JPH11334851A - 電子機器の調整検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 調整検査工程ごとにコネクタ類を抜き差しし
たり、搬送経路上でパレットを高精度に位置決めしたり
しなくても、各々の調整検査工程で電子機器と調整検査
装置とを電気的に接続し、調整検査作業を効率良く行え
るようにする。 【解決手段】 調整検査対象となるＶＴＲ２を搭載した
状態で所定の搬送経路に沿って搬送されるパレット１
と、このパレット１に設けられ、そのパレット１に搭載
されたＶＴＲ２を電気的に接続される第１の摺電端子６
と、搬送経路に設定された各々の調整検査工程ごとに設
けられ、パレット１が各々の調整検査工程へと搬送され
た際にその搬送方向において所定の範囲で第１の摺電端
子６と摺動接触する第２の摺電端子１２と、各々の調整
検査工程においてＶＴＲ２の調整検査を行うべく、第２
の摺電端子１２と電気的に接続された調整検査装置と、
を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器の調整検
査システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、ＶＴＲ(Video Tape Recorder)
等の電子機器の製造工程では、その生産方式として、モ
ータ駆動されたローラ付きチェーンコンベヤの上にパレ
ットを載せ、そのパレットと一緒に電子機器（組立品）
を搬送する、フリーフローコンベヤを使用している。こ
のフリーフローコンベヤを用いた生産方式（以下、フロ
ーフロー方式）は、大規模な製造ラインで電子機器を大
量生産する場合に有効であるが、各種の電子機器やその
生産台数に見合った製造ラインを構築する場合には不向
きである。

【０００３】そこで、製造ラインを“セル”という単位
に細分化し、このセルを組み合わせることによって必要
最小限の製造ラインを構築する、ワークセル生産方式が
提唱されている。このワークセル生産方式の場合は、セ
ルの組合せが簡単に行えることから、製造ラインの形や
大きさを自由に設定でき、電子機器の生産台数等に応じ
て必要最小限の製造ラインを構築することが可能であ
る。図７はワークセル生産方式を採用した生産ラインの
構成例を示すもので、図中の網かけ部が一つのセルに対
応している。

【０００４】また、電子機器の製造過程では、その電気
的な特性を維持，管理するために、幾つか項目にわたっ
て電気的な調整および検査を行っている。こうした電子
機器の調整検査に際しては、各項目に対応するそれぞれ
の工程で、パレットに搭載されて搬送された電子機器と
その調整検査のために設置された装置類（以下、調整検
査装置）との間で信号の供給や取り出しを行う必要があ
る。そこで、上記フリーフロー方式では、パレットを自
動搬送することを前提として、パレットの自動位置出し
ユニットと、治具ピンを用いた端子間の接触（導通）を
自動で行うユニットとの組合せにより、各々の工程で電
子機器と調整検査装置とを電気的に接続する、ＡＣＵ(A
utomatic Conection Unit)方式を採用している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電子機
器の生産方式をフリーフロー方式からワークセル生産方
式に移行するにあたっては、以下のような問題があっ
た。すなわち、フリーフロー方式で採用しているＡＣＵ
方式は、電子機器側に対応する端子と調整検査装置側に
対応する端子とを点接触させて導通をとっているため、
端子同士を確実に接触させるにはパレットを高精度に位
置決めする必要がある。そのため、パレットの位置出し
ユニットが複雑かつ大掛かりになり、これをそのままワ
ークセル生産方式に採用すると設備コストが膨大なもの
となってしまう。

