JPH11272024A

JPH11272024A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH11272024A
Application number: JP10371037A
Authority: JP
Inventors: Masao Nakano; 正雄仲野
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1997-12-26
Filing date: 1998-12-25
Publication date: 1999-10-08

Abstract

(57)【要約】【課題】画素間の濃度干渉をなくして、高階調性の画
像形成を行うことができるようにする。【解決手段】画像データ処理装置８が入力画像データ
を静電潜像データに加工する際に、画素の大きさに応じ
て該画素周辺の相互作用を考慮した画像演算、例えば画
素の電位とその周辺画素の電位との電位差を予め設定し
た範囲内になるように演算することにより、画素間干渉
を考慮した高階調性の画像形成を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子写真方式によ
って画像形成を行う複写機やプリンタ等の画像形成装置
に係り、特にデジタル処理によって画像濃度処理を行う
画像形成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子写真方式による画像形成にお
いては、階調画像を得るために様々な方式がとられてき
た。従来の画像形成装置による現像プロセスは、低濃度
部が飛びやすく、高濃度部がつぶれやすい特性を持って
おり、通常、電子写真方式で形成された画像は硬調にな
りやすい。また、像担持体上に形成される静電潜像の画
像部と非画像部の電位差である電位コントラストを調整
することにより、中間調の再現を試みる技術は、一般に
広く知られている。

【０００３】ところで、入力画像データを取り込む画像
読取部と、入力画像データに応じた画像を形成する画像
形成部（画像書き込み部）を独立させ、画像読取部で読
み取られた画像信号をデジタル処理して画像形成部に送
るデジタル電子写真方式においては、入出力特性を補正
するテーブルを参照しながら画像データを作成する方法
が知られており、マクロな画像濃度の保存が可能であ
る。

【０００４】一般に、濃度補正テーブルは、画像形成部
の出力特性の逆特性として作られる。つまり、画像形成
部に段階的な出力データを送り、出力された画像の濃度
を測定し、所定濃度を得るための画像データの値を逆に
求めるものである。

【０００５】また、一画素に対し、面積階調法、あるい
は強度階調法を用いて階調表現を行っている場合、読み
取られた画像濃度データに対し、所定画素に対して、そ
の濃度を再現するデータを画像形成部に送ることによ
り、画像濃度の再現を行う。

【０００６】画像濃度は一般的にある大きさの均一画像
の濃度として測定され、通常は数ミリないし数センチの
範囲であることが多い。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の画像形成装置では、デジタル処理によって画像
濃度処理を行う場合に画素間の相互作用が大きく、ある
注目画素の濃度はその画素周辺のデータにより変化して
しまい、良好な濃度制御を行うことができなくなる。特
に近年、画像形成装置が高解像度になるに従い、画素間
の濃度干渉が生じ易くなってきている。

【０００８】以下、従来の画像濃度制御の具体的な例
を、図２５乃至図２９を参照して説明する。

【０００９】図２５は、４×４画素ディザのベイヤーパ
ターンを示しており、数字の順番に画素を塗りつぶして
いくことで面積階調制御を行い、リニアな階調性を得る
ことを目的としている。図２６は、この面積階調制御を
電子写真方式に応用した場合の実測画像濃度である。こ
の場合の階調性は実際にはリニアでなくなり、濃度の反
転が生じている。

【００１０】図２７は、シミュレーションによるディザ
ベイヤーパターン階調４の像担持体（感光ドラム）表面
電位分布を模式的に表したものである。図２８は、この
ようなシミュレーションにおいて、各レベル（階調）に
おける像担持体（感光ドラム）の平均電位（図示の
ａ）、最低電位（図示のｂ）、最高電位（図示のｃ）を
示している。また、図２９は、各レベル（階調）におけ
る画素の最低電位と最高電位の電位差、つまり画素間コ
ントラストの測定結果である。

【００１１】このように、画像濃度の反転は、画素間の
干渉による画素間コントラストの非線形性が引き起こし
ていることが分かる。

【００１２】また、このような画像濃度の部分的な反転
は、画像性を向上させるために微小な静電潜像を形成す
ることや、小径トナー（平均粒径が６〜８μｍ）を使う
ことにより顕著な現象になってくる。

