JPH09203700A - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
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- JPH09203700A JPH09203700A JP1205696A JP1205696A JPH09203700A JP H09203700 A JPH09203700 A JP H09203700A JP 1205696 A JP1205696 A JP 1205696A JP 1205696 A JP1205696 A JP 1205696A JP H09203700 A JPH09203700 A JP H09203700A
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- Japan
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- control
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 制御ループゲインに応じて負荷試験波形の振
幅および平均値を補正する。 【解決手段】 供試体ＳＰを負荷するアクチュエータの
制御量が振幅、平均値および周波数により規定される負
荷試験波形に追従するようにフィードバック制御を行な
う材料試験機において、フィードバック制御系の制御ル
ープゲインに応じて負荷試験波形の振幅と平均値を補正
する。
幅および平均値を補正する。 【解決手段】 供試体ＳＰを負荷するアクチュエータの
制御量が振幅、平均値および周波数により規定される負
荷試験波形に追従するようにフィードバック制御を行な
う材料試験機において、フィードバック制御系の制御ル
ープゲインに応じて負荷試験波形の振幅と平均値を補正
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、引張り圧縮試験機
や疲労試験機などの材料試験機に関する。
や疲労試験機などの材料試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】供試体に引張り荷重や圧縮荷重などを負
荷して試験を行なう材料試験機が知られている。この種
の材料試験機では、図３に示すように、供試体に負荷す
る荷重または変位の試験波形ｗの振幅ａ、平均値ｍおよ
び周波数を設定し、負荷用のアクチュエータの制御量が
負荷試験波形ｗに追従するようにフィードバック制御を
している。
荷して試験を行なう材料試験機が知られている。この種
の材料試験機では、図３に示すように、供試体に負荷す
る荷重または変位の試験波形ｗの振幅ａ、平均値ｍおよ
び周波数を設定し、負荷用のアクチュエータの制御量が
負荷試験波形ｗに追従するようにフィードバック制御を
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に試験
波形の周波数が高くなるとアクチュエータが追従できな
くなり、制御量の振幅が低下する。特に、サーボ弁によ
り負荷用の油圧アクチュエータを駆動する電気油圧サー
ボ式の材料試験機では、サーボ弁の高周波領域の応答性
が低いので、この問題が顕著に現れる。この問題を解決
するために、従来の材料試験機では、制御量が低下する
と試験波形の振幅を予め設定した量だけ補正し、制御量
の低下を補償している。
波形の周波数が高くなるとアクチュエータが追従できな
くなり、制御量の振幅が低下する。特に、サーボ弁によ
り負荷用の油圧アクチュエータを駆動する電気油圧サー
ボ式の材料試験機では、サーボ弁の高周波領域の応答性
が低いので、この問題が顕著に現れる。この問題を解決
するために、従来の材料試験機では、制御量が低下する
と試験波形の振幅を予め設定した量だけ補正し、制御量
の低下を補償している。
【０００４】しかしながら、負荷用アクチュエータの種
類、供試体の種類、試験条件などにより制御ループゲイ
ンの特性が異なるため、補正に時間がかかり、制御精度
も低下するという問題がある。
類、供試体の種類、試験条件などにより制御ループゲイ
ンの特性が異なるため、補正に時間がかかり、制御精度
も低下するという問題がある。
【０００５】本発明の目的は、制御ループゲインに応じ
て負荷試験波形の振幅および平均値を補正する材料試験