【０００６】そこで現状においては、各々の調整検査工
程において、測定器や信号源等の調整検査装置からのケ
ーブルを電子機器にダイレクトに接続する方式を採用し
ている。しかしながら、この方式では、生産ライン上の
各工程ごとにコネクタ類を抜き差しする必要があるた
め、電子機器を効率良く生産できないという別の問題が
あった。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る電子機器の
調整検査システムにおいては、調整検査対象となる電子
機器を搭載した状態で所定の搬送経路に沿って搬送され
る機器搭載台と、この機器搭載台に設けられ、その機器
搭載台に搭載された電子機器と電気的に接続される第１
の摺電端子と、搬送経路に設定された各々の調整検査工
程ごとに設けられ、機器搭載台が各々の調整検査工程へ
と搬送された際にその搬送方向において所定の範囲で第
１の摺電端子と摺動接触する第２の摺電端子と、各々の
調整検査工程において電子機器の調整検査を行うべく、
第２の摺電端子と電気的に接続された調整検査装置と、
を備えた構成を採用している。

【０００８】上記構成からなる電子機器の調整検査シス
テムでは、機器搭載台に搭載した電子機器が第１の摺電
端子と電気的に接続され、この状態で機器搭載台が搬送
経路に沿って搬送される。その際、搬送経路に設定され
た各々の調整検査工程に機器搭載台が搬送されると、各
々の検査工程ごとに設けられた第２の摺電端子に第１の
摺電端子が摺動接触する。このとき、各々の調整検査工
程においては、第１の摺電端子と第２の摺電端子とが電
気的に接続され、かつその接続状態が第１，第２の摺電
端子の摺動接触範囲にわたって保持される。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につ
き、図面を参照しつつ詳細に説明する。図１は本発明に
係る電子機器の調整検査システムの一実施形態を説明す
る側面図である。図１においては、機器搭載台となるパ
レット１の上面に、調整検査対象となるＶＴＲ２が搭載
されている。パレット１は略長方形の板状構造をなすも
ので、その両側には支持脚３が設けられている。また、
パレット１の背面側（図１の右側）には、図３にも示す
ように、中継コネクタ４が設けられている。この中継コ
ネクタ４にはケーブル５の一端が接続されている。ま
た、ケーブル５の他端は、ＶＴＲ２の背面部に設けられ
たコネクタに抜き差しされるようになっている。

【００１０】一方、パレット１の底面部には、図２にも
示すように、第１の摺電端子６…が配列されている。こ
れら第１の摺電端子６…は、金属等の導電材料からなる
もので、２つの端子台７ａ，７ｂを用いてパレット１の
底面部に取り付けられている。各々の端子台７ａ，７ｂ
は樹脂等の絶縁材料からなるもので、一方の端子台７ａ
には第１の摺電端子６が６つ設けられ、他方の端子台７
ｂには第１の摺電端子６が４つ設けられている。これに
対して、上記中継コネクタ４からは、第１の摺電端子６
の端子数に対応した数の配線８が引き出されている。各
々の配線８は、パレット１の底面に沿って引き回され、
それぞれに対応する第１の摺電端子６に接続されてい
る。

【００１１】また、パレット１の搬送経路を形成する搬
送架台９上には、その幅方向（図１の左右方向）の両端
に搬送ガイド１０が設けられている。また、各々の搬送
ガイド１０の内側には複数のローラ１１が回転自在に設
けられている。これらのローラ１１は、図４に示すよう
に、搬送架台９の両サイドにそれぞれ所定のピッチで一
列に配置されている。そして、パレット１は、その脚部
３をローラ１１に載せた状態で、左右の搬送ガイド１０
に案内されながら、図４中のＸ方向に搬送されるように
なっている。

【００１２】ここで、搬送架台９は、例えばＶＴＲ２の
各種の調整検査項目のうち、各々の調整検査項目ごとに
一つの調整検査工程の搬送経路を形成するもので、この
搬送架台９を幾つか繋ぎ合わせることにより、パレット
１の搬送経路に複数の調整検査工程が設定される。そこ
で、一つの調整検査工程に対応する搬送架台９に対して
は、その架台上に上記第１の摺電端子６に対応する複数
の第２の摺電端子１２…が設けられている。これら第２
の摺電端子１２…は金属等の導電材料からなるもので、
２つのベース部材１３ａ，１３ｂにそれぞれ一体に組み
込まれている。各々のベース部材１３ａ，１３ｂは樹脂
等の絶縁材料からなるもので、一方のベース部材１３ａ
には、第２の摺電端子１２が６つ組み込まれ、他方のベ
ース部材１３ｂには、第２の摺電端子１２が４つ組み込
まれている。

