JP3642972B2 - 光ピックアップの焦点誤差検出装置、及び光ピックアップの焦点誤差検出方法 - Google Patents

光ピックアップの焦点誤差検出装置、及び光ピックアップの焦点誤差検出方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光源からの出射光により光ディスクに情報を書き込み又は光ディスクからの戻り光により光ディスクから情報を読み取る光ピックアップにおいて光の焦点誤差を検出する光ピックアップの焦点誤差検出装置、及び光ピックアップの焦点誤差検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
CD(Compact Disk)、CD−ROM、DVD(Digital Versatile Disk)等の
光ディスクの表面の情報記録面に、光源から出射された出射光を照射して音楽やデータ等の光ディスク記録情報を書き込み、又は光ディスクの情報記録面で反射されて戻ってきた戻り光から光ディスク記録情報を読み取るために、光源と光学系と光検出系を備えた光ピックアップが用いられている。
【0003】
この光ピックアップにおいては、情報を光ディスクに確実に書き込み又は光ディスクから情報を確実に読み取るため、出射光をつねに光ディスクの情報記録面の記録箇所(例えばトラック)上に照射するように制御(以下、「トラッキングサーボ制御」という。)し、かつ出射光がスポット状の点となって記録箇所に収束するように制御(以下、「フォーカシングサーボ制御」という。)する必要がある。
【0004】
フォーカシングサーボ制御の方式としては、例えば「非点収差法」と「スポットサイズ法」が知られている。
【0005】
非点収差法は、光学系の中にシリンドリカルレンズや平行平板等を配置し、戻り光を4分割ディテクタで受光し検出する方式である。
【0006】
この構成により、出射光が光ディスクの情報記録面上に焦点を結んでいる(以下、「合焦している」という。)場合には、戻り光は4分割ディテクタの中央に円状に受光され、4分割ディテクタの各受光面の受光強度が均衡する。しかし、出射光が光ディスク上で合焦状態ではない場合には、戻り光が4分割ディテクタ上で傾斜した長円状となり、ディテクタの各受光面の受光強度が不均衡となる。このことから、各受光面で光電変換された光検出電気信号に所定の演算を施して得られた信号(以下、「フォーカスエラー信号」という。)により、出射光の光ディスク上での合焦又は非合焦を検出することができ、フォーカスエラー信号をフィードバックするように光授受光学系の対物レンズ等を制御することにより、フォーカシングサーボ制御を行うことができる。
【0007】
非点収差法は、非合焦の検出感度が高い。また、光検出に4分割ディテクタを用いるため、DPD(Differential Phase Detection)方式でのトラッキングサー
ボ制御のためのトラッキングエラー信号を演算しやすい。また、光ピックアップ全体を小型化できるため、3つの光スポットを用いる3ビーム方式の光ピックアップにも適用しやすい、という利点がある。
【0008】
スポットサイズ法は、光検出系で戻り光を2つの光路に分割し、前方のディテクタに結ぶ焦点(以下、「前焦点」という。)と、後方のディテクタに結ぶ焦点(以下、「後焦点」という。)を生じるように構成する方式である。
【0009】
この構成により、出射光が光ディスク上で合焦状態の場合には、前方ディテクタと後方ディテクタの戻り光スポットの大きさが等しくなる。しかし、出射光が光ディスク上で合焦状態ではない場合には、前方ディテクタと後方ディテクタの戻り光スポットの大きさが異なり、各ディテクタの受光強度が不均衡となる。このことから、各ディテクタで光電変換された光検出電気信号に所定の演算を施して得られたフォーカスエラー信号により、出射光の光ディスク上での合焦又は非合焦を検出することができ、フォーカスエラー信号をフィードバックするように光授受光学系の対物レンズ等を制御することにより、フォーカシングサーボ制御を行うことができる。
【0010】
スポットサイズ法では、フォーカスエラー信号は、前方ディテクタからの光検出電気信号と後方ディテクタからの光検出電気信号との差分により演算される。したがって、出射光スポットが光ディスクのトラックを横切る際にフォーカスエラー信号に与えるノイズ(以下、「トラック横切りノイズ」という。)は2つのディテクタの差をとることにより相殺されるため、トラック横切りノイズの影響は受けない、という利点がある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来の光ピックアップの焦点誤差検出方法においては、以下のような問題があった。
【0012】