機を提供することにある。
て負荷試験波形の振幅および平均値を補正する材料試験
機を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、供試体を負荷
するアクチュエータの制御量が振幅、平均値および周波
数により規定される負荷試験波形に追従するようにフィ
ードバック制御を行なう材料試験機に適用され、フィー
ドバック制御系の制御ループゲインに応じて負荷試験波
形の振幅と平均値を補正する。
するアクチュエータの制御量が振幅、平均値および周波
数により規定される負荷試験波形に追従するようにフィ
ードバック制御を行なう材料試験機に適用され、フィー
ドバック制御系の制御ループゲインに応じて負荷試験波
形の振幅と平均値を補正する。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施形態の構成
を示す図である。供試体ＳＰに圧縮荷重または引張荷重
などを加える試験機本体１０は、基台１１上に一対の支
柱１２ａ，１２ｂとヨーク１３とにより負荷枠を形成
し、支柱１２ａ，１２ｂに上下に移動可能にクロスヘッ
ド１４を取り付けて構成される。基台１１には負荷用の
油圧アクチュエータ１５が設置され、そのピストンロッ
ド１５ａには供試体固定用の下部治具１６ａが取り付け
られている。また、クロスヘッド１４にはロードセル１
７を介して供試体固定用の上部治具１６ｂが取り付けら
れている。油圧アクチュエータ１５はサーボ弁１８によ
り圧油方向と圧油量が制御されてピストンロッド１５ａ
が伸縮し、それによって上部治具１６ａと下部治具１６
ｂとの間に固定された供試体ＳＰが負荷される。油圧ア
クチュエータ１５のストローク、すなわち供試体ＳＰの
変位は、油圧アクチュエータ１５に取り付けられた作動
トランス１９により検出される。
を示す図である。供試体ＳＰに圧縮荷重または引張荷重
などを加える試験機本体１０は、基台１１上に一対の支
柱１２ａ，１２ｂとヨーク１３とにより負荷枠を形成
し、支柱１２ａ，１２ｂに上下に移動可能にクロスヘッ
ド１４を取り付けて構成される。基台１１には負荷用の
油圧アクチュエータ１５が設置され、そのピストンロッ
ド１５ａには供試体固定用の下部治具１６ａが取り付け
られている。また、クロスヘッド１４にはロードセル１
７を介して供試体固定用の上部治具１６ｂが取り付けら
れている。油圧アクチュエータ１５はサーボ弁１８によ
り圧油方向と圧油量が制御されてピストンロッド１５ａ
が伸縮し、それによって上部治具１６ａと下部治具１６
ｂとの間に固定された供試体ＳＰが負荷される。油圧ア
クチュエータ１５のストローク、すなわち供試体ＳＰの
変位は、油圧アクチュエータ１５に取り付けられた作動
トランス１９により検出される。
【０００８】試験機本体１０を制御する制御系２０は、
制御回路２１、入出力装置２２、増幅器２３，２５，２
７、Ａ／Ｄ変換器２４，２８、Ｄ／Ａ変換器２６などを
備えている。制御回路２１は、マイクロコンピュータと
その周辺部品から構成され、供試体ＳＰを負荷する試験
波形と、ロードセル１７から増幅器２３およびＡ／Ｄ変
換器２４を介して入力した荷重信号と、作動トランス１
９から増幅器２７およびＡ／Ｄ変換２８を介して入力し
た変位信号とに基づいて、油圧アクチュエータ１５を駆
動するための制御信号を生成し、Ｄ／Ａ変換器２６およ
び増幅器２５を介してサーボ弁１８へ出力する。入出力
装置２２は、供試体ＳＰの負荷試験波形ｗの振幅ａ、平
均値ｍ、周波数などを入力する入力部と、試験結果の供
試体のＳＰの荷重−変位特性などを出力する出力部とを
備えている。
制御回路２１、入出力装置２２、増幅器２３，２５，２
７、Ａ／Ｄ変換器２４，２８、Ｄ／Ａ変換器２６などを
備えている。制御回路２１は、マイクロコンピュータと
その周辺部品から構成され、供試体ＳＰを負荷する試験
波形と、ロードセル１７から増幅器２３およびＡ／Ｄ変
換器２４を介して入力した荷重信号と、作動トランス１
９から増幅器２７およびＡ／Ｄ変換２８を介して入力し
た変位信号とに基づいて、油圧アクチュエータ１５を駆
動するための制御信号を生成し、Ｄ／Ａ変換器２６およ
び増幅器２５を介してサーボ弁１８へ出力する。入出力
装置２２は、供試体ＳＰの負荷試験波形ｗの振幅ａ、平
均値ｍ、周波数などを入力する入力部と、試験結果の供
試体のＳＰの荷重−変位特性などを出力する出力部とを
