JPH11219425A - 観測装置及び該装置の発光制御方法 - Google Patents

観測装置及び該装置の発光制御方法

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JPH11219425A
JPH11219425A JP10033823A JP3382398A JPH11219425A JP H11219425 A JPH11219425 A JP H11219425A JP 10033823 A JP10033823 A JP 10033823A JP 3382398 A JP3382398 A JP 3382398A JP H11219425 A JPH11219425 A JP H11219425A
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light emission
observation
time
signal
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JP10033823A
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Hideji Kurokawa
秀二 黒川
Kenji Kobayashi
賢治 小林
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Lintec Corp
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発光部の駆動回路をコンパクトに構成する。 【解決手段】 発光部13,19からの光を観測対象3
aに照射し、観測対象3aからの反射光をカメラ7で受
光して観測対象3aを観測する。発光部は複数の発光体
13a,19から構成される。発光コントローラ35の
ドライバ35aは、各発光体13a,19の発光する時
間を設定し、カメラ7の垂直同期信号VDに同期して発
光体13a,19を選択的に発光させ、発光時間が経過
すると発光体13a,19を消灯させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、観測装置に関し、
特に、半導体ウェハ、ガラス、セラミックなど絶縁体基
板の表面または表面付近に形成された回路や文字などの
パターンを観測するための観測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体集積回路等の製造工程
において、半導体ウェハ(以下単に「ウェハ」とい
う)、液晶基板、ガラス、セラミックまたは樹脂などの
対象物の表面に付された数字、文字や回路等のパターン
を、カメラ等の画像検出手段で観測することが行われて
いる。たとえば、製造工程の中で、半導体ウェーハに付
された識別符号を読み取り、この識別符号に応じて予め
決められた加工が施される。
【0003】従来の観測装置においては、カメラ等の画
像検出手段の受光量を調整するために光源の発光強度を
変化させることが行われており、光源の発光強度を変化
させるためには、発光体の駆動電流の電流値や電圧値を
変化させていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】そのため、従来の装置
にあっては、発光部を駆動させるための駆動回路とし
て、可変電流駆動回路または可変電圧駆動回路が必要と
なるので、発光部の駆動回路は比較的複雑になり、また
個別に発光可能な発光体数が増加する程大型化してい
た。
【0005】本発明は、上記の点にかんがみてなされた
もので、発光部の駆動回路を簡易に構成することを課題
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、発光部からの光を観測対象に照射し、前記観測対象
からの反射光または透過光を画像検出手段で受光して前
記観測対象を観測する観測装置において、発光部の発光
時間を設定し、画像検出手段の垂直同期信号に同期して
発光部を発光させ、設定された発光時間の経過後に発光
部を消灯させるようにした。
【0007】また、発光時間を計時する計時手段として
前記画像検出手段の水平同期信号を使用することもでき
る。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の一例
を示す観測装置の全体構成図、図2は光学系の主要部を
示す斜視図である。
【0009】観測装置1は、ウェハ3に形成された文字
やパターン等の観測対象3aを観測するためのものであ
る。装置の各構成部分はボックス5内に収容され、ボッ
クス5の上方から下方に向けて、画像検出手段としての
CCDカメラ7、ハーフミラー9、集光レンズ11が配
置されている。集光レンズ11は、発光部13から発光
された光を集光する集光レンズと、観測対象3aの像を
受光部7aに結像させるに際して観測対象3aと受光部
7aとの間に配置すべき対物レンズとを兼ねている。集
光レンズ11の前焦点位置には発光部13が配置され、
発光部13からの光はハーフミラー9で下方に反射され
集光レンズ11で集光され観測対象3aへ照射される。
なお、ハーフミラー9で透過される集光レンズ11の光
軸を11b、ハーフミラー9で反射される集光レンズ1
1の光軸を11aとする。
【0010】カメラ7は、絞り15および結像レンズ1
7を備え、観測対象3aからの反射光はハーフミラー9
を通過し、結像レンズ17、絞り15を経てカメラ7の
受光部7a(CCD素子等)上に結像する。結像レンズ
17とハーフミラーとの間に別の絞り(図2の絞り1
6)を設けてもよい。
【0011】発光部13は複数の発光体(例えばLE
