JPH11153619A - コンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブInfo
- Publication number
- JPH11153619A JPH11153619A JP9321747A JP32174797A JPH11153619A JP H11153619 A JPH11153619 A JP H11153619A JP 9321747 A JP9321747 A JP 9321747A JP 32174797 A JP32174797 A JP 32174797A JP H11153619 A JPH11153619 A JP H11153619A
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- JP
- Japan
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- contact
- contact probe
- tip
- probe
- probe pin
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電子部品が実装された配線基板の回路チェッカ
に用いるコンタクトプローブ間のショートを防止する。 【解決手段】電子部品２が実装された基板１の複数の測
定ポイント２１に当接するように、複数個設けられたコ
ンタクトプローブ５０において、コンタクトプローブ５
０の測定ポイント２１に当接する側の先端部側面に、隣
接するコンタクトプローブ５０間を絶縁する絶縁手段５
４が設けられてなる。
に用いるコンタクトプローブ間のショートを防止する。 【解決手段】電子部品２が実装された基板１の複数の測
定ポイント２１に当接するように、複数個設けられたコ
ンタクトプローブ５０において、コンタクトプローブ５
０の測定ポイント２１に当接する側の先端部側面に、隣
接するコンタクトプローブ５０間を絶縁する絶縁手段５
４が設けられてなる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品等が実装
された配線基板の測定ポイントに当接するコンタクトプ
ローブに関する。
された配線基板の測定ポイントに当接するコンタクトプ
ローブに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より電子機器の配線基板に電子部品
等を実装後、電子部品や回路の導通チェックに周辺回路
を組み込んだ動作確認用チェッカが用いられている。図
２は動作確認用チェッカの説明図である。１は表面に配
線パターン（図示せず）がプリントされた配線基板であ
る。２は配線基板１に実装された集積回路、コネクタ等
の電子部品である。３は電子部品２のリード先端を配線
パターンに溶着された半田である。４は動作確認用チェ
ッカの要部を示したものである。５は被測定物である配
線基板１の複数の測定ポイント２１に接触する複数個設
けられたコンタクトプローブであり、電源や各種信号を
流すために金属により形成されている。６はコンタクト
プローブ５を支持する支持板であり、矢印Ａに示すよう
に上下方向に移動し、測定時はコンタクトプローブ５の
先端が測定ポイント２１（電子部品２のリード先端）に
当接するように構成されている。７は動作確認用チェッ
カ４の周辺回路とコンタクトプローブ５を介して配線基
板１と接続し、電子機器の回路を構成するリード線であ
る。
等を実装後、電子部品や回路の導通チェックに周辺回路
を組み込んだ動作確認用チェッカが用いられている。図
２は動作確認用チェッカの説明図である。１は表面に配
線パターン（図示せず）がプリントされた配線基板であ
る。２は配線基板１に実装された集積回路、コネクタ等
の電子部品である。３は電子部品２のリード先端を配線
パターンに溶着された半田である。４は動作確認用チェ
ッカの要部を示したものである。５は被測定物である配
線基板１の複数の測定ポイント２１に接触する複数個設
けられたコンタクトプローブであり、電源や各種信号を
流すために金属により形成されている。６はコンタクト
プローブ５を支持する支持板であり、矢印Ａに示すよう
に上下方向に移動し、測定時はコンタクトプローブ５の
先端が測定ポイント２１（電子部品２のリード先端）に
当接するように構成されている。７は動作確認用チェッ
カ４の周辺回路とコンタクトプローブ５を介して配線基
板１と接続し、電子機器の回路を構成するリード線であ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記の動作確認用チェ
ッカでは、測定時にはチェッカは上方向に引き上げられ
コンタクトプローブ５の先端部が電子部品２のリード先
端に押し付けられる。すると、Ｂ部に示すように狭いピ
ッチの電子部品２のリードでは、コンタクトプローブ５
の先端部が半田３の斜面等に当接すると斜面に沿って撓
み隣接するコンタクトプローブ５が接触し、回路ショー
トによる配線基板１の破損、誤測定等の問題が起こる恐
れがある。
ッカでは、測定時にはチェッカは上方向に引き上げられ
コンタクトプローブ５の先端部が電子部品２のリード先
端に押し付けられる。すると、Ｂ部に示すように狭いピ
ッチの電子部品２のリードでは、コンタクトプローブ５
の先端部が半田３の斜面等に当接すると斜面に沿って撓
み隣接するコンタクトプローブ５が接触し、回路ショー
トによる配線基板１の破損、誤測定等の問題が起こる恐
れがある。
【０００４】本発明は、このような問題を解決すること
を目的とする。
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題を解決
するもので、電子部品が実装された基板の複数の測定ポ
イントに当接するように、複数設けられたコンタクトプ
ローブにおいて、前記コンタクトプローブの前記測定ポ
イントに当接する側の先端部側面に、隣接する前記コン
タクトプローブ間を絶縁する絶縁手段が設けられてなる
ことを特徴とする。
するもので、電子部品が実装された基板の複数の測定ポ
イントに当接するように、複数設けられたコンタクトプ
ローブにおいて、前記コンタクトプローブの前記測定ポ
イントに当接する側の先端部側面に、隣接する前記コン
タクトプローブ間を絶縁する絶縁手段が設けられてなる
ことを特徴とする。
【０００６】また、前記絶縁手段は、前記先端部側面に
絶縁部材がコーティングされてなるものであることを特
徴とする。また、前記絶縁手段は、前記先端部側面に挿
入される絶縁チューブからなるものであることを特徴と
する。
絶縁部材がコーティングされてなるものであることを特
徴とする。また、前記絶縁手段は、前記先端部側面に挿
入される絶縁チューブからなるものであることを特徴と
する。
【０００７】
【実施例】以下図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は、本発明の一実施例であるコンタクトプロー
ブの構造を示す構成図である。なお、図２と同等なもの
には同一符号を付した。５０は動作確認用チェッカ４に
複数個設けられた本実施例におけるコンタクトプローブ
であり、支持板６に圧入等により固着されており、支持
板６が矢印Ａのように上下してコンタクトプローブ５０
の先端が測定ポイント２１（電子部品２のリード先端）
に当接して回路チェックを行うものである。５１はコン
タクトプローブ５０の本体部であり、銅等の金属により
一端が開口され、他端を閉塞した細長の筒状に形成され
ている。５２は筒状に形成された本体部５１に嵌入され
たバネである。
る。図１は、本発明の一実施例であるコンタクトプロー
ブの構造を示す構成図である。なお、図２と同等なもの
には同一符号を付した。５０は動作確認用チェッカ４に
複数個設けられた本実施例におけるコンタクトプローブ
であり、支持板６に圧入等により固着されており、支持
板６が矢印Ａのように上下してコンタクトプローブ５０
の先端が測定ポイント２１（電子部品２のリード先端）
に当接して回路チェックを行うものである。５１はコン
タクトプローブ５０の本体部であり、銅等の金属により
一端が開口され、他端を閉塞した細長の筒状に形成され
ている。５２は筒状に形成された本体部５１に嵌入され
たバネである。
【０００８】５３はコンタクトプローブ５０の先端部を
構成するコンタクトプローブピンであり、ステンレス等
の金属により丸棒状に形成されている。そして、一端の
断面５３１（測定ポイント２１に当接する面）は、切り
欠き等により粗面（滑り止め）に形成され、他端の縁端
部５３２は若干棒径が大きく形成されている。５４はコ
ンタクトプローブピン５３の一端（測定ポイント２１に
当接する側）の側面周囲にコーティングされた絶縁材
（例えばフッ素樹脂）である。なお、コンタクトプロー
ブピン５３の断面５３１（測定ポイント２１に当接する
面）は測定ポイント２１と電気的に導通させるため露出
させてある。
構成するコンタクトプローブピンであり、ステンレス等
の金属により丸棒状に形成されている。そして、一端の
断面５３１（測定ポイント２１に当接する面）は、切り
欠き等により粗面（滑り止め）に形成され、他端の縁端
部５３２は若干棒径が大きく形成されている。５４はコ
ンタクトプローブピン５３の一端（測定ポイント２１に
当接する側）の側面周囲にコーティングされた絶縁材
（例えばフッ素樹脂）である。なお、コンタクトプロー
ブピン５３の断面５３１（測定ポイント２１に当接する
面）は測定ポイント２１と電気的に導通させるため露出
させてある。
【０００９】上記構成のコンタクトプローブ５０を組付
けるには、筒状に形成された本体部５１にバネ５２を嵌
入する。次に、コーティングされたコンタクトプローブ
ピン５３を縁端部５３２側より本体部５１に挿入する。
そして、コンタクトプローブピン５３を押し込んで（バ
ネ５２を圧縮させて）棒径を大きく形成した縁端部５３
２が所定位置（狭部５３３）より奥に押し込まれた状態
で、本体部５１の所定位置をかしめる。
けるには、筒状に形成された本体部５１にバネ５２を嵌
入する。次に、コーティングされたコンタクトプローブ
ピン５３を縁端部５３２側より本体部５１に挿入する。
そして、コンタクトプローブピン５３を押し込んで（バ
ネ５２を圧縮させて）棒径を大きく形成した縁端部５３
２が所定位置（狭部５３３）より奥に押し込まれた状態
で、本体部５１の所定位置をかしめる。
【００１０】このかしめは、コンタクトプローブピン５
３が本体部５１より抜け出さないように筒状の本体部５
１の中央付近の全周に狭部５３３を設けるもので、コン
タクトプローブピン５３の棒径を大きくした端縁部５３
２が挿通せず、しかもコンタクトプローブピン５３が本
体部５１内をスムーズに移動できる程度の狭部５３３を
形成するものである。
３が本体部５１より抜け出さないように筒状の本体部５
１の中央付近の全周に狭部５３３を設けるもので、コン
タクトプローブピン５３の棒径を大きくした端縁部５３
２が挿通せず、しかもコンタクトプローブピン５３が本
体部５１内をスムーズに移動できる程度の狭部５３３を
形成するものである。
【００１１】以上のように組付けたコンタクトプローブ
５０を動作確認用チェッカ４の支持板６の被測定物の測
定ポイント２１に対応する位置に圧入等により固着し、
リード線７を介して周辺回路と接続する。そして、支持
板６を移動して測定ポイント２１にコンタクトプローブ
５０のコンタクトプローブピン５３が当接するよう押し
上げ、周辺回路より電源および各信号を配線基板１に供
給して被測定物である配線基板１の良否をチェックす
る。
５０を動作確認用チェッカ４の支持板６の被測定物の測
定ポイント２１に対応する位置に圧入等により固着し、
