JPH0367358B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、混成印刷回路の品質管理用装置、特
にいわゆる「ハイブリツド」技術で製作される印
刷回路の品質管理もしくは検査用の装置に関す
る。一般に非常にコンパクトであるこのような回
路は、程度の差こそあれ高い密度の分岐導体要素
を含む複数の重ね配置された絶縁材料層によつて
構成されている。

従来技術 本出願人のフランス国特許第2521305号明細書
には、上記のような型の多層印刷回路板のいろい
ろな導体要素もしくは「ツリー」間に通常存在し
なければならない電気的絶縁性に関する品質管理
もしくは検査を行うための方法および装置が開示
されている。

製造費用が製造段階もしくは工程が進むにつれ
て非常に高率で増加する製造プロセスもしくは過
程において、欠陥要素を早い段階で検出するとい
う経済上の要請から、絶縁に関する品質管理と同
様に連続性に関する品質管理もしくは検査は本質
的に重要である。

発明の目的 したがつて本発明の目的は、先に提案した上記
フランス国特許明細書に開示されている方法を補
完する方法であつて、、特殊な仕方で配設された
類似の手段を用い、多層印刷回路の導体回路網全
体を構成する「ツリー」の各々の多数の同電位分
岐に通常存在しなければならない電気的連続性に
関する品質管理もしくは検査を行うことを可能に
する方法を提供することにある。

したがつて、決定された技術モデルの印刷回路
の少なくとも一方の面上に接近可能な金属の「チ
ツプ」のアツセンブリＥは、通常、管理もしくは
検査されるべき印刷回路の各等電位「ツリー」に
ただ１つだけ属する単一の「チツプ」である第１
のサブアツセンブリE_iと、印刷回路の他のすべて
の「チツプ」を含む第２のサブアツセンブリE_c
と、から構成され、ここに、Ｅ＝E_i＋E_cである。

したがつて、印刷回路の導体回路網の全体の連
続性の管理もしくは検査は、与えられた等電位ツ
リーに属するサブアツセンブリE_cの各「チツプ」
と、同じ等電位「ツリー」に属するサブアツセン
ブリE_iの「チツプ」との間に存在するべき電気接
続の品質を検査することと等価であると結論し得
る。換言すれば、チツプE_iのすべてが共通の導体
に接続されるものとすると、品質管理は、サブア
ツセンブリE_cの点もしくはドツトの各々と、サブ
アツセンブリE_iに共通の導体と、の間の連続性の
検査により達成される。

上述のフランス国特許出願に開示されている発
明と同じ企図から、本発明は、その目的として、
特に異なつた組みのチツプ付きセンサを用いる公
知の装置の欠点を有さず、いわゆる「ハイブリツ
ド」技術から得られる最もコンパクトな多層印刷
回路を含めたいろいろな種類および形態の多層印
刷回路の導体回路網の電気的連続性に関する品質
管理もしくは検査を行うための装置を提供しよう
とするものである。

発明の概要 従つて、本発明によれば、外部面の少なくとも
一方に接近可能な導体素子のアツセンブリＥを含
んだ多層印刷回路の導体回路網に形成された多数
の等電位分岐の連続性を検査するための装置にお
いて、 前記外部面に載置することにより、前記アツセ
ンブリＥの第１のサブアツセンブリE_iの導体素子
を単一の第１の導電領域に接続し、かつ前記アツ
センブリＥの第２のサブアツセンブリE_cの導体素
子を複数個の第２の導電領域に接続するよう適合
されたインターフエース・コネクタ手段であつ
て、ここに、２つのサブアツセンブリE_i及びE_cは
別個のものでありかつＥ＝E_i＋E_cであるように電
気的にあらかじめ定められたものである、前記イ
ンターフエース・コネクタ手段と、 該インターフエース・コネクタ手段を走査する
ために前記第１及び第２の導電領域の１つと接触
する可動性の導電領域を少なくとも含んだ走査手
段と、 前記第１の導電領域と前記第２の導電領域との
間の電気的連続性の欠陥を検出するために、前記
第１の導電領域と前記可動性の導電領域との間に
電気的に接続される指示手段と、 を備え、前記インターフエース・コネクタ手段は
絶縁材料の柔軟なスクリーンを含み、該スクリー
ンは、前記印刷回路に載置されたときにその自由
面に渡つて、前記第１及び第２の導電領域の同面
配置を有し、該第１及び第２の導電領域は相互に
絶縁されていると共に前記自由面から反対の面に
対してはメタライズされた穴を介して相互接続さ
れるようにしたことを特徴とする印刷回路の連続
性検査装置が提供される。

