JPH11312643A - ステ―ジ装置、ステ―ジの制御方法、露光装置ならびに露光方法 - Google Patents

ステ―ジ装置、ステ―ジの制御方法、露光装置ならびに露光方法

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JPH11312643A
JPH11312643A JP11058560A JP5856099A JPH11312643A JP H11312643 A JPH11312643 A JP H11312643A JP 11058560 A JP11058560 A JP 11058560A JP 5856099 A JP5856099 A JP 5856099A JP H11312643 A JPH11312643 A JP H11312643A
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Kazuaki Saeki
和明 佐伯
Yuan Bausan
ユアン バウサン
Kwok Pan Chau Henri
クォーク.パン チャウ ヘンリ
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Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ステージの駆動によって発生する振動を抑制
し、スループットを向上させる。 【構成】 ステージ110を駆動するための軌道コマン
ドは、ステージ110の加速期間および減速期間の始ま
りと終わりの時点ではゼロとなる、ジャークとして知ら
れている導関数を有する加速および減速をステージ11
0に与える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高精度の位置決め
システムで使用されるステージ装置およびその制御方法
に関する。特に、ステージ移動中の構造の振動と不連続
性とを最小限に抑制する制御方法に関する。また、本発
明は、前記ステージ装置または制御方法を用いた露光装
置および露光方法に関する。
【0002】
【従来の技術】マイクロリソグラフィー・システムなど
の高精度の位置決めシステムでは、ステージは、このシ
ステムの構造にできるだけ振動を生じさせないように、
滑らかに運動する必要がある。そのため、従来の殆どの
システムは、振動を最小限に抑えるために防振装置によ
って支持されている。しかし、前記ステージの加速およ
び減速によって生じる力がこの位置決めシステムに作用
するため、位置決めシステムの構造が僅かに振動する現
象がしばしば生じる。
【0003】図1は、ステップ・アンド・リピート方式
の走査型露光装置で用いられていた従来のステージ(図
示せず)の走査時の位置、速度、加速度、およびジャー
クと時間との関係を示す概略図である。図1(A)〜
(D)のX軸は時間を表し、Y軸はステージの位置、速
度、加速度、およびジャークを時間との関係で表してい
る。
【0004】図1(A)は、時間とステージの位置との
関係を示している。図1(A)に示されているように、
このステージは、時間t0からt5までの間に位置0か
らXまで移動する。図1(B)に示すように、時間t2
からt3までの間は一定速度Vcで移動しており、時間
t0より前と時間t5の後では静止している。しかし、
時間t2とtSETとの間には、ステージの加速中に発生
した振動が収束するまでの整定時間が存在している。
【0005】図1(C)は、走査時のステージの加速度
および減速度を示している。図1(C)に示されている
ように、加速度は時間t0ではゼロであり、その後、時
間t1で+Aとなるまで線形状に増大していく。そし
て、時間t1からは、時間t2で0になるまで線形状に
減少していく。時間t2から時間t3までの加速度はゼ
ロであり、ステージは、時間t2から時間t3までは図
1(B)に示されているように一定の速度Vcで移動す
る。時間t3から時間t4までは、加速度は逆向きの方
向に線形状に増加し、時間t4で最大の減速度(−A)
となる。その後、加速度は線形状に増加し、時間t5で
ゼロとなる。この時点でステージは減速し終わり、速度
はゼロとなっている。
【0006】図1(D)は、ステージのジャークを示し
ている。このジャークは前記ステージの加速度における
時間に関しての導関数(加速度を時間で微分した値に対
応する)に等しい。また、ステージの位置に関しての3
次導関数に相当する。図1(D)に示されているよう
に、加速されている間のステージのジャークは、加速度
が線形状に増加している時間t0からt1までは+Jで
一定である。また、加速度が線形状に減少している時間
t1からt2までは−Jで一定である。そして、時間t
2では0となる。従って、図1(D)に示されているよ
うに、ステージの加速中、時間t0、t1およびt2で
ジャークの不連続点が生じる。このとき、前記ステージ
の加速が始まる時間t0の時点と、加速が終了する時間
t2の時点では、ジャークの値はそれぞれ+JおよびJ
に等しくなる。また、ステージの加速時と同様の現象
が、このステージの減速時にも生じる。つまり、時間t
3、t4およびt5の時点で、ジャークの不連続点が発
生する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このようなジャークの
不連続点は、走査露光時中の前記ステージの運動に不連
続的な動きを生じさせ、それにより、このステージに振
動が発生する。さらに、ステージの加速および減速の開
始時点(t0およびt3)と終了時点(t2およびt
5)における大きなジャークは、大きな反作用力を生じ
させる。そのため、この反作用力が位置決めシステムに
作用し、システムに大きな振動を生じさせる。マイクロ
リソグラフィー・システムなどの位置決めシステムにお
いては、サブミクロン精度でステージを位置決めするこ
とが要求されるため、小さな振動であってもその影響は
極めて大きなものとなる。
【0008】そのため、従来の位置決めシステムにおい
ては、前記システムに発生した振動が収束するまでの整
定時間(時間t2からtsetまでの間)をしばしば必
要とする。前記ステージを一定の速度で安定して走査さ
せるために必要な時間は、整定の増大あるいは必要性に
応じて長くなる。この整定のための時間は、前記システ
ムのスループットを減少させる原因となっている。
【0009】本発明は、このような課題を解決すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的のために、請求
項1に記載された発明では、移動可能に支持されたステ
ージと、前記ステージを第1の速度から該第1の速度と
は異なる第2の速度に変更させる速度変更ステップを指
示する制御信号を生成する制御回路と、前記制御信号に
基づいて前記ステージを駆動するアクチュエータと、を
備え、前記アクチュエータが、前記速度変更ステップに
伴って前記ステージを加速または減速させる際のジャー
クが連続的に変化し、前記速度変更ステップの開始時点
と終了時点での前記ジャークの値がゼロとなるように前
記ステージを駆動するステージ装置を提供する。
【0011】請求項2に記載された発明では、請求項1
のステージ装置において、前記速度変更ステップは前記
ステージを加速する動作を伴い、前記ジャークは前記加
速の間に正の値となる時間と負の値となる時間とを有す
るとともに、前記制御回路は、前記正の値となる時間と
負の値となる時間の比を調整可能であるステージ装置を
提供する。
【0012】請求項3に記載された発明では、請求項1
記載に記載されたステージ装置において、前記速度変更