【００１３】これら第２の摺電端子１２…には、それぞ
れ対応する配線１４が接続されている。各々の配線１４
は、ベース部材１３ａ，１３ｂの間に配置された中継コ
ネクタ１５に接続されている。中継コネクタ１５から
は、配線１４の数に対応する信号線を有するケーブル１
６が引き出され、このケーブル１６の端部が図示せぬ調
整検査装置（信号源，測定器，検査器等）に接続されて
いる。

【００１４】また、パレット１を搬送架台９にセットし
た状態では、パレット１の搬送方向と直交する方向（搬
送架台９の幅方向）において、第１の摺電端子６と第２
の摺電端子１２とが同じ位置に配置されるようになって
いる。つまり、第１の摺電端子６と第２の摺電端子１２
とは、互いに１対１の関係で設けられている。

【００１５】図５は第１，第２の摺電端子６，１２を、
パレット１の搬送方向（図４のＸ方向）と直交する方向
から見た図であり、図中（ａ）は第１の摺電端子６に対
応する図、（ｂ）は第２の摺電端子１２に対応する図で
ある。なお、図５（ｂ）においては、第２の摺電端子１
２を断面で表示している。

【００１６】先ず、第１の摺電端子６は、ベース部６ａ
と可動部６ｂとから構成されている。ベース部６ａの内
部には図示せぬバネが組み込まれ、そのバネ力をもって
可動部６ｂが進退可能に支持されている。可動部６ｂは
略長方形の板状構造をなすもので、その長手方向がパレ
ット１の搬送方向Ｘに沿って配置されている。また、可
動部６ｂの先端側エッジ部には斜めの切欠６ｃが形成さ
れている。

【００１７】一方、第２の摺電端子１２は、長方形の板
状構造をなすもので、その長手方向がパレット１の搬送
方向Ｘに沿って配置されている。また、第２の摺電端子
１２は、それぞれに対応するベース部材１３ａ（１３
ｂ）にサンドイッチ状に挟まれたかたちで支持されてい
る。さらに、第２の摺電端子１２の両端部はそれぞれ斜
めに曲げ加工されている。

【００１８】なお、第１，第２の摺電端子６，１２の端
子数については、調整検査対象となる電子機器やその調
整検査項目等に応じて任意に設定することができる。

【００１９】続いて、上記構成からなる調整検査システ
ムの動作について説明する。先ず、最初の調整検査工程
では、パレット１にＶＴＲ２を搭載し、その背面部のコ
ネクタ（不図示）にケーブル５を接続する。これによ
り、ＶＴＲ２と第１の摺電端子１６とは、ケーブル５、
中継コネクタ４および配線８を介して電気的に接続され
た状態となる。この状態でパレット１を搬送架台９にセ
ットして、図４のＸ方向にパレット１を送り出す。この
とき、パレット１１の移動は、各々のローラ１１の回転
によってスムーズになされ、またその移動方向は左右の
搬送ガイド１０によって案内される。

【００２０】こうしてパレット１を搬送架台９上で搬送
させると、パレット１底面に配列された第１の摺電端子
６が、搬送架台９上に配列された第２の摺電端子１２に
徐々に近づいていく。このとき、図６（ａ）に示すよう
に、搬送架台９上に待機（固定）している第２の摺電端
子１２の上面高さ（図の一点鎖線）に対し、第１の摺電
端子６（可動部６ｂ）の先端高さはそれよりも若干低位
に配置される。

【００２１】続いて、図６（ｂ）に示すように、第２の
摺電端子１２のエッジ部分に第１の摺電端子６が接触す
ると、その接触圧を受けて第１の摺電端子６の可動部６
ｂが上方に押し上げられる。これにより、第１の摺電端
子６の可動部６ｂは、第２の摺電端子１２の上面に乗り
上がった状態となる。

