CN214750573U - 检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种检测装置，涉及检测技术领域，检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；多个全频段探头与切换控制单元连接，切换控制单元还与扫频仪连接；多个全频段探头呈阵列排布，切换控制单元根据探头标识控制对应的探头进入工作状态，探测干扰信号，切换控制单元将干扰信号发送至扫频仪，扫频仪分析得出干扰信号的干扰强度数据，包括干扰频段及干扰强度。本申请通过设置多个高频探头，对待测物体不同位置的干扰强度和干扰频点进行探测，并将测试结果通过扫频仪传输到处理器进行分析存储，处理器根据不同探头的干扰强度和干扰频段，生成干扰云图，简便地完成对待测物体不同位置的检测，提高了检测效率。

Description

检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，具体而言，涉及一种检测装置。

背景技术

在各类产品研发过程中很难避免出现电磁互扰(ElectromagneticInterference，EMI)的问题，而且在定位干扰源和干扰路径的时候会花费大量时间和精力，往往还不一定能够精确的定位，如果使用辅助定位设备则需要手动对待测物体进行测试，影响检测效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检测装置，能够改善现有的测试装置需要对待测物体进行手动检测效率较低等问题。

本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型提供一种检测装置，所述检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；

所述多个全频段探头与所述切换控制单元连接，所述切换控制单元与所述扫频仪连接；

所述多个全频段探头呈阵列排布，所述切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收所述全频段探头探测的干扰信号；

所述切换控制单元将所述干扰信号发送至所述扫频仪，所述扫频仪分析得出所述干扰信号的干扰强度数据，所述干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。

在可选的实施方式中，所述检测装置包括处理器，所述处理器存储有每一个全频段探头的探头标识以及位置信息；

所述处理器与所述切换控制单元连接；

所述处理器用于向所述切换控制单元发出探测指令，以使所述切换控制单元根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，其中，所述探测指令包括所述全频段探头的探头标识。

在可选的实施方式中，所述处理器还与所述扫频仪连接；

所述扫频仪用于将所述干扰强度数据发送至所述处理器，所述处理器根据所述干扰强度数据以及所述全频段探头的位置信息生成干扰点云数据。

在可选的实施方式中，所述处理器用于根据所述干扰频段将多数干扰强度数据进行划分，生成不同干扰频段的干扰点云数据。

在可选的实施方式中，所述检测装置包括显示单元，所述显示单元与所述处理器连接，所述处理器将所述干扰点云数据发送至所述显示单元进行显示。

在可选的实施方式中，所述检测装置包括探头夹具，所述探头夹具上设置有多个安装部，多个所述安装部在所述探头夹具上呈阵列排布，每个所述全频段探头安装在一个所述安装部。

在可选的实施方式中，所述检测装置还包括输入输出单元，所述输入输出单元与所述处理器连接；

所述输入输出单元用于响应用户的操作，向所述处理器发送信号，所述信号包括全频段探头的位置信息和/或探头标识；

所述处理器根据所述信号确定所述全频段探头的探头标识；并依据所述全频段探头的探头标识生成探测指令，所述探测指令包括所述全频段探头的探头标识。

在可选的实施方式中，所述切换控制单元包括单片机。

在可选的实施方式中，所述扫频仪与所述处理器通过串口总线连接。

在可选的实施方式中，所述全频段探头与所述切换控制单元通过同轴线连接。

相对现有技术，本申请提供的检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；所述多个全频段探头与所述切换控制单元连接，所述切换控制单元还与所述扫频仪连接；所述多个全频段探头呈阵列排布，所述切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收所述全频段探头探测的干扰信号；所述切换控制单元将所述干扰信号发送至所述扫频仪，所述扫频仪分析得出所述干扰信号的干扰强度数据，所述干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。本申请通过设置多个全频段探头，对待测物体不同位置的干扰强度和干扰频点进行探测，并将测试结果通过扫频仪传输到处理器进行分析存储，处理器根据不同探头的干扰强度和干扰频段，生成干扰云图，简便地完成对待测物体不同位置的检测，提高了检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请提供的检测装置的功能模块示意图；

图2为本申请提供的另一种检测装置的功能模块示意图；

图3为本申请提供的一种全频段探头排列分布示意图；

图4为本申请提供的另一种检测装置的功能模块示意图；

图5为本申请提供的一种探头夹具的示意图。

图标：100-检测装置；110-扫频仪；120-切换控制单元；130-全频段探头；140-处理器；150-显示单元；160-探头夹具；170-输入输出单元。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

各类产品研发过程中，很难避免EMI的出现，为了消除或降低EMI首先应对干扰进行定位，现有的定位方式在定位干扰源和干扰路径的时候会花费大量时间和精力，往往还不一定能够精确的定位，如果使用辅助定位设备进行定位需要手动对待测物体进行测试，影响检测效率。

为了提高对干扰的检测、定位的效率，本实用新型提供一种检测装置，请参阅图1，图1示出了本实施例提供的检测装置100的功能模块示意图。

本实施例提供的检测装置100包括扫频仪110、切换控制单元120以及多个全频段探头130；多个全频段探头130与切换控制单元120连接，切换控制单元120与扫频仪110连接。多个全频段探头130呈阵列排布，用于在切换控制单元120的控制下对待测物体进行干扰探测，其中，每一个全频段探头130均具有可以唯一标识该全频段探头130的探头标识，切换控制单元120用于根据全频段探头130的探头标识控制对应的全频段探头130进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，全频段探头130将探测的干扰信号发送至切换控制单元120，切换控制单元120接收全频段探头130探测的干扰信号，并将干扰信号发送至扫频仪110，扫频仪110分析得出干扰信号的干扰强度数据，干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。