ステップは前記ステージを減速する動作を伴い、前記ジ
ャークは前記減速の間に正の値となる時間と負の値とな
る時間とを有するとともに、前記制御回路は、前記正の
値となる時間と負の値となる時間の比を調整可能である
ステージ装置を提供する。
【0013】請求項4に記載された発明では、請求項1
から請求項3までのいずれかに記載されたステージ装置
を、光源からの光を基板に照射して該基板上に所定のパ
ターンを形成する露光装置の基板ステージとして用いる
ようにした。請求項5に記載された発明では、請求項1
から請求項3までのいずれか1項に記載されたステージ
装置を、光源からの光をマスクに照射して投影光学系を
介して基板に投影することで、前記マスク上のパターン
を前記基板に転写する露光装置のマスクステージとして
用いるようにした。
【0014】請求項6に記載された発明では、光源と、
マスクを保持するマスクステージと、基板を保持する基
板ステージと、前記マスクステージと前記基板ステージ
の間に配置される投影光学系とを備え、前記光源からの
光を前記マスクステージに保持されたマスクに照射し
て、前記投影光学系を介して前記基板ステージに保持さ
れた基板に前記マスク上のパターンを転写する露光装置
であって、前記マスクステージおよび前記基板ステージ
の少なくとも一方が、請求項1から請求項3までのいず
れか1項に記載されたステージ装置により構成されてい
る露光装置を提供する。
【0015】請求項7に記載された発明では、光源と、
基板を保持する基板ステージと、を備え、前記光源から
の光を前記マスクステージに保持されたマスクに照射し
て、前記基板ステージに保持された基板に所定のパター
ンを形成する露光装置であって、 前記ステージは、請
求項1から請求項3までのいずれか1項に記載されたス
テージ装置により構成されている露光装置を提供する。
【0016】請求項8に記載された発明では、第1の速
度から該第1の速度とは異なる第2の速度にステージの
速度を変更する速度変更ステップを有するステージ装置
の駆動方法であって、前記速度変更ステップにおける前
記ステージのジャークを連続的に変化させるとともに、
前記速度変更ステップの開始時点と終了時点での前記ジ
ャークの値をゼロに設定するステージ装置の駆動方法を
提供する。
【0017】請求項9に記載された発明では、請求項8
に記載されたステージ装置の駆動方法において、前記第
1の速度をゼロとした。請求項10に記載された発明で
は、請求項8に記載されたステージ装置の駆動方法にお
いて、前記速度変更ステップは、少なくとも前記ステー
ジを減速する減速ステップを有し、該減速ステップの前
に、さらに、前記ステージを所定の速度に維持する速度
維持ステップを備えるようにした。
【0018】請求項11に記載された発明では、請求項
8から請求項10までのいずれか1項に記載されたステ
ージ装置の駆動方法において、前記速度変更ステップ
は、前記ステージを加速する加速ステップを有し、該加
速ステップは、前記ジャークの値を正の第1の値に到達
させる第1のステップと、前記ジャークの値を負の第2
の値に到達させる第2のステップと、を有し、前記第1
の値の絶対値と前記第2の値の絶対値との比は、前記第
2のステップの時間と前記第1のステップの時間との比
に等しくなるようにした。
【0019】請求項12に記載された発明では、請求項
11に記載されたステージ装置の駆動方法において、前
記第1の値の絶対値と前記第2の値の絶対値との比を調
整するステップをさらに設けた。請求項13に記載され
た発明では、請求項11に記載されたステージ装置の駆
動方法において、前記第1の値の絶対値と前記第2の値
の絶対値との比を、略3対2に等しくした。
【0020】請求項14に記載された発明では、請求項
11から請求項13までのいずれか1項に記載されたス
テージ装置の駆動方法において、前記速度変更ステップ
は、さらに、前記ステージを減速する減速ステップを有
し、該減速ステップは、前記ジャークの値を正の第3の
値に到達させる第3のステップと、前記ジャークの値を
負の第4の値に到達させる第4のステップと、を有し、
前記第3の値の絶対値と前記第4の値の絶対値との比
は、前記第4のステップの時間と前記第3のステップの
時間との比に等しくなるようにした。
【0021】請求項15に記載された発明では、請求項
14に記載されたステージ装置の駆動方法において、前
記第3の値の絶対値と前記第4の値の絶対値との比を調
整するステップをさらに設けた。請求項16に記載され
た発明では、請求項14に記載されたステージ装置の駆
動方法において、前記第1の値の絶対値と前記第2の値
の絶対値との比は、前記第3の値の絶対値と前記第4の
値の絶対値との比に等しくなるようにした。
【0022】請求項17に記載された発明では、移動可
能に支持されたステージを備えたステージ装置の駆動方
法であって、前記ステージを所定の速度に達するまで加
速しながら該ステージの位置を更新する加速期間と、前
記ステージを所定の速度で駆動して該ステージの位置を
更新する等速期間と、前記ステージが停止するまで減速
しながら該ステージの位置を更新する減速期間と、を備
え、少なくとも前記加速期間における前記ステージの位
置に対する時間の3次導関数は、連続的であって、かつ
該加速期間の開始時と終了時とではゼロに等しいことを
特徴とするステージ装置の駆動方法を提供する。
【0023】請求項18に記載された発明では、請求項
17に記載されたステージ装置の駆動方法において、さ
らに、前記減速期間における前記ステージの位置に対す
る時間の3次導関数を連続的とし、該減速期間の開始時
と終了時とではゼロに等しくした。請求項19に記載さ
れた発明では、請求項17に記載されたステージ装置の
駆動方法において、前記加速期間は第1期間と第2期間
とを含み、該加速期間中における前記ステージの位置に
対する時間の3次導関数は、前記第1期間中に生じる第
1最大値と前記第2期間中に生じる第1最小値とを有
し、前記第1最大値と前記第1最小値との比は、前記第
2期間と前記第1期間との比にほぼ等しくなるようにし
た。
【0024】請求項20に記載された発明では、請求項
19に記載されたステージ装置の駆動方法において、前
記第1最大値と前記第1最小値との比を調整可能とし
た。請求項21に記載された発明では、請求項17に記
載されたステージ装置の駆動方法において、前記減速期
間は第3期間と第4期間とを含み、該減速期間中におけ
る前記ステージの位置に対する時間の3次導関数は、前
記第3期間中に生じる第2最小値と前記第4期間中に生
じる第2最大値とを有し、前記第2最小値と前記第2最
大値との比は、前記第4期間と前記第3期間との比にほ
ぼ等しくなるようにした。
【0025】請求項22に記載された発明では、光源か
らの光をマスクステージに保持されたマスクに照射し、
投影光学系を介して基板ステージに保持された基板に前
記マスク上のパターンを転写する露光方法において、前
記マスクステージおよび前記基板ステージの少なくとも
一方を駆動する際に、請求項8から請求項21までのい
ずれか1項に記載されたステージ装置の駆動方法を用い
るようにした。
【0026】請求項23に記載された発明では、光源か
らの光を基板ステージに保持された基板に照射して該基
板上に所定のパターンを形成する露光方法において、前
記基板ステージを駆動する際に、請求項8から請求項2
1までのいずれか1項に記載されたステージ装置の駆動
方法を用いるようにした。
【0027】
【発明の実施の形態】 図2は、本実施形態の走査型の
マイクロリソグラフィー位置決めテーブル装置100を
示す概略図である。このテーブル装置100は、走査型
露光装置を想定したものである。走査型露光装置では、
