JPH11348918A - Tabテープ用検査機能付きパンチングマシン - Google Patents

Tabテープ用検査機能付きパンチングマシン

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JPH11348918A
JPH11348918A JP15643698A JP15643698A JPH11348918A JP H11348918 A JPH11348918 A JP H11348918A JP 15643698 A JP15643698 A JP 15643698A JP 15643698 A JP15643698 A JP 15643698A JP H11348918 A JPH11348918 A JP H11348918A
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tab tape
tape
punching
tab
inspection
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JP15643698A
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Yasuaki Masuko
泰昭 益子
Kota Hagiwara
弘太 萩原
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Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
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Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、TAB(Tape Automated Bondin
g)テープに開口孔をあけ、その開口孔を検査する一連
の処理を行うための装置に関する。 【解決手段】 本発明の装置は、TABテープを巻き戻
す巻き戻しリールと、巻き戻したTABテープをタクト
搬送し、順次パンチングを施すパンチング装置と、巻き
取り側にピンチロールを有するTABテープのたるみ部
と、ピンチロール出側でTABテープをコンスタントに
連続搬送し、パンチングされた表面を連続して検査する
検査装置と、検査後のTABテープを巻き取る巻き取り
リールとから構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LCDドライバ、
ASICメモリ用等の半導体IC用フィルムキャリアテ
ープの製造工程においてテープに開口孔をあけ、その開
口孔を検査する一連の処理を行うための装置に関する。
以下、上記の半導体IC用フィルムキャリアテープをT
AB(Tape Automated Bonding)テープと称す。
【0002】
【従来の技術】TABテープは、半導体IC、LSI等
を基板に実装するためのフィルムキャリアテープであ
り、ポリイミドフィルム等の絶縁性フィルム表面に銅等
の導電性材料で配線が施されたものである。近年、TA
Bテープは、その両面に配線が施されるようにもなり、
その両面の配線間をスルーホール等の開口孔で接続する
場合もある。
【0003】また、TABテープの一種であるT−BG
A(Tape-Ball Grid Array)用テープは、プリント基板と
の接続に従来のTABテープのようなOLB(Outer Le
ad Bonding)を使わず、アレイ状に並べたハンダボール
による接続を用いている。このハンダボール取り付け方
法としては、ベースフィルムテープ上の銅箔等の導電パ
ターンを絶縁保護するためのソルダーレジスト(カバー
レジスト)膜にハンダボール数に応じた孔を開口し、そ
の孔にハンダボールを取り付ける方法が主流となってい
る。
【0004】これらの開口孔を加工するために、エポキ
シ系等の感光性樹脂を用いてフォトエッチング法によっ
て必要な部分に孔パターンを形成しているが、工程が煩
雑である等の欠点がある。これに対して、金型を用いて
ベースフィルムテープそのものに開口部を形成する方法
が検討されており、工程の簡略化による低価格化の実現
が期待されている。
【0005】金型を用いてベースフィルムテープに開口
孔を形成する場合は、出発材料として、ポリイミド等の
樹脂フィルムテープの片面にシート状の接着剤(エポキ
シ系樹脂等)を積層し、さらにPET(ポリエチレンテ
レフタレート)フィルム等で保護されたベースフィルム
を使用する。このベースフィルムテープに、金型を用い
たパンチングによりスルーホール用やハンダボール用の
孔を開口する。孔のサイズは50〜800 μmφであり、こ
の孔がベースフィルムテープの1 単位当たり(1ピー
ス)数十〜数百個配列する。製品によっては、テープの
幅方向に数ピース並べた構成となることもある。
【0006】この場合の1単位を1ピースの場合も含め
て1ユニットとする。図2に、金型を用い、ベースフィ
ルムテープに開口孔を形成する従来のTABテープ用パ
ンチング装置の構成図を示す。巻き戻しリール1aから巻
き戻されたTABテープ10は、金型で孔加工を行うパン
チング装置2で所要の孔加工が行われ、巻き取りリール
1bによって再び巻き取られるのである。ここで、パンチ
ングは1ユニット毎に行われることから、TABテープ
の搬送は、1ユニット分毎にステップ的に移動するタク
ト搬送が採用されている。
【0007】これらのパンチング装置で加工された開口
孔は、金型のピン折れやピン劣化等により孔が開かなか
ったり、また、バリの発生により孔面積が小さくなった
り、さらには保護フィルムが孔内部に残留する等の不良
を起こすことがある。このような開口不良は、接続不良
などの原因となり、また、一旦劣化したピンはベースフ
ィルムテープの連続的加工において引き続き不良を起こ
す確率が高くなる。
【0008】従って、これらの開口孔については全数を
正確に検査し、一定限度以上の不良が発生した場合はパ
ンチング工程に速やかにフィードバックさせる必要があ
る。この検査は、従来はもっぱら目視検査に頼ってきた
が、近年、CCDカメラとそのカメラで取り込んだ画像
の画像処理技術の発達により、自動検査装置が開発され
てきている。図3に、そのTABテープ用検査装置の構
成図を示す。
【0009】巻き戻しリール1aから巻き戻されたTAB
テープ10は、例えばCCDカメラなどの検査装置3で所
定位置の画像が取り込まれ、図示しない画像処理装置で
処理されて自動検査が行われる。そして、巻き取りリー
ル1bによって再び巻き取られるのである。ここで、画像
の取り込みは極めて短時間に行うことが可能であること
から、TABテープの搬送に同期した信号を基にストロ
ボ露光させて1ユニット毎の画像を取り込むことが行わ
