JPH11201914A - パッケージの汚れ検査方法 - Google Patents

パッケージの汚れ検査方法

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Publication number
JPH11201914A
JPH11201914A JP2150398A JP2150398A JPH11201914A JP H11201914 A JPH11201914 A JP H11201914A JP 2150398 A JP2150398 A JP 2150398A JP 2150398 A JP2150398 A JP 2150398A JP H11201914 A JPH11201914 A JP H11201914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dirt
package
voltage signal
inspection
bunching
Prior art date
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Pending
Application number
JP2150398A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Shirakawa
雅彦 白川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Machinery Ltd
Original Assignee
Murata Machinery Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Murata Machinery Ltd filed Critical Murata Machinery Ltd
Priority to JP2150398A priority Critical patent/JPH11201914A/ja
Publication of JPH11201914A publication Critical patent/JPH11201914A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H63/00Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
    • B65H63/006Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package quality control of the package
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H2701/00Handled material; Storage means
    • B65H2701/30Handled filamentary material
    • B65H2701/31Textiles threads or artificial strands of filaments

Abstract

(57)【要約】 【解決手段】静止又は回転しているパッケージPの表面
からの反射光を検出して、パッケージの表面の汚れを検
査するに際し、バンチ糸y1の糸の影や糸端の影等を、
パッケージの汚れ検査から除外するようにしたパッケー
ジの汚れ検査方法に関するものである。 【効果】汚れでないバンチ糸等の糸の影を、汚れと誤判
定することが防止でき、正確なパッケージの汚れ検査を
行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージの表面
の汚れを検出するパッケージの汚れ検査方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】本出願人は、先の出願(特開平7−35
695号公報等)において、回転しているパッケージの
表面を照射する、所定の波長帯域を有する光源と、パッ
ケージの表面からの反射光の強度を検出する光センサー
と、該光センサーの検出信号を処理する処理システムと
により、パッケージの表面の汚れを検出するパッケージ
の汚れ検査方法を提案した。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したパッケージの
汚れ検査方法により、パッケージの表面の汚れを精度よ
く検出することが可能となったが、パッケージの表面に
巻回されているバンチ巻き糸等の糸の影を汚れと判定す
るという問題があった。
【0004】本発明の目的は、上述したパッケージの汚
れ検査方法の誤判定をなくして、より精度の向上したパ
ッケージの汚れ検査方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を達成するために、第1には、静止又は回転しているパ
ッケージの表面からの反射光を検出して、パッケージの
表面の汚れを検査するに際し、バンチ糸の糸の影や糸端
