JPH11306958A - 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 - Google Patents

電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法

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JPH11306958A
JPH11306958A JP11319898A JP11319898A JPH11306958A JP H11306958 A JPH11306958 A JP H11306958A JP 11319898 A JP11319898 A JP 11319898A JP 11319898 A JP11319898 A JP 11319898A JP H11306958 A JPH11306958 A JP H11306958A
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electron
conductive film
image
emitting device
vacuum
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JP11319898A
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Kazuya Miyazaki
和也 宮崎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像形成装置の電子ビーム源として好適な優
れた電子放出特性を有する電子放出素子を安定して得ら
れるようにする。 【解決手段】 一対の素子電極2,3間に跨がる導電性
膜4に電子放出部5を形成する前に、導電性膜4表面上
の吸着物質の脱離処理を行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、該電子源を
用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装置、
及びそれらの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子には大別して熱電子
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
【0003】FE型の例としては、W.P. Dyke
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J. A
ppl. Phys. ,47,5248(1976)
等に開示されたものが知られている。
【0004】MIM型の例としては、C.A. Mea
d, “Operation ofTunnel−Em
ission Devices”, J. Appl.
Phys., 32,646(1961)等に開示され
たものが知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I. Elinson, Radio Eng.
Electron Phys., 10,1290(1
965)等に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図2
0に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。尚、図中の
素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1m
mで設定されている。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
【0010】従来、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
【0011】また、特に表示装置においては、液晶を用
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
従来の表面伝導型電子放出素子においては、フォーミン
グ時の素子抵抗のばらつき等に起因する素子間の電子放
出特性のばらつきが比較的大きく、安定で制御された電
子放出特性及びその効率の向上が望まれてきた。ここ
に、効率とは表面伝導型電子放出素子の一対の対抗する
素子電極間に電圧を流したときに流れる電流(以下、素
子電流If と呼ぶ)と真空中に放出される電流(以下、
放出電流Ie と呼ぶ)との電流比を指す。
【0013】素子間の電子放出特性のばらつきの原因の
一つであるフォーミング時の素子抵抗のばらつきは、例
えば青板ガラス基板上に電子放出素子を形成した場合に
は、種々の熱工程を経て基板から拡散したNa等のアル
カリ金属元素が導電性膜表面の吸着を促進することによ
って生じる。本発明の目的は、上記問題点を解決し、均
一な電子放出特性を有し、且つ電子放出の効率向上を図
った電子放出素子を安定して得られるようにすることに
ある。本発明の別の目的は、高輝度で且つ輝度むらの無
い高品位画像を形成し得る画像形成装置を提供すること
にある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべく
成された本発明の構成は、以下の通りである。
【0015】即ち、本発明の第一は、基体上に形成され
た一対の素子電極間に跨がる導電性膜に電子放出部を有
する電子放出素子の製造方法において、該導電性膜表面
上の吸着物質を脱離させる工程を有することを特徴とす
る電子放出素子の製造方法にある。
【0016】上記本発明の第一における導電性膜表面上
の吸着物質を脱離させる工程とは、真空中での基体加
熱、連続光源による光照射等により導電性膜表面上の吸
着物質を脱離させることにより、素子間で均一で清浄な
膜表面を露呈させる工程である。
【0017】本発明の第一によれば、例えば導電性膜に
電子放出部を形成するフォーミング工程の前に導電性膜
表面上の吸着物質を脱離させる工程を行うことにより、
フォーミングパワーの均一化により良好な亀裂を形成す
ることが可能であり、ひいては均一で良好な電子放出特
性を得ることが可能である。
【0018】また、本発明の第一の電子放出素子の製造
方法においては、フォーミング工程の後に活性化工程
(詳しくは後述する)を行うことが好ましい。そして、
特に導電性膜として金属酸化物、あるいは金属と金属酸
化物の混合物を用いたときには、寄生抵抗を低く抑えて
より多くの放出電流が得られるように、活性化工程の前
に当該導電性膜の還元工程を加えることもある。このよ
うな場合には、上記還元工程の前に導電性膜表面上の吸
着物質を脱離させる工程を行うことにより、還元工程に
おいて素子間で均一で良好な還元特性を得ることが可能
であり、ひいては均一で良好な電子放出特性を得ること
が可能である。
【0019】また、本発明の第二は、上記本発明の第一
の方法により製造されたことを特徴とする電子放出素子
にある。
【0020】また、本発明の第三は、基体上に、一対の
素子電極間に跨がる導電性膜に電子放出部を有する電子
放出素子が複数配列された電子源の製造方法において、
これらの電子放出素子を上記本発明の第一の方法により
製造することを特徴とする電子源の製造方法にある。
【0021】また、本発明の第四は、上記本発明の第三
の方法により製造されたことを特徴とする電子源にあ
る。
【0022】また、本発明の第五は、基体上に複数の電
子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出さ
れる電子線の照射により画像を形成する画像形成部材と
を有する画像形成装置の製造方法において、該電子源を
上記本発明の第三の方法により製造することを特徴とす
る画像形成装置の製造方法にある。
【0023】さらに、本発明の第六は、基体上に複数の
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置において、該電子源が、上記本
発明の第四の電子源であることを特徴とする画像形成装
置にある。
【0024】
【発明の実施の形態】本発明の電子放出素子の基本的構
成には大別して、平面型及び垂直型の2つがある。先
ず、平面型の電子放出素子について説明する。
【0025】図1は、本発明の平面型の電子放出素子の
一構成例を示す模式図であり、図1(a)は縦断面図、
図1(b)は平面図である。図1において、1は基板、
2と3は電極(素子電極)、4は導電性膜、5は電子放
出部である。
【0026】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
【0027】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In23 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
【0028】素子電極間隔L、素子電極長さW、導電性
膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計さ
れる。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから数
百μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素子
電極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数十μm
の範囲とすることができる。素子電極長さWは、電極の
抵抗値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μm
の範囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚d
は、数十nmから数μmの範囲とすることができる。
【0029】尚、図1に示した構成とは別に、基板1上
に、導電性膜4、素子電極2,3の順に形成した構成と
することもできる。
【0030】導電性膜4を構成する材料は、例えばP
d,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,C
r,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、Pd
O,SnO2 ,In23 ,PbO,Sb23 等の酸
化物、HfB2 ,ZrB2 ,LaB6 ,CeB6 ,YB
4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,T
aC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,H
fN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等の
中から選ばれる。
【0031】導電性膜4には、良好な電子放出特性を得
