JPH11260310A - 質量分析計におけるイオン同定方法および質量分析計ならびに質量分析計におけるイオン同定プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

質量分析計におけるイオン同定方法および質量分析計ならびに質量分析計におけるイオン同定プログラムを記録した記録媒体

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JPH11260310A
JPH11260310A JP10082903A JP8290398A JPH11260310A JP H11260310 A JPH11260310 A JP H11260310A JP 10082903 A JP10082903 A JP 10082903A JP 8290398 A JP8290398 A JP 8290398A JP H11260310 A JPH11260310 A JP H11260310A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】高分解能質量分析計において、測定試料のイオ
ンの同定を容易かつ正確に行うことのできるイオン同定
方法を提供する。 【構成】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量分析
計において、同位体を含む対象元素の核種と原子量とを
対応付けて原子量テーブル133として前記質量分析計
内の記憶手段13に記憶する手順と、測定された質量ス
ペクトルの所望の質量ピークの質量値に対して、前記質
量値を含む所定範囲の質量範囲を指定する手順と、前記
原子量テーブルに記憶された各元素の組み合わせによ
り、前記質量範囲に存在しうる組成を算出する手順13
2と、算出した前記組成を出力する手順とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えばフーリエ
変換イオンサイクロトロン方式質量分析計等の高分解能
質量分析計において、測定試料のイオンの同定を容易に
行うことのできるイオン同定方法およびそのための質量
分析計ならびにそのためのプログラムを記録した記録媒
体に関する。
【0002】
【従来の技術】質量分析計により、測定試料の化学的種
別の決定、すなわち同定を行う従来の方法は次のような
(a)〜(d)の手順により行っていた。 (a)対象試料が化合物であればそのまま、混合物であ
れば単位成分に分離して質量スペクトルを測定する。 (b)測定された質量スペクトルは、一般には、分子が
そのままイオン化した親ピークと分子が種々に解裂し、
イオン化したフラグメントピークとによって構成され、
化合物の化学組成に従う定まったパターンとなる。 (c)化合物の組成と質量スペクトルとは一対一の関係
にあるので、フラグメントパターンを含む質量スペクト
ルの理論解析によって試料組成を同定する。 (d)しかし、質量スペクトルの理論解析は通常かなり
困難である。また化合物それぞれと一対一の関係にある
質量スペクトルといえども、測定方式、条件および個々
の装置の特性等々に微妙に影響され、複雑に変化する。
したがって、従来測定された質量スペクトルをデータベ
ースとして、コンピュータメモリに整理格納しておき、
被測定スペクトルをこれと照合検索し、類似度に従っ
て、確率的に同定する方法が広く用いられている。換言
すれば、測定された多数の質量スペクトルをデータベー
スとして登録整理されている従来のスペクトルと対象試
料のスペクトルとを比較照合して判定している。
【0003】因みにこの手順(d)ための質量スペクト
ルデータベースは、米国NIST(National Institute
of Standard and Technology )、日本の科学技術情報
センターはじめ民間からも幾種類ものデータベースが提
供されている。検索のためのソフトウエアもまた同様に
提供されている。またこれらデータベースはいずれも、
数万ないし数十万スペクトルを収納している。
【0004】しかし、これら従来の手法は、試料が単一
化合物の場合にしか適用できない。混合物の場合には、
直接測定される混合スペクトルは個々の成分化合物のス
ペクトルが重畳した形となり、これから直接各成分化合
物とその量を解析することは一般には不可能である。そ
の一つの解決はフーリエ変換方式イオンサイクロトロン
質量分析(Fourier Transform Ion Cyclotron Resonanc
e Mass Spectrometry、以下FT−ICRという)法の
超高質量分解能により、イオン質量数を精密測定し、そ
の化学組成を求めて同定することである。このことは、
例えば本願発明者の一部によって別途出願されている持
開平5−54852号公報、あるいは論文「イオンサイ