【００１３】また、このような効果を確認するための、
微小な領域の潜像の電位分布測定や電解測定は、測定サ
イズの大きさからほぼ不可能であるため、研究のための
データを得ることすらできなかった。

【００１４】そこで本発明は、画素間の干渉を考慮した
高階調性を得ることができる画像形成装置を提供するこ
とを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、デジタル処理により画像を形成する電子
写真装置であって、表面に静電潜像を担持する電子写真
感光体と、入力される画像データを、静電潜像を形成す
るためのデータに加工する画像データ処理手段と、前記
画像データ処理手段で得られた静電潜像データに応じた
デジタル光学手段により画像露光を行って静電潜像を前
記電子写真感光体に形成する静電潜像形成手段と、前記
静電潜像をトナーで現像して現像画像を形成する現像手
段と、を備え、前記画像データ処理手段は、前記入力画
像データを前記静電潜像データに加工する際に、前記静
電潜像を構成する画素の大きさに応じて、該画素周辺の
相互作用を考慮した画像演算を行うことを特徴としてい
る。

【００１６】また、前記画像データ処理手段による前記
画素周辺の相互作用を考慮した画像演算により、前記画
素の電位とその周辺画素の電位との電位差を予め設定し
た範囲内になるようにすることを特徴としている。

【００１７】また、前記画像データ処理手段による前記
画素周辺の相互作用を考慮した画像演算により、前記静
電潜像をディザ階調パターンで形成した場合における、
該ディザ階調パターンの静電潜像が形成する画像部の電
位分布を計算し、この計算から求めた、前記画像部の電
位分布の平均電位、前記現像手段に印加される現像バイ
アス電位と前記電子写真感光体の表面電位との電位差で
ある平均コントラスト電位、及び前記画素の電位とその
周辺画素の電位との電位差である画素コントラスト電位
をもとにディザ階調パターンを変更するようにすること
を特徴としている。

【００１８】また、前記画像データ処理手段による前記
画素周辺の相互作用を考慮した画像演算により、非画像
領域部での前記画素の電位とその周辺画素の電位との電
位差が小さくなるようにすることを特徴としている。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、図面に沿って本発明に係る
実施の形態について説明する。

【００２０】〈実施の形態１〉図１は、本実施の形態に
係る画像形成装置（本実施の形態では、デジタル画像濃
度処理を行う複写機）を示す概略構成図である。

【００２１】この図において、１は静電潜像を担持する
像担持体としての回転ドラム型の電子写真感光体（以
下、感光ドラムという）、２は帯電ローラ、３は静電潜
像形成手段であるレーザ光学系等のデジタル方式の露光
装置、４はトナーを用いた現像装置、５は転写ローラ、
６はローラ加熱方式の定着装置、７は画像読み取り装置
（イメージスキャナ装置）、８は画像データ処理装置で
ある。

【００２２】感光ドラム１は、本実施の形態では負帯電
の有機感光体（ＯＰＣ感光体）でアルミニウム製のドラ
ム基体上に有機感光層を有しており、所定のプロセスス
ピードで矢印ａ方向（時計方向）に回転駆動され、その
回転過程において帯電ローラ２により負極性の一様な帯
電処理を受ける。本実施の形態では、感光ドラム１の外
径φは８０ｍｍで、感光層の膜厚は３０μｍである。

【００２３】帯電ローラ２は、感光ドラム１表面に所定
の押圧力で当接されて回転し、帯電バイアス電源（不図
示）から帯電ローラ２に対して所定の帯電バイアスを印
加して、感光体ドラムを所定の極性、電位で均一に帯電
する。

【００２４】露光装置３は、本実施の形態では、波長６
８０ｎｍの半導体レーザを用いた走査光学系（不図示）
を有しており、入力される画像信号に応じてレーザー光
による露光を反射ミラー３ａを介して帯電された感光ド
ラム１上に行って静電潜像を形成する。また、レーザス
ポット系は、１／ｅ² で６０μｍ（主走査）×８０μｍ
（副走査）であり、感光ドラム１上の解像度は６００ｄ
ｐｉで画像形成を行った。