【００２２】この状態で、さらにパレット１が送られる
と、その送り量だけ第１の摺電端子６の可動部６ｂが、
ベース部６ａ内に組み込まれたバネ（不図示）の押圧力
をもって第２の摺電端子１２に接触しながら、当該第２
の摺電端子１２上を摺動する。そして、図６（ｃ）に示
すように、第２の摺電端子１２の直上位置に第１の摺電
端子６が到達した時点では、第２の摺電端子１２の長手
方向の全長にわたって第１の摺電端子６の可動部６ｂが
接触（圧接）した状態となる。

【００２３】このとき、第１，第２の摺電端子６，１２
は、互いの接触部を介して電気的に接続された状態にあ
る。これにより、パレット１に搭載されたＶＴＲ２と図
示せぬ調整検査装置とが、第１，第２の摺電端子６，１
２を経由して電気的に接続された状態となるため、その
間の信号のやり取りによってＶＴＲ２の調整検査を行う
ことが可能となる。ちなみに、第１，第２の摺電端子
６，１２を互いに摺動接触させてパレット１を停止し、
これによってＶＴＲ２と調整検査装置との間に電気的な
接続状態を得る方式では、電気信号を取り扱ううえでの
安定性が懸念されるが、実際に本発明者らがＶＴＲ２の
調整検査を行ったところでは、ビデオ信号のレベルで全
く問題のないことが確認されている。

【００２４】ここで、第１，第２の摺電端子６，１２間
の電気的な接続状態は、図６（ｂ）〜（ｄ）に示すよう
に、パレット１の搬送方向Ｘにおいて、第１の摺電端子
６の可動部６ｂが第２の摺電端子１２上を摺動する範囲
にわたって保持される。したがって、搬送架台９上にお
けるパレット１の停止位置が搬送方向Ｘで基準位置から
ずれた場合でも、そのずれ量が第１，第２の摺電端子
６，１２の摺動接触範囲を外れない限り、ＶＴＲ２の調
整検査を何ら支障なく行うことが可能となる。

【００２５】一例として、パレット１の搬送方向Ｘにお
ける第１の摺電端子６の接触長Ｌ１（図５参照）を１５
ｃｍ、同方向Ｘにおける第２の摺電端子１２の接触長Ｌ
２（図５参照）を同じく１５ｃｍとすると、パレット１
の搬送方向Ｘにおける停止位置のずれ量は３０ｃｍまで
許容されることになる。ちなみに、パレット１の搬送方
向Ｘにおいて、第１，第２の摺電端子６，１２の摺動接
触範囲については、各々の端子の接触長Ｌ１，Ｌ２を変
えることで任意に設定することが可能である。

【００２６】こうして最初の調整検査工程でＶＴＲ２の
調整検査が終了すると、パレット１は次の調整検査工程
へと搬送される。このとき、第１の摺電端子６が第２の
摺電端子２から離間し、それと同時に第１，第２の摺電
端子６，１２の電気的な接続状態が解除される。以降の
調整検査工程では、上記同様に第１，第２の摺電端子
６，１２が電気的に接続された状態で所定の項目に関す
る調整検査が行われる。そして、最終の調整検査工程で
の調整検査が終了すると、ＶＴＲ２背面部のコネクタ
（不図示）からケーブル５が抜き取られる。

【００２７】このように本実施形態においては、各々の
調整検査工程に対応する搬送架台９上にそれぞれ第２の
摺電端子１２を設け、搬送架台９上でパレット１を搬送
した際に、その下面側に設けられた第１の摺電端子６が
第２の摺電端子１２と摺動接触するように構成したの
で、搬送経路上でパレット１を高精度に位置決めしなく
ても、ＶＴＲ２と調整検査装置とを電気的に接続して調
整検査を行うことができる。また、コネクタ類の抜き差
しに関しても、最初の調整検査工程でケーブル５をＶＴ
Ｒ２に接続した後、最終の調整検査工程でそれを取り外
すだけで済むようになるため、コネクタ類の抜き差し回
数を大幅に低減することができる。

