JPH05322955A - プリント配線板の検査方法 - Google Patents

プリント配線板の検査方法

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JPH05322955A
JPH05322955A JP4127741A JP12774192A JPH05322955A JP H05322955 A JPH05322955 A JP H05322955A JP 4127741 A JP4127741 A JP 4127741A JP 12774192 A JP12774192 A JP 12774192A JP H05322955 A JPH05322955 A JP H05322955A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed wiring
wiring board
inspection
probes
pads
Prior art date
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Pending
Application number
JP4127741A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuharu Kodera
克治 小寺
Toshiro Hibino
敏郎 日比野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP4127741A priority Critical patent/JPH05322955A/ja
Publication of JPH05322955A publication Critical patent/JPH05322955A/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】検査治具のプローブ数よりも検査装置に接続さ
れる信号線の本数を減少することができ、プローブ数が
多い場合にも完全で効率的な検査を安価に行うことが可
能なプリント配線板の検査方法を提供すること。 【構成】プリント配線板41に形成された複数の導体パ
ターン1〜7のうち、互いに短絡するおそれのない少な
くとも2つの導体パターン1〜7上の端点A〜Oと接触
する検査治具33のプローブ11〜25を配線で接続す
ることにより1つの回路とし、当該1つの回路の端点A
〜Oに接触するプローブ11〜25とコンピュータ37
とを信号線11a〜14a,29,36で接続して、導
体パターン1〜7の導通試験を行うようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板の導体
パターンの導通及び断線等の検査を行うための検査方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】プリント配線板の完成後、そのプリント
配線板の最終検査時においては、プリント配線板の導体
パターンの短絡及び断線等の検査を行う必要がある。従
来、この検査は電気的に導体パターンの接続状態を検出
するプリント配線板用検査機によって行われている。そ
の際、配線の良否を基板上の端点(パッド、スルーホー
ル)に専用の検査治具のプローブを接触させ、端点間の
抵抗値などにより、導通を確認して他の配線との絶縁を
確認する方法が行われている。
【0003】図3に示すように、前記プリント配線板用
検査機は、コンタクトプローブ(以下、単にプローブと
いう)31がピンボード32に装着された専用の検査治
具33と、前記プローブ31に信号線34、コネクタブ
ロック35及び信号線36を介して接続される検査装置
(コンピュータ)37とから構成されている。すなわ
ち、前記プローブの本数だけコンピュータ37には信号
線36が接続されている。
【0004】上記のプリント配線板用検査機で図2のプ
リント配線板41の検査を行う際は、前記プローブ31
を各パッドA〜Oにそれぞれ接触させる。そして、プリ
ント配線板41の良否判定は、各信号線34からコネク
タブロック35及び信号線36を介してコンピュータ3
7に入力される信号に基づき、コンピュータ37が行う
ようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年、プリント配線板
の高密度化により、単位面積当たりの配線数が増加し、
前記端点の数は500〜10000にも及ぶようになっ
てきている。そして、従来の検査方法においては、コン
ピュータ37に全プローブ31からの信号が入力されな
ければ、プリント配線板41の良否が判定できないよう
になっている。
【0006】そのため、端点数が非常に多いプリント配
線板の検査を行う場合には、端点と接触するプローブ3
1の本数を増やすとともに、大きい容量のコンピュータ
を使用しなければならない。しかし、大きい容量のコン
ピュータは高価なためコスト的な問題があった。
【0007】さらに、プローブ31の本数以上のパッド
が形成されたプリント配線板の検査を行う場合には、短
絡や破断のおそれの少ない導体パターンの検査を省略し
てプローブ31と接触する端点数を減少する場合があ
