造として働いて
しまう。そこで、回折格子の周期を基本周期に対する変
化量がレーザ共振器中央を中心として共振器の両方の端
面方向に、互いに絶対値が等しくかつ符号が反転するよ
うに設定する。
【0014】ここで回折格子は、周期を元の周期よりも
長くしても短くしてもその変化量が等しければ両者とも
等しい量だけ光帰還が減少するので、中央付近の光の帰
還量を下げることができる。それと同時に、共振器中央
を中心として、両方の端面方向に符号が反転しているの
で、全ての回折格子の平均周期は基本周期と等しく、前
後方向で反対の位相シフト構造が形成されることから、
不必要な位相シフトが相殺される。
【0015】またこの構造では、回折格子による光の帰
還量の分布は、共振器中央に対して前後対称になるた
め、内部の電界強度分布も共振器中央に対して前後対称
になる。
【0016】従って本発明では電界が中央に集中するこ
となく、共振器内部の電界強度分布を平坦化することが
できる。
【0017】また、従来のλ/4位相シフト分布帰還型
半導体レーザと同様に、本発明においても、回折格子の
共振器全体に対する平均周期によって決定されるブラッ
グ波長で発振する。レーザの主モードがブラッグ波長に
等しい場合には、主モードと副モードの差が最大になる
ため、モード安定性の指標であるしきい値利得差は、本
構造ではλ/4位相シフト分布帰還型半導体レーザと同
等に高い値が得られる。
【0018】図1に本発明の実施形態の1例を示す。本
発明では、図1に示すように中央に基本周期の半周期分
の位相シフト構造5を有している。この実施形態では、
回折格子は第1の回折格子3、第2の回折格子4、第3
の回折格子6および第4の回折格子7からなる。ここで
第2の回折格子4および第3の回折格子6は、周期が基
本周期と異なる周期変動部分であって、回折格子の中心
に設けられており、基本周期に対する変化量が位相シフ
ト構造を中心として共振器の両方の端面方向に、互いに
絶対値が等しくかつ符号が反転している。第1の回折格
子3および第4の回折格子7は基本周期と等しく、レー
ザ共振器端面付近に設けられている。
【0019】この実施形態では、図1(B)に示すよう
に周期変動部分、即ち第2の回折格子4および第3の回
折格子6全体にわたって基本周期に対する変化量の絶対
値が一定である。
【0020】また、図7に示すように、周期変動部分に
おける回折格子の基本周期に対する変化量の絶対値が、
レーザ共振器中心から端面に向かって、基本周期からの
差が次第に大きくなるように設定してもよい。
【0021】さらに、図2に示すように周期変動部分に
おける回折格子の基本周期に対する変化量の絶対値が、
レーザ共振器中心から端面に向かって、下式(式1)を
満足するように基本周期からの差が次第に大きくなるよ
うにしてもよい。
【0022】
【数2】 (但し、zはレーザの共振器方向距離であり、Λ(z)
は回折格子の周期であり、Λ0は基本周期であり、Lは
共振器長である。) このようにレーザ共振器の中央から端面方向に向かっ
て、回折格子の共振器全体での平均周期との差が次第に
大きくなる周期にすることで、共振器内部の電界強度分
布を完全に平坦にすることができ、しきい値利得差を大
きくすることができる。
【0023】尚、図8に示すように、周期変動部分にお
ける回折格子の基本周期に対する変化量の絶対値を、レ
ーザ共振器中心から端面に向かって、基本周期からの差
が次第に小さくすることも可能である。
【0024】以上の実施形態では、レーザ共振器端面付
近の回折格子が基本周期と等しく設定されている。この
ようにするとその両端面付近からの光帰還が相対的に増
大し、共振器内部の電界強度分布をさらに平坦化するこ
とができる。
【0025】また一方。本発明では、図9または図3に
示すように、レーザ共振器端面付近に、回折格子を設け
ないようにしてもよい。このようにすると、レーザ端面
の影響が小さくなり、量産時における素子間の特性ばら
つきを小さくすることができる。
【0026】また、レーザ共振器の端面側部分の回折格
子の分布帰還結合係数が、この端面側部分より中央側に
ある回折格子の分布帰還結合係数よりも大きくなるよう
に設定してもよい。このようにすると、両端面付近での