D)13aを備え、各発光体の前面にはディフューザ3
3が配置されている。各発光体は後述する発光コントロ
ーラ35によって選択的に駆動される。発光体19は、
装置の下方に取り付けられ、観測対象3aに入射角の大
きな光を照射する。発光体19の前面にはディフューザ
25が配置されている。
【0012】発光部13および発光体19は発光コント
ローラ35によって制御される。発光コントローラ35
は、ドライバ36とグループ制御部40とで構成され、
ドライバ36は、個々の発光体のON、OFFおよび発
光時間の制御を行う。グループ制御部40は、発光部を
構成する発光体をグループ分けし、観測対象に応じて発
光すべき発光体グループを指定する。発光コントローラ
35は制御装置(コンピュータ等)37によって制御さ
れる。制御装置37はOCRシステムやパターン検査シ
ステム等も備えている。カメラ7からの映像信号38は
モニタ39によって表示されるとともに、制御装置37
へ出力され、制御装置37において画像認識される。
【0013】図3はドライバ36の構成を示し、ドライ
バ36は、各発光体a,b,c,…nをそれぞれ駆動す
る駆動回路41a,b,c,…,nと、各駆動回路41
a,b,c,…,nを制御する発光制御回部43a,
b,c,…,nと、各発光制御部43にクロック信号を
与えるクロック信号発生部45と、カメラ7の垂直同期
信号VDを所定時間Tだけ遅延させるVD処理部46とを
備えている。なお、一般に垂直同期信号VDはカメラ動
作の基本信号として使用され後述する受光可能タイミン
グや映像出力信号などの基準信号となっている。
【0014】各発光制御部43は、1回の発光時間をク
ロック信号量で示す初期値を記憶するプリセット部P
と、前記初期値を1ずつ減算する計数部Nとを備えてい
る。
【0015】VD処理部46は、VD信号発生時から各発
光体が点灯すべき所定時間Tを記憶するプリセット部Q
と、プリセットされた値Tが移送される減数カウンタC
と、減数カウンタCの値が0になるとONになるフラグ
レジスタF(以下フラグFと略す)とを備えている。所
定時間Tは、グループ制御部40からの信号によってプ
リセット部Qにセットされる。
【0016】VD処理部46のフラグFのON信号は各
発光制御部43a,b,c,…,nへ出力される。グル
ープ制御部40からは、前述した初期値および終了値、
発光体選択信号、発光停止信号等の制御信号が各発光制
御回部43a,b,c,…,nへ出力される。各発光体
a,b,c,…nは、図1の発光体13a,19に対応
する。
【0017】クロック信号は後述するようにVD信号周
期内の発光体の発光時間の計時を行うための計時単位と
して使用されるので、VD信号の周期より短いほど細か
い時間制御が可能となる。また、クロック信号発生部4
5は、水平同期信号HDが利用できる場合はHD信号を入
力として各発光制御部43へクロック信号として配信す
ると回路構成がシンプルになる。カメラ7をNTSC規
格とした場合、HD信号は通常VD信号1周期中に約28
0本発生しているので、本発明の観測装置は発光強度の
制御を約1/280の精度で行うことができる。カメラ
7をPAL規格やHDTV規格とした場合はさらに多段
階に精密な制御を行うことができる。HD信号が利用で
きない場合は、自励して各発光制御部へクロック信号と
して配信する。また、HD信号を分周してそれより更に
短い周期の信号を作りこれをクロック信号としてもよ
い。
【0018】次に図5を参照して上記装置の動作を説明
する。ウェハに形成された文字や符号の読取装置として
使用するときは、まず半導体製造工程の適当な位置に本
発明の観測装置を設置する。ウェハを手動または自動で
搬送し観測対象3aが集光レンズ11の直下に位置する
ように截置する。
【0019】カメラ7でVD信号が発生すると、該信号
はVD処理部46に伝達され、カウンタCに所定時間T
がプリセット部Qから移送される。次にクロック信号発
生部45よりVD処理部46へクロック信号が入力され
ると、カウンタCの値は1ずつ減数されていく。カウン
タC=0になったら、フラグFをONにする。すなわ
ち、VD信号の入力から所定時間Tが経過したらフラグ
F=ONとなる。
【0020】また、VD信号発生と同時にグループ制御
部40は各発光制御部43のプリセット部Pへ初期値を
出力する。初期値は外部操作によって発光体ごとに自由
に設定可能である。発光制御部43は初期値をそれぞれ
の計数部Nへ移送する。次に、フラグFを参照し、これ
がONであればフラグFをOFFにリセットするととも
に、各発光体駆動回路41を駆動し各発光体を点灯す
る。
【0021】次にクロック信号の入力があれば、各発光
制御部43の計数部Nの値を1減算し、これをすべての
計数部Nが0になるまで続ける。このとき計数部N>0
である発光体は点灯し、N≦0に達した発光体は消灯す
る。すべての計数部Nが0に達した時点で発光体がすべ
て消灯することになる。
【0022】すなわち、発光体の点灯時間は「初期値×
1回のクロック信号発生時間」であり、この点灯時間が
長いほどカメラ7の受光量が大きくなる。この点灯時間
は発光体ごとに設定することができる。図5(E)の例
で言えば、発光体b,c,n,aの順に点灯時間が長
く、したがってカメラの受光量が大きい。
【0023】上記のとおりVD信号発生後所定時間Tの
間は発光体が点灯しない構成となっているが、この理由
は、通常、例えばCCDカメラの場合、図5(C)に示
すように、受光可能期間X1,X2,X3,…および受光
不可期間Y1,Y2,…が存在するためであり、このた
め、上記所定期間Tは、受光不可期間Y1,Y2,…の終
了後に発光体が発光するように設定する。受光不可期間
