JP2641820B2

JP2641820B2 - 測距方法

Info

Publication number: JP2641820B2
Application number: JP29362291A
Authority: JP
Inventors: 高秋小谷; 誠司高田
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1990-10-20
Filing date: 1991-10-14
Publication date: 1997-08-20
Anticipated expiration: 2012-08-20
Also published as: JPH055621A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、写真カメラやスチルビ
デオカメラ等に用いられるアクティブタイプの測距方法
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】最近のコンパクトカメラは、光学的三角
測量によって測距を行うアクティブタイプの測距装置が
多く用いられている。このアクティブタイプの測距装置
は、適当な基線長を保って投光部と受光部とを配置し、
この投光部から撮影シーンに向けて近赤外光を投光し、
被写体で反射した光を受光部で受光する。この受光部上
での反射光の入射位置は、被写体距離に応じて変化する
から、反射光の入射位置を電気的に調べることで被写体
距離を測定することができる。

【０００３】前記投光部は、光源とこの光源からの測距
光をスポット光に変換するための投光レンズとから構成
され、また受光部は受光素子と受光レンズとから構成さ
れている。光源としては近赤外光を放出するＬＥＤ（発
光ダイオード）が用いられ、受光素子としては半導体位
置検出器（ＰＳＤ：Position Sensitive Detector ）が
用いられている。ＰＳＤは２つの出力端子を備え、入射
光の強度と位置とに応じた２チャンネルの電流を出力す
る。この２チャンネルの電流、又はこれらに対応した２
つの電圧の比を求めることによって、反射光の入射位置
にのみ依存した信号を得ることができる。

【０００４】前記反射光の強度は、被写体の距離や反射
率によって大きく変化するから、ＰＳＤの出力信号が大
き過ぎたり小さ過ぎたりすることがある。こうした場合
に、２チャンネルの出力信号の比を用いても、測定精度
を安定に保つことができなくなる。そこで、ＰＳＤから
の２チャンネルの出力信号のレベルを適切な範囲に収め
るために、一対のゲインコントロールアンプが用いられ
る。ＰＳＤの各チャンネルの出力信号の大きさに応じ
て、各ゲインコントロールアンプを共通な最適ゲインに
設定してから測距を行えば、ＰＳＤの信号が適切なレベ
ルに増減されるから、被写体の遠近や反射率の変化にか
かわらず、測距精度を安定に維持することが可能とな
る。

【０００５】また、測距精度を更に向上させるために、
被写体に測距光を複数回投光し、各投光ごとにゲインコ
ントロールアンプの出力信号をマイクロコンピュータに
取り込み、これらの平均値から被写体距離を算出する方
法も知られている。更に、撮影シーン（撮影画面）内の
中央部だけでなく、その周辺部も含めた複数個所に測距
光を投光し、各測距点毎に被写体距離を測定するマルチ
ビームタイプのものがある。このマルチビームタイプで
は、各測距点毎に被写体距離が求まるから、予め決めた
優先順位に応じて１個の被写体距離を選択し、この被写
体距離に応じて撮影レンズをセットする。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前記ゲインコントロー
ルアンプは、ゲイン変更が行われた場合に、その出力信
号が安定するのに、１．５〜２ｍｓｅｃ程度の時間が必
要である。この安定化時間の経過前ではゲインが不安定
な状態となっているので、この状態のゲインコントロー
ルアンプの出力信号を用いると、測距精度が低下するこ
とになる。また、ゲインコントロールアンプのゲインの
決定時に、蛍光灯からの近赤外光がＰＳＤに入射する
と、このノイズ光を考慮してゲインが決められてしま
う。この場合には、最適値よりも低い値にゲインが設定
されるため、良好な測距を行うことができない。

【０００７】また、測距光を複数回投光するタイプの測
距装置では、この投光中にゲインコントロールアンプの
出力信号が所定範囲を越えて飽和（オーバーフロー）す
ることがあり、これは測距中に被写体に対する照明条件
が変化した場合に生じる。高精度の測距を行うには、ゲ
インコントロールアンプのゲインを再調整してから測距
をやり直すのが望ましいが、蛍光灯の照明下での測距等
では次のような問題が生じる。

【０００８】周知のように、蛍光灯は商用周波数の２倍
の周波数で断続して点灯するが、商用周波数を６０ H_Z
とすると、図１８の（Ａ）に示した蛍光灯の点灯間隔Ｆ
１は、８．３ｍｓｅｃとなる。そして、同図（Ｂ）に示
した測距光の投光間隔Ｆ２を１ｍｓｅｃとし、１８回の
投光で測距を行う場合には、そのうちの２回は必ず蛍光
灯の発光のピークに合致したタイミングで投光が行われ
ることになり、ゲインコントロールアンプからの出力信
号のレベルは所定範囲を越える結果となる。このため、
蛍光灯の照明下ではゲインの再調節−再測距を何回も繰
り返し、測距不能状態に陥ることになる。

【０００９】本発明は、以上のような背景に鑑みてなさ
れたもので、ゲインコントロールアンプを適正な状態で
作動させることで、高精度の測距を行うことができる測
距方法を提供することを目的とするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載した発明は、ゲインコントロールア
ンプのゲインの変更が行われた際には、それ以後に行わ
れる測距シーケンスを一定時間以上遅延させ、ゲインコ
ントロールアンプの安定化を待ってから測距シーケンス
を続行させるように構成したものである。請求項２に記
載した発明では、投光手段の作動を遅延させることで、
測距シーケンスの中断を行うようにしたものであり、こ
れは無駄な投光を防止する上で効果がある。

【００１１】請求項３に記載した発明では、測距光をＰ
Ｎ回投光して１サイクルの測距を行う際に、ゲインコン
トロールアンプからの出力レベルが所定範囲外である回
数がＣＭ回に達するまでの間は、ゲインコントロールア
ンプのゲインを変えずにそのまま測距を行うが、前記出
力レベルが所定範囲外になった回数がＣＭ回に達すると
ゲインコントロールアンプのゲインを変更した後、再び
測距を繰り返すようにしたものである。ここで、ＣＭの
値は、測距光の投光間隔をＡＴ秒としたとき、ＣＭ≧Ａ
Ｔ×ＰＮ×１２０から求まる。この式は、商用周波数６
０Ｈｚの蛍光灯の点灯周期を考慮してＣＭの値を決めて
いるから、蛍光灯の断続的な点灯に鋭敏に反応して再測
距を繰り返し、測距不能状態に陥るという弊害をなくす
ことができる。

【００１２】請求項４に記載した発明は、ゲインコント
ロールアンプの出力信号が所定レベルを越えたときに
は、１ｍｓｅｃ〜５ｍｓｅｃの時間経過後に、再び同じ
ゲインの値で出力信号を取り込み、この際に再びゲイン
コントロールアンプの出力信号が所定レベルを越えた場
合には、ゲインコントロールアンプの出力信号に基づく
距離データの算出を中止するようにしたものである。

【００１３】

【実施例】マルチビームタイプの測距装置の構成を示す
図１において、投光部２は光源部３と投光レンズ４とか
ら構成され、投光レンズ４の光軸４ａは撮影レンズ５の
光軸５ａとほぼ平行となっている。光源部３は、それぞ
れ近赤外光を発する３個のＬＥＤ（発光ダイオード）３
ａ，３ｂ，３ｃからなる。これらのＬＥＤ３ａ〜３ｃは
水平に配列され、中央のＬＥＤ３ａは光軸４ａ上に、ま
たＬＥＤ３ｂ，３ｃはその左右にそれぞれ位置してお
り、撮影シーン内の３個所に向けて各々スポット状の測
距光を投光する。

【００１４】受光部７は、受光レンズ８と、矩形状をし
たＰＳＤ９とから構成され、受光レンズ８の光軸８ａは
撮影レンズ５の光軸５ａとほぼ平行になっている。ＰＳ
Ｄ９は、その受光面に近赤外光だけを透過するフイルタ
１０（図２参照）が貼ってあり、これを透過した入射光
の光量と、基線方向での入射位置に応じた信号を出力端
子９ａ，９ｂから出力する。被写体からの反射光は、被
写体距離が短いほど出力端子９ｂ側に寄った位置に入射
する。

【００１５】また、被写体距離が短いほど、反射光の強
度が大きくなり、出力端子９ａ，９ｂからの信号の絶対
値も大きくなるが、これらの信号の和と差の比を求める
ことで、反射光の強度に依存せずにその入射位置にのみ
対応した信号を得ることができる。なお、ＰＳＤ９は水
平方向に関しては識別作用をもっておらず、垂直方向で
の入射高さが同じであれば、水平方向での入射位置が異
なっても出力端子９ａ，９ｂからの出力信号の比は等価
なものとなる。

【００１６】ＬＥＤ３ａ〜３ｃは、オートフォーカスＩ
Ｃ１２からの信号により、ＬＥＤドライバ１１を介して
発光制御される。オートフォーカスＩＣ１２は、マイク
ロコンピュータ１４からのコマンドにしたがって予め決
められた測距シーケンスを実行する。また、オートフォ
ーカスＩＣ１２は、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂから
の信号をそれぞれ増幅したり、サンプルホールド処理し
てマイクロコンピュータ１４に送る。

【００１７】前記マイクロコンピュータ１４としては汎
用型が用いられ、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂからそ
れぞれ出力された第１，第２チャンネルの信号をもとに
演算を行ない、各ＬＥＤ３ａ〜３ｃ毎に距離データを算
出する。マイクロコンピュータ１４は、３個の距離デー
タの中から最適なものを選択し、選択した距離データに
応じた個数の駆動パルスをレンズ位置制御回路１５に送
る。このレンズ位置制御回路１５は、ステッピングモー
タ１５ａを駆動して、距離データに応じた位置に撮影レ
ンズ５をセットする。

【００１８】図２に示すように、マイクロコンピュータ
１４は、ＣＰＵ２０，ＲＯＭ２１，ＲＡＭ２２，シリア
ルＩ／Ｏポート２３，Ａ／Ｄコンバータ２４からなる。
ＣＰＵ２０は周知のように各種レジスタ及び論理演算回
路を内蔵しており、ＲＯＭ２１に書き込まれたシーケン
スプログラムにしたがって撮影シーケンスを実行する。
ＲＡＭ２２は、撮影シーケンスの実行中に得られる各種
のデータやフラグ等を一時的に格納する。

【００１９】オートフォーカスＩＣ１２はワンチップの
ＩＣで構成され、ロジック回路２６と、ゲインコントロ
ーラ２７と、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂから出力さ
れる第１，第２チャンネルの電流を電圧に変換するプリ
アンプ２８ａ，２８ｂと、ゲインコントロールアンプ２
９ａ，２９ｂと、サンプルホールド回路３０ａ，３０ｂ
と、バッファアンプ３１ａ，３１ｂ等を有する。

【００２０】ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂ
は、被写体が遠距離の場合に、ＰＳＤ９に入射している
反射光の光量が低下し、出力端子９ａ，９ｂからの電流
の絶対値が小さくなることを考慮して設けられたもの
で、後述するゲインコントロール処理によって最適なゲ
インが与えられる。サンプルホールド回路３０ａ，３０
ｂは、ロジック回路２６からのサンプリングパルスを受
けてゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂで増幅さ
れた信号をサンプルホールドし、これらの信号をバッフ
ァアンプ３１ａ，３１ｂを介してマイクロコンピュータ
１４のＡ／Ｄコンバータ２４に送る。なお、ロジック回
路２６は基本的にシリアルイン−パラレルアウトのシフ
トレジスタからなり、ゲインコントローラ２７はそのシ
フトレジスタの所定ビット位置に設定されたゲインコン
トロールデータを読み出し、これに基づいてゲインコン
トロールアンプ２９ａ，２９ｂに共通な最適ゲインを設
定する。

【００２１】シリアルＩ／Ｏポート２３は、前述したよ
うにＣＰＵ２０からのパラレルコマンドデータをシリア
ルデータパルス（ＡＦＳＤ）に変換してロジック回路２
６に供給するとともに、このシリアルデータをシフトレ
ジスタに転送するための転送パルス（ＡＦＳＣＫ），シ
フトレジスタからのパラレルデータのラッチやＬＥＤ３
ａ〜３ｃの発光タイミング等を決定する制御パルス（Ａ
ＦＬＣＫ）を出力する。また、オートフォーカスＩＣ１
２から出力されるアナログ信号は、Ａ／Ｄコンバータ２
４によってその信号電圧レベルに対応した７ビットのデ
ジタル信号（十進数で０〜１２７を表す）に変換され
る。

【００２２】図３は、ロジック回路２６に用いられてい
る８ビットのシフトレジスタ３３を概念的に示してい
る。「Ｄ０〜Ｄ４」の５ビットには、ゲインコントロー
ルデータ（ＧＡＩＮ）が、「Ｄ５〜Ｄ６」の２ビットに
はＬＥＤ発光データ（ＬＥＤ）が、また「Ｄ７」のビッ
トにはＬＥＤの発光／リセットの切換えデータ（ＳＥ
Ｔ）が割り当てられている。５ビットのゲインコントロ
ールデータは、「０」レベルから「３１」レベルまでの
ゲインレベルを表すことができる。また、２ビットのＬ
ＥＤ発光データは、十進数で「０」，「１」，「２」，
「３」の４状態を表し、「０」のときにはＬＥＤ３ａ〜
３ｃの全てを消灯し、「１」のときにはＬＥＤ３ａのみ
を発光し、「２」，「３」のときにはそれぞれＬＥＤ３
ｂ，ＬＥＤ３ｃを発光させる。