【００２８】これにより、搬送経路上でパレット１を高
精度に位置決めするための大掛かりなメカ機構が不要に
なるため、設備コストを安く抑えることができる。ま
た、各々の調整検査工程においては、コネクタ類の抜き
差し作業に要する時間を削減できるため、ＶＴＲ２の調
整検査を効率良く行うことができる。

【００２９】また、システム全体の構成が非常にシンプ
ルで、かつ可動部分が少ないため、メンテナンス性に優
れたものとなる。さらに、第１，第２の摺電端子６，１
２の端子数を適宜設定することにより、ＶＴＲ２の機種
や型式等が変更になった場合でも、同様の設備で対応で
きるなど、汎用性にも優れたものとなる。

【００３０】また、搬送架台９上に配列されたローラ１
１をモータ等を用いて回転させるとともに、その回転動
作をモータ等の駆動状態により制御することにより、搬
送架台９上でパレット１を自動搬送しつつ、第１，第２
の摺電端子６，１２が接触する位置で容易にパレット１
を停止させることが可能となる。さらに、各々の調整検
査工程において、ＶＴＲ２と調整検査装置との間の信号
のやり取りを制御する自動機を導入することにより、一
連の調整検査工程を無人化することも可能である。

【００３１】なお、上記実施形態においては、調整検査
対象となる電子機器としてＶＴＲ２を一例に挙げて説明
したが、本発明はこれに限らず、各種の電子機器の調整
検査システムとして広く適用し得るものである。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、調
整検査工程ごとにコネクタ類を抜き差ししたり、搬送経
路上で電子機器を高精度に位置決めしたりしなくても、
各々の調整検査工程で電子機器と調整検査装置とを電気
的に接続し、かつその接続状態を各々の調整検査工程間
で解除することができる。これにより、搬送経路上で機
器搭載台を高精度に位置決めするための大掛かりなメカ
機構が不要になるとともに、各々の調整検査工程でコネ
クタ類の抜き差しに要する時間を削減できるため、電子
機器の調整検査に係る設備コストの低減と生産量の増加
を同時に実現することが可能となる。また、フリーフロ
ー方式からワークセル生産方式への移行に際しても、設
備コストの増大や生産効率の低下を招くことなく対応で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子機器の調整検査システムの一
実施形態を説明する図である。

【図２】実施形態におけるパレットの底面図である。

【図３】実施形態におけるパレットの背面図である。

【図４】実施形態におけるパレットの搬送方式を示す図
である。

【図５】実施形態における端子の構造を説明する図であ
る。

【図６】実施形態における端子の接触方式を示す図であ
る。

【図７】生産ラインの構成例を示す図である。

【符号の説明】

１…パレット（機器搭載台）、２…ＶＴＲ（電子機
器）、６…第１の摺電端子、９…搬送架台、１１…ロー
ラ、１２…第２の摺電端子、Ｘ…搬送方向

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 調整検査対象となる電子機器を搭載した
   状態で所定の搬送経路に沿って搬送される機器搭載台
   と、 前記機器搭載台に設けられ、その機器搭載台に搭載され
   た前記電子機器と電気的に接続される第１の摺電端子
   と、 前記搬送経路に設定された各々の調整検査工程ごとに設
   けられ、前記機器搭載台が前記各々の調整検査工程へと
   搬送された際にその搬送方向において所定の範囲で前記
   第１の摺電端子と摺動接触する第２の摺電端子と、 前記各々の調整検査工程において前記電子機器の調整検
   査を行うべく、前記第２の摺電端子と電気的に接続され
   た調整検査装置と、 を備えたことを特徴とする電子機器の調整検査システ
   ム。