JPH11154314A - 磁気ヘッドサスペンション及びその製造方法 - Google Patents
磁気ヘッドサスペンション及びその製造方法Info
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Abstract
との接着力が大きく製造工程が簡略化された磁気ヘッド
サスペンション及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 熱融着性のポリイミド樹脂層によってス
テンレス層と銅箔製回路層が接合された磁気ヘッドサス
ペンション及びその製造方法に関する。
Description
ドライブ等に用いられる磁気ヘッド用のサスペンション
及びその製造方法に関するものである。さらに詳しく
は、この発明は、特定の3層構造を有するワイヤレスの
磁気ヘッド用のサスペンション及びその製造方法に関す
るものである。
としては、配線部材とサスペンションとを一体に構成し
た磁気ヘッド用サスペンションが知られている。例え
ば、特開平8−30946号公報や特開平8−3672
1号公報には、可とう性絶縁ベ−ス材を挟んで導電層と
バネ性金属層とを有する積層板の導電層に対してフォト
エッチング処理を施してメタルマスクを形成した後、露
出した部位の可とう性絶縁ベ−ス材をエキシマレ−ザ−
光照射等によって除去し、次いで前記メタルマスクにフ
ォトエッチング処理を施して所要の回路パタ−ンを形成
し、この回路配線パタ−ンの表面に感光性絶縁樹脂を用
いて表面保護層を形成した後、バネ性金属層に対してフ
ォトエッチング処理と所定の曲げ加工などの後加工処理
とを施して所望の形状のサスペンションを形成した例が
記載されている。
て記載されているエポキシ樹脂やアクリル樹脂は、耐熱
性が十分とはいえない。また、ポリイミド樹脂やポリイ
ミド前駆体も記載されているが、これらと回路配線パタ
−ンを形成する導電層とを接着して積層板を作製するた
めの実施例として示されているポリイミド樹脂をプリキ
ュア−した状態で貼り合わせる方法は、各層を貼り合わ
せた後キュア−した時にアウトガスが発生して導電層に
ボイドが発生するという問題がある。
バネ性金属層の片面に非感光性ポリイミド樹脂などを用
いて所要の可とう性絶縁ベ−ス材を形成し、導電性金属
薄膜を用いながら可とう性絶縁ベ−ス材の上部にメッキ
手段で回路パタ−ンを形成する工程を含む方法によって
得た磁気ヘッド用サスペンションが記載されているが、
蒸着・メッキなどによって形成された金属薄膜とポリイ
ミド樹脂層との接着力が小さく金属薄膜が酸性のエッチ
ング液によって浸食されやすい。また、導電性金属薄膜
を形成し回路配線パタ−ンの反転パタ−ンをレジストで
形成し、さらに回路パタ−ンメッキ、下地メッキ、耐腐
食性メッキが必要になるので、実用的には連続生産でき
ず、大量生産には不向きである。
スの発生、ポリイミド樹脂層と金属回路配線層との間の
接着力が小さいという問題点を解決することにより品質
を向上させ、かつ工程を簡略化して生産性を向上させる
ことが可能となる磁気ヘッドサスペンション及びその製
造方法を提供することである。
み10−50μmのステンレス層で、第2層が厚み0.