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。その膜厚は、素子電極3へのステップカバレー
ジ、素子電極2,3間の抵抗値等を考慮して適宜設定さ
れるが、通常は、数Å〜数百nmの範囲とするのが好ま
しく、より好ましくは1nm〜50nmの範囲とするの
が良い。その抵抗値は、Rsが102 Ωから107 Ωの
値であるのが好ましい。なお、Rsは、幅がwで長さが
lの薄膜の長さ方向に測定した抵抗Rを、R=Rs(l
/w)と置いたときに現れる値である。
【0032】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あ
るいは重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、
全体として島状構造を形成している場合も含む)をとっ
ている。微粒子の粒径は、数Å〜数百nmの範囲、好ま
しくは、1nm〜20nmの範囲である。
【0033】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
【0034】小さな粒子を「微粒子」と呼び、これより
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく、原子の数が数百個程度以下のものを
「クラスター」と呼ぶことは広く行われている。
【0035】しかしながら、それぞれの境は厳密なもの
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
【0036】例えば、「実験物理学講座14 表面・微
粒子」(木下是雄 編、共立出版1986年9月1日発
行)では、「本稿で微粒子と言うときにはその直径がだ
いたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に
超微粒子というときは粒径が10nm程度から2〜3n
m程度までを意味することにする。両者を一括して単に
微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目)と記述されて
いる。
【0037】付言すると、新技術開発事業団の“林・超
微粒子プロジェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。
【0038】「創造科学技術推進制度の“超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle)と呼
ぶことにした。すると1個の超微粒子はおよそ100〜
108 個くらいの原子の集合体という事になる。原子の
尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子である。」(「超
微粒子−創造科学技術」林主税、上田良二、田崎明
編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行目)/
「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子が数個
〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラスター
と呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
【0039】上記のような一般的な呼び方をふまえて、
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜1nm程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
【0040】電子放出部5は、導電性膜4の一部に形成
された高抵抗の亀裂により構成され、その内部には、数
Åから数十nmの範囲の粒径の導電性微粒子が存在する
場合もある。この導電性微粒子は、導電性膜4を構成す
る材料の元素の一部、あるいは全ての元素を含有するも
のとなる。また、電子放出部5及びその近傍の導電性膜
4には、後述の活性化工程によって形成される炭素ある
いは炭素化合物を有することもできる。
【0041】次に、垂直型の電子放出素子について説明
する。
【0042】図2は、本発明の垂直型の電子放出素子の
一構成例を示す模式図であり、図1に示した部位と同じ
部位には図1に付した符号と同一の符号を付している。
21は段差形成部である。基板1、素子電極2,3、導
電性膜4及び電子放出部5は、前述した平面型の電子放
出素子の場合と同様の材料で構成することができる。段
差形成部21は、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等で
形成されたSiO2 等の絶縁性材料で構成することがで
きる。段差形成部21の膜厚は、先に述べた平面型の電
子放出素子の素子電極間隔Lに対応し、数百nmから数
十μmの範囲とすることができる。この膜厚は、段差形
成部21の製法、及び、素子電極2,3間に印加する電
圧を考慮して設定されるが、数十nmから数μmの範囲
が好ましい。
【0043】本発明の電子放出素子の製造方法としては
様々な方法があるが、その一例を図3に基づいて説明す
る。尚、図3においても図1に示した部位と同じ部位に
は図1に付した符号と同一の符号を付している。
【0044】1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤等を
用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー技
術を用いて基板1上に素子電極2を形成する(図3
(a))。
【0045】2)素子電極2,3を設けた基板1上に、
有機金属溶液を塗布して、有機金属膜を形成する。有機
金属溶液には、前述の導電性膜の材料の金属を主元素と
する有機化合物の溶液を用いることができる。この有機
金属膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング等に
よりパターニングし、導電性膜4を形成する(図3
(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を挙げて説
明したが、導電性膜4の形成法はこれに限られるもので
はなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、
分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法等を用いる
こともできる。
【0046】3)次のフォーミング工程において、素子
間でのフォーミングパワーの均一化、ひいては導電性膜
に均一で良好な亀裂を形成するために、導電性膜表面上
の吸着物質を脱離させて素子間で均一で清浄な膜表面を
露呈させる。ここに、導電性膜表面上の吸着物質を脱離
させる方法としては、真空中での基板加熱、連続光源に
よる光照射、より望ましくはこれらを組み合わせた方法
を採ることができる。
【0047】真空中での基板加熱は、1.3×10-3
a程度の真空雰囲気で行い、また加熱温度については導
電性膜を構成する材料により異なるが、100℃から4
00℃の範囲が好ましく、加熱方法としては、ホットプ
レート等の抵抗加熱方式、赤外放射加熱方式、高周波誘
導加熱方式等が挙げられる。
【0048】連続光源による光照射は、200nm〜8
00nmの波長域をもつアークランプを用い、10mW
/cm2 程度のパワーで照射するのが好ましい。連続光
源としては、キセノンランプ、高圧水銀ランプ、水銀−
キセノンランプ等のショートアークランプ等が挙げられ
る。
【0049】導電性膜4の表面に吸着している物質の検
出は、真空槽に組み込まれる四重極質量分析計を用いて
行う。導電性膜表面からの脱離種としては、導電性膜を
構成する材料により異なるが、一般的には脱離量が最も
多いのが水で、この他の脱離種としては、CO、CO
2 、O2 、N2 等が挙げられる。
【0050】4)次に、フォーミング工程を施す。この
フォーミング工程の方法の一例として通電処理による方
法を説明する。素子電極2,3間に通電を行うと、導電
性膜4の部位に電子放出部5が形成される(図3
(c))。かかる電子放出部5は、導電性膜4を局所的
に破壊、変形もしくは変質せしめ、構造の変化した部位
である。
【0051】通電フォーミングの電圧波形の例を図4に
示す。
【0052】電圧波形は、特にパルス波形が好ましい。
これにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に
印加する図4(a)に示した手法と、パルス波高値を増
加させながらパルスを印加する図4(b)に示した手法
がある。
【0053】まず、パルス波高値を定電圧とした場合に
ついて図4(a)で説明する。図4(a)におけるT1
及びT2 は電圧波形のパルス幅とパルス間隔である。三
角波の波高値(ピーク電圧)は、電子放出素子の形態に
応じて適宜選択される。このような条件のもと、例え
ば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は、
三角波に限定されるものではなく、矩形波等の所望の波
形を採用することができる。
【0054】次に、パルス波高値を増加させながら電圧
パルスを印加する場合について図4(b)で説明する。
図4(b)におけるT1 及びT2 は、図4(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値(ピー
ク電圧)は、例えば0.1Vステップ程度づつ、増加さ
せることができる。
【0055】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2 中に、導電性膜4を局所的に破壊,変形しない程
度の電圧を印加し、電流を測定して検知することができ
る。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
【0056】5)本工程では、特に導電性膜4として金
属酸化物、あるいは金属と金属酸化物の混合物を用いた
ときに寄生抵抗を低く抑えてより多くの素子電流及び放
出電流を流すために、電子放出部5を有する導電性膜4
の還元処理を行う。
【0057】フォーミング工程を真空中で行った場合
は、フォーミング工程に続いて導電性膜4の還元処理を
行うが、フォーミング工程を大気中で行った場合には、
この還元処理の前に、還元を阻害する吸着物質を取り除
くために前記3)と同様の導電性膜表面上の吸着物質を
脱離させる処理を行うのが好ましい。
【0058】導電性膜4の還元状態は、未フォーミング
素子の導電性膜の抵抗値の変化で観察することができ、
抵抗変化率が−1Ω/min以下となって抵抗値がほぼ
飽和し、導電性膜の全面が還元された時点で終了する。
【0059】上記導電性膜の還元を行う手段としては、
例えば以下の〜に挙げるものがある。 .真空中における加熱処理。加熱温度については真空