レチクル(マスク)上のパターンの一部を、投影光学系
を介してウエハ(基板)上に投影した状態で、レチクル
とウエハとを投影光学系に対して同期移動することによ
り、レチクル上のパターンの像を逐次ウエハ上の各ショ
ット領域に転写する。本実施形態では、このレチクルや
ウエハの移動に使用される機構部に本発明を適用したも
のである。
【0028】本実施形態におけるテーブル装置100
は、一般の走査型露光装置と同様、防振装置105、ウ
エハステージ110、投影レンズ機構(投影光学系)1
20、および位置制御装置130とを備えている。位置
制御装置130は、本発明に基づく軌道コマンドに基づ
いてウエハステージ110の制御を行うもので、これに
ついては後述する。
【0029】なお、本発明は特開平7−335542号
に記載された走査型露光装置に関連するものであり、図
2の構成も、原則的にはこの特開平7−335542号
の構成に基づくものである。また、図2において、テー
ブル装置100は、例えば、レチクルを支持するための
レチクルステージおよびレチクルを照明するための照明
装置(光源)とを更に備えていてもよい。ただし、図2
では、図を明解にするためにそれらは両方とも省略して
ある。以後、単一のウエハステージ110を伴う走査型
のマイクロリソグラフィー位置決めテーブル装置100
を参照して本発明を説明するが、本発明は、ステージの
個数や用途に関わらず、如何なる高精度位置決めシステ
ムにも適用可能である。
【0030】ウエハステージ110は、空気軸受け、あ
るいはころ軸受け等(共に図示せず)の摩擦の生じない
軸受けによってベース上に支持されている。そして、駆
動源としては、当該技術分野で周知されているように、
線形サーボモータおよびボールねじなどのアクチュエー
タ、回転モータあるいは他の任意の適当な方法を用いる
ことができる。ウエハステージ110は、位置制御装置
130から与えられる軌道コマンドに応じて、図中、例
えばX軸、Y軸、およびZ軸方向に駆動される。なお、
このウエハステージ110は、θX、θY、およびθZ
軸方向についても制御することが可能である(図2の矢
印はX軸、Y軸、Z軸およびθ方向を示すものであっ
て、構造の一部分ではない。)。
【0031】図3は、位置制御装置130の概略を示す
ブロック図である。この位置制御装置130は、軌道コ
マンド回路132と、コントロール回路134とを備え
ている。軌道コマンド回路132は、ディジタル信号処
理装置あるいはマイクロプロセッサ等により構成され、
軌道コマンド信号をコントロール回路134に出力す
る。軌道コマンド回路132は、本発明に基づいてコン
トロール回路134に軌道コマンドを与えるものであれ
ば、プログラミングされたものであっても、アナログ回
路的に構成されたものであっても構わない。どちらを用
いるかは、当業者の選択の範囲である。
【0032】コントロール回路134は、前記軌道コマ
ンド信号に基づいてウエハステージ110の駆動源であ
るアクチュエータ112に制御信号を出力し、所望の制
御を行う。これにより、ウエハステージ110は、所定
の速度で所定の方向に移動する。コントロール回路13
4としては、例えば、PID回路(比例積分微分回路)
を用いることができる。これらの制御については、当該
技術分野における適宜手段を用いて実施することができ
る。
【0033】また、図2の走査型のマイクロリソグラフ
ィー位置決めテーブル装置100は、ウエハステージ1
10の位置を測定する干渉計やリニアエンコーダ(共に
図示せず)等の位置検出手段を備えている。このような
位置検出手段は、図3に示すフィードバックループ13
6を介して、ウエハステージ110の現在位置を示す位
置信号をコントロール回路134に供給する。コントロ
ーラ回路134は、前記コマンド信号と検出された現在
位置との差に基づいて、アクチュエータ112によって
ウエハステージ110を所望の位置へ駆動するための制
御信号を作成する。なお、図3に示されている位置制御
装置130は、軌道コマンド回路132とコントロール
回路134とを備えた構成としてあるが、本実施形態の
構成に限定されるものではない。
【0034】図4は、本実施形態において、ウエハステ
ージ110に生じる加速度曲線を示す概略図である。こ
こで加速度曲線(a)は、軌道コマンド回路132に記
憶される本発明の軌道コマンドの一例である。また、加
速度曲線(b)、(c)および(d)は、従来の加速度
曲線を示している。図5は、ウエハステージ110のジ
ャーク曲線(a)〜(d)を示しており、各曲線の符号
は、図4に付されている同じ符号の加速度曲線に対応し
ている。また、横軸の時間も図4の時間と対応してい
る。図5のジャーク曲線(a)は、図4の加速度曲線
(a)に対応しており、これらの曲線は、軌道コマンド
回路132に記憶された本発明の軌道コマンドの一例を
示すものである。
【0035】図5に示すように、本実施形態におけるジ
ャーク曲線(a)では,ウエハステージ110の加速の
始まり(t=0)および加速の終わり(t=1)の両方
でジャークの値がゼロとなっている。そして、加速の始
まりから終わりまでの間、ジャークの値は連続的に変化
している。これに対して、従来のジャーク曲線(b)〜
(d)の場合、ジャークを示す曲線の値は、少なくとも
加速の始まり(t=0)または加速の終わり(t=1)
のいずれか一方においてゼロではない。従って、ジャー
ク曲線(b)〜(d)では、ウエハステージの駆動する
際、ジャークの値が非連続的に変化することになる。
【0036】このように、本実施形態においては、ジャ
ーク曲線(a)は連続的に変化する。したがって、ウエ
ハステージ110を駆動する際に反作用力によって生じ
る振動を減少させることができ、振動が収束するまでの
整定時間が短くなる。その結果、図2に示す走査型のマ
イクロリソグラフィー位置決めテーブル装置100(走
査型露光装置)のスループットは向上する。
【0037】また、本実施形態においては、図4におけ
る加速度曲線(a)の値が最大となるタイミング(時
間)は、振動の小さい時点で加速度が最大となるように
シフトされている。例えば、図4では加速度曲線(a)
の値はt=0.4の時に最大となる。これにより、軌道
コマンド回路132は、制御ループの遅延を相殺し、ウ
エハステージ110の加速および減速をスムーズに行わ
せることができる。
【0038】軌道コマンド回路132により生成された
軌道コマンド信号は、ウエハステージ110の所望の位
置に関する情報を有している。本実施形態においては、
一連の制御過程中で制御に関するサイクルが更新された
際は、ウエハステージ110は、更新された新しい所望
の位置へ駆動されるように制御される。そのため、露光
時の走査プロセス全体を通して、ウエハステージ110
の所望の位置に関する情報は、頻繁に更新されるように
なっている。そして、前記制御過程中、適切な制御サイ
クルの更新により、図6(A)〜(D)に示すように、
ウエハステージ110に速度、加速度およびジャークが
発生する。軌道コマンド回路132は、例えば、ウエハ
ステージ110の目標速度の更新や、目標位置および目
標速度の双方を更新できるように、ウエハステージ11
0を制御することができる。
【0039】図6は、位置制御装置130が設定した軌
道コマンドに基づく、ウエハステージの位置、速度、加
速度、およびジャークと時間との関係を示す概略図であ
る。ここでは、位置制御装置130が、停止状態にある
ステージ110を所定の位置まで移動させる制御を行う
場合を想定している。この制御は、ステージ110を第
1の速度(ゼロ)からこの第1の速度とは異なる第2の
速度(Vc:図6(B)参照)に変更し、その後、さら
