JPH11154799A - 電子部品の実装装置および実装方法 - Google Patents

電子部品の実装装置および実装方法

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JPH11154799A
JPH11154799A JP9320935A JP32093597A JPH11154799A JP H11154799 A JPH11154799 A JP H11154799A JP 9320935 A JP9320935 A JP 9320935A JP 32093597 A JP32093597 A JP 32093597A JP H11154799 A JPH11154799 A JP H11154799A
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electronic component
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Takeshi Morita
健 森田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複雑な変形の基板に対しても、位置認識マー
クによる実装時の位置補正を精度よく行うことができる
電子部品実装装置および電子部品実装方法を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 基板2上の認識マークA,B,C,Dを
カメラにより観察して位置を認識し、この結果に基づい
てプログラムデータを補正して電子部品を基板に実装す
る電子部品の実装方法において、まず少なくとも4点の
認識マークA,B,C,Dから3点(例えばA、B、
C)を取出す組合せの全てについて、この3点の基板2
の変形前と変形後の座標データ(設計データに基づくも
の、および実装時に認識されたもの)に基づいて実装座
標の位置補正量を求め、すべての組み合わせについての
位置補正量の平均値を以て実際の位置補正量Δxm,Δ
ymとし、実装座標のプログラムデータをこの位置補正
量で補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を基板に
実装する電子部品の実装装置および実装方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】電子部品が実装される基板は製造工程に
おいて熱や荷重によって変形し、電子部品が実装される
時点では必ずしも設計寸法通りの形状を保っているとは
限らない。このため電子部品の実装装置では、予め基板
上に位置認識用に形成された認識マークを検出して基板
上での各電子部品の実装点の位置補正を行うようになっ
ている。従来、この認識マークの配置方式として、基板
上に2点、または3点の認識マークを配置し、これらの
認識マークをカメラにより観察して位置を認識する方式
が用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】2点を認識する方法で
は基板の縦、横とも均一に伸縮したような変形にしか対
応できない。また3点を認識する方法では上記の欠点は
解消され、基板の縦と横が異る伸縮率で変形していても
対応が可能である。しかしながら、これらの変形は全て
長方形の基板が変形後も長方形を保っているような場合
に限られ、一般的な複雑な変形、すなわち基板の伸縮率
が均一でなく部分的に異なるような変形、例えば長方形
が台形に変形したような場合には、3点を認識する方法
でも精度よく対応することができない。このように従来
の電子部品実装装置では、基板の変形が複雑な場合には
位置認識マークによる実装時の位置補正ができないとい
う問題点があった。
【0004】そこで本発明は、複雑な変形の基板に対し
ても位置認識マークによる実装時の位置補正が可能な電
子部品実装装置および電子部品実装方法を提供すること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の電子部品
の実装装置は、電子部品を基板に移載する移載手段と、
この基板上の少なくとも4点に形成された認識マークを
観察するカメラと、観察結果に基づいてこれらの認識マ
ークの座標を検出する位置認識部と、前記電子部品が実
装される実装点の座標データを記憶する座標データ記憶
部と、前記少なくとも4点の認識マークから3点を取出
す組合せの全てについてこの3点の座標データに基づい
て実装座標の位置補正量を求め、これらの位置補正量の
平均値を以て実際の位置補正量とする位置補正演算部
と、前記実装点のプログラムデータと前記位置補正量に
基づいて前記移載手段を制御する制御部とを備えた。
【0006】請求項2記載の電子部品の実装方法は、基
板上の少なくとも4点に形成された認識マークをカメラ
により観察して位置を認識し、この認識結果に基づいて
実装座標のプログラムデータを補正して移載手段により
電子部品を基板に実装する電子部品の実装方法であっ
て、前記少なくとも4点の認識マークから3点を取出す
組合せの全てについて、この3点の座標データに基づい
て実装座標の位置補正量を求め、これらの位置補正量の
平均値を以て実際の位置補正量とし、実装座標のプログ
ラムデータをこの位置補正量で補正して前記移載手段を
制御するようにした。
【0007】本発明によれば、基板上の少なくとも4点
に形成された認識マークをカメラにより観察して位置を
認識し、これらの認識マークから3点を取出す組合せの
全てについてこの3点の座標データに基づいて実装座標
の位置補正量を求め、これらの位置補正量の平均値を以
て実際の位置補正量とすることにより、複雑な変形に対
しても精度よく実装時の位置補正を行うことができる。
【0008】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品実装装置の斜視図、図2(a),(b)は同電子部
品が実装される基板の平面図、図3は同電子部品実装装
置の制御系の構成を示すブロック図、図4は同電子部品
実装装置の位置補正量算出演算のフローチャート、図5
は同電子部品実装装置のプログラムデータテーブルであ
る。
【0009】まず図1を参照して電子部品実装装置の構
造を説明する。図1において、テーブル1上には基板2
が載置されている。基板2上には電子部品3が実装され
る。テーブル1上の基板2の側方には、電子部品3の供
給部4が配設されている。
【0010】テーブル1の上方には移動テーブル5が配
設されている。移動テーブル5はX軸モータMxを備え
たXテーブル6、Y軸モータMyを備えたYテーブル7
およびYテーブル7に結合されたZテーブル8より成
る。Zテーブル8には実装ヘッド10が装着されてい
る。Xテーブル6およびYテーブル7を駆動することに
より、実装ヘッド10はテーブル1上で水平移動する。
またZテーブル8の上下動手段9を駆動することによ
り、実装ヘッド10はテーブル1上で上下動する。
【0011】実装ヘッド10にはカメラ11が装着され
ており、カメラ11は基板2の上面に位置認識用に形成
された4点の認識マークA,B,C,Dを観察する。カ
メラ11の側方には移載ヘッド12が装着されている。
移載ヘッド12は移動テーブル5を駆動することにより
テーブル1上で水平移動および上下動し、供給部4から
電子部品3をピックアップして基板2上に移載する。し
たがって、移動テーブル5および移載ヘッド12は電子
部品3を基板2上に移載する移載手段となっている。
【0012】次に基板2について図2を参照して説明す
る。図2(a)は変形のない、すなわち設計寸法通りの
基板2を表している。基板2の各隅部には4点の認識マ
ークA,B,C,Dが形成されており、括弧内は各点の
プログラムデータ上のX座標値、Y座標値を表してい
る。また、基板2上には電子部品3が実装されるn個の
実装点M1,M2,・・・Mnが設けられている。同様
に括弧内は各点のプログラムデータ上のX座標値、Y座
標値である。
【0013】図2(b)は、基板2が各工程を経て電子
部品実装装置に送られた状態を示している。基板2は熱
や荷重の影響により各部が異なる伸縮率で変形し、図2
(b)に示すように長方形から台形に変形している。こ
れにより認識マークA,B,C,Dも図2(a)の位置
から変位して、A’,B’,C’,D’となっている。
括弧内は変形後の認識マークA’,B’,C’,D’の
カメラ11の光学系上でのX座標値、Y座標値を示して
いる。また変形により実装点MnもM’nに変位し、変
位後の座標値は括弧内に示すように、それぞれΔxm
n,Δymnだけ変位している。すなわち、電子部品3
の実装時には、Δxmn,Δymnだけプログラム座標
データを補正する必要がある。
【0014】次に図3を参照して電子部品実装装置の制
御系の構成を説明する。図3において、位置認識部21
はカメラ11によって観察された基板2上の認識マーク
A,B,C,Dの観察データに基づき、これらの認識マ
ークA,B,C,Dの座標を検出する。座標データ記憶
部22は、基板2上の電子部品3の実装点のプログラム
座標データおよび実装座標の位置補正量を記憶する。位
置補正演算部は、前記実装点のプログラム座標データと
認識マークA,B,C,Dの座標値に基づき、各実装点
の位置補正量を求める演算を行う。制御部20は電子部
品実装装置全体の動作を制御するとともに、実装点のプ
ログラム座標データと位置補正演算部23によって求め
