JPH1117291A - プリント配線基板 - Google Patents
プリント配線基板Info
- Publication number
- JPH1117291A JPH1117291A JP16255397A JP16255397A JPH1117291A JP H1117291 A JPH1117291 A JP H1117291A JP 16255397 A JP16255397 A JP 16255397A JP 16255397 A JP16255397 A JP 16255397A JP H1117291 A JPH1117291 A JP H1117291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guard
- pattern
- pads
- pad
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0216—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
- H05K1/0218—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference by printed shielding conductors, ground planes or power plane
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
Landscapes
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、ガードパターンのパターン切れを
容易にチェック可能としたプリント配線基板を提供す
る。 【解決手段】 導通チェック用の複数のガードパッド
と、該ガードパッド間の一方は信号パターンを囲いめぐ
らすガードパターンと、該ガードパッド間の他方は相互
にオーバラップするオーバラップガードパターンとを具
備して、ガードパターンの導通チェックが、ガードパッ
ド間でできる解決手段。
容易にチェック可能としたプリント配線基板を提供す
る。 【解決手段】 導通チェック用の複数のガードパッド
と、該ガードパッド間の一方は信号パターンを囲いめぐ
らすガードパターンと、該ガードパッド間の他方は相互
にオーバラップするオーバラップガードパターンとを具
備して、ガードパターンの導通チェックが、ガードパッ
ド間でできる解決手段。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号パターンをガ
ードするガードパターンを有するプリント配線基板に関
する。
ードするガードパターンを有するプリント配線基板に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の例について、図４〜図７を参
照して説明する。図４に示すように、従来のプリント配
線基板のパターン構成の１例は、信号パッド４０と部品
パッド４３とを結ぶ信号パターン３０と、信号パッド４
１と信号パッド４２とを結ぶ信号パターン３１と、前記
部品パッド４３と部品を接続する部品パッド４４とで構
成している。
照して説明する。図４に示すように、従来のプリント配
線基板のパターン構成の１例は、信号パッド４０と部品
パッド４３とを結ぶ信号パターン３０と、信号パッド４
１と信号パッド４２とを結ぶ信号パターン３１と、前記
部品パッド４３と部品を接続する部品パッド４４とで構
成している。
【０００３】ここにパッドとは、ランドともいい、プリ
ント配線基板の表面に設けられた部品との接続または部
品の取り付け、あるいはその両方に用いられる導体パタ
ーンの一部である。
ント配線基板の表面に設けられた部品との接続または部
品の取り付け、あるいはその両方に用いられる導体パタ
ーンの一部である。
【０００４】信号パターン３０と信号パターン３１間の
ように平行したパターンや、また部品パッド４３と部品
パッド４４間のように近接したパッド間との高い絶縁性
が必要とされる場合がある。
ように平行したパターンや、また部品パッド４３と部品
パッド４４間のように近接したパッド間との高い絶縁性
が必要とされる場合がある。
【０００５】そこで、図５に示すように、プリント配線
基板のパターンとしては、絶縁をしたい信号パターン３
０の周囲を、閉ループパターンを形成するガードパター
ン１０で囲いめぐらせてガードしている。
基板のパターンとしては、絶縁をしたい信号パターン３
０の周囲を、閉ループパターンを形成するガードパター
ン１０で囲いめぐらせてガードしている。
【０００６】そして、図６に示すガードするための回路
例としては、入力信号６０の電位を、ボルテージフォロ
ワ６２で受けて、そのガード電位出力６３をガード６４
に接続して、ガード６４の電位をドライバ６５の出力信
号６１の変化に追従して同電位となるようにしている。
例としては、入力信号６０の電位を、ボルテージフォロ
ワ６２で受けて、そのガード電位出力６３をガード６４
に接続して、ガード６４の電位をドライバ６５の出力信
号６１の変化に追従して同電位となるようにしている。
【０００７】さらに、前記ドライバ６５の出力信号６１