光帰還を相対的に増大し、共振器内部の電界強度分布を
平坦にすることができる。
【0027】さらに本発明の異なる実施形態では、図1
0のように共振器中央部分に回折格子のない部分を設け
てもよい。この場合、共振器中央で基本周期の半周期分
の位相シフトが起こるように共振器の両側の回折格子を
設定する。例えば図1(A)の構造において、中心の位
相シフト構造5から両側に等しい距離分だけの回折格子
を平坦にすることで形成できる。本出願においては、こ
のように共振器中央部分に回折格子がない場合でも、レ
ーザ両端面付近に位置する回折格子が互いに半周期の位
相差があるように配置されるときは、位相シフト構造が
中央にあると定義する。このようにすると、共振器中央
での光帰還を完全に無くし、共振器内部の電界強度分布
を平坦にすることができる。
【0028】図10に示した構成ばかりではなく、前述
した回折格子の中央部分に周期変動部分を設けた実施形
態において、中央部分の回折格子を平坦にした構造とし
てもよい。
【0029】さらに本発明においては、図11に示すよ
うに、共振器中央部分に回折格子のない部分を設け、こ
の部分の両側に周期の等しい回折格子を設けるようにし
ても、共振器中央での光帰還を完全に無くし、共振器内
部の電界強度分布を平坦にすることができる。この場合
も、共振器中央で基本周期の半周期分の位相シフトが起
こるように共振器の両側の回折格子を設定する。
【0030】以上のように本発明によれば、回折格子周
期を変化させるだけで、単一モード性が高く、共振器内
部の電界強度分布が平坦化で、変調時の波長変動が小さ
いレーザを実現できる。
【0031】
【実施例】次に実施例により本発明をさらに詳細に説明
する。
【0032】[実施例1]図1(A)は、実施例1の共
振器幅が300ミクロンである半導体レーザ1の構造図
である。
【0033】この半導体レーザを形成するには、まず、
N型InP半導体基板2上に、周知の電子ビーム露光法
および周知のリソグラフィーにより第1の回折格子3、
第2の回折格子4、第3の回折格子6および第4の回折
格子7を形成する。ここで第2の回折格子4と第3の回
折格子6の間は位相シフト構造5となるように形成す
る。第1の回折格子3、第2の回折格子4、第3の回折
格子6および第4の回折格子7を形成する際のエッチン
グの深さは、分布帰還結合係数κが約70cm-1となる
ように0.03ミクロンとする。
【0034】この上に周知のエピタキシャル成長によ
り、N型InGaAsP光ガイド層8を層厚0.1ミク
ロン、多重量子井戸活性層9を層厚0.2ミクロン、P
型InPクラッド層10を層厚3ミクロン、P型InP
キャップ層11を層厚0.2ミクロンの厚さにそれぞれ
形成する。次に、周知の電極形成法によりP型InGa
AsPキャップ層11上にP型電極12、N型InP半
導体基板2下にN型電極13を形成する。また、半導体
レーザ1の両端面には、無反射コーティングを施す。
【0035】このときの第1の回折格子3、第2の回折
格子4、第3の回折格子6および第4の回折格子7の周
期分布は、図1(B)に示す通り、第1の回折格子3は
周期が202.7ナノメートルで片方の端面から15ミ
クロンの長さ、第2の回折格子4は周期が202.85
ナノメートルで135ミクロンの長さ、第3の回折格子
6は周期が202.55ナノメートルで135ミクロン
の長さ、第4の回折格子7は周期が202.7ナノメー
トルで15ミクロンの長さである。ここで第1の回折格
子3と第2の回折格子は位相が連続するように形成さ
れ、また第2の回折格子4と第3の回折格子6との間で
は、位相が第1から第4までの回折格子の平均周期の半
周期だけシフトするような構造(位相シフト構造5)と
なっており、第3の回折格子6と第4の回折格子7は位
相が連続するように形成される。
【0036】図4中の曲線(A)は、この半導体レーザ
1の内部の電界強度分布を示したものである。内部の電
界強度の最小値と最大値の比は0.73となり、図4中
の曲線(D)に示す従来のλ/4位相シフト分布帰還型
レーザの0.33よりも内部の電界強度分布の平坦性が
増大していることがわかる。
【0037】また、レーザのモード安定性を示すしきい
値利得差については、この構造の半導体レーザでは0.