クロトロン共鳴小型精密質量分析計」、質量分析Vo
l.42、No.2(1994)、p.105−115
に詳細に説明されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、FT−ICR
の超高分解能によって分離された成分イオンを同定する
ことは、必ずしも容易ではない。特定の質量ピークの質
量値を精密に読みとる場合は、狭い質量範囲で、しかも
比質量偏差の程度にごく近接して存在することのある他
のピークとの識別が必要となる。比質量偏差の数値例を
図5に掲げる。図5にみられるように、これによるピー
クの識別には質量数を4〜6桁の精度で測定できなけれ
ばならない。
【0006】FT−ICRにおけるサイクロトロン角周
波数ωc は、印加静磁場をB、イオンの質量をm、電荷
をqとするとき、基本的には、 ωc = q・B/m ・・・式1 で表されるが、実際に観測される角周波数ωeff は、分
析セルのトラップ電極に印加される電圧VT 、電荷q、
電荷密度ρ、電極間隔a、およびセルの形状に依存する
係数Gi 等の影響を受け、式1により求められるωc
ら ωeff=ωc−(2αVT/a2B)−(qρGi/ε0B) ・・・式2 に変移する。αは定数である。(例えば、E.B.Ledford
et al., "Space ChargeEffect in Fourier Transform M
ass Spectrometry. Mass Calibration", Anal.Chem., 5
6(1984), p.2744, 参照。)この変移量は10-6〜10
-3の程度である。すなわち同一のイオン種であっても、
これらのパラメータによってωeff の値は微妙に変化す
る。したがって、イオン質量の測定数値のみからその化
学組成を同定することは、種々の数値補正を必要とし困
難な作業であった。
【0007】そこで、本発明は、FT−ICR質量分析
計等の高分解能質量分析計において、測定試料のイオン
の同定を容易に行うことのできるイオン同定方法および
そのための質量分析計ならびにそのためのプログラムを
記録した記録媒体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の質量分析計におけるイオン同定方法は、イ
オンの質量を高分解能で測定可能な質量分析計におい
て、同位体を含む対象元素の核種と原子量とを対応付け
て原子量テーブルとして前記質量分析計内の記憶手段に
記憶する手順と、測定された質量スペクトルの所望の質
量ピークの質量値に対して、前記質量値を含む所定範囲
の質量範囲を指定する手順と、前記原子量テーブルに記
憶された各元素の組み合わせにより、前記質量範囲に存
在しうる組成を算出する手順と、算出した前記組成を出
力する手順とを有する。
【0009】また、本発明の質量分析計におけるイオン
同定方法は、イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
分析計において、同位体を含む対象元素の核種、原子量
および存在比を対応付けて原子量テーブルとして前記質
量分析計内の記憶手段に記憶する手順と、測定された質
量スペクトルの所望の質量ピークの質量値に対して、前
記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定する手順と、
前記原子量テーブルに記憶された各元素の組み合わせに
より、前記質量範囲に存在しうる組成を算出するととも
に、その組成のイオンに対するイオン存在比を各元素の
存在比から算出する手順と、算出した前記組成のうち、
前記イオン存在比が所定の下限値以上の前記組成を出力
する手順とを有する。
【0010】また、上記の質量分析計におけるイオン同
定方法において、前記組成を出力する手順は、前記組成
に対応して質量と前記イオン存在比とを出力するもので
あることが好ましい。
【0011】また、上記の質量分析計におけるイオン同
定方法において、質量値が既知の標準試料を測定試料と
同時に測定し、標準試料の質量値により測定試料の質量
スペクトルを較正する手順を有することが好ましい。
【0012】また、本発明の質量分析計は、イオンの質
量を高分解能で測定可能な質量分析計であって、文字お
よび図形を表示可能な表示手段と、作業者が情報を入力
するための入力手段と、同位体を含む対象元素の核種と
原子量とを対応付けて原子量テーブルとして記憶する原
子量テーブル記憶手段と、測定された質量スペクトルの
所望の質量ピークの質量値に対して、前記質量値を含む
ように指定された質量範囲の下限値と上限値とを記憶す
る記憶手段と、前記原子量テーブルに記憶された各元素
の組み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を