を信号パターン３０の信号パッド４０に接続し、ガード
パッド２０にボルテージフォロワ６２のガード電位出力
６３を接続している。
を信号パターン３０の信号パッド４０に接続し、ガード
パッド２０にボルテージフォロワ６２のガード電位出力
６３を接続している。
【０００８】従って、ガードされた信号パターン３０か
ら、ガードパターン１１へは同電位であり電流が流れな
いので、他の信号パターン３１や部品パッド４４とは絶
縁されることになる。
ら、ガードパターン１１へは同電位であり電流が流れな
いので、他の信号パターン３１や部品パッド４４とは絶
縁されることになる。
【０００９】しかし、図７に示すように、プリント配線
基板を製造する過程において、ガードパターン１０の一
部にパターン切れ７０が発生することがある。このと
き、信号パターン３０と信号パターン３１間の電位差と
プリント配線基板の絶縁抵抗Ｒにより漏洩電流が流れ
る。
基板を製造する過程において、ガードパターン１０の一
部にパターン切れ７０が発生することがある。このと
き、信号パターン３０と信号パターン３１間の電位差と
プリント配線基板の絶縁抵抗Ｒにより漏洩電流が流れ
る。
【００１０】この場合、プリント配線基板の検査におい
て、原理的には、ボードチェッカ等で、ガードパッド２
０と信号パッド４１間、ガードパッド２０と部品パッド
４４間に、プローブを押し当ててパターン切れの検出は
可能である。しかし、信号パターンや部品パッド数が多
いと、導通チェックをするパッド間の組合せが多くなる
ので複雑となる。
て、原理的には、ボードチェッカ等で、ガードパッド２
０と信号パッド４１間、ガードパッド２０と部品パッド
４４間に、プローブを押し当ててパターン切れの検出は
可能である。しかし、信号パターンや部品パッド数が多
いと、導通チェックをするパッド間の組合せが多くなる
ので複雑となる。
【００１１】しかも、周囲の温度・湿度や付着したゴミ
などの影響をうけるような高抵抗でパターン間が接続さ
れた状態を検出するのは、ショートを検出する場合に比
較して困難である。また、人為的な目視によるチェック
は、微小なパターン切れが発見しにくく、しかも工数が
かかり好ましくない。
などの影響をうけるような高抵抗でパターン間が接続さ
れた状態を検出するのは、ショートを検出する場合に比
較して困難である。また、人為的な目視によるチェック
は、微小なパターン切れが発見しにくく、しかも工数が
かかり好ましくない。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、ガ
ードパターンの一部にパターン切れが発生した場合、信
号パターンと他の信号パターン間とに漏洩電流が流れ
る。
ードパターンの一部にパターン切れが発生した場合、信
号パターンと他の信号パターン間とに漏洩電流が流れ
る。
【００１３】そして、このような漏洩電流を検出するの
は、ショートの場合に比較して困難であるなど実用上の
不便があった。さらに、プリント配線基板に部品を実装
して動作させたときに不良が発見された場合、部品が実
装されたボードごと不良となり経済的な損失が大きくな
る。
は、ショートの場合に比較して困難であるなど実用上の
不便があった。さらに、プリント配線基板に部品を実装
して動作させたときに不良が発見された場合、部品が実
装されたボードごと不良となり経済的な損失が大きくな
る。
【００１４】そこで、本発明はこうした問題に鑑みなさ
れたもので、その目的は、ガードパターンのパターン切
れを容易にチェック可能としたプリント配線基板を提供
することにある。
れたもので、その目的は、ガードパターンのパターン切
れを容易にチェック可能としたプリント配線基板を提供
することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた本発明の第１は、導通チェック用の複
数のガードパッドと、該ガードパッド間の一方は信号パ
ターンを囲いめぐらすガードパターンと、該ガードパッ
ド間の他方は相互にオーバラップするオーバラップガー
ドパターンと、を具備して、ガードパターンの導通チェ
ックが、ガードパッド間でできることを特徴としたプリ
ント配線基板を要旨としている。
るためになされた本発明の第１は、導通チェック用の複
数のガードパッドと、該ガードパッド間の一方は信号パ
ターンを囲いめぐらすガードパターンと、該ガードパッ
ド間の他方は相互にオーバラップするオーバラップガー
ドパターンと、を具備して、ガードパターンの導通チェ
ックが、ガードパッド間でできることを特徴としたプリ
ント配線基板を要旨としている。
【００１６】また、上記目的を達成するためになされた
本発明の第２は、導通チェック用の複数のガードパッド
と、該ガードパッド間をオーバラップして信号パターン
を囲いめぐらすガードパターンと、を具備して、ガード
パターンの導通チェックが、ガードパッド間でできるこ
とを特徴としたプリント配線基板を要旨としている。
本発明の第２は、導通チェック用の複数のガードパッド
と、該ガードパッド間をオーバラップして信号パターン
を囲いめぐらすガードパターンと、を具備して、ガード
パターンの導通チェックが、ガードパッド間でできるこ
とを特徴としたプリント配線基板を要旨としている。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実