の度合、酸化物の材質により異なるが、100℃から4
00℃の範囲が好ましい。 .還元ガス雰囲気中での加熱処理。還元ガスとしては
水素、硫化水素、ヨウ化水素、並びに一酸化炭素、二酸
化イオウなどの低級酸化物ガス等が挙げられる。加熱温
度としては、還元ガス種にもよるが、室温から400℃
が好ましい。 .還元性の溶液中での加熱処理。還元性溶液として
は、ドラジン、ジイミド、ギ酸、アルデヒド、L−アス
コルビン酸等がある。加熱温度としては溶液の種類、濃
度にもよるが、20℃から100℃が好ましい。
【0060】6)フォーミングを終えた素子には活性化
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If 、放出電流Ie が、
著しく変化する工程である。
【0061】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
電極2,3間にパルス電圧の印加を繰り返すことで行う
ことができる。
【0062】この雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロー
タリーポンプなどを用いて真空容器内を排気した場合に
雰囲気内で残留する有機ガスを利用して形成することが
できる他、イオンポンプなどにより一旦十分に排気した
真空中に適当な有機物質のガスを導入することによって
も得られる。このときの好ましい有機物質のガス圧は、
前述の素子の形態、真空容器の形状や、有機物質の種類
などにより異なるため場合に応じ適宜設定される。適当
な有機物質としては、アルカン、アルケン、アルキンの
脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素類、アルコール類、
アルデヒド類、ケトン類、アミン類、フェノール、カル
ボン、スルホン酸等の有機酸類等を挙げることが出来、
具体的には、メタン、エタン、プロパンなどCn2n+2
で表される飽和炭化水素、エチレン、プロピレン、アセ
チレンなどCn2nやCn2n-2等の組成式で表される
不飽和炭化水素、ベンゼン、メタノール、エタノール、
ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセトン、メチ
ルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミン、フェノ
ール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用できる。
【0063】この活性化処理により、雰囲気中に存在す
る有機物質から、炭素或は炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If ,放出電流Ie が著しく変化するよう
になる。
【0064】ここで、炭素及び炭素化合物とは、例えば
グラファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含す
るもので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構
造、PGは結晶粒が200Å程度で結晶構造がやや乱れ
たもの、GCは結晶粒が20Å程度になり結晶構造の乱
れがさらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボ
ン(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボン
と前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であ
り、その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好まし
く、30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
【0065】活性化工程の終了判定は、素子電流If
測定しながら、適宜行うことができる。
【0066】7)このような工程を経て得られた電子放
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、電子放出素子が配置された真空容器内の有機物質を
排気する工程である。真空容器を排気する真空排気装置
は、装置から発生するオイルが素子の特性に影響を与え
ないように、オイルを使用しないものを用いるのが好ま
しい。具体的には、ソープションポンプ、イオンポンプ
等の真空排気装置を挙げることが出来る。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1.3×10-6Pa以下が好ま
しく、さらには1.3×10-8Pa以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気し易くするのが好ましい。このと
きの加熱条件は、80℃以上、好ましくは150℃以上
で、できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特にこ
の条件に限るものではなく、真空容器の大きさや形状、
電子放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条
件により行う。真空容器内の圧力は極力低くすることが
必要で、1.3×10-5Pa以下が好ましく、さらには
1.3×10-6Pa以下が特に好ましい。
【0067】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を
採用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の
堆積を抑制でき、結果として素子電流If ,放出電流I
e が安定する。
【0068】上述した工程を経て得られた本発明の電子
放出素子の基本特性について、図5及び図6を参照しな
がら説明する。
【0069】図5は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図5においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
【0070】図5において、55は真空容器であり、5
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
を流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54は
素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕捉
するためのアノード電極、53はアノード電極54に電
圧を印加するための高圧電源、52は電子放出部5より
放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。一例として、アノード電極54の電圧を1kV〜1
0kVの範囲とし、アノード電極54と電子放出素子と
の距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定を行うこと
ができる。
【0071】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
【0072】排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータ
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。
【0073】図6は、図5に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie 及び素子電流If と、素子電
圧Vf との関係を模式的に示した図である。図6におい
ては、放出電流Ie が素子電流If に比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
【0074】図6からも明らかなように、本発明の電子
放出素子は、放出電流Ie に関して次の3つの特徴的性
質を有する。
【0075】即ち、第1に、本素子はある電圧(閾値電
圧と呼ぶ;図6中のVth)以上の素子電圧を印加すると
急激に放出電流Ie が増加し、一方閾値電圧Vth以下で
は放出電流Ie が殆ど検出されない。つまり、放出電流
e に対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形素子で
ある。
【0076】第2に、放出電流Ie が素子電圧Vf に単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vf で制
御できる。
【0077】第3に、アノード電極54(図5参照)に
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vf を印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vf を印加する時間により制御できる。
【0078】以上の説明より理解されるように、本発明
の電子放出素子は、入力信号に応じて、電子放出特性を
容易に制御できることになる。この性質を利用すると複
数の電子放出素子を配して構成した電子源、画像形成装
置等、多方面への応用が可能となる。
【0079】図6においては、素子電流If が素子電圧
f に対して単調増加する(MI特性)例を示したが、
素子電流If が素子電圧Vf に対して電圧制御型負性抵
抗特性(VCNR特性)を示す場合もある(不図示)。
これらの特性は、前述の工程を制御することで制御でき
る。
【0080】次に、本発明の電子放出素子の応用例につ
いて以下に述べる。本発明の電子放出素子を複数個基板
上に配列し、例えば電子源や画像形成装置が構成でき
る。
【0081】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
【0082】本発明の電子放出素子については、前述し
た通り3つの特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素
子からの放出電子は、閾値電圧以上では、対向する素子
電極間に印加するパルス状電圧の波高値と幅で制御でき
る。一方、閾値電圧以下では、殆ど放出されない。この
特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合にお
いても、個々の素子にパルス状電圧を適宜印加すれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
【0083】以下この原理に基づき、本発明の電子放出
素子を複数配して得られる電子源基板について、図7を
用いて説明する。図7において、71は電子源基板、7
2はX方向配線、73はY方向配線である。74は電子
放出素子、75は結線である。