1)非点収差法では、光ピックアップに収差(例えば非点収差など)がある場合には、トラック横切りノイズの影響を受ける。また、非点収差法では、光ディスクの厚みが一定でなく箇所によって厚み誤差がある場合には、ディテクタ上の戻り光スポットの形状がゆがみ、本来受光されるはずのない光が他の受光面に漏れ出し又は回り込むことがあり、DPDトラッキングエラー信号に誤差が生じる。
【0013】
2)スポットサイズ法では、戻り光を複数の光路に分離するため、光ピックアップが大型化する。また、3ビーム方式との併用は構造が複雑となり困難である。
【0014】
本発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、本発明の解決しようとする課題は、トラック横切りノイズや光ディスク厚み誤差の影響を受けにくく3ビーム方式やDPD方式との併用が可能な光ピックアップの焦点誤差検出装置、及び光ピックアップの焦点誤差検出方法を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項1記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置は、光源から出射された出射光により光ディスクの情報記録面に光ディスク記録情報を書き込み、又は前記光源から出射され前記光ディスクの情報記録面で反射されて戻った戻り光から前記光ディスク記録情報を読み取る光ピックアップにおいて前記出射光の焦点誤差を検出する光ピックアップの焦点誤差検出装置であって、前記戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光を第1光路に分離するとともに前記光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光を第2光路に分離し、前記第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、前記第2光路の光に前記第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子と、受光領域が4分割されて形成された台形状の4つの第1受光部を有するとともに前記第 1 処理光において、第1象限領域及び第3象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第 1 光検出器と、
受光領域が4分割されて形成された他の台形状の4つの第2受光部を有するとともに前記第2処理光において、第2象限領域及び第4象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第2光検出器と、前記第1受光部の4つの部分が受光した各光の強度と前記第2受光部の4つの部分が受光した各光の強度に所定の演算を行い焦点誤差判別値を出力する焦点誤差判別値演算手段を備えることを特徴とする。
【0020】
また、請求項7記載の光ピックアップの焦点誤差検出方法は、光源から出射された出射光により光ディスクの情報記録面に光ディスク記録情報を書き込み、又は前記光源から出射され前記光ディスクの情報記録面で反射されて戻った戻り光から前記光ディスク記録情報を読み取る光ピックアップにおいて前記出射光の焦点誤差を検出する光ピックアップの焦点誤差検出方法であって、前記戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光を第1光路に分離するとともに前記光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光を第2光路に分離し、前記第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、前記第2光路の光に前記第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子と、受光領域が4分割されて形成された台形状の4つの第1受光部を有するとともに前記第 1 処理光において、第1象限領域及び第3象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第 1 光検出器と、受光領域が4分割されて形成された他の台形状の4つの第2受光部を有するとともに前記第2処理光において、第2象限領域及び第4象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第2光検出器とを設け、前記第1受光部の4つの部分が受光した各光の強度と前記第2受光部の4つの部分が受光した各光の強度に所定の演算を行い焦点誤差判別値を出力することを特徴とする。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る光ピックアップの焦点誤差検出装置の実施形態について、図面を参照しながら説明を行う。