施例において説明する。
施例において説明する。
【００１８】
（実施例１）本発明の実施例１について、図１と図３を
参照して説明する。本発明のプリント配線基板の一例
は、図１に示すように、信号パッド４０と部品パッド４
３とを結ぶ信号パターン３０と、信号パッド４１と信号
パッド４２とを結ぶ信号パターン３１と、部品を接続す
る部品パッド４３と部品パッド４４との従来構成に、ガ
ードパッド２０と、ガードパッド２１と、ガードパター
ン１１と、オーバラップガードパターン５０、５１とに
変更した構成になっている。以下、各構成要素について
説明する。
参照して説明する。本発明のプリント配線基板の一例
は、図１に示すように、信号パッド４０と部品パッド４
３とを結ぶ信号パターン３０と、信号パッド４１と信号
パッド４２とを結ぶ信号パターン３１と、部品を接続す
る部品パッド４３と部品パッド４４との従来構成に、ガ
ードパッド２０と、ガードパッド２１と、ガードパター
ン１１と、オーバラップガードパターン５０、５１とに
変更した構成になっている。以下、各構成要素について
説明する。
【００１９】複数のガードパッド２０、２１は、導通チ
ェック用のパッドである。ガードパッド２０とガードパ
ッド２１間の一方をガードパターン１１で信号パターン
３０を囲いめぐらしている。
ェック用のパッドである。ガードパッド２０とガードパ
ッド２１間の一方をガードパターン１１で信号パターン
３０を囲いめぐらしている。
【００２０】そして、ガードパッド２０とガードパッド
２１間の他方は、相互にオーバラップするオーバラップ
ガードパターン５０とオーバラップガードパターン５１
とでオーバラップ部５２を形成している。
２１間の他方は、相互にオーバラップするオーバラップ
ガードパターン５０とオーバラップガードパターン５１
とでオーバラップ部５２を形成している。
【００２１】従って、ガードパッド２０、２１間の一方
のガードパターン１１は開ループとなっているので、ガ
ードパッド２０、２１間にプローブを押し当ててガード
パターン１１の導通チェックができることになる。
のガードパターン１１は開ループとなっているので、ガ
ードパッド２０、２１間にプローブを押し当ててガード
パターン１１の導通チェックができることになる。
【００２２】また、ガードパッド２０、２１間の他方は
お互いにオーバラップガードパターン５０、５１で信号
パターン３０をオーバラップ部５２で２重にガードして
いる。そのため、例えばオーバラップガードパターン５
０にパターン切れが発生しても、オーバラップガードパ
ターン５１が信号パターン３０をガードする。
お互いにオーバラップガードパターン５０、５１で信号
パターン３０をオーバラップ部５２で２重にガードして
いる。そのため、例えばオーバラップガードパターン５
０にパターン切れが発生しても、オーバラップガードパ
ターン５１が信号パターン３０をガードする。
【００２３】ところで、図３に示すように、ガードパッ
ド２０、２１間のガードパターン１１において、ガード
パッド２２、２３を追加して設けて、導通チェック箇所
を増やすこともできる。従って、各ガードパッド２０、
２１、２２、２３間をそれぞれ導通チェックすることに
より、パターン切れがどこに発生しているか特定しやす
くなる。
ド２０、２１間のガードパターン１１において、ガード
パッド２２、２３を追加して設けて、導通チェック箇所
を増やすこともできる。従って、各ガードパッド２０、
２１、２２、２３間をそれぞれ導通チェックすることに
より、パターン切れがどこに発生しているか特定しやす
くなる。
【００２４】（実施例２）本実施例２のプリント配線基
板では、図２に示すように、実施例１のガードパターン
１１と、ガードパッド２０、２１と、オーバラップガー
ドパターン５０、５１との構成をガードパターン１２
と、ガードパッド２０、２４との構成に変更している。
板では、図２に示すように、実施例１のガードパターン
１１と、ガードパッド２０、２１と、オーバラップガー
ドパターン５０、５１との構成をガードパターン１２
と、ガードパッド２０、２４との構成に変更している。
【００２５】複数のガードパッド２０、２４は、導通チ
ェック用のパッドである。そして、ガードパッド２０と
ガードパッド２４間を、ガードパターン１２でオーバラ
ップ部５３を形成して、信号パターン３０を囲いめぐら
せてガードしている。
ェック用のパッドである。そして、ガードパッド２０と
ガードパッド２４間を、ガードパターン１２でオーバラ
ップ部５３を形成して、信号パターン３０を囲いめぐら
せてガードしている。
【００２６】従って、ガードパッド２０、２４間は開ル
ープパターンとなっているので、導通チェックをおこな
うことでガードパターン１２のパターン切れが検出でき
る。ところで、ガードパッド２０、２１は導通チェック
用のパッドとして説明したが、部品接続等のパッドとし
て利用できることはいうまでもない。
ープパターンとなっているので、導通チェックをおこな
うことでガードパターン１２のパターン切れが検出でき
る。ところで、ガードパッド２０、２１は導通チェック
用のパッドとして説明したが、部品接続等のパッドとし
て利用できることはいうまでもない。
