JPH1144623A - 試験装置 - Google Patents
試験装置Info
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- JPH1144623A JPH1144623A JP9203525A JP20352597A JPH1144623A JP H1144623 A JPH1144623 A JP H1144623A JP 9203525 A JP9203525 A JP 9203525A JP 20352597 A JP20352597 A JP 20352597A JP H1144623 A JPH1144623 A JP H1144623A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- actuator
- load
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- deformation
- specimen
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一対のアクチュエータにより構造物に異なる
方向から負荷を与える試験装置において、一方のアクチ
ュエータの動作に対して、他方のアクチュエータの動作
を遅れなく高精度で追従させることができる試験装置を
提供する。 【解決手段】 供試体である構造物１１０に水平方向か
ら与える変形が、設定信号発生部３からの目標値と一致
するようにＰＩＤ制御されるアクチュエータ１の変位の
検出値ｘをＤＳＰ９に入力し、このＤＳＰ９から出力さ
れる量αｘ＋βを、第２のアクチュエータ２が供試体に
鉛直方向から与える負荷の目標値として、第２のアクチ
ュエータ２をＰＩＤ制御する。
方向から負荷を与える試験装置において、一方のアクチ
ュエータの動作に対して、他方のアクチュエータの動作
を遅れなく高精度で追従させることができる試験装置を
提供する。 【解決手段】 供試体である構造物１１０に水平方向か
ら与える変形が、設定信号発生部３からの目標値と一致
するようにＰＩＤ制御されるアクチュエータ１の変位の
検出値ｘをＤＳＰ９に入力し、このＤＳＰ９から出力さ
れる量αｘ＋βを、第２のアクチュエータ２が供試体に
鉛直方向から与える負荷の目標値として、第２のアクチ
ュエータ２をＰＩＤ制御する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクチュエータに
より構造物に負荷を与えることにより、構造物の強度を
試験する試験装置の改良に関する。
より構造物に負荷を与えることにより、構造物の強度を
試験する試験装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、建物などの構造物の強度を試
験する場合には、例えば図３に示すような変位または荷
重フィードバック系が用いられる。例えば変位フィード
バック系では、構造物の試験すべき場所に負荷を与える
アクチュエータ１０１が設けられ、このアクチュエータ
１０１の変位が変位計１０２で計測されるとともに、こ
のアクチュエータ１０１の変位の目標値（設定信号）が
設定信号発生部１０３から入力され、加算器１０４にお
いてこれらの偏差が演算される。この偏差は増幅器１０
５で増幅された後、ＰＩＤ制御装置１０６に入力され、
ＰＩＤ制御装置１０６は、この入力信号に基づいて、サ
ーボ弁１０７を、アクチュエータ１０１の変位が設定信
号に一致するように制御する。このようにして、構造物
には、あらかじめ設定されている設定信号にしたがった
変位が与えられ、構造物の強度が計測される。なお、荷
重フィードバック系では、図３の変位計１０２の代わり
に荷重計が用いられる。
験する場合には、例えば図３に示すような変位または荷
重フィードバック系が用いられる。例えば変位フィード
バック系では、構造物の試験すべき場所に負荷を与える
アクチュエータ１０１が設けられ、このアクチュエータ
１０１の変位が変位計１０２で計測されるとともに、こ
のアクチュエータ１０１の変位の目標値（設定信号）が
設定信号発生部１０３から入力され、加算器１０４にお
いてこれらの偏差が演算される。この偏差は増幅器１０
５で増幅された後、ＰＩＤ制御装置１０６に入力され、
ＰＩＤ制御装置１０６は、この入力信号に基づいて、サ
ーボ弁１０７を、アクチュエータ１０１の変位が設定信