備えている。
【０００９】図２は、ソフトウエアにより構成される制
御回路２１の制御ブロック図である。制御回路２１は、
マイクロコンピュータのソフトウエア形態で構成される
波形発生回路２１１、ＡＧＣ回路２１２、減算器２１
３、コントローラ２１４を備えている。制御対象３０
は、上述したサーボ弁１８、油圧アクチュエータ１５、
Ｄ／Ａ変換器２６、増幅器２５である。また、検出器４
０は、供試体ＳＰの荷重を検出するためのロードセル１
７、増幅器２３およびＡ／Ｄ変換器２４と、供試体ＳＰ
の変位を検出するための作動トランス１９、増幅器２７
およびＡ／Ｄ変換器２８である。制御回路２１は制御対
象３０へ荷重または変位の操作量ｕを出力し、制御対象
３０は供試体ＳＰに負荷して荷重または変位の制御量ｙ
を発生させる。検出器４０は、荷重または変位の制御量
ｙを検出し、信号ｆとして制御回路２１にフィードバッ
クする。
御回路２１の制御ブロック図である。制御回路２１は、
マイクロコンピュータのソフトウエア形態で構成される
波形発生回路２１１、ＡＧＣ回路２１２、減算器２１
３、コントローラ２１４を備えている。制御対象３０
は、上述したサーボ弁１８、油圧アクチュエータ１５、
Ｄ／Ａ変換器２６、増幅器２５である。また、検出器４
０は、供試体ＳＰの荷重を検出するためのロードセル１
７、増幅器２３およびＡ／Ｄ変換器２４と、供試体ＳＰ
の変位を検出するための作動トランス１９、増幅器２７
およびＡ／Ｄ変換器２８である。制御回路２１は制御対
象３０へ荷重または変位の操作量ｕを出力し、制御対象
３０は供試体ＳＰに負荷して荷重または変位の制御量ｙ
を発生させる。検出器４０は、荷重または変位の制御量
ｙを検出し、信号ｆとして制御回路２１にフィードバッ
クする。
【００１０】波形発生回路２１１は、供試体ＳＰの試験
条件に応じた試験波形ｗを発生する。試験波形ｗは、図
３に示すように、所定の振幅（amplitude、以下では記
号ａで表わす）と、平均値（mean、以下では記号ｍで表
わす）と、周波数とにより設定される。この明細書で
は、試験波形ｗの振幅を振幅目標値ｗａと呼び、試験波
形ｗの平均値を平均目標値ｗｍと呼ぶ。この試験波形ｗ
はＡＧＣ回路２１２に供給される。
条件に応じた試験波形ｗを発生する。試験波形ｗは、図
３に示すように、所定の振幅（amplitude、以下では記
号ａで表わす）と、平均値（mean、以下では記号ｍで表
わす）と、周波数とにより設定される。この明細書で
は、試験波形ｗの振幅を振幅目標値ｗａと呼び、試験波
形ｗの平均値を平均目標値ｗｍと呼ぶ。この試験波形ｗ
はＡＧＣ回路２１２に供給される。
【００１１】ＡＧＣ回路２１２は、試験波形ｗの振幅目
標値ｗａおよび平均目標値ｗｍと、検出器４０からの荷
重または変位のフィードバック信号ｆの振幅ｆａおよび
平均値ｆｍとに基づいて、振幅目標値ｗａおよび平均目
標値ｗｍをそれぞれ補正するための係数を算出し、補正
係数により補正した試験波形ｒを出力する。なお、この
明細書では試験波形ｒの振幅を振幅設定値ｒａと呼び、
試験波形ｒの平均値を平均設定値ｒｍと呼ぶ。このＡＧ
Ｃ回路２１２の動作を説明する。通常、ＡＧＣ回路２１
２は、振幅目標値ｗａとフィードバック振幅ｆａとの偏
差ｅａに予め設定された係数α１を乗じて振幅設定値ｒ
ａを補正する。同様に、平均目標値ｍとフィードバック
平均値ｆｍとの偏差ｅｍに予め設定された係数β１を乗
じて平均設定値ｒｍを補正する。すなわち、
標値ｗａおよび平均目標値ｗｍと、検出器４０からの荷
重または変位のフィードバック信号ｆの振幅ｆａおよび
平均値ｆｍとに基づいて、振幅目標値ｗａおよび平均目
標値ｗｍをそれぞれ補正するための係数を算出し、補正
係数により補正した試験波形ｒを出力する。なお、この
明細書では試験波形ｒの振幅を振幅設定値ｒａと呼び、
試験波形ｒの平均値を平均設定値ｒｍと呼ぶ。このＡＧ
Ｃ回路２１２の動作を説明する。通常、ＡＧＣ回路２１
２は、振幅目標値ｗａとフィードバック振幅ｆａとの偏
差ｅａに予め設定された係数α１を乗じて振幅設定値ｒ
ａを補正する。同様に、平均目標値ｍとフィードバック
平均値ｆｍとの偏差ｅｍに予め設定された係数β１を乗
じて平均設定値ｒｍを補正する。すなわち、
【数１】ｅａ＝ｗａ−ｆａ， ｅｍ＝ｗｍ−ｆｍ
【数２】（ｒａ＋ｅａ・α１）→ｒａ， （ｒｍ＋ｅｍ・β１）→ｒｍ
【００１２】しかし、補正係数α１，β１は通常、０．
