JPH1133988A - 金型のクリアランス調整方法と打抜き金型 - Google Patents

金型のクリアランス調整方法と打抜き金型

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JPH1133988A
JPH1133988A JP18799197A JP18799197A JPH1133988A JP H1133988 A JPH1133988 A JP H1133988A JP 18799197 A JP18799197 A JP 18799197A JP 18799197 A JP18799197 A JP 18799197A JP H1133988 A JPH1133988 A JP H1133988A
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JP
Japan
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die
punch
clearance
adjusting
punching
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Application number
JP18799197A
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English (en)
Inventor
Masaki Higa
正貴 日賀
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 金型のクリアランス調整方法で、金型を分解
することなく短時間で正確に行なえる調整方法と、この
調整方法が可能な金型である。 【解決手段】 ポンチ12とダイ15とのクリアランス
Ca,Cbを調整する金型のクリアランスCa,Cb調
整方法において、前記ダイ15の切刃18の水平方向の
調整を前記ダイ15を分解しないで切刃18の裏面側に
係合した調整具を垂直方向に微動させることによって調
整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プレス金型のクリ
アランス調整方法に関し、電子部品、特に半導体用のリ
ードフレーム等を精密プレス加工するための金型のクリ
アランス調整方法とその金型に関する。詳しくは、クリ
アランスを調整する際に、型を分解することなく短時間
で容易にかつ正確に行なえる金型のクリアランス調整方
法とその金型に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、打抜き金型では、ポンチとダイ
の隙間であるクリアランスは大きくなれば打抜き圧力は
減少するが、それとともに被加工物に発生する「だれ」
が大きくなり切断面の直角度は悪くなる。そのため、ク
リアランスは打抜き目的に応じて適宜選定され使い分け
られている。特に、高度な寸法精度が要求される精密プ
レス金型ではクリアランスはミクロンオーダが必要であ
り、クリアランス調整の精度は打抜き部品の品質に極め
て重要な要因である。
【0003】クリアランスはポンチとダイとの隙間であ
るから、その調整はポンチ側の調整でも、ダイ側で調整
でも、或いは、双方で調整でも可能であるが、構造上の
調整しやすさの点で実際上はほとんどの場合はダイ側で
調整している。
【0004】この調整方法について、従来、電子部品等
の打抜きに使用されている精密プレス金型を例に図4、
図5、図6にもとずいて説明する。図4に示すように打
抜金型の構造は、上型10と下型11とで構成されてい
る。上型10は可動側でポンチ12がポンチプレート1
3にポンチホルダ14で固定されている。下型11はダ
イ15が下型ダイホルダ16にスペーサSa、Sb、S
c、Sdを介して下型ダイプレート25で位置決め固定
されている。ポンチ12の中心とダイ15の中心は一致
するように調整されているが、ポンチ12の全周に亘っ
てクリアランスCa,Cbの量をミクロンオーダで調整
することは極めて困難である。これは、ポンチ12とダ
イ15のクリアランスCa,Cbを数値的に正確に測定
すること自体が困難であることが一因でもある。クリア
ランスCa,Cb量の測定は、例えば、シックネスゲー
ジ(隙見ゲージ)をクリアランスCa,Cbに差し込ん
で測定する方法がある。クリアランスCa,Cbの調整
はその結果に応じて図4に示す金型では、金型を分解し
てクリアランスの小さい一方のスペーサSaを除去加工
し、クリアランスの大きい他方のスペーサSbにはシム
等の薄いスペーサを挿入することによって補正してバラ
ンスをとり、それをまた型に組み込んで行なっている。
