JP3316821B2 - 二次元電磁波放射強度測定装置 - Google Patents
二次元電磁波放射強度測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば各種電子機器
等より放射される不要電磁波を測定するのに用いられる
二次元電磁波放射強度測定装置に関する。
等より放射される不要電磁波を測定するのに用いられる
二次元電磁波放射強度測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来においては、図３に示すように、例
えば電子機器１１の上面に沿って電界強度計のサーチコ
イル１２を人手又は自動的に面状或いは線状に走査し、
その出力をスペクトラムアナライザ１３で解析して電子
機器１１のいずれの箇所から不要電波が放射しているか
の検出を行っていた。
えば電子機器１１の上面に沿って電界強度計のサーチコ
イル１２を人手又は自動的に面状或いは線状に走査し、
その出力をスペクトラムアナライザ１３で解析して電子
機器１１のいずれの箇所から不要電波が放射しているか
の検出を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定法式では、
その走査面上の各点において電波が受信されたか、その
強度がどの程度かの受信状態を記憶して、その記憶した
内容から不要電波の発生箇所を検出する必要があり、そ
の二次元処理が面倒であった。また電磁波源とアンテナ
１２との距離は測定値に大きく影響するが、このアンテ
ナの走査を常に同一状態で行うことは困難であり、デー
タの再現性が悪かった。さらにその電磁波の周波数が多
様である場合には評価周波数ごとに走査を繰り返す必要
があり時間がかかった。その電磁波の測定で得られた二
次元の位置と周波数と強度との関係を知ることが大変で
あった。
その走査面上の各点において電波が受信されたか、その
強度がどの程度かの受信状態を記憶して、その記憶した
内容から不要電波の発生箇所を検出する必要があり、そ
の二次元処理が面倒であった。また電磁波源とアンテナ
１２との距離は測定値に大きく影響するが、このアンテ
ナの走査を常に同一状態で行うことは困難であり、デー
タの再現性が悪かった。さらにその電磁波の周波数が多
様である場合には評価周波数ごとに走査を繰り返す必要
があり時間がかかった。その電磁波の測定で得られた二
次元の位置と周波数と強度との関係を知ることが大変で
あった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明によれば、複数
の測定表示素子がマトリックス上に配列され、その測定
表示素子は小さな面を通る電磁波を受信することが出来
るアンテナとその受信強度に応じて発光する発光素子と
の直列回路から構成され、これら測定表示素子が一つず
つ順次選択スイッチにより選択され、その選択された測
定表示素子に定電流源から電流が供給され、その選択さ
れた測定表示素子に誘起された電圧がスペクトラム選択
増幅器に共通に入力され、その増幅出力は検波回路で検
波され、その検波回路の出力に応じて選択された測定表
示素子の発光素子の明るさが制御される。
の測定表示素子がマトリックス上に配列され、その測定
表示素子は小さな面を通る電磁波を受信することが出来
るアンテナとその受信強度に応じて発光する発光素子と
の直列回路から構成され、これら測定表示素子が一つず
つ順次選択スイッチにより選択され、その選択された測
定表示素子に定電流源から電流が供給され、その選択さ
れた測定表示素子に誘起された電圧がスペクトラム選択
増幅器に共通に入力され、その増幅出力は検波回路で検
波され、その検波回路の出力に応じて選択された測定表
示素子の発光素子の明るさが制御される。
【０００５】
【実施例】図１Ａにこの発明の実施例を示す。複数の測
定表示素子２１が測定平面上にマトリックス状に配列さ
れている。測定表示素子２１は図１Ｂに示すように、こ
の測定平面における微小面積を通る電磁波を受信できる
アンテナ、例えばループアンテナ２２と発光素子２３と
より構成される。測定平面を通過する電磁波はその偏波
が不明であるから、ループアンテナ２２のループ面は測
定面に対して斜め、例えば４５°程度傾いていると良
い。この例では発光素子２３として発光ダイオード２３
が用いられ、この発光ダイオード２３に抵抗器２４が直
列に接続され、発光ダイオード２３及び抵抗器２４の直