61が得られ、実用的なレベルである0.5以上が達成
されている。
【0038】また本実施例においては、レーザの発振波
長は、第1の回折格子3、第2の回折格子4、第3の回
折格子6および第4の回折格子7の平均の周期によって
決定されるブラッグ波長である1.3ミクロンで発振す
る。
【0039】また、本実施例においては、レーザ共振器
の長さを300ミクロンとしたが、特にこれに制限され
るものではない。
【0040】また、本実施例においては、Lをレーザ共
振器長とすると、規格化結合係数κ×Lを約2と設定し
た(第1〜第4の回折格子3〜7において分布帰還結合
係数κを約70cm-1と設定した)が、2から4が望ま
しい。規格化結合係数を大きく設定するに伴い、共振器
中央付近の光分布帰還量を減少させる必要があり、第2
の回折格子4の周期を増大させ、かつ、第3の回折格子
6の周期も同じ量だけ減少させる。規格化結合係数が大
きいほど、レーザ発振モードが安定し、レーザ劈開時に
第1の回折格子3および第4の回折格子7の長さが設計
と異なるレーザ装置が得られることがあっても、その影
響を小さくすることができる。
【0041】[実施例2]図2(A)に実施例2の半導
体レーザ21の構造図を示す。この構造は、回折格子の
周期以外は実施例1と同様であり、実施例1と同様にし
て形成することができる。
【0042】このときの第1の回折格子23、第2の回
折格子24、第3の回折格子26および第4の回折格子
27の周期分布は、図2(B)に示す通り、第1の回折
格子23は周期が202.7ナノメートル周期であり片
方の端面から15ミクロンの長さである。第2の回折格
子24は、共振器長L=300ミクロン、平均周期Λ 0
=0.2027ミクロン、規格化結合係数κL=2とす
ると、前記(式1)によって与えられる周期Λ(z)で
135ミクロンの長さに形成される。第1の回折格子2
3と第2の回折格子24との間は位相が連続するように
形成される。
【0043】第3の回折格子26も(式1)によって与
えられる周期で135ミクロンの長さに形成され、第2
の回折格子24と第3の回折格子26との間では、位相
が第1から第4までの回折格子の平均周期の半周期だけ
シフトするような構造(位相シフト構造25)となって
いる。第4の回折格子27は周期が202.7ナノメー
トルで15ミクロンの長さであり、第3の回折格子26
と第4の回折格子27の間は位相が連続するように形成
される。
【0044】図4中の曲線(B)は、この半導体レーザ
21の内部の電界強度分布を示したものである。内部の
電界強度の最小値と最大値の比は0.83となり、図4
中の曲線(D)に示す従来のλ/4位相シフト分布帰還
型レーザの0.33よりも内部の電界強度分布の平坦性
が増大していることがわかる。
【0045】また、レーザのモード安定性を示すしきい
値利得差においては、この構造では0.78が得られ
た。これは、従来のλ/位相シフト分布帰還型レーザの
0.77よりも高い。
【0046】また、本実施例においては、レーザ発振波
長は、全ての回折格子の平均の周期によって決定される
ブラッグ波長である1.3ミクロンで発振する。
【0047】また、本実施例においては、レーザ共振器
の長さを300ミクロンとしたが、特にこれに制限され
るものではない。
【0048】また、本実施例においては、Lをレーザ共
振器長とすると、規格化結合係数κ×Lを約2と設定し
た(第1〜第4の回折格子23〜27において分布帰還
結合係数κを約70cm-1と設定した)が、2から4が
望ましい。規格化結合係数を大きく設定するに伴って、
(式1)から求められる第2の回折格子24の周期およ
び第3の回折格子26の周期は、区間内全域にわたって
基本周期との差がより大きくなり、かつ第2の回折格子
24の長さおよび第3の回折格子26の長さは長くな
り、かつ第1の回折格子23の長さおよび第4の回折格
子27の長さは短くなる(但し、合計の長さは等しく保
たれる。)。このことにより、レーザ発振モードがより
安定化し、レーザ劈開時に第1の回折格子23および第
4の回折格子27の長さが設計と異なるレーザ装置が得
られることがあっても、その影響を小さくすることがで
きる。
【0049】また、第1の回折格子23および第4の回
折格子27における分布帰還結合係数κを100cm-1
というように、第2の回折格子24および第3の回折格
子26における分布帰還結合係数よりも高い値に設定す
ることも可能であり、この場合、両端面付近の回折格子
による分布帰還量が相対的に増大し、レーザ内部の電界
強度分布をさらに平坦にすることができる。
【0050】[実施例3]図3(A)に実施例3の半導
体レーザ31の構造図を示す。この構造は、回折格子
が、第1の回折格子33と第2の回折格子34からな
り、実施例1と同様にして形成することができる。第1
の回折格子33および第2の回折格子34を形成する際
のエッチングの深さは、分布帰還結合係数κが約75c
-1となるように0.033ミクロンとする。
【0051】このときの第1の回折格子33および第2
の回折格子34の周期分布は、図3(B)に示す通り、
第1の回折格子33は片方の端面から15ミクロン離れ
たところから前記(式1)によって求められる周期で1
35ミクロンの長さに形成される。第2の回折格子34
も前記(式1)によって与えられる周期で135ミクロ