号に一致するように制御する。このようにして、構造物
には、あらかじめ設定されている設定信号にしたがった
変位が与えられ、構造物の強度が計測される。なお、荷
重フィードバック系では、図３の変位計１０２の代わり
に荷重計が用いられる。
【０００３】ところで、このような構造物の強度試験に
おいては、例えば図４に示すような断面逆Ｔ字型の建物
の基礎杭である構造物１１０等について、異なる２方向
（例えば鉛直方向と水平方向）から同時に負荷を与える
ことにより、試験を行うことがある。すなわち、この構
造物１１０の基板部１１１から上方に垂直に延び出す柱
部１１２に鉛直上方からアクチュエータＡにより負荷を
与える一方で、水平方向からはアクチュエータＢにより
負荷を与える。この場合、アクチュエータＢにより与え
られる荷重を、アクチュエータＡの変位（すなわち構造
物１１０の変形）に追従させて変化させることにより、
構造物１１０の柱部１１２が鉛直方向に変形され、かつ
水平方向から荷重を受けたときの強度を計測する。
おいては、例えば図４に示すような断面逆Ｔ字型の建物
の基礎杭である構造物１１０等について、異なる２方向
（例えば鉛直方向と水平方向）から同時に負荷を与える
ことにより、試験を行うことがある。すなわち、この構
造物１１０の基板部１１１から上方に垂直に延び出す柱
部１１２に鉛直上方からアクチュエータＡにより負荷を
与える一方で、水平方向からはアクチュエータＢにより
負荷を与える。この場合、アクチュエータＢにより与え
られる荷重を、アクチュエータＡの変位（すなわち構造
物１１０の変形）に追従させて変化させることにより、
構造物１１０の柱部１１２が鉛直方向に変形され、かつ
水平方向から荷重を受けたときの強度を計測する。
【０００４】従来、このような鉛直方向と水平方向の複
合した負荷に対する強度を計測する場合には、アクチュ
エータＡおよびアクチュエータＢのそれぞれに図３に示
したようなフィードバック系を備えるようにしている。
そして、アクチュエータＡ側のフィードバック系の変位
計１０２からの検出信号をアクチュエータＢ側のフィー
ドバック系の設定信号発生部１０３に入力し、アクチュ
エータＡ側の検出信号にしたがってアクチュエータＢ側
の設定信号を調整する。
合した負荷に対する強度を計測する場合には、アクチュ
エータＡおよびアクチュエータＢのそれぞれに図３に示
したようなフィードバック系を備えるようにしている。
そして、アクチュエータＡ側のフィードバック系の変位
計１０２からの検出信号をアクチュエータＢ側のフィー
ドバック系の設定信号発生部１０３に入力し、アクチュ
エータＡ側の検出信号にしたがってアクチュエータＢ側
の設定信号を調整する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに一方のアクチュエータＡ側の検出信号を他方のアク
チュエータＢ側の設定信号発生部１０３に入力するので
は、実際にはコンピュータである設定信号発生部１０３
での演算時間などの分だけ、アクチュエータＢの反応に
遅れが生じてしまう。このため、アクチュエータＡの変
位に対してリアルタイム（例えば１００μｓｅｃ〜２０
０μｓｅｃ程度の遅れ）でアクチュエータＢの負荷を追
従させることは難しい。
うに一方のアクチュエータＡ側の検出信号を他方のアク
チュエータＢ側の設定信号発生部１０３に入力するので
は、実際にはコンピュータである設定信号発生部１０３
での演算時間などの分だけ、アクチュエータＢの反応に
遅れが生じてしまう。このため、アクチュエータＡの変
位に対してリアルタイム（例えば１００μｓｅｃ〜２０
０μｓｅｃ程度の遅れ）でアクチュエータＢの負荷を追
従させることは難しい。
【０００６】本発明は、このような問題点に着目してな
されたもので、少なくとも一対のアクチュエータの一方
により構造物に与えられる変形または荷重を、デジタル
信号処理プロセッサに入力して、他方のアクチュエータ
の目標値を設定することにより、一方のアクチュエータ
の動作に対して、他方のアクチュエータの動作を遅れな
く高精度で追従させることができる試験装置を提供する
ことを目的とする。
されたもので、少なくとも一対のアクチュエータの一方
により構造物に与えられる変形または荷重を、デジタル
信号処理プロセッサに入力して、他方のアクチュエータ
の目標値を設定することにより、一方のアクチュエータ
の動作に対して、他方のアクチュエータの動作を遅れな