の影等を、パッケージの汚れ検査から除外するようにし
たものであり、第2には、バンチ糸等の糸の影からの反
射光の電圧信号を判定基準としたものであり、第3に
は、濃い汚れではなく、且つ、面積の狭い汚れを、パッ
ケージの汚れ検査から除外するようにしたものである。
【0006】
【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する
が、本発明の趣旨を超えない限り何ら、本実施例に限定
されるものではない。
【0007】先ず最初に、図1を用いて、パッケージの
上部端面の汚れを検査する場合のパッケージの汚れ検査
方法が適用される一例としての検査装置の全体構成につ
いて説明する。
【0008】1は、暗室であり、暗室1内には、複数の
検査ステーションS2〜S5が設けられており、検査ス
テーションS2〜S5の手前には、待機ステーションS
1が設けられており、また、検査ステーションS2〜S
5の直後には、払い出しステーションS6が設けられて
いる。検査されるパッケージPは、トレイTに載置され
ており、図示されていない搬送装置により、搬送される
ように構成されている。
【0009】2は、所定の検査ステーションに配設され
たトレイ回転装置であり、トレイ回転装置2は、トレイ
Tの下面に接触するほぼ円錐状の回転体3と、該回転体
3の回転軸に取着されたプーリー4と、モーター5と、
該モーター5の出力軸に取着されたプーリー6と、該プ
ーリー6の回転を、各回転体3の回転軸に取着されたプ
ーリー4に伝達する駆動ベルト7とを有しており、モー
ター5を回転駆動することにより、プーリー6、駆動ベ
ルト7及びプーリー4を介して、回転体3を回転させ、
該回転体3の回転により、該回転体3と接触しているト
レイTを回転することができるように構成されている。
【0010】8は、トレイ回転装置2により回転される
トレイTに載置されているパッケージPのボビンBの上
端を押さえるボビン押さえ装置であり、ボビン押さえ装
置8は、シリンダー等の適当な駆動装置により、上下動
自在な一本の支持ロッド9と、支持ロッド9に取着され
た軸10に回転自在に枢支された押さえ部材11とから
構成されており、トレイ回転装置2により回転されるト
レイTに載置されているパッケージPのボビンBの上端
を、押さえ部材11で押さえることにより、回転中のパ
ッケージPのぐらつきを防止するように構成されてい
る。
【0011】次に、図2及び図3を用いて、上述した検
査ステーションS3〜S5のいずれかに配設されている
パッケージの汚れ検査手段について説明する。
【0012】パッケージPの上部端面p1に、不良パッ
ケージとして排除する必要のある濃い汚れs1及び濃さ
の点からは不良パッケージとして排除する必要はない
が、不良パッケージとして排除する必要がある面積の広
い汚れs2が存在するとともに、巻き終わりの糸をボビ
ンに巻き付けるバンチ巻きのために、パッケージの最外
層からボビンに至る糸経路を持つバンチ糸y1が存在す
るパッケージPを例に、本実施例について説明する。
【0013】d1は、パッケージPの側方に配設された
ブラックライト等の光源であり、d2は、パッケージP
の上方に配設されたラインセンサーであり、ラインセン
サーd2は、d3として示されている半径方向の細長い
検査部位を検査できるように、画素が検査部位d3の長
手方向に列状に並んだCCDカメラとして構成されてい
る。ラインセンサーd2は、トレイTに載置され回転さ
れているパッケージPの端面p1の検査部位d3に沿っ
た明暗を検査し、検査信号を出力するように構成されて
いる。
【0014】光源d1からの光線が、パッケージPの端
面p1に存在する濃い汚れs1や面積の広い汚れs2や
バンチ糸y1に反射されて発生する反射光を受けて、ラ
インセンサーd2は、図3に示されているような電圧信
号(v)を発生する。
【0015】電圧レベルv1は、パッケージPの端面p
1に汚れやバンチ糸が存在しない場合で、ラインセンサ
ーd2に入る反射光が一番強い場合である。電圧レベル
v2は、パッケージPの端面p1に濃い汚れs1が存在
することを示すラインセンサーd2からの電圧信号であ
り、反射光が急激に弱くなるので、ラインセンサーd2
からの電圧信号も急激に落ちることが示されている。ま
た、v3は、バンチ糸y1の影に起因する電圧信号の落
下であり、バンチ糸y1の影は薄く、且つ、バンチ糸y
1の幅も狭いので、電圧レベルの落ちも少ない。v4
は、濃さの点からは、不良パッケージとして排除する必
要はないが、不良パッケージとして排除する必要があ
る、面積の広い汚れs2に起因する電圧信号であり、バ
ンチ糸y1と同様に、電圧信号の落下は小さいが、電圧
信号の落下幅が広い。
【0016】上述したように、不良パッケージとして排
除する必要のある濃い汚れs1と、濃さの点からは不良
パッケージとして排除する必要はないが、不良パッケー
ジとして排除する必要がある、電圧信号の落下幅が広い
汚れs2と、バンチ糸y1とでは、ラインセンサーd2
に入る反射光の強さによって発生する電圧信号の落ち込
み深さと落ち込み幅に相違がある。