ンの長さに形成される。第1の回折格子33と第2の回
折格子34との間では、位相が第1の回折格子33と第
2の回折格子34の平均周期の半分だけシフトするよう
な構造(位相シフト構造35)となっている。
【0052】図4中の曲線(C)は、この半導体レーザ
31の内部の電界強度分布を示したものである。内部の
電界強度の最小値と最大値の比は0.73となり、図4
中の曲線(D)に示す従来のλ/4位相シフト分布帰還
型レーザの0.33よりも内部の電界強度分布の平坦性
が増大していることがわかる。
【0053】また、レーザ単一モード性を示すしきい値
利得差においては、この構造では0.99が得られた。
これは、従来のλ/4位相シフト分布帰還型レーザの
0.77よりも高い。
【0054】また、本実施例においては、レーザ発振波
長は、全ての回折格子の平均の周期によって決定される
ブラッグ波長である1.3ミクロンで発振した。
【0055】また、本実施例においては、レーザ共振器
の長さを300ミクロンとし、回折格子の存在する長さ
を270ミクロンとしたが、特にこれに制限されるもの
ではない。
【0056】また、本実施例においては、回折格子の存
在する長さLが270ミクロンであり、規格化結合係数
κ×Lを約2と設定した(第1、第2の回折格子33、
34において分布帰還結合係数κを約75cm-1と設定
した)が、これは2から4が望ましい。規格化結合係数
を大きく設定するに伴い、実施例2と同様の理由でレー
ザ発振モードがより安定化し、レーザ劈開時に第1の回
折格子33および第2の回折格子34の長さが設計と異
なるレーザ装置が得られることがあっても、その影響を
小さくすることができる。
【0057】
【発明の効果】本発明によれば、レーザ共振器の軸方向
の電界強度分布を均一にすることにより、バイアス電流
が変化した場合であっても前方後方出力比が変動するこ
となく、システム上で光出力をモニターし易い半導体レ
ーザを提供することができる。また同時にレーザ共振器
の軸方向の電界強度分布を均一にすることにより、変調
時の波長変動を低減し、変調時でも安定動作が可能で、
電流対光出力変換効率の高い半導体レーザを提供するこ
とができる。
【0058】また、本発明によれば、レーザ発振モード
の安定性を高めることにより、従来の半導体レーザに比
べ、デジタル変調時における符号誤り率を低くできる半
導体レーザを提供することができる。
【0059】さらに本発明によれば、量産時における素
子間の特性のばらつきを小さくし、歩留まりの高い半導
体レーザを提供することができる。
【0060】本発明の半導体レーザを用いることによ
り、光通信において大容量の伝送が可能となり、加入者
数の増大、通信サービスの拡大を実現できる。さらにま
た、加入者向けの低コストな光通信システムを実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の半導体レーザ装置の断
面構造図(A)と、その回折格子周期の分布(B)であ
る。
【図2】本発明の第2の実施例の半導体レーザ装置の断
面構造図(A)と、その回折格子周期の分布(B)であ
る。
【図3】本発明の第3の実施例の半導体レーザ装置の断
面構造図(A)と、その回折格子周期の分布(B)であ
る。
【図4】本発明の第1の実施例(A)、第2の実施例
(B)、第3の実施例(C)による半導体レーザ装置の
内部の電界強度分布と、従来例であるλ/4位相シフト
型DFBレーザの内部の電界強度分布(D)を示した図
である。
【図5】第1の従来例であるλ/4位相シフト型DFB
レーザの構造図である。
【図6】第2の従来例である半導体レーザ装置の構造図
である。
【図7】本発明の1実施形態の回折格子周期を示した図
である。
【図8】本発明の1実施形態の回折格子周期を示した図
である。
【図9】本発明の1実施形態の回折格子周期を示した図
である。
【図10】本発明の1実施形態の回折格子周期を示した
図である。
【図11】本発明の1実施形態の回折格子周期を示した
図である。
【符号の説明】
1、21、31 半導体レーザ 2 N型InP半導体基板 3 第1の回折格子 4 第2の回折格子 5 位相シフト構造 6 第3の回折格子 7 第4の回折格子 8 N型InGaAsP光ガイド層 9 多重量子井戸層 10 P型InPクラッド層 11 P型InPキャップ層 12 P型電極 13 N型電極 23 第1の回折格子 24 第2の回折格子 25 位相シフト構造 26 第3の回折格子 27 第4の回折格子 33 第1の回折格子 34 第2の回折格子 35 位相シフト構造 43 第1の回折格子 44 第2の回折格子 45 位相シフト構造 53 第1の回折格子 54 第2の回折格子 55 第3の回折格子

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回折格子によって光帰還を行う分布帰還
    型半導体レーザにおいて、 この回折格子が、レーザ共振器の中央に回折格子全体の
    平均周期である基本周期の半周期分の位相シフト構造を
    有しており、 回折格子の中央部分に周期が基本周期と異なる周期変動
    部分を設け、 この周期変動部分が、基本周期に対する変化量が位相シ
    フト構造を中心として共振器の両方の端面方向に、互い
    に絶対値が等しくかつ符号が反転するように設定されて
    いることを特徴とする分布帰還型半導体レーザ。
  2. 【請求項2】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、周期変動部分全体
    にわたって一定であって、レーザ共振器中央を中心とし
    て符号が反転していることを特徴とする請求項1記載の
    分布帰還型半導体レーザ。
  3. 【請求項3】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、レーザ共振器中心
    から端面に向かって、基本周期からの差が次第に大きく
    なり、レーザ共振器中央を中心として符号が反転してい
    ることを特徴とする請求項1記載の分布帰還型半導体レ
    ーザ。
  4. 【請求項4】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、レーザ共振器中心
    から端面に向かって、下式(式1)を満足するように基
    本周期からの差が次第に大きくなり、レーザ共振器中央
    を中心として符号が反転していることを特徴とする請求
    項3記載の分布帰還型半導体レーザ。 【数1】 (但し、zはレーザの共振器方向距離であり、Λ(z)
    は回折格子の周期であり、Λ0は基本周期であり、Lは
    共振器長である。)
  5. 【請求項5】 回折格子によって光帰還を行う分布帰還
    型半導体レーザにおいて、 この回折格子が、レーザ共振器の中央に回折格子全体の
    平均周期である基本周期の半周期分の位相シフト構造を
    有しており、 共振器中央部分に回折格子のない部分を設け、この部分
    の両側に周期が基本周期と異なる周期変動部分を設け、 この周期変動部分が、基本周期に対する変化量が位相シ
    フト構造を中心として共振器の両方の端面方向に、互い
    に絶対値が等しくかつ符号が反転するように設定されて
    いることを特徴とする分布帰還型半導体レーザ。
  6. 【請求項6】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、周期変動部分全体
    にわたって一定であって、レーザ共振器中央を中心とし
    て符号が反転していることを特徴とする請求項5記載の
    分布帰還型半導体レーザ。
  7. 【請求項7】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、レーザ共振器中心
    から端面に向かって、基本周期からの差が次第に大きく
    なり、レーザ共振器中央を中心として符号が反転してい
    ることを特徴とする請求項5記載の分布帰還型半導体レ
    ーザ。
  8. 【請求項8】 前記の周期変動部分における回折格子の
    基本周期に対する変化量の絶対値は、レーザ共振器中心
    から端面に向かって、前記(式1)を満足するように基
    本周期からの差が次第に大きくなり、レーザ共振器中央
    を中心として符号が反転していることを特徴とする請求
    項7記載の分布帰還型半導体レーザ。
  9. 【請求項9】 レーザ共振器端面付近の回折格子周期
    が、基本周期と等しいことを特徴とする請求項1〜8の
    いずれかに記載の分布帰還型半導体レーザ。
  10. 【請求項10】 レーザ共振器端面付近に、回折格子が
    存在しないことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに
    記載の分布帰還型半導体レーザ。
  11. 【請求項11】 レーザ共振器の端面側部分の回折格子
    の分布帰還結合係数が、この端面側部分より中央側にあ
    る回折格子の分布帰還結合係数よりも大きいことを特徴
    とする請求項1〜10のいずれかに記載の分布帰還型半
    導体レーザ。
  12. 【請求項12】 前記回折格子は、レーザ共振器の一方
    端面から他方の端面方向に設けられた第1の回折格子、
    第2の回折格子、第3の回折格子および第4の回折格子
    からなり、 第2の回折格子と第3の回折格子の境界は共振器の中央
    にあり、この境界に基本周期の半周期分の位相シフトを
    有し、第2の回折格子と第3の回折格子はレーザ共振器
    方向に等しい長さを持ち、それぞれの回折格子周期の基
    本周期に対する変化量がレーザ共振器中央を中心として
    共振器の両方の端面方向に、互いに絶対値が等しくかつ
    符号が反転するように構成され、 第1の回折格子および第4の回折格子の周期は基本周期
    と等しい特徴とする請求項1記載の分布帰還型半導体レ
    ーザ。
  13. 【請求項13】 前記の第2の回折格子と第3の回折格
    子の回折格子周期の基本周期に対する変化量の絶対値
    は、第2の回折格子全体、および第3の回折格子全体に
    わたって一定であることを特徴とする請求項12記載の
    分布帰還型半導体レーザ。
  14. 【請求項14】 前記の第2の回折格子と第3の回折格
    子の回折格子周期の基本周期に対する変化量の絶対値
    は、レーザ共振器中心から端面に向かって、基本周期か
    らの差が次第に大きくなることを特徴とする請求項12