好ましい実施例の詳細な説明 本発明は、添付図面を参照しての本発明の好ま
しい実施例に関する以下の説明から一層容易に理
解されるであろう。

実際上の操作の観点から本発明による連続性の
制御もしくは管理方法は、第１図に示すように、
被検印刷回路標本Ｗの外部面のチツプに対し、試
験装置Ｔを用いて実施される。

図面を参照するに、被検印刷回路標本Ｗには複
数の等電位分岐ツリーが含まれており、第１図で
は説明のため２つの等電位分岐ツリーB₁及びB₂
だけが示されている。被検印刷回路標本Ｗの外部
面のチツプは、図に示すように、各等電位分岐ツ
リーごとに内部で接続されており、そのため、各
等電位分岐ツリーに属するチツプは、第１図の点
D₁，D₂に示すような断線異常が無ければ相互に
等電位状態にある。

被検印刷回路標本Ｗの外部面のチツプを、全体
としてチツプのアツセンブリＥと称することと
し、該チツプのアツセンブリＥを、チツプの第１
のサブアツセンブリE_iと、チツプの第２のサブア
ツセンブリE_cとに分ける（Ｅ＝E_i＋E_c）。ここに
第１のサブアツセンブリE_iとは各等電位分岐ツリ
ーごとに１つ設けられるものである。第１図にお
いては２つの等電位分岐ツリーB₁及びB₂だけが
示されているので、第１のサブアツセンブリE_iの
チツプは２つだけである。

このような被検印刷回路標本Ｗに対し、以後説
明するように試験装置Ｔを用いて各チツプE_cとチ
ツプE_i（サブアツセンブリE_iに共通接続される導
体）との間の連続性が検査される。

試験装置Ｔは、被検印刷回路標本Ｗと重ね合わ
せることにより組合される電気接点すなわちチツ
プを有する選択装置もしくはセレクタと、指示装
置Ｕと、を備えている。選択装置もしくはセレク
タは、一対のもしくは２つの関連の選択印刷回路
V₁およびV₂から構成されるものであつて、指示
装置Ｕと電気接続された関係で同面相対変位が可
能なように構成されている。

「特殊インターフエース回路」と称することが
できる選択印刷回路（インターフエース・コネク
タ手段）V₁は、被検印刷回路標本Ｗの特徴マー
クと厳密な幾何学的整合関係で重ね配置されるよ
うに適応されている。この目的で、選択印刷回路
V₁は写真化学的方法または類似の方法によつて
表面金属化処理（メタライゼイシヨン）が可能で
薄肉の柔軟な材料、例えば「KAPTON」の商品
名で市販されているポリミド等から造られた絶縁
スクリーンにより構成されている。このような選
択印刷回路V₁は、メタライズされた穴を有する
絶縁スクリーンであり、一面には（すなわち第１
図の回路C₁側には）、標本Ｗの対向面上に存在す
るチツプＥ＝E_i＋E_cと正しく合わさるように、こ
れらチツプと同じ数のチツプアツセンブリを有す
る。これら一面上のチツプは、前述のメタライズ
された穴を通して他面上（すなわち回路C₂側）
の導体に直接開口もしくは接続される。他面上の
導体としては、選択印刷回路V₁の回路C₂側をほ
ぼ覆う（第２図も参照）１つの導体アース面（第
１の導電領域）CR_sと、導体アース面CR_sのメタ
ライゼイシヨンから取り残された囲繞環状スペー
スにより導体アース面CR_sから絶縁される複数の
導体面Ｐ（第２の導電領域）（第１図ではP₀〜P₄
の４個が示されている。）とから成り、導体アー
ス面CR_sは、先に定義した標本Ｗの第１のサブア
ツセンブリE_iの各チツプと正しく合わさる回路C₁
側の各チツプに、メタライズされた穴を介して電
気的に接続され、導体面Ｐ（P₀〜P₃）の各々は、
標本Ｗの第２のサブアツセンブリE_cの各チツプと
正しく合わさる回路C₁側の各チツプに、メタラ
イズされた穴を介して接続される。