に第1の速度(ゼロ)に戻す速度変更ステップを含むも
のである。
【0040】以下、ウエハステージ110をX軸方向に
駆動する動作と関連させて図6(A)〜図6(D)を説
明する。なお、ウエハステージ110を、例えば、図2
のY軸方向またはZ軸方向など、X軸方向以外の方向に
駆動する場合についても、X軸と同様に説明されるもの
である。また、図2において、ウエハステージ110を
θX、θY、またはθZ方向へ回転させる場合について
もX方向への駆動と同様に説明することができる。な
お、図6(A)〜図6(D)の横軸は、それぞれの図面
間で共通した時間を示す。
【0041】図6(A)は、ウエハステージ110のX
軸方向の位置と時間との関係を示している。図6(A)
に示すように、ウエハステージ110は、位置制御装置
130による制御に基づいて時間t0から時間t9まで
の間に、位置0から位置Xまで移動する。このとき、図
6に示すように、ウエハステージ110の動きは、動揺
や不連続点を伴わないような滑らかな動きであることが
望ましい。
【0042】図6(B)は、ウエハステージ110の速
度(ステージ110の位置に関する時間の導関数に等し
い)と時間との関係を示している。図6(B)に示すよ
うに、ウエハステージ110の速度は、時間t0以前お
よび時間t9以後にはゼロであり、時間t4と時間t5
との間は所望の一定速度Vcとなっている。そして、時
間t0から時間t4までの間に速度がゼロからVcまで
増加し、時間t5から時間t9までの間に速度はVcか
らゼロまで低下する。なお、本実施形態における軌道コ
マンドは、振動を収束させるための整定時間を最小とす
るように設定されてはいるが、僅かな整定時間が残存し
ている。そのため、ウエハを露光する前に僅かな整定時
間(図示されていない)が設定されている。
【0043】図6(C)は、ウエハステージ110の加
速度(ステージ110の速度に関する時間の導関数に等
しい)と時間との関係を示している。図6(C)に示す
ように、ウエハステージ110の加速度は、滑らかな非
線形関数で表され、時間t0、t4、t5およびt9で
ゼロの値を有する。時間t0から時間t4までは、ウエ
ハステージ110を加速させるように作用する。時間t
0で加速し始め、徐々にその値は大きくなる。そして、
時間t2で加速方向に関するピーク加速度+A1に達す
る。その後、徐々にその値を小さくし、時間t4でゼロ
となって加速が終了する。この後、時間t5から時間t
9までは、ウエハステージ110を減速(停止)させる
ように作用する。時間t5でステージ110を減速させ
る方向(図面においてマイナス方向)に加速度を加え始
め、徐々にその値を大きくなる。そして、時間t7で減
速方向に関するピーク加速度−A2に達する。その後、
徐々にその値を小さくし、時間9でゼロとなって減速が
終了し、ウエハステージ110は停止する。加速時のピ
ーク値+A1の絶対値(「+A1」と表す)と、減速時
のピーク値の−A2の絶対値(「−A2」と表す)と
は、等しくする必要はない。ウエハステージ110の加
速度は、時間t0以前および時間t9以後、および時間
t4と時間t5との間ではゼロであるので、図6(B)
に示すように、これらの時間または期間においては、ウ
エハステージ110は一定の速度を維持している。
【0044】図6(D)は、ウエハステージ110のジ
ャーク(ステージ110の加速度に関する時間の導関数
に等しい)と時間との関係を示している。図6(D)に
示すように、位置制御装置130は、連続する幾つかの
部分に分かれた線形状のジャークがウエハステージ11
0に生じるように、このステージ110を駆動する。こ
のような、連続する幾つもの部分に分かれている線形状
のジャークを使用する軌道コマンドは、ウエハステージ
110に滑らかな加速度を与える。
【0045】なお、本発明の別の実施形態として、図7
に示すようなサイン波状の曲線となるようにジャークを
設定することもできる。このようなサイン波状のジャー
クは、位置制御装置130における軌道コマンドのプロ
グラミングがより複雑になるが、図6(D)に示すよう
な幾つもの線形部分に分かれたジャークよりも滑らかと
なるので、加減速時のウエハステージ110の動きがよ
りスムーズになり好ましい。
【0046】図6(D)に示すように、時間t0におい
ては、ジャークの値はゼロである。時間t0から時間t
1までの間、ジャークは線形状に増加していき、時間t
1で+J1に達する。時間t1からは線形状に減少して
いき、時間t2で再びゼロになる。時間t2後もジャー
クは線形状に減少していき、時間t3で−J3に達す
る。時間t3からは線形状に増加していき、時間t4で
再度ゼロとなる。時間t4から時間t5までの間は、ジ
ャークはゼロのまま維持される。そして、時間5から時
間t6までの間は線形状に減少していき、時間t6で−
J4に達する。時間t6からは線形状に増加していき、
時間t7でゼロとなる。その後も、線形状に増加してい
き、時間t8で+J2に達する。時間t8から時間t9
までは線形状に減少していき、時間t9でゼロに達す
る。なお、時間t0から時間t9までの間におけるジャ
ークの各ピークの絶対値(「J1」、「J2」、「J
3」、「J4」)は、全て等しくする必要はなく、互い
に異なる値に設定してもよい。
【0047】このように、図6(D)におけるジャーク
は線形状に表され、不連続点が形成されない。そして、
時間t0、t2、t4、t5、t7、およびt9ではジ
ャークの値はゼロとなる。図6(D)のような不連続点
の無いジャークを設定することにより、ウエハステージ
110の加速は滑らかになる、そのため、このステージ
110の駆動により発生する振動や、システム(テーブ
ル装置100)の構造物に生じる動揺を最低限のレベル
まで抑えることができる。また、図6(C)の時間t0
から時間t4までのウエハステージ110の加速期間、
および時間t5から時間t9までのステージ110の減
速期間に関しては、その期間の始め(t0、t5)と終
わり(t4、t9)にはジャークの不連続点が発生しな
い。これにより、ステージ110の駆動に伴う反作用力
によって図2のテーブル装置100に生じる動揺を殆ど
無くすことができる。その結果、テーブル装置100の
振動が減少する。
【0048】ところで、ウエハステージ110の加速度
は、このステージ110のジャークの積分値となる。図
6(C)に示すように、ウエハステージ110の加速度
が時間t4において確実にゼロとなるためには、時間t
0と時間t2の間におけるステージ110の正のジャー
ク(加速度の絶対値を増加させる作用を有する)の積分
値は、時間t2から時間t4の間におけるステージ11
0の負のジャーク(加速度の絶対値を減少させる作用を
有する)の積分値と等しくする必要がある。従って、時
間t1および時間t3におけるジャークの各ピーク値の
絶対値の比(+J1:「−J3」)は、時間t2から時
間t4までの負のジャーク期間TN1(図7参照)と、
時間t0から時間t2までの正のジャーク期間TP1
(図7参照)との比(TN1:TP1)に等しくしなけ
ればならない。図6(D)においては、t4−t0で正
規化されており、略(0.6:0.4)となっている。
この比率は、適宜変更することができ、例えば、テーブ
ル装置100の構造物の振動をなるべく小さくすると共
に整定時間を減少させるために、このテーブル装置10
0のレスポンスに基づいて前記比率を設定することも可
能である。
【0049】同様に、ウエハステージ110の加速度が
時間t9において確実にゼロとなるためにはウエハステ
ージ110の減速時には、時間t6および時間t8にお
けるジャークの各ピーク値の絶対値の比(「−J4」:
+J2)は、時間t7から時間t9までの正のジャーク
期間TP2(図7参照)と、時間t5から時間t7まで
の負のジャーク期間TN2(図7参照)との比(TP
2:TN2)に等しくなければならない。図6(D)に
おいては、t9−t5で正規化されており、略(0.6
5:0.35)となっている。
【0050】ウエハステージ110の減速期間中におけ
る前記比率およびピーク値の絶対値は、加速期間中にお
ける前記比率およびピーク値の絶対値と等しくてもよい
し、異なる値でもよい。本実施形態では、走査型のマイ
クロリソグラフィー位置決めテーブル装置100とし
て、走査型露光装置を想定しているが、上記構成により
ウエハステージ110の減速中におけるこのテーブル装
置100の構造物の振動を最小限に抑えることできるの
で、振動の整定時間が減少し、スループットを向上させ
ることが可能となる。
【0051】上記実施形態では、本発明の一例について
説明したが、本発明はそれに限定されるものではない。
例えば、前記正のジャーク期間と前記負のジャーク期間
との比率は、前述の値に限定されるものではなく、適宜
設定可能である。また、ウエハステージ110の減速期
間中または加速期間中における前記比率およびピーク値
の絶対値に関しても、適宜設定可能である。
【0052】また、時間とジャークとの関係について
も、線形状ではなく、図7に示すようなサイン波状の曲
線となるように設定することもできる。なお、本実施形
態では、本発明を走査型のマイクロリソグラフィー位置
決めテーブル装置100(走査型露光装置)に適用した
場合について詳しく説明したが、このような構成に限定
されるものではない。
【0053】前記実施形態において、ウエハステージや
レチクルステージの駆動源にリニアモータを用いる場
合、エアベアリングを用いたエア浮上型およびローレン
ツ力またはリアクタンス力を用いた磁気浮上型のどちら
を用いてもよい。また、ステージは、ガイドに沿って移
動するタイプでもいいし、ガイドを設けないガイドレス
タイプでもよい。
【0054】また、ステージの駆動源としては、2次元
に磁石を配置した磁石ユニットと、2次元にコイルを配
置した電機子ユニットとを対向させ電磁力によりステー
ジを駆動する平面モ−タを用いてもよい。この場合、磁
石ユニットと電機子ユニットとのいずれか一方をステー
ジに接続し、磁石ユニットと電機子ユニットとの他方を
ステージの移動面側に設ければよい。
【0055】また、本実施形態の露光装置としては、マ
スクと基板とを同期移動してマスクのパターンを露光す
る走査型の露光装置を用いる場合を例にとったが、走査
型露光装置の他に、マスクと基板とを静止した状態でマ
スクのパターンを露光し、基板を順次ステップ移動させ
るステップ・アンド・リピート型の露光装置を用いるこ
ともできる。
【0056】また、投影光学系を用いることなくマスク
と基板とを密接させてマスクのパターンを露光するプロ
キシミティ露光装置にも適用することができる。本実施
形態の露光装置の光源は、g線、i線、KrFエキシマ
レーザ、ArFエキシマレーザ、F2レーザのみなら
ず、X線や電子線(EB)などの荷電粒子線を用いるこ
とができる。例えば、電子線を用いる場合には電子銃と
して、熱電子放射型のランタンヘキサボライト(LaB
6)、タンタル(Ta)を用いることができる。また、電
子線を用いる場合は、マスク上のパターンを基板(ウエ
ハ)い転写する方式と、マスクを用いずに直接基板上に
パターンを形成する方式の双方に適用することができ
る。
【0057】
【発明の効果】以上のように各請求項に記載された発明
によれば、ステージ装置の制定時間を短縮することがで
きる。そのため、このステージ装置を用いる処理工程に
おいては、そのスループットを向上させることが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、従来におけるステージの位置、速度、加速
度およびジャークのそれぞれと時間との関係を示す概略
図である。
【図2】は、本発明の一実施形態である走査型のマイク
ロリソグラフィー位置決めテーブル装置の構成を示す概
略正面図である。
【図3】は、本実施形態の位置制御装置の構成を示すブ
ロック図である。
【図4】は、加速度と時間との関係を表す加速度曲線の
一例を示す概略図である。
【図5】は、ジャークと時間との関係を表すジャーク曲
線の一例を示す概略図である。
【図6】は、本実施形態の軌道コマンドに基づく、ウエ
ハステージの位置、速度、加速度、およびジャークと時
間との関係を示す概略図である。
【図7】は、本実施形態の一変形例におけるウエハステ
ージのジャークと時間との関係を示す概略図である。
【主要部分の符号の説明】
100 マイクロリソグラフィー位置決めテーブル装置 105 防振装置 110 ウエハステージ(基板ステージ) 112 アクチュエータ 120 投影レンズ機構(投影光学系) 130 位置制御装置
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/30 515F

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移動可能に支持されたステージと、 前記ステージを第1の速度から該第1の速度とは異なる
    第2の速度に変更させる速度変更ステップを指示する制
    御信号を生成する制御回路と、 前記制御信号に基づいて前記ステージを駆動するアクチ
    ュエータと、を備え、 前記アクチュエータは、前記速度変更ステップに伴って
    前記ステージを加速または減速させる際のジャークが連
    続的に変化し、前記速度変更ステップの開始時点と終了
    時点での前記ジャークの値がゼロとなるように前記ステ
    ージを駆動することを特徴とするステージ装置。
  2. 【請求項2】 前記速度変更ステップは前記ステージを
    加速する動作を伴い、前記ジャークは前記加速の間に正
    の値となる時間と負の値となる時間とを有するととも
    に、 前記制御回路は、前記正の値となる時間と負の値となる
    時間の比を調整可能であることを特徴とする請求項1記
    載されたステージ装置。
  3. 【請求項3】 前記速度変更ステップは前記ステージを
    減速する動作を伴い、前記ジャークは前記減速の間に正
    の値となる時間と負の値となる時間とを有するととも
    に、 前記制御回路は、前記正の値となる時間と負の値となる
    時間の比を調整可能であることを特徴とする請求項1記
    載に記載されたステージ装置。
  4. 【請求項4】 前記ステージ装置は、光源からの光を基
    板に照射して該基板上に所定のパターンを形成する露光
    装置の基板ステージであることを特徴とする請求項1か
    ら請求項3までのいずれか1項に記載されたステージ装
    置。
  5. 【請求項5】 前記ステージ装置は、光源からの光をマ
    スクに照射して投影光学系を介して基板に投影すること
    で、前記マスク上のパターンを前記基板に転写する露光
    装置のマスクステージであることを特徴とする請求項1
    から請求項3までのいずれか1項に記載されたステージ
    装置。
  6. 【請求項6】 光源と、 マスクを保持するマスクステージと、 基板を保持する基板ステージと、 前記マスクステージと前記基板ステージの間に配置され
    る投影光学系とを備え、 前記光源からの光を前記マスクステージに保持されたマ
    スクに照射して、前記投影光学系を介して前記基板ステ
    ージに保持された基板に前記マスク上のパターンを転写