    記載の分布帰還型半導体レーザ。
  15. 【請求項15】 前記の第2の回折格子と第3の回折格
    子の回折格子周期の基本周期に対する変化量の絶対値
    は、レーザ共振器中心から端面に向かって、前記(式
    1)を満足するように基本周期からの差が次第に大きく
    なることを特徴とする請求項14記載の分布帰還型半導
    体レーザ。
  16. 【請求項16】 前記回折格子は、レーザ共振器の一方
    端面から他方の端面方向に設けられた第1の回折格子お
    よび第2の回折格子からなり、 第1の回折格子と第2の回折格子の境界は共振器の中央
    にあり、この境界に基本周期の半周期分の位相シフトを
    有し、第1の回折格子と第2の回折格子はレーザ共振器
    方向に等しい長さを持ち、それぞれの回折格子周期の基
    本周期に対する変化量がレーザ共振器中央を中心として
    共振器の両方の端面方向に、互いに絶対値が等しくかつ
    符号が反転するように構成され、レーザ共振器中心から
    端面に向かって、前記(式1)を満足するように基本周
    期からの差が次第に大きくなることを特徴とする請求項
    1記載の分布帰還型半導体レーザ。
  17. 【請求項17】 回折格子によって光帰還を行う分布帰
    還型半導体レーザにおいて、 この回折格子は、レーザ共振器の中央に半周期分の位相
    シフト構造を有しており、 共振器中央部分に回折格子のない部分を設け、この部分
    の両側に周期の等しい回折格子を位相シフト構造を対称
    の中心として共振器の両方の端面方向に設けたことを特
    徴とする分布帰還型半導体レーザ。
JP21084797A 1997-08-05 1997-08-05 分布帰還型半導体レーザ Expired - Fee Related JP3180725B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21084797A JP3180725B2 (ja) 1997-08-05 1997-08-05 分布帰還型半導体レーザ
US09/124,768 US6175581B1 (en) 1997-08-05 1998-07-30 Distributed feedback semiconductor laser

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21084797A JP3180725B2 (ja) 1997-08-05 1997-08-05 分布帰還型半導体レーザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1154832A true JPH1154832A (ja) 1999-02-26
JP3180725B2 JP3180725B2 (ja) 2001-06-25

Family

ID=16596102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21084797A Expired - Fee Related JP3180725B2 (ja) 1997-08-05 1997-08-05 分布帰還型半導体レーザ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6175581B1 (ja)
JP (1) JP3180725B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1039598A2 (en) * 1999-03-24 2000-09-27 NEC Corporation Distributed feedback semiconductor laser
JP2005353761A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Mitsubishi Electric Corp 分布帰還型半導体レーザ
JP2016154203A (ja) * 2014-04-25 2016-08-25 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法
US20180076596A1 (en) 2014-04-25 2018-03-15 Sumitomo Electric Device Innovations, Inc. Semiconductor laser device and manufacturing method of the same
JP2019050234A (ja) * 2017-09-07 2019-03-28 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法
JPWO2018070432A1 (ja) * 2016-10-12 2019-08-08 古河電気工業株式会社 半導体レーザ素子

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3186705B2 (ja) * 1998-08-27 2001-07-11 日本電気株式会社 分布帰還型半導体レーザ
US6574261B2 (en) 1998-08-27 2003-06-03 Nec Corporation Distributed feedback semiconductor laser