列回路と並列にコンデンサ２５が接続され、この並列回
路と直列にループアンテナ２２とＰＩＮダイオード２６
とが接続されている。
定表示素子２１が測定平面上にマトリックス状に配列さ
れている。測定表示素子２１は図１Ｂに示すように、こ
の測定平面における微小面積を通る電磁波を受信できる
アンテナ、例えばループアンテナ２２と発光素子２３と
より構成される。測定平面を通過する電磁波はその偏波
が不明であるから、ループアンテナ２２のループ面は測
定面に対して斜め、例えば４５°程度傾いていると良
い。この例では発光素子２３として発光ダイオード２３
が用いられ、この発光ダイオード２３に抵抗器２４が直
列に接続され、発光ダイオード２３及び抵抗器２４の直
列回路と並列にコンデンサ２５が接続され、この並列回
路と直列にループアンテナ２２とＰＩＮダイオード２６
とが接続されている。
【０００６】このような測定表示素子２１を一つずつ順
次選択する選択手段が設けられる。即ち測定表示素子２
１の各列配列に沿ってそれぞれ列線２７1 乃至２７n が
設けられ、測定表示素子の各行配列にそれぞれ沿って行
線２８1 乃至２８n が設けられる。これら行線と列線の
各交点において、例えば各ループ側の一端が列線２７に
接続され、ピンダイオード側の他端が行線にそれぞれ接
続される。各列線２７ 1 乃至２７8 の一端はスイッチＳ
x1乃至Ｓxnを通じて接地され、各行線２８1 乃至２８n
はそれぞれスイッチＳY1乃至ＳYnを通じて共通に接続さ
れて、交流阻止コイル３０を通じて定電流源３１に接続
される。スイッチＳx1乃至Ｓxnの一つとスイッチＳY1乃
至ＳYnの一つとをオンにすると、そのオンになった二つ
のスイッチを通じて、又そのオンになった二つのスイッ
チにそれぞれ接続された列線と行線を通じ、その交差点
に接続された測定表示素子を通じて定電流源３１から電
流が流れ、この時通常の状態では発光素子２３が発光し
ない程度の電流が流れるようにその電流値が設定されて
いる。その他の測定表示素子２１には電流は流れない。
このようにしてスイッチＳx1乃至Ｓxnの一つとスイッチ
ＳY1乃至ＳYnの一つを選択することによって、測定発光
素子２１の一つを選択することが出来る。
次選択する選択手段が設けられる。即ち測定表示素子２
１の各列配列に沿ってそれぞれ列線２７1 乃至２７n が
設けられ、測定表示素子の各行配列にそれぞれ沿って行
線２８1 乃至２８n が設けられる。これら行線と列線の
各交点において、例えば各ループ側の一端が列線２７に
接続され、ピンダイオード側の他端が行線にそれぞれ接
続される。各列線２７ 1 乃至２７8 の一端はスイッチＳ
x1乃至Ｓxnを通じて接地され、各行線２８1 乃至２８n
はそれぞれスイッチＳY1乃至ＳYnを通じて共通に接続さ
れて、交流阻止コイル３０を通じて定電流源３１に接続
される。スイッチＳx1乃至Ｓxnの一つとスイッチＳY1乃
至ＳYnの一つとをオンにすると、そのオンになった二つ
のスイッチを通じて、又そのオンになった二つのスイッ
チにそれぞれ接続された列線と行線を通じ、その交差点
に接続された測定表示素子を通じて定電流源３１から電
流が流れ、この時通常の状態では発光素子２３が発光し
ない程度の電流が流れるようにその電流値が設定されて
いる。その他の測定表示素子２１には電流は流れない。
このようにしてスイッチＳx1乃至Ｓxnの一つとスイッチ
ＳY1乃至ＳYnの一つを選択することによって、測定発光
素子２１の一つを選択することが出来る。
【０００７】このようにして選択された測定表示素子２
１のアンテナに誘起された電圧がスペクトラム選択増幅
器３３に共通に入力される。つまりスイッチＳY1乃至Ｓ
Ynの共通の接続側と交流阻止コイル３０との接続点が直
流阻止コンデンサ３２を通じてスペクトラム選択増幅器
３３の入力側に接続される。スペクトラム選択増幅器３
３はその初段に測定したい周波数のすべての成分を、通
過させる広帯域の帯域通過フィルタ３４が設けられ、そ
の出力は増幅器３５で増幅されて周波数変換器３６へ供
給される。周波数変換器３６により中間周波信号に変換
された信号は、中間周波フィルタ３７を通じ、更に増幅
器３８で増幅されてスペクトラム選択増幅器３３の出力
となる。
１のアンテナに誘起された電圧がスペクトラム選択増幅
器３３に共通に入力される。つまりスイッチＳY1乃至Ｓ
Ynの共通の接続側と交流阻止コイル３０との接続点が直