算出する組成検索手段と、前記組成検索手段により算出
した前記組成を出力する出力手段とを有するものであ
る。
【0013】また、本発明の質量分析計は、イオンの質
量を高分解能で測定可能な質量分析計であって、文字お
よび図形を表示可能な表示手段と、作業者が情報を入力
するための入力手段と、同位体を含む対象元素の核種、
原子量および存在比を対応付けて原子量テーブルとして
記憶する原子量テーブル記憶手段と、測定された質量ス
ペクトルの所望の質量ピークの質量値に対して、前記質
量値を含むように指定された質量範囲の下限値と上限値
とを記憶する記憶手段と、前記原子量テーブルに記憶さ
れた各元素の組み合わせにより、前記質量値範囲に存在
しうる組成を算出するとともに、その組成のイオンに対
するイオン存在比を各元素の存在比から算出する組成検
索手段と、前記組成検索手段により算出した前記組成の
うち、前記イオン存在比が所定の下限値以上の前記組成
を出力する出力手段とを有するものである。
【0014】また、上記の質量分析計において、前記出
力手段は、前記組成に対応して質量と前記イオン存在比
とを出力するものであることが好ましい。
【0015】また、上記の質量分析計において、前記表
示手段に測定された質量スペクトルと可動指標とを表示
するとともに、可動指標の示す質量値を表示する手段を
有することが好ましい。
【0016】また、本発明の質量分析計におけるイオン
同定プログラムを記録した記録媒体は、イオンの質量を
高分解能で測定可能な質量分析計に、同位体を含む対象
元素の核種と原子量とを対応付けて原子量テーブルとし
て前記質量分析計内の記憶手段に記憶する手順と、測定
された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値に対
して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定する
手順と、前記原子量テーブルに記憶された各元素の組み
合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出す
る手順と、算出した前記組成を出力する手順とを実行さ
せるプログラムを記録したものである。
【0017】また、本発明の質量分析計におけるイオン
同定プログラムを記録した記録媒体は、イオンの質量を
高分解能で測定可能な質量分析計に、同位体を含む対象
元素の核種、原子量および存在比を対応付けて原子量テ
ーブルとして前記質量分析計内の記憶手段に記憶する手
順と、測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの
質量値に対して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲
を指定する手順と、前記原子量テーブルに記憶された各
元素の組み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組
成を算出するとともに、その組成のイオンに対するイオ
ン存在比を各元素の存在比から算出する手順と、算出し
た前記組成のうち、前記イオン存在比が所定の下限値以
上の前記組成を出力する手順とを実行させるプログラム
を記録したものである。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。図1は、本発明の質量分析計の構
成を示す図である。質量分析計はフーリエ変換方式イオ
ンサイクロトロン質量分析法を利用したものであり、演
算入出力部1、分析セル2、駆動制御部3、測定部4か
ら成る。分析セル2は、静磁場内におかれた高真空容器
から成り、3対の電極を有するものである。分析セル2
内に試料ガスを導入してイオン化し、試料イオンによる
イオンサイクロトロン共鳴の共振周波数を測定すること
により、試料イオンの質量スペクトルを超高分解能で測
定することができる。
【0019】駆動制御部3は、分析セル2内の試料ガス
をイオン化するために電子ビームの発生および制御を行
う回路、試料イオンに対して高周波電圧を印加するため
の回路等を含むものである。また測定部3は、試料イオ
ンによるイオンサイクロトロン共鳴の共振周波数を測定
するための、高周波増幅器、フィルター回路、A/D変
換器等を含むものである。
【0020】演算入出力部1には、高速フーリエ変換等
の種々のデータ処理を行う情報処理手段としてのCPU
10が設けられており、CPU10にはバス11を介し
て主記憶装置としてROM12およびRAM13が接続
されている。CPU10は、ROM12に記憶されてい
るシステムプログラムおよびデータと、RAM13にロ
ードされたプログラムおよびデータに従って動作する。
RAM13へのプログラムおよびデータのロードは入出
力装置16から行う。