【００２７】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
ガードパターンは開ループパターンであるので、部品を
搭載する前のプリント配線基板の状態で、ガードパッド
間の導通チェックのみでパターン切れを容易にチェック
できる効果がある。
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
ガードパターンは開ループパターンであるので、部品を
搭載する前のプリント配線基板の状態で、ガードパッド
間の導通チェックのみでパターン切れを容易にチェック
できる効果がある。
【図１】本発明のプリント配線基板の実施例１の平面図
である。
である。
【図２】本発明のプリント配線基板実施例２の平面図で
ある。
ある。
【図３】本発明の実施例１にガードパッドを追加した平
面図である。
面図である。
【図４】プリント配線基板のパターン例の平面図であ
る。
る。
【図５】従来のガードパターンを設けたプリント配線基
板例の平面図である。
板例の平面図である。
【図６】ガード電位を出力する回路図である。
【図７】ガードパターンがパターン切れした状態のプリ
ント配線基板の平面図である。
ント配線基板の平面図である。
１０、１１、１２ ガードパターン ２０、２１、２２、２３、２４ ガードパッド ３０、３１ 信号パターン ４０、４１、４２ 信号パッド ４３、４４ 部品パッド ５０、５１ オーバラップガードパターン ５２、５３ オーバラップ部 ６０ 入力信号 ６１ 出力信号 ６２ ボルテージフォロワ ６３ ガード電位出力 ６４ ガード ６５ ドライバ ７０ パターン切れ
Claims (2)
- 【請求項１】 導通チェック用の複数のガードパッド
と、 該ガードパッド間の一方は信号パターンを囲いめぐらす
ガードパターンと、 該ガードパッド間の他方は相互にオーバラップするオー
バラップガードパターンと、 を具備してガードパターンの導通チェックが、ガードパ
ッド間でできることを特徴としたプリント配線基板。 - 【請求項２】 導通チェック用の複数のガードパッド
と、 該ガードパッド間をオーバラップして信号パターンを囲
いめぐらすガードパターンと、 を具備して、ガードパターンの導通チェックが、ガード
パッド間でできることを特徴としたプリント配線基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16255397A JPH1117291A (ja) | 1997-06-19 | 1997-06-19 | プリント配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16255397A JPH1117291A (ja) | 1997-06-19 | 1997-06-19 | プリント配線基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1117291A true JPH1117291A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=15756787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16255397A Withdrawn JPH1117291A (ja) | 1997-06-19 | 1997-06-19 | プリント配線基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1117291A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015029647A1 (ja) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | 日産自動車株式会社 | 積層電池のインピーダンス測定装置および測定方法 |
| JP2018148274A (ja) * | 2017-03-01 | 2018-09-20 | 株式会社リコー | アナログ信号バス駆動回路、及び光電変換装置 |
-
1997
- 1997-06-19 JP JP16255397A patent/JPH1117291A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015029647A1 (ja) * | 2013-08-29 | 2015-03-05 | 日産自動車株式会社 | 積層電池のインピーダンス測定装置および測定方法 |
| US9874612B2 (en) | 2013-08-29 | 2018-01-23 | Nissan Motor Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring impedance of laminated battery |
| JP2018148274A (ja) * | 2017-03-01 | 2018-09-20 | 株式会社リコー | アナログ信号バス駆動回路、及び光電変換装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040907 |