【００２３】基本的な測距シーケンスの手順を示す図４
において、オートフォーカスＩＣ１２のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理、ＬＥＤ３ａ〜３ｃを順番に発
光させながら、そのときに得られるゲインコントロール
アンプ２９ａ，２９ｂの出力信号に応じて、そのゲイン
を最適値に決めるためのゲイン決定処理，このゲインの
もとで測定データを取り込み、各ＬＥＤ３ａ〜３ｃ毎に
距離データを算出する測距処理，３個の距離データの中
から最適なものを選択する処理が順次に実行される。

【００２４】次に、上記実施例の作用について図５ない
し図１３を参照して説明する。図５に示すように、カメ
ラの電源スイッチが投入されると、ＲＡＭ２２内のデー
タ格納エリアが初期状態にリセットされる。次に、フイ
ルムの装填完了状態，レンズバリアの開放状態を表す各
種の外部データがＲＡＭ２２内に読み込まれる。ＣＰＵ
２０は、これらの外部データに基づき、カメラが撮影待
機状態になっていると判定すると、シャッタボタンのロ
ックを解除する。

【００２５】シャッタボタンを半押しすると、ＣＰＵ２
０はオートフォーカスＩＣ１２に測距コマンドを出力す
る。オートフォーカスＩＣ１２は、投光部２を駆動して
スポット状の近赤外光を周期的に発生させ、これらを被
写体に向けて投光する。この被写体で反射された近赤外
光を受光部７で検出することにより、被写体距離が測定
される。この距離測定後に、ＣＰＵ２０は、測光コマン
ドを出力し、被写体輝度の測定を開始させる。得られた
被写体輝度と、フイルム感度信号とに基づいて露光演算
を行い、適正露光が得られる露出時間を算出し、ＲＡＭ
２２に格納する。露出演算後、ＣＰＵ２０はすでにＲＡ
Ｍ２２に格納されている距離データに対応した個数のク
ロックパルスをレンズ位置制御回路１５に送る。これに
よりステッピングモータ１５ａが駆動され、撮影レンズ
５は距離データに応じたレンズ位置に繰り出される。

【００２６】シャッタボタンが全押しされると、ＲＡＭ
２２から読み出された露出時間データに応じて、プログ
ラムシャッタ（図示せず）が作動される。１コマの撮影
が終了すると、ＣＰＵ２０は、フイルム移送コマンドを
発生し、フイルム移送機構（図示せず）を作動させてフ
イルムを１コマ送りする。１コマ分のフイルム移送が完
了すると、ＣＰＵ２０はレンズ位置制御回路１５にリセ
ット信号を送り、撮影レンズ５を初期位置に戻して１回
の撮影シーケンスが完了する。

【００２７】次に、測距シーケンスについて詳しく説明
する。測距シーケンスが開始されると、まず図６に示す
ように、オフセット値の検出処理が実行される。このオ
フセット値検出処理では、シフトレジスタ３３の「Ｄ０
〜Ｄ７」の各ビットに、「０１００００００」がセット
される。これにより、「ＧＡＩＮ＝８」，「ＬＥＤ＝
０」，「ＳＥＴ＝０」の各コマンドデータが設定され
る。このコマンドデータの設定は、図７のタイミングチ
ャートに示した時点Ｐ１、すなわち転送パルスＡＦＳＣ
Ｋが８個のパルスを送出した後、制御パルスＡＦＬＣＫ
がローレベルになったタイミングで行われる。なお、シ
リアルデータパルスの転送は、転送パルスＡＦＳＣＫの
立ち上がりによってシフトレジスタ３３に順次に転送さ
れる。さらに上記コマンドデータの転送後には、ＣＰＵ
２０内の所定レジスタに「ＣＯＵＮＴ＝８」がセットさ
れる。

【００２８】シフトレジスタ３３にセットされたコマン
ドデータのうち、「ＧＡＩＮ＝８」のデータは、ゲイン
コントローラ２７を介してゲインコントロールアンプ２
９ａ，２９ｂに供給され、これらのゲインが初期値（最
低値）「８」に設定される。この実施例の測距装置で
は、増幅特性の直線性が保たれるように、「ＧＡＩＮ」
が「８」〜「３１」の範囲内で使用しているが、この範
囲はカメラの仕様，ＬＥＤの発光量等によって適宜決め
られるものである。

【００２９】前記シリアルデータの転送後、第１，第２
チャンネルからの出力信号をサンプルホールドし、これ
をＡ／Ｄ変換したデジタル信号ＡＦＤ１，ＡＦＤ２がマ
イクロコンピュータ１４に読み込まれる。この読込み処
理の手順は、図７のタイミングチャート及び図８のフロ
ーチャートに示すように、まず制御パルスＡＦＬＣＫが
期間ΔＴ１の間ローレベルにされる。この制御パルスＡ
ＦＬＣＫがローレベルとなってから、期間ΔＴ７が経過
した時点Ｐ２において、コマンドデータで決められたい
ずれか１つのＬＥＤが発光する。そして、期間ΔＴ２後
にＡＦＳＤがハイレベルになるタイミングで、サンプル
ホールド回路３０ａ，３０ｂがゲインコントロールアン
プ２９ａ，２９ｂの出力をサンプルホールドする。さら
に期間ΔＴ３後のローレベルになる時点Ｐ３でＬＥＤの
発光が停止する。また、期間ΔＴ４後にＡＦＳＤがハイ
レベルになったときに、サンプルホールド処理が終了す
る。

【００３０】図７において、制御パルスＡＦＬＣＫが期
間ΔＴ１の間にローレベルになっているが、これはＬＥ
Ｄを点灯させるときのもので、「ＬＥＤ＝０」のコマン
ドで行われるオフセット値の検出処理では、ＡＦＬＣＫ
はハイレベルに保たれる。したがって、オフセット値の
検出処理では、ＬＥＤが消灯しており、またゲインコン
トロールアンプ２９ａ，２９ｂが「ＧＡＩＮ＝８」にセ
ットされている。この状態で、ゲインコントロールアン
プ２９ａ，２９ｂの出力信号がサンプルホールド回路３
０ａ，３０ｂにサンプルホールドされる。

【００３１】ＡＦＳＤがローレベルになった時点Ｐ３か
ら時間ΔＴ６が経過すると、サンプルホールド回路３０
ａ，３０ｂの出力信号は、バッファアンプ３１ａ，３１
ｂを介してＡ／Ｄコンバータ２４で７ビットのデジタル
信号に変換され、これらが第１，第２チャンネルの測定
データＡＦＤ１，ＡＦＤ２としてＣＰＵ２０に順次取り
込まれ、そしてＲＡＭ２２内の所定アドレスに格納され
る。

【００３２】他方、ゲイン決定処理及び測距処理では、
ＡＦＬＣＫがローレベルに維持されている期間ΔＴ１の
間で、指定されたＬＥＤが１回点灯され、この点灯中に
ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの出力信号
が、サンプルホールド回路３０ａ，３０ｂにサンプルホ
ールドされる。そして、ＬＥＤの点灯又は消灯にかかわ
らず、ＡＦＬＣＫのハイレベル期間ΔＴ５が経過した時
点で、１個の測定データの取込みサイクルが終了する。