【0084】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx2,…
…,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等
を用いて形成された導電性金属等で構成することができ
る。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。Y方向配
線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn本の配線よりな
り、X方向配線72と同様に形成される。これらm本の
X方向配線72とn本のY方向配線73との間には、不
図示の層間絶縁層が設けられており、両者を電気的に分
離している(m,nは、共に正の整数)。
【0085】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0086】電子放出素子74を構成する一対の素子電
極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線72とn本
のY方向配線73に、導電性金属等からなる結線75に
よって電気的に接続されている。
【0087】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0088】X方向配線72には、X方向に配列した電
子放出素子74の行を選択するための走査信号を印加す
る不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、Y方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子74の
各列を入力信号に応じて変調するための、不図示の変調
信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印加され
る駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調信
号の差電圧として供給される。
【0089】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0090】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図8と図9及び
図10を用いて説明する。図8は、画像形成装置の表示
パネルの一例を示す模式図であり、図9は、図8の画像
形成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図10
は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うため
の駆動回路の一例を示すブロック図である。
【0091】図8において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
【0092】74は、図1に示したような電子放出素子
である。72,73は、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配線あ
る。
【0093】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0094】図9は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成する
ことができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列
により、ブラックストライプ(図9(a))あるいはブ
ラックマトリクス(図9(b))等と呼ばれる黒色導電
材91と蛍光体92とから構成することができる。ブラ
ックストライプ、ブラックマトリクスを設ける目的は、
カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体
92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たな
くすることと、蛍光膜84における外光反射によるコン
トラストの低下を抑制することにある。黒色導電材91
の材料としては、通常用いられている黒鉛を主成分とす
る材料の他、導電性があり、光の透過及び反射が少ない
材料を用いることができる。
【0095】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
【0096】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0097】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
【0098】図8に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。
【0099】外囲器88内は、前述の安定化工程と同様
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-5Pa程度の真空度の有機物
質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成される。外
囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲッター
処理を行うこともできる。これは、外囲器88の封止を
行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加
熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位置に
配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成
する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であ
り、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、電子放出
素子のフォーミング処理以降の工程は適宜設定できる。
【0100】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図10を用いて説明する。図10において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタ、105はラインメ
モリ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発
生器、Vx及びVaは直流電圧源である。
【0101】表示パネル101は、端子Dox1 乃至D
oxm 、端子Doy1 乃至Doyn 及び高圧端子87を介して
外部の電気回路と接続している。端子Dox1 乃至Doxm
には、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された電子放出
素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為の走査信号
が印加される。端子Doy1 乃至Doyn には、前記走査信
号により選択された1行の電子放出素子の各素子の出力
電子ビームを制御する為の変調信号が印加される。高圧
端子87には、直流電圧源Vaより、例えば10kVの
直流電圧が供給されるが、これは電子放出素子から放出
される電子ビームに、蛍光体を励起するのに十分なエネ
ルギーを付与する為の加速電圧である。
【0102】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1 乃至S
m で模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dox1 乃至Doxm と電気的に接
続される。各スイッチング素子S1 乃至Sm は、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作する
ものであり、例えばFETのようなスイッチング素子を
組み合わせることにより構成することができる。
【0103】直流電圧源Vxは、本例の場合には電子放
出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づき、走査され
ていない素子に印加される駆動電圧が電子放出閾値電圧
以下となるような一定電圧を出力するよう設定されてい
る。
【0104】制御回路103は、外部より入力される画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscan,Tsft 及びTmry の各制
御信号を発生する。
【0105】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から分
離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信号と
表した。このDATA信号は、シフトレジスタ104に
入力される。
【0106】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsft に基づいて動
作する(即ち、制御信号Tsft は、シフトレジスタ10
4のシフトクロックであると言い換えてもよい。)。シ
リアル/パラレル変換された画像1ライン分のデータ
(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)は、Id1
乃至Idnのn個の並列信号として前記シフトレジスタ1
04より出力される。
【0107】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmry に従っ
て適宜Idi乃至Idnの内容を記憶する。記憶された内容
は、Id'1 乃至Id'n として出力され、変調信号発生器
107に入力される。
【0108】変調信号発生器107は、画像データI
d'1 乃至Id'n の各々に応じて、電子放出素子の各々を
適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信号
は、端子Doy1 乃至Doyn を通じて表示パネル101内
の電子放出素子に印加される。
【0109】前述したように、本発明の電子放出素子は
放出電流Ie に関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth以上
の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子放出
閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変化に
応じて放出電流も変化する。このことから、本素子にパ
ルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値電圧