【0017】濃い汚れs1の場合には、電圧信号の基準
面(パッケージPの端面p1に汚れやバンチ糸が存在し
ない場合の電圧信号レベルv1)での幅v2’は狭い
が、落ち込み量v2”は大きい。また、バンチ糸y1の
影に起因する電圧信号の基準面での幅v3’は、上記の
濃い汚れs1の場合とほぼ同じであるが、落ち込み量v
3”が小さいので、バンチ糸y1の落ち込み電圧面積a
3(図3においてハッチングで示されている部分)は、
濃い汚れs1の場合いの落ち込み電圧面積a2より小さ
い。更に、濃さの点からは、不良パッケージとして排除
する必要はないが、面積の広い汚れs2は、電圧信号の
落ち込み量v4”は小さいが、落ち込み幅v4’は広い
ので、落ち込み電圧面積a4は、バンチ糸y1の落ち込
み電圧面積a3より大きいことになる。
【0018】従って、信号処理回路や比較回路等から構
成されている演算装置Cにより、上述した光源d1から
ラインセンサーd2に入る反射光の電圧信号の落ち込み
面積を、バンチ糸y1等の糸の影の場合の電圧信号を基
準にして、該バンチ糸y1等の糸の影の場合の電圧信号
の落ち込み面積より大きな面積かどうかを判定すること
により、不良パッケージとして排除する必要のある濃い
汚れs1と、濃さの点からは、不良パッケージとして排
除する必要はないが、不良パッケージとして排除する必
要がある、面積の広い汚れs2を、バンチ糸y1等の糸
の影とから判別して、排除する必要のある不良パッケー
ジのみを、確実に、排除することができる。
【0019】上述したように、バンチ糸y1等の糸に起
因する影を、濃い汚れs1や濃くはないが面積の広い汚
れs2の検査数から除外するように構成したので、汚れ
でないバンチ糸y1等の糸に起因する影を汚れと誤判定
することが防止できる。
【0020】また、バンチ糸y1の有無により、汚れの
検査結果に差が生ずることがないので、排除すべきパッ
ケージPのみを、確実に排除することができるようにな
った。
【0021】更に、従来の汚れ検査方法においては、バ
ンチ糸y1等の糸と同様に、検査数に加える必要のな
い、濃い汚れではなく、且つ、面積の狭い汚れを、検査
数に加えていたが、濃い汚れではなく、且つ、面積の狭
い汚れは、バンチ糸y1等の糸の影と同様に、電圧信号
の基準面での幅も狭く、落ち込み量も小さいので、従っ
て、このような濃い汚れではなく、且つ、面積の狭い汚
れが、検査数にカウントされることがない。
【0022】
【発明の効果】本発明は、以上説明した構成を有してい
るので、以下に記載する効果を奏するものである。
【0023】汚れでないバンチ糸やその他の糸端や表面
の巻き模様等により発生する糸の影を、汚れと誤判定す
ることが防止でき、正確なパッケージの汚れ検査を行う
ことができる。
【0024】バンチ巻きの有無により、パッケージの汚
れ検査に差がでるようなことがなくなった。
【0025】汚れ検査数に加える必要のない、濃い汚れ
ではなく、且つ、面積の狭い汚れを、パッケージの汚れ
検査数から除外することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明のパッケージの汚れ検査方法が適
用される一例としてのパッケージ検査装置全体を示す概
略側面図である。
【図2】図2は本発明のパッケージの汚れ検査方法が適
用される一例としてのパッケージ検査装置の概略平面図
である。
【図3】図3は本発明のパッケージの汚れ検査方法にお
ける一例としての電圧信号グラフである。
【符号の説明】
P・・・・・・・・・パッケージ d1・・・・・・・・光源 d2・・・・・・・・ラインセンサー s1・・・・・・・・濃い汚れ s2・・・・・・・・薄く、且つ、面積に広い汚れ y1・・・・・・・・バンチ糸

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】静止又は回転しているパッケージの表面か
    らの反射光を検出して、パッケージの表面の汚れを検査
    するに際し、バンチ糸の糸の影や糸端の影等を、パッケ
    ージの汚れ検査から除外することを特徴とするパッケー
    ジの汚れ検査方法。
  2. 【請求項2】バンチ糸等の糸の影からの反射光の電圧信
    号を判定基準としたことを特徴とする請求項1に記載の
    パッケージの汚れ検査方法。
  3. 【請求項3】濃い汚れではなく、且つ、面積の狭い汚れ
    を、パッケージの汚れ検査から除外することを特徴とす
    る請求項1又は請求項2に記載のパッケージの汚れ検査
    方法。
JP2150398A 1998-01-19 1998-01-19 パッケージの汚れ検査方法 Pending JPH11201914A (ja)

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JP2150398A JPH11201914A (ja) 1998-01-19 1998-01-19 パッケージの汚れ検査方法

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