リード線７を介して周辺回路と接続する。そして、支持
板６を移動して測定ポイント２１にコンタクトプローブ
５０のコンタクトプローブピン５３が当接するよう押し
上げ、周辺回路より電源および各信号を配線基板１に供
給して被測定物である配線基板１の良否をチェックす
る。
【００１２】上述した本実施例のコンタクトプローブ５
０によれば、コンタクトプローブピン５３が測定ポイン
ト２１である電子部品２のリード先端より振れて、半田
３の斜面に当接し斜面に沿って撓み図２のＢ部に示すよ
うに隣接するコンタクトプローブピン５３が接触するこ
とがあっても、コンタクトプローブピン５３の側面周囲
にコーティングされた絶縁材５４により先端でのショー
トを避けることができる。
０によれば、コンタクトプローブピン５３が測定ポイン
ト２１である電子部品２のリード先端より振れて、半田
３の斜面に当接し斜面に沿って撓み図２のＢ部に示すよ
うに隣接するコンタクトプローブピン５３が接触するこ
とがあっても、コンタクトプローブピン５３の側面周囲
にコーティングされた絶縁材５４により先端でのショー
トを避けることができる。
【００１３】また、本実施例ではコンタクトプローブピ
ン５３でのショート防止のために、コンタクトプローブ
ピン５３の側面周囲に絶縁材５４をコーティングしたが
同部位に絶縁チューブを挿入し被せても同様な効果が期
待できる。更に本実施例ではコンタクトプローブ５０の
先端部のみ絶縁手段を設けているのでコスト低減も図れ
る。
ン５３でのショート防止のために、コンタクトプローブ
ピン５３の側面周囲に絶縁材５４をコーティングしたが
同部位に絶縁チューブを挿入し被せても同様な効果が期
待できる。更に本実施例ではコンタクトプローブ５０の
先端部のみ絶縁手段を設けているのでコスト低減も図れ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるコンタ
クトプローブによれば、被測定物の測定ポイントが接近
していると、コンタクトプローブの先端部が撓んで隣接
する先端部と接触することがあるが、先端部に施した絶
縁手段によりコンタクトプローブ間でショートすること
なく配線基板の破損、誤測定等が起こる恐れをなくすこ
とができる。
クトプローブによれば、被測定物の測定ポイントが接近
していると、コンタクトプローブの先端部が撓んで隣接
する先端部と接触することがあるが、先端部に施した絶
縁手段によりコンタクトプローブ間でショートすること
なく配線基板の破損、誤測定等が起こる恐れをなくすこ
とができる。
【図１】本発明の一実施例であるコンタクトプローブの
構造を示す構成図である。
構造を示す構成図である。
【図２】動作確認用チェッカの説明図である。
５１・・・・本体部 ５２・・・・バネ ５３・・・・コンタクトプローブピン ５４・・・・絶縁材
Claims (3)
- 【請求項１】 電子部品が実装された基板の複数の測定
ポイントに当接するように、複数設けられたコンタクト
プローブにおいて、 前記コンタクトプローブの前記測定ポイントに当接する
側の先端部側面に、隣接する前記コンタクトプローブ間
を絶縁する絶縁手段が設けられてなることを特徴とする
コンタクトプローブ。 - 【請求項２】 前記絶縁手段は、前記先端部側面に絶縁
部材がコーティングされてなるものであることを特徴と
する請求項１記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項３】 前記絶縁手段は、前記先端部側面に挿入
される絶縁チューブからなるものであることを特徴とす
る請求項１記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321747A JPH11153619A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321747A JPH11153619A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | コンタクトプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11153619A true JPH11153619A (ja) | 1999-06-08 |
Family
ID=18136004
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9321747A Withdrawn JPH11153619A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11153619A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115400985A (zh) * | 2022-08-29 | 2022-11-29 | 深圳市立能威微电子有限公司 | 一种芯片二重式分选检测装置 |
-
1997
- 1997-11-21 JP JP9321747A patent/JPH11153619A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115400985A (zh) * | 2022-08-29 | 2022-11-29 | 深圳市立能威微电子有限公司 | 一种芯片二重式分选检测装置 |
| CN116469809A (zh) * | 2022-08-29 | 2023-07-21 | 深圳市立能威微电子有限公司 | 一种具有芯片修正组件的检测装置 |
| CN116469809B (zh) * | 2022-08-29 | 2024-02-23 | 深圳市立能威微电子有限公司 | 一种具有芯片修正组件的检测装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050201 |