れる。そのため、TABテープ用検査装置ではTABテ
ープの搬送を連続搬送としており、できるだけ一定速度
の搬送となるようにしている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】このように、TABテ
ープの搬送方式が、TABテープ用パンチング装置とT
ABテープ用検査装置で根本的に異なるため、連続化す
ることはできなかった。そのため、パンチングを終わっ
たTABテープを再びリールに巻き取り、巻き取ったT
ABテープをまた巻き戻してから検査を行い、再度巻き
取ることが行われてきた。
【0011】そのため、工数がかかることと、検査結果
のパンチングへのフィードバックが遅くなることが大き
な問題であった。本発明は、この搬送方式が異なる2つ
の装置を連続化したTABテープ用検査機能付きパンチ
ングマシンを提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも、
TABテープを巻き戻す巻き戻しリールと、巻き戻した
TABテープをタクト搬送し、順次パンチングを施すパ
ンチング装置と、巻き取り側にピンチロールを有するT
ABテープのたるみ部と、ピンチロール出側でTABテ
ープをコンスタントに連続搬送し、パンチングされた表
面を連続して検査する検査装置と、検査後のTABテー
プを巻き取る巻き取りリールとから構成されるTABテ
ープ用検査機能付きパンチングマシンによって上記課題
を解決したのである。
【0013】そして、前記たるみ部の高さ位置を検出す
るたるみ部位置検出センサを有し、該たるみ部の高さ位
置に応じて検査装置におけるTABテープのコンスタン
トに連続搬送される搬送速度を制御することで本発明の
TABテープ用検査機能付きパンチングマシンの処理速
度を最適化できることを見出したのである。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の、TABテープ用検査機
能付きパンチングマシンの構成図を図1に示し、その動
作を説明する。巻き戻しリール1aから巻き戻されたTA
Bテープ10は、金型で孔加工を行うパンチング装置2で
所要の孔加工が行われる。TABテープ10は、パンチン
グ装置2では1ユニット毎のパンチング加工のためタク
ト搬送され、1ユニット毎に金型でパンチングが行われ
る。
【0015】たるみ部6を経たTABテープ10は、ピン
チロール4から検査装置3に搬送され、巻き取りリール
1bで巻き取られる。検査装置3においては、TABテー
プ10はコンスタントに連続して搬送される。このよう
に、たるみ部6を設けたことにより、従来、連続化する
ことのできなかった2つの装置を一体化することが可能
となり、連続して搬送することができるようになったの
である。
【0016】ここで、たるみ部6のたるみ程度の監視
は、目視による方法でもよいが、必要に応じ、たるみ部
位置検出センサ7を設けるようにして自動監視してもよ
い。このたるみ部位置検出センサ7は、光学式のライン
センサで構成してもよいし、複数の光電センサなどで構
成してもよい。このたるみ部位置検出センサ7でたるみ
部6の最下端の位置を検出し、その検出した位置情報に
基づき、検査装置における搬送速度を調整するのであ
る。すなわち、たるみ部の最下端位置が下方になるほど
搬送速度を上げるようにして、たるみすぎないように制
御するのである。
【0017】また、このたるみ部は、巻き戻しリール1
a、巻き取りリール1bのそれぞれ直近位置にも設けるよ
うにしておいてもよく、そうすることで、それぞれのリ
ールの巻き戻し、巻き取りをスムーズなものとすること
が可能となり、TABテープの疵発生等を抑えることが
可能になる。特に、巻き戻しリール1a側はタクト搬送さ
れているため、効果的である。
【0018】
【発明の効果】本発明によって、TABテープを処理す
るパンチング装置と検査装置を一体化することが可能と
なり、工数削減を実現できた。また、パンチングの検査
結果をほぼリアルタイムでフィードバックすることが可
能となり、TABテープの生産歩留まりを向上させるこ
とができるようになった。
【0019】以上の効果により、TABテープの生産コ
ストを大幅に削減することが可能となり、TABテープ
を更に安価に提供することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のTABテープ用検査機能付きパンチン
グマシンの構成図である。
【図2】従来のTABテープ用パンチング装置の構成図
である。
【図3】従来のTABテープ用検査装置の構成図であ
る。
【符号の説明】
1a 巻き戻しリール 1b 巻き取りリール 2 パンチング装置 3 検査装置(CCDカメラ) 4 ピンチロール 6 たるみ部 7 たるみ部位置検出センサ 10 TABテープ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、TABテープを巻き戻す巻
    き戻しリールと、巻き戻したTABテープをタクト搬送
    し、順次パンチングを施すパンチング装置と、巻き取り
    側にピンチロールを有するTABテープのたるみ部と、
    ピンチロール出側でTABテープをコンスタントに連続
    搬送し、パンチングされた表面を連続して検査する検査
    装置と、検査後のTABテープを巻き取る巻き取りリー
    ルとから構成されるTABテープ用検査機能付きパンチ
    ングマシン。
  2. 【請求項2】 前記たるみ部の高さ位置を検出するたる
    み部位置検出センサを有し、該たるみ部の高さ位置に応
    じて検査装置におけるTABテープのコンスタントに連
    続搬送される搬送速度を制御するようにしたことを特徴
    とする請求項1記載のTABテープ用検査機能付きパン
    チングマシン。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100420688B1 (ko) * 2001-12-27 2004-03-02 남운숙 안전띠의 발광 결합부 자동 천공장치
WO2010010984A1 (en) * 2008-07-24 2010-01-28 Sungjin Hi-Mech Co., Ltd Apparatus and method of punching and extracting tab ic from tab ic tape
CN104056987A (zh) * 2014-05-27 2014-09-24 安徽红桥金属制造有限公司 一种冲压机的送料、收料装置
CN104475528A (zh) * 2014-12-11 2015-04-01 天津市日津科技有限公司 一种软材料冲压生产线

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