JPH11203485A - 画像測定装置 - Google Patents
画像測定装置Info
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- JPH11203485A JPH11203485A JP10004892A JP489298A JPH11203485A JP H11203485 A JPH11203485 A JP H11203485A JP 10004892 A JP10004892 A JP 10004892A JP 489298 A JP489298 A JP 489298A JP H11203485 A JPH11203485 A JP H11203485A
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Abstract
いて、オペレータの操作負担を軽減し、効率的に画像測
定を行う。 【解決手段】 教示により作成されたパートプログラム
はパートプログラムベース100に記憶され、パートプ
ログラムエンジン102がこれを読み出して実行する。
パートプログラムエンジン102は、パートプログラム
をイメージ処理部104及び命令実行処理部106に供
給する。イメージ処理部104は、パートプログラムの
内、イメージ処理(画面内のエッジ抽出を一括して実行
し、測定・データベース108に格納する。命令実行処
理部106は、エッジデータを用いて画面内の演算処理
を一括して実行する測定部位ごとに交互にエッジ抽出と
演算処理を行うのではなく、画面内の全ての測定部位に
対して一括してエッジ検出を行い、その後演算処理を実
行することで、オペレータの操作負担が軽減される。
Description
非接触三次元測定機などの画像測定装置、特にプログラ
ム(パートプログラム)を用いた測定に関する。
装置やCNC(Computer Numerical Control)画像測定
装置などが知られており、ICやリードフレーム、IC
パッケージの検査に用いられている。従来の画像測定装
置においては、測定対象であるリードフレーム等を測定
する場合、まず測定対象の測定すべき部分をカメラ等の
撮像手段で撮影してCRT上に表示させ、オペレータが
予めシステムに用意された測定ツールを選択し、画像内
の測定対象に対して個々にこの測定ツールを割り当てて
線幅や円の中心、半径等を測定していた。
測定のフローチャートが示されている。まず、測定対象
を測定するためのパートプログラムをスタートさせる
(S101)。このパートプログラムは、1つのサンプ
ルについてオペレータが測定手順をティーチング(教
示)し、測定対象の位置や形状等の情報を含んだ一連の
測定手順を記憶させて作成されたものである。次に、作
成されたパートプログラムファイルから命令を順次読み
出し(S102)、パートプログラムが終了していない
かどうかを確認した後(S103)、読み出したプログ
ラムファイル(命令)がステージ移動命令か否かを判定
する(S104)。ステージ移動命令とは、マニュアル
操作型の画像測定装置において、オペレータに対して操
作手段を用いてカメラなどの撮像手段とステージ上に載
置されているリードフレームやICなどの測定対象との
相対的位置を所定位置まで変化させるように指示する命
令である。
場合には、オペレータはこの指示に従って操作手段を用
いてステージを移動させ、カメラ等の撮像手段と測定対
象との相対位置が所定の位置になるように調整する(S
105)。
はS104で読み出した命令がステージ移動命令でない
場合には、読み出したプログラムファイルがツール(測
定ツール)命令か否かを判定する(S106)。ここ
で、測定ツールとは、例えば線幅を測定する際のボック
ス状のツールや、円を測定する際の円ツール等であり、
これらのツールを用いてリード線や穴等のエッジを検出
するものである。読み出したパートプログラムファイル
がこのツール命令である場合には、CRT上に表示され
ている画像内の測定対象にボックスツールや円ツールを
セットする(S107)。画面上に測定ツールをセット
した後、オペレータはエッジ検出を実行するための実行
命令を入力し(例えばキーボードの特定のキーを操作す
る:S108)、この実行命令に基づいてS107で設
定された測定ツールを用いてツール命令を実行する(S
109)。ツール命令実行とは、具体的には上述したよ
うに設定された測定ツールを用いて画像内のエッジを検
出するものであり、ツールを用いて画像上のエッジ点
(境界点)を幾つか検出し、検出した幾つかの点を最小
2乗法等を用いて近似し連続したエッジを検出する。
令)がステージ移動命令でもなく、ツール命令でもない