以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電子放
出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビームが
出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化させる
ことにより、出力電子ビームの強度を制御することが可
能である。また、パルスの幅Pwを変化させることによ
り、出力される電子ビームの電荷の総量を制御すること
が可能である。
【0110】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0111】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0112】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
【0113】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増
幅するための増幅器を付加することもできる。
【0114】このような構成をとり得る本発明の画像形
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子D
ox1 乃至Doxm 、Doy1 乃至Doyn を介して電圧を印加
することにより、電子放出が生じる。高圧端子87を介
してメタルバック85あるいは透明電極(不図示)に高
圧を印加し、電子ビームを加速する。加速された電子
は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成され
る。
【0115】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAL、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0116】次に、前述の梯子型配置の電子源及び画像
形成装置について、図11及び図12を用いて説明す
る。
【0117】図11は、梯子型配置の電子源の一例を示
す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線Dx1〜Dx10 であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2とDx3、Dx4とDx5
x6とDx7、Dx8とDx9とを夫々一体の同一配線とする
こともできる。
【0118】図12は、梯子型配置の電子源を備えた画
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、Dox1 乃至Doxm は容器外端子、G1 乃至G
n はグリッド電極120と接続された容器外端子であ
る。110は各素子行間の共通配線を同一配線とした電
子源基板である。図12においては、図8、図11に示
した部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一
の符号を付している。ここに示した画像形成装置と、図
8に示した単純マトリクス配置の画像形成装置との大き
な違いは、電子源基板110とフェースプレート86の
間にグリッド電極120を備えているか否かである。
【0119】図12においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、電子放出素子111か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
梯子型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ド電極の形状や配置位置は、図12に示したものに限定
されるものではない。例えば、開口としてメッシュ状に
多数の通過口を設けることもでき、グリッド電極を電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
【0120】容器外端子Dox1 乃至Doxm 及びグリッド
容器外端子G1 乃至Gn は、不図示の制御回路と電気的
に接続されている。
【0121】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0122】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0123】
【実施例】以下に、具体的な実施例を挙げて本発明を説
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の
置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0124】[実施例1]本実施例は、多数の電子放出
素子を単純マトリクス配置した電子源を用いて、画像形
成装置を作製した例である。
【0125】複数の導電性膜がマトリクス配線された基
板の一部の平面図を図13に示す。また、図中のA−
A’断面図を図14に示す。但し、図13、図14で同
じ符号で示したものは、同じ部材を示す。ここで71は
基板、2と3は素子電極、4は導電性膜である。72は
図7のDxmに対応するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、
73は図7のDynに対応するY方向配線(上配線とも呼
ぶ)、151は層間絶縁層、152は素子電極2と下配
線72との電気的接続のためのコンタクトホールであ
る。
【0126】先ず、本実施例の電子源基板の製造方法
を、図15及び図16を用いて工程順に説明する。尚、
以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図15の
(a)〜(d)及び図16の(e)〜(h)に対応す
る。
【0127】工程−a 清浄化した青板ガラス上に厚さ0.5μmのシリコン酸
化膜をスパッタ法で形成した基板71上に、真空蒸着法
により、厚さ50ÅのCr、厚さ6000ÅのAuを順
次積層した後、ホトレジスト(AZ1370/ヘキスト
社製)をスピンナーにより回転塗布、ベークした後、ホ
トマスク像を露光、現像して、下配線72のレジストパ
ターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウエットエッチン
グして、所望の形状の下配線72を形成した。
【0128】工程−b 次に、厚さ1.0μmのシリコン酸化膜からなる層間絶
縁層151をRFスパッタ法により堆積した。
【0129】工程−c 工程bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール1
52を形成するためのホトレジストパターンを作り、こ
れをマスクとして層間絶縁層151をエッチングしてコ
ンタクトホール152を形成した。エッチングはCF4
とH2 ガスを用いたRIE(Reactive Ion
Etching)法によった。
【0130】工程−d その後、素子電極2,3と素子電極間ギャップLとなる
べきパターンをホトレジスト(RD−2000N−41
/日立化成社製)形成し、真空蒸着法により、厚さ50
ÅのTi、厚さ1000ÅのNiを順次堆積した。ホト
レジストパターンを有機溶剤で溶解し、Ni/Ti堆積
膜をリフトオフし、素子電極間隔Lが20μm、幅Wが
300μmの素子電極2,3を形成した。
【0131】工程−e 素子電極2,3の上に上配線73のホトレジストパター
ンを形成した後、厚さ50ÅのTi、厚さ5000Åの
Auを順次真空蒸着により堆積した。ホトレジストパタ
ーンを有機溶剤で溶解し、Au/Ti堆積膜をリフトオ
フし、所望の形状の上配線73を形成した。
【0132】工程−f 次に、膜厚1000ÅのCr膜153を真空蒸着により
堆積後、導電性膜4の形状の開口部を有するようにパタ
ーニングし、この上に有機Pd(ccp4230/奥野
製薬(株)社製)をスピンナーにより回転塗布、300
℃で10分間の加熱焼成処理をした。こうして形成され
たPdOx を主成分とした微粒子からなる導電性膜4の
膜厚は100Å、Rsは5×104 Ωであった。
【0133】工程−g Cr膜153を酸エッチャントを用いてウエットエチイ
ングして導電性膜4の不要部分とともに除去し、所望の
形状の導電性膜4を形成した。
【0134】工程−h コンタクトホール152部分に開口を有するレジストパ
ターンを形成し、真空蒸着により厚さ50ÅのTi、厚
さ5000ÅのAuを順次堆積した。リフトオフにより
不要な部分を除去することにより、コンタクトホール1
52を埋め込んだ。
【0135】以上の工程により、絶縁性基板71上に下
配線72、層間絶縁層151、上配線73、素子電極
2,3、導電性膜4を形成した。
【0136】次に、以上のようにして作製した複数の導
電性膜4がマトリクス配線された基板71(図13)を
用いて画像形成装置を作製した。作製手順を図8と図9
を用いて説明する。
【0137】先ず、上記複数の導電性膜4がマトリクス
配線された基板71(図13)をリアプレート81上に
固定した後、基板71の5mm上方に、フェースプレー
ト86(ガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバ
ック85が形成されて構成される)を支持枠82を介し
て配置し、フェースプレート86、支持枠82、リアプ
レート81の接合部にフリットガラスを塗布し、大気中
で500℃で15分間焼成することで封着し、パネル
(図8中の外囲器88)を構成した。なお、リアプレー
ト81への基板71の固定もフリットガラスで行った。
【0138】蛍光膜84は、カラーを実現するために、
ストライプ形状(図9(a)参照)の蛍光体とし、先に
ブラックストライプを形成し、その間隙部にスラリー法
により各色蛍光体92を塗布して蛍光膜84を作製し
た。ブラックストライプの材料としては、通常よく用い
られている黒鉛を主成分とする材料を用いた。
【0139】また、蛍光膜84の内面側にはメタルバッ
ク85を設けた。メタルバック85は、蛍光膜84の作
製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸
着することで作製した。
【0140】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極を設ける場合もあるが、本実施例ではメタルバック8
5のみで十分な導電性が得られたので省略した。
【0141】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体92と電子放出素子とを対応させなくてはいけな
いため、十分な位置合わせを行った。
【0142】工程−i 次に本発明の特徴である導電性膜表面上の吸着物質を脱
離させる処理を行った。本実施例では、上述のパネル
(外囲器88)を図17に示す脱離処理装置に導入し、