【0021】このようなRAM13にロードされるプロ
グラムとしては、基本プログラムであるOS(オペレー
ティング・システム)や質量分析計としてのデータ処理
機能を実現させる質量分析処理プログラム131、試料
イオンの組成を検索する組成検索プログラム132、表
示手段14に対して文字や図形の表示を行う表示制御プ
ログラム等がある。また、RAM13には同位体を含む
対象元素の核種、原子量および存在比を対応付けて記憶
する原子量テーブル133の領域が設けられている。
【0022】演算入出力部1には、文字および図形を表
示する表示手段14、作業者がデータを入力するための
入力手段15が設けられている。これらはインターフェ
ース回路を介してバス11に接続されている。表示手段
14としてはCRT、EL表示パネルや液晶ディスプレ
イ等が使用でき、入力手段13としてはキーボード、マ
ウス、トラックボール等が使用できる。
【0023】また、演算入出力部1には入出力装置16
が設けられている。入出力装置16にはプリンタや、外
部機器との測定情報等のやりとりを行う通信インターフ
ェース回路等を含むものである。また、入出力装置16
としてフレキシブルディスク等の交換可能記憶媒体の入
出力装置や固定ディスク装置を設けることもできる。イ
ンターフェース17は、演算入出力部1と駆動制御部3
および測定部4とを接続するための回路である。
【0024】測定部4によって実際に観測される角周波
数ωeff は、前述の式2右辺の第2項、第3項に示され
る影響を受け、イオンの質量測定値に誤差を与える。し
かしこの影響は同時に、近傍に観測される他のイオンに
も同様な偏差をおよぼしている。換言すれば、式2はイ
オン質量測定値の確度に関するもので、測定値の細かさ
すなわち精度(分解能)には影響しない。FT−ICR
の質量分解能がこれら近接ピークの分離に必要な程度に
達成されていれば、式2の誤差項に関わらず、ピークそ
れぞれの弁別は可能である。
【0025】図2、図3は、表示手段14に表示された
質量スペクトルを示す図である。図2、図3の質量スペ
クトルは、ある固体試料の成分分析のため、試料を加熱
し、気化脱離する成分の質量分析である。すなわち、通
常の発生気体分析の例である。また両スペクトルは得ら
れた質量スペクトルの典型例となるピークを拡大表示し
ている。
【0026】表示手段14の表示画面には可動指標とし
てのカーソル141を表示し、入力手段15としてのマ
ウス、トラックポールまたはキーボード等の操作によ
り、カーソル141を測定スペクトル上の所望のピーク
位置に移動させる。カーソル141が所要のピーク位置
に設定できれば、マウス、トラックポールの「決定」ボ
タンのクリックまたはキーボードの「入力」キー等を操
作する。すると演算入出力部1はカーソル位置の横軸座
標(質量軸座標)から、ピークの質量値を算出し表示画
面下部に出力表示する。図2の「M/Z 27.99
5」の表示がそれである。Mは質量、Zはイオンの価数
を示すが、ここでは1価のイオンだけを考えているの
で、M/Zが質量を表している。この質量値の画面表示
およびカーソル141の画面表示は、質量分析プログラ
ム131が行っている。
【0027】次に着目しているピークを含むスペクトル
上の質量範囲を指定し入力手段15から入力する。演算
入出力部1のRAM13には、核種、原子量および存在
比が対応付けて記憶された原子量テーブル133があら
かじめ読込まれている。次に演算入出力部1は原子量テ
ーブル133を用いて、組成検索プログラム132によ
り、指定された質量範囲に存在しうる核種の組み合わせ
を算出し、存在可能な化学組成のリストを出力する。
【0028】図4が、存在可能な化学組成のリストを示
す図である。「組成」の欄は、核種と個数を示してい
る。例えば、1行目の「12C 1 16O 1」は質量数12
の炭素1つと質量数16の酸素1つの組成を表す。「質
量」の欄は、その組成の質量を表す。「存在比」の欄
は、その組成のイオンの存在比を表す。イオンの存在比
は、そのイオンを構成する各核種の存在比の積を計算
し、さらに同位体が存在する場合は、2種の同位体の場
合は2項定数、3種以上の同位体が存在する場合は多項
定数を掛けることにより得られる。図4のリストには各
組成のイオンの存在比も算出表示されているので、予想
されるピーク強度との照合もできる。
【0029】図4には、存在比が10-4以上の組成のイ
オンのみが表示されている。すなわち、存在比の下限値
が10-4となっている。図2の測定例によれば、図2で
カーソル141によって指示されたピークの質量は2
7.995となる。このピークを同定する質量範囲を2
7.5〜28.5と指定し出力した化学組成リストが図
4である。図2と図4とを照合すれば、このピークはC
Oイオンであると判定できる。
【0030】同様に図3で指定したイオンピークは、M
/Z=28.020と得られる。図4のリストと照合す
ることにより、このイオンは相当の確率でもって、M/
Z=28.018724のCH2N イオンであると判定
できる。例えば、含窒素炭化水素のフラグメント
【0031】
【化1】 などが予想される。
【0032】図5は、原子量テーブル133の内容を示
す図である。原子量テーブル133には、試料イオン中
に含まれる可能性のある元素の全ての核種を記憶してお
く。元素記号の左上の数値は質量数を表している。ここ
では、核種に対応して、質量数、質量、比質量偏差、存
在比のそれぞれのデータを記憶しているが、質量数と比
質量偏差のデータは必ずしも必要ではない。存在比のデ
ータは、試料イオンの存在比を計算して、出力するイオ
ン組成の存在比に下限値を設ける場合に必要となる。出
力するイオン組成の存在比に下限値を設けなければ、そ
れぞれの核種に対応した存在比のデータは必要ない。
【0033】図6は、質量範囲43.8〜44.5にお
けるイオンの質量スペクトルである。ピークの質量値
は、スペクトルの横軸座標から44.03〜44.04
にあると見られる。この質量範囲を含む質量範囲43.
8〜44.2における化学組成のリストを図7に示す。
図7では存在比の下限値は10-3とされている。図6と
図7とを照合すれば、あり得べき化学組成は、上から1
4番目のCH42の確率が高い。構造式は、
【0034】
【化2】 などが考えられる。
【0035】なおこの質量範囲に存在可能なCO2 (M
/Z=43.98983)の位置にはピークは検出され
ていない。従って、図2で得たCOイオンは、二酸化炭
素のフラグメントピークではない。試料気体中には二酸
化炭素はなくて、一酸化炭素が存在することを示してい
る。
【0036】図8は、演算入出力部1の質量分析処理プ
ログラム131の処理内容を示すフローチャートであ
る。ここでは入出力に関連する処理のみを示している
が、質量分析処理プログラム131は質量分析のための
高速フーリエ変換等の演算処理も含むものである。質量
分析処理プログラム131の処理が開始されると、まず
処理101において、プログラムで使用するデータ、変
数等の初期設定の処理を行う。次に、処理102におい
て原子量テーブル133にデータを読み込む。データの
読み込みは、入出力装置16から行ってもよいし、RO
M12から読み込むようにしてもよい。また、入力手段
15から原子量テーブル133のデータの入力や修正を
行うこともできる。
【0037】次に、順番に判断103、判断106、判
断108、判断110において、「F1」キー、「F
3」キー、「F5」キー、「F7」キーが押されたか否
かを判断する。これらの「F1」キー等は、プログラム
可能機能キーであり、これらのいずれかのキーを押すこ
とにより、演算入出力部1に作業者の所望の処理を行わ
せることができる。
【0038】判断103で「F1」キーが押されたもの
と判断されれば、処理104、処理105に進み、現在
の原子量テーブル133に記憶されている同位体の核種
を表示する。まず、処理104で表示したい核種リスト
の元素の種類を指定して入力する。次に処理105で、
指定された元素の同位体の核種を全てリストとして表示
する。
【0039】次に、判断106で「F3」キーが押され
たものと判断されれば、組成検索プログラム132にお
ける表示するイオンの存在比の下限値を設定する。すな
わち、処理107において、表示するイオンの存在比の
下限値を作業者が入力して設定する。下限値の初期設定
値は「0」であり、下限値を「0」に設定しておけば全
ての組成を表示するようになる。
【0040】次に、判断108で「F5」キーが押され
たものと判断されれば、呼出処理109において組成検
索プログラム132が呼び出される。組成検索プログラ
ム132の処理内容については、図9において詳しく説
明する。次に、判断110で「F7」キーが押されたも
のと判断されれば、呼出処理111において印刷プログ
ラムが呼び出される。印刷プログラムは、表示手段14
の画面に表示された組成リスト等を、入出力装置16の
プリンタに出力して印字するものである。
【0041】判断103、判断106、判断108、判
断110の全てにおいて、「F1」キー、「F3」キ
ー、「F5」キー、「F7」キーが押されていないと判
断された場合は、処理112に進んでその他の処理を行
う。その他の処理とは、質量分析のための高速フーリエ
変換の演算処理や、その他のプログラム可能機能キーに
対応する処理等である。それぞれのプログラム可能機能
キーに対応した処理、および処理112が終わると判断
103に戻り、以上のキー入力待ちのループを繰り返
す。
【0042】図9は、組成検索プログラム132の処理
内容を示すフローチャートである。この組成検索プログ