場合、具体的には検出されたエッジデータに基づいて線
幅や円の中心、円の半径等を演算する命令である場合に
は、S109で抽出されたエッジデータに基づき線幅演
算や円の中心演算など実行する(S110)。
−演算実行という一連のプロセスをCRT上に表示され
た画像内の1つ1つの測定対象に対して順次行い、1つ
の画像内の測定が終了した後、再びステージを移動させ
て同様の測定処理を繰り返していた。
うに画像内の個々の測定対象に対して測定ツールを設定
し、オペレータの操作によりエッジ検出処理を開始し、
画像内の全ての測定対象の測定が終了した後にステージ
を移動させ、さらに同様の処理を次の画面においても繰
り返すのは煩雑であり、オペレータの操作負担が大き
く、また、処理に要する時間(測定対象の検査時間)も
長くなる問題があった。
みなされたものであり、その目的は、ティーチングなど
により作成されたパートプログラムをより効率的に活用
し、オペレータの操作負担を軽減して従来以上に効率的
かつ短時間で測定対象の測定(検査)を完了することが
できる画像測定装置を提供することにある。
に、第1の発明は、測定対象を載置するステージと、こ
のステージに載置された測定対象を撮像する撮像手段
と、この撮像手段で撮像された画像を表示する表示手段
と、前記測定対象に対する前記撮像手段の撮像位置を変
化させるための位置調整用操作手段とを有するマニュア
ル操作型の画像測定装置において、測定手順をプログラ
ムとして記憶する記憶手段と、前記プログラムに従い、
測定すべき目標位置を指示する位置指示手段と、前記プ
ログラムに従い、画像内の全ての測定対象に測定用ツー
ルを割り当て、画像内の全ての測定対象のエッジを一括
して検出する第1処理手段と、検出されたエッジに基づ
いて所定の演算を一括して実行する第2処理手段とを有
することを特徴とする。
ステージと、このステージに載置された測定対象を撮像
する撮像手段と、この撮像手段で撮像された画像を表示
する表示手段と、前記測定対象に対する前記撮像手段の
撮像位置を変化させるための駆動手段とを有するCNC
型の画像測定装置において、測定手順をプログラムとし
て記憶する記憶手段と、前記プログラムに従い、画像内
の全ての測定対象に測定用ツールを割り当て、画像内の
全ての測定対象のエッジを一括して検出する第1処理手
段と、検出されたエッジに基づいて所定の演算を一括し
て実行する第2処理手段とを有することを特徴とする。
おいて、処理の開始を入力する入力手段をさらに備え、
前記第1処理手段及び前記第2処理手段は、前記入力手
段により処理の開始が入力された場合に、順次処理を実
行することを特徴とする。
おいて、前記第1処理手段は、前記プログラムの内容が
前記ステージの移動命令となるまで前記プログラムの内
容を先行して実行し、検出したエッジデータを保持する
ことを特徴とする。
おいて、前記第1処理手段は、割り当てた前記測定用ツ
ールを前記画像内に一括表示することを特徴とする。
おいて、前記プログラムは、教示により作成されること
を特徴とする。
形態について、マニュアル操作型を例にとり説明する。
操作型の画像測定装置の全体構成斜視図が示されてい
る。本実施形態の画像測定装置は、非接触画像計測型の
測定機本体1と、この測定機本体1のステージ移動操作
をアシストする処理を実行すると共に必要な測定データ
処理を実行するコンピュータシステム2と、測定機本体
1に対して必要な測定指令を与える指令入力部3と、こ
れら各部に安定した電力を供給する電源ユニット4を含
んで構成される。
ームやIC等の測定対象12を載置するステージ13が
装着されており、このステージ13はX軸駆動ツマミ1
4、Y軸駆動ツマミ15及び微動ツマミ16に対する手
動操作によってX軸方向及びY軸方向に駆動されるよう
になっている。架台11の後端部には上方に伸びるフレ
ーム17が固定されており、このフレーム17にCCD
カメラユニット18が支持されている。CCDカメラユ
ニット18は、Z軸駆動ツマミ19によってフレーム1
7に形成されたガイドレールに沿ってZ軸方向に移動可
能になっている。CCDカメラユニット18の内部には
ステージ13を上部から撮影するようにCCDカメラ2
0が取り付けられている。また、CCDカメラ20の下
端には、測定対象12に照明光を照射するためのリング
状の照明装置21が備えられている。
本体31、キーボード32、マウス33及びCRT34
を備えて構成されている。
置の構成ブロック図が示されている。CCDカメラ20
で撮像された測定対象12の画像信号は、A/D変換部
35でデジタル画像データに変換され、多値画像メモリ
36に格納される。多値画像メモリ36に格納されたデ