    する露光装置であって、 前記マスクステージおよび前記基板ステージの少なくと
    も一方は、請求項1から請求項3までのいずれか1項に
    記載されたステージ装置により構成されていることを特
    徴とする露光装置。
  7. 【請求項7】 光源と、 基板を保持する基板ステージと、を備え、 前記光源からの光を前記マスクステージに保持されたマ
    スクに照射して、前記基板ステージに保持された基板に
    所定のパターンを形成する露光装置であって、 前記ステージは、請求項1から請求項3までのいずれか
    1項に記載されたステージ装置により構成されているこ
    とを特徴とする露光装置。
  8. 【請求項8】 第1の速度から該第1の速度とは異なる
    第2の速度にステージの速度を変更する速度変更ステッ
    プを有するステージ装置の駆動方法であって、 前記速度変更ステップにおける前記ステージのジャーク
    を連続的に変化させるとともに、前記速度変更ステップ
    の開始時点と終了時点での前記ジャークの値をゼロに設
    定することを特徴とするステージ装置の駆動方法。
  9. 【請求項9】 前記第1の速度はゼロであることを特徴
    とする請求項8に記載されたステージ装置の駆動方法。
  10. 【請求項10】 前記速度変更ステップは、少なくとも
    前記ステージを減速する減速ステップを有し、該減速ス
    テップの前に、さらに、前記ステージを所定の速度に維
    持する速度維持ステップを備えることを特徴とする請求
    項8に記載されたステージ装置の駆動方法。
  11. 【請求項11】 前記速度変更ステップは、前記ステー
    ジを加速する加速ステップを有し、該加速ステップは、
    前記ジャークの値を正の第1の値に到達させる第1のス
    テップと、前記ジャークの値を負の第2の値に到達させ
    る第2のステップと、を有し、前記第1の値の絶対値と
    前記第2の値の絶対値との比は、前記第2のステップの
    時間と前記第1のステップの時間との比に等しいことを
    特徴とする請求項8から請求項10までのいずれか1項
    に記載されたステージ装置の駆動方法。
  12. 【請求項12】 前記第1の値の絶対値と前記第2の値
    の絶対値との比を調整するステップをさらに備えたこと
    を特徴とする請求項11に記載されたステージ装置の駆
    動方法。
  13. 【請求項13】 前記第1の値の絶対値と前記第2の値
    の絶対値との比は、略3対2に等しいことを特徴とする
    請求項11に記載されたステージ装置の駆動方法。
  14. 【請求項14】 前記速度変更ステップは、さらに、前
    記ステージを減速する減速ステップを有し、該減速ステ
    ップは、前記ジャークの値を正の第3の値に到達させる
    第3のステップと、前記ジャークの値を負の第4の値に
    到達させる第4のステップと、を有し、前記第3の値の
    絶対値と前記第4の値の絶対値との比は、前記第4のス
    テップの時間と前記第3のステップの時間との比に等し
    いことを特徴とする請求項11から請求項13までのい
    ずれか1項に記載されたステージ装置の駆動方法。
  15. 【請求項15】 前記第3の値の絶対値と前記第4の値
    の絶対値との比を調整するステップをさらに備えたこと
    を特徴とする請求項14に記載されたステージ装置の駆
    動方法。
  16. 【請求項16】 前記第1の値の絶対値と前記第2の値
    の絶対値との比は、前記第3の値の絶対値と前記第4の
    値の絶対値との比に等しいことを特徴とする請求項14
    に記載されたステージ装置の駆動方法。
  17. 【請求項17】 移動可能に支持されたステージを備え
    たステージ装置の駆動方法であって、 前記ステージを所定の速度に達するまで加速しながら該
    ステージの位置を更新する加速期間と、 前記ステージを所定の速度で駆動して該ステージの位置
    を更新する等速期間と、 前記ステージが停止するまで減速しながら該ステージの
    位置を更新する減速期間と、を備え、 少なくとも前記加速期間における前記ステージの位置に
    対する時間の3次導関数は、連続的であって、かつ該加
    速期間の開始時と終了時とではゼロに等しいことを特徴
    とするステージ装置の駆動方法。
  18. 【請求項18】 さらに、前記減速期間における前記ス
    テージの位置に対する時間の3次導関数は、連続的であ
    って、かつ該減速期間の開始時と終了時とではゼロに等
    しいことを特徴とする請求項17に記載されたステージ
    装置の駆動方法。
  19. 【請求項19】 前記加速期間は第1期間と第2期間と
    を含み、該加速期間中における前記ステージの位置に対
    する時間の3次導関数は、前記第1期間中に生じる第1
    最大値と前記第2期間中に生じる第1最小値とを有し、
    前記第1最大値と前記第1最小値との比は、前記第2期
    間と前記第1期間との比にほぼ等しいことを特徴とする
    請求項17に記載されたステージ装置の駆動方法。
  20. 【請求項20】 前記第1最大値と前記第1最小値との
    比は、調整可能であることを特徴とする請求項19に記
    載されたステージ装置の駆動方法。
  21. 【請求項21】 前記減速期間は第3期間と第4期間と
    を含み、該減速期間中における前記ステージの位置に対
    する時間の3次導関数は、前記第3期間中に生じる第2
    最小値と前記第4期間中に生じる第2最大値とを有し、
    前記第2最小値と前記第2最大値との比は、前記第4期
    間と前記第3期間との比にほぼ等しいことを特徴とする
    請求項17に記載されたステージ装置の駆動方法。
  22. 【請求項22】 光源からの光をマスクステージに保持
    されたマスクに照射し、投影光学系を介して基板ステー
    ジに保持された基板に前記マスク上のパターンを転写す
    る露光方法において、 前記マスクステージおよび前記基板ステージの少なくと
    も一方を駆動する際に、請求項8から請求項21までの
    いずれか1項に記載されたステージ装置の駆動方法を用
    いることを特徴とする露光方法。
  23. 【請求項23】 光源からの光を基板ステージに保持さ
    れた基板に照射して該基板上に所定のパターンを形成す
    る露光方法において、 前記基板ステージを駆動する際に、請求項8から請求項
    21までのいずれか1項に記載されたステージ装置の駆
    動方法を用いることを特徴とする露光方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003318082A (ja) * 2002-04-22 2003-11-07 Canon Inc 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP2004343115A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Asml Netherlands Bv 制御システム、リソグラフィ装置、デバイス製造方法、およびそれによって製造されたデバイス
US7389155B2 (en) 2002-11-20 2008-06-17 Asml Holding N.V. Method and system for improved trajectory planning and execution