流阻止コンデンサ３２を通じてスペクトラム選択増幅器
３３の入力側に接続される。スペクトラム選択増幅器３
３はその初段に測定したい周波数のすべての成分を、通
過させる広帯域の帯域通過フィルタ３４が設けられ、そ
の出力は増幅器３５で増幅されて周波数変換器３６へ供
給される。周波数変換器３６により中間周波信号に変換
された信号は、中間周波フィルタ３７を通じ、更に増幅
器３８で増幅されてスペクトラム選択増幅器３３の出力
となる。
【０００８】このスペクトラム選択増幅器３３の出力は
ＡＧＣ増幅器３９で増幅され、その増幅出力は検波回路
４１で検波され、その検波出力はピークホールド回路４
２へ供給される。又、検波回路４１の出力は低域通過ろ
波器４３で積分され、その出力はサンプルホールド回路
４４でサンプルホールドされ、そのサンプルホールド値
がＡＧＣ制御信号として増幅器３９に供給される。
ＡＧＣ増幅器３９で増幅され、その増幅出力は検波回路
４１で検波され、その検波出力はピークホールド回路４
２へ供給される。又、検波回路４１の出力は低域通過ろ
波器４３で積分され、その出力はサンプルホールド回路
４４でサンプルホールドされ、そのサンプルホールド値
がＡＧＣ制御信号として増幅器３９に供給される。
【０００９】測定表示素子２１の順次選択を自動的に行
うためクロック発生器４５が設けられ、このクロック発
生器４５よりのクロックがカウンタ４６で計数され、カ
ウンタ４６の計数値がデコーダ４７でデコードされ、そ
のデコーダ４７の出力はクロックが１個計数されるとス
イッチＳX1がオンとし、次にクロックが計数されるとス
イッチＳX2をオンとし、つまりｎ個クロックを計数する
とスイッチＳX1乃至Ｓ Xnが１回ずつ全てオンとなる。こ
のｎ個のクロックを計数するごとに、スイッチＳX1乃至
ＳXnが１回ずつオンとなることが繰り返されるようにデ
コーダ４７の出力でスイッチＳx1乃至Ｓxnが制御され
る。一方スイッチＳY1乃至ＳYnはクロックをｎ個計数す
る間、一つのスイッチだけがオンとなっており、ｎ個ク
ロックを計数する毎にオンとなるスイッチが順次移って
いくように、デコーダ４７の出力によって制御される。
ｎ×ｎのクロックを計数するとカウンタ４６からの桁上
がりが生じ、カウンタ４６がリセットされ、つまりカウ
ンタ４６はｎ×ｎ進カウンタとして構成されている。尚
デコーダ４７は指定アドレスをカウンタ４６の計数出力
の代わりに選択して出力させることが出来、つまり希望
する測定表示素子の一つを指定して選択させることが出
来る。このようにカウンタ４６でクロックを計数し、そ
の計数出力をデコードしてスイッチＳx1乃至Ｓxn、ＳY1
乃至ＳYnを制御することによって、測定表示素子２１を
順次一つずつ選択することが行われる。
うためクロック発生器４５が設けられ、このクロック発
生器４５よりのクロックがカウンタ４６で計数され、カ
ウンタ４６の計数値がデコーダ４７でデコードされ、そ
のデコーダ４７の出力はクロックが１個計数されるとス
イッチＳX1がオンとし、次にクロックが計数されるとス
イッチＳX2をオンとし、つまりｎ個クロックを計数する
とスイッチＳX1乃至Ｓ Xnが１回ずつ全てオンとなる。こ
のｎ個のクロックを計数するごとに、スイッチＳX1乃至
ＳXnが１回ずつオンとなることが繰り返されるようにデ
コーダ４７の出力でスイッチＳx1乃至Ｓxnが制御され
る。一方スイッチＳY1乃至ＳYnはクロックをｎ個計数す
る間、一つのスイッチだけがオンとなっており、ｎ個ク
ロックを計数する毎にオンとなるスイッチが順次移って
いくように、デコーダ４７の出力によって制御される。
ｎ×ｎのクロックを計数するとカウンタ４６からの桁上
がりが生じ、カウンタ４６がリセットされ、つまりカウ
ンタ４６はｎ×ｎ進カウンタとして構成されている。尚
デコーダ４７は指定アドレスをカウンタ４６の計数出力
の代わりに選択して出力させることが出来、つまり希望
する測定表示素子の一つを指定して選択させることが出
来る。このようにカウンタ４６でクロックを計数し、そ
の計数出力をデコードしてスイッチＳx1乃至Ｓxn、ＳY1
乃至ＳYnを制御することによって、測定表示素子２１を
順次一つずつ選択することが行われる。
【００１０】この一つの測定表示素子２１が選択されて
いる間に於いて、測定周波数を変更するようにする場合
はクロック発生器４５からのクロックが掃引スイッチ４
８を通じてランプ波発生回路４９に供給され、ランプ波