ジタル画像データは、表示制御部37の動作によってC
RT34上に表示される。CPU38は、オペレータの
指令又はプログラムメモリ39に格納されたカートプロ
グラムに従ってステージ移動のためのアシスト処理等の
各種処理を実行する。ワークメモリ40は、ステージ移
動操作時の測定目標位置を記憶する他、CPU38の各
種処理のための作業領域を提供する。
16のX、Y、Z軸方向位置をそれぞれ検出するための
X軸エンコーダ41、Y軸エンコーダ42及びZ軸エン
コーダ43が設けられ、これらエンコーダ41、42、
43からの出力はCPU38に供給される。CPU38
は、供給された各軸位置の情報とワークメモリ40に記
憶された目標位置とに基づいて、ステージ移動アシスト
のための各種の表示制御を実行する。さらに、照明制御
部44は、CPU38で生成された指令値に基づいてア
ナログ量の指令電圧を生成し、照明装置21に供給す
る。
CRT34に表示される表示画面が示されている。表示
画面は、カラービデオウインドウ51、グラフィックス
ウインドウ52、カウンタウインドウ53、ファンクシ
ョンウインドウ54、照明・ステージウインドウ55及
び測定ウインドウ56から構成されている。
カメラ16で撮像されたカラー画像(測定対象の一部拡
大)が表示される。グラフィックスウインドウ52に
は、CCDカメラ16で撮像されるステージの仮想的な
イメージが表示され、1つの表示形態としてはCCDカ
メラ16の撮像範囲より広い範囲のイメージが表示され
る。カウンターウインドウ53には、オペレータに対し
てステージ移動量を指示するためのガイダンスウインド
ウ53a及び現在のCCDカメラ16の撮像範囲の中心
位置と目標位置との差分値を示すカウンタ53bが表示
される。
差分値が表示され、カウンタ53bの全ての値が0とな
ることにより、CCDカメラ16の現在位置が目標位置
に一致することになる。
述したようにオペレータに対してステージ移動を促すた
めのメッセージを表示するウインドウであり、図におい
てはその一例として、「カウンタが(0、0、0)にな
る位置までステージを移動して下さい。」なるメッセー
ジが表示されている。このメッセージを見たオペレータ
は、カウンタ53bの値を見ながらX軸駆動ツマミ1
4、Y軸駆動ツマミ15及び微動ツマミ16を手動操作
し、さらにZ軸駆動ツマミ19を操作することによって
ステージを目標位置に移動させることができる。
ラ16とステージとの相対位置を目標位置に設定するた
めの他の表示方法も用いられている。すなわち、ビデオ
ウインドウ51には、その中心部に交点を持つ互いに直
交するX(水平)軸線61及びY(垂直)軸線62が表
示され、これらの交点に測定部位を配置することによ
り、測定位置の位置決めが容易になされるようになって
いる。これらX軸線61及びY軸線62の各両端には、
内向き矢印が形成されており、これら矢印を含めたX軸
線61及びY軸線62がビデオウインドウ51の垂直及
び水平方向の中央部を示す印となる。さらに、X軸線6
1及びY軸線62とそれぞれ平行に位置合わせ用水平線
63及び位置合わせ用Y軸線64が重ねて表示されてお
り、これらの位置合わせ用の各軸線63、64は、現在
のステージ位置と目標位置とのすれ量を示すことにな
る。従って、オペレータは、カウンタ53bの値が0に
なるように調整してもよく、あるいはこれらの各軸線6
3、64がX軸線61及びY軸線62に一致するように
ステージ位置を調整することもできる。
時、あるいは軸線63、64がX軸線61及びY軸線6
2と一致した時には、これらの表示色を変化させること
によりオペレータに目標位置に到達したことを視認させ
ることも可能である。
測定処理(エッジ検出)及び測定値を算出(演算処理)
するためのマイクロプログラムを起動するアイコンが配
置されており、測定ツールもこのファンクションウイン
ドウ54内に配置されている。測定ツールには、上述し
たボックスツールや円ツールが含まれる。
置17やステージに関する各種設定操作のためのウイン
ドウであり、測定ウインドウ56は、ファンクションウ
インドウ54で選択された測定マイクロプログラムに沿
った測定操作を行うためのウインドウである。
タシステム2のソフトウエア構造が模式的に示されてい
る。オペレータがティーチング(教示)により作成した
パートプログラムはパートプログラムデータベース10
0に格納されており、検査時にはこのパートプログラム
が読み出されて順次マクロ・パートプログラムエンジン
(図ではマクロ・パートプロと略記されている)102
に供給される。マクロ・パートプログラムエンジン10
2は、読み出したパートプログラムをイメージ処理部1
04と命令実行処理部106に供給する。本実施形態に
おける特徴の1つは、このようにパートプログラムを実
行する実行部がイメージ処理部104と、命令実行処理
部106に分離されている点であり、イメージ処理部1
04ではパートプログラム内のイメージ処理(具体的に
は被測定対象の測定部位に測定ツールを設定し、エッジ
を一括抽出する)のみを実行して処理結果を測定・デー
タベース108に格納する。また、命令実行処理部10
6では、測定・データベース108に格納されているエ
ッジデータを読み出し、所定の演算処理(線幅測定や円
の中心座標測定、円の半径測定、心円度)のみを実行す
る。なお、ハードウエアとの対応においては、パートプ
ログラムデータベース100はプログラムメモリ39で
あり、マクロ・パートプログラムエンジン102、イメ
ージ処理部104、命令実行処理部106はCPU3
8、測定・データベース108はワークメモリ40に対
応する。
におけるパートプログラムの実行処理について説明す
る。
びこの部分を撮像するための3つのCRT上画面(画面
1、画面2、画面3)並びに各画面において存在する測
定対象に対して設定される測定ツールが模式的に示され
ている。図中、実線が測定対象であるリード線や装着穴
であり、一点鎖線は割り当てられる測定ツールを示して
いる。ICの1部分の各測定部位の正確な位置はティー
チング(教示)により与えられており、イメージ処理部
104はこれらの位置に測定ツールを一括して割り当
て、画面上に表示する。具体的には、リード線70に対
して2つのボックスツール110を割り当てて表示し、
素子装着用穴72には円ツール112を割り当てる。な
お、穴73は画面1、画面2、画面3にわたるような大
きなものであり、これに対応した円ツール114も、3
つの画面にわたって設定される。もちろん、これら3つ
の画面はCRT34上に同時に表示されることはなく、
順次表示されるものである。従って、円ツール113も
各画面においては完全な円ではなく、その円の一部とし
て表示される。なお、この円ツール113についてはさ
らに後述する。
1、画面2、画面3)におけるパートプログラムの一例
が示されている。まず、画面1においては測定開始後リ
ード線70の線幅を測定すべく線測定が行われる。線測
定は、まずリード線70の両端のエッジを検出すること
により行われ、ボックスツールを割り当て(ツール命
令)、そのエッジを検出して結果を出力する(演算命
令)。パートプログラムとしては、リード線の両端のエ
ッジを検出するために2つの線測定処理が必要となる。
次に、画面1内においては素子装着用穴72が存在する
ため、この穴の中心や半径などを計測すべく円測定が必
要となる。したがって、パートプログラムには、円ツー
ル設定及び結果出力命令が存在する。さらに、画面1に
は素子装着用穴73の一部も存在するため、これを測定
するための円測定処理も必要となる。そこで、画面1内
のパートプログラムとしては、まず穴73の一部を測定
すべく円ツールの一部であるシンプルツールを複数設定
する。
ており、円の中心方向から外側に向かう放射状の矢印ツ
ール113aである。このシンプルツール上のエッジを
検出することで、円ツールと同様に穴のエッジを検出す
る。
は、まず画面1から画面2に移行するためのステージ移
動命令から始まり、次に穴73を測定すべくシンプルツ
ールを割り当てる処理(ツール命令)が必要となる。こ
のシンプルツールは、画面1におけるシンプルツールと
同様に図7に示す矢印113aを画面2内に存在する穴
73に割り当てるものである。
は、まず画面2から画面3に移行するためのステージ移
動命令から始まり、画面3内に存在する穴73に円ツー
ルの一部であるシンプルツールを割り当てる処理(ツー
ル命令)が必要となる。測定ツールの割り当てが終了し
た後、円ツール113による処理、すなわちシンプルツ
ールによって検出されたエッジを用いて演算処理を行
い、その結果を出力して終了する。
104と命令実行処理部106がこのようなパートプロ
グラムを実行する際の具体的処理内容について説明す
る。
ジ処理部104及び命令実行処理部106の処理が示さ
れている。イメージ処理部104は、測定開始後、まず
パートプログラムの中で次のステージ移動命令までイメ
ージ処理に関係する全ての命令を先読みする。具体的に
は、処理ポインタを測定開始から次のステージ移動命令
まで移動させ、この間のボックスツール命令や円ツール
命令、シンプルツール命令を読み込んで画面1内に存在
する測定対象に対してイメージ処理(ツールによるエッ
ジ検出)を実行する。ボックスツールでは、リード線7
0の両端のエッジが検出され、また円ツールでは穴72
のエッジが検出される。さらに、複数のシンプルツール
では、画面1内に存在する穴73のエッジが検出され
る。これらのエッジデータは、測定・データベース10
8内に順次格納される。
面1内における全ての測定対象に対して測定ツールを割
り当て、そのエッジを検出)が終了した後、図9に示さ
れるように命令実行処理部106がこれらのエッジデー
タを用いて所定の演算を行う。具体的には、命令実行処
理部106は処理ポインタを穴73の測定に相当する円
測定処理まで移動させ、リード線70の測定及び穴72
の測定を一括して行う。すなわち、測定・データベース
108に記憶されているリード線70のエッジデータを
順次読み出してリード線70の線幅を演算し、また穴7
2のエッジデータを順次読み出してその中心座標と半径
(さらには真円度)を演算して出力する。穴73に関し
ては、画面1内のエッジデータだけではその結果を出力
することができないので、処理ポインタを停止させてお
き、演算処理は未だ実行しない。
ステージ移動命令によりガイダンスウインドウ53a内
にステージ移動を指示するメッセージが表示されるため
(図3参照)、これに従って次の画面2を表示させるた
めの目標位置までステージを移動させる。このステージ
移動は、上述したようにカウンタウインドウ53bの値
が(0、0、0)となる位置まで移動させればよい。
面2が表示された場合、イメージ処理部104及び命令
実行処理部106はこの画面2における処理に移行す
る。
されている。イメージ処理部104は、次のステージ移
動命令までパートプログラム内のイメージ処理に関する
命令を全て先読みし、画面2内の測定対象に対してイメ
ージ処理を実行する。具体的には、パートプログラム内
にシンプルツール命令が存在するため、このシンプルツ
ールを当てはめ、エッジを検出する。検出されたエッジ
データは、図5に示されるように穴73のうち画面2内
に存在する部分のエッジである。検出されたエッジデー
タは、同様にして測定・データベース108内に順次格
納される。
タは円測定で停止しており、この画面2においては他の
処理を行わない。その理由は、上述したように穴73に
関しては画面2におけるイメージ処理(エッジ検出)の
後でも全てのデータがそろっておらず、円の中心座標や
半径等を演算することができないからである。
が再びガイダンスウインドウ53aの指示に従ってステ
ージを移動させ、CRT34上に画面3が表示される
と、イメージ処理部104及び命令実行処理部106は
この画面3内における処理に移行する。
イメージ処理部104及び命令実行処理部106の処理
内容が示されている。まず、イメージ処理部104は、
パートプログラムの最後までイメージ処理に関係する全
ての命令を先読みして実行する。具体的には、画面3内
の穴73にシンプルツールを割り当て、そのエッジを検
出して測定・データベース108に順次格納する。
示されるようにイメージ処理部104での処理が終了し
た後、処理ポインタをパートプログラムの最後まで移動
させ、測定・データベース108に格納されているエッ
ジデータを用いて所定の演算を実行し、その結果を出力
する。具体的には、シンプルツールにより抽出された穴
73のエッジデータ(画面1、画面2、画面3全ての画
面におけるエッジデータ)を用いて穴73の中心座標や
半径さらには真円度等を演算して出力する。
の操作を含めてフローチャートとして示されている。ま
ず、パートプログラムをスタートさせると(S20
1)、パートプログラムファイルから命令を読み出し
(S202)、パートプログラムが終了したか否かを確
認した後(S203)、読み出したプログラムファイル
がステージ移動命令か否かを判定する(S204)。ス
テージ移動命令でない場合には、読み出したプログラム
ファイルが測定ツール命令か否かを判定する(S20
5)。測定ツール命令である場合には、次のステージ移
動命令がくるまで全てのツール命令を読み出して記憶し
(S206)、ツール命令でない場合、すなわち演算命
令である場合には、次のステージ移動命令がくるまで全
ての演算命令を読み出して記憶する(S207)。
テージ移動命令である場合(S204でYES)には、
オペレータはガイダンスウインドウ53aに表示された
メッセージに従ってステージを移動させる。ステージの
移動が完了した後、キーボード32やマウス33を用い
てエッジ検出実行を入力する(S208)。このオペレ
ータからの入力があると、S206で記憶した全てのツ
ール命令をその画面内の測定対象に対して一括実行して
エッジを検出し、検出したエッジデータを保持する(S
209)。そして、次にS207で記憶した演算命令を
一括して実行し、線幅や円の中心等を算出する(S21
0)。以上の処理をパートプログラムが終了するまで繰
り返し実行する。
ト及び図13に示された本実施形態のフローチャートを
比較すれば、本実施形態においてはオペレータの操作が
格段に減少していることが明らかであろう。
ジ移動命令が読み出されるまで、すなわち1つの画面内
において測定ツールによるエッジ検出処理及び検出エッ
ジデータを用いた演算処理を順次一括して実行するもの
であり、従来のようにオペレータは画面内に存在する測
定対象毎にエッジ検出操作と演算操作を繰り返す必要が
なく、単にステージ移動後の実行入力のみで済むことに
なり、操作負担が著しく軽減される。
処理(エッジ抽出処理)と命令実行処理(所定の演算処
理)をお互いに分離させ、これらをそれぞれ一括して処
理するため、従来のように測定部位ごとにエッジ検出
し、演算を行う場合に比べ、効率的に測定を行うことが
できる。
作型の画像測定装置を例に取り説明したが、CNC型の
画像測定装置でも同様に適用することができる。ただ
し、CNC型の画像測定装置では、ステージは駆動機構
により自動的に移動されるため、ガイダンスウインドウ
53a等は不要となる。
定装置の全体構成斜視図が示されており、図16にはそ
の構成ブロック図が示されている。図1及び図2に示さ
れたマニュアル操作型の画像測定装置と異なる点は、ス
テージがモータ等により駆動される点であり、X軸駆動
系44、Y軸駆動系45、Z軸駆動系46に対してCP
U35が制御信号を供給することで、CCDカメラ16
とステージの相対位置を目標位置に自動調整することが
できる。
したがってCCDカメラ16とステージの相対位置を目
標位置に自動調整することもできるが、ガイダンスウイ
ンドウ53aにメッセージを表示させてオペレータにス
テージ移動を促し、キーボード22やマウス23からの
指令をインターフェースI/F34を介して入力し、こ
の指令に基づいてX軸駆動系44、Y軸駆動系45、Z
軸駆動系46に制御信号を出力してもよい。
ッジ検出処理と演算処理を分離し、1つの画面内でそれ
ぞれの処理を順次一括して実行するため、オペレータの
操作負担が軽減されると共に、効率的に測定対象の画像
測定を行うことができる。
定装置の斜視図である。
定装置の構成ブロック図である。
定装置のCRT表示例を示す説明図である。
説明図である。
ツール並びに複数の画面との関係を示す説明図である。
明図である。
を示す説明図(その1)である。
を示す説明図(その2)である。
容を示す説明図(その3)である。
容を示す説明図(その4)である。
容を示す説明図(その5)である。
ある。
定装置の斜視図である。
定装置の構成ブロック図である。
入力部、4 電源ユニット、11 架台、12 測定対
象、13 ステージ、20 CCDカメラ、31 コン
ピュータ本体、32 キーボード、33 マウス、34
CRT、36価値画像メモリ、37 表示制御部、3
8 CPU、39 プログラムメモリ、40 ワークメ
モリ、51 カラービデオウインドウ、52 グラフィ
ックスウインドウ、53 カウンタウインドウ、53a
ガイダンスウインドウ、54ファンクションウインド
ウ、70 リード線、72,73 素子装着用穴、10
0 パートプログラムデータベース、102 マクロ・
パートプログラムエンジン(マクロ・パートプロエンジ
ン)、104 イメージ処理部、106 命令実行処理
部、108 測定・データベース、110 ボックスツ
ール、112,113 円ツール、113a シンプル
ツール。
Claims (6)
- 【請求項1】 測定対象を載置するステージと、 このステージに載置された測定対象を撮像する撮像手段
と、 この撮像手段で撮像された画像を表示する表示手段と、 前記測定対象に対する前記撮像手段の撮像位置を変化さ
せるための位置調整用操作手段と、 を有する画像測定装置において、 測定手順をプログラムとして記憶する記憶手段と、 前記プログラムに従い、測定すべき目標位置を指示する
位置指示手段と、 前記プログラムに従い、画像内の全ての測定対象に測定
用ツールを割り当て、画像内の全ての測定対象のエッジ
を一括して検出する第1処理手段と、 検出されたエッジに基づいて所定の演算を一括して実行
する第2処理手段と、 を有することを特徴とする画像測定装置。 - 【請求項2】 測定対象を載置するステージと、 このステージに載置された測定対象を撮像する撮像手段
と、 この撮像手段で撮像された画像を表示する表示手段と、 前記測定対象に対する前記撮像手段の撮像位置を変化さ
せるための駆動手段と、 を有する画像測定装置において、 測定手順をプログラムとして記憶する記憶手段と、 前記プログラムに従い、画像内の全ての測定対象に測定
用ツールを割り当て、画像内の全ての測定対象のエッジ
を一括して検出する第1処理手段と、 検出されたエッジに基づいて所定の演算を一括して実行
する第2処理手段と、 を有することを特徴とする画像測定装置。 - 【請求項3】 処理の開始を入力する入力手段をさらに
備え、 前記第1処理手段及び前記第2処理手段は、前記入力手
段により処理の開始が入力された場合に、順次処理を実
行することを特徴とする請求項1、2のいずれかに記載
の画像測定装置。 - 【請求項4】 前記第1処理手段は、前記プログラムの
内容が前記ステージの移動命令となるまで前記プログラ
ムの内容を先行して実行し、検出したエッジデータを保
持することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載
の画像測定装置。 - 【請求項5】 前記第1処理手段は、割り当てた前記測
定用ツールを前記画像内に一括表示することを特徴とす
る請求項1〜4のいずれかに記載の画像測定装置。 - 【請求項6】 前記プログラムは、教示により作成され
ることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の画
像測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10004892A JPH11203485A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 画像測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10004892A JPH11203485A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 画像測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11203485A true JPH11203485A (ja) | 1999-07-30 |
Family
ID=11596333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10004892A Pending JPH11203485A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 画像測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11203485A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002251603A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 画像処理プログラム作成方法およびそのシステム |
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US6968080B2 (en) | 2000-05-10 | 2005-11-22 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for generating part programs for use in image-measuring instruments, and image-measuring instrument and method of displaying measured results therefrom |
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JP2011159319A (ja) * | 2001-08-23 | 2011-08-18 | Fei Co | 画像上または撮像されたオブジェクト上で動作を実行する方法、画像またはオブジェクト上で反復的な動作を実行する方法、幾何学的情報と非幾何学的情報をグラフィック図形に関連付けるステップを含む動作を制御する方法、計測プランを含む方法およびコンピュータ可読媒体 |
-
1998
- 1998-01-13 JP JP10004892A patent/JPH11203485A/ja active Pending
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JP2009037634A (ja) * | 2001-11-16 | 2009-02-19 | Mitsutoyo Corp | マシンビジョンシステムの作動方法及びケース特有境界位置決めシステム |
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