JP2014233774A (ja) * 2013-05-31 2014-12-15 株式会社荏原製作所 ロボットアーム制御装置、基板搬送装置、基板処理装置、ロボットアーム制御方法およびプログラム
JP2017062824A (ja) * 2012-04-20 2017-03-30 ラインストリーム テクノロジーズLinestream Technologies 動作プロファイルの生成方法およびその生成システム
WO2023013168A1 (ja) * 2021-08-02 2023-02-09 オムロン株式会社 制御装置、制御方法およびプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6850386B2 (en) 2001-07-18 2005-02-01 Seagate Technology Llc Control object positioning using an optimum jerk profile to reduce excitation of mechanical resonances
JP2004072076A (ja) * 2002-06-10 2004-03-04 Nikon Corp 露光装置及びステージ装置、並びにデバイス製造方法
US7012391B2 (en) * 2002-08-09 2006-03-14 Seagate Technology Llc Motor acceleration using continuous sequence of current limit values
US6873490B2 (en) * 2002-10-10 2005-03-29 Seagate Technology Llc Control object positioning using jerk, current and time optimized control profiles
JP2004247487A (ja) * 2003-02-13 2004-09-02 Canon Inc 走査露光装置
EP1452920A3 (en) * 2003-02-25 2006-06-21 ASML Netherlands B.V. Device manufacturing method,device manufactured thereby,computer program for performing the method,lithographic apparatus, and robotics system
US7341822B2 (en) * 2003-02-25 2008-03-11 Asml Netherlands B.V. Time-optimal setpoint generator in a lithographic apparatus
DE10315525B4 (de) * 2003-04-04 2006-04-13 Siemens Ag Steuerverfahren zur ruckbegrenzten Geschwindigkeitsführung eines bewegbaren Maschinenelementes einer numerisch gesteuerten industriellen Bearbeitungsmaschine
US20040236453A1 (en) * 2003-05-22 2004-11-25 Gabor Szoboszlay Method and apparatus for combining and generating trajectories
KR100555523B1 (ko) 2003-10-31 2006-03-03 삼성전자주식회사 디스크 드라이브의 트랙 탐색 서보 제어 방법 및 장치
US7016019B2 (en) * 2003-12-16 2006-03-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7208898B2 (en) * 2005-06-22 2007-04-24 The Board Of Regents For Oklahoma State University Near time-optimal jerk trajectory for positioning a control object
US8619361B2 (en) * 2010-03-31 2013-12-31 Nikon Corporation Direct derivative feedforward vibration compensation system
JP5707129B2 (ja) * 2010-12-28 2015-04-22 Thk株式会社 モータ制御装置、モータ制御方法、及び制御プログラム
US8803465B1 (en) 2012-04-06 2014-08-12 Exelis Inc. Frequency-selective command profile motion control

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3350612A (en) 1964-02-19 1967-10-31 Imp Electric Company Jerkless pattern signal for motor acceleration
US3904945A (en) * 1973-09-10 1975-09-09 Ibm Precision tool and workpiece positioning apparatus
US3886421A (en) 1973-09-10 1975-05-27 Ibm Precision tool and workpiece positioning apparatus with ringout detection
US4221995A (en) 1978-07-24 1980-09-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Linear motor drive system for continuous-path closed-loop position control of an object
JPS5868118A (ja) * 1981-10-20 1983-04-22 Telmec Co Ltd 高精度位置決めステ−ジ用防振装置
US4456860A (en) 1982-01-25 1984-06-26 Ibm Corporation X-Y Positioning subsystem electronics
US4577141A (en) 1983-11-30 1986-03-18 Nippon Kogaku K.K. System for driving a movable stage
US4769583A (en) * 1987-05-01 1988-09-06 General Motors Corporation Motion control system with minimum time path generation
US4818885A (en) 1987-06-30 1989-04-04 International Business Machines Corporation Electron beam writing method and system using large range deflection in combination with a continuously moving table
US4952858A (en) * 1988-05-18 1990-08-28 Galburt Daniel N Microlithographic apparatus