２〜０．５の範囲に設定されるので、制御対象３０、特
にサーボ弁１８の周波数特性により制御系２０のループ
ゲインが低下すると、補正が不十分となり、制御性能が
著しく低下する。そこで、この実施形態では、試験周波
数における制御系のループゲインに相関する係数α２，
β２を算出し、これらの係数α２，β２により係数α
１，β１を補正する。なお、係数α２，β２は制御ルー
プゲインが低下するほど増大する。まず、数式２により
係数α１，β１で補正した振幅設定値ｒａと平均設定値
ｒｍを有する試験波形ｒで材料試験機を運転し、新たに
フィードバック振幅ｆａとフィードバック平均値ｆｍを
求め、次式により制御ループゲイン係数α２，β２を算
出する。
２〜０．５の範囲に設定されるので、制御対象３０、特
にサーボ弁１８の周波数特性により制御系２０のループ
ゲインが低下すると、補正が不十分となり、制御性能が
著しく低下する。そこで、この実施形態では、試験周波
数における制御系のループゲインに相関する係数α２，
β２を算出し、これらの係数α２，β２により係数α
１，β１を補正する。なお、係数α２，β２は制御ルー
プゲインが低下するほど増大する。まず、数式２により
係数α１，β１で補正した振幅設定値ｒａと平均設定値
ｒｍを有する試験波形ｒで材料試験機を運転し、新たに
フィードバック振幅ｆａとフィードバック平均値ｆｍを
求め、次式により制御ループゲイン係数α２，β２を算
出する。
【数３】α２＝ｒａ／ｆａ， β２＝ｒｍ／ｆｍ そして、算出した係数α２，β２により数式２における
α１，β１を補正し、振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍ
を更新する。すなわち、
α１，β１を補正し、振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍ
を更新する。すなわち、
【数４】ｒａ＋ｅａ・α１・α２→ｒａ， ｒｍ＋ｅｍ・β１・β２→ｒｍ 以後、数式４により補正された振幅設定値ｒａと平均設
定値ｒｍを有する試験波形ｒで材料試験を継続する。
定値ｒｍを有する試験波形ｒで材料試験を継続する。
【００１３】減算器２１３、コントローラ２１４、制御
対象３０および検出器４０はフィードバック制御系を構
成し、減算器２１３は試験波形ｒとフィードバック信号
ｆとの偏差ｅを求め、コントローラ２１４は偏差ｅに基
づいて制御量ｙが試験波形ｒに追従するようにフィード
バック制御する。なお、コントローラ２１４は古典制御
理論に基づくＰＩＤのフィードバック制御を行ってもよ
いし、現代制御理論に基づく適応制御やオブザーバーな
どを用いてもよい。これらの制御方法は周知であり、本
発明とは直接関係がないので説明を省略する。制御結果
の操作量ｕは制御対象３０に与えられ、それにより制御
対象３０は制御量ｙを発生する。ここで、操作量ｕは制
御回路２１からＤ／Ａ変換器２６へ出力されるサーボ弁
１８の制御信号であり、制御量ｙはロードセル１７で検
出される荷重または作動トランス１９で検出される変位
である。
対象３０および検出器４０はフィードバック制御系を構
成し、減算器２１３は試験波形ｒとフィードバック信号
ｆとの偏差ｅを求め、コントローラ２１４は偏差ｅに基
づいて制御量ｙが試験波形ｒに追従するようにフィード
バック制御する。なお、コントローラ２１４は古典制御
理論に基づくＰＩＤのフィードバック制御を行ってもよ
いし、現代制御理論に基づく適応制御やオブザーバーな
どを用いてもよい。これらの制御方法は周知であり、本
発明とは直接関係がないので説明を省略する。制御結果
の操作量ｕは制御対象３０に与えられ、それにより制御
対象３０は制御量ｙを発生する。ここで、操作量ｕは制
御回路２１からＤ／Ａ変換器２６へ出力されるサーボ弁
１８の制御信号であり、制御量ｙはロードセル１７で検
出される荷重または作動トランス１９で検出される変位
である。
【００１４】図４は制御回路２１の処理を示すフローチ
ャートである。このフローチャートにより、実施形態の
動作を説明する。ステップ１において、入出力装置２２
により試験波形ｗの振幅目標値ｗａ、平均目標値ｗｍ、
周波数を設定し、続くステップ２で材料試験を開始し、
試験波形ｗでフィードバック制御を行なう。なお、試験
開始直後は試験波形ｒは試験波形ｗと同一である。ステ
ップ３でフィードバック振幅ｆａとフィードバック平均