5−20μmのポリイミド樹脂層で、第3層が厚み5−
35μmの銅箔製の回路層であって、該ポリイミド樹脂
層が熱融着性のポリイミド樹脂の単一層からなる磁気ヘ
ッド用サスペンションに関する。また、この発明は、厚
み10−50μmのステンレス基材と厚み5−35μm
の銅箔とを厚み0.5−20μmの熱融着性のポリイミ
ド樹脂の単一層を介して熱圧着によって積層板とし、こ
の銅箔のエッチングを行い、続いてポリイミド樹脂層の
エッチングを行って回路パタ−ン形成する磁気ヘッド用
サスペンションの製造方法に関する。
は、従来から磁気ヘッド用サスペンション装置に使用さ
れるステンレス箔または板などが挙げられ、鉄、ニッケ
ル、クロムなどの成分比については特に限定されない。
そしてステンレス基材の厚みは10−50μm、好まし
くは20−40μmの範囲内である。厚みが10μm未
満であるとステンレス基材の剛性が小さく基材として適
当ではなく、50μmを越えると硬すぎてバネとして適
当ではなくなる。また、ステンレス基板は、その表面を
酸処理したものがポリイミドとの接着力向上の点から好
ましい。
層の厚みは0.5−20μm、好ましくは1−10μm
の範囲内であることが必要である。ポリイミド樹脂層の
厚みが0.5μm未満であるとポリイミド樹脂層の電気
絶縁性が悪く長期使用時の信頼性が得られず、20μm
を越えるとポリイミド樹脂層のエッチング時間が長くな
り生産性が低くなる。このポリイミド樹脂層の厚みを前
記の範囲にするために、製膜時あるいはコ−ティング時
のポリアミック酸またはポリイミド溶液の粘度は20m
Pa・s−150Pa・s(20センチポイズ−150
0ポイズ)にあることが好ましい。
転移温度が200−300℃、特に230−280℃の
範囲内であることが好ましい。ガラス転移温度が300
℃を越えると圧着温度が高くなるので汎用の機械での熱
圧着が容易でなくなり、ガラス転移温度が200℃未満
ではポリイミド樹脂の耐熱性が劣り連続使用したときの
信頼性が低下する傾向にある。
ド樹脂を製造するために使用することができるテトラカ
ルボン酸成分としては、例えば2,3,3’,4’−ビ
フェニルテトラカルボン酸二無水物が最も好ましいが、
ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−
ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビ
ス(3,4−カルボキシフェニル)プロパン二無水物、
ビス(3,4−カルボキシフェニル)スルホン二無水
物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無
水物などの他の芳香族テトラカルボン酸二無水物単独あ
るいは2種類以上を組み合わせて使用してもよい。
ド樹脂を製造するために使用することができるジアミン
成分としては、例えば1,3−ビス(4−アミノフェノ
キシ)ベンゼンが最も好ましくが、4,4’−ジアミノ
ジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノジフェニルス
ルフィド、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,
2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(4−アミノフェノキシメチル)プロパン、1,4−
ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビ
ス(4−アミノフェニル)ジフェニルエ−テル、4,
4’−ビス(4−アミノフェニル)ジフェニルスルホ
ン、4,4’−ビス(4−アミノフェニル)ジフェニル
スルフィド、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)
ジフェニルメタン、4,4’−ビス(4−アミノフェノ
キシ)ジフェニルエ−テル、4,4’−ビス(4−アミ
ノフェノキシ)ジフェニルスルフィド、4,4’−ビス
(4−アミノフェノキシ)ジフェニルメタン、2,2−
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパ
ン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕ヘキサフルオロプロパンなどの複数のベンゼン環
を有する柔軟な芳香族ジアミンを単独あるいは2種類以
上を組み合わせて使用してもよく、その一部を1,4−
ジアミノブタン、1,8−ジアミノオクタン、1,10
−ジアミノデカン、1,12−ジアミノドデカンなどの
脂肪族ジアミンの1種類あるいは2種類以上で置き換え
て使用してもよい。
完了されていればフィルム状の形状で使用してもよく、
あるいはステンレス基材にコ−ティングした後キュア−
された状態であってもよい。 この発明においては、熱
融着性ポリイミド樹脂を使用するため、フィルム状ある
いはコ−ティングした後キュア−された状態のいずれで
あっても他の基材であるステンレス基材と銅箔回路とを
強固に接合することができる。
ションの第1層であるステンレス基材と第3層である銅
箔とを第2層である熱融着性ポリイミド樹脂を介して貼
り合わせて積層板とする装置は熱プレスのようなバッチ
