JP2016223998A - 電磁界計測装置 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 title claims abstract description 30
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 97
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
図1に示す電磁界計測装置10は、対象物11の電界および磁界を計測する。対象物11は、図示しない各種の電子部品を収容している。電磁界計測装置10は、この図示しない電子部品から対象物11の外部へ漏洩する電界および磁界、ならびに対象物11の表面である計測対象面12における電界および磁界を計測する。また、対象物11は、電子機器を収容する一般的な電子装置に限らず、例えば車両などの運搬機器やロボットなどのように電子部品を収容する装置であれば任意に選択することができる。
一実施形態では、シート部材24は、アーム部23側を移動方向と垂直にビス32で固定し、プローブホルダ22側を移動方向と平行にビス29で固定する例について説明した。しかし、この関係は逆でもよい。すなわち、シート部材24は、アーム部23側を移動方向に対して平行に固定し、プローブホルダ22側を移動方向に対して垂直に固定してもよい。また、シート部材24とアーム部23またはプローブホルダ22とを固定する締結部材は、ビスに限らず、互いに固定可能であれば任意の締結部材を用いることができる。
Claims (7)
- 対象物の電界および磁界を計測する電磁界計測装置(10)であって、
前記対象物(11)の計測対象面(12)における電界および磁界を検出するプローブ(21)と、
前記プローブ(21)が固定されている円環形状のプローブホルダ(22)と、
移動可能なステージアームに接続され、前記プローブホルダ(22)に対して相対的に移動するアーム部(23)と、
可撓性の材料で形成され、前記アーム部(23)と前記プローブホルダ(22)との間を接続するシート部材(24)と、
を備える電磁界計測装置。 - 前記プローブホルダ(22)は、シリコン系の樹脂で形成され、前記計測対象面(12)と対向する端部に径方向の中心から径方向へ放射状に形成されているスリット(31)を有する請求項1記載の電磁界計測装置。
- 前記シート部材(24)は、一方の端部が前記プローブホルダ(22)と前記アーム部(23)とが相対的に移動する移動方向に対して平行に固定されるとともに、他方の端部が前記移動方向に対して垂直に固定されている請求項1または2記載の電磁界計測装置。
- 前記アーム部(23)に設けられ、前記プローブホルダ(22)が前記計測対象面(12)に接しているか否かを検出する検出手段(40)をさらに備える請求項1から3のいずれか一項記載の電磁界計測装置。
- 前記検出手段(40)は、前記プローブホルダ(22)に加わる荷重が予め設定した設定荷重であることを検出する請求項4記載の電磁界計測装置。
- 前記検出手段(40)は、前記プローブホルダ(22)の移動量から前記プローブホルダ(22)に加わる荷重を検出する請求項5記載の電磁界計測装置。
- 前記シート部材は、前記移動方向を軸とする周方向へ少なくとも3枚以上に分割されている請求項1から6のいずれか一項記載の電磁界計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015113079A JP6506104B2 (ja) | 2015-06-03 | 2015-06-03 | 電磁界計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015113079A JP6506104B2 (ja) | 2015-06-03 | 2015-06-03 | 電磁界計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016223998A true JP2016223998A (ja) | 2016-12-28 |
JP6506104B2 JP6506104B2 (ja) | 2019-04-24 |
Family
ID=57748792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015113079A Active JP6506104B2 (ja) | 2015-06-03 | 2015-06-03 | 電磁界計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP6506104B2 (ja) |
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