US6674783B1 (en) * 1999-03-31 2004-01-06 The Furukawa Electric Co., Ltd. Distributed feedback type semiconductor laser device and method of manufacturing the same
JP2002319738A (ja) * 2001-04-19 2002-10-31 Furukawa Electric Co Ltd:The 半導体レーザ装置、半導体レーザモジュールおよびこれを用いたラマン増幅器
JP3682417B2 (ja) * 2001-05-01 2005-08-10 古河電気工業株式会社 半導体レーザ装置、半導体レーザモジュールおよびこれを用いたラマン増幅器
KR100429531B1 (ko) * 2001-10-12 2004-05-03 삼성전자주식회사 분포귀환형 반도체 레이저
US6845117B2 (en) * 2001-11-02 2005-01-18 The Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor laser device, semiconductor laser module, and optical fiber amplifier using the device or module
CA2363149A1 (en) * 2001-11-16 2003-05-16 Photonami Inc. Surface emitting dfb laser structures for broadband communication systems and array of same
US6638773B1 (en) 2002-05-31 2003-10-28 Applied Optoelectronics, Inc. Method for fabricating single-mode DBR laser with improved yield
US6608855B1 (en) 2002-05-31 2003-08-19 Applied Optoelectronics, Inc. Single-mode DBR laser with improved phase-shift section
JP2004111709A (ja) * 2002-09-19 2004-04-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ
US6965628B1 (en) * 2002-10-30 2005-11-15 Finisar Corporation Distributed feedback laser having a differential grating
US7272176B2 (en) * 2003-02-18 2007-09-18 Qualcomm Incorporated Communication receiver with an adaptive equalizer
US7257377B2 (en) * 2003-02-18 2007-08-14 Qualcomm, Incorporated Systems and methods for improving channel estimation
US20040161057A1 (en) 2003-02-18 2004-08-19 Malladi Durga Prasad Communication receiver with a rake-based adaptive equalizer
US7586970B2 (en) * 2007-02-23 2009-09-08 Alfalight, Inc. High efficiency partial distributed feedback (p-DFB) laser
US9742151B1 (en) * 2016-05-04 2017-08-22 Wisconsin Alumni Research Foundation Terahertz quantum cascade lasers

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6147685A (ja) 1984-08-15 1986-03-08 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 分布帰還形半導体レ−ザ
JPS61283192A (ja) 1985-06-10 1986-12-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体レ−ザ装置
JPS62155584A (ja) 1985-12-27 1987-07-10 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
DE3873398T2 (de) * 1987-04-27 1993-03-18 Nippon Telegraph & Telephone Phasenverschobener halbleiterlaser mit verteilter rueckkopplung.