ラム132は、図8の呼出処理109から呼び出される
サブルーチンである。組成検索プログラム132の処理
を開始すると、まず処理201で、組成を検索する質量
範囲を設定するために質量範囲の下限値と上限値とを入
力する。入力された質量範囲の下限値と上限値は、RA
M13の所定の領域に記憶される。
【0043】次に、処理202で最初の組成の候補を作
成する。最初の組成は、検索のアルゴリズムによっても
異なるが、所定の組成を設定する。次に、処理203に
おいて作成した組成のイオンの質量を原子量テーブル1
33を参照して計算する。イオンの質量は、それを構成
するそれぞれの核種の元素の質量の合計である。そして
判断204において、そのイオンの質量が質量範囲の下
限値と上限値の間にあるかどうかを判断する。質量範囲
内にあれば処理205に進み、そうでなければ処理20
9に進む。
【0044】次に、処理205ではその組成のイオンの
存在比を計算する。イオンの存在比は、そのイオンを構
成するそれぞれの核種の存在比の積を計算し、さらに同
位体が存在する場合は、2種の同位体の場合は2項定
数、3種以上の同位体が存在する場合は多項定数を掛け
ることにより得られる。そして判断206において、そ
のイオンの存在比が、存在比の下限値以上であるかどう
かを判断する。下限値以上であれば処理207に進み、
そうでなければ処理209に進む。
【0045】次に、処理207では質量範囲内であり、
かつ存在比が下限値以上である現在の組成を、RAM1
3の所定の領域に記憶するとともに、表示手段14に表
示する。次に判断208で、原子量テーブル133に記
憶された全ての核種のあらゆる組み合わせが検索された
か否かを判断する。全ての組み合わせの検索が終了して
いれば、この組成検索プログラムを終了して呼び出し元
に戻る。検索が終了していなければ、処理209に進
み、次の組み合わせの組成を作成して処理203に戻っ
て検索を続行する。
【0046】ここで処理202、処理209における各
核種の元素の組み合わせの作成は、最大個数以内での各
核種の元素の組み合わせを重複を許して作成すればよ
い。各元素の最大個数は、その検索対象のイオンの質量
数をその元素の質量数で割って整数化した数とすればよ
い。また、この実施の形態ではイオンの存在比を計算し
て、それが下限値以上のもののみを表示するようにして
いるが、イオンの存在比を考慮せずに質量範囲内の全て
の組成を表示する場合は、処理205および判断206
は不要となる。
【0047】以上の実施の形態においては、測定試料の
みを測定しそのフラグメントの質量を高分解能で判別す
ることにより、そのフラグメントの組成を同定するよう
にしたが、測定試料だけでなく質量が既知の標準試料を
同時に測定するようにしてもよい。その場合、標準試料
の質量スペクトルにより、図2、図3、図6における横
軸(分子量)の目盛りを較正することができ、より正確
な質量分析を行うことが可能となる。
【0048】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下のような効果を奏する。
【0049】FT−ICRで得られた質量スペクトルの
所望ピークを含む質量範囲を指定して、その質量範囲内
に含まれる可能な組成のリストをコンピュータにより算
出し出力することで、従来非常に煩雑であった質量ピー
クの同定を極めて容易かつ正確に行うことができる。こ
のことはFT−ICR装置による混合物の直接分析の道
を大きく開くものである。
【0050】FT−ICRで得られた質量スペクトルの
所望ピークを含む質量範囲を指定して、その質量範囲内
に含まれかつイオンの存在比が下限値以上の組成のリス
トをコンピュータにより算出し出力することで、上述の
効果に加えて、可能性の高い組成のみを表示させること
ができ、質量ピークの同定をさらに容易にする。
【0051】算出した各組成のリストには、組成と質量
に加えて各組成のイオンの存在比も表示されているの
で、予想されるピーク強度との照合もでき、組成の同定
の確度が向上する。
【0052】測定試料と質量が既知の標準試料とを同時
に測定するようにして、質量の目盛りを標準試料の質量
値により較正することができ、さらに正確な質量分析を
行うことが可能となる。
【0053】FT−ICRで得られた質量スペクトルの
所望ピークを、表示手段に表示された可動指標により任
意に選択指示することにより、その質量ピークの質量値
を表示するようにしたので、所望の質量ピークの質量値
を容易かつ正確に知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の質量分析計の構成を示すブロ
ック図である。
【図2】図2は、表示手段に表示された質量スペクトル
を示す図である。
【図3】図3は、表示手段に表示された質量スペクトル
を示す図である。
【図4】図4は、指定した質量範囲の組成リストを示す
図である。
【図5】図5は、原子量テーブルの内容を示す図であ
る。
【図6】図6は、他の質量値範囲の質量スペクトルを示
す図である。
【図7】図7は、指定した他の質量範囲の組成リストを
示す図である。
【図8】図8は、質量分析処理プログラムの処理内容を
示すフローチャートである。
【図9】図9は、組成検索プログラムの処理内容を示す
フローチャートである。
【符号の説明】
1…演算入出力部 2…分析セル 3…駆動制御部 4…測定部 10…CPU 11…バス 12…ROM 13…RAM 14…表示手段 15…入力手段 16…入出力装置 17…インターフェース

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
    分析計において、 同位体を含む対象元素の核種と原子量とを対応付けて原
    子量テーブル(133)として前記質量分析計内の記憶
    手段(13)に記憶する手順(102)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定
    する手順(201)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出
    する手順(132)と、 算出した前記組成を出力する手順(207)とを有する
    質量分析計におけるイオン同定方法。
  2. 【請求項2】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
    分析計において、 同位体を含む対象元素の核種、原子量および存在比を対
    応付けて原子量テーブル(133)として前記質量分析
    計内の記憶手段(13)に記憶する手順(102)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定
    する手順(201)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出
    するとともに、その組成のイオンに対するイオン存在比
    を各元素の存在比から算出する手順(132)と、 算出した前記組成のうち、前記イオン存在比が所定の下
    限値以上の前記組成を出力する手順(206,207)
    とを有する質量分析計におけるイオン同定方法。
  3. 【請求項3】請求項2に記載した質量分析計におけるイ
    オン同定方法において、 前記組成を出力する手順(206,207)は、前記組
    成に対応して質量と前記イオン存在比とを出力するもの
    である質量分析計におけるイオン同定方法。
  4. 【請求項4】請求項1〜3のいずれか1つに記載した質
    量分析計におけるイオン同定方法において、 質量値が既知の標準試料を測定試料と同時に測定し、標
    準試料の質量値により測定試料の質量スペクトルを較正
    する手順を有する質量分析計におけるイオン同定方法。
  5. 【請求項5】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
    分析計であって、 文字および図形を表示可能な表示手段(14)と、 作業者が情報を入力するための入力手段(15)と、 同位体を含む対象元素の核種と原子量とを対応付けて原
    子量テーブル(133)として記憶する原子量テーブル
    記憶手段(13)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含むように指定された質量範囲
    の下限値と上限値とを記憶する記憶手段(13)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出
    する組成検索手段(132)と、 前記組成検索手段により算出した前記組成を出力する出
    力手段(207)とを有する質量分析計。
  6. 【請求項6】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
    分析計であって、 文字および図形を表示可能な表示手段(14)と、 作業者が情報を入力するための入力手段(15)と、 同位体を含む対象元素の核種、原子量および存在比を対
    応付けて原子量テーブル(133)として記憶する原子
    量テーブル記憶手段(13)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含むように指定された質量範囲
    の下限値と上限値とを記憶する記憶手段(13)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量値範囲に存在しうる組成を算