1,Y2,…は垂直同期信号VDと同期して設定されて
いるので、結局上記発光体も垂直同期信号VDと同期し
て(同時または一定の関係をもって)点灯することにな
る。
【0024】またカメラ7の受光素子の受光不可期間Y
が0か無視でき、かつ垂直同期信号VDが発生してから
受光不可期間に至る時間が無視できるほど短い場合は、
図4のようにVD処理部46を削除し、VD信号の発生と
ともに各発光体13,19を点灯させる構成としてもよ
い。
【0025】各発光体の点灯時間は垂直同期信号VD
周期と同じかまたはそれ以下でないとVDを見逃したり
することになる。また点灯時間を(VDの周期−受光不
能期間)に設定すれば、受光不能期間に無駄に発光する
ということを回避できる。
【0026】すべての計数部N=0となった後、発光停
止信号が入力されたかを参照する。発光停止信号の入力
がなければ作業を繰り返し、再度発光動作を行う。発光
停止信号は例えば観察対象3aの画像認識が完了したと
きに制御装置37からグループ制御部40を通して出力
されるものである。
【0027】発光体13a,19のうちの1以上の発光
体を選択的に駆動させて観測対象3aを照明してカメラ
7で読み取り、制御装置37により文字を判読する。ど
の発光体をどの程度の時間駆動するかはグループ制御部
40から出力される初期値で決められる。判読結果がエ
ラーまたは不満足で再試行が必要な場合は、発光停止信
号は出力せず継続して発光体を発光させればよく、この
場合、同じ発光条件によって、または発光体や発光時間
を変えて再度照明し、判読(画像認識)する。判読が終
了したら発光停止信号がグループ制御部40から出力さ
れて照明動作は終了する。終了後は、次のウェハ3が搬
送され、次の照明動作が行われる。
【0028】以上のように、上記装置によれば、カメラ
の受光量を、個々の発光体の発光強度を変化させるので
はなく、発光体の発光時間を変化させて制御する。それ
により、従来のような可変電流駆動回路や可変電圧駆動
回路を必要とせず、駆動回路を例えばトランジスタのオ
ープンコレクタドライブのような簡単な固定電圧回路で
構成することができるので、駆動回路をコンパクトに構
成することができる。そして、発光体の数が多く必要な
場合ほど駆動回路を従来の装置に比べてコンパクトにす
ることができる。
【0029】また、従来のように発光体を常時点灯させ
るのではなく、必要な時だけ発光するので無駄な点灯に
よる発熱を抑えることができる。これにより省エネルギ
ーの装置を実現することができる。
【0030】また、上記観測装置においては、ハーフミ
ラー9を用いて、ハーフミラーで分岐された光軸上に光
源を配置することにより、対物レンズと集光レンズを兼
用するようにしたが、ハーフミラーを用いずに集光レン
ズと対物レンズを別々に設けるようにしてもよい。ただ
し、ハーフミラー9を用いれば両レンズを1つのレンズ
で兼用できるので装置をコンパクトに構成することがで
きる。また、上記装置では観測対象からの反射光を用い
て観測を行ったが、照射光が観測対象を透過できるよう
にし、その透過光を用いて対象の観測を行う光学系とし
てもよい。
【0031】上記例においては発光制御部およびVD
理部はハードウェア回路として説明したが、マイクロコ
ンピュータを搭載してカウンタ機能、プリセット機能、
大小判断機能をソフトウェアで構成してもよい。それに
よりハードウェア構成を簡潔にすることができる。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、発光体の発光時間を制
御するようにしたので、発光体の駆動回路の構成を簡易
にすることができる。また、必要な時間だけ発光するの
で、熱の発生を抑え省電力の駆動回路を構成することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態例を示すブロック図
【図2】図1の装置の光学系の主要部を示す図
【図3】発光体のドライバの構成を示すブロック図
【図4】発光体のドライバの別の構成を示すブロック図
【図5】観測装置の照明動作を説明するタイミングチャ
ート
【符号の説明】
1 観測装置 7 カメラ 36 ドライバ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光部からの光を観測対象に照射し、前
    記観測対象からの反射光または透過光を画像検出手段で
    受光して前記観測対象を観測する観測装置において、前
    記発光部の発光時間を設定する発光時間設定手段と、前
    記画像検出手段の垂直同期信号に同期して前記発光部を
    発光させ、前記設定された発光時間の経過後に前記発光
    部を消灯させる発光制御手段とを設けたことを特徴とす
    る観測装置。
  2. 【請求項2】 前記発光時間を計時する計時手段として
    前記画像検出手段の水平同期信号を使用する請求項1に
    記載の観測装置。
  3. 【請求項3】 発光部からの光を観測対象に照射し、前
    記観測対象からの反射光または透過光を画像検出手段で
    受光して前記観測対象を観測する観測装置の発光制御方
    法において、前記発光部の発光時間を設定し、前記画像
    検出手段の垂直同期信号に同期して前記発光部を発光さ
    せ、前記設定された発光時間の経過後に前記発光部を消
    灯させることを特徴とする観測装置の発光制御方法。
JP10033823A 1998-01-30 1998-01-30 観測装置及び該装置の発光制御方法 Pending JPH11219425A (ja)

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