【００２５】現像装置４は、本実施の形態では、非接触
１成分現像装置であり、トナーは非磁性１成分トナー
で、平均帯電が２５μＣ／ｇ、平均粒径が７．５μｍの
ものを使用した。また、現像バイアスは、直流バイアス
に交流バイアスを重畳したバイアスを使用した。

【００２６】転写ローラ５は、感光ドラム１表面に所定
の押圧力で当接されて回転し、転写バイアス電源（不図
示）から転写のため、トナーとは逆極性のバイアスが印
加される。

【００２７】定着装置６は、ハロゲンヒータ（不図示）
を内包した定着ローラ６ａと、この定着ローラ６ａに圧
接しながら回転する加圧ローラ６ｂを有しており、定着
ローラ６ａと加圧ローラ６ｂ間に搬送されるトナー像が
転写された用紙などの転写材Ｐを加熱、加圧して転写材
Ｐ上にトナー像を定着する。

【００２８】画像読み取り装置７は、不図示の原稿ガラ
ス台上に載置された原稿を走査して読み取り、読み取っ
た原稿の画像データをデジタルな電気信号に変換する。

【００２９】画像データ処理装置８は、画像読み取り装
置７から入力される入力画像データをデジタル信号化し
た後、画像濃度に比例した階調の画像信号に変換して、
露光装置３に出力する静電潜像データを形成する（詳細
は後述する）。

【００３０】次に、上記した画像形成装置の画像形成動
作について説明する。

【００３１】画像形成時には、感光ドラム１は駆動手段
（不図示）により矢印ａ方向に所定のプロセススピード
で回転駆動され、帯電バイアスが印加された帯電ローラ
２により負極性の一様な帯電処理を受ける。本実施の形
態では、感光ドラム１を一様に表面電位−６５０Ｖにな
るまで帯電した。

【００３２】そして、帯電処理された感光ドラム１表面
に露光装置３から反射ミラー３ａを介してレーザー光に
よる露光が与えられ、画像データ処理装置８から入力さ
れる静電潜像データに応じた静電潜像が形成される。こ
の時の露光装置３のレーザー光は、フル点灯をすると感
光ドラム１の表面電位が−１００Ｖになるようなレーザ
パワーである。

【００３３】そして、現像バイアス（本実施の形態で
は、５５０Ｖの直流電圧にピーク間電圧２０００Ｖ、周
波数２０００Ｈｚの交流電圧を重畳したバイアスであ
る）が印加された現像装置４によって前記静電潜像が現
像され、トナー像として可視化される。

【００３４】そして、感光ドラム１表面のトナー像が転
写ローラ５と感光ドラム１間の転写ニップに到達する
と、このタイミングに合わせて転写材Ｐがこの転写ニッ
プに搬送され、転写バイアスが印加された転写ローラ５
によりトナー像が転写材Ｐに転写される。トナー像が転
写された転写材Ｐは定着装置６に搬送され、加圧ローラ
６ｂによる加圧とハロゲンヒータ（不図示）による加熱
により、転写トナー像が転写材Ｐ上に永久固着画像とし
て定着され、出力される。

【００３５】次に、画像読み取り装置７から入力される
画像データを静電潜像データに加工する画像データ演算
装置８の画像濃度の補正処理について説明する。

【００３６】図２、図３は、それぞれ実験で得られた各
階調（レベル）における感光ドラム表面電位と現像後の
画像濃度（コントラスト）であり、平均ポテンシャル的
な考えからすると、感光ドラム表面電位データと画像濃
度とはきちんとした相関があるはずである。しかしなが
ら、上述したように画像濃度（コントラスト）データで
は、いくつかの階調（レベル）において部分的に反転現
象が起こっている。

【００３７】このため、本実施の形態では、画像データ
処理装置８により感光ドラム１上に形成される静電潜像
をシミュレーションして求め、そのシミュレーションか
ら画像形成パターンを補正するようにした。

【００３８】図４、図５は、それぞれ４×４マトリクス
のベイヤー型ディザ方式で階調パターンを形成した場合
の、現像バイアスの直流値と感光ドラム１表面電位の平
均値との差である平均コントラスト電位（図４）と、画
素の最低電位と最高電位の電位差である画素間コントラ
スト電位（図５）を示している。この各コントラスト
（画像濃度）は、以下のような手順による画像形成シミ
ュレーションによって求められている値である。