これにより、標本Ｗの各等電位分岐ツリーごと
に１つ選択された第１のサブアツセンブリE_iの各
チツプは、選択印刷回路V₁の回路C₂側の導体ア
ース面CR_sに接続され、残りの他の第２のサブア
ツセンブリE_cの各チツプは、選択印刷回路V₁の
回路C₂側の対応する導体面Ｐにそれぞれ接続さ
れる。従つて、選択印刷回路V₁の回路C₂側で、
導体アース面CR_sと、各導体面Ｐとの間の接続関
係を指示装置Ｕ等を用いて調べれば、標本Ｗの各
等電位分岐ツリーにおける断線異常等（例えば第
１図の等電位分岐ツリーB₁における欠陥場所D₁
及びD₂）を検査することができる。

第１の選択印刷回路V₁の回路C₂側の各導体と
指示装置Ｕとの接続を可能とする第２の選択印刷
回路（走査手段）V₂は、第１図及び第２図では
単一の「シユー」すなわち導電性物質から成る円
柱体の場合を示している。なお、後述するよう
に、第３図では、該選択印刷回路（操作手段）
V₂としては、シユーの集合である印刷試験回路
を示している。

各チツプＰは概して円形であつて、標本Ｗのチ
ツプの直径の写像に等しい直径を有している。し
かしながらそれぞれ特定の被検印刷回路標本Ｗに
適合するような他の形状も本発明の実施に適して
いることは言うまでもない。

第１図には、断面図で、回路C₂側が外側にな
るようにして試験位置で載置された特殊インター
フエース回路すなわち選択印刷回路V₁で管理も
しくは試験される回路標本Ｗの構造が示されてい
る。第１図にはまた選択印刷回路V₂として１つ
の「シユー」が示されている。

そこで、第２の選択印刷回路V₂すなわち「シ
ユー」を、以下に述べる条件に従つて第１の選択
印刷回路V₁の外側表面（回路C₂側）と接触関係
で変位させるとする（第２図）。すなわち： シユーV₂の面積全体に亙りまたはその一部分
に亙つて該シユーV₂が導電性であること； 上記導電部分の面積が必ず、サブアツセンブリ
E_cのチツプに対応する導体面Ｐの各々を取巻く導
体アース面CR_sの不導通領域内に位置すること； シユーV₂が、チツプすなわち導体面Ｐ及び導
体アース面CR_sによつて画定される環状スペース
内に位置しないこと；及び 例えばオームメータのような電気的連続性を指
示する指示装置Ｕを導体アース面CR_sならびに可
動シユーV₂の導電部分に接続すること； である。

上の条件が満たされれば、明らかなように、指
示装置Ｕが導体アース面CR_s及び、正常な品質の
電気的連続性を表わすツリーに属するチツプに対
応する導体面Ｐと接触関係に留どまる限り、指示
装置Ｕはなんらの欠点をも指示しない（第１図の
チツプP₃の場合）。しかしながら、他方、問題の
ツリーが（第１図のD₁またはD₂に）欠陥を呈す
るとすると、この異常もしくは不連続性は、シユ
ーもしくはパツドV₂がチツプP₁またはP₂と同面
接触関係になつた時にのみ観察される。

しかしながら、上に原理的に述べた動作モード
で、上述のように単一の可動シユーV₂により特
殊インターフエース回路V₁の全表面を走査する
のは時間のかかる面倒な操作である。この理由か
ら、本発明のもう１つの実施例では、試験を集合
的な仕方で実施するために、回路V₁と類似の材
料で造られて、両面間でメタライズされた穴で接
続された複数の表面導電領域を有する第２の回路
すなわち印刷試験回路（第３図）を選択印刷回路
すなわち走査手段V₂として使用することを提案
する。第２の回路すなわち印刷試験回路のメタラ
イズされた穴の各々は、特殊インターフエース回
路V₁に面する面上では（第３図の左側の図）、複
数の導電領域のうちの１つに開口し、この各開口
は、第１図に関して上述した単一のもしくは基本
的なシユーに対応し、反対側の面上では（第３図
の右側の図）、指示装置Ｕの外部の集電要素と電
気接続を行う導電トラツクに開口する。

第３図に示すように、印刷試験回路すなわち第
２の回路V₂は、一方の面において例えば複数の
基本的シユーの２つの整合列もしくはアライメン
トａ，ｂを有し（第３図の左側）、このアライメ
ントａ，ｂは選択印刷回路V₁の回路C₂側の複数
の導体面Ｐの配列に対応している。勿論、選択印
刷回路V₁の回路C₂側の導体面Ｐの配列が他の形
態を取る場合には、印刷試験回路V₂の一方の面
の基本的シユーの配列もそれに合わせて製作され
る。アライメントａ，ｂで配列された印刷試験回
路V₂の一方の面の各基本的シユーは、メタライ
ズされた穴により回路V₂の他方の面に位置する
導電トラツクｃ（第３図の右側）に接続される。

上記導電トラツクｃは、指示装置Ｕと電気接続
を形成し、それにより、被検標本Ｗの導電回路網
の分岐に影響を与えるような連続性欠陥の検出を
可能にする。整列されたシユーの列ａ，ｂのうち
の１つは省略しても良く、その場合には、試験
は、導体面Ｐのアライメントａに対応するものだ
けについて回路V₂を平行移動しながら行い、次
に特殊インターフエース回路V₁に対して回路V₂
をシユー間の1/2ステツプだけ変位させることに
より、今度は導体面Ｐのアライメントｂに対応す
るものだけについて逆方向に回路V₂を平行移動
しながら行われる。

なお、検査を行う際、サブアツセンブリE_c自体
を、さらに２つのサブアツセンブリで構成するよ
うにし、該さらに分けられた２つのサブアツセン
ブリの一方を、「ツリー」の端である特性を有す
るすべての「チツプ」により構成されるサブアツ
センブリとし、これにより、特に、該「ツリー」
の端である特性を有するチツプの各々と、E_iに共
通の導体と、の間での連続性の検査を行うように
すれば、単純化された方法で完全な検査が達成さ
れる。

発明の効果 以上、本発明によれば、被検印刷回路の外部面
に載置することにより、第１のサブアツセンブリ
の導体素子を第１の導電領域に接続し、かつ第２
のサブアツセンブリの導電素子を複数個の第２の
導電領域に接続するインターフエース・コネクタ
手段を選択印刷回路V₁として含み、また、該イ
ンターフエース・コネクタ手段を走査するために
前記第１及び第２の導電領域の１つと接触する可
動性の導電領域を少なくとも含んだ走査手段を選
択印刷回路V₂として含み、指示手段により、前
記第１の導電領域と前記第２の導電領域との間の
電気的連続性の欠陥を検出するようにしたので、
前記被検印刷回路の導体回路網に形成された、前
記第１及び第２のサブアツセンブリ間に存在する
多数の等電位分岐の連続性の検査が容易となると
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、連続性に関し２つの内部欠陥を有す
る多層印刷回路を試験するための装置の断面略
図、第２図は、拡大尺で、第１図の１つの基本的
な試験領域の形態および相対寸法を示すために、
選択印刷回路V₁の外側面を示す図、そして第３
図は、本発明の別の実施例による、被検印刷回路
の幾つかの導体分岐を同時に集合的に試験するこ
とを可能にするための走査手段の前面および背面
を示す略図である。 図において、Ｗ……被検印刷回路、E_i……第１
のサブアツセンブリ、E_c……第２のサブアツセン
ブリ、B₁およびB₂……等電位分岐ツリー、Ｔ…
…試験装置、V₁……選択印刷回路（インターフ
エース・コネクタ手段）、V₂……選択印刷回路
（走査手段）、CR_s……第１の導電領域、Ｐ，P₀〜
P₃……第２の導電領域、Ｕ……指示手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 外部面の少なくとも一方に接近可能な導体素
   子のアツセンブリＥを含んだ多層印刷回路の導体
   回路網に形成された多数の等電位分岐の連続性を
   検査するための装置において、 前記外部面に載置することにより、前記アツセ
   ンブリＥの第１のサブアツセンブリE_iの導体素子
   を単一の第１の導電領域に接続し、かつ前記アツ
   センブリＥの第２のサブアツセンブリE_cの導体素
   子を複数個の第２の導電領域に接続するよう適合
   されたインターフエース・コネクタ手段であつ
   て、ここに、２つのサブアツセンブリE_i及びE_cは
   別個のものでありかつＥ＝E_i＋E_cであるように電
   気的にあらかじめ定められたものである、前記イ
   ンターフエース・コネクタ手段と、 該インターフエース・コネクタ手段を走査する
   ために前記第１及び第２の導電領域の１つと接触
   する可動性の導電領域を少なくとも含んだ走査手
   段と、 前記第１の導電領域と前記第２の導電領域との
   間の電気的連続性の欠陥を検出するために、前記
   第１の導電領域と前記可動性の導電領域との間に
   電気的に接続される指示手段と、 を備え、前記インターフエース・コネクタ手段は
   絶縁材料の柔軟なスクリーンを含み、該スクリー
   ンは、前記印刷回路に載置されたときにその自由
   面に渡つて、前記第１及び第２の導電領域の同面
   配置を有し、該第１及び第２の導電領域は相互に
   絶縁されていると共に前記自由面から反対の面に
   対してはメタライズされた穴を介して相互接続さ
   れるようにしたことを特徴とする印刷回路の連続
   性検査装置。 ２ 前記第１のサブアツセンブリE_iは、前記多数
   の等電位分岐につき一つの導体素子であり、前記
   第２のサブアツセンブリE_cは前記印刷回路の他の
   導体素子のすべてを含む特許請求の範囲第１項記
   載の印刷回路の連続性検査装置。 ３ 前記インターフエース・コネクタ手段の前記
   第１及び第２の導電領域は、前記第１の導電領域
   が、前記第２の導電領域と同面で該第２の導電領
   域の各々を取り囲む導電アース面であり、前記第
   ２の導電領域が、一定の幅の環状スペースにより
   前記導電アース面から電気的に絶縁された導体素
   子を形成するように配列され、これにより、前記
   走査手段に所属する前記可動性の導電領域は、前
   記環状スペースに全く包摂され得ないが、前記環
   状スペースの外部端によつて区画される表面には
   必然的に包摂され得るようにした特許請求の範囲
   第１項記載の印刷回路の連続性検査装置。 ４ 前記走査手段は、絶縁材料の可動性の柔軟な
   スクリーンを有し、該スクリーンは、第１の面
   に、相互に絶縁され、かつ前記可動性の柔軟なス
   クリーンの第２の面上に設けられた導電トラツク
   にメタライズされた穴を介して相互接続される導
   電領域の列を少なくとも有し、前記指示手段は、
   集電手段を介して前記導電トラツクに接続される
   特許請求の範囲第３項記載の印刷回路の連続性検
   査装置。