く高精度で追従させることができる試験装置を提供する
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図１
を参照して説明すると、請求項１に記載の発明は、複数
のアクチュエータ１、２により異なる方向から供試体を
負荷する試験装置において、前記複数のアクチュエータ
１、２の内の一つのアクチュエータ１による前記供試体
の変形もしくは荷重ｘが目標値ｘ0と一致するようにこ
の一つのアクチュエータ１を制御する第１のフィードバ
ック回路Ｂと、前記一つのアクチュエータによる前記供
試体の変形もしくは荷重ｘが入力されこの変形もしくは
荷重に基づいて前記複数のアクチュエータ１、２の内の
他のアクチュエータ２による前記供試体の変形もしくは
荷重ｙの目標値ｙ0を出力するデジタル信号処理プロセ
ッサ９と、前記他のアクチュエータ２による前記供試体
の変形もしくは荷重ｙが前記デジタル信号処理プロセッ
サ９から出力された目標値ｙ0と一致するように前記他
のアクチュエータ２を制御する第２のフィードバック回
路Ａとを備えている。
を参照して説明すると、請求項１に記載の発明は、複数
のアクチュエータ１、２により異なる方向から供試体を
負荷する試験装置において、前記複数のアクチュエータ
１、２の内の一つのアクチュエータ１による前記供試体
の変形もしくは荷重ｘが目標値ｘ0と一致するようにこ
の一つのアクチュエータ１を制御する第１のフィードバ
ック回路Ｂと、前記一つのアクチュエータによる前記供
試体の変形もしくは荷重ｘが入力されこの変形もしくは
荷重に基づいて前記複数のアクチュエータ１、２の内の
他のアクチュエータ２による前記供試体の変形もしくは
荷重ｙの目標値ｙ0を出力するデジタル信号処理プロセ
ッサ９と、前記他のアクチュエータ２による前記供試体
の変形もしくは荷重ｙが前記デジタル信号処理プロセッ
サ９から出力された目標値ｙ0と一致するように前記他
のアクチュエータ２を制御する第２のフィードバック回
路Ａとを備えている。
【０００８】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて、本発
明の実施の形態について説明する。
明の実施の形態について説明する。
【００１０】図１にブロック構成図として示されるよう
に、本発明による試験装置は、アクチュエータ１（アク
チュエータＢ）の変位をＰＩＤ制御するフィードバック
系Ｂと、アクチュエータ２（アクチュエータＡ）が、供
試体（例えば構造物１１０）に与える荷重をＰＩＤ制御
するフィードバック系Ａから構成される。
に、本発明による試験装置は、アクチュエータ１（アク
チュエータＢ）の変位をＰＩＤ制御するフィードバック
系Ｂと、アクチュエータ２（アクチュエータＡ）が、供
試体（例えば構造物１１０）に与える荷重をＰＩＤ制御
するフィードバック系Ａから構成される。
【００１１】このフィードバック系Ｂ側のアクチュエー
タ１は、例えば図４に示すような構造物１１０の柱部１
１２に水平方向の負荷を与えるものであり、このアクチ
ュエータ１の変位の設定信号（目標値）ｘ0は、パソコ
ン２０から設定信号発生部３に設定される。一方、この
アクチュエータ１の実際の変位（すなわち構造物１１０
の変形）ｘは変位計４により検出され、この検出値ｘと
設定信号ｘ0との偏差が加算器５において演算される。
この偏差が増幅器６において増幅されてＰＩＤ制御装置
７に入力されることにより、ＰＩＤ制御装置７は、アク
チュエータ１の変位ｘが設定信号（目標値）ｘ0と一致
するように、アクチュエータ１のサーボ弁８を制御す
る。
タ１は、例えば図４に示すような構造物１１０の柱部１
１２に水平方向の負荷を与えるものであり、このアクチ
ュエータ１の変位の設定信号（目標値）ｘ0は、パソコ
ン２０から設定信号発生部３に設定される。一方、この
アクチュエータ１の実際の変位（すなわち構造物１１０
の変形）ｘは変位計４により検出され、この検出値ｘと
設定信号ｘ0との偏差が加算器５において演算される。
この偏差が増幅器６において増幅されてＰＩＤ制御装置
７に入力されることにより、ＰＩＤ制御装置７は、アク
チュエータ１の変位ｘが設定信号（目標値）ｘ0と一致
するように、アクチュエータ１のサーボ弁８を制御す
る。
【００１２】このアクチュエータ１の変位の検出値ｘ
は、デジタル信号処理プロセッサ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓ
ｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）９（以下、「ＤＳ
Ｐ」と略称する）にも入力される。このＤＳＰ９は、こ
の検出値ｘに基づいて、アクチュエータ２により与えら
れる荷重の目標値ｙ0を演算し、デジタル信号として出
力する。なお、この目標値ｙ0は、例えば、図２に示す
ように、上限値ｙ0maxと下限値ｙ0minの間で、 ｙ0＝αｘ＋β …（１） と演算される。
は、デジタル信号処理プロセッサ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓ
ｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）９（以下、「ＤＳ
Ｐ」と略称する）にも入力される。このＤＳＰ９は、こ
の検出値ｘに基づいて、アクチュエータ２により与えら
れる荷重の目標値ｙ0を演算し、デジタル信号として出
力する。なお、この目標値ｙ0は、例えば、図２に示す
ように、上限値ｙ0maxと下限値ｙ0minの間で、 ｙ0＝αｘ＋β …（１） と演算される。
【００１３】一方、アクチュエータ２により与えられて
いる実際の荷重ｙはロードセル１０により検出され、加
算器１１において、この荷重の検出値ｙと目標値ｙ0の
偏差が演算される。この偏差は、ＤＳＰ９と増幅器１３
の間に介装されたＯＮ／ＯＦＦ自在のスイッチ１２を通
じて増幅器１３に達し、増幅器１３において増幅され、
ＰＩＤ制御装置１４に入力される。そして、ＰＩＤ制御
装置１４は、アクチュエータ２により与えられる荷重ｙ
がＤＳＰ９の出力ｙ0と一致するように、アクチュエー
タ２のサーボ弁１５を制御する。
いる実際の荷重ｙはロードセル１０により検出され、加
算器１１において、この荷重の検出値ｙと目標値ｙ0の
偏差が演算される。この偏差は、ＤＳＰ９と増幅器１３
の間に介装されたＯＮ／ＯＦＦ自在のスイッチ１２を通
じて増幅器１３に達し、増幅器１３において増幅され、
ＰＩＤ制御装置１４に入力される。そして、ＰＩＤ制御
装置１４は、アクチュエータ２により与えられる荷重ｙ
がＤＳＰ９の出力ｙ0と一致するように、アクチュエー
タ２のサーボ弁１５を制御する。
【００１４】なお、設定信号発生部３から出力される変
位の目標値ｘ0や、ＤＳＰ９での目標値ｙ0の演算式
（１）における係数α、βは、パソコン２０の操作によ
り任意に変更することができる。
位の目標値ｘ0や、ＤＳＰ９での目標値ｙ0の演算式
（１）における係数α、βは、パソコン２０の操作によ
り任意に変更することができる。
【００１５】つぎに、このように構成された試験装置の
動作を説明する。
動作を説明する。
【００１６】まず、供試体である構造物１１０に対して
水平方向から変形を与え、この変形に対する構造物１１
０の強度を試験する場合、すなわち、アクチュエータ１
のみを動作させフィードバック系Ｂ側のみの制御を行う
場合には、スイッチ１２はＯＦＦ（開放）としておく。
これにより、フィードバック系Ｂの制御は進行する一方
で、フィードバック系Ａ側には信号が入力されないの
で、フィードバック系Ａは作動せず、アクチュエータ２
は構造物１１０に負荷を与えない。
水平方向から変形を与え、この変形に対する構造物１１
０の強度を試験する場合、すなわち、アクチュエータ１
のみを動作させフィードバック系Ｂ側のみの制御を行う
場合には、スイッチ１２はＯＦＦ（開放）としておく。
これにより、フィードバック系Ｂの制御は進行する一方
で、フィードバック系Ａ側には信号が入力されないの
で、フィードバック系Ａは作動せず、アクチュエータ２
は構造物１１０に負荷を与えない。
【００１７】一方、構造物１１０に対して水平方向から
の変形を与え、この水平方向の変形にしたがって鉛直方
向から荷重を与える試験を行う場合、すなわち、フィー
ドバック系Ｂとフィードバック系Ａを組み合わせた制御
を行う場合には、スイッチ１２をＯＮ（接続）にする。
すると、アクチュエータ１の変位（すなわち構造物１１
０の変形）ｘに基づいたＤＳＰ９の出力信号αｘ＋βが
フィードバック系Ａに入力される。この入力信号αｘ＋
βを目標値としてアクチュエータ２により与えられる荷
重ｙを制御することにより、アクチュエータ２による荷
重制御を、アクチュエータ１の変位に対して例えば図２
に示すような一定の関係で行うことができ、水平方向か