【0005】クリアランスCa,Cbの量そのものを測
定しない方法では、実際にワークWを打抜いてそのワー
クWの断面から判断するもので、以下の5つのステップ
で行われている。
【0006】第1ステップ …上型10と下型11の型
合せを行なった後、ワークWを試し打抜きを行なう。図
6(a)(b)に示すように打抜きによって打抜かれた
ワークWを打抜き部の中央(A―A)で分割しその断面
を観察して、せん断面Dと破断面Eとの比率が分割した
同士で相互に均等かどうか確認する。 第2ステップ…せん断面Dと破断面Eとの比率が分割し
た同士が均等であれば調整は不要であれが、分割した同
士で異なる場合、例えば、A側せん断面Dの面積がB側
せん断面Dの面積よりも大きい場合、図4におけるクリ
アランスCa,CbはクリアランスCa<クリアランス
Cbになる。 第3ステップ…ステップ2の結果にもとずき、クリアラ
ンスCa,Cbのアンバランスを調整するために、図4
のスペーサSaを(クリアランスCb―クリアランスC
a)/2の厚さ分だけ削り、逆にスペーサSbを(クリ
アランスCb―クリアランスCa)/2の厚さ分のシム
等を挿入して調整する。その結果、修正されたクリアラ
ンスCa,Cbが等しくなる。 第4ステップ…再度試し打抜きを行い、打抜かれたワー
クWを中央で分割して、せん断面Dと破断面Eとの比率
を確認する。 第5ステップ…せん断面Dと破断面Eとの比率が分割し
たワークW同士で異なる場合は、ステップ1〜4を繰り
返す。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のような精密プレ
ス金型のクリアランス調整方法では、クリアランスの測
定・確認方法が異なっても、クリアランスの調整自体
は、下型のダイの位置をスペーサで調整することによっ
て行なわれている。
【0008】従って、この調整では一対のスペーサの
内、クリアランスの小さい方のスペーサを削り、クリア
ランスの大きい方のスペーサにはシム等を付加する必要
がある。スペーサの削り加工のためにはその前段として
下型を解体してスペーサを取出すことが必要になるう
え、スペーサを所定の寸法に加工後、解体した下型を組
立て調整してクリアランスを調整しなければならない。
通常、これらのクリアランス調整は、1回で調整できる
ことは殆ど無く、数回を繰り返す場合が多い。このた
め、クリアランスの調整作業は型の分解、スペーサの追
加工、型の組立て・調整を繰り返すため多大の時間と労
力が費やされている。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1によてば、ポン
チとダイとのクリアランスを調整する金型のクリアラン
ス調整方法において、前記ダイの前記ポンチに対して非
直角な面を当接させた調整具を前記ポンチの移動方向と
略平行方向に移動させることによって前記ダイを変位さ
せることを特徴とする金型のクリアランス調整方法であ
る。請求項2によれば、前記調整具の垂直方向への移動
は、ねじ機構によって行うことを特徴とする請求項1記
載の金型のクリアランス調整方法である。請求項3によ
れば、被加工物を打抜くポンチと、このポンチが通過す
る開口部を切刃によって構成するダイと、前記ダイを前
記ポンチの移動方向に支持するダイホルダと、前記ダイ
を前記ポンチの移動と直交する方向に支持するダイプレ
ートと、このダイプレートと前記ダイとの間に設けられ
前記ダイとは前記ポンチの移動方向に対して傾斜した面
において接しているスペーサと、前記ダイプレートに設
けられ前記スペーサを前記ダイプレートと当接する面に
沿って摺動させる調整具とを具備することを特徴とする
打抜き金型である。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に実施形態について
図面を参照して説明する。図4〜6で示した従来の技術
と同一符号は、従来の技術と同一部品又は同一機能を有
する部品を示す。
【0011】図1は、本発明の精密打抜き金型の主要部
を示す全体構成図で、通常のプレス金型で広く用いられ
ているように、上型10側のポンチ12が下型11側の
ダイ15と対向している。下型11の上面には近接して
ストリッパ17が配設されている。下型11は構造用炭
素鋼で製造されたダイ15が下型ダイホルダ16の上面
に載置固定されている。ダイ15は分割型で内周側に切
刃18が形成され外周側には斜面26が形成されてい
る。切刃18の角度はダイ15の板厚に応じて変化する
が、通常、0.50〜12度の範囲で適宜選択される。
また、ダイ15の切刃18部分の高さは3〜5mm程度
でその下部には抜きかす等が詰まらないようにテーパ状
の逃げ部が形成されている。一方、ダイ15の外側の斜
