JPH11213182A - 自動券売機 - Google Patents
自動券売機Info
- Publication number
- JPH11213182A JPH11213182A JP1457798A JP1457798A JPH11213182A JP H11213182 A JPH11213182 A JP H11213182A JP 1457798 A JP1457798 A JP 1457798A JP 1457798 A JP1457798 A JP 1457798A JP H11213182 A JPH11213182 A JP H11213182A
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- Japan
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- sales data
- storage unit
- ticket
- main storage
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 券の購入試験を短時間で行うことができると
ともに、セキュリティを向上させることができる自動券
売機を得ること。 【解決手段】 本発明は、装置各部を制御するＣＰＵ１
と、券の購入試験の指示入力、パスワードの入力等に用
いられる入力部２と、ＣＰＵ１の制御により売上データ
Ｄuを記憶する主記憶部３と、券を発券する毎に当該券
の売上データをＣＰＵ１へ出力する発券部４と、ＦＤ６
に対してリード／ライトを行うフロッピーディスクドラ
イブ５とを有しており、フロッピーディスクドライブ５
には券の購入試験時に一時的に主記憶部３に記憶されて
いる売上データＤuが退避される。
ともに、セキュリティを向上させることができる自動券
売機を得ること。 【解決手段】 本発明は、装置各部を制御するＣＰＵ１
と、券の購入試験の指示入力、パスワードの入力等に用
いられる入力部２と、ＣＰＵ１の制御により売上データ
Ｄuを記憶する主記憶部３と、券を発券する毎に当該券
の売上データをＣＰＵ１へ出力する発券部４と、ＦＤ６
に対してリード／ライトを行うフロッピーディスクドラ
イブ５とを有しており、フロッピーディスクドライブ５
には券の購入試験時に一時的に主記憶部３に記憶されて
いる売上データＤuが退避される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、発券に用いられる
自動券売機に関する。
自動券売機に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動券売機は、装置各部を制御す
るＣＰＵ（中央処理装置）と、発券を行う発券部と、発
券部から出力される売上データを記憶する主記憶部とを
有している。この自動券売機において、装置に不具合が
発生した場合には、券の購入試験が行われる。この購入
試験では、主記憶部に記憶されている売上データの集計
が行われた後、試験的に発券部が操作されて、発券結果
に基づいて、不具合箇所の特定等が行われる。
るＣＰＵ（中央処理装置）と、発券を行う発券部と、発
券部から出力される売上データを記憶する主記憶部とを
有している。この自動券売機において、装置に不具合が
発生した場合には、券の購入試験が行われる。この購入
試験では、主記憶部に記憶されている売上データの集計
が行われた後、試験的に発券部が操作されて、発券結果
に基づいて、不具合箇所の特定等が行われる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の自動
券売機においては、券の購入試験時に売上データの集計
を行わなければならないため、集計に長時間を要し、ひ
いては購入試験に長時間を要するという問題があった。
また、従来の自動券売機においては、装置を操作するこ
とができる者であれば、券の購入試験を行うことができ
るため、部外者に売上データを盗用される可能性がある
という問題があった。本発明はこのような背景の下にな
されたもので、券の購入試験を短時間で行うことができ
るとともに、セキュリティを向上させることができる自
動券売機を提供することを目的とする。
券売機においては、券の購入試験時に売上データの集計
を行わなければならないため、集計に長時間を要し、ひ
いては購入試験に長時間を要するという問題があった。
また、従来の自動券売機においては、装置を操作するこ
とができる者であれば、券の購入試験を行うことができ
るため、部外者に売上データを盗用される可能性がある
という問題があった。本発明はこのような背景の下にな