られた位置補正量に基づいて、移載手段24を制御す
る。
【0015】ここで、位置補正演算部23にて行われる
位置補正量算出演算について、基板2上の1つの実装点
M(xm,ym)を例として説明する。基板2が面内変
形を生じた場合、図2(a)、(b)に示すように、実
装点Mも変形によってその位置が移動し、座標軸上の座
標値も変化する。そして電子部品3を実装点Mに移載す
る場合には、その座標値の変化分Δxm,Δymだけ補
正したうえで、移載手段を駆動することが必要である。
【0016】この場合の補正量は、実用点Mのプログラ
ム座標データおよび基板2上の任意の3点での変形前後
の座標値データを基にして求めることができる。すなわ
ち図2(a),(b)に示す実装点M(xm,ym)の
位置補正量(Δxm,Δym)は、認識マークA,B,
C,Dのうちの3点、例えばA,B,Cの各点の変形前
後の座標値(xa,ya),(xb,yb),(xc,
yc)、(x’a,y’a),(x’b,y’b),
(x’c,y’c)、および実装点Mの座標値(xm,
ym)に基づき、既知の計算式(後述)を用いて計算す
ることができる。
【0017】ただし、ここで行われる計算はX方向、Y
方向それぞれについて基板2の伸縮率が一定であるとの
仮定を前提としているため、この場合に求められる補正
量は、基板2が縦方向にある一定の割合で、また横方向
にもある一定の割合(縦方向と異る割合でも可)で伸縮
しているような場合にしか適用できない。しかし実際に
は、図2(b)に示すように部分的に異なる伸縮率で複
雑な変形をする場合がある。
【0018】そこでこのような変形に対応するため、図
4のフローチャートで示す方法によって実際の位置補正
量を算出する。以下、図4のフローに従って説明する。
【0019】本実施の形態では、まずカメラ11によっ
て認識された認識マークA,B,C,Dの4点のうち、
3点を取出す全ての組合せ、すなわち組合せ1(A,
B,C)、組合せ2(B,C,D)、組合せ3(C,
D,A)および組合せ4(D,A,B)を設定する(S
T1)。次に、これらの4通りの各組み合わせ1〜4に
ついて、前述の計算方法により位置補正量(Δxm
(1),Δym(1)),(Δxm(2),Δym
(2)),(Δxm(3),Δym(3)),(Δxm
(4),Δym(4))をそれぞれ求める(ST1、S
T2、ST3、ST4)。ここで、Δxm,Δymに付
されている(添字)は、各組み合わせ1〜4に対応した
ものである。この計算で用いられる計算式を(数1)、
(数2)、(数3)、(数4)に示す。
【0020】
【数1】
【0021】
【数2】
【0022】
【数3】
【0023】
【数4】
【0024】そして、このようにして求められた4通り
の位置補正量の平均値を求める(ST6)。このように
して求められた平均値Δxm,Δymを以て、実際の位
置補正量とする。
【0025】このように3点の認識マークに基づいて得
られる位置補正量を全ての組合せについて平均すること
は、以下のような意義を有する。まず、基板2が部分的
に異なる伸縮率で不均一に変形しているような場合に、
すべての認識マークの中からある特定の3点の認識マー
クを取り出すことは、ある特定部分の不均一さをその特
定された組み合わせによって抽出していると考えること
ができる。そして、すべての組み合わせについて位置補
正量の平均を求めるということは、すべての特定部分の
不均一さを重畳的に加算し、その平均を求めていること
になる。
【0026】したがって、特定の部分が他の部分より大
きく伸縮している場合には、その分は平均値に反映され
ることになり、従来の方法と比較してより精度のよい位
置補正値を得ることができる。なお、一般には、認識マ
ークの点数が多いほど3点の組み合わせの数が多く、す
なわち取り出される特定部分の数が多いこととなり、部
分的な伸縮の不均一さをより精度よく抽出することがで
きるので、位置補正精度はよくなる。ただし実際上は、
本実施の形態に示すように、基板2の変形の不均一さが
最も端的に表われていると考えられる基板2の各隅部の
4点の認識マークA,B,C,Dを用いることにより、
実用上十分な精度の位置補正量を得ることができる。
【0027】このように、長方形の基板2の各隅部に設
けられた4点の認識マークから3点を取出す組合せの全
てについて位置補正量を計算し、さらにこれら4通りの
位置補正量の平均値を求めることにより、従来は補正が
適用できなかったような一般的な複雑な変形に対しても
精度良く実装座標を補正することができる。
【0028】この電子部品の実装装置は上記のように構
成され、以下実際の動作例について説明する。まず図1
においてテーブル1上に基板2が載置される。次に移動