パネル内の雰囲気を排気管を通じ真空ポンプにて排気
し、約1.3×10-4Pa程度の真空雰囲気下でパネル
全体をヒーター上に移して加熱した。本実施例のように
導電性膜4として酸化パラジウムを用いたときには、加
熱温度は100℃から160℃の範囲が好ましく、本実
施例では120℃で30分間加熱した。
【0143】工程−j 引き続き容器外端子Dox1 乃至Doxm とDoy1 乃至D
oyn を通じ電子放出素子74の素子電極2,3間にパル
ス電圧を印加し、フォーミング処理を行った。本実施例
では、図4(b)に示したようなパルスを用い、パルス
幅T1 を1msec.、パルス間隔T2 を10mse
c.とし、波高値は0Vから0.1Vステップで徐々に
上昇させ、約1.3×10-4Paの真空雰囲気下で行っ
た。このように作成された電子放出部5は、酸化パラジ
ウムを主成分とする微粒子が分散配置された状態とな
り、その微粒子の平均粒径は30Åであった。
【0144】尚、このフォーミング処理では、後述する
還元処理時に導電性膜4の抵抗値をモニタするための未
フォーミング素子を残しておいた。
【0145】工程−k 次に還元処理を上記真空雰囲気中で行った。具体的に
は、室温において水素を2.7×10-3Paの分圧で導
入して約1時間保持した。このとき未フォーミング素子
のPdO微粒子膜(導電性膜)は還元されPd金属の微
粒子膜に変化し、Rsは5×102 Ωとなり、還元前と
比べて約2桁小さくなった。
【0146】次に、1.3×10-4Pa程度の真空度ま
で排気した後、排気管をガスバーナーで熱することで溶
着し外囲器88の封止を行った。最後に、封止後の真空
度を維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行
ってパネルを完成させた。
【0147】ここで、本実施例による表面伝導型電子放
出素子の形態及び特性を把握するために、別途、図5に
示した真空処理装置(測定評価装置)内において上記工
程−i乃至工程−kを行った本実施例による素子Aと、
上記工程−iの脱離処理せずに工程−j及び工程−kを
行った比較用の素子Bについて、この真空処理装置を用
いて電子放出特性の測定を行った。特性評価は各々25
素子を任意に抽出して、素子電流If 、放出電流Ie
平均値及び標準偏差について比較した。具体的には、ア
ノード電極54と電子放出素子との距離Hを4mm、ア
ノード電極54の電位を1kV、電子放出特性測定時の
真空容器55内の真空度を約1.3×10-4Paとし、
素子A、Bとも素子電極2,3間に素子電圧を14V印
加し、その時に流れる素子電流If 及び放出電流Ie
測定した。
【0148】その結果、素子A及び素子Bともに、素子
電流If の平均値は約1.0mA,放出電流Ie の平均
値は0.5μAであった。一方、放出電流Ie の平均値
に対する標準偏差の割合が、素子Aでは約3%であった
のに対し、素子Bでは約6%であった。以上より、素子
Aは素子Bと比べて特に均一性に関して優位であること
が示された。
【0149】次に、本実施例で作製した前記パネルの容
器外端子Dox1 乃至Doxm とDoy1乃至Doyn 、及び高
圧端子87を夫々必要な駆動系に接続し、画像形成装置
を完成した。各電子放出素子に、容器外端子Dox1 乃至
oxm とDoy1 乃至Doyn を通じて、走査信号及び変調
信号を不図示の信号発生手段より夫々印加することによ
り電子放出させ、高圧端子87を通じてメタルバック8
5に10kVの高圧を印加して、電子ビームを加速し、
蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画像を
表示した。
【0150】その結果、本実施例の画像形成装置では、
輝度むら、画像のちらつきの少ない良好な画像を表示す
ることができた。このように、本発明による導電性膜表
面上の吸着物質を脱離させる処理により、従来素子と比
較して、特に電子放出特性の均一性に関して優れた電子
源及び、これを用いた画像形成装置が実現できた。
【0151】[実施例2]実施例1では、パネルを構成
した後、導電性膜表面上の吸着物質を脱離させる処理を
行い、この後にパネル内の真空雰囲気下でフォーミング
処理を行ったが、本実施例ではパネルを構成する前に大
気中でフォーミング処理を行い、このフォーミング処理
の後に導電性膜表面上の吸着物質を脱離させる処理を行
った場合の例である。
【0152】先ず、実施例1と同様に、工程−aから工
程−hまでを行い、絶縁性基板71上に下配線72、層
間絶縁層151、上配線73、素子電極2,3、導電性
膜4を形成した。
【0153】工程−i 大気中で端子Dox1 乃至Doxm とDoy1 乃至Doyn を通
じ電子放出素子74の素子電極2,3間に実施例1と同
様のパルス電圧を印加し、フォーミング処理を行った。
このように作成された電子放出部5は、酸化パラジウム
を主成分とする微粒子が分散配置された状態となり、そ
の微粒子の平均粒径は30Åであった。
【0154】尚、このフォーミング処理では、後述する
還元処理時に導電性膜4の抵抗値をモニタするための未
フォーミング素子を残しておいた。
【0155】次に、以上のようにして作製した電子源基
板71(図13)を用いて、実施例1と同様にパネル
(図8中の外囲器88)を構成した。
【0156】工程−j 次に本発明の特徴である導電性膜表面上の吸着物質を脱
離させる処理を行った。本実施例では、上記パネル(外
囲器88)を図17に示す脱離処理装置に導入し、パネ
ル内の雰囲気を排気管を通じ真空ポンプにて排気し、約
1.3×10-4Pa程度の真空雰囲気下でパネル全体を
ヒーター上に移して加熱した。本実施例では120℃で
1時間加熱した。
【0157】工程−k 次に還元処理を上記真空雰囲気中で行った。具体的に
は、室温において水素を2.7×10-3Paの分圧で導
入して約1時間保持した。このとき未フォーミング素子
のPdO微粒子膜(導電性膜)は還元されPd金属の微
粒子膜に変化し、Rsは5×102 Ωとなり、還元前と
比べて約2桁小さくなった。
【0158】次に、1.3×10-4Pa程度の真空度ま
で排気した後、排気管をガスバーナーで熱することで溶
着し外囲器88の封止を行った。最後に、封止後の真空
度を維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行
ってパネルを完成させた。
【0159】ここで、本実施例による表面伝導型電子放
出素子の形態及び特性を把握するために、別途、図5に
示した真空処理装置(測定評価装置)内において上記工
程−j及び工程−kを行った本実施例による素子Aと、
上記工程−jを行わずに工程−kを行った比較用の素子
Bについて、この真空処理装置を用いて電子放出特性の
測定を行った。特性評価は各々25素子を任意に抽出し
て、素子電流If 、放出電流Ie の平均値及び標準偏差
について比較した。具体的には、アノード電極54と電
子放出素子との距離Hを4mm、アノード電極54の電
位を1kV、電子放出特性測定時の真空容器55内の真
空度を約1.3×10-4Paとし、素子A、Bとも素子
電極2,3間に素子電圧を14V印加し、その時に流れ
る素子電流If 及び放出電流Ie を測定した。
【0160】その結果、素子A及び素子Bともに、素子
電流If の平均値は約1.1mA,放出電流Ie の平均
値は0.3μAであった。一方、放出電流Ie の平均値
に対する標準偏差の割合が、素子Aでは約6%であった
のに対し、素子Bでは約10%であった。以上より、素
子Aは素子Bと比べて特に均一性に関して優位であるこ
とが示された。
【0161】次に、本実施例で作製した前記パネルの容
器外端子Dox1 乃至Doxm とDoy1乃至Doyn 、及び高
圧端子87を夫々必要な駆動系に接続し、画像形成装置
を完成した。各電子放出素子に、容器外端子Dox1 乃至
oxm とDoy1 乃至Doyn を通じて、走査信号及び変調
信号を不図示の信号発生手段より夫々印加することによ
り電子放出させ、高圧端子87を通じてメタルバック8
5に10kVの高圧を印加して、電子ビームを加速し、
蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画像を
表示した。
【0162】その結果、本実施例の画像形成装置では、
輝度むら、画像のちらつきの少ない良好な画像を表示す
ることができた。
【0163】[実施例3]実施例1及び実施例2では、
真空加熱により導電性膜表面上の吸着物質を脱離させる
処理を行ったが、本実施例は真空加熱と連続光源による
光照射を組み合わせて導電性膜表面上の吸着物質を脱離
させる処理を行った場合の例である。
【0164】先ず、実施例1と同様に、工程−aから工
程−hまでを行い、絶縁性基板71上に下配線72、層
間絶縁層151、上配線73、素子電極2,3、導電性
膜4を形成した。
【0165】工程−i 次に本発明の特徴である導電性膜表面上の吸着物質を脱
離させる処理を行った。本実施例では、電子源基板71
を図18に示す脱離処理装置に導入し、真空容器内の雰
囲気を排気管を通じ真空ポンプにて排気し、約1.3×
10-4Pa程度の真空雰囲気下で電子源基板71をヒー
ター上に移して120℃で30分間加熱した。この時同
時に300Wのキセノンランプからの光を不図示の光学
系を通して集光し、基板に照射した。
【0166】工程−j 引き続き約1.3×10-4Paの真空雰囲気下で端子D
ox1 乃至Doxm とDoy1 乃至Doyn を通じ電子放出素子
74の素子電極2,3間に実施例1と同様のパルス電圧
を印加し、フォーミング処理を行った。このように作成
された電子放出部5は、酸化パラジウムを主成分とする
微粒子が分散配置された状態となり、その微粒子の平均
粒径は30Åであった。
【0167】尚、このフォーミング処理では、後述する
還元処理時に導電性膜4の抵抗値をモニタするための未
フォーミング素子を残しておいた。
【0168】次に、以上のようにして作製した電子源基
板71(図13)を用いて、実施例1と同様にパネル
(図8中の外囲器88)を構成した。
【0169】工程−k 次に再び本発明の特徴である導電性膜表面上の吸着物質
を脱離させる処理を行った。具体的には、上記パネル
(外囲器88)を図17に示す脱離処理装置に導入し、
パネル内の雰囲気を排気管を通じ真空ポンプにて排気
し、約1.3×10-4Pa程度の真空雰囲気下でパネル
全体をヒーター上に移して120℃で30分間加熱し
た。
【0170】工程−l 次に還元処理を上記真空雰囲気中で行った。具体的に
は、室温において水素を2.7×10-3Paの分圧で導
入して約1時間保持した。このとき未フォーミング素子
のPdO微粒子膜(導電性膜)は還元されPd金属の微
粒子膜に変化し、Rsは5×102 Ωとなり、還元前と
比べて約2桁小さくなった。
【0171】次に、1.3×10-4Pa程度の真空度ま
で排気した後、排気管をガスバーナーで熱することで溶
着し外囲器88の封止を行った。最後に、封止後の真空
度を維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行
ってパネルを完成させた。
【0172】ここで、本実施例による表面伝導型電子放
出素子の形態及び特性を把握するために、別途、図5に
示した真空処理装置(測定評価装置)内において上記工
程−i乃至工程−lを行った本実施例による素子Aと、
上記工程−i及び工程−kを行わずに工程−j及び工程
−lを行った比較用の素子Bについて、この真空処理装
置を用いて電子放出特性の測定を行った。特性評価は各
々25素子を任意に抽出して、素子電流If 、放出電流
e の平均値及び標準偏差について比較した。具体的に
は、アノード電極54と電子放出素子との距離Hを4m
m、アノード電極54の電位を1kV、電子放出特性測
定時の真空容器55内の真空度を約1.3×10-4Pa
とし、素子A、Bとも素子電極2,3間に素子電圧を1
4V印加し、その時に流れる素子電流If 及び放出電流
e を測定した。
【0173】その結果、素子A及び素子Bともに、素子
電流If の平均値は約1.0mA,放出電流Ie の平均
値は0.5μAであった。一方、放出電流Ie の平均値
に対する標準偏差の割合が、素子Aでは約3%であった
のに対し、素子Bでは約7%であった。以上より、素子
Aは素子Bと比べて特に均一性に関して優位であること
が示された。
【0174】次に、本実施例で作製した前記パネルの容
器外端子Dox1 乃至Doxm とDoy1乃至Doyn 、及び高
圧端子87を夫々必要な駆動系に接続し、画像形成装置
を完成した。各電子放出素子に、容器外端子Dox1 乃至
oxm とDoy1 乃至Doyn を通じて、走査信号及び変調
信号を不図示の信号発生手段より夫々印加することによ
り電子放出させ、高圧端子87を通じてメタルバック8
5に10kVの高圧を印加して、電子ビームを加速し、
蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画像を
表示した。
【0175】その結果、本実施例の画像形成装置では、
輝度むら、画像のちらつきの少ない良好な画像を表示す
ることができた。
【0176】[実施例4]図19は、実施例1によるデ
ィスプレイパネル(図8)に、例えばテレビジョン放送
を初めとする種々の画像情報源より提供される画像情報
を表示できるように構成した本発明の画像形成装置の一
例を示す図である。
【0177】図中201はディスプレイパネル、100
1はディスプレイパネルの駆動回路、1002はディス
プレイコントローラ、1003はマルチプレクサ、10
04はデコーダ、1005は入出力インターフェース回
路、1006はCPU、1007は画像生成回路、10
08及び1009及び1010は画像メモリーインター
フェース回路、1011は画像入力インターフェース回
路、1012及び1013はTV信号受信回路、101
4は入力部である。
【0178】尚、本画像形成装置は、例えばテレビジョ
ン信号のように、映像情報と音声情報の両方を含む信号
を受信する場合には当然映像の表示と同時に音声を再生
するものであるが、本発明の特徴と直接関係しない音声
情報の受信、分離、再生、処理、記憶等に関する回路や
スピーカー等については説明を省略する。
【0179】以下、画像信号の流れに沿って各部の機能
を説明する。
【0180】まず、TV信号受信回路1013は、例え
ば電波や空間光通信等のような無線伝送系を用いて伝送
されるTV信号を受信するための回路である。
【0181】受信するTV信号の方式は特に限られるも
のではなく、例えばNTSC方式、PAL方式、SEC
AM方式等、いずれの方式でもよい。また、これらより
更に多数の走査線よりなるTV信号、例えばMUSE方
式を初めとする所謂高品位TVは、大面積化や大画素数
化に適した前記ディスプレイパネルの利点を生かすのに
好適な信号源である。
【0182】TV信号受信回路1013で受信されたT
V信号は、デコーダ1004に出力される。
【0183】TV信号受信回路1012は、例えば同軸
ケーブルや光ファイバー等のような有線伝送系を用いて
伝送されるTV信号を受信するための回路である。前記
TV信号受信回路1013と同様に、受信するTV信号
の方式は特に限られるものではなく、また本回路で受信
されたTV信号もデコーダ1004に出力される。
【0184】画像入力インターフェース回路1011
は、例えばTVカメラや画像読み取りスキャナーなどの
画像入力装置から供給される画像信号を取り込むための
回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1004に出
力される。
【0185】画像メモリーインターフェース回路101
0は、ビデオテープレコーダー(以下VTRと略す)に
記憶されている画像信号を取り込むための回路で、取り
込まれた画像信号はデコーダ1004に出力される。
【0186】画像メモリーインターフェース回路100
9は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を取り
込むための回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1
004に出力される。
【0187】画像メモリーインターフェース回路100
8は、静止画ディスクのように、静止画像データを記憶
している装置から画像信号を取り込むための回路で、取
り込まれた静止画像データはデコーダ1004に入力さ
れる。
【0188】入出力インターフェース回路1005は、
本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコンピュー
タネットワークもしくはプリンターなどの出力装置とを
接続するための回路である。画像データや文字・図形情
報の入出力を行うのは勿論のこと、場合によっては本画
像形成装置の備えるCPU1006と外部との間で制御
信号や数値データの入出力などを行うことも可能であ
る。
【0189】画像生成回路1007は、前記入出力イン
ターフェース回路1005を介して外部から入力される
画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU100
6より出力される画像データや文字・図形情報に基づ
き、表示用画像データを生成するための回路である。本
回路の内部には、例えば画像データや文字・図形情報を
蓄積するための書き換え可能メモリーや、文字コードに
対応する画像パターンが記憶されている読み出し専用メ
モリーや、画像処理を行うためのプロセッサー等を初め
として、画像の生成に必要な回路が組み込まれている。
【0190】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ1004に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路1005を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンターに出力するこ
とも可能である。
【0191】CPU1006は、主として本表示装置の
動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わる作業
を行う。
【0192】例えば、マルチプレクサ1003に制御信
号を出力し、ディスプレイパネルに表示する画像信号を
適宜選択したり組み合わせたりする。その際には表示す
る画像信号に応じてディスプレイパネルコントローラ1
002に対して制御信号を発生し、画面表示周波数や走
査方法(例えばインターレースかノンインターレース
か)や一画面の走査線の数など表示装置の動作を適宜制
御する。また、前記画像生成回路1007に対して画像
データや文字・図形情報を直接出力したり、あるいは前
記入出力インターフェース回路1005を介して外部の
コンピュータやメモリーをアクセスして画像データや文
字・図形情報を入力する。
【0193】尚、CPU1006は、これ以外の目的の
作業にも関わるものであってよい。例えば、パーソナル
コンピュータやワードプロセッサ等のように、情報を生
成したり処理する機能に直接関わってもよい。あるいは
前述したように、入出力インターフェース回路1005
を介して外部のコンピュータネットワークと接続し、例
えば数値計算等の作業を外部機器と協同して行ってもよ
い。
【0194】入力部1014は、前記CPU1006に
使用者が命令やプログラム、あるいはデータなどを入力
するためのものであり、例えばキーボードやマウスの
他、ジョイスティック、バーコードリーダー、音声認識
装置等の多様な入力機器を用いることが可能である。
【0195】デコーダ1004は、前記1007ないし
1013より入力される種々の画像信号を3原色信号、
又は輝度信号とI信号、Q信号に逆変換するための回路
である。尚、図中に点線で示すように、デコーダ100
4は内部に画像メモリーを備えるのが望ましい。これ
は、例えばMUSE方式を初めとして、逆変換するに際
して画像メモリーを必要とするようなテレビ信号を扱う
ためである。
【0196】画像メモリーを備える事により、静止画の
表示が容易になる。あるいは前記画像生成回路1007
及びCPU1006と協同して、画像の間引き、補間、
拡大、縮小、合成を初めとする画像処理や編集が容易に
なるという利点が得られる。
【0197】マルチプレクサ1003は、前記CPU1
006より入力される制御信号に基づき、表示画像を適
宜選択するものである。即ち、マルチプレクサ1003
はデコーダ1004から入力される逆変換された画像信
号の内から所望の画像信号を選択して駆動回路1001
に出力する。その場合には、一画面表示時間内で画像信
号を切り換えて選択することにより、所謂多画面テレビ
のように、一画面を複数の領域に分けて領域によって異
なる画像を表示することも可能である。
【0198】ディスプレイパネルコントローラ1002
は、前記CPU1006より入力される制御信号に基づ
き、駆動回路1001の動作を制御するための回路であ
る。
【0199】ディスプレイパネルの基本的な動作に関わ
るものとして、例えばディスプレイパネルの駆動用電源
(図示せず)の動作シーケンスを制御するための信号を
駆動回路1001に対して出力する。ディスプレイパネ
ルの駆動方法に関わるものとして、例えば画面表示周波
数や走査方法(例えばインターレースかノンインターレ
ースか)を制御するための信号を駆動回路1001に対
して出力する。また、場合によっては、表示画像の輝度
やコントラストや色調やシャープネスといった画質の調
整に関わる制御信号を駆動回路1001に対して出力す
る場合もある。
【0200】駆動回路1001は、ディスプレイパネル
201に印加する駆動信号を発生するための回路であ
り、前記マルチプレクサ1003から入力される画像信
号と、前記ディスプレイパネルコントローラ1002よ
り入力される制御信号に基づいて動作するものである。
【0201】以上、各部の機能を説明したが、図19に
例示した構成により、本画像形成装置においては多様な
画像情報源より入力される画像情報をディスプレイパネ
ル201に表示することが可能である。即ち、テレビジ
ョン放送を初めとする各種の画像信号は、デコーダ10
04におて逆変換された後、マルチプレクサ1003に
おいて適宜選択され、駆動回路1001に入力される。
一方、デイスプレイコントローラ1002は、表示する
画像信号に応じて駆動回路1001の動作を制御するた
めの制御信号を発生する。駆動回路1001は、上記画
像信号と制御信号に基づいてディスプレイパネル201
に駆動信号を印加する。これにより、ディスプレイパネ
ル201において画像が表示される。これらの一連の動
作は、CPU1006により統括的に制御される。
【0202】本画像形成装置においては、前記デコーダ
1004に内蔵する画像メモリや、画像生成回路100
7及び情報の中から選択したものを表示するだけでな
く、表示する画像情報に対して、例えば拡大、縮小、回
転、移動、エッジ強調、間引き、補間、色変換、画像の
縦横比変換等を初めとする画像処理や、合成、消去、接
続、入れ換え、嵌め込み等を初めとする画像編集を行う
ことも可能である。また、本実施例の説明では特に触れ
なかったが、上記画像処理や画像編集と同様に、音声情
報に関しても処理や編集を行なうための専用回路を設け
てもよい。
【0203】従って、本画像形成装置は、テレビジョン
放送の表示機器、テレビ会議の端末機器、静止画像及び
動画像を扱う画像編集機器、コンピュータの端末機器、
ワードプロセッサを初めとする事務用端末機器、ゲーム
機などの機能を一台で兼ね備えることが可能で、産業用
あるいは民生用として極めて応用範囲が広い。
【0204】図19に示した表示装置は、本発明の技術
的思想に基づいて種々の変形が可能である。例えば図1
9の構成要素の内、使用目的上必要のない機能に関わる
回路は省いても差し支えない。また、これとは逆に、使
用目的によっては更に構成要素を追加してもよい。例え
ば、本表示装置をテレビ電話機として応用する場合に
は、テレビカメラ、音声マイク、照明機、モデムを含む
送受信回路等を構成要素に追加するのが好適である。
【0205】本表示装置においては、とりわけ電子放出
素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルの薄型化
が容易であるため、表示装置の奥行きを小さくすること
ができる。それに加えて、大面積化が容易で輝度が高く
視野角特性にも優れるため、臨場感あふれ迫力に富んだ
画像を視認性良く表示することが可能である。また、均
一な特性を有する多数の電子放出素子を備える電子源を
用いたことにより、従来の表示装置と比較して非常に均
一で明るい高品位なカラーフラットテレビが実現され
た。
【0206】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
まずフォーミング工程においてフォーミングパワーの均
一化により良好な亀裂を形成することが可能で、さらに
還元工程においては素子間で均一で良好な還元特性を得
ることが可能であり、ひいては均一な電子放出特性を有
する電子放出素子を安定して作製することができる。
【0207】また、多数の電子放出素子を配列形成し、
入力信号に応じて電子を放出する電子源においては、各
電子放出素子の電子放出特性の均一化が実現される。更
に、かかる電子源を用いた画像形成装置においては、輝
度むら、画像のちらつき等の画像品位の低下の問題も解
消され、高品位な画像形成装置、例えばカラーフラット
テレビが実現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の平面型の電子放出素子の一例を示す模
式図である。
【図2】本発明の垂直型の電子放出素子の一例を示す模
式図である。
【図3】本発明の平面型の電子放出素子の製造方法を説
明するための図である。
【図4】本発明の電子放出素子の製造に際して採用でき
る通電処理における電圧波形の一例を示す模式図であ
る。
【図5】本発明の電子放出素子の製造に用いることので
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
【図6】本発明の電子放出素子の電子放出特性を示す図
である。
【図7】本発明の単純マトリクス配置の電子源の一例を
示す模式図である。
【図8】本発明の画像形成装置の表示パネルの一例を示
す模式図である。
【図9】表示パネルにおける蛍光膜の一例を示す模式図
である。
【図10】本発明の画像形成装置にNTSC方式のテレ
ビ信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示す
ブロック図である。
【図11】本発明の梯子型配置の電子源の一例を示す模
式図である。
【図12】本発明の画像形成装置の表示パネルの一例を
示す模式図である。
【図13】本発明の実施例に係るマトリクス配線した電
子源の一部を示す模式図である。
【図14】図13のA−A’断面模式図である。
【図15】図13の電子源の製造工程を示す図である。
【図16】図13の電子源の製造工程を示す図である。
【図17】本発明の実施例において用いた脱離処理装置
を示す模式図である。
【図18】本発明の実施例において用いた脱離処理装置
を示す模式図である。
【図19】実施例4の画像表示装置のブロック図であ
る。
【図20】従来例の表面伝導型電子放出素子の模式図で
ある。
【符号の説明】
1 基板 2,3 素子電極 4 導電性膜 5 電子放出部 21 段差形成部材 50 素子電流Ifを測定するための電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 151 層間絶縁層 152 コンタクトホール 153 Cr膜

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体上に形成された一対の素子電極間に
    跨がる導電性膜に電子放出部を有する電子放出素子の製
    造方法において、 導電性膜表面上の吸着物質を脱離させる工程を有するこ
    とを特徴とする電子放出素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記導電性膜表面上の吸着物質を脱離さ
    せる工程を、該導電性膜に電子放出部を形成するフォー
    ミング工程の前に行うことを特徴とする請求項1に記載
    の電子放出素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記導電性膜表面上の吸着物質を脱離さ
    せる工程を、該導電性膜に電子放出部を形成するフォー
    ミング工程後の該導電性膜の還元処理工程の前に行うこ
    とを特徴とする請求項1又は2に記載の電子放出素子の
    製造方法。
  4. 【請求項4】 前記導電性膜表面上の吸着物質を脱離さ
    せる工程が、真空中での基体加熱によることを特徴とす
    る請求項1〜3のいずれかに記載の電子放出素子の製造
    方法。
  5. 【請求項5】 前記導電性膜表面上の吸着物質を脱離さ
    せる工程が、連続光源を用いた真空中での光照射による
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子
    放出素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記導電性膜表面上の吸着物質を脱離さ
    せる工程が、真空中での基体加熱と連続光源を用いた真
    空中での光照射との組み合わせによることを特徴とする
    請求項1〜3のいずれかに記載の電子放出素子の製造方
    法。
  7. 【請求項7】 前記基体を加熱する方法が、抵抗加熱方
    式、赤外放射加熱方式もしくは高周波誘導加熱方式であ
    ることを特徴とする請求項4又は6に記載の電子放出素
    子の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記連続光源が、ショートアークランプ
    であることを特徴とする請求項5又は6に記載の電子放
    出素子の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記ショートアークランプが、キセノン
    ランプ、高圧水銀ランプもしくは水銀−キセノンランプ
    であることを特徴とする請求項8に記載の電子放出素子
    の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記電子放出素子が、表面伝導型電子
    放出素子であることを特徴とする請求項1〜9のいずれ
    かに記載の電子放出素子の製造方法。
  11. 【請求項11】 請求項1〜10のいずれかに記載の方
    法により製造されたことを特徴とする電子放出素子。
  12. 【請求項12】 基体上に、一対の素子電極間に跨がる
    導電性膜に電子放出部を有する電子放出素子が複数配列
    された電子源の製造方法において、これらの電子放出素
    子を請求項1〜10のいずれかに記載の方法により製造
    することを特徴とする電子源の製造方法。
  13. 【請求項13】 請求項12に記載の方法により製造さ
    れたことを特徴とする電子源。
  14. 【請求項14】 前記複数の電子放出素子が、マトリク
    ス状に配線されていることを特徴とする請求項13に記
    載の電子源。
  15. 【請求項15】 前記複数の電子放出素子が、梯子状に
    配線されていることを特徴とする請求項13に記載の電
    子源。
  16. 【請求項16】 基体上に複数の電子放出素子が配列さ
    れた電子源と、該電子源から放出される電子線の照射に
    より画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成装
    置の製造方法において、該電子源を請求項12に記載の
    方法により製造することを特徴とする画像形成装置の製
    造方法。
  17. 【請求項17】 基体上に複数の電子放出素子が配列さ
    れた電子源と、該電子源から放出される電子線の照射に
    より画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成装
    置において、該電子源が、請求項13〜15のいずれか
    に記載の電子源であることを特徴とする画像形成装置。
JP11319898A 1998-04-23 1998-04-23 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 Withdrawn JPH11306958A (ja)

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