JPH0843438A - 表示装置の検査装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 検査時における表示装置の電極端子と検査用
基板の検査用端子との位置ずれによる接触不良を確実に
なくす。 【構成】 表示パネルの電極端子部６に貼合わせられる
検査用基板１１には、複数の検査用端子２５と複数の配
線２７ａ〜２７ｃとが設けられる。検査用端子２５の配
列ピッチＣは電極端子幅Ｂよりも小さく、また電極端子
のピッチＡの３分の１に選ばれる。複数の検査用端子２
５は３つのグループに分割されて、各グループに属する
検査用端子２５は前記３本の配線２７ａ〜２７ｃによっ
てそれぞれ共通に接続される。３本の配線２７ａ〜２７
ｃは電極端子の配列方向２６と平行に、間隔をあけて配
置される。このような検査用基板１１を電極端子部６に
貼合わせ、３本の配線２７ａ〜２７ｃのうちの互いに異
なる２本の配線間の導通／非導通状態を全ての配線にお
いて判別し、導通状態の配線に検査信号を与える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、複数の電極端子が配設
された表示装置の表示動作の良否を検査するために用い
られる表示装置の検査装置および検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】表示装置、たとえば液晶表示装置は、パ
ネル基板の周辺部に、一定間隔で複数の電極端子が配列
され、複数の表示用電極からの引出し線が個別的に前記
電極端子に接続されている。このような液晶表示装置の
動作の良否を検査するときには、前記電極端子の配列ピ
ッチと同じ配列ピッチで配線パターンおよびプローブが
形成された検査用基板を前記電極端子に接触させ、検査
信号を前記プローブを介して各電極端子に入力する。液
晶表示装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づ
く表示状態によって判断される。

【０００３】このような表示装置の検査のために使用さ
れる検査用基板の典型的な従来技術は、たとえば特開平
４−２９７８７６号公報に開示されている。前記公報に
よれば、表示パネルの電極と同一ピッチで配列される配
線が形成されたフレキシブル配線基板の前記配線に、接
続端側が電気的に接続され、上記フレキシブル配線基板
とともにプローブを挟むように設けられたフィルムのプ
ローブカード部分に測定すべき電極に合わせて取付けら
れたプローブの先端を挿入して積層構造とし、上記プロ
ーブの先端にバネ性を持たせるための弾性体を介して上
記のような積層構造からなるプローブをプローブ取付体
に一体的に取付けて、表示パネルの全電極に対して同時
に電気的接触を得る構造になっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来技術では前述のよ
うに、表示パネルの電極端子の配列ピッチと同じ配列ピ
ッチでプローブが配列された検査用基板が用いられ、検
査用基板のプローブを表示パネルの電極端子に接触させ
ている。

【０００５】しかしながらこのような検査用基板では、
表示パネルの電極端子と検査用基板のプローブとが１対
１で対応しているため、両者の間に位置ずれが生じる
と、電極端子とプローブとの接触が断たれたり、接触圧
力不足などで十分な接触状態が得られないという不具合
が生じる。このため、検査装置側から表示パネル側に検
査信号を与えても所望とする動作状態が得られず、表示
パネルには異常がないにもかかわらず動作不良と判定さ
れる。前記位置合わせ不良や端子の接触圧力不足による
接触不良は検出することができないので、検査効率およ
び製品歩留りを低下させるという問題が生じる。特に、
表示容量の増大によって高精細化された表示装置におい
ては、表示装置に異常がないにもかかわらず動作不良で
あると判断されることは、製造コストが比較的高いこと
から製品歩留りを著しく低下させてしまう。

【０００６】本発明の目的は、表示装置の電極端子と検
査用基板の検査用端子との位置ずれによる端子の接触不
良を確実になくすことができるとともに、検査用基板上
の配線が簡略化された表示装置の検査装置および前記検
査装置を用いた表示装置の検査方法を提供することであ
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、表示装置の複
数の電極端子に検査信号を与えて表示装置の動作の良否
を検査する表示装置の検査装置において、配列ピッチが
表示装置の電極端子幅よりも小さく選ばれる複数の検査
用端子と、前記複数の検査用端子が、電極端子ピッチお
よび検査用端子ピッチに基づいて複数のグループに分割
され、各グループに属する検査用端子をそれぞれ共通に
接続する複数の配線とを有する検査用基板と、前記複数
の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導
通状態を、全ての配線において判別する判別手段と、前
記配線に検査信号を与える信号出力手段と、前記配線と
の接続を判別手段または信号出力手段に切換える切換接
続手段とを含むことを特徴とする表示装置の検査装置で
ある。

【０００８】また本発明は、前記検査用基板の複数の検
査用端子は、当該検査用端子の配列ピッチが電極端子幅
よりも小さく選ばれ、検査用端子ピッチが電極端子ピッ
チの３分の１に選ばれて３つのグループに分割され、各
グループに属する検査用端子をそれぞれ共通に接続する
３本の配線が電極端子の配列方向と平行に間隔をあけて
配置されることを特徴とする。

【０００９】また本発明は、前記検査用基板の複数の検
査用端子は、当該検査用端子の配列ピッチが電極端子幅
よりも小さく選ばれ、検査用端子ピッチが電極端子ピッ
チの３分の１に選ばれて６つのグループに分割され、各
グループに属する検査用端子をそれぞれ共通に接続する
６本の配線が電極端子の配列方向と平行に間隔をあけて
配置されることを特徴とする。

【００１０】また本発明は、複数の電極端子が配設され
た表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査方法
において、配列ピッチが表示装置の電極端子幅よりも小
さく選ばれる複数の検査用端子と、前記複数の検査用端
子が、電極端子ピッチおよび検査用端子ピッチに基づい
て複数のグループに分割され、各グループに属する検査
用端子をそれぞれ共通に接続する複数の配線とを有する
検査用基板を準備し、表示装置の電極端子と検査用基板
の検査用端子とが互いに対向するようにして、前記検査
用基板を表示装置に貼合わせ、前記検査用基板の複数の
配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通
状態を、全ての配線において判別し、導通状態と判別さ
れた配線に検査信号を与えることを特徴とする表示装置
の検査方法である。

【００１１】

【作用】本発明に従えば、表示装置の検査装置は、検査
用基板と、判別手段と、信号出力手段と、切換接続手段
とを含んで構成される。表示装置は、複数の電極端子を
有し、当該電極端子からの表示信号によって表示を行
う。前記表示装置の動作の良否を検査する際には、前記
表示装置の検査装置を用いて、表示装置の複数の電極端
子から検査信号が入力される。

【００１２】すなわち、表示装置の電極端子と検査用基
板の検査用端子とが互いに対向するようにして検査用基
板が表示装置に貼合わせられる。検査用基板の検査用端
子は複数個あり、その配列ピッチは電極端子の幅よりも
小さく選ばれる。したがって、表示装置の電極端子には
少なくとも２つの検査用端子が接触することとなり、表
示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子との位置ず
れがなくなる。

【００１３】また、複数の検査用端子は電極端子ピッチ
および検査用端子ピッチに基づいて、複数のグループに
分割され、各グループに属する検査用端子は共通の配線
によってそれぞれ接続される。複数の検査用端子はいく
つかのグループに分割されて、グループ毎に設けられる
配線によって共通に接続されるので、検査用端子毎に配
線を設ける場合と比較すると、配線の本数が低減すると
ともに、配線パターンを簡略化することが可能となる。

【００１４】このような検査用基板を表示装置の電極端
子部分に貼合わせた後、前記複数の配線のうちの互いに
異なる２本の配線間の導通／非導通状態を判別手段によ
って判別し、導通状態と判別された配線に信号出力手段
からの検査信号を与える。切換接続手段は、前記配線と
の接続を判別手段または信号出力手段に切換える。表示
装置の動作の良否は、入力された検査信号に基づく表示
状態によって判断される。

【００１５】また好ましくは、複数の検査用端子は、当
該検査用端子の配列ピッチが電極端子幅よりも小さく選
ばれるとともに、検査用端子ピッチが電極端子ピッチの
３分の１に選ばれて、１つの電極端子ピッチ内に配置さ
れる３つの検査用端子によって３つのグループに分割さ
れる。このため、前記配線は３本設けられる。当該配線
は、電極端子の配列方向と平行に間隔をあけて配置され
る。したがって、前述したように電極端子には少なくと
も２つの検査用端子が接触する。また、配線の本数が少
なくなり、配線パターンを簡略化することができる。

【００１６】また好ましくは、上述した複数の検査用端
子は、隣接する２つの電極端子ピッチ内に配置される６
つの検査用端子によって６つのグループに分割される。
このため、前記配線は６本設けられる。このような検査
用基板を用いると、隣接する電極端子には互いに異なる
配線に接続される検査用端子が接触するので、前記隣接
する電極端子に互いに異なる検査信号を与えることが可
能となる。また、隣接する電極端子に接触する検査用端
子を接続する互いに異なる配線間の導通／非導通状態を
判別することによって、隣接する電極端子間の短絡状態
を判断することが可能となる。

【００１７】

【実施例】図１は、本発明の一実施例である表示装置の
検査装置１の構成を示すブロック図である。検査装置１
は、検査用基板１１，１２、切換接続回路１３、判別手
段である接続検出回路１４、信号出力回路１５、ＣＰＵ
（中央演算処理装置）１６およびメモリ１７を含む。Ｃ
ＰＵ１６は、検査装置１全体の動作を制御する。検査用
基板１１，１２は検査用ケーブル１８，２０を介して切
換接続回路１３に接続され、接続検出回路１４は接続ケ
ーブル２２を介して切換接続回路１３に接続され、信号
出力回路１５は出力ケーブル１９，２１を介して切換接
続回路１３に接続される。

【００１８】表示動作が検査される表示パネル２には、
表示用の複数の走査電極３と複数のデータ電極４とが互
いに直交するように配列され、電極３，４は電極端子部
６，８に配設されている複数の走査電極端子５と複数の
データ電極端子７とにそれぞれ個別的に接続されてい
る。表示パネル２の検査時には前記検査装置１が準備さ
れて、表示パネル２の電極端子部６，８に検査装置１の
検査用基板１１，１２が貼合わせられる。

【００１９】検査時において、前記電極端子部６，８に
貼合わせられる検査用基板１１，１２は、前記電極端子
部６，８に対応して、本実施例では２つ設けられる。検
査用基板１１，１２には、前記複数の電極端子５，７と
接触する複数の検査用端子と複数の配線とが後述するよ
うにしてそれぞれ設けられている。以後、一方の検査用
基板１１の構成と、検査手順について説明する。なお、
他方の検査用基板１２についても一方の検査用基板１１
と同様であり、説明は省略する。

【００２０】図２〜図４は、前記検査用基板１１の構成
を示す図であり、それぞれ表示パネル２の電極端子部６
と検査用基板１１とを貼合わせる際に位置ずれが生じた
場合を示している。

【００２１】電極端子部６には複数の電極端子５ａ〜５
ｄが配列ピッチＡで設けられており、電極端子５ａ〜５
ｄの幅はともにＢに選ばれる。検査用基板１１には、複
数の検査用端子２５が配列ピッチＣで設けられる。な
お、検査用端子２５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜
５ｄの幅Ｂよりも小さく選ばれる。また、検査用端子２
５の配列ピッチＣは、電極端子５ａ〜５ｄの配列ピッチ
Ａの３分の１に選ばれる。したがって、電極端子５ａ〜
５ｄの配列ピッチＡの長さの中には、３つの検査用端子
２５が配置され、当該検査用端子２５の配列ピッチＣは
電極端子５ａ〜５ｄの幅Ｂよりも小さいことから、貼合
わせ時には電極端子５ａ〜５ｄにそれぞれ２つの検査用
端子２５が接触する。

【００２２】また、複数の検査用端子２５は、電極端子
５ａ〜５ｄの配列ピッチＡと検査用端子２５の配列ピッ
チＣとに基づいて、複数のグループに分割される。本実
施例では、検査用端子２５は電極端子５ａ〜５ｄの配列
ピッチＡの長さの中に配置される３つの検査用端子２５
によって３つのグループに分割される。すなわち、図２
〜図４紙面上で左から順に符号ｎ１〜ｎ１３で示した検
査用端子２５は、ｎ１，ｎ４，ｎ７，ｎ１０，ｎ１３に
よって第１グループが構成され、ｎ２，ｎ５，ｎ８，ｎ
１１によって第２グループが構成され、ｎ３，ｎ６，ｎ
９，ｎ１２によって第３グループが構成される。

【００２３】検査用基板１１に設けられる配線２７ａ〜
２７ｃは、前記３つのグループに属する検査用端子２５
をそれぞれ共通に接続するために３本設けられ、当該３
本の配線２７ａ〜２７ｃは、貼合わせ時において電極端
子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間
隔をあけて設けられる。

【００２４】切換接続回路１３は、スイッチ２３ａ〜２
３ｃおよびスイッチ２４ａ〜２４ｃを含んで構成され、
スイッチ２３ａ〜２３ｃは検査用基板１１の配線２７ａ
〜２７ｃの接続を接続検出回路１４および信号出力回路
１５との接続／遮断を切換えるスイッチ２４ａ〜２４ｃ
のうちのいずれか一方に切換える。検査用基板１１の配
線２７ａは配線１８ａによってスイッチ２３ａに接続さ
れ、配線２７ｂは配線１８ｂによってスイッチ２３ｂに
接続され、配線２７ｃは配線１８ｃによってスイッチ２
３ｃに接続される。前記配線１８ａ〜１８ｃによって前
記検査用ケーブル１８が構成される。配線２７ａの接続
は、スイッチ２３ａによって切換えられ、配線２７ｂの
接続はスイッチ２３ｂによって切換えられ、配線２７ｃ
の接続はスイッチ２３ｃによって切換えられる。

【００２５】スイッチ２３ａの切換えられる２つの端子
のうちの一方の端子は配線２２によって接続検出回路１
４と接続され、他方の端子はスイッチ２４ａに接続され
る。また、スイッチ２３ｂ，２３ｃの切換えられる２つ
の端子のうちの一方の端子は、配線２２ｂによって接続
検出回路１４と接続され、スイッチ２３ｂ，２３ｃの他
方の端子はそれぞれスイッチ２４ｂ，２４ｃに接続され
る。配線２２ａ，２２ｂによって前記接続ケーブル２２
が構成される。スイッチ２４ａは配線１９ａによって信
号出力回路１５に接続され、スイッチ２４ｂは配線１９
ｂによって信号出力回路１５に接続され、スイッチ２４
ｃは配線１９ｃによって信号出力回路１５に接続され
る。配線１９ａ〜１９ｃによって出力ケーブル１９が構
成される。

【００２６】表示パネル２の動作の良否を検査する際に
は、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１が、
前記電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用
基板１１の複数の検査用端子２５とが対向するようにし
て貼合わせられる。ＣＰＵ１６は、切換接続回路１３お
よび接続検出回路１４を制御し、接続検出回路１４は、
検査用基板１１の各グループ毎に設けられる配線２７ａ
〜２７ｃのうちの互いに異なる２本の配線間の導通／非
導通状態を、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別す
る。

【００２７】すなわち、第１グループに対応した配線２
７ａと第２グループに対応した配線２７ｂとの間の状態
を、スイッチ２３ａ，２３ｂを接続検出回路１４側に切
換えて判別し、同様にして、第２グループに対応した配
線２７ｂと第３グループに対応した配線２７ｃとの間の
状態を、スイッチ２３ｂ，２３ｃを接続検出回路１４側
に切換えて判別し、第１グループに対応した配線２７ａ
と第３グループに対応した配線２７ｃとの間の状態を、
スイッチ２３ａ，２３ｃを接続検出回路１４側に切換え
て判別する。このとき、スイッチ２４ａ〜２４ｃは遮断
される。これによって、接続検出回路１４は、１つの組
合わせの導通状態を検出する。たとえば、図２に示され
るように電極端子５ａ〜５ｄに第２グループおよび第３
グループの検査用端子２５が接触している場合、第２グ
ループに対応した配線２７ｂと第３グループに対応した
配線２７ｃとの間が導通状態となり、他の配線間の状態
は非導通状態となる。

【００２８】接続検出回路１４の判別結果は、ＲＡＭ
（ランダムアクセスメモリ）などで実現されるメモリ１
７に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内
容に基づいて、切換接続回路１３のスイッチ２４ａ〜２
４ｃを接続する。この場合、スイッチ２４ｂ，２４ｃを
接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ２３ｂ，２３ｃ
をスイッチ２４ｂ，２４ｃ側に切換える。

【００２９】続いてＣＰＵ１６は、信号出力回路１５を
制御する。信号出力回路１５からは検査用の信号が出力
される。出力された検査用信号は、切換接続回路１３、
および検査用基板１１の第２および第３グループの検査
用端子２５を介して、前記電極端子５ａ〜５ｄから表示
パネル２に入力される。表示パネル２の動作の良否は、
入力された検査用の信号に基づく表示状態によって判断
される。たとえば、複数の帯状の走査電極３のうちの１
つに断線が生じていた場合、当該電極にかかわる表示不
良が生じる。

【００３０】また、図３に示されるように、電極端子５
ａ〜５ｄに第１および第３グループの検査用端子２５が
接触していた場合、接続検出回路１４は同様の判別動作
を行い、第１および第３グループに対応した配線２７
ａ，２７ｃ間が導通状態であることを検出する。また、
スイッチ２４ａ，２４ｃを接続し、スイッチ２３ａ，２
３ｃをスイッチ２４ａ，２４ｃ側に切換える。さらに、
前述したのと同様にして、信号出力回路１５から検査用
の信号を出力する。

【００３１】さらに、図４に示されるように、電極端子
５ａ〜５ｄに第１および第２グループの検査用端子２５
が接触している場合、出力検出回路１４は第１および第
２グループに対応した配線２７ａ，２７ｂ間が導通状態
であることを検出する。また、スイッチ２４ａ，２４ｂ
を接続し、スイッチ２３ａ，２３ｂをスイッチ２４ａ，
２４ｂ側に切換える。さらに前述したのと同様にして信
号出力回路１５から検査用の信号を出力する。

【００３２】このように本実施例によれば、検査時にお
いて１つの電極端子５ａ〜５ｄには２つの検査用端子２
５が必ず接触する。また、検査用端子２５を３つのグル
ープに分割して、各グループ毎に設けられる３本の配線
２７ａ〜２７ｃのうちの２本の配線間の導通／非導通状
態が、全ての配線２７ａ〜２７ｃにおいて判別されて、
導通状態の配線に検査信号が与えられる。

【００３３】したがって、少なくとも検査時における位
置ずれによる接触不良をなくすことができる。また、検
査用基板１１上の複数の検査用端子２５は、３本の配線
２７ａ〜２７ｃによって接続され、当該配線２７ａ〜２
７ｃを介して接続検出回路１４による判別および検査用
信号の供給が行われるので、複数の検査用端子２５にそ
れぞれ配線を設ける必要がなく、検査用基板１１上の配
線パターンが簡略化される。

【００３４】図５〜図７は、本発明の他の実施例である
検査装置の検査用基板３１の構成を示す図であり、それ
ぞれ表示パネル２の電極端子部６と検査用基板３１とを
貼合わせる際に位置ずれが生じた場合を示している。本
実施例の検査装置は、前記検査装置１とほぼ同様に構成
され、検査用基板１１および切換接続回路１３に代わっ
て検査用基板３１および切換接続回路３４が設けられる
以外は同様であり、同じ参照符を付して示す。

【００３５】検査用基板３１には、前述した検査用端子
２５と同様に、配列ピッチＣで複数の検査用端子３３が
設けられる。本実施例においても、貼合わせ時には電極
端子５ａ〜５ｄにはそれぞれ２つの検査用端子３３が接
触する。また、前記複数の検査用端子３３は６つのグル
ープに分割される。すなわち図５〜図７紙面上で左から
順に符号ｍ１〜ｍ１３で示した検査用端子３３は、ｍ
５，ｍ１１によって第１グループが、ｍ６，ｍ１２によ
って第２グループが、ｍ１，ｍ７，ｍ１３によって第３
グループが、ｍ２，ｍ８によって第４グループが、ｍ
３，ｍ９によって第５グループが、ｍ４，ｍ１０によっ
て第６グループがそれぞれ構成される。

【００３６】検査用基板３１に設けられる配線３８ａ〜
３８ｆは、前記６つのグループに属する検査用端子３３
をそれぞれ共通に接続するために６本設けられ、当該６
本の配線３８ａ〜３８ｆは貼合わせ時において、電極端
子５ａ〜５ｄの配列方向２６と平行となるようにして間
隔をあけて設けられる。

【００３７】切換接続回路３４は、スイッチ３５ａ〜３
５ｆおよびスイッチ３６ａ〜３６ｆを含んで構成され
る。スイッチ３５ａ〜３５ｆは、前記スイッチ２３ａ〜
２３ｃと同様に、検査用基板３１の配線３８ａ〜３８ｆ
の接続を接続検出回路１４および信号出力回路１５との
接続／遮断を切換えるスイッチ３６ａ〜３６ｆのうちの
いずれか一方に切換える。検査用基板３１の配線３８ａ
〜３８ｆは、配線３２ａ〜３２ｆによってスイッチ３５
ａ〜３５ｆにそれぞれ接続される。本実施例では、配線
３２ａ〜３２ｆによって前記検査用ケーブル１８が構成
される。

【００３８】配線３８ａ〜３８ｆの接続は、スイッチ３
５ａ〜３５ｆによってそれぞれ切換えられる。スイッチ
３５ａ，３５ｄ，３５ｅの切換えられる２つの端子のう
ちの一方の端子は、配線２２ａによって接続検出回路１
４と接続され、他方の端子はスイッチ３６ａ，３６ｄ，
３６ｅに接続される。また、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，
３５ｆの切換えられる２つの端子のうちの一方の端子
は、配線２２ｂによって接続検出回路１４と接続され、
他方の端子はスイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｆに接続さ
れる。スイッチ３６ａ〜３６ｆは、配線３７ａ〜３７ｆ
によってそれぞれ信号出力回路１５に接続される。本実
施例では、配線３７ａ〜３７ｆによって前記出力ケーブ
ル１９が構成される。

【００３９】表示パネル２の動作の良否を検査する際に
は、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１が、
電極端子部６の複数の電極端子５ａ〜５ｄと検査用基板
３１の複数の検査用端子３３とが対向するようにして貼
合わせられる。接続検出回路１４は、前述したのと同様
に、各グループ毎に設けられる配線３８ａ〜３８ｆのう
ちの互いに異なる２本の配線間の導通／非導通状態を、
それぞれの配線３８ａ〜３８ｆにおいて判別する。これ
によって、接続検出回路１４は、２つの組合わせの導通
状態を検出する。

【００４０】たとえば図５に示されるように、電極端子
５ａ，５ｃに第４および第５グループの検査用端子３３
が接触し、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第２グルー
プの検査用端子３３が接触して貼合わせられたとする
と、第１および第２グループに対応した配線３８ａ，３
８ｂ間および第４および第５グループに対応した配線３
８ｄ，３８ｅ間が導通状態となり、他の配線間は非導通
状態となる。

【００４１】接続検出回路１４の判別結果はメモリ１７
に記憶され、ＣＰＵ１６はメモリ１７に記憶された内容
に基づいて切換接続回路３４のスイッチ３６ａ〜３６ｆ
を接続する。この場合、スイッチ３６ａ，３６ｂ，３６
ｄ，３６ｅを接続する。また、ＣＰＵ１６はスイッチ３
５ａ，３５ｂ，３５ｄ，３５ｅをスイッチ３６ａ，３６
ｂ，３６ｄ，３６ｅ側に切換える。続いて、信号出力回
路１５から検査用の信号が出力され、出力された検査用
信号は切換接続回路３４および検査用基板３１の第１，
第２，第４および第５グループの検査用端子３３を介し
て電極端子５ａ〜５ｄから表示パネル２に入力される。

【００４２】また、図６に示されるように、電極端子５
ａ，５ｃに第３および第４グループの検査用端子３３
が、電極端子５ｂ，５ｄに第１および第６グループの検
査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回
路１４は同様の判別動作を行い、第１および第６グルー
プに対応した配線３８ａ，３８ｆ間および第３および第
４グループに対応した配線３８ｃ，３８ｄ間が導通状態
であることを検出する。また、スイッチ３６ａ，３６
ｃ，３６ｄ，３６ｆを接続し、スイッチ３５ａ，３５
ｃ，３５ｄ，３５ｆをスイッチ３６ａ，３６ｃ，３６
ｄ，３６ｆ側に切換える。さらに、前述したのと同様に
して、信号出力回路１５から検査用の信号を出力する。

【００４３】さらに、図７に示されるように、電極端子
５ａ，５ｃに第５および第６グループの検査用端子３３
が、電極端子５ｂ，５ｄに第２および第３グループの検
査用端子３３がそれぞれ接触したとすると、接続検出回
路１４は、第２および第３グループに対応した配線３８
ｂ，３８ｃ間および第５および第６グループに対応した
配線３８ｅ，３８ｆ間が導通状態であることを検出す
る。また、スイッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆを
接続し、スイッチ３５ｂ，３５ｃ，３５ｅ，３５ｆをス
イッチ３６ｂ，３６ｃ，３６ｅ，３６ｆ側に切換える。
さらに前述したのと同様にして、信号出力回路１５から
検査用の信号を出力する。

【００４４】以上のように本実施例によれば、前述した
実施例と同様に少なくとも検査時における位置ずれによ
る接触不良をなくすことができ、検査用基板３１上の配
線パターンが簡略化される。さらに、本実施例によれ
ば、６本の配線３８ａ〜３８ｆのうちの２本の配線間の
導通／非導通が判別されて、２つの導通状態の配線の組
合わせが検出される。この２組の導通状態の配線によっ
て接続される検査用端子３３が接触する電極端子５ａ〜
５ｄは、一方の組合わせによるものと、他方の組合わせ
によるものとが互いに交互になっている。したがって、
信号出力回路１５からの信号を選ぶことによって、電極
端子５ａ〜５ｄに交互に異なる検査用の信号を与えるこ
とが可能となる。

【００４５】また、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ間にお
いて短絡が発生しているか否かを検査することが可能と
なる。たとえば、図５を参照して、第１グループに対応
した配線３８ａまたは第２グループに対応した配線３８
ｂと、第４グループに対応した配線３８ｄまたは第５グ
ループに対応した配線３８ｅとの間の導通／非導通状態
を判別することによって、隣接する電極端子５ａ〜５ｄ
間において短絡が発生しているか否かを検査することが
でき、導通していた場合に短絡が発生していると判断さ
れる。

【００４６】図８は、図２に示される切断面線Ｉ−Ｉに
おける断面図である。このように検査用基板１１に設け
られる配線２７ａ〜２７ｃおよび検査用端子２５は、た
とえば絶縁性を有する樹脂製の基板１１の一方表面１１
ａと他方表面１１ｂとに設けられる。配線２７ａ〜２７
ｃと検査用端子２５との接続は、基板１１の前述したよ
うな所定の位置に挿通孔１１ｃを設け、この挿通孔１１
ｃによって配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２５とを導
電性を有する金属などで接続することによって実現され
る。

【００４７】なお、配線２７ａ〜２７ｃと検査用端子２
５とを基板１１の一方表面にのみ形成することも可能で
あり、この場合、配線２７ａ〜２７ｃ上に検査用端子２
５が設けられ、検査用端子２５が設けられていない配線
部分は、たとえば絶縁層で覆われる。また、前記検査用
基板１１と同様にして検査用基板３１上の配線３８ａ〜
３８ｆおよび検査用端子３３も形成される。

【００４８】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、表示装置
の動作の良否を検査する際において、表示装置の電極端
子と検査用基板の検査用端子との位置ずれによる接触不
良を確実になくすことができる。したがって、検査時に
おいて、表示装置と検査用基板との位置ずれを考慮する
必要がなくなり、検査が比較的容易となる。また、検査
用基板の検査用端子は、いくつかのグループに分割され
て、グループ毎に共通の配線によって接続される。たと
えば、３つのグループに分割されて各グループ毎に共通
の３本の配線によって接続される。したがって、配線の
本数が低減し、配線パターンが簡略化される。

【００４９】また本発明によれば、２つの電極端子ピッ
チ内に配置される６つの検査用端子によって６つのグル
ープに分割することによって、隣接する電極端子に互い
に異なる検査信号を与えることが可能となる。また、隣
接する電極端子間で短絡が発生しているか否かを判断す
ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である表示装置の検査装置１
の構成を示すブロック図である。

【図２】前記検査装置１の検査用基板１１の構成を示
し、表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１を貼
合わせる場合の一例を示す図である。

【図３】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１
を貼合わせる場合の他の例を示す図である。

【図４】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板１１
を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。

【図５】本発明の他の実施例である検査装置の検査用基
板３１の構成を示し、表示パネル２の電極端子部６に検
査用基板３１を貼合わせる場合の一例を示す図である。

【図６】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１
を貼合わせる場合の他の例を示す図である。

【図７】表示パネル２の電極端子部６に検査用基板３１
を貼合わせる場合のさらに他の例を示す図である。

【図８】前記検査用基板１１の断面図である。

【符号の説明】

１ 検査装置 ２ 表示パネル ５，５ａ〜５ｄ，７ 電極端子 ６，８ 電極端子部 １１，１２，３１ 検査用基板 １３，３４ 切換接続回路 １４ 接続検出回路 １５ 信号出力回路 １６ ＣＰＵ １７ メモリ ２３ａ〜２３ｃ，２４ａ〜２４ｃ，３５ａ〜３５ｆ，３
６ａ〜３６ｆ スイッチ ２５，３３ 検査用端子 ２７ａ〜２７ｃ，３８ａ〜３８ｆ 配線

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示装置の複数の電極端子に検査信号を
   与えて表示装置の動作の良否を検査する表示装置の検査
   装置において、 配列ピッチが表示装置の電極端子幅よりも小さく選ばれ
   る複数の検査用端子と、前記複数の検査用端子が、電極
   端子ピッチおよび検査用端子ピッチに基づいて複数のグ
   ループに分割され、各グループに属する検査用端子をそ
   れぞれ共通に接続する複数の配線とを有する検査用基板
   と、 前記複数の配線のうちの互いに異なる２本の配線間の導
   通／非導通状態を、全ての配線において判別する判別手
   段と、 前記配線に検査信号を与える信号出力手段と、 前記配線との接続を判別手段または信号出力手段に切換
   える切換接続手段とを含むことを特徴とする表示装置の
   検査装置。
2. 【請求項２】 前記検査用基板の複数の検査用端子は、
   当該検査用端子の配列ピッチが電極端子幅よりも小さく
   選ばれ、検査用端子ピッチが電極端子ピッチの３分の１
   に選ばれて３つのグループに分割され、 各グループに属する検査用端子をそれぞれ共通に接続す
   る３本の配線が電極端子の配列方向と平行に間隔をあけ
   て配置されることを特徴とする請求項１記載の表示装置
   の検査装置。
3. 【請求項３】 前記検査用基板の複数の検査用端子は、
   当該検査用端子の配列ピッチが電極端子幅よりも小さく
   選ばれ、検査用端子ピッチが電極端子ピッチの３分の１
   に選ばれて６つのグループに分割され、 各グループに属する検査用端子をそれぞれ共通に接続す
   る６本の配線が電極端子の配列方向と平行に間隔をあけ
   て配置されることを特徴とする請求項１記載の表示装置
   の検査装置。
4. 【請求項４】 複数の電極端子が配設された表示装置の
   動作の良否を検査する表示装置の検査方法において、 配列ピッチが表示装置の電極端子幅よりも小さく選ばれ
   る複数の検査用端子と、前記複数の検査用端子が、電極
   端子ピッチおよび検査用端子ピッチに基づいて複数のグ
   ループに分割され、各グループに属する検査用端子をそ
   れぞれ共通に接続する複数の配線とを有する検査用基板
   を準備し、 表示装置の電極端子と検査用基板の検査用端子とが互い
   に対向するようにして、前記検査用基板を表示装置に貼
   合わせ、 前記検査用基板の複数の配線のうちの互いに異なる２本
   の配線間の導通／非導通状態を、全ての配線において判
   別し、 導通状態と判別された配線に検査信号を与えることを特
   徴とする表示装置の検査方法。