【００３３】オフセット値の検出処理では、測定データ
の取込みが８回行われ、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２
がそれぞれ８個ずつ得られる。これらの８個の測定デー
タはチャンネルごとに平均され、これらの平均値がオフ
セット値ＯＦ１，ＯＦ２として決定される。前述したよ
うに、オフセット値検出処理ではＬＥＤが消灯している
から、オフセット値ＯＦ１，ＯＦ２は、ＰＳＤ９に入射
する撮影シーンからのノイズ光，信号処理系のノイズ等
に起因している。

【００３４】オフセット値検出処理の後は、ゲイン決定
処理及び測距処理が行われる。これらの処理はＬＥＤ３
ａ〜３ｃについて個別に実行される。ゲイン決定処理は
図９のフローチャートにしたがって行われる。ゲイン決
定処理が開始されるときには、ＲＡＭ２２に設定された
「ＧＦＬＡＧ」，「ＯＶＦＬＡＧ」，「ＧＣＯＵＮＴ」
が初期値「０」にセットされる。しかる後にシリアルポ
ート２３からロジック回路２６に新たなコマンドを表す
シリアルデータが転送され、ＡＦＬＣＫがローレベルに
なった時点Ｐ１で、シフトレジスタ３３の各ビットには
「０１００００１１」の２進データがセットされる。こ
れにより、「ＧＡＩＮ＝８」，「ＬＥＤ＝１」，「ＳＥ
Ｔ＝１」のコマンドが設定され、ＬＥＤ３ａのみが発光
可能状態になる。このコマンド設定後に、期間「ΔＴ２
＋ΔＴ３」の間にＬＥＤ３ａを１回点灯させ、この点灯
中にサンプリング処理が行われる。その後、測定データ
ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読込み処理が行われる。なお、Ｌ
ＥＤ３ａ〜３ｃの点灯周期は、例えば１ｍｓである。

【００３５】ここで、ゲインの初期値設定や、ゲイン変
更が行われた場合には、ゲインコントロールアンプ２９
ａ，２９ｂの作動が安定した後に、測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２の読込み処理を行うために、測距シーケン
スの開始を所定時間遅らせる。すなわち、時点Ｐ１にお
いて、シフトレジスタ３３にコマンドデータがセットさ
れて、ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂのゲイ
ンが設定されるが、ゲインコントロールアンプ２９ａ，
２９ｂのゲインが安定するまでに、約１．５〜２ｍｓｅ
ｃの時間を要する。そこで、期間ΔＴ０として２ｍｓｅ
ｃを設定し、この期間経過後にＬＥＤ３ａの点灯を許容
し、安定状態となったゲインコントロールアンプ２９
ａ，２９ｂの出力をサンプリングする。なお、ゲインを
一定に保ったまま、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の取
込みを行う場合には、図７に示すようにΔＴ０が「０」
である。

【００３６】図１に示すように、ＬＥＤ３ａからの測距
光が主要被写体Ｓ１に照射されると、その反射光は受光
レンズ８を通ってＰＳＤ９に入射する。そして、このと
きにＰＳＤ９の両端子９ａ，９ｂから出力される信号
は、ＰＳＤ９に入射した光の強度及び入射位置の情報を
含んでいる。これらの信号は、Ａ／Ｄコンバータ２４で
各々デジタル変換された後、測定データＡＦＤ１，ＡＦ
Ｄ２として取り込まれる。

【００３７】次に、ＣＰＵ２０は、測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２のいずれかが十進数で「１２７」に達して
いるか否かを判断する。ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の値が「１
２７」に達している場合には、そのいずれかが飽和状態
（オーバーフロー）であると判定される。この測定デー
タは極めて信頼性が薄いので、「ＧＡＩＮ＝８」である
ことを確認した上で、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ←１２７」
（「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」については後述する）の処理
を行い、ＬＥＤ３ａによる測距を終了する。この状態
は、画面中央の被写体がかなり接近した位置にあり、
「ＧＡＩＮ＝８」でも反射光が強過ぎる場合である。

【００３８】測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽和して
いない場合には、図１０に示す手順で、各々の測定デー
タＡＦＤ１，ＡＦＤ２から、加算測定データＡＦＡＤ
Ｄ，減算測定データＡＦＤＩＦの算出処理が行われる。
この処理では、ノイズ成分除去のために測定データＡＦ
Ｄ１，ＡＦＤ２に対してオフセット値ＯＦ１，ＯＦ２の
減算が行われる。また、オフセット値の減算処理の結果
が負の値になったときや、減算測定データＡＦＤＩＦの
値が負の値になったときには、これらの値を「０」にし
て以後の演算を簡略化する。

【００３９】次に、加算測定データＡＦＡＤＤについ
て、その値が「１３６」以上であるか否かが判断され
る。この値が「１３６」以上であるときには、測定デー
タＡＦＤ１，ＡＦＤ２の各々の絶対値が以後の測距演算
を実行するのに適切な範囲にあると判定され、ゲインコ
ントロールアンプ２９ａ，２９ｂのゲインはそのときの
「ＧＡＩＮ」の値として決定される。そして、この「Ｇ
ＡＩＮ」にセットしたままで、図１１に示すように、Ｌ
ＥＤ３ａによる測距処理が開始される。

【００４０】一方、加算測定データＡＦＡＤＤの値が
「１３６」未満であるときには、そのときの「ＧＡＩ
Ｎ」の値が不適切であったことを表す「ＧＦＬＡＧ」が
「１」になっていないことを確認した上で、測定データ
ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の絶対値を大きくするために、ゲイ
ンの変更が行われる。この変更後のゲインの値は、もと
の「ＧＡＩＮ」の値に、補正値「Ｎ」を加算したもので
あり、これがＲＡＭ２２に書き込まれる。この補正値
「Ｎ」の値は、加算測定データＡＦＡＤＤの大きさに応
じて、次の表１に示すように設定されている。

【００４１】

【表１】

【００４２】「ＧＡＩＮ」の値を変更は、新しいゲイン
を含むコマンドデータをシフトレジスタ３３にセットす
ることで行われるが、この際にシフトレジスタ３３の
「Ｄ０」〜「Ｄ４」のビットのデータだけが変化し、他
のビットに割り当てられるデータはそのままとなってい
る。そして、ゲインコントローラ２６は新たな「ＧＡＩ
Ｎ」の値にしたがってゲインコントロールアンプ２９
ａ，２９ｂのゲインを調節し、引続き同様の処理を繰り
返す。この繰返し処理においても、ゲイン変更のための
コマンド設定の後にはΔＴ０の遅延が行われ、ゲインコ
ントロールアンプ２９ａ，２９ｂの作動が安定してか
ら、再び測定データの取込みが続行される。この繰返し
処理時において、「ＧＡＩＮ＞８」でオーバーフローす
ることがあるが、この場合には「ＧＦＬＡＧ」を「１」
にセットしてから、「ＧＡＩＮ」の値が「１」だけ低く
設定し直される。