式のものであってもよく、熱ロ−ルのような連続式の貼
り合わせ装置であってもよい。この貼り合わせを行う条
件としては、バッチ式の場合には温度が280−330
℃、圧力が1−100kg/cm2 、1秒−30分であ
ることが好ましく、連続式の場合には温度が280−3
00℃、線圧力が2−50kg/cmであり、送り速度
が0.1−5m/分であることが好ましい。
の銅箔としては、電解銅箔や圧延銅箔などの回路パタ−
ン形成に使用される通常の銅箔を使用することができ
る。銅箔は金などでメッキされていてもよい。この銅箔
の厚みは厚みが5−35μmの範囲内であることが好ま
しい。厚みが35μmを越えるとエッチングに時間が掛
かりすぎるので実用性に乏しく、厚みが5μm未満であ
ると銅箔に断線などが起こりやすくなるので長期耐久性
に問題が生じる。この銅箔をエッチングして回路を形成
するにはそれ自体公知の方法を適用すればよい。
ションを製造するに際して、熱融着性ポリイミド樹脂層
のパタ−ン形成にはポリイミド樹脂をエッチングするこ
とが必要である。このエッチング方法はケミカルエッチ
ングでもよくドライエッチングであってもよい。
チング液としてはそれ自体公知のもの、例えば抱水ヒド
ラジン、水酸化カリウムのような金属水酸化物、エチレ
ンジアミンやジエチレントリアミンなどの脂肪族ポリア
ミンなどのアルカリ性有機化合物であってエッチング時
の温度で液状のものを使用することができる。このケミ
カルエッチングの温度は10−80℃、好ましくは20
−60℃の範囲で行うことが好ましい。10℃未満の温
度ではエッチング速度が小さく、80℃を越えると安全
性に過大な配慮が必要となり装置が高価になる。また、
前記のドライエッチングとしてはプラズマエッチング、
反応性イオンエッチング、イオンビ−ムエッチング(ス
パッタエッチング)などを挙げることができる。
は、前記の3層からなる積層体から、例えば、所望の形
状にエッチングして回路パタ−ンを形成した銅箔と熱融
着性ポリイミド樹脂層との接合層にフォトファブリケ−
ション手法によって表面保護層を形成した後、第1層で
あるステンレス層に対してフォトエッチング処理と所定
の曲げ成形加工とを施して、所望の形状のサスペンショ
ンを製造することができる。
において、%は重量%を意味する。 実施例1 ポリアミック酸溶液の合成(1) 攪拌機、窒素導入管を備えた反応容器に、N,N−ジメ
チルアセトアミド(DMAC)を入れ、さらに1,3−
ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン(TPE−R)
と2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二
無水物(a−BPDA)とを100:99.0のモル比
でかつモノマ−濃度が22%になるように添加し、さら
にトリフェニルホスファイトをモノマ−成分合計量に対
して0.1%になるように添加した。添加終了後25℃
にて6時間反応を続け、淡黄色粘稠調なポリアミック酸
溶液を得た。この溶液の25℃における粘度をE型回転
粘度計(東京計器製)で測定したところ70Pa.s
(700ポイズ)であった。この溶液をA−1とする。
このポリアミック酸溶液とDMACとを重量比41:5
9で混合し、ポリアミック酸濃度9.0%の溶液を調製
した。このポリアミック酸溶液の回転粘度は160mP
a・s(60センチポイズ)であった。
カサ社製)でA−1のポリアミック酸濃度9.0%のポ
リアミック酸溶液を300rpmで20秒間次いで10
00rpmで10秒間スピンコ−トした。この作業は室
温(25℃)に調節されたクリ−ンル−ムで行った。こ
のポリアミック酸溶液塗布ガラス板を200℃で30分
間、300℃で30分間空気中で加熱して乾燥・イミド
化し、ポリイミド膜を得た。次いでポリイミド膜を形成
したガラス板を50℃の熱水につけてガラス板からフィ
ルムが剥がし、厚み2.0μmの黄色透明なポリイミド
フィルムを得た。このポリイミドフィルムの一部を切り
取り、示差走査熱量分析装置(DSC)によるガラス転
移温度を測定した。このポリイミド樹脂のガラス転移温
度は254℃であった。
に切り取り、厚さが12μmで100mm角の電解銅箔
と、厚さが25μmで100mm角の表面酸処理したS
US304の板との間に挟み、350℃に保った熱プレ
スで5分間予熱後、39秒間4.9MPa(50kg/
cm2 )の圧力で熱融着した。次いで加圧下に室温まで
冷却して積層体を得た。この積層体の銅箔をライン/ス
ペ−スが0.5mm/0.5mmおよび1.0mm/
0.5mmのパタ−ンになるようにレジストでマスク
し、塩化第2鉄水溶液でエッチングした。所望のパタ−
ンにエッチングされた銅箔をマスクとして用い、ポリイ
ミド樹脂層を40℃に加熱したエッチング液(抱水ヒド
ラジンに水酸化カリウムを重量比で70:30溶かした
溶液)中でエッチングした。ポリイミド樹脂層のエッチ
ングに要した時間は4分間であった。デジタルマイクロ
スコ−プで観察するとラインとラインとの間、即ち銅マ
スクがかかっていない部分のポリイミド樹脂層はすっか
り分解して消失していた。
層板の銅回路の一部をエッチング液で落とし、残ったポ
リイミド樹脂層の幅とマスクである銅回路のライン幅と
の差(μm)をデジタルマイクロスコ−プで測定したと
ころ、マスク通りにポリイミド樹脂層がエッチングされ
ていることがわかった。また、ポリイミド樹脂層と銅箔
との積層板について、2N塩酸に5分間漬けた後に剥離
強度(90°剥離)を測定したところ、7.8N/cm
(0.8kgf/cm)以上であった。また、積層体に
異常は見受けられなかった。これらの評価結果をまとめ
て表1に示す。
ACで希釈し、ポリアミック酸濃度が12.0%のポリ
アミック酸溶液を調製した。この溶液は25℃における
回転粘度が700mPa・s(700センチポイズ)で
あった。25℃のクリ−ンル−ムで、厚さ25μmで1
00mm角の表面酸処理したステンレス板:SUS30
4の板に前記のポリアミック酸濃度が12.0%のポリ
アミック酸溶液をアプリケ−タ−を用いてコ−ティング
した。次いで200℃で30分間、300℃で30分間
空気中で加熱した後、室温まで冷却して厚みμmのポリ
イミド樹脂層を形成した。このステンレス板のポリイミ
ド樹脂層に12μmの電解銅箔をのせ、実施例1と同様
の条件で熱プレスした後冷却して、積層体を得た。この
積層体について実施例1と同様に評価した。エッチング
によってラインとラインとの間のポリイミド樹脂層はす
っかり分解して消失しており、銅回路をマスクとしてポ
リイミド樹脂層がエッチングされていることがわかる。
また、ポリイミド樹脂層と銅箔との積層板について、2
N塩酸に5分間漬けた後に剥離強度(90°剥離)を測
定したところ、7.8N/cm(0.8kgf/cm)
以上であった。また、積層体に異常は見受けられなかっ
た。これらの評価結果をまとめて表1に示す。
ACで希釈し、ポリアミック酸濃度が18.0%のポリ
アミック酸溶液を調製した。この溶液は25℃における
回転粘度が7.2Pa・s(72ポイズ)であった。こ
のポリアミック酸溶液をガラス板上にアプリケ−タ−を
用いて塗布し、120℃で5分間加熱後、フィルム状物
を剥がし、ステンレス製ピンテンタ−に固定し同様に加
熱して、乾燥・イミド化して厚み μmのポリイミド
フィルムを作製した以外は実施例1と同様の方法で積層
体を得た。そして、同様に評価した。エッチングによっ
てラインとラインとの間のポリイミド樹脂層はすっかり
分解して消失しており、銅回路をマスクとしてポリイミ
ド樹脂層がエッチングされていることがわかる。また、
ポリイミド樹脂層と銅箔との積層板について、2N塩酸
に5分間漬けた後に剥離強度(90°剥離)を測定した
ところ、7.8N/cm(0.8kgf/cm)以上で
あり、積層体に異常は見受けられなかった。これらの評
価結果をまとめて表1に示す。
4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(s−BP
DA)とを用い、PPDとs−BPDAとのモル比が1
00:99.3となり、モノマ−濃度が18%になるよ
うにした以外は実施例1のポリアミック酸溶液の合成
(1)と同様にして、淡黄色粘稠なポリアミック溶液
(A−2とする)を得た。この25℃における回転粘度
は70Pa・s(700ポイズ)であった。このポリア
ミック酸溶液をDMACで希釈しポリアミック酸濃度が
15.0%のポリアミック酸溶液を調整した。この溶液
の粘度は7.2Pa・sであった。
ック酸溶液(A−2)を使用した他は実施例3と同様に
して厚み10μmのポリイミドフィルムを得た。このポ
リイミドフィルムのガラス転移温度は500℃まで明確
なピ−クがなく測定できなかった。これを使用して実施
例1と同様に積層体を作製しようとしたが、ステンレス
板側にも銅箔側にも熱融着されず、積層体を作製するこ
とができなかった。
ミック酸溶液(A−1)をコ−ティング後、120℃で
5分間プレキュア−した後、12μmの銅箔を熱プレス
で積層した以外は実施例2と同様にして積層体を作製し
た。キュア−時にはアウトガスが発生し銅箔側にボイド
として残り、実施例1と同様に銅箔をエッチングしたと
ころ、ボイドの部分が欠陥となり、所望のパタ−ンが得
られなかった。また、この厚み2μmのポリイミド樹脂
層と銅箔との積層板について、2N塩酸に5分間漬けた
後に剥離強度(90°剥離)を測定したところ、ボイド
の部分から塩酸が浸透してしまった。これらの評価結果
をまとめて表1に示す。
12μmの銅層を蒸着膜速度0.5μm/分で真空蒸着
した以外は実施例2と同様にして積層体を作製した。こ
の積層体は厚み2μmのポリイミド樹脂層をエッチング
できるものの、積層体作製に非常に時間がかかった。ま
た、銅層とポリイミド樹脂層との接着力は2N塩酸浸漬
後7.8N/cm未満であった。これらの評価結果をま
とめて表1に示す。
トファブリケ−ション法による表面保護層の形成、ステ
ンレス層へのフォトエッチング処理および曲げ加工を施
して、図2に示す磁気ヘッドサスペンションを得ること
ができる。
は、第1層のステンレス基材層と第3層の銅箔製回路層
とを第2層のキュアされた熱融着性ポリイミド樹脂層を
介して熱圧着されているので、接着性が優れ、低アウト
ガス性や低イオンコンタミネ−ション性に優れたワイヤ
レスのサスペンションを得ることができる。
層が熱融着性のポリイミド樹脂層の単一層からなるため
ポリイミド層の外形加工をエッチング処理で行うことが
できるうえ、さらに接着剤層を介さないので製造工程を
簡略化することができ、高密度への対応が可能となる。