発生回路４９はクロックが与えられるごとに一つの三角
波信号、いわゆるランプ波信号を発生し、このランプ波
信号が可変周波数発振器５１に与えられて、その発振周
波数が掃引される。この可変周波数発振器５１の出力
が、局部発振器信号として周波数変換器３６に供給され
る。従って一つの測定表示素子２１を選択している間、
その受信される信号周波数が、例えばｆ1 からｆまで掃
引される。
いる間に於いて、測定周波数を変更するようにする場合
はクロック発生器４５からのクロックが掃引スイッチ４
８を通じてランプ波発生回路４９に供給され、ランプ波
発生回路４９はクロックが与えられるごとに一つの三角
波信号、いわゆるランプ波信号を発生し、このランプ波
信号が可変周波数発振器５１に与えられて、その発振周
波数が掃引される。この可変周波数発振器５１の出力
が、局部発振器信号として周波数変換器３６に供給され
る。従って一つの測定表示素子２１を選択している間、
その受信される信号周波数が、例えばｆ1 からｆまで掃
引される。
【００１１】一つの測定表示素子２１が選択されている
状態において、そのアンテナに電磁波が受信されると、
その受信された出力はスペクトラム選択増幅器３３に供
給され、その増幅出力が検波回路４１で検波され、よっ
て検波回路４１に出力が生じる。低域通過ろ波器４３の
時定数は測定平面を１回走査する時間とほぼ等しくさ
れ、従って測定平面の全体を１回走査した出力の平均に
応じて増幅器３９の利得が制御され、つまり測定平面を
１回測定走査している間は増幅器３９の利得はほぼ一定
とされている。この一つの測定表示素子のアンテナ出力
に応じて、その発光素子の明るさが制御される。つまり
ピークホールド回路４２にはクロック発生器４５からの
クロックごとにピークホールド回路４２がリセットさ
れ、従って一つの測定表示素子２１を選択している間に
おける検波回路４７の出力のピーク値がピークホールド
回路４２より得られ、この出力により定電流源３１の定
電流値が制御され、例えばピークホールド回路４２の出
力Ｖが大きくなる程定電流源３１の定電流ｉ（Ｖ）が大
きくなるように、図２Ａに示すように制御される。
状態において、そのアンテナに電磁波が受信されると、
その受信された出力はスペクトラム選択増幅器３３に供
給され、その増幅出力が検波回路４１で検波され、よっ
て検波回路４１に出力が生じる。低域通過ろ波器４３の
時定数は測定平面を１回走査する時間とほぼ等しくさ
れ、従って測定平面の全体を１回走査した出力の平均に
応じて増幅器３９の利得が制御され、つまり測定平面を
１回測定走査している間は増幅器３９の利得はほぼ一定
とされている。この一つの測定表示素子のアンテナ出力
に応じて、その発光素子の明るさが制御される。つまり
ピークホールド回路４２にはクロック発生器４５からの
クロックごとにピークホールド回路４２がリセットさ
れ、従って一つの測定表示素子２１を選択している間に
おける検波回路４７の出力のピーク値がピークホールド
回路４２より得られ、この出力により定電流源３１の定
電流値が制御され、例えばピークホールド回路４２の出
力Ｖが大きくなる程定電流源３１の定電流ｉ（Ｖ）が大
きくなるように、図２Ａに示すように制御される。
【００１２】またこの例においてはピークホールド回路
４２の出力Ｖによりクロック発生器４５のクロックパル
スの幅が制御され、例えば図２Ｂに示すようにピークホ
ールド回路４２の出力Ｖが大きくなるに従って、パルス
幅ＰＷが大きくなる。但しそのクロック発生器のクロッ
ク周期は一定に保持しておく。従って選択された測定表
示素子２１のアンテナ２２に電磁波が受信されると、そ
の受信レベルが大きい程その選択された測定表示素子の
発光ダイオード２３の明るさが明るくなり、受信電磁波
の強度が小さい場合は発光ダイオード２３の光量が少な
く暗く見え、受信電磁波の強度が大きい場合は発光ダイ
オード２３の発光光量が多くなる。尚選択されている
間、その測定表示素子２１のコンデンサ２５が充電さ
れ、この充電された電荷が発光ダイオード２３、抵抗器
２４を通じて放電されて発光するため、測定表示素子を
走査する速度が速く、つまり測定表示素子の選択切り替
え速度が速くても、発光ダイオード２３が発光した場
合、ある程度長く発光して、その発光に気が付かないよ
うなおそれはない。
４２の出力Ｖによりクロック発生器４５のクロックパル
スの幅が制御され、例えば図２Ｂに示すようにピークホ
ールド回路４２の出力Ｖが大きくなるに従って、パルス
幅ＰＷが大きくなる。但しそのクロック発生器のクロッ
ク周期は一定に保持しておく。従って選択された測定表
示素子２１のアンテナ２２に電磁波が受信されると、そ
の受信レベルが大きい程その選択された測定表示素子の
発光ダイオード２３の明るさが明るくなり、受信電磁波
の強度が小さい場合は発光ダイオード２３の光量が少な
く暗く見え、受信電磁波の強度が大きい場合は発光ダイ
オード２３の発光光量が多くなる。尚選択されている
間、その測定表示素子２１のコンデンサ２５が充電さ
れ、この充電された電荷が発光ダイオード２３、抵抗器
２４を通じて放電されて発光するため、測定表示素子を
走査する速度が速く、つまり測定表示素子の選択切り替
え速度が速くても、発光ダイオード２３が発光した場
合、ある程度長く発光して、その発光に気が付かないよ
うなおそれはない。
【００１３】ある周波数についてのみその測定平面から
電磁波が得られるかを測定する場合は、掃引スイッチ４
８をオフとして周波数可変発振器５１に対する制御電圧
を、その測定したい周波数に対応して設定してやればよ
い。サンプルホールド回路４４に対するサンプル指令は
カウンタ４６の桁上げ出力によって行えばよい。ピーク
ホールド回路４２の出力による発光素子の発光量の制御
は、定電流源３１の電流値の制御とクロック発生器のク
ロックの幅の制御との一方のみでもよく、特に一方の場
合は定電流値の制御の方が好ましい。又この制御は図２
Ａに示したようにそのピークホールド回路の出力Ｖに対
してだんだん大きくなるような制御とする他に、スッテ
プ状制御、つまりオン、オフ的な制御でもよい。つまり
受信した電磁波の強度がある程度以上のときのみ発光素
子を発光させるようにしてもよい。
電磁波が得られるかを測定する場合は、掃引スイッチ４
８をオフとして周波数可変発振器５１に対する制御電圧
を、その測定したい周波数に対応して設定してやればよ
い。サンプルホールド回路４４に対するサンプル指令は
カウンタ４６の桁上げ出力によって行えばよい。ピーク
ホールド回路４２の出力による発光素子の発光量の制御
は、定電流源３１の電流値の制御とクロック発生器のク
ロックの幅の制御との一方のみでもよく、特に一方の場
合は定電流値の制御の方が好ましい。又この制御は図２
Ａに示したようにそのピークホールド回路の出力Ｖに対
してだんだん大きくなるような制御とする他に、スッテ
プ状制御、つまりオン、オフ的な制御でもよい。つまり
受信した電磁波の強度がある程度以上のときのみ発光素
子を発光させるようにしてもよい。
【００１４】アンテナ出力を取り込む側のスイッチＳY1
乃至ＳYnは入力容量の少ないスイッチであることが要求
される。従って多数のスイッチをこのように並列的に設
けるためには、入力容量を少なくするのが大変であり、
この点から図２Ｃに示すように、スイッチＳY1乃至ＳYn
を四つずつグループとしてその各グループを選択するよ
うにすればよい。つまり例えばスイッチＳY1乃至ＳY4の
一端を並列につなぎ、この一端とスイッチＳY1-4を直列
につなぎ、このスイッチＳY1-4はスイッチＳY1乃至ＳY4
のいずれかがオンの間オンとなるように制御する。ピー
クホールド回路４２は１個の測定表示素子が選択されて
いる時間中における最大ピーク値即ちスペクトルの最強
の出力を得るために用いたが、平均値を測定する場合は
ピークホールド回路４２の代わりに平均値回路を用いれ
ば良い。
乃至ＳYnは入力容量の少ないスイッチであることが要求
される。従って多数のスイッチをこのように並列的に設
けるためには、入力容量を少なくするのが大変であり、
この点から図２Ｃに示すように、スイッチＳY1乃至ＳYn
を四つずつグループとしてその各グループを選択するよ
うにすればよい。つまり例えばスイッチＳY1乃至ＳY4の
一端を並列につなぎ、この一端とスイッチＳY1-4を直列
につなぎ、このスイッチＳY1-4はスイッチＳY1乃至ＳY4
のいずれかがオンの間オンとなるように制御する。ピー
クホールド回路４２は１個の測定表示素子が選択されて
いる時間中における最大ピーク値即ちスペクトルの最強
の出力を得るために用いたが、平均値を測定する場合は
ピークホールド回路４２の代わりに平均値回路を用いれ
ば良い。
【００１５】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、測
定表示素子２１が測定面上に均一な分布を持って配列さ
れ、その各測定表示素子が自動的に順次選択され、その
選択されている間においてその位置における電磁波が受
信されると、その強度に応じてその発光素子の明るさが
制御される。従ってこの測定表示素子の配列面上を見れ
ばその発光状態をしている箇所から電磁波の放射箇所が
直ぐ直観的に分かり、希望する周波数についてのみの測
定が可能である。
定表示素子２１が測定面上に均一な分布を持って配列さ
れ、その各測定表示素子が自動的に順次選択され、その
選択されている間においてその位置における電磁波が受
信されると、その強度に応じてその発光素子の明るさが
制御される。従ってこの測定表示素子の配列面上を見れ
ばその発光状態をしている箇所から電磁波の放射箇所が
直ぐ直観的に分かり、希望する周波数についてのみの測
定が可能である。
【図１】Ａはこの発明の実施例を示すブロック図、Ｂは
その測定表示素子２１の一例を示す接続図である。
その測定表示素子２１の一例を示す接続図である。
【図２】Ａは検波レベルに対する定電流値の関係例を示
す図、Ｂは検波出力に対するクロック幅の関係例を示す
図、ＣはスイッチＳY1乃至ＳYnの入力容量を小とするた
めの接続構成を示す図である。
す図、Ｂは検波出力に対するクロック幅の関係例を示す
図、ＣはスイッチＳY1乃至ＳYnの入力容量を小とするた
めの接続構成を示す図である。
【図３】従来の二次元電磁波強度測定装置を示す図。
Claims (1)
- 【請求項１】 微小面を通過する電磁波の強度を受信す
るアンテナ及びその受信出力の強度に応じて発光する発
光素子の直列回路よりなる測定表示素子の複数個がマト
リックス状に配置された測定素子群と、 上記測定表示素子を一つずつ順次選択する選択スイッチ
と、 その選択スイッチによって選択された測定表示素子に対
して電流を流す共通の電流源と、 上記選択された測定表示素子のアンテナに誘起された電
圧が共通に入力されるスペクトラム選択増幅器と、 そのスペクトラム選択増幅器の出力を検波する検波回路
と、 その検波回路の出力に応じて上記選択された測定表示素
子の発光素子の発光の明るさを制御する手段と、 を具備する二次元電磁波放射強度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27876492A JP3316821B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 二次元電磁波放射強度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27876492A JP3316821B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 二次元電磁波放射強度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130102A JPH06130102A (ja) | 1994-05-13 |
| JP3316821B2 true JP3316821B2 (ja) | 2002-08-19 |
Family
ID=17601864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27876492A Expired - Fee Related JP3316821B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 二次元電磁波放射強度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3316821B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG45512A1 (en) * | 1995-10-30 | 1998-01-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electromagnetic radiation measuring apparatus |
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1992
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