JP2768940B2 (ja) * 1987-07-08 1998-06-25 三菱電機株式会社 単一波長発振半導体レーザ装置
JP2819557B2 (ja) 1988-03-18 1998-10-30 富士通株式会社 半導体発光装置
JP2966485B2 (ja) * 1989-07-15 1999-10-25 富士通株式会社 波長可変コヒーレント光源およびその製造方法
JPH0817262B2 (ja) 1989-08-18 1996-02-21 三菱電機株式会社 単一波長発振半導体レーザ装置
EP0413365B1 (en) * 1989-08-18 1995-04-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a diffraction grating
US5185759A (en) * 1990-06-12 1993-02-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Phase-shifted distributed feedback type semiconductor laser device
JPH04100287A (ja) 1990-08-20 1992-04-02 Hitachi Ltd 半導体レーザ装置
JP3086767B2 (ja) 1993-05-31 2000-09-11 株式会社東芝 レ−ザ素子
JPH07335971A (ja) 1994-06-10 1995-12-22 Yokogawa Electric Corp 結合分布帰還型半導体レーザ
JPH09311220A (ja) * 1996-03-19 1997-12-02 Canon Inc 異なる偏光依存性を持つ領域が交互に配置された回折格子、及びそれを用いた光半導体デバイス
US5936994A (en) * 1997-09-18 1999-08-10 Northern Telecom Limited Two-section complex coupled distributed feedback semiconductor laser with enhanced wavelength tuning range

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1039598A2 (en) * 1999-03-24 2000-09-27 NEC Corporation Distributed feedback semiconductor laser
EP1039598A3 (en) * 1999-03-24 2004-01-21 NEC Corporation Distributed feedback semiconductor laser
JP2005353761A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Mitsubishi Electric Corp 分布帰還型半導体レーザ
JP2016154203A (ja) * 2014-04-25 2016-08-25 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法
US20180076596A1 (en) 2014-04-25 2018-03-15 Sumitomo Electric Device Innovations, Inc. Semiconductor laser device and manufacturing method of the same
US10326257B2 (en) 2014-04-25 2019-06-18 Sumitomo Electric Device Innovations, Inc. Semiconductor laser device and manufacturing method of the same
JPWO2018070432A1 (ja) * 2016-10-12 2019-08-08 古河電気工業株式会社 半導体レーザ素子
JP2019050234A (ja) * 2017-09-07 2019-03-28 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体レーザ素子及び半導体レーザ素子の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3180725B2 (ja) 2001-06-25
US6175581B1 (en) 2001-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3180725B2 (ja) 分布帰還型半導体レーザ
JP4643794B2 (ja) 半導体発光素子
US9312663B2 (en) Laser device, light modulation device, and optical semiconductor device
JP3244115B2 (ja) 半導体レーザー
JP4026334B2 (ja) 半導体レーザ、分布帰還型半導体レーザおよび波長可変半導体レーザ
JP6588859B2 (ja) 半導体レーザ
JPH1168242A (ja) 半導体レーザー
JP2006521012A (ja) 大型光超格子導波路を有する高出力半導体レーザー
JPH05183236A (ja) 利得結合分布帰還型半導体レーザ
JP3173582B2 (ja) 分布帰還型半導体レーザ
JP2003289169A (ja) 半導体レーザ装置
US6526087B1 (en) Distributed feedback semiconductor laser
JP2002084033A (ja) 分布帰還型半導体レーザ
JP2002299758A (ja) 複素結合型の分布帰還型半導体レーザ素子
US6788725B2 (en) Semiconductor laser device
JP3778260B2 (ja) 半導体レーザとこれを用いたデジタル光通信システムと方法
JP3452131B2 (ja) 分布帰還型半導体レーザ
US8121170B2 (en) Gain-coupled distributed feedback semiconductor laser including first-order and second-order gratings
JP3166836B2 (ja) 半導体レーザ
JP2950302B2 (ja) 半導体レーザ
JP7294453B2 (ja) 直接変調レーザ
US20050025210A1 (en) Semiconductor laser device
US6771681B2 (en) Distributed feedback semiconductor laser
WO2024100836A1 (en) Semiconductor laser, method of designing diffraction grating layer of semiconductor laser, and method of manufacturing semiconductor laser
JPS60178685A (ja) 単一軸モ−ド半導体レ−ザ装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees