JP4036945B2 - 電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 - Google Patents
電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4036945B2 JP4036945B2 JP36029997A JP36029997A JP4036945B2 JP 4036945 B2 JP4036945 B2 JP 4036945B2 JP 36029997 A JP36029997 A JP 36029997A JP 36029997 A JP36029997 A JP 36029997A JP 4036945 B2 JP4036945 B2 JP 4036945B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- electromagnetic radiation
- radiation
- circuit
- evaluated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気機械、器具、つまり各種の電気要素や電気回路を持った、種々の電気機器の電波の輻射の電解強度を評価する電磁輻射評価方法とその装置、およびその評価に基づき輻射電波を抑える電磁輻射対策方法に関し、各種電気機器からの電磁気的な電磁輻射の電解強度を評価して、そのような輻射によるＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｏｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）を抑える対策を行い、他の電気機器のＥＭＣ（Ｅｌｅｃｔｏｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ）を損なわないようにするのに利用される。
【０００２】
【従来の技術】
従来、このようなＥＭＩ対策には、図１０、図１２に示すようなオープンサイト、あるいは、図示しない簡易電波測定室に設置したターンテーブルａと、このターンテーブルａの近傍に設置した電磁波測定アンテナｃが用いられている。具体的には、このターンテーブルａの上に評価対象物である電気機器、例えばノートパソコンｂなどを、これへの通電機器ｄなどとともに置き、これをターンテーブルａによって回転させながら通電し、そのときのノートパソコンｂなどからの輻射電波をアンテナｃによりキャッチし、アンテナｃがキャッチした輻射電波を測定器に入力してその周波数成分を測定することにより電磁輻射の電解強度を評価し、測定される輻射電波を所定の電磁輻射の電解強度レベルにまで抑えるように、電気機器に装備した電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整し、ＥＭＩ対策をするようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、電気機器からの輻射電波をアンテナｃで捉えるための、上記従来のサイト方式や簡易電波測定室は、特殊な設備が必要であるし、評価対象は完成された電子機器であるので、各種の電子部品を回路基板に装着ないしは実装して電子回路基板を製造する実装機など大きく重い機器を対象とするときは、ターンテーブルａやこれを設置するサイト、簡易測定室など、特に大きな設備が必要となり、例えばオープンサイト方式では数億円、簡易電波測定室では数千万円と言った高額な設備費が要る。
【０００４】
また、大型で複雑な機器などは各種のロジック回路や駆動回路が多数複合して用いられていることが多く、アンテナｃで捉えられた輻射電波からは電気機器全体としてのＥＭＩの程度は評価できても、個々のロジック回路や駆動回路について区別し難く、評価したＥＭＩの程度を所定の強度レベルまで下げるのに対症療法となってしまい、作業は試行錯誤し、調整し切るのに長い時間を費やす。特にオープンサイト方式では外部ノイズの影響もあるので特に長期化することが多い。従って、評価コストおよびそれに基づく調整コストも共に高くつく。
【０００５】
さらに、設備費が高くつきすぎるので、電気機器の製造品種に見合うだけの数の設備を用意できず、前記作業能率の悪さと相まって、ＥＭＩ評価、調整待ちになることが多々生じ、新製品の開発や製品化の面でも問題になっている。
【０００６】
そこで、本発明者等は、これらにつき種々な実験をし、研究を重ねたところ、電気回路の帰還電流の波形やその周波数成分と、電気回路からの電磁輻射エネルギーを閉ボックスで捉えた輻射電流の波形やその周波数成分が、従来行われているサイトや簡易電波測定室を利用し、電磁波測定アンテナによって捉えられる実際の輻射電波の電界強度と相関性があることを知見した。
【０００７】
本発明の目的は、そのような新たな知見に基づいて、輻射の電解強度の評価が容易かつ迅速に、しかも安価に達成することができ、電気回路の単体から、これを種々に組み合わせていく各中途段階での途中部品や機器を含み、最終製品である電気機器までのどの段階のものをも対象として短時間で評価し、対策できる電気機器の電磁輻射評価方法と装置、およびそれらによる電磁輻射対策方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法は、電気機器の評価対象となる電気回路に通電して、そのときに電源またはアースに戻る電流を帰還電流として検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とするものである。
【０００９】
このような構成では、評価対象である電気回路に通電して、そのときに電源またはアースに戻る電流を帰還電流として検出し、この帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データと電気回路からの実際の輻射電波の電界強度との相関性から、前記得られた各データをその電気回路の各種電波輻射要素の電波の電磁輻射強度の相関データとして評価することができ、電気回路への通電と、通電時に検出される帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定する簡易な方法によって簡単かつ短時間に達成され、安価に実施できる。この評価に基づき、本発明の電磁輻射対策方法のように、前記評価方法で得られた波形データのレベルまたは周波数解析データにおける各周波数部分でのレベルが、所定のレベルにまで抑えられるように、電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整することによりＥＭＩ対策が行える。
【００１０】
しかも、特に前記評価のための通電時の帰還電流の波形データまたは周波数解析データは測定しやしく、電気回路の単体から各段階の中途部品や機器、および最終製品である電気機器までの各段階のものにつき、短時間に評価していき、その評価の都度、前記のような対策をしていくことにより、検出により得られた周波数解析データと評価対象となる電気回路の電磁輻射特性との、電気回路のどの電気的係数がどの周波数成分に対応するかの相関性が読取りやすく、最終製品である電気機器を含む各段階において評価および対策が試行錯誤なく容易かつ短時間に達成される。
【００１１】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法は、また、電気機器の評価対象となる電気回路に通電し、この電気回路をアース接地した導電性材料製の閉ボックス内に電気的絶縁状態で収容して、電気回路の帰還電流を、この閉ボックス外で検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することも特徴としている。
【００１２】
このような構成では、閉ボックスによって電気回路から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなく捉え、電気回路からの帰還電流を閉ボックス外で、電気回路からの電磁輻射ノイズの影響を抑えてより正確に検出し、これにより正確な帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データにて、電気回路からの電磁輻射を相関評価するので、評価精度が高まる。
【００１３】
この閉ボックスからアースまたは電源に戻したときに流れる電流を輻射電流として検出し、その輻射電流の波形データまたはその輻射電流の周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することもできる。
【００１４】
前記の電気回路からの帰還電流の波形データと、閉ボックスからの輻射電流の波形データを重畳した波形データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価すると、電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の評価精度が向上する。
【００１５】
検出された帰還電流または輻射電流の波形データは、オシログラフで測定して評価することができる。帰還電流または輻射電流の周波数解析データはスペクトラムアナライザで測定して、より微細に評価することができ、この場合、評価対象が、ロジック電気回路であるのが好適である。
【００１６】
本発明の電気機器の電磁輻射評価装置は、評価対象となる電気回路に接続されて、その電気回路に通電する電源回路と、電気回路から電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる電流を検出する帰還電流検出部と、電気回路を電気的絶縁状態で収納するアース接地した導電性材料製の閉ボックスと、この閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流を検出する輻射電流検出部と、前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定、解析し表示する計測器と、を備えたことを特徴としている。
【００１７】
このような構成では、電源回路を評価対象となる電気回路に接続すれば、帰還電流検出部で、電気回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる帰還電流が検出されるのに併せ、電気回路を収納する導電性材料製の閉ボックスで捉えた電気回路からの電波が、輻射電流検出部で、閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流として検出され、計測器によって前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定して表示するので、上記のような電気機器の電磁輻射評価、およびそれに基づく対策の方法を容易に実現することができる。
【００１８】
本発明のそれ以上の目的および特徴は、以下の詳細な説明および図面によって明らかにされる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の幾つかの実施の形態について図を参照しながら詳細に説明する。
【００２０】
（実施の形態１）
本実施の形態１は、図１の第１の実施例、図２の第２の実施例に示すような、ロジック回路、具体的にはノートパソコンや各種電気機器の電子制御回路等である電子回路基板１を評価対象にしている。電子回路基板１はそれが制御する機能に応じたプリント配線および各種の電子部品が搭載されているが、駆動回路を持たない単体である。しかし、基本的にはどのような構成の電気回路、あるいはどのような組み合わせ段階の中間製品でも、あるいはどのように組み合わされ完成された電気機器でも評価対象とすることはできる。
【００２１】
図１に示す第１の実施例では、電子回路基板１に電源回路２により通電する。
【００２２】
この通電はその電子回路基板１に規定された電圧値および電流値で行い、実際に稼働される状態を試験的に作る。従って、電源回路２は種々な評価対象の電気回路に対応するためには、種々の電圧値、電流値の電流を供給できる電源回路に構成しておくのが好適である。しかし、本実施例では説明の簡単のために、電源プラグ３からＡＣアダプタ４を介し電子回路基板１に規定の直流電流を供給して通電できるようにした単純な構成で示してある。
【００２３】
この通電による疑似使用状態で、電子回路基板１からの帰還電流をプローブ６などによって検出し、検出された帰還電流の図１、図３に示すような周波数成分の解析データ５を計測器７で測定、解析し、測定した周波数成分の各周波数部分での波形レベルＨを、その周波数部分の電波を輻射する輻射要素からの電磁輻射の相関データとして評価する。これがいわゆるＥＭＩ相関評価であり、このＥＭＩ相関評価のために検出される周波数成分から得られた周波数解析データ５の波形は計測器７でモニタできる。このような計測器７としてはスペクトラムアナライザや各種周波数分析装置がある。第１の実施例で評価対象となっているロジック回路からの帰還電流の周波数成分は、高い周波数であることが多く、これを明確に視認できるようにするには、スペクトラム・アナライザを用いるのが好適であり、図３に示すような明瞭な周波数解析データ５が得られる。
【００２４】
ここに、図３に示す周波数解析データ５の波形レベルＨを所定の電磁輻射の電解強度レベル程度まで抑え込むように電子回路基板１に搭載されている電磁輻射電気要素である電子部品ないしは回路の電気的係数を調整すれば、電子回路基板１などの評価対象からの輻射電波を所定の程度まで低減することができ、輻射によるＥＭＩを抑え、他の電気機器のＥＭＣを損なわないようにすることができる。
【００２５】
このように、電子回路基板１に通電して、そのときの帰還電流の周波数解析データ５を評価すると、これが電子回路基板１からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性があり、その測定した周波数解析データ５の波形レベルＨをその電子回路基板１かの電波の電磁輻射の電解強度として相関評価することができ、電子回路基板１への通電と、通電時の帰還電流の検出との簡易な方法によって簡単かつ迅速に達成され、安価に実施できる。
【００２６】
もっとも、電子回路基板１からの帰還電流が、電源回路２における０Ｖへの帰還電流であると、それから測定した周波数成分の前記実際の輻射電波の周波数成分との相関性が高くなり、評価精度が向上する。また、帰還電流を検出するのに、電源回路２の電子回路基板１から０Ｖへの帰還電流を検出する帰還電流検出部１２には、抵抗８、あるいはこれに代わるＣＴ（カップリング・コイルトランス）などを接続すると、検出される電子回路基板１からの帰還電流の周波数解析データ５の、前記実際の輻射電波の周波数成分との相関性を高めるように調整することができ、これによっても、評価の精度および精度が向上する。
【００２７】
また、図１に示す第１の実施例では、評価対象を、従って、電子回路基板１を金属製の閉ボックス９に収容するとともに、このとき電子回路基板１と閉ボックス９は電気的に絶縁した状態にして、この閉ボックス９をアース１１に接地し、帰還電流検出部１２は閉ボックス９の外に出るようにしてある。これにより、電子回路基板１から実際に輻射している電波１３は閉ボックス９に吸収されてアース１１へ流れる輻射電波１３が前記帰還電流検出部１２に影響しないようにすることができ、その分評価精度が向上する。このような閉ボックス９はアルミニウム製であるのが好適である。しかし、前記のような機能を奏すればどのような材料の金属でもよい。なお、抵抗８は種々な評価対象に対応できるように抵抗値を調整できる可変抵抗とするのが好適である。
【００２８】
図２に示す第２の実施例は、第１の実施例の閉ボックス９からアース１１への輻射電流を、プローブ６によって検出して、その周波数成分をスペクトラム・アナライザである計測器７によって測定し、解析された周波数解析データ５ｄを、電子回路基板１からの帰還電流を前記ボックス９外で検出し、測定した周波数解析データ５に重畳し、この重畳した周波数成分の各周波数部分の波形レベルＨを対応する輻射特性を持った電波輻射要素の電磁輻射の相関データとして相関評価する。
【００２９】
このようにして測定された重畳された周波数解析データ５のピークを任意プロットすると、図４に示すようなさらに単純化された周波数特性５ｂとなる。これは、図１０に示した従来のサイトや、図示しない簡易電波測定室での電磁波測定アンテナにより実際の輻射電波につき検出された図１１に示すような周波特性５ｃとよく相関していることが分かる。
【００３０】
このようにすると、閉ボックス９によって電子回路基板１から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなくキャッチし、これをアース１１に流したときの輻射電流を検出し、この輻射電流の周波数解析データ５ｄを計測器７によって測定するが、これを電子回路基板１に通電したときの輻射電流の周波数解析データ５に重畳することで、電子回路基板１からの実際の輻射電波１３の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の電解強度の評価精度を高めることができる。このアース１１への輻射電流の輻射電流検出部２２にも抵抗１８が設けられて、検出精度が向上するようにしている。この抵抗１８も可変抵抗にするのが好適である。 ところで、検出された帰還電流や輻射電流から測定される周波数成分は、その周波数部分ごとに電子回路基板１などの評価対象における各種電気部品ないしは回路特性に対応したものであり、これが複合していると１つの周波数部分に対応した原因を解析しにくい。従って、本実施の形態１の評価と対策は、電子回路基板１のように最小単位である回路基板単体の段階から行うのが好適であり、どの周波数部分がどの電気部品や回路の係数が関与したものであるかを容易かつ迅速に判定し、対策することができる。
【００３１】
また、評価および対策を終えた最小単位の回路基板単体などを、各種に組み合わせ装備していく各段階において、その各段階の中間部品や中間製品につき評価して最小単位の電気部品や回路の組み合わせが進行していく過程で新たに発生していく輻射電波の評価と対策を行うようにすると、各製造段階にて新たに発生する輻射電波についても容易に評価し対策することができる。これは、最終段階の完全な製品になっても同じである。
【００３２】
結局、全体として、計測器以外の設備はほとんど不要でありその費用は数百万円程度と格段に低減し、しかも、試行錯誤なく容易かつ迅速に、電磁輻射の評価と対策が行えるもので、作業能率がよい上に計測機器や設備を多数持ちうるので、待ち時間などなく多種類の製品の開発および製造に好適である。
【００３３】
なお、電子回路基板１などの電気回路に通電したときの帰還電流は、電源の０Ｖ、マイナス電位、またはアースに戻る電流にて検出することができるし、閉ボックスからの輻射電流も、電源の０Ｖ、マイナス電位、またはアースに流れる電流から検出することができる。
【００３４】
（実施の形態２）
本実施の形態２は図５に示すように、モータ３１を駆動する駆動回路３２を評価対象とした場合を示している。駆動回路３２はスイッチング回路３２ａや図６に示すゲート回路３２ｂなどがモータ３１と共に電磁輻射電波の発生源になりやすい。駆動回路３２に対しても、０Ｖへの帰還電流をプローブ６にて検出し、その波形を計測器７によって測定する。駆動回路３２での帰還電流の波形３４はオシロスコープによっても人が視認できる程度に表示される。もっとも、図５、図７に示すような鋸歯状の周波数成分３４における三角波ピーク点電流に対応する周波数成分３４ａやスパイク電流に対応する周波数成分３４ｂの部分の微小な周波数成分を人が視認できるようにするには、計測器７として周波数解析データが得られるスペクトラム・アナライザを用いるのがよい。しかし、前記周波数成分３４ａ、３４ｂの各周波数部分の波形レベルＨを所定の電磁輻射の電解強度レベル程度にまで抑えればよいので、これができる限りスペクトラム・アナライザは使用しなくてもよい。
【００３５】
図６は１つの実施例を示すものであり、整流回路４１、スイッチング回路３２ａで構成した三相インバータを介してモータ３１を駆動する駆動回路３２の場合を示し、スイッチング回路３２ａに接続したゲート回路３２ｂを介したフィードバック制御回路４６による２つのフィードバック制御系４４、４５が設けられている。フィードバック系４４はモータ３１の２相電流についてのものであり、フィードバック系４５はモータ３１の回転状態についてのものである。
【００３６】
これらフィードバック系４４、４５は駆動回路３２の帰還電流の周波数成分に影響して、上記のような評価を正しく行えない。そこで、図６の実施例ではゲート回路３２ｂへのフィードバック系４４、４５のフィードバック制御回路４６を介した接続を断った状態で、ゲート回路３２ｂからモータ３１の駆動パルスを電源回路２にて与え、そのときの駆動回路３２の帰還電流の周波数成分の出力を得て、前記評価が行えるようにした。
【００３７】
この実施例での、オシロスコープでの帰還電流の波形３４は、図７に示す通りである。なお、カレントプローブによるモータ電流波形なまりが大きく、図８に示すような山形波形になり、正規な鋸歯状波形にならない。このため、駆動回路３２からの実際の輻射電波の周波数との相関性のある周波数成分との相関性が弱く、精度よい評価および対策はできない。
【００３８】
そこで、図７に示す駆動回路３２から０Ｖへの帰還電流の波形数成分３４を測定し、その波形における、三角波ピーク点電流に対応する周波数成分３４ａやスパイク電流に対応する周波数成分３４ｂの波形高さそれぞれについて、図９の（ａ）（ｂ）に示す破線のように低く抑えるように、駆動回路３２の各種電気的係数を調整することにより、実施の形態１の場合と同様に、駆動回路３２の評価対象からの輻射電波を所定の程度まで低減することができ、輻射によるＥＭＩを抑え、他の電気機器のＥＭＣを損なわないようにすることができる。
【００３９】
これも、図１０、図１２に示す従来のサイトや簡易電波測定室にて、電磁波測定アンテナｃによりモータｅの駆動回路ｆからの輻射電波を検出し、この検出された輻射電波につき測定した図１３に示す周波数成分３４ｃと、これの電磁輻射の電解強度高さを下げて対策した周波数成分３４ｄと相関している。
【００４０】
【発明の効果】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法の１つの特徴によれば、評価対象である電気回路に通電したときの帰還電流の周波数解析データと、その電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分ととの相関性から、電気回路への通電と、通電時に検出される帰還電流の周波数解析データを測定、解析する簡易な方法によって、評価対象である電気回路の電波の輻射強度を簡単かつ短時間に評価し、安価に実施できる。この評価に基づき、検出された帰還電流の周波数成分における各周波数部分での波形レベルが、所定の電磁輻射の電解強度レベルにまで抑えるように電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整することによりＥＭＩ対策が行える。
【００４１】
しかも、前記評価のための通電時の帰還電流の波形データまたは周波数解析データは測定しやしく、電気回路の単体から各段階の中途部品や機器、および最終製品である電気機器までの各段階のものにつき、短時間に評価していき、その評価の都度、前記のような対策をしていくことにより、検出により得られた周波数解析データと評価対象となる電気回路の輻射特性との、電気回路のどの電気的係数がどの周波数成分に対応するかの相関性が読取りやすく、最終製品である電気機器を含む各段階において評価および対策が試行錯誤なく容易かつ短時間に達成される。
【００４２】
また、べつの特徴によって、導電性材料製の閉ボックスによって電気回路から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなく捉え、電気回路からの帰還電流を閉ボックス外で、電気回路からの電磁輻射ノイズの影響を抑えてより正確に検出し、このより正確な帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データにて、電気回路からの電磁輻射を相関評価するので、評価精度が高まる。
【００４３】
この閉ボックスからアースまたは電源に戻したときに流れる電流を輻射電流として検出し、その輻射電流の波形データまたはその輻射電流の周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することもできる。
【００４４】
前記の電気回路からの帰還電流の波形データと、閉ボックスからの輻射電流の波形データを重畳した波形データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価すると、電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の評価精度が向上する。
【００４５】
検出された帰還電流または輻射電流の波形データは、オシログラフで測定して評価することができる。帰還電流または輻射電流の周波数解析データはスペクトラムアナライザで測定して、より微細に評価することができ、この場合、評価対象が、ロジック電気回路であるのが好適である。
【００４６】
本発明の電気機器の電磁輻射評価装置によれば、電源回路を評価対象となる電気回路に接続すれば、帰還電流検出部で、電気回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる帰還電流が検出されるのに併せ、電気回路を収納する導電性材料製の閉ボックスで捉えた電気回路からの電波が、輻射電流検出部で、閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流として検出され、計測器によって前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定して表示するので、上記のような電気機器の電磁輻射評価、およびそれに基づく対策の方法を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１の第１の実施例を示す概略構成の斜視図である。
【図２】実施の形態１の第２の実施例を示す概略構成の斜視図である。
【図３】第２の実施例において検出された帰還電流の周波数解析データの波形図である。
【図４】帰還電流と輻射電流の周波数解析データを重畳し、そのピークを任意プロットして得た波形図である。
【図５】本発明の実施の形態２を示す概略構成の斜視図である。
【図６】実施の形態２の１つの実施例を示す具体的な駆動回路での帰還電流の波形図の検出状態を示すブロック結線図である。
【図７】図６での検出波形の波形図である。
【図８】カレントプローブによるモータ電流の波形図である。
【図９】図７の波形の三角波ピーク点電流と、スパイク電流とに対応する周波数成分の波形高さＨの評価結果と対策結果を示すグラフである。
【図１０】従来のサイトでの評価対象の電気機器のの輻射電波検出方式の概略図である。
【図１１】図１０の方式で検出された輻射電波の周波数ごとの電解強度を示す波形図である。
【図１２】従来のサイトでの駆動回路の輻射電波検出方式の概略図である。
【図１３】図１２の方式で検出された輻射電波の周波数ごとの電解強度を示す波形図である。
【符号の説明】
１ 電子回路基板
２ 電源回路
３ 電源プラグ
４ 電源のＡＣアダプタ
５ 周波数解析データ
６ プローブ
７ 測定器または計測器
８、１８ 抵抗
９ 閉ボックス
１１ アース
１２ 帰還電流検出部
１３ 輻射電波
２２ 輻射電流検出部
３１ モータ
３２ 駆動回路
３４ 波形
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気機械、器具、つまり各種の電気要素や電気回路を持った、種々の電気機器の電波の輻射の電解強度を評価する電磁輻射評価方法とその装置、およびその評価に基づき輻射電波を抑える電磁輻射対策方法に関し、各種電気機器からの電磁気的な電磁輻射の電解強度を評価して、そのような輻射によるＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｏｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）を抑える対策を行い、他の電気機器のＥＭＣ（Ｅｌｅｃｔｏｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ）を損なわないようにするのに利用される。
【０００２】
【従来の技術】
従来、このようなＥＭＩ対策には、図１０、図１２に示すようなオープンサイト、あるいは、図示しない簡易電波測定室に設置したターンテーブルａと、このターンテーブルａの近傍に設置した電磁波測定アンテナｃが用いられている。具体的には、このターンテーブルａの上に評価対象物である電気機器、例えばノートパソコンｂなどを、これへの通電機器ｄなどとともに置き、これをターンテーブルａによって回転させながら通電し、そのときのノートパソコンｂなどからの輻射電波をアンテナｃによりキャッチし、アンテナｃがキャッチした輻射電波を測定器に入力してその周波数成分を測定することにより電磁輻射の電解強度を評価し、測定される輻射電波を所定の電磁輻射の電解強度レベルにまで抑えるように、電気機器に装備した電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整し、ＥＭＩ対策をするようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、電気機器からの輻射電波をアンテナｃで捉えるための、上記従来のサイト方式や簡易電波測定室は、特殊な設備が必要であるし、評価対象は完成された電子機器であるので、各種の電子部品を回路基板に装着ないしは実装して電子回路基板を製造する実装機など大きく重い機器を対象とするときは、ターンテーブルａやこれを設置するサイト、簡易測定室など、特に大きな設備が必要となり、例えばオープンサイト方式では数億円、簡易電波測定室では数千万円と言った高額な設備費が要る。
【０００４】
また、大型で複雑な機器などは各種のロジック回路や駆動回路が多数複合して用いられていることが多く、アンテナｃで捉えられた輻射電波からは電気機器全体としてのＥＭＩの程度は評価できても、個々のロジック回路や駆動回路について区別し難く、評価したＥＭＩの程度を所定の強度レベルまで下げるのに対症療法となってしまい、作業は試行錯誤し、調整し切るのに長い時間を費やす。特にオープンサイト方式では外部ノイズの影響もあるので特に長期化することが多い。従って、評価コストおよびそれに基づく調整コストも共に高くつく。
【０００５】
さらに、設備費が高くつきすぎるので、電気機器の製造品種に見合うだけの数の設備を用意できず、前記作業能率の悪さと相まって、ＥＭＩ評価、調整待ちになることが多々生じ、新製品の開発や製品化の面でも問題になっている。
【０００６】
そこで、本発明者等は、これらにつき種々な実験をし、研究を重ねたところ、電気回路の帰還電流の波形やその周波数成分と、電気回路からの電磁輻射エネルギーを閉ボックスで捉えた輻射電流の波形やその周波数成分が、従来行われているサイトや簡易電波測定室を利用し、電磁波測定アンテナによって捉えられる実際の輻射電波の電界強度と相関性があることを知見した。
【０００７】
本発明の目的は、そのような新たな知見に基づいて、輻射の電解強度の評価が容易かつ迅速に、しかも安価に達成することができ、電気回路の単体から、これを種々に組み合わせていく各中途段階での途中部品や機器を含み、最終製品である電気機器までのどの段階のものをも対象として短時間で評価し、対策できる電気機器の電磁輻射評価方法と装置、およびそれらによる電磁輻射対策方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法は、電気機器の評価対象となる電気回路に通電して、そのときに電源またはアースに戻る電流を帰還電流として検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とするものである。
【０００９】
このような構成では、評価対象である電気回路に通電して、そのときに電源またはアースに戻る電流を帰還電流として検出し、この帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データと電気回路からの実際の輻射電波の電界強度との相関性から、前記得られた各データをその電気回路の各種電波輻射要素の電波の電磁輻射強度の相関データとして評価することができ、電気回路への通電と、通電時に検出される帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定する簡易な方法によって簡単かつ短時間に達成され、安価に実施できる。この評価に基づき、本発明の電磁輻射対策方法のように、前記評価方法で得られた波形データのレベルまたは周波数解析データにおける各周波数部分でのレベルが、所定のレベルにまで抑えられるように、電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整することによりＥＭＩ対策が行える。
【００１０】
しかも、特に前記評価のための通電時の帰還電流の波形データまたは周波数解析データは測定しやしく、電気回路の単体から各段階の中途部品や機器、および最終製品である電気機器までの各段階のものにつき、短時間に評価していき、その評価の都度、前記のような対策をしていくことにより、検出により得られた周波数解析データと評価対象となる電気回路の電磁輻射特性との、電気回路のどの電気的係数がどの周波数成分に対応するかの相関性が読取りやすく、最終製品である電気機器を含む各段階において評価および対策が試行錯誤なく容易かつ短時間に達成される。
【００１１】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法は、また、電気機器の評価対象となる電気回路に通電し、この電気回路をアース接地した導電性材料製の閉ボックス内に電気的絶縁状態で収容して、電気回路の帰還電流を、この閉ボックス外で検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することも特徴としている。
【００１２】
このような構成では、閉ボックスによって電気回路から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなく捉え、電気回路からの帰還電流を閉ボックス外で、電気回路からの電磁輻射ノイズの影響を抑えてより正確に検出し、これにより正確な帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データにて、電気回路からの電磁輻射を相関評価するので、評価精度が高まる。
【００１３】
この閉ボックスからアースまたは電源に戻したときに流れる電流を輻射電流として検出し、その輻射電流の波形データまたはその輻射電流の周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することもできる。
【００１４】
前記の電気回路からの帰還電流の波形データと、閉ボックスからの輻射電流の波形データを重畳した波形データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価すると、電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の評価精度が向上する。
【００１５】
検出された帰還電流または輻射電流の波形データは、オシログラフで測定して評価することができる。帰還電流または輻射電流の周波数解析データはスペクトラムアナライザで測定して、より微細に評価することができ、この場合、評価対象が、ロジック電気回路であるのが好適である。
【００１６】
本発明の電気機器の電磁輻射評価装置は、評価対象となる電気回路に接続されて、その電気回路に通電する電源回路と、電気回路から電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる電流を検出する帰還電流検出部と、電気回路を電気的絶縁状態で収納するアース接地した導電性材料製の閉ボックスと、この閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流を検出する輻射電流検出部と、前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定、解析し表示する計測器と、を備えたことを特徴としている。
【００１７】
このような構成では、電源回路を評価対象となる電気回路に接続すれば、帰還電流検出部で、電気回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる帰還電流が検出されるのに併せ、電気回路を収納する導電性材料製の閉ボックスで捉えた電気回路からの電波が、輻射電流検出部で、閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流として検出され、計測器によって前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定して表示するので、上記のような電気機器の電磁輻射評価、およびそれに基づく対策の方法を容易に実現することができる。
【００１８】
本発明のそれ以上の目的および特徴は、以下の詳細な説明および図面によって明らかにされる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の幾つかの実施の形態について図を参照しながら詳細に説明する。
【００２０】
（実施の形態１）
本実施の形態１は、図１の第１の実施例、図２の第２の実施例に示すような、ロジック回路、具体的にはノートパソコンや各種電気機器の電子制御回路等である電子回路基板１を評価対象にしている。電子回路基板１はそれが制御する機能に応じたプリント配線および各種の電子部品が搭載されているが、駆動回路を持たない単体である。しかし、基本的にはどのような構成の電気回路、あるいはどのような組み合わせ段階の中間製品でも、あるいはどのように組み合わされ完成された電気機器でも評価対象とすることはできる。
【００２１】
図１に示す第１の実施例では、電子回路基板１に電源回路２により通電する。
【００２２】
この通電はその電子回路基板１に規定された電圧値および電流値で行い、実際に稼働される状態を試験的に作る。従って、電源回路２は種々な評価対象の電気回路に対応するためには、種々の電圧値、電流値の電流を供給できる電源回路に構成しておくのが好適である。しかし、本実施例では説明の簡単のために、電源プラグ３からＡＣアダプタ４を介し電子回路基板１に規定の直流電流を供給して通電できるようにした単純な構成で示してある。
【００２３】
この通電による疑似使用状態で、電子回路基板１からの帰還電流をプローブ６などによって検出し、検出された帰還電流の図１、図３に示すような周波数成分の解析データ５を計測器７で測定、解析し、測定した周波数成分の各周波数部分での波形レベルＨを、その周波数部分の電波を輻射する輻射要素からの電磁輻射の相関データとして評価する。これがいわゆるＥＭＩ相関評価であり、このＥＭＩ相関評価のために検出される周波数成分から得られた周波数解析データ５の波形は計測器７でモニタできる。このような計測器７としてはスペクトラムアナライザや各種周波数分析装置がある。第１の実施例で評価対象となっているロジック回路からの帰還電流の周波数成分は、高い周波数であることが多く、これを明確に視認できるようにするには、スペクトラム・アナライザを用いるのが好適であり、図３に示すような明瞭な周波数解析データ５が得られる。
【００２４】
ここに、図３に示す周波数解析データ５の波形レベルＨを所定の電磁輻射の電解強度レベル程度まで抑え込むように電子回路基板１に搭載されている電磁輻射電気要素である電子部品ないしは回路の電気的係数を調整すれば、電子回路基板１などの評価対象からの輻射電波を所定の程度まで低減することができ、輻射によるＥＭＩを抑え、他の電気機器のＥＭＣを損なわないようにすることができる。
【００２５】
このように、電子回路基板１に通電して、そのときの帰還電流の周波数解析データ５を評価すると、これが電子回路基板１からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性があり、その測定した周波数解析データ５の波形レベルＨをその電子回路基板１かの電波の電磁輻射の電解強度として相関評価することができ、電子回路基板１への通電と、通電時の帰還電流の検出との簡易な方法によって簡単かつ迅速に達成され、安価に実施できる。
【００２６】
もっとも、電子回路基板１からの帰還電流が、電源回路２における０Ｖへの帰還電流であると、それから測定した周波数成分の前記実際の輻射電波の周波数成分との相関性が高くなり、評価精度が向上する。また、帰還電流を検出するのに、電源回路２の電子回路基板１から０Ｖへの帰還電流を検出する帰還電流検出部１２には、抵抗８、あるいはこれに代わるＣＴ（カップリング・コイルトランス）などを接続すると、検出される電子回路基板１からの帰還電流の周波数解析データ５の、前記実際の輻射電波の周波数成分との相関性を高めるように調整することができ、これによっても、評価の精度および精度が向上する。
【００２７】
また、図１に示す第１の実施例では、評価対象を、従って、電子回路基板１を金属製の閉ボックス９に収容するとともに、このとき電子回路基板１と閉ボックス９は電気的に絶縁した状態にして、この閉ボックス９をアース１１に接地し、帰還電流検出部１２は閉ボックス９の外に出るようにしてある。これにより、電子回路基板１から実際に輻射している電波１３は閉ボックス９に吸収されてアース１１へ流れる輻射電波１３が前記帰還電流検出部１２に影響しないようにすることができ、その分評価精度が向上する。このような閉ボックス９はアルミニウム製であるのが好適である。しかし、前記のような機能を奏すればどのような材料の金属でもよい。なお、抵抗８は種々な評価対象に対応できるように抵抗値を調整できる可変抵抗とするのが好適である。
【００２８】
図２に示す第２の実施例は、第１の実施例の閉ボックス９からアース１１への輻射電流を、プローブ６によって検出して、その周波数成分をスペクトラム・アナライザである計測器７によって測定し、解析された周波数解析データ５ｄを、電子回路基板１からの帰還電流を前記ボックス９外で検出し、測定した周波数解析データ５に重畳し、この重畳した周波数成分の各周波数部分の波形レベルＨを対応する輻射特性を持った電波輻射要素の電磁輻射の相関データとして相関評価する。
【００２９】
このようにして測定された重畳された周波数解析データ５のピークを任意プロットすると、図４に示すようなさらに単純化された周波数特性５ｂとなる。これは、図１０に示した従来のサイトや、図示しない簡易電波測定室での電磁波測定アンテナにより実際の輻射電波につき検出された図１１に示すような周波特性５ｃとよく相関していることが分かる。
【００３０】
このようにすると、閉ボックス９によって電子回路基板１から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなくキャッチし、これをアース１１に流したときの輻射電流を検出し、この輻射電流の周波数解析データ５ｄを計測器７によって測定するが、これを電子回路基板１に通電したときの輻射電流の周波数解析データ５に重畳することで、電子回路基板１からの実際の輻射電波１３の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の電解強度の評価精度を高めることができる。このアース１１への輻射電流の輻射電流検出部２２にも抵抗１８が設けられて、検出精度が向上するようにしている。この抵抗１８も可変抵抗にするのが好適である。 ところで、検出された帰還電流や輻射電流から測定される周波数成分は、その周波数部分ごとに電子回路基板１などの評価対象における各種電気部品ないしは回路特性に対応したものであり、これが複合していると１つの周波数部分に対応した原因を解析しにくい。従って、本実施の形態１の評価と対策は、電子回路基板１のように最小単位である回路基板単体の段階から行うのが好適であり、どの周波数部分がどの電気部品や回路の係数が関与したものであるかを容易かつ迅速に判定し、対策することができる。
【００３１】
また、評価および対策を終えた最小単位の回路基板単体などを、各種に組み合わせ装備していく各段階において、その各段階の中間部品や中間製品につき評価して最小単位の電気部品や回路の組み合わせが進行していく過程で新たに発生していく輻射電波の評価と対策を行うようにすると、各製造段階にて新たに発生する輻射電波についても容易に評価し対策することができる。これは、最終段階の完全な製品になっても同じである。
【００３２】
結局、全体として、計測器以外の設備はほとんど不要でありその費用は数百万円程度と格段に低減し、しかも、試行錯誤なく容易かつ迅速に、電磁輻射の評価と対策が行えるもので、作業能率がよい上に計測機器や設備を多数持ちうるので、待ち時間などなく多種類の製品の開発および製造に好適である。
【００３３】
なお、電子回路基板１などの電気回路に通電したときの帰還電流は、電源の０Ｖ、マイナス電位、またはアースに戻る電流にて検出することができるし、閉ボックスからの輻射電流も、電源の０Ｖ、マイナス電位、またはアースに流れる電流から検出することができる。
【００３４】
（実施の形態２）
本実施の形態２は図５に示すように、モータ３１を駆動する駆動回路３２を評価対象とした場合を示している。駆動回路３２はスイッチング回路３２ａや図６に示すゲート回路３２ｂなどがモータ３１と共に電磁輻射電波の発生源になりやすい。駆動回路３２に対しても、０Ｖへの帰還電流をプローブ６にて検出し、その波形を計測器７によって測定する。駆動回路３２での帰還電流の波形３４はオシロスコープによっても人が視認できる程度に表示される。もっとも、図５、図７に示すような鋸歯状の周波数成分３４における三角波ピーク点電流に対応する周波数成分３４ａやスパイク電流に対応する周波数成分３４ｂの部分の微小な周波数成分を人が視認できるようにするには、計測器７として周波数解析データが得られるスペクトラム・アナライザを用いるのがよい。しかし、前記周波数成分３４ａ、３４ｂの各周波数部分の波形レベルＨを所定の電磁輻射の電解強度レベル程度にまで抑えればよいので、これができる限りスペクトラム・アナライザは使用しなくてもよい。
【００３５】
図６は１つの実施例を示すものであり、整流回路４１、スイッチング回路３２ａで構成した三相インバータを介してモータ３１を駆動する駆動回路３２の場合を示し、スイッチング回路３２ａに接続したゲート回路３２ｂを介したフィードバック制御回路４６による２つのフィードバック制御系４４、４５が設けられている。フィードバック系４４はモータ３１の２相電流についてのものであり、フィードバック系４５はモータ３１の回転状態についてのものである。
【００３６】
これらフィードバック系４４、４５は駆動回路３２の帰還電流の周波数成分に影響して、上記のような評価を正しく行えない。そこで、図６の実施例ではゲート回路３２ｂへのフィードバック系４４、４５のフィードバック制御回路４６を介した接続を断った状態で、ゲート回路３２ｂからモータ３１の駆動パルスを電源回路２にて与え、そのときの駆動回路３２の帰還電流の周波数成分の出力を得て、前記評価が行えるようにした。
【００３７】
この実施例での、オシロスコープでの帰還電流の波形３４は、図７に示す通りである。なお、カレントプローブによるモータ電流波形なまりが大きく、図８に示すような山形波形になり、正規な鋸歯状波形にならない。このため、駆動回路３２からの実際の輻射電波の周波数との相関性のある周波数成分との相関性が弱く、精度よい評価および対策はできない。
【００３８】
そこで、図７に示す駆動回路３２から０Ｖへの帰還電流の波形数成分３４を測定し、その波形における、三角波ピーク点電流に対応する周波数成分３４ａやスパイク電流に対応する周波数成分３４ｂの波形高さそれぞれについて、図９の（ａ）（ｂ）に示す破線のように低く抑えるように、駆動回路３２の各種電気的係数を調整することにより、実施の形態１の場合と同様に、駆動回路３２の評価対象からの輻射電波を所定の程度まで低減することができ、輻射によるＥＭＩを抑え、他の電気機器のＥＭＣを損なわないようにすることができる。
【００３９】
これも、図１０、図１２に示す従来のサイトや簡易電波測定室にて、電磁波測定アンテナｃによりモータｅの駆動回路ｆからの輻射電波を検出し、この検出された輻射電波につき測定した図１３に示す周波数成分３４ｃと、これの電磁輻射の電解強度高さを下げて対策した周波数成分３４ｄと相関している。
【００４０】
【発明の効果】
本発明の電気機器の電磁輻射評価方法の１つの特徴によれば、評価対象である電気回路に通電したときの帰還電流の周波数解析データと、その電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分ととの相関性から、電気回路への通電と、通電時に検出される帰還電流の周波数解析データを測定、解析する簡易な方法によって、評価対象である電気回路の電波の輻射強度を簡単かつ短時間に評価し、安価に実施できる。この評価に基づき、検出された帰還電流の周波数成分における各周波数部分での波形レベルが、所定の電磁輻射の電解強度レベルにまで抑えるように電気回路の電波輻射要素の電気的係数を調整することによりＥＭＩ対策が行える。
【００４１】
しかも、前記評価のための通電時の帰還電流の波形データまたは周波数解析データは測定しやしく、電気回路の単体から各段階の中途部品や機器、および最終製品である電気機器までの各段階のものにつき、短時間に評価していき、その評価の都度、前記のような対策をしていくことにより、検出により得られた周波数解析データと評価対象となる電気回路の輻射特性との、電気回路のどの電気的係数がどの周波数成分に対応するかの相関性が読取りやすく、最終製品である電気機器を含む各段階において評価および対策が試行錯誤なく容易かつ短時間に達成される。
【００４２】
また、べつの特徴によって、導電性材料製の閉ボックスによって電気回路から実際に輻射される電波をまわりに逸散させることなく捉え、電気回路からの帰還電流を閉ボックス外で、電気回路からの電磁輻射ノイズの影響を抑えてより正確に検出し、このより正確な帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データにて、電気回路からの電磁輻射を相関評価するので、評価精度が高まる。
【００４３】
この閉ボックスからアースまたは電源に戻したときに流れる電流を輻射電流として検出し、その輻射電流の波形データまたはその輻射電流の周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することもできる。
【００４４】
前記の電気回路からの帰還電流の波形データと、閉ボックスからの輻射電流の波形データを重畳した波形データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価すると、電気回路からの実際の輻射電波の周波数成分との相関性がより高まり、電磁輻射の評価精度が向上する。
【００４５】
検出された帰還電流または輻射電流の波形データは、オシログラフで測定して評価することができる。帰還電流または輻射電流の周波数解析データはスペクトラムアナライザで測定して、より微細に評価することができ、この場合、評価対象が、ロジック電気回路であるのが好適である。
【００４６】
本発明の電気機器の電磁輻射評価装置によれば、電源回路を評価対象となる電気回路に接続すれば、帰還電流検出部で、電気回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる帰還電流が検出されるのに併せ、電気回路を収納する導電性材料製の閉ボックスで捉えた電気回路からの電波が、輻射電流検出部で、閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流として検出され、計測器によって前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定して表示するので、上記のような電気機器の電磁輻射評価、およびそれに基づく対策の方法を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１の第１の実施例を示す概略構成の斜視図である。
【図２】実施の形態１の第２の実施例を示す概略構成の斜視図である。
【図３】第２の実施例において検出された帰還電流の周波数解析データの波形図である。
【図４】帰還電流と輻射電流の周波数解析データを重畳し、そのピークを任意プロットして得た波形図である。
【図５】本発明の実施の形態２を示す概略構成の斜視図である。
【図６】実施の形態２の１つの実施例を示す具体的な駆動回路での帰還電流の波形図の検出状態を示すブロック結線図である。
【図７】図６での検出波形の波形図である。
【図８】カレントプローブによるモータ電流の波形図である。
【図９】図７の波形の三角波ピーク点電流と、スパイク電流とに対応する周波数成分の波形高さＨの評価結果と対策結果を示すグラフである。
【図１０】従来のサイトでの評価対象の電気機器のの輻射電波検出方式の概略図である。
【図１１】図１０の方式で検出された輻射電波の周波数ごとの電解強度を示す波形図である。
【図１２】従来のサイトでの駆動回路の輻射電波検出方式の概略図である。
【図１３】図１２の方式で検出された輻射電波の周波数ごとの電解強度を示す波形図である。
【符号の説明】
１ 電子回路基板
２ 電源回路
３ 電源プラグ
４ 電源のＡＣアダプタ
５ 周波数解析データ
６ プローブ
７ 測定器または計測器
８、１８ 抵抗
９ 閉ボックス
１１ アース
１２ 帰還電流検出部
１３ 輻射電波
２２ 輻射電流検出部
３１ モータ
３２ 駆動回路
３４ 波形
Claims (10)
- 電気機器の評価対象となる電気回路に通電して、そのときに電源またはアースに戻る電流を帰還電流として検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とする電気機器の電磁輻射評価方法。
- 電気機器の評価対象となる電気回路に通電し、この電気回路をアース接地した導電性材料製の閉ボックス内に電気的絶縁状態で収容して、電気回路の帰還電流を、この閉ボックス外で検出し、その帰還電流の波形データまたは周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とする電気機器の電磁輻射評価方法。
- 電気機器の評価対象となる電気回路に通電し、その電気回路を導電性材料製の閉ボックス内に電気的絶縁状態で収容して、前記電気回路からの電磁輻射エネルギーを閉ボックスで捉え、これをアースまたは電源に戻したときに流れる電流を輻射電流として検出し、その輻射電流の波形データまたはその輻射電流の周波数成分を測定して得られた周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とする電気機器の電磁輻射評価方法。
- 請求項１または２の評価対象となる電気回路の帰還電流の波形データと、請求項３の輻射電流の周波数解析データを重畳した波形データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とする電気機器の電磁輻射評価方法。
- 請求項１または２の評価対象となる電気回路の帰還電流の波形データと、請求項３の輻射電流の波形データを重畳した周波数解析データを、前記電気回路の電磁輻射との相関データとして評価することを特徴とする電気機器の電磁輻射評価方法。
- 検出された帰還電流または輻射電流の波形データは、オシロスコープで測定して評価する請求項１〜４のいずれか一項に記載の電気機器の電磁輻射評価方法。
- 検出された帰還電流または輻射電流の周波数解析データは、スペクトラムアナライザで測定して評価する請求項１〜３、５のいずれか一項に記載の電気機器の電磁輻射評価方法。
- 評価対象は、ロジック回路、表示回路またはパワー回路である請求項１〜７のいずれか一項に記載の電気機器の電磁輻射評価方法。
- 評価対象となる電気回路に接続されて、その電気回路に通電する電源回路と、電気回路から電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる電流を検出する帰還電流検出部と、電気回路を収納するアース接地した導電性材料製の閉ボックスと、この閉ボックスから電源回路の０Ｖまたはマイナス電位またはアースへ流れる輻射電流を検出する輻射電流検出部と、前記帰還電流検出部および輻射電流検出部で検出された帰還電流および輻射電流の波形データおよび周波数解析データを測定、解析し表示する計測器と、を備えたことを特徴とする電気機器の電磁輻射評価装置。
- 請求項１〜５のいずれか一項に記載の電気機器の電磁輻射評価方法で検出された帰還電流または輻射電流の波形データまたは周波数解析データを電磁輻射の相関データとして評価しそのデータのレベルを所定のレベルまで抑えるように電気回路の電磁輻射要素の電気係数を調整し対策することを特徴とする電気機器の電磁輻射対策方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36029997A JP4036945B2 (ja) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | 電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36029997A JP4036945B2 (ja) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | 電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11190752A JPH11190752A (ja) | 1999-07-13 |
| JP4036945B2 true JP4036945B2 (ja) | 2008-01-23 |
Family
ID=18468804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36029997A Expired - Fee Related JP4036945B2 (ja) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | 電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4036945B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010127698A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-06-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 放射電磁波周波数推定装置および放射電磁波周波数推定方法 |
| CN109068192B (zh) * | 2018-09-25 | 2023-11-14 | 焦作华飞电子电器股份有限公司 | 一种矿用高抗电磁干扰无线数据通讯装置 |
| CN112649779B (zh) * | 2020-12-31 | 2024-01-23 | 江苏南高智能装备创新中心有限公司 | 基于电磁兼容性测试的评估方法、系统和网络侧服务端 |
-
1997
- 1997-12-26 JP JP36029997A patent/JP4036945B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11190752A (ja) | 1999-07-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7076670B2 (ja) | 偽造及び規格外の電子部品の検出及び特定のための方法及び装置 | |
| CA1286724C (en) | Method and apparatus for monitoring electromagnetic emission levels | |
| US8143903B2 (en) | Resonance scanning system and method for testing equipment for electromagnetic resonances | |
| EP1946130A2 (en) | Method for determining information about the internal workings of a chip based on electro-magnetic emissions therefrom | |
| JP2002090413A (ja) | 高電圧機器の絶縁異常診断装置 | |
| US6242923B1 (en) | Method for detecting power plane-to-power plane shorts and I/O net-to power plane shorts in modules and printed circuit boards | |
| Romano et al. | Partial discharges at different voltage waveshapes: Comparison between two different acquisition systems | |
| JP4036945B2 (ja) | 電気機器の電磁輻射評価方法・装置と電磁輻射対策方法 | |
| RU2702453C1 (ru) | Способ оценки стойкости микроэлектронного оборудования к внешнему электромагнитному воздействию | |
| KR200175235Y1 (ko) | 전자파 측정장치 | |
| Clarkson et al. | A wavelet-based method of measuring fluctuating harmonics for determining the filter time constant of IEC standard harmonic analyzers | |
| Betta et al. | Evaluation of the measurement uncertainties in the conducted emissions from adjustable speed electrical power drive systems | |
| JPH1114680A (ja) | 輻射ノイズ測定装置、輻射ノイズ測定方法、輻射ノイズ表示方法および輻射ノイズ検出装置 | |
| JP6858395B2 (ja) | ノイズ源探査システムおよびノイズ源探査方法 | |
| JP3696008B2 (ja) | ノイズの可視化システム及び方法 | |
| JP2014016195A (ja) | 不要輻射ノイズ測定方法 | |
| Pfennig | Comparison of Three Methods for Testing IC’s to Field-Coupled Immunity and Emissions | |
| Ostermann et al. | Characterization of the EME of integrated circuits with the help of the IEC standard 61967 [electromagnetic emission] | |
| JP3696117B2 (ja) | ノイズの可視化システム及び方法 | |
| JP2956301B2 (ja) | 電力機器の絶縁劣化診断方法 | |
| Millard et al. | Noncontact testing of circuits via a laser-induced plasma electrical pathway | |
| Audone et al. | Malfunction detection monitoring the power supply current | |
| JPH06308202A (ja) | 回路検査装置 | |
| Niu et al. | The Interference Suppression in Pulse Sequence Signal Measurement for Calibration in Outdoor Field | |
| Vrooman | Vehicle level EMC testing methodology and correlation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041012 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070914 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071002 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071031 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101109 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111109 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121109 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121109 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131109 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |