JPH1114680A - 輻射ノイズ測定装置、輻射ノイズ測定方法、輻射ノイズ表示方法および輻射ノイズ検出装置 - Google Patents

輻射ノイズ測定装置、輻射ノイズ測定方法、輻射ノイズ表示方法および輻射ノイズ検出装置

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JPH1114680A
JPH1114680A JP9170301A JP17030197A JPH1114680A JP H1114680 A JPH1114680 A JP H1114680A JP 9170301 A JP9170301 A JP 9170301A JP 17030197 A JP17030197 A JP 17030197A JP H1114680 A JPH1114680 A JP H1114680A
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radiation noise
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measurement
frequency component
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Tadashi Kubodera
忠 久保寺
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノイズ検出手段を移動させることなく、測定
ができ、また、特定周波数における高周波電流の流れる
状況を容易に推測できる輻射ノイズ測定装置を提供す
る。 【解決手段】 ノイズ検出手段1a,1b,1cは、そ
れぞれ、任意の測定点に配置される。ノイズ検出手段の
出力は、選択手段2で切り換えられて、分析手段3にお
いて、輻射ノイズの周波数帯域ごとの周波数成分のノイ
ズ量が分析される。比較手段4は、複数の検出手段から
得た測定データを蓄積する記憶部と比較器で構成され、
分析手段3で分析したノイズ量に対して、全帯域または
特定周波数における所定値との差と大小関係、あるい
は、2点間のノイズ量の差と大小関係を求めるものであ
り、比較手段4の出力は、表示手段5で表示される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品が実装さ
れた1または2以上のプリント回路板、または、電子部
品を搭載した製品などの電子装置等の測定対象から発生
する幅射ノイズを測定する輻射ノイズ測定装置、輻射ノ
イズ測定方法、ならびに、輻射ノイズの表示方法、輻射
ノイズを検出する検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品が実装されたプリント回路板の
不要幅射ノイズ測定装置としては、例えば特開平6−5
8969号公報,特開平6−58970号公報に記載さ
れた3次元妨害測定装置が提案されている。これは、プ
リント回路板から発生する放射ノイズについて、テーブ
ル内に設置した平面センサーで回路板の裏側からのX−
Y平面上でのノイズを検出し、回路板上に取り付けられ
た磁界センサーで回路板表面のZ軸上方向のノイズを測
定するものである。
【0003】この3次元妨害測定装置は、測定対象がプ
リント回路板に限定されており、曲面を有する被測定対
象には対応できない。また、プリント回路板は、単体で
全ての機能が満たされているものは少なく、通常は入
力、出力、電源などワイヤーハーネスを経て、他の電子
部品やプリント回路板と信号や電源の授受をするように
構成されたものが多い。放射ノイズはディファレンシャ
ルモードノイズとコモンモードノイズに分けられる。基
板の配線等により発生するディファレンシャルモードノ
イズよりも、基板内の電源,グランド間またはシステム
における基板間の電位差により、ハーネスに流れる高周
波電流を主原因としたコモンモードノイズの方がノイズ
レベルがはるかに高く、コモンモードノイズを減少させ
る対策をすることが、ノイズ対策上の効果が大きい。し
かしながら、上記の3次元妨害測定装置では、これらシ
ステム全体でのノイズの評価ができないという問題があ
る。
【0004】これに対して、複数のプリント回路板およ
び電子部品を搭載した製品から発生する不要幅射ノイズ
の測定法として、特開平6−94763号公報に記載さ
れた電波源可視化装置では、観測面のX−Y座標に水平
偏波受信アンテナと垂直偏波受信アンテナよを移動させ
ながら受信出力を求めると共に、観測面近くに設けた固
定アンテナの受信出力とを対比させる方法を採用してい
る。
【0005】この方法は、水平偏波受信アンテナと垂直
偏波受信アンテナの移動とデータ入力に時間を要し、瞬
時的に発生するノイズには対応できない。また、観測面
が複雑な曲面の場合のアンテナ移動方法に関する考慮は
払われていない。一般に、電界の強さと距離の間にはク
ーロンの法則より逆二乗の関係があり、距離の変動は大
きな誤差を生じるから、観測面と測定点間の距離を一定
にして測定することが必要となる。
【0006】図13は、固定アンテナを用いた従来の測
定法の説明図である。図中、60は試験に供する製品、
61はターンテーブル、62は直接波、63は反射波、
64は固定アンテナ、65は切換部、66は受信機、6
7はスペクトラムアナライザである。製品60をターン
テーブル61上に乗せ、回転させながらノイズを固定ア
ンテナ64で捉え、切換部65で選択した受信機66ま
たはスペクトラムアナライザ67で測定する。製品60
と固定アンテナ64との距離は、3mまたは10mであ
り、さらに直接波62と反射波63の影響を受けるなど
により、細かい評価はできない。また、製品を乗せたタ
ーンテーブルの回転スピードを高くできないため、瞬間
的に発生するノイズには対応できないという問題もあ
る。
【0007】このように、上述した測定システムは、大
がかりな設備を必要とし、高額である。これに対して、
非接触型高周波プローブをスペクトラムアナライザに接
続し、簡易的に測定する方法が一般的に行なわれてい
る。しかし、この方法では、非接触型高周波プローブと
被測定面間の距離を一定に保つことが難しく、測定ごと
にデータが異なるなど再現性に問題がある。
【0008】さらに、これら先行技術に共通する問題
は、放射ノイズの発生源が特定できたとしても、そこか
ら高周波電流の流れが推測できないことである。したが
って、ノイズ対策を行なうために、従来の測定システム
で得られた情報から原因を推定するには、技術者の固有
技術に負う面が大きいという問題がある。
【0009】また、量産では評価に時間がかかるため、
抜き取り検査が行なわれているが、バラツキの大きな製
品では抜き取り外の製品が規格内にある保証はなく、全
検査が望まれている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、ノイズ検出手段を移動させ
ることなく、かつ、被測定面の形状にかかわらず安定し
た輻射ノイズの測定を行なうことができ、また、特定周
波数における高周波電流の流れる状況を容易に推測でき
る輻射ノイズ測定装置、輻射ノイズ測定方法、さらに、
輻射ノイズ表示方法および輻射ノイズ検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に記載の発明は、測定対象の装置から発生
する幅射ノイズを測定する輻射ノイズ測定装置におい
て、前記測定対象の装置に対して任意の複数の測定点に
それぞれ配置され幅射ノイズを検出する複数のノイズ検
出手段と、該検出手段からの検出出力を切り換える選択
手段と、該選択手段が選択した検出出力から周波数成分
ごとのノイズ量を分析する分析手段とを有することを特
徴とするものであり、選択手段により、任意の複数点に
配置した検出手段からの出力を高速で切り換えることに
よって、輻射ノイズの瞬時的な現象を測定することがで
きるとともに、従来の測定装置のように、ノイズ検出手
段を移動させなくても測定が可能である。また、各検出
手段から分析手段を介して各測定点の周波数特性の測定
が容易かつ迅速にできるとともに、所望の周波数成分の
ノイズ量の差から、ノイズ源の位置や高周波電流の大き
さ方向等を特定することが可能となる。
【0012】請求項6に記載の発明は、請求項3または
4に記載の輻射ノイズ測定装置を用いて、所望の周波数
成分のノイズ量の差から、該所望の周波数成分における
高周波電流のルートを求めることを特徴とするものであ
り、所望の周波数成分のノイズ量の差の方向から、所望
の周波数成分における高周波電流の流れる方向を知るこ
とができ、所望の周波数成分のノイズ量の差の大きさか
ら、所望の周波数成分における高周波電流の流れる量を
知ることができる。
【0013】請求項7に記載の発明は、測定対象の装置
に対する2つの測定点における周波数成分ごとのノイズ
量の差を棒グラフで表示することを特徴とするものであ
り、各測定点におけるノイズ量の大小の識別が容易で、
ノイズ発生源の位置の推定が容易となる。
【0014】請求項8に記載の発明は、測定対象の装置
に対する複数の測定点における所望の周波数成分のノイ
ズ量をレーダーチャートで表示することを特徴とするも
のであり、レーダーチャートの面積、形状から、各測定
点におけるノイズ発生状況の比較が容易となる。
【0015】請求項9に記載の発明は、測定対象の装置
に対する複数の測定点を分散した位置に表示し、測定点
間を結ぶ線上に、当該測定点における所望の周波数成分
のノイズ量の差をベクトルで表示することを特徴とする
ものであり、ベクトルの向きと反対の方向がノイズ量の
大きい方向であり、ノイズ発生源の位置の特定が容易と
なる。
【0016】請求項10に記載の発明は、輻射ノイズ検
出装置において、微小アンテナを内蔵し、測定対象の装
置に対する測定位置への取付手段を有することを特徴と
するものであり、輻射ノイズ検出装置が取付手段を有す
ることにより、適宜の測定位置に測定装置を取り付ける
ことができ、測定対象の装置の形状の如何にかかわら
ず、輻射ノイズの測定が可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の輻射ノイズ測定
装置の実施の形態の一例の概略構成図である。図中、1
a,1b,1cはノイズ検出手段、2は選択手段、3は
分析手段、4は比較手段、5は表示手段である。ノイズ
検出手段1a,1b,1cは、それぞれ、任意の測定点
に配置される。選択手段2は、複数の検出手段のうちか
ら切り換えて検出出力の1つを選択する。高速で切り換
えることによって、輻射ノイズの瞬時的な現象を測定す
ることができるとともに、ノイズ検出手段を移動させな
くても測定が可能である。分析手段3は、輻射ノイズの
周波数帯域ごとの周波数成分のノイズ量を分析するもの
であり、スペクトラムアナライザを用いてもよい。比較
手段4は、複数の検出手段から得た測定データを蓄積す
る記憶部と比較器で構成され、分析手段3で分析したノ
イズ量に対して、全帯域または特定周波数における所定
値との差と大小関係、あるいは、2点間のノイズ量の差
と大小関係を求めるものであり、比較手段4の出力は、
表示手段5で表示される。
【0018】比較手段4は、複数の検出手段から得た測
定データ同士を比較するものに限られない。あらかじめ
設定された基準量と複数の検出手段から得たそれぞれの
測定データとを比較してもよい。基準量の設定は、周波
数成分に関係のない一定の値としてもよく、あるいは、
周波数成分に応じて所望の値を設定してもよい。
【0019】表示手段5としては、液晶やCRTを用い
たディスプレイ、印字装置など、視覚的に表示できる適
宜の手段を用いることができ、最もノイズ量が高い測定
点またはその付近にノイズ発生源があると表示信号を発
生するようにできる。また、複数の測定点のノイズ量の
差から高周波電流のルートを求めることができる表示を
行なうこともできる。
【0020】ノイズ検出手段の一例を図2に示す。図
中、6はコイル、7はケース、8は吸着部である。コイ
ル6は、輻射ノイズ源に向けるとコイルを貫く磁束の変
化により誘導電流を発生させる。ケース7は、軟質ゴム
またはプラスチック等の弾性体で作製され、コイルの保
護および測定点における安定接触を図るもので、先端部
に吸着部8が形成されている。大きさは、適宜でよい
が、後述するように、家電機器のケース等に用いるもの
においては、直径が数mm〜数十mm程度の大型のコイ
ルに構成できる。また、小型のプリント回路板など、小
型のものに適用する場合には、直径が数mm以下の微小
なコイルを用いて構成する。吸着部8は、測定位置に押
圧して、内部空間を負圧にして、取り付けるもので、吸
着手段を取付手段としたものである。測定位置の取付面
の凹凸が激しい場合には、感圧接着剤などの、接着手段
を取付手段として用い、あるいは、吸着手段と併用して
もよい。このようなノイズ検出手段を複数用いて、これ
を任意の測定点に配置することにより、測定対象の形状
の如何にかかわらず、ノイズを検出することができる。
【0021】図3は、本発明の輻射ノイズ測定装置を用
いたノイズの測定原理の説明図である。図中、11,1
2は金属板、A,B,Cは測定点、R1,R2,R3は
測定点間の表面抵抗を等価的にみた抵抗である。測定点
A,B,Cは、ノイズ検出手段を配置した位置である。
金属板11,12の裏面側に回路が配置されているとす
る。もちろん、表面側、あるいは、両面側に回路が配さ
れていてもよい。また、金属板11,12は、一様な金
属板である必要はなく、プリント回路板のように絶縁物
に回路が配置されたものでもよい。また、平面状である
必要はなく、立体状であってもよい。しかし、この例で
は、説明を分かりやすくするために、金属板とした。ま
た、等価的に測定点間に金属板があるとみることもでき
る。表面抵抗R1〜R3は、実際には、インダクタン
ス,容量が存在するから、純抵抗ではなく、インピーダ
ンスとしてみるのがよい。
【0022】図3(A)において、ノイズ源が測定点A
に最も近い部位にあり、測定点B,Cまでの距離が一
定、A−B間、A−C間のR1,R3が一定であると仮
定すれば、測定点Bの電位は、測定点Aよりi×R1だ
け低く、測定点Cの電位は、測定点Aよりi×R3だけ
低くなる。ここで、iは測定点Aから一様に金属パネル
11の表面を流れる高周波電流である。実際には、測定
点Aの脇に金属端があるので反射電流も考慮しなければ
ならないが、説明を簡略化するため、反射電流は考えな
いこととした。したがって、測定点B,Cで観測される
ノイズは、測定点Aより低い。したがって、測定点A,
B,Cを相互に比較することにより、高周波電流が、測
定点AからBへ、また、測定点AからCへ流れているこ
とが分かる。
【0023】次に、図3(B)のように測定点A,B間
にスリットが入った金属板12を考える。スリットの影
響により測定点A,B間のインピーダンスは高くなり、
直流〜低周波数域は、R3,R2に迂回して流れる。周
波数が高くなるに従って、最短距離を流れようとするた
め、図に示す容量によって、一部は測定点Bに到達す
る。測定点Bのノイズは容量によって、測定点Aに比べ
て高周波域が落ち込んだ特性となる。測定点Cは、図3
(A)と同様に、R3の影響しかないため、周波数特性
は図3(A)の場合と同じとなる。よって、測定点A,
B,Cの3点を観察することにより、どの方向にどの帯
域のノイズ電流が流れるかが分かる。
【0024】図4は、ノイズ発生源近傍の金属板13
が、接地の有無によってどのようにノイズ電流が流れる
かを説明する測定原理の説明図である。図4(A)は、
金属板13がグランドに接地されない場合で、U,V,
Wはノイズ発生源である。金属板の表面の部分部分は、
最も近いノイズ発生源の影響を受け、ノイズ発生源U付
近には周波数uおよびその高調波成分が、ノイズ発生源
V付近には周波数vおよびその高調波成分が、ノイズ発
生源W付近には周波数wおよびその高調波成分が強く輻
射される。金属板は単極性帯電なので表裏とも同電位と
なり、金属板13がグランドに接地されていなければ、
ノイズはそのまま金属板13を通過して放射される。な
お、金属板の大きさにより、定在波が発生することがあ
り、その共振により、実際にはある特定の周波数のレベ
ルが上がることもある。製品内にグランドに接地しない
金属(単独で設置されている場合)がある場合に、金属
板がノイズの放射源になる理由がこれである。
【0025】図4(A)の例では、u,v,wに対応す
る場所にノイズ検出手段を配置すれば、各々のノイズ発
生源の基本周波数およびその高調波成分が強く観察さ
れ、他のノイズ発生源の影響は少ない。
【0026】図4(B)は、金属板13の一方をグラン
ドに接続した場合である。ノイズ発生源U,V,Wから
金属板13まで放射される様子はグランドがない場合と
同様であるが、金属板13の表面に達すると、高周波電
流はインピーダンスが低いグランドに向かって流れるこ
とが異なる。この場合、ノイズ検出手段をu,v,wに
対応する場所に配置すると、例えばuの周波数成分は、
v,wに対応する場所でも検出されることとなる。uの
周波数に着目して電流がどのように流れるかは、ノイズ
量の差(u−v,u−w)により簡単に求めることが出
来る。差が少なければ少ないほど大きな高周波電流が流
れていることになる。ちなみに、図4(A)の例では、
vに対応する位置では殆どuの周波数成分が検出できな
いので、ノイズ量の差(u−v,u−w)が大きく、ノ
イズが逃げるルートがないと判断できる。図4(B)で
は、ノイズ量の差(u−v,u−w)が小さく、大きな
電流が流れていると判断できる。また、その差の方向、
すなわち、u−v>0,u−w>0であることから、u
からv、uからwへ向けて電流が流れていることが分か
る。
【0027】この原理を活用した本発明の実施例を図5
に示す。図中、21は筺体、22は蓋、23,24,2
5は取付部、A,B,Cは測定点である。この実施例
は、筐体21に蓋22をする例で、ノイズ発生源となる
プリント回路板や配線、電源等は筐体21の内部に設置
されている。蓋22の取付部23,24,25の取り付
けが充分でないと、筐体21と蓋22の隙間からノイズ
が漏れるという問題が発生する。測定点Aを筺体21の
上面とし、測定点Bを蓋22の上側部、測定点Cを蓋2
2の左側部とした。この例では、筐体21の方が接地電
位が低いので、測定点Aを基準とし、測定点Aに配置し
たノイズ検出手段の検出出力と、測定点B,Cに配置し
たノイズ検出手段の検出出力の各周波数成分のノイズ量
の差を求めることとなる。測定点A,B,Cに配置した
ノイズ検出手段の検出出力が全周波数帯域で同電位であ
ることが望ましいが、部品のレイアウト、接触抵抗など
により難しいのが実態である。
【0028】まず、筐体21と蓋22の位置を合わせ、
ネジで固定した後、測定点A,B,Cに検出手段を設置
する。製品を動作状態にすると、蓋22の周辺に位置す
るプリント回路板などからノイズが発生し、蓋22の表
面から筐体21の接合部(ネジ止め部を含む)を経て筐
体21に流れる。しかし、前に述べたように、周波数が
高くなる(高調波成分の次数が大きくなる)に従って、
接合部位の容量や金属表面の抵抗値等が影響し、電流の
流れが悪くなる場合があり、その部位からノイズが放射
されることになる。ここでは測定点Aに配置したノイズ
検出手段からの出力と測定点B,Cに配置したノイズ検
出手段からの出力を比較することにより、接合面(また
は取付部)の施工状態が把握できる。取付部の数を多く
して、ネジ止め数を増やせば接触抵抗が減少するため、
ノイズ対策の観点では理想的であるが、その分、組立や
メンテナンスの際の蓋の取り外し、取り着けの作業性が
悪くなる。この評価法によれば、ネジ止めの最適化につ
いても容易に判断できる。
【0029】図6は、他の実施例の説明図である。図
中、31は電源、32はグランド、33,34は集積回
路、35,36はバイパスコンデンサ、37,38はノ
イズ検出手段である。プリント回路板には、多数の集積
回路が搭載されているが、高速化に伴い、電源31から
グランド32に流れる貫通電流が増加し、放射ノイズを
発生させていることが知られている。バイパスコンデン
サ35,36は、貫通電流発生時の電圧低下を防止する
ために設けられたものであるが、集積回路33,34の
消費電力によっては、バイパスコンデンサ35,36だ
けではカバーしきれず、放射ノイズとして外に出ること
がある。この実施例では、集積回路33,34の周辺の
電源、グランドに含まれるノイズの周波数成分に着目し
た。ノイズ検出手段37,38としては、図2で説明し
たような、微小コイルを用いたものでもよいが、さら
に、精度が必要な場合には、接地と測定点に接触させる
プローブを用いることができる。プローブには、クリッ
プ機構などによる取付手段を設ける。プローブを用いた
場合、グランドを取る位置によってノイズ成分が異なる
ため、図のように共通のポイント(電源入力部などイン
ピーダンスが最も低い部分)で取るのがよい。プローブ
のグランドが長くなるため、線材のインピーダンスを低
くするよう、材質、形状に関して考慮しなければならな
い。複数のプローブで得たノイズ量により、バイパスコ
ンデンサの値が最適か、電源またはグランドパターンの
インピーダンスが高くないかなどの判断基準を数値デー
タとして得ることができる。
【0030】信号処理と表示方法について説明する。図
7は、測定点A,B,Cにおける放射ノイズをスペクト
ラムアナライザで分析した周波数成分ごとのノイズレベ
ルの一例である。入力が矩形波の場合、急峻な立ち上が
りに含まれる高調波成分はフーリエ展開により求めるこ
とができる。この例では、デューティ(duty)が5
0%で、基本周波数をf0とし、その3次高調波をf
1、5次高調波をf2、7次高調波をf3、9次高調波
をf4で示している。横軸の周波数に対して、縦軸方向
にノイズレベルをdB換算して図示した。矩形波のデュ
ーティ(duty)が50%でない場合(実際のプリン
ト回路板では、50%にならないことが多い。)は、2
次高調波、4次高調波などの偶数次の高調波も発生す
る。測定点Bのノイズの周波数成分には「’」を、測定
点Cのノイズの周波数成分には「”」を付して、図7
(B),(C)に図示した。
【0031】2つの測定点で検出したノイズの周波数成
分ごとのノイズ量を比較して差をとる。f0−f0’,
f1−f1’,・・・を比較手段で検出する。なお、こ
の比較は、f0’−f0,f1’−f1,・・・のよう
に逆にしてもよい。
【0032】図8(A)は、図7(A),(B)に示し
た測定点A,Bの周波数成分ごとのノイズ量を並べて図
示した。両者は同じ周波数成分であるから、横軸上では
同じ位置にある。しかし、図を見易いようにするため
に、ずらせて図示した。図8(B)は、周波数成分ごと
のノイズ量の差に一定値v0(基準点)を加えたもので
あり、これを表示手段で表示する。例えば、f1は、表
示が基準より上方に伸びているので測定点Aのレベルが
測定点Bのレベルより高いことが直感的に分かる。測定
点A,B間のf1の周波数における電位差が大きく、こ
の周波数成分の高周波電流は、測定点A,B間に流れる
量は少ないことを示している。f0,f4は測定点A,
B点とも同レベルである。したがって、本来は表示する
ことはないが、この例のように、小さいドット状に表示
してもよい。
【0033】図8(B)の表示は、一定値v0のレベル
から差の正負を上下の方向に分けて表示したが、差の絶
対値を表示するようにしてもよい。図8(C)は、差の
絶対角大きさを表示した一例であり、一定値v0の上下
に同じ大きさに伸ばした棒グラフ状の表示である。
【0034】なお、図8では、2つの測定点間の比較結
果を表示したが、3つ以上の測定点間を相互に比較して
同様の表示を行なうこともできる。
【0035】図9は、図8(B)の表示を行なうフロー
チャートの一例である。図1で説明した輻射ノイズ測定
装置において、図示しない操作パネルから、事前設定を
行なう。測定点の数を入力し(S40)で、計算順序の
設定を行なう(S41)。表示方法の選択(S42)と
基準レベルの設定を行なう(S43)。表示方法は図8
(B)の棒グラフ状の表示方法が選択されたとする。ま
た、設定した基準レベルをaとする。測定順序に従っ
て、測定点Aを選択してノイズ検出手段の検出出力をデ
ジタル量に変換して取り込み(S44)、メモリ1に格
納する(S45)。格納したデータをbとする。次に、
測定点Bを選択してノイズ検出手段の検出出力をデジタ
ル量に変換して取り込み(S46)、メモリ2に格納す
る(S47)。格納したデータをcとする。以下、他の
測定点についても、同様に取り込んでメモリの所定のア
ドレスに格納する。計算および表示を行なうには、ま
ず、メモリ1の格納したデータbが読み出され、分析手
段で周波数成分ごとのノイズ量が演算され、メモリに格
納される。メモリ2に格納したデータcについても、同
様に周波数成分ごとのデータが演算され、メモリに格納
される(S48)。ついで、比較手段によって、周波数
成分ごとのノイズ量の差が演算され(S49)、基準レ
ベルを加えて(S50)、計算結果d(S51)が表示
手段で表示される(S52)。
【0036】上述した表示は、棒グラフ状の表示である
が、これに限られるものではなく、他の表示形式を採用
してもよい。また、周波数成分ごとのノイズ量を複数の
周波数成分について表示するようにしたが、特定の周波
数成分についての表示を行なうようにしてもよい。複数
の周波数成分について、複数の測定点の2つずつを組み
合わせた比較結果を1つのグラフやチャートに表示する
ことは、平面表示では困難である。
【0037】そこで、特定の周波数成分を選択して、そ
の周波数成分における複数の測定点の比較結果を表示す
ることができる。事前設定、測定、計算方法は、図9の
フローチャートを用いることができる。
【0038】図10(A)は、特定の周波数成分におけ
る複数の測定点、例えば、測定点A〜Eの5点について
した表示方法である。この表示方法は、横軸に測定点を
とり、縦軸にノイズレベルをとって表示したものであ
る。点状に表示したが、棒グラフ状でもよい。なお、測
定点の配列順序は適当でよく、ノイズ検出手段が実際に
配置されているパターンとは関係はない。図10(B)
に示すように、ノイズレベルの大きい順または小さい順
に並べ替えて表示してもよい。
【0039】図11は、レーダーチャートの表示方法で
ある。図11(A)では、測定点A〜Eの特定の周波数
成分のノイズレベルを放射状に伸ばした線上に位置させ
て線で結んだものである。ノイズレベルの大小関係と偏
りの様子が理解しやすい。図11(B)では、測定点A
を基準点として、測定点B〜Eとの差の絶対値をレーダ
ーチャートに表示したものである。図11(C)に示す
ように、0レベルを示す円rを表示し、その内外を正負
を対応させて、特定の周波数成分の測定点Aに対する測
定点B〜Eのノイズレベル差を表示してもよい。
【0040】図12は、測定点A〜Eの相互の特定の周
波数成分におけるノイズレベルの差をベクトル長で表わ
した表示方法である。2点間のうちレベルの高い方から
低い方にベクトルの向きを定める。各測定点から出る方
向のベクトルについては、その測定点に固有の着色をし
てもよい。図12では、測定点Aからは、すべて矢印が
出る方向であるから、他の測定点より測定点Aのレベル
が高いことが分かる。同様に測定点Eは、全ての矢印が
入る方向であるから、5つの測定点中、最もレベルが低
いことになる。レベル差が大きいほど、その2点間の指
定周波数でのインピーダンスが高く、流れる電流が少な
いと判断できる。
【0041】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、本発明によれば、ノイズ検出
手段を移動させなくても測定が可能であり、輻射ノイズ
の瞬時的な現象を測定することができる。また、複数の
ノイズ検出手段により各部の周波数特性が容易に測定で
き、また、それらの差からノイズ源の位置や高周波電流
の大きさ、方向の特定が可能となる。
【0042】請求項6に記載の発明によれば、所望の周
波数成分のノイズ量の差の方向から、所望の周波数成分
における高周波電流の流れる方向を知ることができ、所
望の周波数成分のノイズ量の差の大きさから、所望の周
波数成分における高周波電流の流れる量を知ることがで
きるから、ノイズ発生源の推定が容易である。
【0043】請求項7に記載の発明によれば、表示され
た棒グラフから各測定点におけるノイズ量の大小の識別
が容易で、ノイズ発生源の位置の推定が容易である。
【0044】請求項8に記載の発明によれば、表示され
たレーダーチャートの面積、形状から、各測定点におけ
るノイズ発生状況の比較が容易となる。
【0045】請求項9に記載の発明によれば、表示され
たベクトルの向きと大きさから、ノイズ発生源の位置の
特定が容易となる。
【0046】請求項10に記載の発明によれば、輻射ノ
イズ検出装置を測定対象の装置の適宜の位置に取り付け
ることができ、測定対象の装置の形状等の影響を受ける
ことなく、輻射ノイズを検出することができる。
【0047】このように、本発明によれば、大がかりな
設備を必要とせず輻射ノイズの発生状況を評価できるこ
ととなる。また、構成が簡単でオンライン化も容易なた
め、全数検査にも適用できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の輻射ノイズ測定装置の実施の形態の
一例の概略構成図である。
【図2】 ノイズ検出手段の一例の構成図である。
【図3】 本発明の輻射ノイズ測定装置を用いたノイズ
の測定原理の説明図である。
【図4】 金属板の接地の有無とノイズ電流の流れ方を
説明する測定原理の説明図である。
【図5】 本発明の実施例の説明図である。
【図6】 本発明の他の実施例の説明図である。
【図7】 周波数成分ごとのノイズレベルの一例の説明
図である。
【図8】 本発明におけるノイズレベルの表示方法の一
例の説明図である。
【図9】 図8(B)の表示を行なう動作を説明するた
めのフローチャートの一例である
【図10】 特定の周波数成分における複数の測定点の
ノイズ量の表示方法の一例の説明図である。
【図11】 レーダーチャートの表示方法の説明図であ
る。
【図12】 複数の測定点の相互の特定の周波数成分に
おけるノイズレベルの差の表示方法の一例の説明図であ
る。
【図13】 固定アンテナを用いた従来の測定法の説明
図である。
【符号の説明】
1a,1b,1c…ノイズ検出手段、2…選択手段、3
…分析手段、4…比較手段、5…表示手段、6…コイ
ル、7…ケース、8…吸着部。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象の装置から発生する幅射ノイズ
    を測定する輻射ノイズ測定装置において、前記測定対象
    の装置に対して任意の複数の測定点にそれぞれ配置され
    幅射ノイズを検出する複数のノイズ検出手段と、該検出
    手段からの検出出力を切り換える選択手段と、該選択手
    段が選択した検出出力から周波数成分ごとのノイズ量を
    分析する分析手段とを有することを特徴とする輻射ノイ
    ズ測定装置。
  2. 【請求項2】 1つの測定点における周波数成分ごとの
    ノイズ量と、周波数成分ごとの所望の基準量との差を検
    出する比較手段を有することを特徴とする請求項1に記
    載の輻射ノイズ測定装置。
  3. 【請求項3】 2つの測定点における周波数成分ごとの
    ノイズ量の差を検出する比較手段を有することを特徴と
    する請求項1に記載の輻射ノイズ測定装置。
  4. 【請求項4】 2つの測定点における所望の周波数成分
    のノイズ量の差を検出する比較手段を有することを特徴
    とする請求項1に記載の輻射ノイズ測定装置。
  5. 【請求項5】 前記比較手段の出力を表示する表示手段
    を有することを特徴とする請求項2ないし4のいずれか
    1項に記載の輻射ノイズ測定装置。
  6. 【請求項6】 請求項3または4に記載の輻射ノイズ測
    定装置を用いて、所望の周波数成分のノイズ量の差か
    ら、該所望の周波数成分における高周波電流のルートを
    求めることを特徴とする輻射ノイズ測定方法。
  7. 【請求項7】 測定対象の装置に対する2つの測定点に
    おける周波数成分ごとのノイズ量の差を棒グラフで表示
    することを特徴とする輻射ノイズ表示方法。
  8. 【請求項8】 測定対象の装置に対する複数の測定点に
    おける所望の周波数成分のノイズ量をレーダーチャート
    で表示することを特徴とする輻射ノイズ表示方法。
  9. 【請求項9】 測定対象の装置に対する複数の測定点を
    分散した位置に表示し、測定点間を結ぶ線上に、当該測
    定点における所望の周波数成分のノイズ量の差をベクト
    ルで表示することを特徴とする輻射ノイズ表示方法。
  10. 【請求項10】 微小アンテナを内蔵し、測定対象の装
    置に対する測定位置への取付手段を有することを特徴と
    する輻射ノイズ検出装置。
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