【００４３】「ＧＡＩＮ」の値が最大ゲインである「３
１」に達しても適切な絶対値を持った加算測定データＡ
ＦＡＤＤが得られないときには、被写体からの反射光が
極めて微弱、あるいはＰＳＤ９に戻ってきていない状態
である。この場合には被写体距離が極めて遠距離である
ことに対応しているから、後述する測距を行っても実益
がない。したがって、この場合には測距処理を行うこと
なく、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ←０」の処理が行われる。

【００４４】また、このゲイン決定処理におけるゲイン
の設定し直し回数ＲＮは、ゲインの初期値ＩＧ，ゲイン
の最大値ＧＭ，最大補正値ＮＭとから求まる。ＲＮ＝（ＧＭ−ＩＧ）÷ＮＭこの実施例では、ＧＭ＝３１，ＩＧ＝ＮＭ＝８であるか
ら、ＲＮ＝２．９≒３となる。したがって、ゲインの設
定し直し回数ＲＮは３回に制限され、「ＧＣＯＵＮＴ＝
３」に達した場合には、そのときの「ＧＡＩＮ」が選択
され、ゲイン決定処理が終了する。この制限により、例
え被写体からの反射光の強度が変化して、測定データＡ
ＦＤ１，ＡＦＤ２の値が変動したとしても、ゲイン決定
処理に時間を要することがなくなり、迅速にゲインを決
めることができる。しかも、ゲインの調節幅「３１−
８」を、最大補正値「８」で除してゲイン調節の回数の
上限を決めているから、ＡＦＡＤＤの値が極めて小さい
ような場合でも、ゲインの値を最大値「３１」まで調節
することが可能となる。

【００４５】上述のゲイン決定処理が終了すると、ＬＥ
Ｄ３ａによる測距処理が開始される。図１１及び図１２
はこの測距処理手順を表している。この測距処理は、各
種の初期データをＲＡＭ２２にセットしてから、ＬＥＤ
３ａを１８回点灯させ、その都度、ＡＦＤ１，ＡＦＤ２
を読み込む。そして、毎回のＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読み
込み時には、そのいずれかが飽和しているか、もしくは
その値が「１５」未満で測定データの絶対値として不充
分なものであるかが判定され、これらに該当するときに
は不適切測距であることを表す「ＯＶＣＯＵＮＴ」を
「１」ずつカウントアップしてゆく。この場合には、測
距光を再度投光して測定データの取込みをやり直す。

【００４６】ここで、「ＯＶＣＯＵＮＴ」の上限値につ
いて説明する。この「ＯＶＣＯＵＮＴ」の上限値が小さ
すぎると、偶然かつ瞬間的に被写体の照明条件が変化し
たような場合にも「ＯＶＦＬＡＧ」がセットされやすく
なり、後述する表２の「Ｍ」の値により距離データが求
められることになり、正確さに欠けるきらいがある。照
明条件が変化する場合の殆どは蛍光灯であり、これは商
用電源で駆動されるから、その２倍である１２０Ｈｚを
考慮して、「ＯＶＣＯＵＮＴ」の上限値ＣＭは次式から
定められる。ここで、ＡＴは測距光の投光間隔であり，
ＰＮは投光回数である。ＣＭ≧ＡＴ×ＰＮ×１２０

【００４７】この実施例では、測距光の投光間隔ＡＴが
１ｍｓｅｃ、投光回数ＰＮが１８回であるから、これら
を上式に代入すると、次のようになる。ＣＭ≧１×１０^-3×１８×１２０＝２．１６「ＯＶＣＯＵＮＴ」は、整数であるから、上限値ＣＭを
切り上げて「３」が得られる。この式から上限値ＣＭを
設定すると、図２３に示したように、測距光の投光のタ
イミングが蛍光灯の発光のピークと２回まで一致したと
しても、これに影響されずに測距を継続することができ
る。この場合には、１個の距離データを得るために、２
０回の投光が行われることになる。勿論、この「ＯＶＣ
ＯＵＮＴ」となった２個の測定データは、測距演算に用
いられない。

【００４８】「ＯＶＣＯＵＮＴ」がカウントアップさ
れ、その結果「３」に達したときには、ゲイン決定処理
で決めたゲインの値が不適切であるものと判定し、「Ｏ
ＶＦＬＡＧ」を「１」にセットした上で、「ＧＡＩＮ」
を「１」だけ低く再設定して最初から測距処理をやり直
す。この測距中でのゲイン変更は、前述したように、コ
マンドを再セットすることで行われるが、この場合にお
いてもＬＥＤ３ａの点灯前には時間ΔＴ０の遅延処理が
行われる。なお、複数の初期データをＲＡＭ２２にセッ
トするための時間が、ΔＴ０以上の場合には、ΔＴ０タ
イマーによる遅延を省略することができる。

【００４９】また、測距処理が何度も繰り返されること
を防止するために、一旦「ＯＶＦＬＡＧ」が「１」にセ
ットされた後に、再び「ＯＶＣＯＵＮＴ」が「３」に達
したとき、すなわち「ＯＶＣＯＵＮＴ」となった全回数
が「６」以上のときには、そのときの「ＧＡＩＮ」の値
に対応して「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」の値を「Ｍ」として
決定する。この決定時には、表２に示すテーブルが参照
される。

【００５０】

【表２】

【００５１】上記のように、「ＯＶＣＯＵＮＴ」の値が
「３」未満である場合には、引続きそのままのゲインで
測距が継続されることになる。しかし、後段での処理に
おいて、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の中の最大値，
最小値の除去及び複数の測定データの平均化が行われる
から、測定データ中に２個程度のオーバーフローによる
異常データがあっても、測距演算においてはその影響は
ほとんど現れることはない。

【００５２】各測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の取込み
を行う過程で、その中の最小値と最大値とを識別した上
で、ＡＦＤ１，ＡＤＦ２は各々「ＳＵＭ１」，「ＳＵＭ
２」として合計されてゆく。そして、１８回の投光で得
た合計値「ＳＵＭ１」，「ＳＵＭ２」から、平均値の信
頼性を高めるために、ＡＦＤ１，ＡＦＤ２の各々の最大
値，最小値を減算した後、平均値の算出が行われる。な
お、測距精度が低下するが、最大値，最小値を除かずに
平均値を算出してもよく、この場合には除数が「１８」
となる。

【００５３】こうしてチャンネルごとに得られた平均値
は、図１０の処理にしたがって、オフセット値の補正の
後、加算測定データＡＦＡＤＤ，減算測定データＡＦＤ
ＩＦに変換される。そして、これらの比の値に「１２
７」を乗じて、距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」を算
出し、ＬＥＤ３ａによる測距処理が終了する。

