JPH11233751A - 量子素子及びその作製法 - Google Patents

量子素子及びその作製法

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Publication number
JPH11233751A
JPH11233751A JP3596698A JP3596698A JPH11233751A JP H11233751 A JPH11233751 A JP H11233751A JP 3596698 A JP3596698 A JP 3596698A JP 3596698 A JP3596698 A JP 3596698A JP H11233751 A JPH11233751 A JP H11233751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
steps
substrate material
terrace
quantum
crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP3596698A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Iwatsuki
岩槻正志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
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  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間で結晶化された精度の良い極微細な線
を精度良く作製することを可能にする。 【解決手段】 基板材料を熱処理して所定の面方位から
傾斜した所定幅のテラスのマルチステップを形成する段
階、マルチステップを形成した前記基板材料を温度制御
し、自己組織化機能により前記ステップに沿って金属を
蒸着成長させる段階からなることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は材料が持つ自己組織
化の機能を利用した量子レベルでのデバイス作製に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】近年、
材料はますます薄膜化や微粒子化が図られ、これに伴い
デバイスも微細化が進められてきている。また、最近で
は、走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力顕微鏡
(AFM)等の走査型プローブ顕微鏡(SPM)の技術
を使って微細加工する試みが行われており、原子レベル
での極微細線やドットの作製が行われている。また、究
極のデバイスとして、一原子スイッチや一電子スイッチ
等の考え等も提案されている。しかし、従来のSPM法
では、操作時間として100nm/秒程度が一般的であ
り、この程度の速度では実用的なデバイス作製には程遠
いものがある。このため、多くの方法が提案されている
が、量子レベルでのデバイス作製には到達していない。
【0003】本発明は係る事情に鑑みてなされたもの
で、短時間で結晶化された精度の良い極微細な線を有す
る量子素子及びその作製法を提供することを目的とす
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の量子素子は、所
定の面方位から傾斜した基板材料に形成された所定幅の
テラスのマルチステップに沿って量子細線が形成された
ことを特徴とする。また、本発明の量子素子の作製法
は、基板材料を熱処理して所定の面方位から傾斜した所
定幅のテラスのマルチステップを形成する段階、マルチ
ステップを形成した前記基板材料を温度制御し、自己組
織化機能により前記ステップに沿って金属を蒸着成長さ
せる段階からなることを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。図1に示すような半導体ウエハは、(100)
面、(111)面等の決まった面方位を持っており、こ
の面に平行にC1のようにウエハをカットすると平坦な
面が現れる。これに対して、特定の面方位に対してある
角度を持たせ、例えばC2のようにカットすると、その
面には直線状のステップ(段差)が現れる。
【0006】図2はこのようなステップを説明する図
で、図2(a)は断面図、図2(b)は平面図である。
図2において、1はスッテプ、2はテラスと呼ばれるも
ので、それぞれ原子レベルでの高さ、幅を有しており、
テラスの幅は温度制御可能である。このようなステップ
が現れた状態で、金属を蒸着すると、室温の場合には、
金属はステップ1、テラス2のどこにでも不規則に蒸着
して所望の量子細線、量子ドットを得ることはできない
が、試料表面を高温に保ちながら蒸着すると、金属がス
テップに沿って直線的に成長するという現象が現れる。
【0007】本発明は、基板材料を温度制御しながら、
カットする角度を適切に選んで所定幅のテラスのステッ
プを何段も作製し、温度制御してステップに沿って自己
組織化機能により金属を蒸着して量子細線を作製するも
のである。図3はこのような本発明の概念図であり、あ
る面方位から傾斜した基板材料を熱処理して所定幅のテ
ラスのステップを何段も作製し、高温に温度制御してス
テップに沿って金等の材料を蒸着して量子細線3を成長
させる。図4は図3におけるステップに垂直な断面を示
しており、ステップに量子細線3が形成されることを示
している。
【0008】このような方法により、基板材料表面には
原子レベルでの結晶が成長する。特に、温度を制御する
ことで、ステップ端に沿って数原子列での結晶成長が可
能であり、この方式により結晶の持つ自己組織化の機能
を利用して短時間で細線を作製することができる。
【0009】例えば、シリコンの基板を高温加熱処理し
て清浄面を出すと共に、所定幅のテラスの直線化したス
テップを作製する。そしてこの基板を600℃に保持し
たまま金を蒸着すると、金はクラスターとなって試料表
面に到達するが、試料表面が600℃の高温に保持され
ているために、クラスターから乖離した金原子はシリコ
ン表面を拡散して5(原子)×2(原子)(テラスの幅
5原子、ステップの高さ2原子)の表面構造をとる。
【0010】このように、表面にステップが存在する
と、温度制御によりステップに沿って直線状に結晶構造
を成長させることが可能であり、図3に示すようなマル
チステップを形成しておくと、各ステップに沿った原子
列を形成するとができる。
【0011】なお、基板材料としてはシリコンに限定さ
れるものではなく、ゲルマニウム、ガリウム、カーボ
ン、ダイヤモンド等他の材料でも良く、また蒸着する原
子も金に限らず、銀等の他のメタルでも同様の結果を得
ることが可能である。なお、ステップの高さは基板結晶
の面方位に対するオフ・オリエンテーションで決まるの
で、角度の選択によりステップの高さを小さくくするこ
とが可能であるが、上下のテラスで成長した結晶が接触
しないように作製する条件を探す必要がある。また、蒸
着の量を制御することで、原子列の幅を制御可能であ
り、量子化された部分に流す電流の量を調整する事もで
きる。
【0012】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、基板のス
テップ構造を自己組織化に利用し、ステップをマルチ化
し、基板の温度を適切に制御してテラスの幅を制御し、
また蒸着する材料を選択することにより、極く短時間に
結晶化された精度の良い微細な線を精度良く製作するこ
とが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 半導体ウエハのカット面を説明する図であ
る。
【図2】 ステップを説明する図である。
【図3】 本発明の概念図である。
【図4】 ステップに垂直な断面図である。
【符号の説明】
1…ステップ、2…テラス、3…量子細線。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の面方位から傾斜した基板材料に形
    成された所定幅のテラスのマルチステップに沿って量子
    細線が形成された量子素子。
  2. 【請求項2】 基板材料を熱処理して所定の面方位から
    傾斜した所定幅のテラスのマルチステップを形成する段
    階、マルチステップを形成した前記基板材料を温度制御
    し、自己組織化機能により前記ステップに沿って金属を
    蒸着成長させる段階からなる量子素子の作製法。
JP3596698A 1998-02-18 1998-02-18 量子素子及びその作製法 Pending JPH11233751A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002074654A (ja) * 2000-08-23 2002-03-15 Tdk Corp 機能素子の製造方法および機能素子
JP2006281379A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Tokyo Univ Of Science ナノワイヤの製造方法

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JP2002074654A (ja) * 2000-08-23 2002-03-15 Tdk Corp 機能素子の製造方法および機能素子
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