る。この場合、全導体パターンの検査が行われないた
め、プリント配線板の信頼性が低下するという問題があ
った。
【0008】また、プローブ31の本数以上のパッドが
形成されたプリント配線板の検査を行う場合には、1台
の検査治具33では全パッドにプローブ31を接触させ
ることができないため、複数台の治具を用いることとな
ってコスト的な問題があった。
【0009】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたものであって、その目的は検査治具のプローブ数よ
りも検査装置に接続される信号線の本数を減少すること
ができ、プローブ数が多い場合にも完全で効率的な検査
を安価に行うことが可能なプリント配線板の検査方法を
提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、プリント配線板に形成された複数の導
体パターンのうち、互いに短絡するおそれのない少なく
とも2つの導体パターン上の端点と接触する検査治具の
プローブを配線で接続することにより1つの回路とし、
当該1つの回路の端点に接触するプローブと検査装置と
を信号線で接続して、導体パターンの導通試験を行うよ
うにする。
【0011】
【作用】本発明によれば、複数の回路中、短絡するおそ
れのない回路同士を、検査治具のプローブで接続するこ
とにより1つの回路とし、同1つの回路からの信号線を
検査装置に接続してプリント配線板の良否の判定を行う
ようにしたので、プリント配線板に形成されたパッド数
と同数の信号線を検査装置に接続する必要がなくなる。
【0012】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1に
基づいて説明する。なお、本実施例では上記従来技術と
同様に図2のプリント配線板41仕様として構成された
プリント配線板用検査機について説明する。また、上記
従来技術と同部材については同じ部材番号を付して説明
する。なお、プリント配線板は前記のようにパッド、ス
ルーホール等の端点数が非常に多いが、説明の便宜上パ
ッド数が15パッドのものを例として説明する。
【0013】図2に示すように、前記プリント配線板4
1に形成された端点としてのパッドA〜Oは、導体パタ
ーン1〜7によって接続され、これら各パッドA〜Oと
導体パターン1〜7によって8つの回路が形成されてい
る。前記各パッドA〜Oと導体パターン1〜7との接続
組合せとしては、パッドAとパッドKとが導体パターン
1で、パッドBとパッドHとが導体パターン2で、パッ
ドCとパッドMとが導体パターン3で、パッドDとパッ
ドIとが導体パターン4で、パッドEとパッドGとが導
体パターン5で、パッドJとパッドOとが導体パターン
6で、パッドLとパッドNとが導体パターン8で接続さ
れている。なお、パッドFには図示しない導体パターン
(図示せず)に接続されている。
【0014】図1に示すように、プリント配線板用検査
機のピンボード32にはプリント配線板41に形成され
た各パッドA〜Oにそれぞれ対応するように15本のプ
ローブ11〜25が装着されている。
【0015】前記15本のプローブ11〜25の中で、
プローブ11〜14,17,19,20,23,24
は、信号線11a〜14a,17a,19a,20a,
23a,24aを介してコネクタブロック35に接続さ
れている。また、その他のプローブの中ではパッドEに
接触するプローブ15とパッドKに接触するプローブ2
1とが接続コード26で接続され、これらプローブ1
5,26はコネクタブロック35には接続されていな
い。そして、パッドHに接触するプローブ18とパッド
Lに接触するプローブ22とが接続コード27接続さ
れ、これらのプローブ18,22もコネクタブロック3
5には接続されていない。
【0016】また、パッドFに接触するプローブ16と
パッドOに接触するプローブ25とが接続コード28に
よって接続されている。そして、この接続コード28か
らは、信号線29が分岐され、同信号線29はコネクタ
ブロック35に接続されている。
【0017】前記接続コード26〜28によるプローブ
同士の接続は、プリント配線板41の導体パターン1〜
7のうち、互いに短絡するおそれのない導体パターンに
接続されたパッドと接触するプローブが接続されてい
る。
【0018】従って、コネクタブロック35には合計1
0本の信号線11〜14,17,19,20,23,2
4,29が接続されている。また、コネクタブロック3
5にも前記信号線11〜14,17,19,20,2
3,24,29と対応する信号線36が10本接続され
ている。
【0019】次に上記のプリント配線板用検査機により
プリント配線板41の検査を行う際の作用について説明
する。まず、各プローブ11〜25の先端を各パッドA
〜Oに接触させる。このとき、導体パターン1により接
続された2つのパッドA,Kの一方のパッドKと、導体
パターン5により接続された2つのパッドE,Gの一方
のパッドEとに接触する2本のプローブ15,21が接
続コード26で接続されているので、これら2つの回路
(導体パターン1,5)は直列に接続される。すなわ
ち、パッドA,K,E,Gを含む1つの回路が形成され
る。