値ｆｍを検出し、数式１により振幅偏差ｅａと平均値偏
差ｅｍを求める。そして、数式２により振幅設定値ｒａ
と平均設定値ｒｍを更新する。ステップ４で、更新した
振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍを有する試験波形ｒで
フィードバック制御を行なう。続くステップ５では、フ
ィードバック振幅ｆａとフィードバック平均値ｆｍを検
出し、数式３により制御ループゲインに相関する係数α
２，β２を算出する。そして、ステップ６で係数α２，
α２を用いて振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍを更新す
る。ステップ７において、係数α２，β２と最新のｅ
ａ，ｅｍを使って更新した振幅設定値ｒａと平均設定値
ｒｍを有する試験波形ｒでフィードバック制御を行な
う。ステップ８で、入出力装置２２により試験の終了操
作が行われると処理を終了する。
ャートである。このフローチャートにより、実施形態の
動作を説明する。ステップ１において、入出力装置２２
により試験波形ｗの振幅目標値ｗａ、平均目標値ｗｍ、
周波数を設定し、続くステップ２で材料試験を開始し、
試験波形ｗでフィードバック制御を行なう。なお、試験
開始直後は試験波形ｒは試験波形ｗと同一である。ステ
ップ３でフィードバック振幅ｆａとフィードバック平均
値ｆｍを検出し、数式１により振幅偏差ｅａと平均値偏
差ｅｍを求める。そして、数式２により振幅設定値ｒａ
と平均設定値ｒｍを更新する。ステップ４で、更新した
振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍを有する試験波形ｒで
フィードバック制御を行なう。続くステップ５では、フ
ィードバック振幅ｆａとフィードバック平均値ｆｍを検
出し、数式３により制御ループゲインに相関する係数α
２，β２を算出する。そして、ステップ６で係数α２，
α２を用いて振幅設定値ｒａと平均設定値ｒｍを更新す
る。ステップ７において、係数α２，β２と最新のｅ
ａ，ｅｍを使って更新した振幅設定値ｒａと平均設定値
ｒｍを有する試験波形ｒでフィードバック制御を行な
う。ステップ８で、入出力装置２２により試験の終了操
作が行われると処理を終了する。
【００１５】このように、材料試験中に制御ループゲイ
ンに相関する係数α２，β２を算出し、これらの係数α
２，β２により負荷試験波形ｗの振幅ａと平均値ｍを補
正して制御ループゲインの低下を補償するようにしたの
で、負荷用のアクチュエータの種類、供試体の種類、試
験条件が変っても制御ループゲインに応じて自動的に負
荷試験波形ｗの振幅と平均値が短時間に補正され、高い
制御精度を維持することができる。
ンに相関する係数α２，β２を算出し、これらの係数α
２，β２により負荷試験波形ｗの振幅ａと平均値ｍを補
正して制御ループゲインの低下を補償するようにしたの
で、負荷用のアクチュエータの種類、供試体の種類、試
験条件が変っても制御ループゲインに応じて自動的に負
荷試験波形ｗの振幅と平均値が短時間に補正され、高い
制御精度を維持することができる。
【００１６】−発明の実施の形態の変形例− 上述した実施形態では材料試験中に制御ループゲインに
相関する係数を算出し、これらの係数により負荷試験波
形の振幅と平均値を補正して制御ループゲインの低下を
補償するようにしたが、材料試験開始前に周波数をパラ
メータとして制御系の制御ループゲインを直接測定し、
測定結果により材料試験中の制御ループゲインの低下を
補償するようにしてもよい。制御ループゲインは材料試
験開始前に試験波形の周波数をパラメータとして測定
し、測定結果のループゲインを試験周波数に対応づけて
メモリに記憶する。そして、材料試験を開始し、試験中
の制御ループゲインの低下を次式により補償する。
相関する係数を算出し、これらの係数により負荷試験波
形の振幅と平均値を補正して制御ループゲインの低下を
補償するようにしたが、材料試験開始前に周波数をパラ
メータとして制御系の制御ループゲインを直接測定し、
測定結果により材料試験中の制御ループゲインの低下を
補償するようにしてもよい。制御ループゲインは材料試
験開始前に試験波形の周波数をパラメータとして測定
し、測定結果のループゲインを試験周波数に対応づけて
メモリに記憶する。そして、材料試験を開始し、試験中