面26は5〜20程度の傾斜範囲内で分割型のそれぞれ
が同じ角度になるように設定されている。ダイ15の外
側斜面26に対称位置に当接するようにポンチ12とダ
イ15とのクリアランスを調整するための調整具とし
て、ダイ15の外側斜面26と同角度の斜面27が形成
された可動スペーサ19a,19bが密接して配設され
ている。この可動スペーサ19a,19bはダイ15の
高さよりも高さ方向は小さくなるよう形成されていると
共に、斜面27の反対側は下型ダイホルダ16の上面に
載置固定された下型ダイプレート25と垂直面同士で密
接している。また、可動スペーサ19a,19bの下部
には凹部20が形成されこの凹部20に連接棒21a,
21bの一端の頭部が係合している。この連接棒21
a,21bは可動スペーサ19a、19bを下型ダイプ
レート25とと当接する面に沿って摺動・移動させる手
段で、中央の一部にねじが切られ下型ダイホルダ16に
切られたねじ部と螺合している。連接棒21a,21b
のねじ部はこの螺合部の下にスペーサロックねじ23が
螺合し緩み止めのダブルナット構造を形成している。な
お、連接棒21a、21bの他端はクリアランス調整つ
まみ22a、22bが形成されている。また、下型ダイ
ホルダ16の中央部は打抜き部品が落下できるように逃
げ穴が明けられている。
【0012】これらの構造による作用を説明すると。ま
ず、従来の技術と同様に実際にワークWを打抜いて図6
(a)で示すように打抜かれたワークWを中央で分割し
てせん断面D同士を比較する。比較した相互のせん断面
Dの面積が均等であればクリアランスCa,Cbは適切
に調整されているので、その後の調整は不要になり、所
定の打抜き加工を開始する。
【0013】しかしながら、ワークWのせん断面D同士
の比較で差が生じた場合、例えば、従来の技術で示した
ように図6(a)、(b)のA側せん断面D積がB側せ
ん断面D積よりも大きい場合は、図4におけるクリアラ
ンスCaはクリアランスCbよりも小さいことになるた
め、クリアランスCaを広げる一方クリアランスCbを
狭める必要がある。この際の広げる量と狭める量は等量
である。
【0014】この作業は、まず、連接棒21a,21b
に螺合しているスペーサロックねじ23をゆるめ、連接
棒21a,21bのダブルナット状態を開放し連接棒2
1a、21bの回転を可能にする。クリアランスCaを
広げるためにはクリアランスCa側の連接棒21aのク
リアランス調整つまみ22aを左回転させる。この回転
により連接棒21aは下降するので、可動スペーサ19
aを下方へ押圧すると可動スペーサ19aは下方へ移動
する。この可動スペーサ19aの下方への移動によりダ
イ15と可動スペーサ19aの間には微少な空隙が生じ
る。ダイ15を内側から可動スペーサ19aへ押し付け
ればダイ15が可動スペーサ19aに密接すると共に、
クリアランスCaが所定量広げられる。次に、クリアラ
ンスCbを狭めるために、連接棒21bのクリアランス
調整つまみ22bを、先のクリアランスCaのクリアラ
ンス調整つまみ22aを回転させた回転量と同量を右回
転させる。この連接棒21bの右回転によって連接棒2
1bは上昇し可動スペーサ19a,19bを押し上げ
る。その結果、可動スペーサ19bの斜面27が上昇し
ダイ15を所定量だけ内側へ微動させる。これによりク
リアランスCa,Cbは所定量に調整されたので、この
状態で、連接棒21a,21bに螺合しているスペーサ
ロックねじ23を締めてダブルナット状態にして、可動
スペーサ19a,19bの位置を固定する。そして、再
度打抜きを行い、打抜かれたワークWのせん断面Dを比
較して確認する。
【0015】例えば、今回用いたワークWは半導体リー
ドフレームであるので、材質はCuで板厚は0.15m
mのためクリアランスCa,Cbは通常、板厚の0.5
%に調整するため、7.5μmにとなる。この方法で調
整した結果略満足する結果が得たれた。なお、1回の調
整で満足なクリアランスCa,Cbが得られなかった場
合は、調整を繰り返し行なうことで満足な結果を得るこ
とが出来る。
【0016】これら調整の際の力学的関係は図2に示す
ように、可動スペーサ19aをL1だけ上昇させると、
可動スペーサ19aの斜面27の角度をαとすると、ダ
イ15をポンチ12の方向へL1/tan αだけ移動させ
ることが出来る。また、打抜き加工時は、ポンチ12が
下降してくるとワークWを介してダイ15には、垂直方
向の力と共に水平方向の力が加わる。ダイ15に加わっ
た垂直方向の力は常に強度的にそれら受け止めるように
設計されている下型11ダイ15ホルダ16で受け止め
られる。一方、ダイ15に加わった水平方向の力は、可
動スペーサ19a,19bを介して強度的に十分な下型
ダイホルダ16で受け止められる。従って、可動スペー