【００５４】引続き、ＬＥＤ３ｂを点灯させながら、ゲ
イン決定処理と測距処理とを行う。最後に、ＬＥＤ３ｃ
のゲイン決定処理−距離測定処理を行う。これにより、
ＬＥＤ３ｂ，ＬＥＤ３ｃに対して、「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」の値がそれぞれ求められ
る。なお、平均値や距離データの算出では、割り算が行
われるが、この結果に対しては、切り捨て，切り上げ，
四捨五入等によって整数化される。

【００５５】図１３に示すように、ＬＥＤ３ａは撮影シ
ーン（撮影画面）４０の中央部に設定した測距点ＳＰ１
に測距光を投光し、ＬＥＤ３ｂ，３ｃは撮影シーン４０
の周辺部に設定した測距点ＳＰ２，ＳＰ３に測距光を投
光する。この撮影シーン４０では、測距点ＳＰ１が主要
被写体Ｓ１上に位置し、測距点ＳＰ２が主要被写体Ｓ２
上に位置する。したがって、「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」が
主要被写体Ｓ１までの距離、「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」が
背景被写体Ｓ２までの距離に対応した値を示し、さらに
「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」は測距光が反射されてきていな
いことから「０」（図９図参照）となっている。

【００５６】マイクロコンピュータ１４は、ＲＯＭ２１
に格納してあるプログラムに従い、「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ａ」が至近距離から５ｍまでの被写体距離に対応した値
であるかを確認し、これに該当する場合には「ＡＦＲＥ
ＳＵＬＴａ」を最適距離データとして決定し、また該当
しない場合には「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」，「ＡＦＲＥＳ
ＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｃ」の中で最も近い被
写体距離に対応したものを最適距離データとして決定
し、測距シーケンスが完了する。

【００５７】こうして最適距離データが決定された後
は、レンズ位置制御回路１５を介してステッピングモー
タ１５ａが駆動され、撮影レンズ５は最適距離データに
対応したレンズ位置にセットされる。なお、「ＡＦＲＥ
ＳＵＬＴａ」，「ＡＦＲＥＳＵＬＴｂ」，「ＡＦＲＥＳ
ＵＬＴｃ」の中から最適距離データを決定するためのア
ルゴリズムとしては、他に種々のものを選ぶことが可能
である。

【００５８】以上の実施例では、ゲイン決定処理中に、
ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの出力がほぼ
飽和している場合には、ゲインを「１」だけ下げて測定
をやりなおしている。室内撮影では、被写体が蛍光灯で
照明されていることが多いが、このようなシーンでは、
ゲインが適正であっても、蛍光灯のノイズ光によって、
ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの出力が一時
的に飽和してしまうことがある。そこで、ゲイン決定処
理中に、ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの出
力がほぼ飽和している場合には、「ＧＡＩＮ」を同じ値
のままで測定をやり直すとともに、このやり直しの際し
ては一定時間例えば１〜５ｍｓｅｃだけ、測定データＡ
ＦＤ１，ＡＦＤ２の取り込みを遅延させるのがよい。図
１４〜図１７は、この実施例を示すものである。なお、
この実施例では、測定データに８ビット（十進数で
「０」〜「２５５」）が割り当てられている。

【００５９】図１４に示すように、ゲイン決定処理が開
始されるときには、「ＧＳＮＧフラグ」がリセットさ
れ、「ＧＣＯＵＮＴ」が初期値「０」にセットされる。
また、図９に示す実施例と同様に、ゲインコントロール
アンプ２９ａ，２９ｂのゲインが初期値「８」にセット
され、また「ＬＥＤ＝１」，「ＳＥＴ＝１」の各コマン
ドの設定が行われ、ＬＥＤ３ａのみが点灯可能状態とな
る。

【００６０】上記コマンド設定の後、前述したように、
期間ΔＴ０後にＬＥＤ３ａを「ΔＴ２＋ΔＴ３」の期間
点灯しながら測定し、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２を
読み込む。これらのいずれかが、飽和値例えば１６進数
で「Ｆ０」（十進数では「２４０」）に達しているか否
かが判断される。もし、いずれか１つが飽和値「Ｆ０」
以上である場合に、このときのゲインの値が初期値
「８」であることが確認されると、「ＡＦＲＥＳＵＬＴ
ａ←１２７」の処理を行う。

【００６１】また、ゲインの値が「９」以上のときに、
測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽和値になると、以前
に飽和状態になったことがないことを確認してから、Ｇ
ＳＮＧフラグをセットした後、２ｍｓｅｃの時間遅延の
後に同じゲインの値のままで再度測定データＡＦＤ１，
ＡＦＤ２の読み込みが実行される。そして、この測定デ
ータも飽和値に達している場合には、その時点のゲイン
の値から「１」を減算してゲインの値を決定し、ゲイン
決定処理を中止してそのまま測距処理に移行する。これ
により、ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの飽
和状態の繰り返しに伴ってゲイン決定処理に時間がかか
るのを防ぐことができる。なお、ゲインの値が「９」以
上のときに、測定データＡＤＦ１，ＡＦＤ２の一方が飽
和値となるのは、ゲイン決定処理の最初ではなく、繰り
返しルーチンの中で発生する。

【００６２】同じゲインのままで再度測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２を取り込む際には、上述のように２ｍｓｅ
ｃの時間遅延が実行される。その理由は、ゲインコント
ロールアンプ２９ａ，２９ｂに重畳される蛍光灯ノイズ
が図１７に示したような波形を示し、測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２の読み込みタイミングと蛍光灯の点灯とが
ｔ１の時点で一致したとすると、蛍光灯によるノイズ成
分はΔｘ（１．５〜２ｍｓｅｃ程度）で示した期間だけ
残存するからである。したがって、少なくとも１ｍｓｅ
ｃの遅延により、ノイズ成分がマイナス側で極大になる
タイミングｔ２からずらして次の測定データＡＦＤ１，
ＡＦＤ２を取り込むことによって、ノイズの影響が少な
い測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２を得ることができる。
この２ｍｓｅｃは、ΔＴ０タイマーで確保してもよい。
なお、完全にノイズ成分の影響を取り除くために、５ｍ
ｓｅｃ程度の遅延時間が望ましいので、実用上は１〜５
ｍｓｅｃの範囲内で適宜設定される。

【００６３】ゲインが初期値「８」の状態で測定データ
ＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽和値に達していない場合には、
これらの測定データに基づき、前述したように加算測定
データＡＦＡＤＤ，減算測定データＡＦＤＩＦの算出処
理が行われる。この加算測定データＡＦＡＤＤについ
て、その値が十進数の「１３６」以上であるか否かが判
断される。この値が「１３６」以上であるときには、加
算測定データＡＦＡＤＤ１，ＡＦＡＤＤ２の値が以後の
測距演算の実行に適切なレベルにあると判定される。そ
して、ゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂのゲイ
ンはそのときの「ＧＡＩＮ」の値（初期値「８」）とし
て決定され、引続きＬＥＤ３ａによる測距処理が実行さ
れることになる。

【００６４】一方、加算測定データＡＦＡＤＤの値が
「１３６」未満である場合には、前述したように、「Ｇ
ＡＩＮ」の値に「Ｎ」を加算し、またゲイン決定処理の
度数を表す「ＧＣＯＵＮＴ」を「１」アップして同様の
処理を繰り返す。この繰り返し処理時に「ＧＡＩＮ＞
８」で飽和値に達することがあるが、「ＧＳＮＧフラ
グ」がセット状態にあると「ＧＡＩＮ←ＧＡＩＮ−１」
によってゲインを決定してから、測距処理が実行され
る。

【００６５】上記によれば、ゲインコントロールアンプ
２９ａ，２９ｂが初期ゲイン「８」の状態で、測定デー
タＡＦＤ１，ＡＦＤ２が飽和値になると、即座に距離デ
ータが至近距離に対応した値に決定され、また飽和値に
達していない場合でも、加算測定データＡＦＡＤＤが適
切なレベルであるときには、ゲインコントロールアンプ
２９ａ，２９ｂのゲインを初期ゲイン「８」にして測距
処理が実行される。このように、「ＧＣＯＵＮＴ」の値
が「１」までの間、すなわちゲインコントロール２９
ａ，２９ｂのゲインが小さい状態のときにはノイズの影
響も少ないから、早めにゲインを決定して測距処理を行
うのが有利である。

【００６６】一方、ゲイン決定の繰り返しルーチンを行
う間に「ＧＣＯＵＮＴ≧２」になり、ゲインの値がその
都度高く設定されてゆく場合には、図１５に示したよう
に、「ＧＣＯＵＮＴ＝６」に達するまで測定データＡＦ
Ｄ１，ＡＦＤ２を取り込み、これらを「ＳＵＭ１」，
「ＳＵＭ２」として順次に積算する。そして、「ＧＣＯ
ＵＮＴ＝６」に達すると、積算された「ＳＵＭ１」，
「ＳＵＭ２」から各々のチャンネルの測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２の最大値を減算してから平均値が算出さ
れ、それぞれ「ＡＦＤ１」，「ＡＦＤ２」として置き換
えられる。

【００６７】こうして得られた測定データＡＦＤ１，Ａ
ＦＤ２については、図１０に示すように、オフセット補
正処理の後、加算測定データＡＦＡＤＤ，減算測定デー
タＡＦＤＩＦが算出される。そして、「ＡＦＡＤＤ≧１
３６」が満足される場合に、「ＧＣＯＵＮＴ＝２」のと
きのゲインを最適ゲインと決定し、そのまま測距処理に
移行する。なお、「ＡＦＡＤＤ≧１３６」が満足され
ず、しかもゲインコントロールアンプ２９ａ，２９ｂの
ゲインが最大値「３１」を越えたときには、ＰＳＤ９に
反射光が殆ど入射しないような遠距離に被写体が位置し
ている場合であるから、撮影レンズ５を無限遠にセット
するための距離データ「ＡＦＲＥＳＵＬＴ＝０」を得、
この時点でＬＥＤ３ａによる測距が終了する。他方、ゲ
インが最大値「３１」を越えない場合には、ゲイン設定
のための測定をやり直すために、「ＧＳＮＧフラグ」を
リセットし、「ＧＣＯＵＮＴ＝０」にする。

【００６８】このように、ゲインコントロールアンプ２
９ａ，２９ｂのゲインが高く設定されるときには、測定
データＡＦＤ１，ＡＦＤ２を複数個取り込み、これらの
平均値を考慮してゲインを決めることによって、ノイズ
の影響をほとんど受けずにゲイン設定を行うことができ
る。また、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の積算値ＳＵ
Ｍ１，ＳＵＭ２から平均値を算出する際には、ＡＦＤ
１，ＡＦＤ２の中の最大値を減算してある。したがっ
て、商用周波数の２倍の周波数で断続した発光を行う蛍
光灯の照明下で測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２の取り込
みが行われ、図１７に示したような周期的なノイズ成分
が測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２に重畳されたとして
も、ｔ＝ｔ１の時点で取り込まれた測定データＡＦＤ
１，ＡＦＤ２については、これを平均値算出時に除くこ
とができ、適切なゲイン設定を行う上で非常に有効であ
る。もちろん、ｔ＝ｔ２のようなアンダーシュートの時
点で取り込まれる測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２も考慮
し、平均値を算出する前に測定データの最小値も積算値
ＳＵＭ１，ＳＵＭ２から減算しておくようにしてもよ
い。

【００６９】以上の処理によって「ＧＡＩＮ」の値が決
定されると、前記実施例と同様に、ＬＥＤ３ａによる測
距処理が実行される。この測距処理では、図１６に示す
ように、「ＯＶＣＯＵＮＴ」が「３」未満であり、かつ
測定データが適正範囲を外れている場合には、確認のた
めにゲインの値をそのままに維持し、２ｍｓｅｃの遅延
時間の後、再度測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２が読み込
まれる。これにより、測距シーケンス中の測定データＡ
ＦＤ１，ＡＦＤ２の読み込みタイミングが蛍光灯の点灯
タイミングと合致し、測定データが飽和値に達しても、
次の読み込みで正しい測定データを得ることができる。
このようにして１８個の測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２
を取り込み、図１０に示す手順でＡＦＡＤＤ，ＡＦＤＩ
Ｆが算出され、そして図１２に示す手順で距離データ
「ＡＦＲＥＳＵＬＴ」が算出される。

【００７０】前記各実施例は、３個のＬＥＤ３ａ〜３ｃ
を用い、撮影シーン内の３個所を順次に測距するマルチ
ビームタイプであるが、測距点が１個のシングルビーム
タイプにも適用することができる。例えば、１個のＬＥ
Ｄを用いて、スポット又は細長なスリット光を撮影シー
ンに投光してもよい。更には、この１個のＬＥＤを１回
だけ発光させて測距を行ってもよい。

【００７１】また、カメラ姿勢に応じて投光部の姿勢を
変換し、地面に対して常に平行な方向に沿った複数の測
距点に対して投光してもよい。受光素子としてはＣＣＤ
イメージセンサー等を使用することができ、また光源と
しては閃光放電管，ランプ等を使用することができる。
更に、マイクロコンピュータ以外のロジック回路により
各種の制御を行わせることも可能である。

【００７２】更に、オフセット値検出処理を省略した
り、測距処理手順を部分的に変更することも可能であ
る。また、ＬＥＤの点滅による電源消耗が無視できる程
度であれば、ゲイン設定後にＬＥＤの点灯を時間ΔＴ０
だけ遅らせる代わりに、遅延期間内での不要な測定デー
タを捨ててもよい。