の制御ループゲインの低下を次式により補償する。
【数５】ｒａ＋ｅａ・α１／ＬＰ→ｒａ， ｒｍ＋ｅｍ・β１／ＬＰ→ｍ， ここで、ＬＰは材料試験に先だって測定した試験周波数
における制御ループゲインである。このようにすれば、
材料試験中の数回の補正でどのような周波数においても
目標値通りの振幅値と平均値が得られる。
における制御ループゲインである。このようにすれば、
材料試験中の数回の補正でどのような周波数においても
目標値通りの振幅値と平均値が得られる。
【００１７】−発明の実施の形態の他の変形例−上述し
た変形例では、材料試験前に制御系のループゲインを直
接測定したが、図２に示す各ブロックの伝達関数を求
め、フィードバック制御系２０の開ループゲインを算出
して理論的に制御ループゲインを求めてもよい。そし
て、算出した制御ループゲインを用いて試験中に上記数
式５により負荷試験波形の振幅ａと平均値ｍを補正す
る。
た変形例では、材料試験前に制御系のループゲインを直
接測定したが、図２に示す各ブロックの伝達関数を求
め、フィードバック制御系２０の開ループゲインを算出
して理論的に制御ループゲインを求めてもよい。そし
て、算出した制御ループゲインを用いて試験中に上記数
式５により負荷試験波形の振幅ａと平均値ｍを補正す
る。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、供
試体を負荷するアクチュエータの制御量が振幅、平均値
および周波数により規定される負荷試験波形に追従する
ようにフィードバック制御を行なう際、フィードバック
制御系の制御ループゲインに応じて負荷試験波形の振幅
と平均値を補正するようにしたので、負荷用のアクチュ
エータの種類、供試体の種類、試験条件が変っても制御
ループゲインに応じて自動的に負荷試験波形の振幅と平
均値が短時間に補正され、高い制御精度を維持すること
ができる。
試体を負荷するアクチュエータの制御量が振幅、平均値
および周波数により規定される負荷試験波形に追従する
ようにフィードバック制御を行なう際、フィードバック
制御系の制御ループゲインに応じて負荷試験波形の振幅
と平均値を補正するようにしたので、負荷用のアクチュ
エータの種類、供試体の種類、試験条件が変っても制御
ループゲインに応じて自動的に負荷試験波形の振幅と平
均値が短時間に補正され、高い制御精度を維持すること
ができる。
【図１】 一実施形態の構成を示すブロック図。
【図２】 一実施形態の制御系を示す制御ブロック図。
【図３】 試験波形を示す図。
【図４】 制御回路の処理を示すフローチャート。
１０ 試験機本体 １５ 油圧アクチュエータ １７ ロードセル １８ サーボ弁 １９ 作動トランス ２０ 制御系 ２１ 制御回路 ２２ 入出力装置 ２３，２５，２７ 増幅器 ２４，２８ Ａ／Ｄ変換器 ２６ Ｄ／Ａ変換器
Claims (1)
- 【請求項１】 供試体を負荷するアクチュエータの制御
量が振幅、平均値および周波数により規定される負荷試
験波形に追従するようにフィードバック制御を行なう材
料試験機において、フィードバック制御系の制御ループ
ゲインに応じて前記負荷試験波形の振幅と平均値を補正
することを特徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01205696A JP3570056B2 (ja) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01205696A JP3570056B2 (ja) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09203700A true JPH09203700A (ja) | 1997-08-05 |
| JP3570056B2 JP3570056B2 (ja) | 2004-09-29 |
Family
ID=11794953
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1996
- 1996-01-26 JP JP01205696A patent/JP3570056B2/ja not_active Expired - Fee Related
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