されたもので、券の購入試験を短時間で行うことができ
るとともに、セキュリティを向上させることができる自
動券売機を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、売上データを記憶する主記憶部と、補助記憶部と、
券の購入試験時に、前記主記憶部に記憶されている前記
売上データを前記補助記憶部に退避させる一方、前記購
入試験終了後に、前記補助記憶部に記憶されている前記
売上データを前記主記憶部へ戻す制御部とを具備するこ
とを特徴とする。また、請求項２に記載の発明は、請求
項１に記載の自動券売機において、前記購入試験時に、
パスワードの入力に用いられるパスワード入力部と、正
しいパスワードが入力されたか否かを判断する判断部と
を具備し、前記制御部は、前記判断部の判断結果に基づ
いて、正しいパスワードが入力された場合にのみ、券の
購入試験時に、前記主記憶部に記憶されている前記売上
データを前記補助記憶部に退避させる一方、前記購入試
験終了後に、前記補助記憶部に記憶されている前記売上
データを前記主記憶部へ戻すことを特徴とする。
は、売上データを記憶する主記憶部と、補助記憶部と、
券の購入試験時に、前記主記憶部に記憶されている前記
売上データを前記補助記憶部に退避させる一方、前記購
入試験終了後に、前記補助記憶部に記憶されている前記
売上データを前記主記憶部へ戻す制御部とを具備するこ
とを特徴とする。また、請求項２に記載の発明は、請求
項１に記載の自動券売機において、前記購入試験時に、
パスワードの入力に用いられるパスワード入力部と、正
しいパスワードが入力されたか否かを判断する判断部と
を具備し、前記制御部は、前記判断部の判断結果に基づ
いて、正しいパスワードが入力された場合にのみ、券の
購入試験時に、前記主記憶部に記憶されている前記売上
データを前記補助記憶部に退避させる一方、前記購入試
験終了後に、前記補助記憶部に記憶されている前記売上
データを前記主記憶部へ戻すことを特徴とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。図１は本発明の第一実施形態
による自動券売機の構成を示すブロック図である。この
図において、１は、装置各部を制御するＣＰＵ（中央処
理装置）であり、このＣＰＵ１の動作の詳細については
後述する。２は、テンキー等から構成された入力部であ
り、後述する券の購入試験の指示入力、パスワードの入
力等に用いられる。
施形態について説明する。図１は本発明の第一実施形態
による自動券売機の構成を示すブロック図である。この
図において、１は、装置各部を制御するＣＰＵ（中央処
理装置）であり、このＣＰＵ１の動作の詳細については
後述する。２は、テンキー等から構成された入力部であ
り、後述する券の購入試験の指示入力、パスワードの入
力等に用いられる。
【０００６】３は、ＣＰＵ１の制御により売上データＤ
uを記憶する主記憶部である。４は、券を発券する発券
部であり、券を発券する毎に当該券の売上データをＣＰ
Ｕ１へ出力する。５は、ＦＤ（フロッピーディスク）６
に対してリード／ライトを行うフロッピーディスクドラ
イブであり、このＦＤ６は、補助記憶部として用いられ
る。また、上記フロッピーディスクドライブ５には、券
の購入試験時に一時的に売上データＤuが記憶される。
uを記憶する主記憶部である。４は、券を発券する発券
部であり、券を発券する毎に当該券の売上データをＣＰ
Ｕ１へ出力する。５は、ＦＤ（フロッピーディスク）６
に対してリード／ライトを行うフロッピーディスクドラ
イブであり、このＦＤ６は、補助記憶部として用いられ
る。また、上記フロッピーディスクドライブ５には、券
の購入試験時に一時的に売上データＤuが記憶される。
【０００７】次に、上述した一実施形態による自動券売
機における券の購入試験時の動作について、図２に示す
フローチャートを参照しつつ説明する。今、図１に示す
主記憶部３には、実際の売上データＤuが記憶されてい
るものとする。この状態において、発券されない等の不
具合が発生したものとすると、作業員は、券の購入試験
を行うべく、入力部２を用いて購入試験開始命令を入力
する。これにより、入力部２からは、上記購入試験開始
命令に対応する信号がＣＰＵ１へ出力される。
機における券の購入試験時の動作について、図２に示す
フローチャートを参照しつつ説明する。今、図１に示す
主記憶部３には、実際の売上データＤuが記憶されてい
るものとする。この状態において、発券されない等の不
具合が発生したものとすると、作業員は、券の購入試験
を行うべく、入力部２を用いて購入試験開始命令を入力
する。これにより、入力部２からは、上記購入試験開始
命令に対応する信号がＣＰＵ１へ出力される。
【０００８】これにより、ＣＰＵ１は、図１に示すステ
ップＳ１へ進み、入力部２よりパスワードが入力された
か否かを判断し、判断結果が「ＮＯ」の場合、同判断を
繰り返す。ここで、上記パスワードは、作業員によりＣ
ＰＵ１に予め登録されており、不正使用を防止する目的
で用いられる。そして、今、作業員が入力部２を用いて
パスワードを入力すると、入力部２からは、上記パスワ
ードのデータがＣＰＵ１へ出力される。
ップＳ１へ進み、入力部２よりパスワードが入力された
か否かを判断し、判断結果が「ＮＯ」の場合、同判断を
繰り返す。ここで、上記パスワードは、作業員によりＣ
ＰＵ１に予め登録されており、不正使用を防止する目的
で用いられる。そして、今、作業員が入力部２を用いて
パスワードを入力すると、入力部２からは、上記パスワ
ードのデータがＣＰＵ１へ出力される。
【０００９】これにより、ＣＰＵ１は、ステップＳ１の
判断結果を「ＹＥＳ」として、ステップＳ２へ進む。ス
テップＳ２では、ＣＰＵ１は、入力されたパスワードと
予め登録されているパスワードを照合して、正しいパス
ワードが入力されたか否かを判断し、判断結果が「Ｎ
Ｏ」の場合、ステップＳ１へ戻り上述した動作を繰り返
す。今の場合、正しいパスワードが入力されたものとす
ると、ＣＰＵ１は、ステップＳ２の判断結果を「ＹＥ
Ｓ」としてステップＳ３へ進む。
判断結果を「ＹＥＳ」として、ステップＳ２へ進む。ス
テップＳ２では、ＣＰＵ１は、入力されたパスワードと
予め登録されているパスワードを照合して、正しいパス
ワードが入力されたか否かを判断し、判断結果が「Ｎ
Ｏ」の場合、ステップＳ１へ戻り上述した動作を繰り返
す。今の場合、正しいパスワードが入力されたものとす
ると、ＣＰＵ１は、ステップＳ２の判断結果を「ＹＥ
Ｓ」としてステップＳ３へ進む。
【００１０】ステップＳ３では、ＣＰＵ１は、主記憶部
３に記憶されている売上データＤuをフロッピーディス
クドライブ５へ移動させた後、ステップＳ４へ進む。こ
れにより、上記売上データＤuは、フロッピーディスク
ドライブ５によりＦＤ６に書き込まれる。すなわち、主
記憶部３に記憶されていた売上データＤuは、一時的に
ＦＤ６に退避される。
３に記憶されている売上データＤuをフロッピーディス
クドライブ５へ移動させた後、ステップＳ４へ進む。こ
れにより、上記売上データＤuは、フロッピーディスク
ドライブ５によりＦＤ６に書き込まれる。すなわち、主
記憶部３に記憶されていた売上データＤuは、一時的に
ＦＤ６に退避される。
【００１１】ステップＳ４では、ＣＰＵ１は、購入試験
を行う準備が完了した旨を作業員に報知する。これによ
り、これにより、作業員は、発券部４を用いて券を試験
的に発券するという購入試験を行う。この購入試験時に
おいて、発券された場合、発券部４からは、売上データ
がＣＰＵ１へ出力される。そして、ＣＰＵ１は、上記売
上データを試験売上データＤu’として主記憶部３に記
憶させる。そして、購入試験が終了すると、ＣＰＵ１
は、ステップＳ５へ進む。
を行う準備が完了した旨を作業員に報知する。これによ
り、これにより、作業員は、発券部４を用いて券を試験
的に発券するという購入試験を行う。この購入試験時に
おいて、発券された場合、発券部４からは、売上データ
がＣＰＵ１へ出力される。そして、ＣＰＵ１は、上記売
上データを試験売上データＤu’として主記憶部３に記
憶させる。そして、購入試験が終了すると、ＣＰＵ１
は、ステップＳ５へ進む。
【００１２】ステップＳ５では、ＣＰＵ１は、主記憶部
３に記憶されている試験売上データＤu’を消去した
後、ステップＳ６へ進む。ステップＳ６では、ＣＰＵ１
は、フロッピーディスクドライブ５を介してＦＤ６に記
憶されている売上データＤuを読み出した後、該売上デ
ータＤuを主記憶部３に書き込む。すなわち、売上デー
タＤuは、ＦＤ６から主記憶部３へ戻されたのである。
従って、今の場合、主記憶部３の記憶内容は、購入試験
開始前と同一の内容（売上データＤu）とされている。
３に記憶されている試験売上データＤu’を消去した
後、ステップＳ６へ進む。ステップＳ６では、ＣＰＵ１
は、フロッピーディスクドライブ５を介してＦＤ６に記
憶されている売上データＤuを読み出した後、該売上デ
ータＤuを主記憶部３に書き込む。すなわち、売上デー
タＤuは、ＦＤ６から主記憶部３へ戻されたのである。
従って、今の場合、主記憶部３の記憶内容は、購入試験
開始前と同一の内容（売上データＤu）とされている。
【００１３】以上説明したように、上述した一実施形態
による自動券売機によれば、従来の自動券売機のように
券の購入試験時に売上データＤuの集計が不要であるた