【0022】
図1は、本発明の一実施形態である光ピックアップの構成を示す図である。図1(A)に示すように、この光ピックアップ100は、光源である半導体レーザ1と、グレーティング2と、ビームスプリッタ3と、コリメータレンズ4と、ミラー5と、1/4波長板6と、対物レンズ7と、レンズ素子8と、光検出部9を備えて構成されている。また、対物レンズ7には、対物レンズ7を光軸方向の前後に移動可能な対物レンズ駆動機構(図示せず)が設けられている。
【0023】
また、図1(B)に示すように、光検出部9は、第1ディテクタ41と、第2ディテクタ42を有している。また、光検出部9は、さらに第3ディテクタ43と、第4ディテクタ44を有しているが、これらについては後述する。第1ディテクタ41と第2ディテクタ42には、それぞれ出力された光検出電気信号に基づき所定の演算を行う加算器や減算器からなる演算回路(図示せず)が接続されている。
【0024】
半導体レーザ1から出射されたレーザ光Lは、グレーティング2を経てビームスプリッタ3に入射する。ビームスプリッタ3は、偏光鏡を有しており、入射したレーザ光Lはビームスプリッタ3を通過し、コリメータレンズ4を経て、ミラー5により光路を直角に変えられ、1/4波長板6を通過し、対物レンズ7から図の上方に位置する光ディスク(図示せず)の情報記録面に照射される。この照射光により、光ディスクの情報記録面に光ディスク記録情報を書き込むことができる。
【0025】
レーザ光Lは、光ディスクの情報記録面で反射されて同じ光路を戻り、対物レンズ7と1/4波長板6とミラー5とコリメータレンズ4を経て再びビームスプリッタ3に入射する。この場合には、戻り光はビームスプリッタ3により半導体レーザ1への方向とは異なる方向へ光路を変えられ、レンズ素子8を通過して光検出部9に入射する。光検出部9は、受光した光を光電変換して光検出電気信号を出力する。光検出電気信号から光ディスク記録情報を読み取ることができる。
【0026】
次に、この光ピックアップ100における焦点誤差検出方法について説明する。この光ピックアップ100は、図1(B)に示すように、ビームスプリッタ7で分離された戻り光を、レンズ素子8によって第1光路P1と第2光路P2に分割し、第1光路P1の戻り光を第1ディテクタ41で受光し、第2光路P2の戻り光を第2ディテクタ42で受光し、光電変換により出力された光検出電気信号に所定の演算を行ってフォーカスエラー信号を生成する。
【0027】
また、上記の光ピックアップ100におけるレンズ素子8は、第1象限領域、第2象限領域、第3象限領域、第4象限領域に、それぞれ偏心したシリンドリカルレンズ状の第1レンズ部31と、第2レンズ部32と、第3レンズ部33と、第4レンズ部34を配設して構成されている。図2には、各レンズ部31〜34の側面形状が図示されている。この図からわかるように、第1レンズ部31と第3レンズ部33からなる偏心シリンドリカルレンズの長軸方向は、第2レンズ部32と第4レンズ部34からなる偏心シリンドリカルレンズの長軸方向に対し角度90度の方向となっている。
【0028】
これらのレンズ部31〜34は、図2に示すように、戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光▲1▼、▲3▼を第1光路に分離するとともに、光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光▲2▼、▲4▼を第2光路に分離し、かつ、第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、第2光路の光に第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子の機能を有している。
【0029】
上記において、第1象限領域とは、平面を水平方向のX軸と、X軸に垂直な上下方向のY軸とにより4つの領域に分割した場合に、X座標及びY座標がともに正の値となる領域をいう。また、第2象限領域とは、上記した4領域のうち、第1象限領域に隣接する領域であり、X座標が負の値でY座標が正の値となる領域をいう。また、第3象限領域とは、上記した4領域のうち、第2象限領域に隣接する領域であり、X座標及びY座標がともに負の値となる領域をいう。また、第4象限領域とは、上記した4領域のうち、第1象限領域及び第3象限領域に隣接する領域であり、X座標が正の値でY座標が負の値となる領域をいう。
【0030】
図3は、上記の光ピックアップ100における第1ディテクタ41及び第2ディテクタ42の構成と作用を説明する図である。図3に示すように、第1ディテクタ41は、全体の受光領域が45度傾斜した正方形(以下、「第1の正方形」という。)の形状となっている。また、第2ディテクタ42は、全体の受光領域が45度傾斜した正方形(以下、「第2の正方形」という。)の形状となっており、第1の正方形の左上斜辺と第2の正方形の右下斜辺が各正方形に共有されるように配置されている。