テーブル5を駆動して、カメラ11を基板2の認識マー
クA,B,C,D上に順に位置させ、各認識マークA,
B,C,Dを観察する。この観察データは位置認識部2
1に送られ、ここで各認識マークA,B,C,D4点の
座標値が検出される。
【0029】次にこれらの座標値は位置補正演算部23
に送られる。ここでは、まず基板2の実装点M1につい
て、座標データ記憶部22に記憶されている実装座標デ
ータと認識マークA,B,C,D4点の座標値に基づい
て前述の計算方法により位置補正量が計算される。この
計算は基板2の全ての実装点Mnについて行われ、計算
結果は図5に示すデータテーブルに記憶される。
【0030】この後、実装動作に移り、制御部20によ
って移動テーブル5および移載ヘッド10を制御し、供
給部4の電子部品3を基板2の各実装点Mnに移載す
る。このとき、各実装点の座標値は、前述の位置補正量
Δxm,Δymだけ補正され、この補正された座標値に
従って移載ヘッド10の動作が制御されるので、基板2
が複雑に変形している場合でも各実装点Mnに精度良く
電子部品3を実装することができる。
【0031】
【発明の効果】本発明は、基板上の少なくとも4点に形
成された認識マークをカメラにより観察して位置を認識
し、これらの認識マークから3点を取出す組合せの全て
についてこの3点の認識された座標値から実装座標の位
置補正量を求め、これらの位置補正量の平均値を以て実
際の位置補正量とするようにしたので、基板が部分的に
不均一な変形を生じているような場合にも、その不均一
さが重畳的に加算された位置補正量が得られ、従来は精
度の良い補正が不可能であった複雑な変形の基板の場合
にも対応することができ、実装時には変形による実装点
の位置ずれを補正して、電子部品を精度よく基板に実装
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の斜
視図
【図2】(a)本発明の一実施の形態の電子部品が実装
される基板の平面図 (b)本発明の一実施の形態の電子部品が実装される基
板の平面図
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の制
御系の構成を示すブロック図
【図4】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の位
置補正量算出演算のフローチャート
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置のプ
ログラムデータテーブルを示す図
【符号の説明】
2 基板 3 電子部品 5 移動テーブル 6 Xテーブル 7 Yテーブル 10 実装ヘッド 11 カメラ 12 移載ヘッド 20 制御部 21 位置認識部 22 座標データ記憶部 23 位置補正演算部 A,B,C,D 認識マーク Mn 実装点

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子部品を基板に移載する移載手段と、こ
    の基板上の少なくとも4点に形成された認識マークを観
    察するカメラと、観察結果に基づいてこれらの認識マー
    クの座標を検出する位置認識部と、前記電子部品が実装
    される実装点の座標データを記憶する座標データ記憶部
    と、前記少なくとも4点の認識マークから3点を取出す
    組合せの全てについてこの3点の座標データに基づいて
    実装座標の位置補正量を求め、これらの位置補正量の平
    均値を以て実際の位置補正量とする位置補正演算部と、
    前記実装点のプログラムデータと前記位置補正量に基づ
    いて前記移載手段を制御する制御部とを備えたことを特
    徴とする電子部品の実装装置。
  2. 【請求項2】基板上の少なくとも4点に形成された認識
    マークをカメラにより観察して位置を認識し、この認識
    結果に基づいて実装座標のプログラムデータを補正して
    移載手段により電子部品を基板に実装する電子部品の実
    装方法であって、前記少なくとも4点の認識マークから
    3点を取出す組合せの全てについて、この3点の座標デ
    ータに基づいて実装座標の位置補正量を求め、これらの
    位置補正量の平均値を以て実際の位置補正量とし、実装
    座標のプログラムデータをこの位置補正量で補正して前
    記移載手段を制御することを特徴とする電子部品の実装
    方法。
JP9320935A 1997-11-21 1997-11-21 電子部品の実装装置および実装方法 Pending JPH11154799A (ja)

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