JPH11161988A - 光学ピックアップ装置 - Google Patents
光学ピックアップ装置Info
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- JPH11161988A JPH11161988A JP32492097A JP32492097A JPH11161988A JP H11161988 A JPH11161988 A JP H11161988A JP 32492097 A JP32492097 A JP 32492097A JP 32492097 A JP32492097 A JP 32492097A JP H11161988 A JPH11161988 A JP H11161988A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光学ディスクが反ってしまうと、光学ピック
アップ装置からのレーザ光が保護層となる透明基板に対
し、傾いて入射することになり、コマ収差を発生し、結
像性能に悪影響を与える。 【解決手段】 回折格子２は、半導体レーザ（ＬＤ）１
から出射されたレーザ光をメインビームとこのメインビ
ームの両脇に位置にする二つのサイドビームに３分割す
ると共に、この３分割光を光学ディスク１０上の半径Ｒ
方向に揃える。対物レンズ５は、回折格子２からの３分
割光を上記光学ディスク上の信号記録位置に結像させ
る。受光部６は、対物レンズ５で集光された上記３分割
光の上記光学ディスクからの反射光を受光する。再生信
号候補生成部７は、受光部６から３つの反射光に基づい
て３つの再生信号候補を生成する。そして、再生信号候
補生成部７の３つの再生信号候補の内の一が切り換えス
イッチ８により選択される。
アップ装置からのレーザ光が保護層となる透明基板に対
し、傾いて入射することになり、コマ収差を発生し、結
像性能に悪影響を与える。 【解決手段】 回折格子２は、半導体レーザ（ＬＤ）１
から出射されたレーザ光をメインビームとこのメインビ
ームの両脇に位置にする二つのサイドビームに３分割す
ると共に、この３分割光を光学ディスク１０上の半径Ｒ
方向に揃える。対物レンズ５は、回折格子２からの３分
割光を上記光学ディスク上の信号記録位置に結像させ
る。受光部６は、対物レンズ５で集光された上記３分割
光の上記光学ディスクからの反射光を受光する。再生信
号候補生成部７は、受光部６から３つの反射光に基づい
て３つの再生信号候補を生成する。そして、再生信号候
補生成部７の３つの再生信号候補の内の一が切り換えス
イッチ８により選択される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源からの光を光
学ディスクに照射し、反射光に基づいて上記光学ディス
ク上の記録信号を再生する光学ピックアップ装置に関す
る。
学ディスクに照射し、反射光に基づいて上記光学ディス
ク上の記録信号を再生する光学ピックアップ装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、光学式ディスクの高密度化が進ん
でおり、それに伴い光学ピックアップ装置からのレーザ
光の結像スポットの小径化が必要となってきた。一般に
知られている様に結像スポットの大きさは、対物レンズ
の開口数をＮＡ、レーザ光の波長をλとすると、λ／Ｎ
Ａに比例しており、スポットサイズを小さくするには波
長を短く、又は対物レンズの開口数を大きくする必要が
ある。
でおり、それに伴い光学ピックアップ装置からのレーザ
光の結像スポットの小径化が必要となってきた。一般に
知られている様に結像スポットの大きさは、対物レンズ
の開口数をＮＡ、レーザ光の波長をλとすると、λ／Ｎ
Ａに比例しており、スポットサイズを小さくするには波
長を短く、又は対物レンズの開口数を大きくする必要が
ある。
【０００３】図８に光学式ディスク１０の構造を示す。
光学ピックアップ装置からのレーザ光の結像スポットは
保護層１０ａとなる透明基板を介して反射面１０ｂ上の
信号記録層に照射される。なお、この保護層１０ａとな
る透明基板は主に音楽再生用に用いられているコンパク
トディスク（ＣＤ）では1.2mmである。また、主に映像
及び音楽記録再生用に用いられるディジタルビデオディ
スク（ＤＶＤ）では0.6mmである。
光学ピックアップ装置からのレーザ光の結像スポットは
保護層１０ａとなる透明基板を介して反射面１０ｂ上の
信号記録層に照射される。なお、この保護層１０ａとな
る透明基板は主に音楽再生用に用いられているコンパク
トディスク（ＣＤ）では1.2mmである。また、主に映像
及び音楽記録再生用に用いられるディジタルビデオディ
スク（ＤＶＤ）では0.6mmである。
【０００４】光学式ディスク１０が上記光学ピックアッ
プから出ている光に対し垂直に配置されている場合、上
記保護層１０ａとなる透明基板は収差を発生しないが、
上記ディスク１０が反っているときには、上記レーザ光
が保護層１０ａとなる透明基板に対し、傾いて入射する
こととなり、この部分を通過するときにコマ収差を発生
し、結像性能に悪影響を与える。このコマ収差は開口数
の３乗に比例し、また保護層１０ａとなる透明基板の厚
さにも比例する。高密度化が進むにつれ、上記ディスク
１０の反りにより発生するコマ収差が結像スポットに与
える影響が無視できなくなる。
プから出ている光に対し垂直に配置されている場合、上
記保護層１０ａとなる透明基板は収差を発生しないが、
上記ディスク１０が反っているときには、上記レーザ光
が保護層１０ａとなる透明基板に対し、傾いて入射する
こととなり、この部分を通過するときにコマ収差を発生
し、結像性能に悪影響を与える。このコマ収差は開口数
の３乗に比例し、また保護層１０ａとなる透明基板の厚
さにも比例する。高密度化が進むにつれ、上記ディスク
１０の反りにより発生するコマ収差が結像スポットに与
える影響が無視できなくなる。
【０００５】そこで、従来、例えば大型の光学式ビデオ
ディスクを再生するときには、ディスクの反りを、図９
に示すように光学ピックアップ装置４０に付いているデ
ィスクスキュー検出器５０で検出し、その信号を用いて
ピックアップ装置４０全体を動かし、ピックアップから
のレーザ光を上記ディスク１０に対して垂直となるよう
に調整している。
ディスクを再生するときには、ディスクの反りを、図９
に示すように光学ピックアップ装置４０に付いているデ
ィスクスキュー検出器５０で検出し、その信号を用いて
ピックアップ装置４０全体を動かし、ピックアップから
のレーザ光を上記ディスク１０に対して垂直となるよう
に調整している。
【０００６】すなわち、この光学ピックアップ装置４０
は、光学ブロック４１と、この光学ブロック４１上に配
置された対物レンズ４２と、光学ブロック４１と対物レ
ンズ４２の間に配置されたサーボデバイスとしてのアク
チュエータ４３及び光学ブロック４１とディスク１０の
間に配置されたディスクスキュー検出器５０とから主に
構成される。なお、アクチュエータ４３は光学ブロック
４１上に設けられたアクチュエータ支持部４４に可動部
品４５を介して支持されている。
は、光学ブロック４１と、この光学ブロック４１上に配
置された対物レンズ４２と、光学ブロック４１と対物レ
ンズ４２の間に配置されたサーボデバイスとしてのアク
チュエータ４３及び光学ブロック４１とディスク１０の
間に配置されたディスクスキュー検出器５０とから主に
構成される。なお、アクチュエータ４３は光学ブロック
４１上に設けられたアクチュエータ支持部４４に可動部
品４５を介して支持されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ディス
クスキュー検出器５０は、発光ダイオード（ＬＥＤ）、
フォトダイオード及び集光レンズが一体形成され、更に
演算部とＩ−Ｖ変換部からなる電気回路及び傾き調整機
構部のそれぞれが別構成になっており、機能が複雑とな
り、また、部品点数も増えコストがアップしてしまう。
クスキュー検出器５０は、発光ダイオード（ＬＥＤ）、
フォトダイオード及び集光レンズが一体形成され、更に
演算部とＩ−Ｖ変換部からなる電気回路及び傾き調整機
構部のそれぞれが別構成になっており、機能が複雑とな
り、また、部品点数も増えコストがアップしてしまう。
【０００８】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、上記ディスクスキュー検出器のような追加部分
を不要としローコストでも高品質の再生信号を得ること
ができる光学ピックアップ装置の提供を目的とする。
であり、上記ディスクスキュー検出器のような追加部分
を不要としローコストでも高品質の再生信号を得ること
ができる光学ピックアップ装置の提供を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ピック
アップ装置は、上記課題を解決するために、光分割手段
により光源からの光を少なくとも２分割し、結像位置調
整手段により上記光分割手段からの少なくとも２分割光
の上記光学ディスク上の結像位置を上記光学ディスク上
の半径方向に揃えるための調整を行い、集光手段により
上記結像位置調整手段からの２分割光を上記光学ディス
ク上の信号記録位置に結像させ、受光手段により上記集
光手段で集光された少なくとも２分割光の上記光学ディ
スクからの反射光を受光し、再生信号候補生成手段によ
り上記受光手段からそれぞれの反射光に基づいて少なく
とも２つの再生信号候補を生成し、そして、上記再生信
号候補手段の少なくとも２つの再生信号候補の内の一を
選択して再生信号を決定する。
アップ装置は、上記課題を解決するために、光分割手段
により光源からの光を少なくとも２分割し、結像位置調
整手段により上記光分割手段からの少なくとも２分割光
の上記光学ディスク上の結像位置を上記光学ディスク上
の半径方向に揃えるための調整を行い、集光手段により
上記結像位置調整手段からの２分割光を上記光学ディス
ク上の信号記録位置に結像させ、受光手段により上記集
光手段で集光された少なくとも２分割光の上記光学ディ
スクからの反射光を受光し、再生信号候補生成手段によ
り上記受光手段からそれぞれの反射光に基づいて少なく
とも２つの再生信号候補を生成し、そして、上記再生信
号候補手段の少なくとも２つの再生信号候補の内の一を
選択して再生信号を決定する。
【００１０】このため、特に上述したようなディスクス
キュー検出器を用いることなく、ディスクのスキューに
応じて適切な再生信号を得ることができる。
キュー検出器を用いることなく、ディスクのスキューに
応じて適切な再生信号を得ることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光学ピックア
ップ装置の実施の形態について図面を参照しながら説明
する。
ップ装置の実施の形態について図面を参照しながら説明
する。
【００１２】この実施の形態は、光源からのレーザ光を
例えばコンパクトディスクのような光学ディスクに照射
し、反射光に基づいて上記ディスク上の記録信号を再生
する光学ピックアップ装置である。
例えばコンパクトディスクのような光学ディスクに照射
し、反射光に基づいて上記ディスク上の記録信号を再生
する光学ピックアップ装置である。
【００１３】この光学ピックアップ装置は、図１に示す
ように、半導体レーザ（ＬＤ）１から出射されたレーザ
光をメインビームとこのメインビームの両脇に位置にす
る二つのサイドビームに３分割する回折格子２と、この
回折格子２からの３分割光を図２の（Ａ）に示すように
上記ディスク１０上の半径Ｒ方向に揃えるための調整を
行う結像位置調整手段と、この結像位置調整手段からの
３分割光を上記光学ディスク上の信号記録位置に結像さ
せる対物レンズ５と、この対物レンズ５で集光された上
記３分割光の上記光学ディスクからの反射光を受光する
受光部６と、この受光部６から３つの反射光に基づいて
３つの再生信号候補を生成する再生信号候補生成部７と
を備え、再生信号候補生成部７の３つの再生信号候補の
内の一を選択して再生信号を決定し出力端子９から出力
する。ここで、回折格子２は上記結像位置調整手段を機
能的に含んでいる。
ように、半導体レーザ（ＬＤ）１から出射されたレーザ
光をメインビームとこのメインビームの両脇に位置にす
る二つのサイドビームに３分割する回折格子２と、この
回折格子２からの３分割光を図２の（Ａ）に示すように
上記ディスク１０上の半径Ｒ方向に揃えるための調整を
行う結像位置調整手段と、この結像位置調整手段からの
３分割光を上記光学ディスク上の信号記録位置に結像さ
せる対物レンズ５と、この対物レンズ５で集光された上
記３分割光の上記光学ディスクからの反射光を受光する
受光部６と、この受光部６から３つの反射光に基づいて
３つの再生信号候補を生成する再生信号候補生成部７と
を備え、再生信号候補生成部７の３つの再生信号候補の
内の一を選択して再生信号を決定し出力端子９から出力
する。ここで、回折格子２は上記結像位置調整手段を機
能的に含んでいる。
【００１４】また、この光学ピックアップ装置は、回折
格子２により３分割されて得られたメインビームＭ、サ
イドビームＳ１及びＳ２を上記ディスク１０方向に反射
するハーフミラー３と、このハーフミラー３に反射され
た３分割光を平行ビームにするコリメータレンズ４も備
えてなる。
格子２により３分割されて得られたメインビームＭ、サ
イドビームＳ１及びＳ２を上記ディスク１０方向に反射
するハーフミラー３と、このハーフミラー３に反射され
た３分割光を平行ビームにするコリメータレンズ４も備
えてなる。
【００１５】全体的な動作としては、以下の通りであ
る。すなわち、半導体レーザ１から出射されたレーザ光
は回折格子２により３本のビームに分割され、ハーフミ
ラー３により反射され、コリメータレンズ４により平行
ビームとされ、対物レンズ５により集光され、ディスク
１０上の半径方向に図２の（Ａ）に示すようにメインビ
ームＭ、サイドビームＳ１及びＳ２として結像され、デ
ィスク１０上の信号を読み取る。このディスク１０から
の反射光は、対物レンズ５、コリメータレンズ４を通
り、ハーフミラー３を通過し、受光部６の光検出器
６S1、６M、及び６S2に結像される。
る。すなわち、半導体レーザ１から出射されたレーザ光
は回折格子２により３本のビームに分割され、ハーフミ
ラー３により反射され、コリメータレンズ４により平行
ビームとされ、対物レンズ５により集光され、ディスク
１０上の半径方向に図２の（Ａ）に示すようにメインビ
ームＭ、サイドビームＳ１及びＳ２として結像され、デ
ィスク１０上の信号を読み取る。このディスク１０から
の反射光は、対物レンズ５、コリメータレンズ４を通
り、ハーフミラー３を通過し、受光部６の光検出器
６S1、６M、及び６S2に結像される。
【００１６】従来の回折格子は、図２の（Ｂ）に示すよ
うに、３スポット法によるトラッキングエラー信号を得
る為、レーザ光をメインビームＭ、サイドビームＳ１及
びＳ２に分割し、ディスクの半径方向に所定波長程ずら
しながら、トラック方向にメインビームＭが中心になる
ようにサイドビームＳ１及びＳ２を位置させるようにし
ている。
うに、３スポット法によるトラッキングエラー信号を得
る為、レーザ光をメインビームＭ、サイドビームＳ１及
びＳ２に分割し、ディスクの半径方向に所定波長程ずら
しながら、トラック方向にメインビームＭが中心になる
ようにサイドビームＳ１及びＳ２を位置させるようにし
ている。
【００１７】この図２の（Ｂ）において、メインビーム
Ｍに対してサイドビームＳ１及びＳ２の距離はビームス
ペーシングと呼ばれ、サイドビームＳ１との距離を
ＬA、サイドビームＳ２との距離をＬBとすると、ＬA＝
ＬBとなる。このとき、メインビームＭとサイドビーム
Ｓ１及びＳ２の光は対物レンズより出射される時、角度
を持つことになる、その角度は対物レンズの焦点距離を
ｆとすると、sinθ＝（ビームスペーシング）／ｆとな
る。ここで、例えばｆ＝4.5mm、ビームスペーシングを2
0μmとすると、θはほぼ0.25degとなる。
Ｍに対してサイドビームＳ１及びＳ２の距離はビームス
ペーシングと呼ばれ、サイドビームＳ１との距離を
ＬA、サイドビームＳ２との距離をＬBとすると、ＬA＝
ＬBとなる。このとき、メインビームＭとサイドビーム
Ｓ１及びＳ２の光は対物レンズより出射される時、角度
を持つことになる、その角度は対物レンズの焦点距離を
ｆとすると、sinθ＝（ビームスペーシング）／ｆとな
る。ここで、例えばｆ＝4.5mm、ビームスペーシングを2
0μmとすると、θはほぼ0.25degとなる。
【００１８】図１に示した光学ピックアップ装置は、上
述した従来の３スポット法の原理を応用したものであ
る。すなわち、回折格子２が備える結像位置調整機能に
より、上記メインビームＭとサイドビームＳ１及びＳ２
という３スポットの結像方向を上記図２の（Ｂ）に示す
位置よりも90deg回転させ、上記図２の（Ａ）に示すよ
うに、ディスク１０の半径方向Ｒに揃えるようにした。
述した従来の３スポット法の原理を応用したものであ
る。すなわち、回折格子２が備える結像位置調整機能に
より、上記メインビームＭとサイドビームＳ１及びＳ２
という３スポットの結像方向を上記図２の（Ｂ）に示す
位置よりも90deg回転させ、上記図２の（Ａ）に示すよ
うに、ディスク１０の半径方向Ｒに揃えるようにした。
【００１９】このため、メインビームＭがディスク１０
に垂直に入射している場合、図３に示すように、外周側
のサイドビームと内周側のサイドビームはそれぞれディ
スク１０に対し、−θ、＋θの角度を持つことになる。
に垂直に入射している場合、図３に示すように、外周側
のサイドビームと内周側のサイドビームはそれぞれディ
スク１０に対し、−θ、＋θの角度を持つことになる。
【００２０】ディスク１０に反りがある場合、例えば図
４に示すように、外周側が下側に角度θだけ垂れたと
き、結像スポットとしては外周側のサイドスポットがデ
ィスク１０に対して垂直入射となる為、コマ収差を発生
させず読み取り性能が高くなる。
４に示すように、外周側が下側に角度θだけ垂れたと
き、結像スポットとしては外周側のサイドスポットがデ
ィスク１０に対して垂直入射となる為、コマ収差を発生
させず読み取り性能が高くなる。
【００２１】逆に、外周が上側に反っているときは、内
周側のサイドスポットの読み取り性能があがる。
周側のサイドスポットの読み取り性能があがる。
【００２２】ディスク１０に反りがあるとき、３つの再
生信号の読み取り性能を比較して良い再生信号を使用す
ることにより、光学ピックアップ装置の性能を向上でき
るわけである。
生信号の読み取り性能を比較して良い再生信号を使用す
ることにより、光学ピックアップ装置の性能を向上でき
るわけである。
【００２３】このため、図１に示す光学ピックアップ装
置は、受光部６の３つの光検出器６S1、６M及び６S2を
それぞれ４分割し、これら４分割された各光検出器
６S1、６M及び６S2からの電気信号の合成値を再生信号
候補生成部７で求めている。
置は、受光部６の３つの光検出器６S1、６M及び６S2を
それぞれ４分割し、これら４分割された各光検出器
６S1、６M及び６S2からの電気信号の合成値を再生信号
候補生成部７で求めている。
【００２４】再生信号候補生成部７は、光検出器６S1か
らの再生信号を得るＲＦ１生成部７S1と、光検出器６M
からの再生信号を得るＲＦ２生成部７Mと、光検出器６
S2からの再生信号を得るＲＦ３生成部７S3とからなる。
らの再生信号を得るＲＦ１生成部７S1と、光検出器６M
からの再生信号を得るＲＦ２生成部７Mと、光検出器６
S2からの再生信号を得るＲＦ３生成部７S3とからなる。
【００２５】この再生信号候補生成部７と周辺の詳細な
構成を図５に示す。ＲＦ１生成部７Ｓ１は、検出信号
（Ａ'＋Ｃ'）と（Ｂ'＋Ｄ'）を加算する加算器１５
S1と、アンプ１６S1からなる。ＲＦ２生成部７Ｍは、検
出信号（Ａ＋Ｃ）と（Ｂ＋Ｄ）を加算する加算器１５M
と、アンプ１６Mからなる。ＲＦ３生成部７S2は、検出
信号（Ａ''＋Ｃ''）と（Ｂ''＋Ｄ''）を加算する加算器
１５S2と、アンプ１６S2からなる。
構成を図５に示す。ＲＦ１生成部７Ｓ１は、検出信号
（Ａ'＋Ｃ'）と（Ｂ'＋Ｄ'）を加算する加算器１５
S1と、アンプ１６S1からなる。ＲＦ２生成部７Ｍは、検
出信号（Ａ＋Ｃ）と（Ｂ＋Ｄ）を加算する加算器１５M
と、アンプ１６Mからなる。ＲＦ３生成部７S2は、検出
信号（Ａ''＋Ｃ''）と（Ｂ''＋Ｄ''）を加算する加算器
１５S2と、アンプ１６S2からなる。
【００２６】例えば、ＲＦ１生成部７S1は、４分割光検
出器６S1カらの検出信号の総和を加算器１５S1で求め、
それをアンプ１６S1で増幅している。アンプ１６S1から
の増幅出力は、切り換え部８の被選択端子ａ及び制御部
１１に供給される。
出器６S1カらの検出信号の総和を加算器１５S1で求め、
それをアンプ１６S1で増幅している。アンプ１６S1から
の増幅出力は、切り換え部８の被選択端子ａ及び制御部
１１に供給される。
【００２７】また、同様にＲＦ２生成部７Mからの増幅
出力は切り換え部８の被選択端子ｂ及び制御部１１に、
また、ＲＦ３生成部７Ｓ２からの増幅出力は切り換え部
８の被選択端子ｃ及び制御部１１に供給される。
出力は切り換え部８の被選択端子ｂ及び制御部１１に、
また、ＲＦ３生成部７Ｓ２からの増幅出力は切り換え部
８の被選択端子ｃ及び制御部１１に供給される。
【００２８】制御部１１は、上記各生成部７S1、７M及
び７S2からの増幅出力、すなわち各再生信号の読み取り
性能を比較する。具体的には、各再生信号のうちの一番
大きいものを選択し、その選択結果に応じて切り換え部
８の選択片ｄを切り換えさせ、例えばディジタル信号処
理（ＤＳＰ）部１２に供給する。
び７S2からの増幅出力、すなわち各再生信号の読み取り
性能を比較する。具体的には、各再生信号のうちの一番
大きいものを選択し、その選択結果に応じて切り換え部
８の選択片ｄを切り換えさせ、例えばディジタル信号処
理（ＤＳＰ）部１２に供給する。
【００２９】ＤＳＰ部１２は、切り換え部８で選択され
た再生信号に所定のディジタル信号処理を施し、ディジ
タル信号出力を出力端子１３に供給する。
た再生信号に所定のディジタル信号処理を施し、ディジ
タル信号出力を出力端子１３に供給する。
【００３０】このように、本実施の形態となる光学ピッ
クアップ装置では、ディスク１０に反りがあっても、上
述したように３つの再生信号の読み取り性能を比較し、
良いものを使用するので、ピックアップとしての性能を
向上できる。
クアップ装置では、ディスク１０に反りがあっても、上
述したように３つの再生信号の読み取り性能を比較し、
良いものを使用するので、ピックアップとしての性能を
向上できる。
【００３１】ところで、この場合、上記反射ビームを用
いてフォーカシングとトラッキングのサーボをかける必
要がある。そのサーボ信号の取り方について以下に説明
する。
いてフォーカシングとトラッキングのサーボをかける必
要がある。そのサーボ信号の取り方について以下に説明
する。
【００３２】従来の３スポット法では、図６に示すよう
に、受光部２０上でメインビームＭから４つの光検出信
号Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤを検出する４分割光検出器２０Mを
用いてフォーカシングエラー信号を、また、４分割光検
出器２０Mを挟んで図中上下に位置するサイドビームＳ
１及びサイドビームＳ２から光検出信号Ｅ及びＦを検出
する光検出器２０S1及び光検出器２０S2を用いてトラッ
キングエラー信号を得ている。
に、受光部２０上でメインビームＭから４つの光検出信
号Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤを検出する４分割光検出器２０Mを
用いてフォーカシングエラー信号を、また、４分割光検
出器２０Mを挟んで図中上下に位置するサイドビームＳ
１及びサイドビームＳ２から光検出信号Ｅ及びＦを検出
する光検出器２０S1及び光検出器２０S2を用いてトラッ
キングエラー信号を得ている。
【００３３】フォーカシングエラー信号としては、非点
収差信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を使っている。また、
トラッキングエラー信号としては上記光検出信号Ｅ−Ｆ
を使っている。
収差信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を使っている。また、
トラッキングエラー信号としては上記光検出信号Ｅ−Ｆ
を使っている。
【００３４】これに対し、本実施の形態の光学ピックア
ップ装置は、図５に示したように、受光部６上の３つの
光検出器６S1、６M及び６S2の全てを４分割光検出器と
している。そこで、上記制御部１１の制御により切り換
え部８で選択される再生信号を形成している光検出信号
を取り出す４分割光検出器６S1、６M及び６S2の内の一
から、フォーカシング用の非点収差信号として、例えば
（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を、また、トラッキング用の信
号としては同様の４分割信号の対角信号（Ａ＋Ｃ）＋
（Ｂ＋Ｄ）の位相差成分を取り出しトラッキングエラー
信号とする。
ップ装置は、図５に示したように、受光部６上の３つの
光検出器６S1、６M及び６S2の全てを４分割光検出器と
している。そこで、上記制御部１１の制御により切り換
え部８で選択される再生信号を形成している光検出信号
を取り出す４分割光検出器６S1、６M及び６S2の内の一
から、フォーカシング用の非点収差信号として、例えば
（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を、また、トラッキング用の信
号としては同様の４分割信号の対角信号（Ａ＋Ｃ）＋
（Ｂ＋Ｄ）の位相差成分を取り出しトラッキングエラー
信号とする。
【００３５】ここで、フォーカシングエラー信号は従来
と同様の非点収差信号を用いるので特に説明の必要がな
いが、トラッキングエラー信号の生成については特別に
図７に示すような構成のトラッキングエラー検出部を必
要とする。
と同様の非点収差信号を用いるので特に説明の必要がな
いが、トラッキングエラー信号の生成については特別に
図７に示すような構成のトラッキングエラー検出部を必
要とする。
【００３６】このトラッキングエラー検出部は、４分割
光検出器６S1、６M又は６S2からの光検出信号、例えば
（Ａ＋Ｃ）及び（Ｂ＋Ｄ）を増幅するアンプ２５1及び
２５2と、アンプ２５1及び２５2からの増幅信号を等化
するイコライザ２６1及び２６2と、このイコライザ２６
1及び２６2からの等化信号を２値化して２値化信号であ
るパルス信号を生成する２値化部２７1及び２７2と、こ
の２値化部２７1及び２７2からの２種類のパルス信号の
位相を比較して、時間的に進んだパルス信号と、遅れた
パルス信号を生成する位相比較部２８と、この位相比較
部２８からの２系統の位相進みパルス信号と位相遅れパ
ルス信号を滑らかにするためのローパスフィルタ２９1
及び２９2と、このローパスフィルタ２９1及び２９2の
フィルタ出力の差を演算し、トラッキングエラー信号を
出力端子３１に供給する演算増幅器３０とを備えてな
る。ここで、ローパスフィルタ２９1及び２９2は、カッ
トオフ周波数を３０ＫＨｚとする。
光検出器６S1、６M又は６S2からの光検出信号、例えば
（Ａ＋Ｃ）及び（Ｂ＋Ｄ）を増幅するアンプ２５1及び
２５2と、アンプ２５1及び２５2からの増幅信号を等化
するイコライザ２６1及び２６2と、このイコライザ２６
1及び２６2からの等化信号を２値化して２値化信号であ
るパルス信号を生成する２値化部２７1及び２７2と、こ
の２値化部２７1及び２７2からの２種類のパルス信号の
位相を比較して、時間的に進んだパルス信号と、遅れた
パルス信号を生成する位相比較部２８と、この位相比較
部２８からの２系統の位相進みパルス信号と位相遅れパ
ルス信号を滑らかにするためのローパスフィルタ２９1
及び２９2と、このローパスフィルタ２９1及び２９2の
フィルタ出力の差を演算し、トラッキングエラー信号を
出力端子３１に供給する演算増幅器３０とを備えてな
る。ここで、ローパスフィルタ２９1及び２９2は、カッ
トオフ周波数を３０ＫＨｚとする。
【００３７】位相比較部２８は振幅値Ｖpcで位相のずれ
た二つのパルス信号を出力し、演算増幅器３０はカット
フ周波数３０ｋＨｚで滑らかにされたローパスフィルタ
２９1及び２９2からのフィルタ出力から0.1μm当たりΔ
VTEで表されるフォーカスエラー信号を出力する。
た二つのパルス信号を出力し、演算増幅器３０はカット
フ周波数３０ｋＨｚで滑らかにされたローパスフィルタ
２９1及び２９2からのフィルタ出力から0.1μm当たりΔ
VTEで表されるフォーカスエラー信号を出力する。
【００３８】このように、本実施の形態となる光学ピッ
クアップ装置では、トラッキングエラー信号として、４
分割光検出信号の対角信号、例えば（Ａ＋Ｃ）と（Ｂ＋
Ｄ）の位相差成分を取り出し、これを基にトラッキング
エラー信号を取り出すことができる。
クアップ装置では、トラッキングエラー信号として、４
分割光検出信号の対角信号、例えば（Ａ＋Ｃ）と（Ｂ＋
Ｄ）の位相差成分を取り出し、これを基にトラッキング
エラー信号を取り出すことができる。
【００３９】
【発明の効果】本発明によれば、光分割手段により光源
からの光を少なくとも２分割し、結像位置調整手段によ
り上記光分割手段からの少なくとも２分割光の上記光学
ディスク上の結像位置を上記光学ディスク上の半径方向
に揃えるための調整を行い、集光手段により上記結像位
置調整手段からの２分割光を上記光学ディスク上の信号
記録位置に結像させ、受光手段により上記集光手段で集
光された少なくとも２分割光の上記光学ディスクからの
反射光を受光し、再生信号候補生成手段により上記受光
手段からそれぞれの反射光に基づいて少なくとも２つの
再生信号候補を生成し、そして、上記再生信号候補手段
の少なくとも２つの再生信号候補の内の一を選択して再
生信号を決定するので、特に従来のようなディスクスキ
ュー検出器を用いることなく、ローコストでディスクの
スキューに応じて適切な再生信号を得ることができる。
からの光を少なくとも２分割し、結像位置調整手段によ
り上記光分割手段からの少なくとも２分割光の上記光学
ディスク上の結像位置を上記光学ディスク上の半径方向
に揃えるための調整を行い、集光手段により上記結像位
置調整手段からの２分割光を上記光学ディスク上の信号
記録位置に結像させ、受光手段により上記集光手段で集
光された少なくとも２分割光の上記光学ディスクからの
反射光を受光し、再生信号候補生成手段により上記受光
手段からそれぞれの反射光に基づいて少なくとも２つの
再生信号候補を生成し、そして、上記再生信号候補手段
の少なくとも２つの再生信号候補の内の一を選択して再
生信号を決定するので、特に従来のようなディスクスキ
ュー検出器を用いることなく、ローコストでディスクの
スキューに応じて適切な再生信号を得ることができる。
【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の実施の形
態の構成図である。
態の構成図である。
【図２】上記光学ピックアップ装置により光学ディスク
上に照射される３ビームが形成する３つのスポットを、
従来の３スポット法を用いた光学ピックアップ装置によ
り照射される３ビームが形成する３つのスポットと対比
して示す図である。
上に照射される３ビームが形成する３つのスポットを、
従来の３スポット法を用いた光学ピックアップ装置によ
り照射される３ビームが形成する３つのスポットと対比
して示す図である。
【図３】上記図１に示した光学ピックアップ装置からの
メインビームが光学ディスクに垂直に入射している状態
を示す図である。
メインビームが光学ディスクに垂直に入射している状態
を示す図である。
【図４】上記図１に示した光学ピックアップ装置から、
反りのある光学ディスクに入射された３ビームの状態を
示す図である。
反りのある光学ディスクに入射された３ビームの状態を
示す図である。
【図５】上記図１に示した光学ピックアップ装置の要部
の詳細な構成を示す図である。
の詳細な構成を示す図である。
【図６】従来の３スポット法を用いた光学ピックアップ
装置の受光部上の光検出器の構成を示す図である。
装置の受光部上の光検出器の構成を示す図である。
【図７】上記図１に示した光学ピックアップ装置がトラ
ッキングエラー信号を検出するために用いるトラッキン
グエラー検出部の構成を示す図である。
ッキングエラー信号を検出するために用いるトラッキン
グエラー検出部の構成を示す図である。
【図８】光学ディスクの構造を示す図である。
【図９】従来の光学ピックアップ装置の構成を示す図で
ある。 〔図面の簡単な説明〕 １ 半導体レーザ、２ 回折格子、３ ハーフミラー、
４ コリメータレンズ、５ 対物レンズ、６ 受光部、
７ 再生信号候補生成部、８ 切り換え部、１０ 光学
ディスク
ある。 〔図面の簡単な説明〕 １ 半導体レーザ、２ 回折格子、３ ハーフミラー、
４ コリメータレンズ、５ 対物レンズ、６ 受光部、
７ 再生信号候補生成部、８ 切り換え部、１０ 光学
ディスク
Claims (7)
- 【請求項１】 光源からの光を光学ディスクに照射し、
反射光に基づいて上記光学ディスク上の記録信号を再生
する光学ピックアップ装置において、 上記光源からの光を少なくとも２分割する光分割手段
と、 上記光分割手段からの少なくとも２分割光の上記光学デ
ィスク上の結像位置を上記光学ディスク上の半径方向に
揃えるための調整を行う結像位置調整手段と、 上記結像位置調整手段からの２分割光を上記光学ディス
ク上の信号記録位置に結像させる集光手段と、 上記集光手段で集光された少なくとも２分割光の上記光
学ディスクからの反射光を受光する受光手段と、 上記受光手段からそれぞれの反射光に基づいて少なくと
も２つの再生信号候補を生成する再生信号候補生成手段
とを備え、 上記再生信号候補生成手段の少なくとも２つの再生信号
候補の内の一を選択して再生信号を決定することを特徴
とする光学ピックアップ装置。 - 【請求項２】 上記受光手段は、それぞれ４分割した少
なくとも２つの光検出部を備えることを特徴とする請求
項１記載の光学ピックアップ装置。 - 【請求項３】 上記受光手段の上記少なくとも２つの光
検出部のいずれか一からトラッキングエラー信号を検出
することを特徴とする請求項２記載の光学ピックアップ
装置。 - 【請求項４】 上記トラッキングエラー信号は、上記４
分割した光検出部の対角上の２つの合計値の位相比較に
より得られた進み成分及び遅れ成分に基づいて生成され
ることを特徴とする請求項３記載の光学ピックアップ装
置。 - 【請求項５】 上記光分割手段は、上記光源からの光を
３分割することを特徴とする請求項１記載の光学ピック
アップ装置。 - 【請求項６】 上記受光手段は、それぞれ４分割した３
つの光検出部を備えることを特徴とする請求項１記載の
光学ピックアップ装置。 - 【請求項７】 上記４分割した光検出部の対角上の２つ
の合計値の位相比較により得られた進み成分及び遅れ成
分に基づいてトラッキングエラー信号を生成することを
特徴とする請求項６記載の光学ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32492097A JPH11161988A (ja) | 1997-11-26 | 1997-11-26 | 光学ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32492097A JPH11161988A (ja) | 1997-11-26 | 1997-11-26 | 光学ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11161988A true JPH11161988A (ja) | 1999-06-18 |
Family
ID=18171095
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32492097A Withdrawn JPH11161988A (ja) | 1997-11-26 | 1997-11-26 | 光学ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11161988A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020073609A (ko) * | 2001-03-15 | 2002-09-28 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업 장치 |
| KR100636124B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2006-10-19 | 삼성전자주식회사 | 광픽업장치 및 이를 이용한 재생신호 검출방법 |
| US7276930B2 (en) | 2004-04-27 | 2007-10-02 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit and method for detecting skew of transistor in semiconductor device |
-
1997
- 1997-11-26 JP JP32492097A patent/JPH11161988A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100636124B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2006-10-19 | 삼성전자주식회사 | 광픽업장치 및 이를 이용한 재생신호 검출방법 |
| KR20020073609A (ko) * | 2001-03-15 | 2002-09-28 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업 장치 |
| US7276930B2 (en) | 2004-04-27 | 2007-10-02 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit and method for detecting skew of transistor in semiconductor device |
| US7616022B2 (en) | 2004-04-27 | 2009-11-10 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit and method for detecting skew of transistors in a semiconductor device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050201 |