【0031】
また、第1ディテクタ41は、第1の正方形の右下斜辺又は左上斜辺に平行となるとともに第1の正方形を2つの長方形に等分割する第1の等分割線61と、第1の等分割線61に対して第1の分割角度θ1をなす2つの平行分割線62、63によって4つの第1受光部A1、A2、A3、A4に分割されている。すなわち、第1ディテクタ41は、第1の正方形である受光領域が、稲妻状(略「N」字状又は略「Z」字状)をなす分割線61、62、63により4分割され、第1受光部A1〜A4は台形状の領域となっている。
【0032】
また、第2ディテクタ42は、第2の正方形の右上斜辺又は左下斜辺に平行となるとともに第2の正方形を2つの長方形に等分割する第2の等分割線64と、第2の等分割線64に対して第2の分割角度θ2をなす2つの平行分割線65、66によって4つの第2受光部B1、B2、B3、B4に分割されている。すなわち、第2ディテクタ42は、第2の正方形である受光領域が、稲妻状(略「S」字状)をなす分割線64、65、66により4分割され、第2受光部B1〜B4は台形状の領域となっている。第2ディテクタ42において、第2の等分割線64は、第1ディテクタ41における第1の等分割線61に対して垂直となっている。また、第1ディテクタ41と第2ディテクタ42の各受光部及び各分割線は、互いに鏡対称となっている。また、第1の分割角度θ1と第2の分割角度θ2は等しい角度となっている。
【0033】
また、第1ディテクタ41には、図1(B)に示すように、レンズ素子8から出射した第1光路P1の光(第1処理光)が入射する。この第1処理光のうち、第1象限領域で第1の非点収差を付与された光▲1▼は、図3に示すように、第1受光部A1とA2にまたがるように入射する。また、第1処理光のうち、第3象限領域で第1の非点収差を付与された光▲3▼は、図3に示すように、第1受光部A3とA4にまたがるように入射する。ここに、第1ディテクタ41は、第1光検出器に相当している。
【0034】
また、第2ディテクタ42には、図1(B)に示すように、レンズ素子8から出射した第2光路P2の光(第2処理光)が入射する。この第2処理光のうち、第2象限領域で第2の非点収差を付与された光▲2▼は、図3に示すように、第2受光部B2とB3にまたがるように入射する。また、第2処理光のうち、第4象限領域で第2の非点収差を付与された光▲4▼は、図3に示すように、第2受光部B4とB1にまたがるように入射する。ここに、第2ディテクタ42は、第2光検出器に相当している。
【0035】
また、図2及び図3に示すように、レンズ素子8に入射する前の本来の光軸45に対し、各ディテクタ41、42に照射される光像の中心軸は移動する。
【0036】
次に、図4を参照しつつ、この光ピックアップ100における焦点位置変化時の作用を説明する。図4(B)は、この光ピックアップ100からの出射光が光ディスクの情報記録面上で合焦状態となっている場合に、第1ディテクタ41及び第2ディテクタ42における戻り光スポットの状態を示した図である。
【0037】
図4(B)の下段及び図3の下段に示すように、合焦時には、レンズ素子8の第1象限領域で第1の非点収差を付与された第1処理光が第1ディテクタ41の分割線62を挟むようにして第1受光部A1及びA2に1/4円状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第3象限領域で第1の非点収差を付与された第1処理光が第1ディテクタ41の分割線63を挟むようにして第1受光部A3及びA4に1/4円状の光スポットとなって入射する。
【0038】
また、図4(B)の上段及び図3の上段に示すように、合焦時には、レンズ素子8の第2象限領域で第2の非点収差を付与された第2処理光が第2ディテクタ42の分割線66を挟むようにして第2受光部B2及びB3に1/4円状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第4象限領域で第2の非点収差を付与された第2処理光が第2ディテクタ42の分割線65を挟むようにして第2受光部B4及びB1に1/4円状の光スポットとなって入射する。
【0039】
この場合、合焦時には、第1受光部A1の出力する光検出電気信号A1と、第1受光部A3の出力する光検出電気信号A3、第2受光部B1の出力する光検出電気信号B1、第2受光部B3の出力する光検出電気信号B3はそれぞれ等しい。また、合焦時には、第1受光部A2の出力する光検出電気信号A2と、第1受光部A4の出力する光検出電気信号A4、第2受光部B2の出力する光検出電気信号B2、第2受光部B4の出力する光検出電気信号B4はそれぞれ等しい。
【0040】
したがって、下式(1)
A1=A3=B1=B3 ………(1)
と、下式(2)
A2=A4=B2=B4 ………(2)
が成立する。
【0041】
このことから、下式(3)
FE=(A1+A3+B2+B4)−(A2+A4+B1+B3) ……(3)
で表される値FEを、光検出部9の出力側に接続された演算回路(図示せず)によって演算すると、合焦時にはFEの値は零となる。
【0042】
図4(A)は、この光ピックアップ100からの出射光が光ディスクの情報記録面上で非合焦状態となっており、光ディスクが合焦時よりも遠い場合に、第1ディテクタ41及び第2ディテクタ42における戻り光スポットの状態を示した図である。
【0043】
図4(A)の下段に示すように、光ディスクが合焦時よりも遠い場合には、レンズ素子8の第1象限領域で第1の非点収差を付与された光は、第1ディテクタ41の第1受光部A1、A2上で上下方向に延びる線分状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第3象限領域で第1の非点収差を付与された光は、第1ディテクタ41の第1受光部A3、A4上で上下方向に延びる線分状の光スポットとなって入射する。
【0044】
この場合、第1ディテクタ41上の線分状の2つの光スポットは、それぞれ同一の形状と大きさ(面積)を有している。また、分割線62と63は、各線分状光スポットをほぼ等分割する。したがって、光ディスクが合焦時よりも遠い場合には、第1ディテクタ41においては、下式(4)
A1=A2=A3=A4=k ………(4)
が成立する。ここに、kは任意の実数値である。
【0045】
また、図4(A)の上段に示すように、光ディスクが合焦時よりも遠い場合には、レンズ素子8の第2象限領域で第2の非点収差を付与された光は、第2ディテクタ42の第2受光部B2で水平方向に延びる線分状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第4象限領域で第2の非点収差を付与された光は、第2ディテクタ42の第2受光部B4上で水平方向に延びる線分状の光スポットとなって入射する。
【0046】
この場合、第2受光部B1の出力する光検出電気信号B1と第2受光部B3の出力する光検出電気信号B3は等しく零とみなせる。したがって、光ディスクが合焦時よりも遠い場合には、第2ディテクタ42においては、下式(5)
B2=B4=2k ………(5)
と、下式(6)
B1=B3=0 ………(6)
が成立する。
【0047】
このことから、上式(3)に上記条件式(4)、(5)、(6)を代入すると、この場合のFE値であるFE1は、下式(7)
Figure 0003642972
となり、光ディスクが合焦時よりも遠い場合には、FEの値は正の値となる。
【0048】
図4(C)は、この光ピックアップ100からの出射光が光ディスクの情報記録面上で非合焦状態となっており、光ディスクが合焦時よりも近い場合に、第1ディテクタ41及び第2ディテクタ42における戻り光スポットの状態を示した図である。
【0049】
図4(C)の下段に示すように、光ディスクが合焦時よりも近い場合には、レンズ素子8の第1象限領域で第1の非点収差を付与された光は、第1ディテクタ41の第1受光部A2で水平方向に延びる線分状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第3象限領域で第1の非点収差を付与された光は、第1ディテクタ41の第1受光部A4上で水平方向に延びる線分状の光スポットとなって入射する。
【0050】
この場合、第1受光部A1の出力する光検出電気信号A1と第1受光部A3の出力する光検出電気信号A3は等しく零とみなせる。したがって、光ディスクが合焦時よりも近い場合には、第1ディテクタ41においては、下式(8)
A2=A4=2k ………(8)
と、下式(9)
A1=A3=0 ………(9)
が成立する。ここに、kは任意の実数値である。
【0051】
また、図4(C)の上段に示すように、光ディスクが合焦時よりも近い場合には、レンズ素子8の第2象限領域で第2の非点収差を付与された光は、第2ディテクタ42の第2受光部B2、B3上で上下方向に延びる線分状の光スポットとなって入射し、レンズ素子8の第4象限領域で第2の非点収差を付与された光は、第2ディテクタ42の第2受光部B4、B1上で上下方向に延びる線分状の光スポットとなって入射する。
【0052】
この場合、第2ディテクタ42上の線分状の2つの光スポットは、それぞれ同一の形状と大きさ(面積)を有している。また、分割線65と66は、各線分状光スポットをほぼ等分割する。したがって、光ディスクが合焦時よりも近い場合には、第2ディテクタ42においては、下式(10)
B1=B2=B3=B4=k ………(10)
が成立する。
【0053】
このことから、上式(3)に上記条件式(8)、(9)、(10)を代入すると、この場合のFE値であるFE2は、下式(11)
Figure 0003642972
となり、光ディスクが合焦時よりも近い場合には、FEの値は負の値となる。
【0054】
したがって、上式(3)で表される値FEをフォーカスエラー信号として用いれば、FE値が零のときが合焦であり、FE値が正の値のときは光ディスクが合焦時よりも遠く、FE値が負の値のときは光ディスクが合焦時よりも近いと判別することができる。したがって、フォーカスエラー信号FEの正負符号を反転させた電気信号をフィードバックするようにし、FE値が零になるように光ピックアップ100の対物レンズ7に設けられた対物レンズ駆動機構(図示せず)を制御することにより、確実なフォーカシングサーボ制御を行うことができる。この場合、光検出部9の出力側に接続された演算回路(図示せず)は焦点誤差判別値演算手段に相当し、フォーカスエラー信号値FEは焦点誤差判別値に相当している。
【0055】
なお、上記した第1ディテクタ41及び第2ディテクタ42の出力を用いて、下式(12)
RF=A1+A2+A3+A4+B1+B2+B3+B4 ………(12)
で表される値RFを演算すれば、このRF信号から、光ディスクに記録された光ディスク記録情報を読み取ることができる。
【0056】
また、下式(13)、(14)、(15)、(16)
DPD1=B1+B4 ………(13)
DPD2=B2+B3 ………(14)
DPD3=A1+A2 ………(15)
DPD4=A3+A4 ………(16)
で表される値DPD1、DPD2、DPD3、DPD4を演算すれば、これらの信号により、DPD方式のトラッキングサーボ制御を行うことができる。
【0057】
また、下式(17)
PP=(A1+A2+B2+B3)−(A3+A4+B1+B4) …(17)
で表される値PPを演算すれば、プッシュプル(Push -Pull)法によるトラッキングサーボ制御を行うことができる。
【0058】
また、図5に示すように、第1ディテクタ41、第2ディテクタ42の両側に第3ディテクタ43と第4ディテクタ44を配置することにより、いずれか一方を+1次サブビーム用とし、他方を−1次サブビーム用とすることにより、3ビーム方式にも対応可能である。この場合、第3ディテクタ43は第3光検出器に相当し、第4ディテクタ44は第4光検出器に相当している。
【0059】
上記した光ピックアップ100における焦点誤差検出方法では、以下のような利点を有している。
【0060】
(1)図3からわかるように、戻り光のうち、第1象限領域の光は第1受光部A1とA2で分割され、第2象限領域の光は第2受光部B2とB3で分割され、第3象限領域の光は第1受光部A3とA4で分割され、第4象限領域の光は第2受光部B4とB1で分割される。したがって、ディテクタ上では、象限間の干渉がない。このため、光ディスクの厚みが一定でなく箇所によって厚み誤差がある場合であっても、象限間での光の漏れ出し等がなく、DPDトラッキングエラー信号に誤差が生じることはない。
【0061】
(2)ディテクタ上での象限ごとの光線の分離度を高めたため、DPDトラッキングエラー信号が、ディテクタの光軸ずれなどによって劣化することをある程度防止することができる。
【0062】
(3)稲妻状をなす分割線によりディテクタを4分割したため、トラック横切りノイズのフォーカスエラー信号への影響をほとんどキャンセルすることができる。
【0063】
(4)図3において、X軸方向がディスクにおける半径(ラジアル)方向に相当し、Y軸方向がディスクにおけるトラック接線(タンジェント)方向に相当している。したがって、ディテクタがラジアル方向(X方向)に光軸ずれや調整ずれを生じた場合、ディテクタ上の光像は、分割線62、63、65、66に沿って移動するため、影響が少ない。
【0064】
(5)3ビーム方式との併用も支障なく行うことができる。
【0065】
上記した光ピックアップ100において、レンズ素子8と、第1ディテクタ41と、第2ディテクタ42と、演算回路(図示せず)は、焦点誤差検出装置を構成している。
【0066】
なお、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではない。上記各実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【0067】
例えば、上記実施形態においては、焦点誤差検出用光学素子として、偏心シリンドリカルレンズを組み合わせたレンズ素子28を例に挙げて説明したが、本発明はこの例には限定されず、他の構成の焦点誤差検出用光学素子、例えば、第1ホログラム素子等であってもよい。要は、戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光を第1光路に分離するとともに光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光を第2光路に分離し、第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、第2光路の光に第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子であれば、どのような構成のものであってもよいのである。
【0068】
また、第1実施形態では、図1のように、レンズ素子8が光検出部9の手前に配置されているが、レンズ素子8と同様の機能を有し偏光作用を有する偏光レンズ素子を、ミラー5と1/4波長板6の間に設けてもよい。
【0069】
また、図3に示す第1ディテクタ41と第2ディテクタ42は、他の構成であってもよい。例えば、分割線62と63を同じ長さだけ互いに近づけ又は離してもよい。この際、分割線65と66も同様に接近又は離反させる。あるいは、分割線62、63がなす第1の分割角度θ1を同じ角度だけ増減させてもよい。この場合、分割線62、63はつねに平行状態を保持させるようにする。また、この際、分割線65、66がなす第2の分割角度θ2も同様に増減させる。
【0070】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明によれば、光ディスクからの戻り光を2光路に分割するとともに、各分割光路の光に所定の非点収差を付与するとともに、稲妻状をなす分割線により4分割された受光部を有する2つの光検出器を用いるようにしたので、トラック横切りノイズや光ディスク厚み誤差の影響を受けにくく、3ビーム方式やDPD方式との併用が可能であり、非合焦検出の感度が高く、光ピックアップの小型化も可能である、という利点を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態である光ピックアップの構成を示す図である。
【図2】本発明の一実施形態の光ピックアップにおけるレンズ素子の構成と作用を説明する図である。
【図3】本発明の一実施形態の光ピックアップにおける第1ディテクタ及び第2ディテクタの構成と作用を説明する図である。
【図4】本発明の一実施形態の光ピックアップにおける焦点位置変化時の作用を説明する図である。
【図5】本発明の一施形態の光ピックアップにおける光検出部の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ
2 グレーティング
3 ビームスプリッタ
4 コリメータレンズ
5 ミラー
6 1/4波長板
7 対物レンズ
8 レンズ素子
9 光検出部
31 第1レンズ部
32 第2レンズ部
33 第3レンズ部
34 第4レンズ部
41 第1ディテクタ
42 第2ディテクタ
43 第3ディテクタ
44 第4ディテクタ
45 本来の光軸
61〜66 ディテクタ分割線
100 光ピックアップ
A1〜A4 第1受光部
B1〜B4 第2受光部
L レーザ光
P1 第1光路
P2 第2光路

Claims (7)

  1. 光源から出射された出射光により光ディスクの情報記録面に光ディスク記録情報を書き込み、又は前記光源から出射され前記光ディスクの情報記録面で反射されて戻った戻り光から前記光ディスク記録情報を読み取る光ピックアップにおいて前記出射光の焦点誤差を検出する光ピックアップの焦点誤差検出装置であって、
    前記戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光を第1光路に分離するとともに前記光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光を第2光路に分離し、前記第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、前記第2光路の光に前記第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子と、
    受光領域が4分割されて形成された台形状の4つの第1受光部を有するとともに前記第 1 処理光において、第1象限領域及び第3象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第 1 光検出器と、
    受光領域が4分割されて形成された他の台形状の4つの第2受光部を有するとともに前記第2処理光において、第2象限領域及び第4象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第2光検出器と、
    前記第1受光部の4つの部分が受光した各光の強度と前記第2受光部の4つの部分が受光した各光の強度に所定の演算を行い焦点誤差判別値を出力する焦点誤差判別値演算手段
    を備えることを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  2. 請求項1記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置において、前記焦点誤差検出用光学素子は、前記光軸垂直面上の第1象限領域及び第3象限領域にそれぞれ配置されるとともに第1の方向を長軸とする偏心シリンドリカルレンズと、前記光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域にそれぞれ配置されるとともに前記第1の方向に対し90度の方向を長軸とする偏心シリンドリカルレンズを有して構成されることを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  3. 請求項1記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置において、前記第1光検出器の受光領域は45度傾斜した第1の正方形状に形成され、前記第1の正方形の一辺に平行となるとともに前記第1の正方形を2つの長方形に等分割する第1の等分割線と、前記第1の等分割線に対して第1の分割角度をなす2つの平行分割線によって分割され、前記第2光検出器の受光領域は45度傾斜した第2の正方形状に形成されるとともに前記第1の正方形と一辺を共有するように配置され、前記第1の等分割線に垂直となるとともに前記第2の正方形を2つの長方形に等分割する第2の等分割線と、前記第2の等分割線に対して第2の分割角度をなす2つの平行分割線によって分割されることを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  4. 請求項1記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置において、前記第1光検出器及び第2光検出器の側方に、+1次サブビーム用の第3光検出器と、−1次サブビーム用の第4光検出器を備え、3ビーム方式による制御を行うことを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  5. 請求項1記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置において、DPD方式による制御を行うことを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  6. 請求項3記載の光ピックアップの焦点誤差検出装置において、前記第1の等分割線に対して第1の分割角度をなす2つの平行分割線と前記第2の等分割線に対して第2の分割角度をなす2つの平行分割線は、それぞれラジアル方向に略平行であることを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出装置。
  7. 光源から出射された出射光により光ディスクの情報記録面に光ディスク記録情報を書き込み、又は前記光源から出射され前記光ディスクの情報記録面で反射されて戻った戻り光から前記光ディスク記録情報を読み取る光ピックアップにおいて前記出射光の焦点誤差を検出する光ピックアップの焦点誤差検出方法であって、
    前記戻り光の光軸に垂直な平面上の第1象限領域及び第3象限領域に存在する光を第1光路に分離するとともに前記光軸垂直面上の第2象限領域及び第4象限領域に存在する光を第2光路に分離し、前記第1光路の光に第1の非点収差を付与して第1処理光とするとともに、前記第2光路の光に前記第1の非点収差に対し90度の方向となる第2の非点収差を付与して第2処理光とする焦点誤差検出用光学素子と、
    受光領域が4分割されて形成された台形状の4つの第1受光部を有するとともに前記第 1 処理光において、第1象限領域及び第3象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第 1 光検出器と、
    受光領域が4分割されて形成された他の台形状の4つの第2受光部を有するとともに前記第2処理光において、第2象限領域及び第4象限領域に存在していた光をそれぞれ独立に受光して検出する第2光検出器と設け、前記第1受光部の4つの部分が受光した各光の強度と前記第2受光部の4つの部分が受光した各光の強度に所定の演算を行い焦点誤差判別値を出力することを特徴とする光ピックアップの焦点誤差検出方法。
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