US4987526A (en) * 1989-02-02 1991-01-22 Massachusetts Institute Of Technology System to provide high speed, high accuracy motion
US5033853A (en) * 1989-04-10 1991-07-23 Coherent, Inc. Apparatus for autocorrelating optical radiation signals
EP0419706B1 (de) 1989-09-27 1995-01-25 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur numerischen Positions- oder Bahnsteuerung
US5184055A (en) 1989-10-06 1993-02-02 Canon Kabushiki Kaisha Device for positioning control
US5153494A (en) 1990-04-06 1992-10-06 International Business Machines Corp. Ultrafast electro-dynamic x, y and theta positioning stage
JPH03290706A (ja) * 1990-04-09 1991-12-20 Mitsubishi Electric Corp 数値制御装置
JP3038972B2 (ja) * 1991-04-03 2000-05-08 ソニー株式会社 加減速パターン生成装置及びパターン生成方法
US5196745A (en) 1991-08-16 1993-03-23 Massachusetts Institute Of Technology Magnetic positioning device
US5249118A (en) 1991-09-03 1993-09-28 Golden Gate Microsystems Incorporated Fully adaptive velocity tracking drive control positioning system
DE69322983T2 (de) * 1992-02-21 1999-07-15 Canon K.K., Tokio/Tokyo System zum Steuern von Trägerplatten
US5545962A (en) 1992-08-18 1996-08-13 Canon Kabushiki Kaisha Positioning system
JP2833730B2 (ja) * 1993-03-10 1998-12-09 三菱電機株式会社 位置制御装置
US5708342A (en) * 1993-05-27 1998-01-13 Fanuc Ltd. Method of controlling acceleration/deceleration time constants for robot
JP2954815B2 (ja) 1993-06-24 1999-09-27 キヤノン株式会社 鉛直方向除振装置
US5638267A (en) * 1994-06-15 1997-06-10 Convolve, Inc. Method and apparatus for minimizing unwanted dynamics in a physical system
US5623853A (en) * 1994-10-19 1997-04-29 Nikon Precision Inc. Precision motion stage with single guide beam and follower stage
ATE175502T1 (de) * 1994-10-21 1999-01-15 Siemens Ag Ruckbegrenzte geschwindigkeitsführung
US5684375A (en) * 1995-06-20 1997-11-04 Allen-Bradley Company, Inc. Method and apparatus for tuning a motion control system
US6000280A (en) * 1995-07-20 1999-12-14 Cornell Research Foundation, Inc. Drive electrodes for microfabricated torsional cantilevers
JP3350310B2 (ja) * 1995-08-22 2002-11-25 株式会社荏原製作所 ロボットアームのリニアアクチュエータ
JP3918200B2 (ja) * 1995-11-16 2007-05-23 株式会社ニコン リソグラフィ装置の製造方法及びリソグラフィ装置
US5981962A (en) * 1998-01-09 1999-11-09 International Business Machines Corporation Distributed direct write lithography system using multiple variable shaped electron beams

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003318082A (ja) * 2002-04-22 2003-11-07 Canon Inc 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法
US6891597B2 (en) 2002-04-22 2005-05-10 Canon Kabushiki Kaisha Driving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
KR100516689B1 (ko) * 2002-04-22 2005-09-22 캐논 가부시끼가이샤 구동장치, 노광장치 및 디바이스제조방법
US7389155B2 (en) 2002-11-20 2008-06-17 Asml Holding N.V. Method and system for improved trajectory planning and execution
JP2004343115A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Asml Netherlands Bv 制御システム、リソグラフィ装置、デバイス製造方法、およびそれによって製造されたデバイス
JP2017062824A (ja) * 2012-04-20 2017-03-30 ラインストリーム テクノロジーズLinestream Technologies 動作プロファイルの生成方法およびその生成システム
JP2014233774A (ja) * 2013-05-31 2014-12-15 株式会社荏原製作所 ロボットアーム制御装置、基板搬送装置、基板処理装置、ロボットアーム制御方法およびプログラム
WO2023013168A1 (ja) * 2021-08-02 2023-02-09 オムロン株式会社 制御装置、制御方法およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US6320345B1 (en) 2001-11-20

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