【００７３】また、上記実施例ではゲインが高い値に設
定される場合にのみ最大値を減算してから測定データの
平均値を算出しているが、ゲイン決定の最初の段階、す
なわち初期ゲインで測定データを読み込むときにも複数
個の測定データを得、これらの中の最大値及び最小値、
あるいはその一方を除去してから、測定データの平均値
を算出してもよい。

【００７４】

【発明の効果】上述したように、請求項１に記載した発
明によれば、ゲインコントロールアンプのゲイン変更が
あった場合には、そのゲインが安定する時間だけ遅らせ
てから、測定データを取り込むようにしているから、不
安定なゲインのもとで出力されてくる不適正な測定デー
タを取り込むことがなく、したがって測距精度を向上さ
せることができる。また、投光部の作動を遅らせること
で測定を遅延させれば、投光部を無駄に作動させずに済
み、電源の浪費を防ぐことができるという利点がある。

【００７５】また、請求項３に記載した発明では、複数
回の投光で得た複数個の測定データにより測距演算を行
う際に、不適正な値を持った測定データの個数が一定回
数未満であるときにはそのまま測距を継続し、一定回数
に達した際にはゲインコントロールアンプのゲインを変
更して再測距を行うようにするとともに、前記一定回数
を測距光の投光間隔，その投光回数並びに蛍光灯の点灯
周期を考慮して設定したから、被写体に対する照明条件
の変化に対応してゲインを変更することが可能となり、
しかも蛍光灯の照明下でも測距不能になることはない。

【００７６】更に、請求項４に記載した発明では、ゲイ
ンコントロールアンプのゲイン決定時や測距シーケンス
中のゲイン変更時に、ゲインコントロールアンプからの
出力信号が飽和状態となっている場合には、ゲインコン
トロールアンプに重畳されるノイズ成分の影響が軽減さ
れる１〜５ｍｓｅｃの時間遅延の後、同じゲインの値の
もとで再度測定し、前記飽和状態が瞬間的なノイズに起
因するか否かを判別する。もし、この測定においても、
飽和状態が生じている場合には、ノイズの影響によるも
のではなく、定常的に出力信号が高いレベルにあると判
断して、ゲインコントロールアンプからの出力信号に基
づいて測距演算を行う通常の測距シーケンスとは別に、
その時点で即座に至近距離あるいは無限遠の距離データ
に定めるから、ゲインの決定や変更のために徒に測距時
間を長くせずに済み、効率的な測距処理を行う上で非常
に有効である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の方法を実施する測距装置の概略を示す
説明図である。

【図２】オートフォーカスＩＣの構成を示すブロック図
である。

【図３】ロジック回路に用いられるシフトレジスタの概
念図である。

【図４】測距シーケンスの概略を示すフローチャートで
ある。

【図５】撮影シーケンスを示すフローチャートである。

【図６】オフセット値検出処理を示すフローチャートで
ある。

【図７】測定データの読込みタイミングを説明するタイ
ムチャートである。

【図８】測定データの読込み手順を示すフローチャート
である。

【図９】ゲイン決定処理を示すフローチャートである。

【図１０】加算測定データ及び減算測定データの算出処
理手順を示すフローチャートである。

【図１１】測距処理の前半を示すフローチャートであ
る。

【図１２】測距処理の後半を示すフローチャートであ
る。

【図１３】測距シーンの一例を示す説明図である。

【図１４】ゲイン決定処理の別の実施例の前半を示すフ
ローチャートである。

【図１５】ゲイン決定処理の後半を示すフローチャート
である。

【図１６】測距処理の別の実施例を示すフローチャート
である。

【図１７】蛍光灯の点滅に伴って測定データに重畳され
るノイズ成分を示す波形図である。

【図１８】蛍光灯の点灯周期と測距光の投光間隔との相
関を示すタイミングチャートである。

【符号の説明】

２投光部３ａ〜３ｃＬＥＤ５撮影レンズ７受光部９ＰＳＤ１４マイクロコンピュータ２８ａ，２８ｂプリアンプ２９ａ，２９ｂゲインコントロールアンプ３０ａ，３０ｂサンプルホールド回路３１ａ，３１ｂバッファアンプＳＰ１〜ＳＰ３測距点４０撮影シーン

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体に向けて測距光を投光する投光手
段と、被写体から反射されてきた測距光を受光する受光
手段と、この受光手段の出力信号を増幅するゲインコン
トロールアンプと、このゲインコントロールアンプの出
力信号から距離信号を算出する演算手段とを備えた測距
装置において、前記ゲインコントロールアンプの出力信
号のレベルを監視し、そのレベルが所定範囲外の場合に
はゲインコントロールアンプのゲインを調整し、このゲ
インの変更が行われたときには、測距シーケンスの開始
を一定時間以上遅延させるようにしたことを特徴とする
測距方法。
【請求項２】被写体に向けて測距光を投光する投光手
段と、被写体から反射されてきた測距光を受光する受光
手段と、この受光手段の出力信号を増幅するゲインコン
トロールアンプと、このゲインコントロールアンプの出
力信号から距離信号を算出する演算手段とを備えた測距
装置において、前記ゲインコントロールアンプの出力信
号のレベルを監視し、そのレベルが所定範囲外の場合に
はゲインコントロールアンプのゲインを調整し、このゲ
インの変更が行われたときには、前記投光手段の作動を
許容するための信号の発生を一定時間以上遅延させるよ
うにしたことを特徴とする測距方法。
【請求項３】被写体に向けて測距光を投光する投光手
段と、被写体から反射されてきた測距光を受光する受光
手段と、この受光手段の出力信号を増幅するゲインコン
トロールアンプと、このゲインコントロールアンプの出
力信号から距離信号を算出する演算手段とを備えた測距
装置において、測距時に投光手段を投光間隔ＡＴ秒でＰ
Ｎ回発光させ、この測距中にゲインコントロールアンプ
の出力信号を監視し、この出力信号が所定レベル範囲外
となる回数がＣＭ回に達したときには、ゲインコントロ
ールアンプのゲインを調節してから測距をやり直すとと
もに、前記ＣＭの値を次式から定めたことを特徴とする
測距方法。ＣＭ≧ＡＴ×ＰＮ×１２０
【請求項４】被写体に向けて測距光を投光する投光手
段と、被写体から反射されてきた測距光を受光する受光
手段と、この受光手段の出力信号を増幅するゲインコン
トロールアンプと、このゲインコントロールアンプの出
力信号から距離信号を算出する演算手段とを備えた測距
装置において、前記ゲインコントロールアンプの出力信
号が所定レベルを越えたときには、１ｍｓｅｃ〜５ｍｓ
ｅｃの時間経過後に、再び同じゲインの値で出力信号を
取り込み、この際に再びゲインコントロールアンプの出
力信号が所定レベルを越えた場合には、ゲインコントロ
ールアンプの出力信号に基づく距離信号の算出を中止す
ることを特徴とする測距方法。