    出するとともに、その組成のイオンに対するイオン存在
    比を各元素の存在比から算出する組成検索手段(13
    2)と、 前記組成検索手段により算出した前記組成のうち、前記
    イオン存在比が所定の下限値以上の前記組成を出力する
    出力手段(206,207)とを有する質量分析計。
  7. 【請求項7】請求項6に記載した質量分析計において、 前記出力手段(206,207)は、前記組成に対応し
    て質量と前記イオン存在比とを出力するものである質量
    分析計。
  8. 【請求項8】請求項5〜7のいずれか1つに記載した質
    量分析計において、 前記表示手段(14)に測定された質量スペクトルと可
    動指標(141)とを表示するとともに、可動指標(1
    41)の示す質量値を表示する手段(131)を有する
    質量分析計。
  9. 【請求項9】イオンの質量を高分解能で測定可能な質量
    分析計に、 同位体を含む対象元素の核種と原子量とを対応付けて原
    子量テーブル(133)として前記質量分析計内の記憶
    手段(13)に記憶する手順(102)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定
    する手順(201)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出
    する手順(132)と、 算出した前記組成を出力する手順(207)とを実行さ
    せる質量分析計におけるイオン同定プログラムを記録し
    た記録媒体。
  10. 【請求項10】イオンの質量を高分解能で測定可能な質
    量分析計に、 同位体を含む対象元素の核種、原子量および存在比を対
    応付けて原子量テーブル(133)として前記質量分析
    計内の記憶手段(13)に記憶する手順(102)と、 測定された質量スペクトルの所望の質量ピークの質量値
    に対して、前記質量値を含む所定範囲の質量範囲を指定
    する手順(201)と、 前記原子量テーブル(133)に記憶された各元素の組
    み合わせにより、前記質量範囲に存在しうる組成を算出
    するとともに、その組成のイオンに対するイオン存在比
    を各元素の存在比から算出する手順(132)と、 算出した前記組成のうち、前記イオン存在比が所定の下
    限値以上の前記組成を出力する手順(206,207)
    とを実行させる質量分析計におけるイオン同定プログラ
    ムを記録した記録媒体。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008035419A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Shimadzu Corporation Procédé de spectrométrie de masse
JP2009517631A (ja) * 2005-10-12 2009-04-30 オプトポ インコーポレイテッド ディー/ビー/エイ センティス コーポレイション 高速医薬品特定及び検証システム
JP2022519884A (ja) * 2019-03-01 2022-03-25 マイクロマス ユーケー リミテッド 高分解能質量スペクトルの自己較正

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009517631A (ja) * 2005-10-12 2009-04-30 オプトポ インコーポレイテッド ディー/ビー/エイ センティス コーポレイション 高速医薬品特定及び検証システム
WO2008035419A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Shimadzu Corporation Procédé de spectrométrie de masse
JPWO2008035419A1 (ja) * 2006-09-21 2010-01-28 株式会社島津製作所 質量分析方法
US8026476B2 (en) 2006-09-21 2011-09-27 Shimadzu Corporation Mass analyzing method
JP4849128B2 (ja) * 2006-09-21 2012-01-11 株式会社島津製作所 質量分析方法
JP2022519884A (ja) * 2019-03-01 2022-03-25 マイクロマス ユーケー リミテッド 高分解能質量スペクトルの自己較正
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