におけるポリイミド樹脂層のエッチング性を試験するさ
いの試験片を示す概略図である。
ペンションの概略の断面図である。
脂層の幅
Claims (6)
- 【請求項1】 第1層が厚み10−50μmのステンレ
ス層で、第2層が厚み0.5−20μmのポリイミド樹
脂層で、第3層が厚み5−35μmの銅箔製の回路層で
あって、該ポリイミド樹脂層が熱融着性のポリイミド樹
脂の単一層からなる磁気ヘッド用サスペンション。 - 【請求項2】 回路層およびポリイミド樹脂層がいずれ
もエッチングによってパタ−ン形成されてなる請求項1
記載の磁気ヘッド用サスペンション。 - 【請求項3】 ポリイミド樹脂層が200−300℃の
ガラス転移温度を有する熱融着性のポリイミド樹脂から
なる請求項1あるいは2に記載の磁気ヘッド用サスペン
ション。 - 【請求項4】 ポリイミド樹脂層が酸成分として2,
3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、そのエ
ステルあるいはその二無水物とジアミン成分として1,
3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼンを必須成分
として重合、イミド化して得られる熱融着性のポリイミ
ド樹脂からなる請求項1、2あるいは3のいずれかに記
載の磁気ヘッド用サスペンション。 - 【請求項5】 厚み10−50μmのステンレス基材と
厚み5−35μmの銅箔とを厚み0.5−20μmの熱
融着性のポリイミド樹脂の単一層を介して熱圧着によっ
て積層板とし、この銅箔のエッチングを行い、続いてポ
リイミド樹脂層のエッチングを行って回路パタ−ン形成
する磁気ヘッド用サスペンションの製造方法。 - 【請求項6】 ステンレス基材にポリアミック酸溶液ま
たはポリイミド溶液を塗布し、銅箔と積層する前にキュ
ア−を完了する請求項5に記載の磁気ヘッド用サスペン
ションの製造方法。
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JP32099997A JP3704920B2 (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | 磁気ヘッドサスペンションの製造方法 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004049336A1 (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-10 | Nippon Steel Chemical Co., Ltd. | Hddサスペンション用積層体及びその製造方法 |
JP2004276413A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Mitsui Chemicals Inc | ポリイミド金属積層体およびその製造方法 |
WO2005096299A1 (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Nippon Steel Chemical Co., Ltd. | Hddサスペンション用積層体およびその製造方法 |
JP2006054474A (ja) * | 1999-10-21 | 2006-02-23 | Nippon Steel Chem Co Ltd | 積層体及びその製造方法 |
JPWO2005084088A1 (ja) * | 2004-02-26 | 2008-01-17 | 新日鐵化学株式会社 | 配線基板用積層体 |
-
1997
- 1997-11-21 JP JP32099997A patent/JP3704920B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006054474A (ja) * | 1999-10-21 | 2006-02-23 | Nippon Steel Chem Co Ltd | 積層体及びその製造方法 |
JP4615401B2 (ja) * | 1999-10-21 | 2011-01-19 | 新日鐵化学株式会社 | 積層体 |
WO2004049336A1 (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-10 | Nippon Steel Chemical Co., Ltd. | Hddサスペンション用積層体及びその製造方法 |
JPWO2004049336A1 (ja) * | 2002-11-26 | 2006-03-30 | 新日鐵化学株式会社 | 薄肉銅箔を用いたhddサスペンション用積層体及びその製造方法 |
JP2004276413A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Mitsui Chemicals Inc | ポリイミド金属積層体およびその製造方法 |
JP4709474B2 (ja) * | 2003-03-17 | 2011-06-22 | 三井化学株式会社 | ポリイミド金属積層体およびその製造方法 |
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