め、券の購入試験を短時間で行うことができる。さら
に、上述した一実施形態による自動券売機によれば、正
しいパスワードが入力された場合にのみ、券の購入試験
が行われるので、セキュリティを向上させることができ
る。
による自動券売機によれば、従来の自動券売機のように
券の購入試験時に売上データＤuの集計が不要であるた
め、券の購入試験を短時間で行うことができる。さら
に、上述した一実施形態による自動券売機によれば、正
しいパスワードが入力された場合にのみ、券の購入試験
が行われるので、セキュリティを向上させることができ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明によれば、従来の自動券売機のように券の購入試験
時に売上データの集計が不要であるため、券の購入試験
を短時間で行うことができるという効果が得られる。ま
た、請求項２に記載の発明によれば、正しいパスワード
が入力された場合にのみ、券の購入試験が行われるの
で、、セキュリティを向上させることができるという効
果が得られる。
発明によれば、従来の自動券売機のように券の購入試験
時に売上データの集計が不要であるため、券の購入試験
を短時間で行うことができるという効果が得られる。ま
た、請求項２に記載の発明によれば、正しいパスワード
が入力された場合にのみ、券の購入試験が行われるの
で、、セキュリティを向上させることができるという効
果が得られる。
【図１】 本発明の一実施形態による自動券売機の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】 同一実施形態による自動券売機における券の
購入試験時の動作を説明するフローチャートである。
購入試験時の動作を説明するフローチャートである。
１ ＣＰＵ（中央処理装置） ２ 入力部 ３ 主記憶部 ４ 発券部 ５ フロッピーディスクドライブ ６ ＦＤ（フロッピーディスク）
Claims (2)
- 【請求項１】 売上データを記憶する主記憶部と、 補助記憶部と、 券の購入試験時に、前記主記憶部に記憶されている前記
売上データを前記補助記憶部に退避させる一方、前記購
入試験終了後に、前記補助記憶部に記憶されている前記
売上データを前記主記憶部へ戻す制御部とを具備するこ
とを特徴とする自動券売機。 - 【請求項２】 前記購入試験時に、パスワードの入力に
用いられるパスワード入力部と、 正しいパスワードが入力されたか否かを判断する判断部
とを具備し、 前記制御部は、前記判断部の判断結果に基づいて、正し
いパスワードが入力された場合にのみ、券の購入試験時
に、前記主記憶部に記憶されている前記売上データを前
記補助記憶部に退避させる一方、前記購入試験終了後
に、前記補助記憶部に記憶されている前記売上データを
前記主記憶部へ戻すことを特徴とする請求項１に記載の
自動券売機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1457798A JPH11213182A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 自動券売機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1457798A JPH11213182A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 自動券売機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11213182A true JPH11213182A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11865027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1457798A Withdrawn JPH11213182A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 自動券売機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11213182A (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1998
- 1998-01-27 JP JP1457798A patent/JPH11213182A/ja not_active Withdrawn
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |