JPH11168038A - セラミック製のシートのベースに構成エレメントを形成するための方法 - Google Patents

セラミック製のシートのベースに構成エレメントを形成するための方法

Info

Publication number
JPH11168038A
JPH11168038A JP10263591A JP26359198A JPH11168038A JP H11168038 A JPH11168038 A JP H11168038A JP 10263591 A JP10263591 A JP 10263591A JP 26359198 A JP26359198 A JP 26359198A JP H11168038 A JPH11168038 A JP H11168038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
component
embossed
components
outer contour
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10263591A
Other languages
English (en)
Inventor
Manfred Moser
モーザー マンフレート
Annette Dipl Phys Seibold
ザイボルト アネッテ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Publication of JPH11168038A publication Critical patent/JPH11168038A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4803Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
    • H01L21/4807Ceramic parts
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0044Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
    • H05K3/0052Depaneling, i.e. dividing a panel into circuit boards; Working of the edges of circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09036Recesses or grooves in insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/0909Preformed cutting or breaking line
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0104Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
    • H05K2203/0108Male die used for patterning, punching or transferring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 セラミック製のシートから成るベースに
構成エレメントを形成するための方法であって、構成エ
レメントが個別の機能層を1つのラミネート複合部材に
積層して成る基板内に装着され、基板が構造化の後に熱
処理され、次いで個別の構成エレメントが個別化される
形式のものにおいて、構成エレメント12の外側輪郭1
4を熱処理の前に予めエンボス加工して、該外側輪郭を
熱処理の後に構成エレメントの個別化のための目標破断
箇所として用いる。 【効果】 基板からの構成エレメントの個別化が簡単に
可能である。個別の構成エレメント、及び/又は構成エ
レメントを取り囲む基板を機械的な小さな力で負荷する
ことによって構成エレメントを基板全体から個別化する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミック製のシ
ートのベースに構成エレメントを形成するための方法で
あって、シートが一緒に1つの基板内で構造化され、こ
の場合、構成エレメントが個別の機能層の1つのラミネ
ート複合部材に積層された基板内に装着され、基板が構
造化の後に熱処理され、次いで個別の構成エレメントが
基板から個別化される形式のものに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば同じ構造を有する個別の多数の構
成エレメントをセラミック製のシートのベースに形成す
る際に、複数の構成エレメントを一緒に1つの基板に構
造化することは公知である。これによって、構成エレメ
ントは一般に比較的わずかな寸法しか有していないの
で、比較的に大きな基板が良好に処理され、この場合、
個別の構成エレメントは基板に与えられた面をできるだ
け最大に活用して構造化される。構成エレメントの特殊
な構造を得るために、個別の機能層を1つのラミネート
複合部材に積み重ねることは公知であり、この場合、所
望の構成エレメントの構造(Struktur)に相応して機能層
が相応のマスクを用いて被着される。構成エレメントの
構造化(Strukturierung)の後に基板全体が場合によって
は圧力及び熱を加えてプレスされ、次いで熱処理され
る。基板から構成エレメントを個別化するために、構成
エレメントを精密切断、例えばダイヤモンド切り(Diama
ntsaegen)、レーザー切断によって個別化することは公
知である。この場合、欠点として個別化のために比較的
煩雑で、従って高価な装置(レーザー、ダイヤモンド
鋸)が使用されねばならない。
【0003】
【課題を解決するための手段】前記公知技術の欠点を避
けるために、本発明の手段では、構成エレメントの外側
輪郭を熱処理(焼結)の前に予めエンボス加工して、予
めエンボス加工された外側輪郭を熱処理の後に構成エレ
メントの個別化のための目標破断箇所として用いるよう
になっている。
【0004】
【発明の効果】前記本発明に基づく方法により、前記公
知技術に対して利点として、基板からの構成エレメント
の個別化が簡単に可能である。構成エレメントの外側輪
郭が熱処理(焼結)の前に予めエンボス加工されて、こ
の場合、予めエンボス加工された外側輪郭が熱処理の後
に目標破断箇所として用いられることによって、有利に
は、個別の構成エレメント、及び/又は構成エレメント
を取り囲む基板を機械的な小さな力で負荷することによ
って構成エレメントを基板全体から個別化することがで
きる。外側輪郭のエンボス加工を熱処理の前に行うこと
によって、有利には1つのエンボスプランジャーを使用
でき、該エンボスプランジャーが大きな力なしに、個別
な機能層の既にラミネートされた、いわゆる未処理シー
トとしてのラミネート複合部材(Laminatverbund)内に正
確に押し込まれる。機能層の比較的軟らかい粘ちょうに
基づき、構造化された構成エレメントの損傷が避けられ
る。選ばれたエンボス深さ及び/又はエンボス輪郭に相
応して、目標破断箇所が構成エレメントの周囲に形成さ
れ、該目標破断箇所は基板全体の熱処理の後に簡単な折
り離しを可能にする。
【0005】比較的正確なエンボス加工及びエンボス側
面(Praegeflanke)の、熱処理によって生じる平滑化(Gla
ettung)に基づき、個別化された構成エレメントの後処
理(Nachbeargbeitung)、例えばまくれの除去などが不必
要である。本発明の有利な手段が請求項2以下に記載し
てある。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は基板(Substrat)10の平面
を示しており、基板から複数の構成エレメント(Bauelem
ent)12が形成される。構成エレメント12は1つの基
板10に同時に複数個、図示の実施例では13個、構造
化(strukturieren)され、製造プロセスの最終段階で個
別化される。構成エレメント12は例えば、個別の機能
層(Funktionsschicht)を多層に接続して形成されてお
り、機能層が構成エレメント12の所望の構造に相応し
て積み重ねられる。このことは、下側のシートから出発
して順次に個別のガラスセラミックシート(Glaskeramik
folie)が構成エレメントの後の機能に相応して重ねて被
着される。被着は例えば相応のマスクを介してプレスに
よって行われる。例えば圧力センサを形成する場合に
は、ダイヤフラム、空洞(Kaverne)、配線層、支持層な
どを成す個別の機能層が設けられる。個別の機能シート
(Funktionsfolie)の積み重ねの後に、機能層が圧力及び
/又は温度を与えてラミネート(laminieren)され、即ち
互いに接触する平面で継ぎ合わされる。この場合、個別
の機能層はまだいわゆる未処理のシート(gruene Folie)
であり、即ち比較的軟らかい粘ちょう(weiche Konsiste
nz)を有している。
【0007】個別の構成エレメントを規定するために、
図1の平面に輪郭14を示してあり、該輪郭は後で個別
化される構成エレメント12の外側輪郭を形成してい
る。図1では輪郭14はもっぱら後続の作業段階を明瞭
にするために図示されている。輪郭14は構成エレメン
ト12の設計時に設定され、この場合、構成エレメント
の後の規定のために基板10上に調整マーク(Justierma
rke)16が配置されている。予め行われた設定によっ
て、構成エレメント12の各輪郭14は調整マーク16
に対して所定の相対的な位置を占めている。
【0008】図示の実施例では円形の輪郭14から出発
している。もちろん要求に応じて、別の幾何学的な形、
例えば楕円形、方形、若しくはその他の自由な形が可能
である。
【0009】図2を用いて輪郭14の形成を示す。輪郭
は例えば1つのエンボスプランジャー(図示せず)を用
いて予め構造化され、このためにエンボスプランジャー
(Praegestempel)は輪郭14の予め規定されたデザイン
並びに基板10上の構成エレメント12の数及び位置に
対応して相応のプランジャー輪郭を有している。エンボ
スプランジャーを用いて構成エレメント12の周囲に溝
状の凹所16が形成され、(輪郭14の円形の場合に)
凹所の内径は構成エレメント12の得ようとする外側輪
郭(Aussenkontur)に相応している。溝状の凹所は異なる
深さで基板10内に形成されてよい。溝状の凹所が−図
2の図平面で見て−基板10の比較的大きな厚さにわた
って形成される場合には、エンボスプランジャーの構造
に基づき基板10と構成エレメント12との間に保持ウ
エブ(Haltesteg)18を残してあってよく、保持ウエブ
が構成エレメント12を所定の位置に保持している。基
板12をエンボスプランジャーによって予めエンボス加
工するために、エンボスプランジャーがもっぱらわずか
なエンボス力で負荷されるだけでよく、それというのは
ラミネート複合部材(Laminatverbund)、例えば非熱処理
の、いわゆる未処理シート(Gruenfolie)としてある複合
部材から成る基板10は比較的軟らかい粘ちょうしか有
していないからである。場合によっては、エンボスプラ
ンジャーは、大きなエンボス加工力を必要とすることな
しに輪郭14の正確なエンボス加工を実現するために加
熱可能であってよい。これによって特に、既に構造化さ
れた構成エレメント12の、エンボス加工による損傷が
避けられる。
【0010】保持ウエブの数及び大きさ、並びにエンボ
ス加工の深さは、後続のスクリーン印刷プロセス(Siebd
ruckprozess)のために十分な強度が維持されて、かつ応
力のない分離が可能であるように選ばれていてよい。
【0011】輪郭14を予めエンボス加工した後に、基
板10が焼結され、その結果、基板10の個別の機能層
が所望の強度を得る。焼結によって、機能層は比較的も
ろく(sproede)なり、その結果、構成エレメント12が
比較的わずかな力をかけることによって基板10から折
り取られ得る。従って構成エレメントは、例えばレーザ
ー若しくはダイヤモンド鋸(Diamantseage)を用いて精密
切断を行うことなしに簡単に個別化可能である。このよ
うなエンボス加工によって規定された輪郭14は目標破
断箇所を形成し、該目標破断箇所に沿って構成エレメン
ト12の折り取りが可能である。
【0012】図3は別の実施例の概略的な平面を示して
おり、構成エレメント12の外側輪郭(Aussenkontur)1
4は構成エレメント12に直接に接しているのではな
く、構成エレメントの周囲にいわば縁部区分20が残さ
れている。これによって、構成エレメント12が基板1
0上に幾何学模様に配置でき、この場合、輪郭(Kontur)
14の規定のために直線的な切れ込み(Kerbe)22が予
めエンボス加工されている。切れ込み22はエンボスプ
ランジャー(図示せず)の構成部分である簡単な刃部に
よって得られる。角隅区分24にはエンボス加工を行わ
ずに保持ウエブ26を形成してあり、該保持ウエブ(Hal
teseteg)が個別の構成エレメント12を互いに結合して
いる。基板10の焼結の後に構成エレメント12は力を
加えることによって互いに折り離しでき、この場合、保
持ウエブ26の比較的小さな寸法によってわずかな力し
か必要とされない。個別化は適当な装置を用いて行わ
れ、該装置が意図的に保持ウエブに係合して、そこに破
壊応力(Bruchspannung)よりも大きな曲げ応力(Biegespa
nnung)を生ぜしめ、これによって折れが生じて、ひいて
は個別化が行われる。
【0013】意図的な曲げ応力が必要であるので、続い
て別のスクリーン印刷プロセス(ポストファイアー・プ
ロセス[Postfire-Prozess])が行われてよい。これによ
って、上面及び/又は下面に導体路(AgPd, Au, Pt)、
抵抗器及び類似のものが装着される。さらに、不活性及
び活性の構成要素、チップ(Chip)及びワイヤー(Wire)若
しくはフリップチップ(Flip Chip)の装備も可能であ
る。
【0014】さらに図4及び図5には別の実施例が示し
てあり、この場合、図3に示す実施例に類似して個別の
構成エレメント12間に直線的な目標破断箇所が予めエ
ンボス加工される。エンボスプランジャーの刃部は保持
ウエブ26の構造化を省略できるように構成されてい
る。このことは、基板10が、図5の概略的な断面図に
示してあるように、上側の補助層(Hilfsschicht)28及
び下側の補助層30を備えていることによって達成され
る。このような層28,30は比較的薄い犠牲層によっ
て形成され、犠牲層はもっぱら製造プロセスのためにの
み被着されていて、後の構成エレメント12のためには
不必要である。輪郭14を生ぜしめる切れ込み22はこ
の場合、エンボスプランジャーを用いて基板10の全体
を通して下側の補助層30まで形成される。これによっ
て、個別の構成エレメント12の結束はもっぱら下側の
補助層30を介してしか行われておらず、従って、構成
エレメント12自体は既に個別化されている。続く焼結
プロセスにおいて、構成エレメント12は硬化され、こ
の場合、補助層28,30は焼結中に犠牲層として溶解
される。このようにして、焼結された構成エレメント1
2は既に個別化して生じており、その結果、引き切り(S
aegen)、切断(Schneiden)、折り取り若しくは類似の手
段による後続の個別化は省略される。場合によっては、
切れ込みに焼結中に生じるガラス拡散(Glasdiffusion)
及び/又は切れ込み14の切断深さの誤差によって隣接
の構成エレメント12間のわずかな付着が生じてよく、
構成エレメントはしかしながら実質的に力を加えること
なしに個別化される。
【0015】図4に示す実施例においては、少なくとも
構成エレメント12の後の個別化にとって上側の補助層
28は構成エレメント12の構造化のための別のプロセ
スに必要でないかぎり省略できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】構造化すべき構成エレメントを有する基板の概
略的な平面図
【図2】第1実施例の基板の概略的な平面図
【図3】第3実施例の基板の概略的な平面図
【図4】第4実施例の基板の概略的な平面図
【図5】第4実施例の基板の断面図
【符号の説明】
10 基板、 12 構成エレメント、 14 輪
郭、 16 調整マーク(凹所)、 18 保持ウ
エブ、 22 切れ込み、 24 角隅区分、
26 保持ウエブ、 28,30 補助層(犠牲層)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アネッテ ザイボルト ドイツ連邦共和国 ルーテスハイム ドレ ッシャーシュトラーセ 41

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック製のシートのベースに構成エ
    レメントを形成するための方法であって、シートが一緒
    に1つの基板内で構造化され、この場合、構成エレメン
    トが個別の機能層の1つのラミネート複合部材に積層さ
    れた基板内に装着され、基板が構造化の後に熱処理さ
    れ、次いで個別の構成エレメントが基板から個別化され
    る形式のものにおいて、構成エレメント(12)の外側
    輪郭(14)を熱処理(焼結)の前に予めエンボス加工
    して、予めエンボス加工された外側輪郭(14)を熱処
    理の後に構成エレメント(12)の個別化のための目標
    破断箇所として用いることを特徴とする、セラミック製
    のシートのベースに構成エレメントを形成するための方
    法。
  2. 【請求項2】 エンボス深さ及び/又はエンボス輪郭を
    介して、構成エレメント(12)の個別化のための、目
    標破断箇所に生ぜしめるべき力を作用させる請求項1記
    載の方法。
  3. 【請求項3】 外側輪郭(14)の規定のために構成エ
    レメント(12)内に溝状の凹所(16)をエンボス加
    工する請求項1又は2記載の方法。
  4. 【請求項4】 構成エレメント(12)と基板(10)
    との間の結合部として少なくとも1つの保持ウエブ(1
    8)を残す請求項1から3のいずれか1項記載の方法。
  5. 【請求項5】 保持ウエブの数及び大きさ及びエンボス
    加工部の深さを、後続のスクリーン印刷のために十分な
    強度が維持されかつ応力のない個別化が可能であるよう
    に選ぶ請求項1から4のいずれか1項記載の方法。
  6. 【請求項6】 外側輪郭(14)を構成エレメント(1
    2)の形に適合させる請求項1から5のいずれか1項記
    載の方法。
  7. 【請求項7】 外側輪郭(14)を予め直線的にエンボ
    ス加工する請求項1から6のいずれか1項記載の方法。
  8. 【請求項8】 外側輪郭(14)を予め円形にエンボス
    加工する請求項1から6のいずれか1項記載の方法。
  9. 【請求項9】 外側輪郭(14)を予め任意の形で相応
    に形成された工具を用いてエンボス加工する請求項1か
    ら8のいずれか1項記載の方法。
  10. 【請求項10】 基板(10)に少なくとも1つの補助
    層(28,30)を備えて、該補助層を介して構成エレ
    メント(12)を互いにつなぎ合わせており、構成エレ
    メントを熱処理の前に適当な深さのエンボス加工によっ
    て個別化する請求項1から9のいずれか1項記載の方
    法。
  11. 【請求項11】 少なくとも1つの補助層(28,3
    0)を犠牲層として基板(10)の熱処理中に溶解する
    請求項10記載の方法。
JP10263591A 1997-09-17 1998-09-17 セラミック製のシートのベースに構成エレメントを形成するための方法 Pending JPH11168038A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19740790A DE19740790C1 (de) 1997-09-17 1997-09-17 Verfahren zur Herstellung von Bauelementen auf Basis keramischer Folien
DE19740790.0 1997-09-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11168038A true JPH11168038A (ja) 1999-06-22

Family

ID=7842574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10263591A Pending JPH11168038A (ja) 1997-09-17 1998-09-17 セラミック製のシートのベースに構成エレメントを形成するための方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH11168038A (ja)
DE (1) DE19740790C1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001096523A (ja) * 1999-09-28 2001-04-10 Kyocera Corp セラミック基板の製造方法
JP2011151281A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001096523A (ja) * 1999-09-28 2001-04-10 Kyocera Corp セラミック基板の製造方法
JP4593704B2 (ja) * 1999-09-28 2010-12-08 京セラ株式会社 セラミック基板の製造方法
JP2011151281A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE19740790C1 (de) 1999-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8914974B2 (en) Method for integrating an electronic component into a printed circuit board
KR101779053B1 (ko) 적층 세라믹 기판의 분단 방법
CN111916356A (zh) 金属积层陶瓷基板的分断方法
JP5448400B2 (ja) セラミック部品の製造方法
JP5062844B2 (ja) セラミックス積層体の製造方法
JPH11168038A (ja) セラミック製のシートのベースに構成エレメントを形成するための方法
US7338839B2 (en) Method for producing an electrical component
JP7066970B2 (ja) パッケージ用基板、およびその製造方法
US7413920B2 (en) Double-sided etching method using embedded alignment mark
JP2012142483A (ja) セラミック基板の製造方法およびセラミック焼結積層体
EP1158549A1 (en) Laminated body manufacturing method and laminated body pressurizing device
KR100909117B1 (ko) 캐리어로부터 캐리어부분을 제거하기 위한 방법과 장치 및 캐리어로부터 제거된 제품
KR102434064B1 (ko) 세라믹 기판 제조 방법
KR20020084276A (ko) 다층 액추에이터 제조 방법 및 장치
JP7182779B2 (ja) 積層セラミックチップの製造方法および積層セラミックチップ製造用の焼成前チップの製造方法
TW201416205A (zh) 積層陶瓷基板之分斷方法
JP4544179B2 (ja) セラミック基板の製造方法
JP4275428B2 (ja) 多層セラミック基板およびその製造方法
JP3918086B2 (ja) 積層セラミック電子部品のプレス装置
JPH07135101A (ja) チップ状電子部品及びその製造方法
JP2009016592A (ja) セラミック配線基板
JP2008192922A (ja) セラミック基板の製造方法およびセラミック基板
JP2001158013A (ja) セラミック基板の製造方法および製造装置
JP4540453B2 (ja) 積層電子部品の製造方法及び積層電子部品の製造方法
JP5404494B2 (ja) 多数個取り配線基板の分割溝形成方法