【００３９】ここで、階調パターンを例にとって説明を
すると、露光装置３から出射されるレーザ光のエネルギ
ー分布（図６参照）と入力画像データ（図７参照）か
ら、露光光量分布（図８参照）を画像データ処理装置８
でシミュレーション（計算）する。そして、シミュレー
ションされたこの露光光量分布から感光ドラム１を露光
後の感光ドラム１の表面電荷密度分布（図９参照）を、
画像データ処理装置８でシミュレーションする。なお、
図１０は、この感光ドラム１のレーザ出力に対する露光
特性曲線であり、画像データ処理装置８は、この露光特
性曲線を用いて感光ドラム１の表面電荷密度分布をシミ
ュレーションする。

【００４０】そして、シミュレーションされたこの表面
電荷密度分布から電位分布（図１１参照）を、画像デー
タ処理装置８でシミュレーションする。このとき、露光
分布、電位分布のシミュレーションには、解析解を用い
るフーリエ級数法を使用した。また、電位分布のシミュ
レーションにおいては、有限要素法、境界要素法などの
数値計算法を用いても良い。

【００４１】また、この４×４マトリックス内での感光
ドラム１の表面電位の平均値、最高値、最低値のデータ
は画像データ処理装置８に入力される。

【００４２】このように、ベイヤー型ディザを電子写真
に適用した場合、図５に示したように特定階調（レベ
ル）において、画素間コントラスト電位の極端な低下が
見られることが分る。

【００４３】そして、図２に示した実験結果と、このシ
ュミレーション結果を比較したところ、両方の平均コン
トラスト電位データは良い相関がとれていることが分
る。さらに、実験で測定された図３に示した画像濃度の
反転は、上記したシミュレーションで得られた図５に示
した画素間コントラスト電位の特異点と一致することが
分る。

【００４４】よって、このシミュレーションから平均コ
ントラスト電位がほぼ同じで、画素間コントラスト電位
がその前後の階調から大きくはずれていない画像パター
ンを発見すればよい。すなわち、画素間コントラスト電
位が大きく変化する階調（図５に示すように階調レベル
４、８、１２）において、上記したシミュレーションに
より、例えば１２図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すよう
なパターンを採用した。

【００４５】そして、各階調との整合性を考慮して、画
像データ処理装置８は、図２５に示した階調パターンか
ら図１３に示した階調パターンに変更して、入力画像デ
ータを静電潜像データに加工する。この結果、図１４に
示すように、画像濃度（コントラスト）は各階調におい
て反転することなく、低濃度部から高濃度部まで高階調
性を得ることができた。

【００４６】さらに、本実施の形態で得られる様々なパ
ターンのシミュレーションの中から、面積階調性は全く
変化させず、また、平均コントラスト電位も大きく動か
さず、画素間コントラスト電位の階調を補正することに
よって平均電位と、画像濃度の測定値を改善することが
できる。

【００４７】〈実施の形態２〉本実施の形態では、実施
の形態１と同様な構成の画像形成装置を用い、渦巻き型
ディザパターンを用いた場合における画像濃度の補正に
ついて説明する。

【００４８】図１５、図１６は、それぞれ渦巻き型ディ
ザパターンの場合の各階調における感光ドラム表面電位
と、画像濃度を示している。また、図１７、図１８は、
それぞれ上記したシミュレーションによる平均コントラ
スト電位と、画素間コントラスト電位を示している。

【００４９】この図から渦巻き型ディザパターンにおい
ては、画素間コントラスト電位の大きい階調レベル４、
５あたりから高濃度部にかけて全体的に画像がつぶれ気
味（実際の画素より大きめに現像され画像濃度が高くな
りすぎる）であることが分る。

【００５０】この場合、画素間コントラストの高い階調
レベル５を中心に、図１９に示すように非画像部の画素
（図の矢印で示した位置）に少量の露光を行い、感光ド
ラム表面電位を下げることにより画素間コントラスト電
位の調整を行った。例えば、階調レベル４の時の露光量
の調整は、図２０のようになる。また、図２１は、渦巻
き型ディザパターンの敷居マトリクスを示している。こ
れにより、階調レベル４は中心４画素が選ばれることが
分かる。

【００５１】図２０の場合では、選択された画素を
「１」として表している。そして、非画像部の露光とし
て、周辺の残り１２画素に、一画素の１／８相当の露光
を行った。このような非画像部への少量露光を行うこと
により、図２２に示すように、レベル（階調）間でのコ
ントラスト電位の変動を抑えることができた。また、１
〜８レベル（階調）付近において、ドットの大きさ変動
が少なくなり、再現画像濃度のリニアリティーが向上し
た。

【００５２】また、この場合の少量の露光は、一画素に
対する露光量に対し１／８乃至１／４の露光光量で効果
を得ることができる。なお、１／１６より少ない露光光
量では全く効果を得ることはできなかった。また、１／
２より多い露光光量では、非画像部においてかぶり画像
が認められた。

【００５３】従って、画素間コントラスト電位を調整す
るための非画像部露光の露光量は、一画素を完全に露光
する露光量の１／１６より多く、１／２より少ない露光
量の範囲で設定することが好ましい。また、この場合、
露光量の調整は、半導体レーザの露光量調整方法とし
て、強度変調方式、時間変調方式のどちらを用いてもよ
い。

【００５４】〈実施の形態３〉本実施の形態では、実施
の形態１と同様な構成の画像形成装置を用い、画像書き
込み画素ドット成長ガンマテーブルを用いて画像形成す
る場合について説明する。

【００５５】ドット発生法について図２３を参照して説
明する。図に示すスクリーンを４×４画素マトリクスと
し、一画素当たりの濃度データを「１」、マトリクス全
体の濃度を「１６」として、マトリクス画像濃度データ
を４／１６までは図中の（ａ）グループに、更に１２／
１６までは図中の（ｂ）グループに、そして、その後は
図中の（ｃ）グループに分散させるようにした（この場
合を４−８−４型という）。

【００５６】具体的には、マトリクス画像濃度が１／１
６の場合には、４つの（ａ）と記された画素へそれぞれ
１／４ずつの濃度データを付与する。画素濃度データ１
／４の画素が４つあるので、画素濃度としてはトータル
１である。従って、マトリクス画像濃度１／１６を再現
する。

【００５７】具体的な例として、画素濃度データ２／１
６、４／１６、６／１６、８／１６、１０／１６の各レ
ベルにおける、画像パターンの例を図２４の（ａ）〜
（ｅ）にそれぞれ示す。

【００５８】ところで、上記実施の形態２では、非画像
部への露光は、画素の電位とその周辺画素の電位との電
位差である画素間コントラスト電位を小さくすることが
可能であったが、この場合においては、平均コントラス
ト電位を変化させてしまう場合があった。一方、本実施
の形態のように、「画像書き込み画素ドット成長ガンマ
テーブル」を用いることにより、平均コントラスト電位
と画素間コントラスト電位を独立に制御することが可能
となり、制御の幅及びパターンを飛躍的に大きくするこ
とが可能となった。

【００５９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入力画像データを静電潜像に加工する際に、静電潜像を
形成する画素の大きさに応じて該画素周辺の相互作用を
考慮した画像演算を行うことにより、画素間の干渉を考
慮した高階調性の画像形成を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１に係る画像形成装置を示
す概略構成図。

【図２】実施の形態１における実験で得られた各階調
（レベル）における感光ドラム表面電位を示す図。

【図３】実施の形態１における実験で得られた各階調
（レベル）における画像濃度（コントラスト）を示す
図。

【図４】実施の形態１におけるベイヤー型ディザ方式で
階調パターンを形成した場合のシミュレーションによる
平均コントラスト電位を示す図。

【図５】実施の形態１におけるベイヤー型ディザ方式で
階調パターンを形成した場合のシミュレーションによる
画素間コントラスト電位を示す図。

【図６】露光装置から出射されるレーザ光のエネルギー
分布の一例を示す図。

【図７】画像読み取り装置から画像データ処理装置に入
力される入力画像データの一例を示す図。

【図８】画像データ処理装置でシミュレーションした露
光光量分布の一例を示す図。

【図９】画像データ処理装置でシミュレーションした感
光ドラムの表面電荷密度分布の一例を示す図。

【図１０】感光ドラムのレーザ出力に対する露光特性曲
線を示す図。

【図１１】画像データ処理装置でシミュレーションした
表面電荷密度分布から求めた電位分布の一例を示す図。

【図１２】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれシミュレ
ーションにより採用した画像パターンの例を示す図。

【図１３】実施の形態１における補正されたディザパタ
ーンを示す図。

【図１４】実施の形態１における補正された階調画像濃
度の測定値を示す図。

【図１５】実施の形態２における渦巻き型ディザパター
ンの場合の各階調における感光ドラム表面電位を示す
図。

【図１６】実施の形態２における渦巻き型ディザパター
ンの場合の各階調における画像濃度を示す図。

【図１７】実施の形態２におけるシミュレーションによ
る平均コントラスト電位を示す図。

【図１８】実施の形態２におけるシミュレーションによ
る画素間コントラスト電位を示す図。

【図１９】非画像部の画素に少量の露光を行うことを説
明した図。

【図２０】実施の形態２における露光調整を示す図。

【図２１】実施の形態２における渦巻き型ディザパター
ンの場合の敷居マトリクスを示す図。

【図２２】実施の形態２におけるシミュレーションで補
正された画素間コントラスト電位を示す図。

【図２３】実施の形態３における画素ドット成長ガンマ
テーブルテーブルを示す図。

【図２４】（ａ）〜（ｅ）は、それぞれ実施の形態３に
おける画像パターンを示す図。

【図２５】４×４画素ディザのベイヤーパターンの一例
を示す図。

【図２６】ベイヤーパターンによる画像の階調画像濃度
を示す図。

【図２７】ベイヤーパターンのレベル（階調）４のシュ
ミレーションによる感光ドラム表面電位分布を示す図。

【図２８】ベイヤーパターンのレベル（階調）４のシュ
ミレーションによる感光ドラム表面電位分布を示す図。

【図２９】ベイヤーパターンのレベル（階調）４のシュ
ミレーションによる感光ドラム表面電位分布から求めた
画素間コントラスト電位を示す図。

【符号の説明】

１感光ドラム（像担持体）２帯電ローラ３露光装置（静電潜像形成手段）４現像装置（現像手段）５転写ローラ６定着装置７画像読み取り装置８画像データ処理装置（画像データ処理手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】デジタル処理により画像を形成する電子
写真装置であって、表面に静電潜像を担持する電子写真
感光体と、入力される画像データを、静電潜像を形成するためのデ
ータに加工する画像データ処理手段と、前記画像データ処理手段で得られた静電潜像データに応
じたデジタル光学手段により画像露光を行って静電潜像
を前記電子写真感光体に形成する静電潜像形成手段と、前記静電潜像をトナーで現像して現像画像を形成する現
像手段と、を備え、前記画像データ処理手段は、前記入力画像データを前記
静電潜像データに加工する際に、前記静電潜像を構成す
る画素の大きさに応じて、該画素周辺の相互作用を考慮
した画像演算を行う、ことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】前記画像データ処理手段による前記画素
周辺の相互作用を考慮した画像演算により、前記画素の
電位とその周辺画素の電位との電位差を予め設定した範
囲内になるようにする、請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】前記画像データ処理手段による前記画素
周辺の相互作用を考慮した画像演算により、前記静電潜
像をディザ階調パターンで形成した場合における、該デ
ィザ階調パターンの静電潜像が形成する画像部の電位分
布を計算し、この計算から求めた、前記画像部の電位分
布の平均電位、前記現像手段に印加される現像バイアス
電位と前記電子写真感光体の表面電位との電位差である
平均コントラスト電位、及び前記画素の電位とその周辺
画素の電位との電位差である画素コントラスト電位をも
とにディザ階調パターンを変更するようにする、請求項１記載の画像形成装置。
【請求項４】前記画像データ処理手段による前記画素
周辺の相互作用を考慮した画像演算により、非画像領域
部での前記画素の電位とその周辺画素の電位との電位差
が小さくなるようにする、請求項１記載の画像形成装置。