【0020】また、導体パターン2により接続された2
つのパッドB,Hの一方のパッドHと、導体パターン7
により接続された2つのパッドL,Nの一方のパッドL
とに接触する2本のプローブ18,22が接続コード2
7で接続されているので、これら2つの回路(導体パタ
ーン2,7)は直列に接続される。すなわち、パッド
B,H,L,Nを含む1つの回路が形成される。
【0021】さらに、導体パターン6により接続された
2つのパッドJ,Oの一方のパッドOと、図示しない導
体パターンに接続されたパッドFとに接触する2本のプ
ローブ16,25が接続コード28接続されているの
で、これら2つの回路(導体パターン6及びパッドF)
は直列に接続される。すなわち、パッドJ,O,Fを含
む1つの回路が形成される。
【0022】その結果、信号線14a,19a,13
a,23aの他に信号線11a,17aと、信号線2
9,20a及び信号線12a,24aを検査装置として
のコンピュータ37に接続するだけで全導体パターン1
〜7の導通検査が可能となる。
【0023】上記のように、本実施例ではプリント配線
板41に形成された複数の回路のうち、短絡するおそれ
のない回路同士を治具側で接続し、その接続された回路
を組み合わせて導通試験を行うようにしたことにより、
コンピュータ37に接続される信号線36の数が検査治
具33のプローブ11〜25の数より少なくなる。例え
ば、プリント配線板の検査で実際のプローブ数が200
0本必要な場合に、信号線36の数が略600程度まで
減少した。従って、全パッドにプローブを接触させても
コンピュータ37の容量を大きくする必要がない。
【0024】また、端点の数が多い場合にも全端点にプ
ローブを接触させて検査を行うことができ、導体パター
ンの検査を省略することがなくなる。その結果、信頼性
高いプリント配線板を得ることができるとともに、大幅
にコストの低下を図ることができる。
【0025】さらに、コンピュータ37に接続されてい
る信号線36が減少されたことによりコンピュータ37
の処理速度が短縮され、検査時間を大幅に短縮化でき
る。なお、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、発明の趣旨を逸脱しない範囲で例えば次のように構
成することもできる。
【0026】(1)上記実施例では、プリント配線板4
1に形成された複数の回路のうち、短絡するおそれのな
い回路同士であれば3つ以上の回路を治具側で接続する
ようにしてプリント配線板の導通試験を行うようにして
もよい。
【0027】(2)上記実施例では、端点としてパッド
A〜Oが形成されたプリント配線板41で具体化した
が、端点をスルーホールとして具体化してもよい。ま
た、スルーホールについての障害を検査する際は、複数
のスルーホールを接続させてプリント配線板の導通試験
を行うことができる。
【0028】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
検査治具のプローブ数よりも検査装置に接続される信号
線の本数を減少することができ、プローブ数が多い場合
にも完全で効率的な検査を安価に行うことができるとい
う優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体化した一実施例のプリント配線板
用検査機及びプリント配線板の側面図である。
【図2】プリント配線板の平面図である。
【図3】従来のプリント配線板用検査機及びプリント配
線板の側面図である。
【符号の説明】
1〜7…導体パターン、11〜25…プローブ、11a
〜14a,29,36…信号線、33…検査治具、37
…検査装置としてのコンピュータ、41…プリント配線
板、A〜O…端点としてのパッド

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板に形成された複数の導体
    パターンのうち、互いに短絡するおそれのない少なくと
    も2つの導体パターン上の端点と接触する検査治具のプ
    ローブを配線で接続することにより1つの回路とし、当
    該1つの回路の端点に接触するプローブと検査装置とを
    信号線で接続して、導体パターンの導通試験を行うこと
    を特徴とするプリント配線板の検査方法。
JP4127741A 1992-05-20 1992-05-20 プリント配線板の検査方法 Pending JPH05322955A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016128750A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 日本電産リード株式会社 基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016128750A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 日本電産リード株式会社 基板検査装置、基板検査方法及び基板検査用治具

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