サ19a,19bの位置に拘わらずそれらの力は確実に
所定の構造で受け止められ、打抜き作業を安定して継続
することが出来る。なお、上記実施の形態では下型11
のダイ15に分割型を用いたが、一体型を用いれば連接
棒21a,21bのいずれか一方のみでよく。それを調
整することによってダイ15全体を調整出来ることは言
うまでもない。
【0017】また、上記実施の形態では可動スペーサ1
9a、19bを摺動・移動させる手段として連接棒21
a、21bによるねじ機構を用いたが、同様の作用を有
するものであれ任意に選択して用いることが出来る。ま
た、上記実施の形態では左右対称形状の打ち抜きの場合
につい説明したが、、ワークWのせん断面Dがが左右対
称にならない場合は、それらの適正な比率で調整するこ
とが必要である。それらは図3に示すように実際に打ち
抜いてその結果の曲がり具合aを観察して、それに応じ
てクリアランスCa,Cbを調整して対処すればよい。
【0018】また、上記実施の形態では金型として打抜
き金型に適用した場合を説明したが、打抜き型だけでな
く絞り型その他の金型でも同様な効果が得られる。更
に、その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形
できることは言うまでもない。
【0019】
【発明の効果】請求項1から2の発明によれば、ダイの
切刃の裏面に斜面を設け、この斜面に調整具を係合させ
て、この調整具を垂直方向へ移動させることによってダ
イを水平方向に移動させてクリアランスを調整するよう
にしたので、従来のように調整の際にその都度、金型を
解体することなくクリアランスを調整することが可能に
なり、金型のクリアランス調整が飛躍的に短時間で容易
に行なうことが出来るようになった。
【0020】請求項3の発明によれば、ポンチとダイの
クリアランスの調整を、ダイの切刃の裏面側の斜面と可
動スペーサの斜面を係合させて、可動スペーサを垂直方
向へ移動させる構造にした金型なので、クリアランスの
調整が短時間で確実に行なえる金型を提供することが出
来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の金型の要部構造を示す
断面図。
【図2】本発明の一実施の形態の金型で調整する際の力
学的関係を示す説明図。
【図3】本発明の一実施の形態で打抜いた打抜片の一例
を示す図。
【図4】金型の一般構造を示す断面図。
【図5】ダイ15の一般構造を示す平面図。
【図6】せん断面Dの比較を示す説明図。
【符号の説明】
10…上型 11…下型 12…ポンチ 13…ポンチプレート 14…ポンチダイ 15…ダイ 16…ダイホルダ 18…切刃 19a、19b…可動スペーサ 25…下型ダイプレート Sa、Sb…スペーサ Ca、Cb…クリアランス

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ポンチとダイとのクリアランスを調整す
    る金型のクリアランス調整方法において、 前記ダイの
    前記ポンチに対して非直角な面を当接させた調整具を前
    記ポンチの移動方向と略平行方向に移動させることによ
    って前記ダイを変位させることを特徴とする金型のクリ
    アランス調整方法。
  2. 【請求項2】 前記調整具の垂直方向への移動は、ねじ
    機構によって行うことを特徴とする請求項1記載の金型
    のクリアランス調整方法。
  3. 【請求項3】 被加工物を打抜くポンチと、このポンチ
    が通過する開口部を切刃によって構成するダイと、前記
    ダイを前記ポンチの移動方向に支持するダイホルダと、
    前記ダイを前記ポンチの移動と直交する方向に支持する
    ダイプレートと、このダイプレートと前記ダイとの間に
    設けられ前記ダイとは前記ポンチの移動方向に対して傾
    斜した面において接している調整具と、前記ダイプレー
    トに設けられ前記調整具を前記ダイプレートと当接する
    面に沿って摺動させる手段とを具備することを特徴とす
    る打抜き金型。
JP18799197A 1997-07-14 1997-07-14 金型のクリアランス調整方法と打抜き金型 Pending JPH1133988A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE102014210060A1 (de) 2013-05-29 2014-12-04 Toyota Boshoku Kabushiki Kaisha Pressgesenk
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