ら変形を与えると同時に鉛直方向から荷重を与えた場合
の構造物１１０の強度試験を行うことができる。
の変形を与え、この水平方向の変形にしたがって鉛直方
向から荷重を与える試験を行う場合、すなわち、フィー
ドバック系Ｂとフィードバック系Ａを組み合わせた制御
を行う場合には、スイッチ１２をＯＮ（接続）にする。
すると、アクチュエータ１の変位（すなわち構造物１１
０の変形）ｘに基づいたＤＳＰ９の出力信号αｘ＋βが
フィードバック系Ａに入力される。この入力信号αｘ＋
βを目標値としてアクチュエータ２により与えられる荷
重ｙを制御することにより、アクチュエータ２による荷
重制御を、アクチュエータ１の変位に対して例えば図２
に示すような一定の関係で行うことができ、水平方向か
ら変形を与えると同時に鉛直方向から荷重を与えた場合
の構造物１１０の強度試験を行うことができる。
【００１８】この場合、ＤＳＰ９は、アクチュエータ１
の変位の検出信号に基づいて、直ちに、アクチュエータ
２の荷重の目標値を演算し、フィードバック系Ａに入力
することができるので、フィードバック系Ａ側の制御は
フィードバック系Ｂ側の制御に遅れることなく高精度に
追従し、構造物１１０の変形に対して希望どおりの負荷
を与えることが可能となる。
の変位の検出信号に基づいて、直ちに、アクチュエータ
２の荷重の目標値を演算し、フィードバック系Ａに入力
することができるので、フィードバック系Ａ側の制御は
フィードバック系Ｂ側の制御に遅れることなく高精度に
追従し、構造物１１０の変形に対して希望どおりの負荷
を与えることが可能となる。
【００１９】また、このようにＤＳＰ９では、アクチュ
エータ２により与えられる荷重の目標値αｘ＋βの係数
αおよびβを容易に変更することができる。すなわち、
本発明によれば、フィードバック系Ａにおける負荷の制
御条件を自由かつ容易に変更することが可能となり、試
験の自由度が著しく向上する。
エータ２により与えられる荷重の目標値αｘ＋βの係数
αおよびβを容易に変更することができる。すなわち、
本発明によれば、フィードバック系Ａにおける負荷の制
御条件を自由かつ容易に変更することが可能となり、試
験の自由度が著しく向上する。
【００２０】なお、上述の実施の形態では、本発明を供
試体である構造物１１０に２つのアクチュエータ１、２
で負荷を与える試験装置に適用した例を示したが、本発
明の適用範囲はこのようなものに限られず、本発明は、
３台以上のアクチュエータにより供試体に異なる方向か
ら負荷を与え、これらのアクチュエータの内の一つのア
クチュエータが供試体に与える変位または荷重にしたが
って、他のアクチュエータが供試体に与える変位または
荷重をフィードバック制御する試験装置に適用してもよ
い。
試体である構造物１１０に２つのアクチュエータ１、２
で負荷を与える試験装置に適用した例を示したが、本発
明の適用範囲はこのようなものに限られず、本発明は、
３台以上のアクチュエータにより供試体に異なる方向か
ら負荷を与え、これらのアクチュエータの内の一つのア
クチュエータが供試体に与える変位または荷重にしたが
って、他のアクチュエータが供試体に与える変位または
荷重をフィードバック制御する試験装置に適用してもよ
い。
【００２１】また、以上の実施の形態では、請求項との
関係において、一つのアクチュエータはアクチュエータ
１（アクチュエータＢ）に、他のアクチュエータはアク
チュエータ２（アクチュエータＡ）に、第１のフィード
バック回路はフィードバック系Ｂに、第２のフィードバ
ック回路はフィードバック系Ａに、供試体は構造物１１
０に、それぞれ対応する。
関係において、一つのアクチュエータはアクチュエータ
１（アクチュエータＢ）に、他のアクチュエータはアク
チュエータ２（アクチュエータＡ）に、第１のフィード
バック回路はフィードバック系Ｂに、第２のフィードバ
ック回路はフィードバック系Ａに、供試体は構造物１１
０に、それぞれ対応する。
【００２２】
【発明の効果】本発明によれば、デジタル信号処理プロ
セッサにより、一つのアクチュエータにより供試体に与
えられる変形もしくは荷重に基づいて他のアクチュエー
タによる供試体の変形もしくは荷重の目標値を演算し、
これを第２のフィードバック回路に入力するようにした
ので、他のアクチュエータを、一つのアクチュエータに
より供試体に与えられる変形もしくは荷重に遅れること
なく高精度に追従させることができ、試験の精度を向上
させることができる。また、デジタル信号処理プロセッ
サでは、他のアクチュエータにより与えられる変形もし
くは荷重の目標値を演算するための定数を、容易に変更
することができるので、第２のフィードバック回路によ
る変形もしくは荷重の制御条件を自由かつ容易に変更す
ることが可能となり、試験の自由度が著しく向上する。
セッサにより、一つのアクチュエータにより供試体に与
えられる変形もしくは荷重に基づいて他のアクチュエー
タによる供試体の変形もしくは荷重の目標値を演算し、
これを第２のフィードバック回路に入力するようにした
ので、他のアクチュエータを、一つのアクチュエータに
より供試体に与えられる変形もしくは荷重に遅れること
なく高精度に追従させることができ、試験の精度を向上
させることができる。また、デジタル信号処理プロセッ
サでは、他のアクチュエータにより与えられる変形もし
くは荷重の目標値を演算するための定数を、容易に変更
することができるので、第２のフィードバック回路によ
る変形もしくは荷重の制御条件を自由かつ容易に変更す
ることが可能となり、試験の自由度が著しく向上する。
【図１】本発明が適用される試験装置の一実施形態の一
例を示すブロック構成図である。
例を示すブロック構成図である。
【図２】同じくアクチュエータＢによる変形とアクチュ
エータＡによる荷重の目標値の関係を示す特性図であ
る。
エータＡによる荷重の目標値の関係を示す特性図であ
る。
【図３】同じく従来の試験装置のブロック構成図であ
る。
る。
【図４】同じく供試体である構造物を示す断面図であ
る。
る。
１ アクチュエータＢ ２ アクチュエータＡ ３ 設定信号発生部 ４ 変位計 ５ 加算器 ６ 増幅器 ７ ＰＩＤ制御装置 ８ サーボ弁 ９ ＤＳＰ １０ ロードセル １１ 加算器 １２ スイッチ １３ 増幅器 １４ ＰＩＤ制御装置 １５ サーボ弁 ２０ パソコン １１０ 構造物
Claims (1)
- 【請求項１】複数のアクチュエータにより異なる方向か
ら供試体を負荷する試験装置において、 前記複数のアクチュエータの内の一つのアクチュエータ
による前記供試体の変形もしくは荷重が目標値と一致す
るようにこの一つのアクチュエータを制御する第１のフ
ィードバック回路と、 前記一つのアクチュエータによる前記供試体の変形もし
くは荷重が入力されこの変形もしくは荷重に基づいて前
記複数のアクチュエータの内の他のアクチュエータによ
る前記供試体の変形もしくは荷重目標値を出力するデジ
タル信号処理プロセッサと、 前記他のアクチュエータによる前記供試体の変形もしく
は荷重が前記デジタル信号処理プロセッサから出力され
た目標値と一致するように前記他のアクチュエータを制
御する第２のフィードバック回路とを備えたことを特徴
とする試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20352597A JP3690077B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20352597A JP3690077B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1144623A true JPH1144623A (ja) | 1999-02-16 |
| JP3690077B2 JP3690077B2 (ja) | 2005-08-31 |
Family
ID=16475603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20352597A Expired - Fee Related JP3690077B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3690077B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009250625A (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-29 | Saginomiya Seisakusho Inc | 載荷試験方法及び装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1997
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