本实施例提供的检测装置100设置有多个全频段探头130，覆盖频率范围宽，多个全频段探头130呈阵列排布，可以对待测物体的各个位置进行探测，切换控制单元120可以根据全频段探头130的探头标识控制对应的全频段探头130进入工作状态，从而实现对待测物体特定位置进行探测，多个全频段探头130依次进入工作状态，可以实现对待测物体的探测全覆盖，无须手动对待测物体进行检测。切换控制单元120将全频段探头130探测的干扰信号发送至扫频仪110，扫频仪110对干扰信号进行分析得出干扰信号的干扰强度数据，包括干扰信号的干扰频段及干扰强度，从而实现对待测物体干扰信号的精确定位以及探测。

在一些可能的实现方式中，请参阅图2，检测装置100包括处理器140，处理器140存储有每一个全频段探头130的探头标识以及位置信息；处理器140与切换控制单元120及扫频仪110均连接。一方面，处理器140与切换控制单元120连接，可以向切换控制单元120发出探测指令，以使切换控制单元120根据全频段探头130的探头标识控制对应的全频段探头130进入工作状态，其中，探测指令包括全频段探头130的探头标识。

另一方面，处理器140与扫频仪110连接，例如，扫频仪110与处理器140通过串口总线连接。扫频仪110接收全频段探头130探测得到的干扰信号，分析生成干扰强度数据后，将干扰强度数据发送至处理器140，由于处理器140存储有每一个全频段探头130的探头标识以及位置信息，处理器140根据干扰强度数据以及全频段探头130的位置信息生成干扰点云数据，干扰点云数据包括发生干扰的位置以及干扰强度。

参阅图3，假定多个全频段探头130呈矩形阵列排布，在一种可能的实现方式中，多个全频段探头130设置成A～J行、1～15列，这样每一个全频段探头130可以用编号进行标识，如A1、J15。处理器140存储有每一个全频段探头130的探头标识以及位置信息，例如A1探头的位置为第A行第1列，J15探头的位置为第J行第15列。当处理器140向切换控制单元120发送探测指令，令A1探头首先进入工作状态，A1探头进行探测，其他的全频段探头130不工作，A1探头将探测到干扰信号发送至切换控制单元120，由切换控制单元120将该干扰信号发送至扫频仪110进行解析，扫频仪110解析得到A1探头的干扰强度数据，将A1探头的干扰强度数据发送至处理器140，处理器140根据A1探头的干扰强度数据以及A1探头的位置信息生成干扰点云数据，当处理器140接收多个不同全频段探头130的干扰强度数据时，生成多个全频段探头130的干扰点云数据，其中，干扰点云数据包括发生干扰的位置以及干扰强度。

例如，在一些可能的实现方式中，处理器140用于根据干扰频段将多个干扰强度数据进行划分，生成不同干扰频段的干扰点云数据。本实施例采用的全频段探头130覆盖频率范围宽，例如，A1探头探测到在20Khz时强度有-60db的尖峰，其他频点均为-90db、B5探头探测到在50Khz时强度为-50db，处理器140可以根据干扰的频段不同生成不同频段的干扰点云数据。

可以理解地，处理器140存储的全频段探头130的位置信息与全频段探头130实际的位置信息是一一对应的，因此处理器140生成的干扰点云数据可以实际地反应待测物体的干扰情况，实现定位干扰的功能，如A1探头探测到在20Khz时强度有-60db的尖峰，表示待测物体与A1探头对应的位置存在干扰，B5探头探测到在50Khz是强度有-50db，表示待测物体与B5探头对应的位置存在干扰，通过设置多个全频段探头130，多个全频段探头130按照设定的方式排布，对待测物体进行检测，一方面能够测得干扰的强度，另一方面可以根据不同的全频段探头130所处的位置不同，对待测物体上存在干扰的位置进行定位。

在一些可能的实现方式中，参阅图4，检测装置100包括显示单元150，显示单元150与处理器140连接，处理器140将干扰点云数据发送至显示单元150进行显示，显示单元150可以是显示器，例如LED显示屏、LCD显示器等，本实施例对此不作限定。

处理器140存储的全频段探头130的位置信息与全频段探头130实际的位置信息是一一对应的，因此全频段探头130的实际位置不应发生变化，应该保持恒定。在一些可能的实现方式中，请参阅图5，检测装置100包括探头夹具160，探头夹具160上设置有多个安装部(图未标)，多个安装部在探头夹具160上呈阵列排布，每个全频段探头130安装在一个安装部，从而将全频段探头130固定在探头夹具160上，保持各个全频段探头130的相对位置，使全频段探头130的实际位置关系与处理器140存储的全频段探头130的位置信息保持一致。

在一些可能的实现方式中，请继续参阅图4，检测装置还包括输入输出单元170，输入输出单元170与处理器140连接，输入输出单元170用于响应用户的操作，向处理器140发送信号，信号包括全频段探头130的位置信息；例如，该输入输出单元170可以是键盘、鼠标、触控屏幕等输入输出单元170，用户可以通过输入输出单元170向处理器140发送信号，该信号可以包括全频段探头130的位置信息和/或探头标识；处理器140根据该信号确定全频段探头130的探头标识；并依据全频段探头130的探头标识生成探测指令，探测指令包括全频段探头130的探头标识，例如，若用户通过输入输出单元170发送的信号包括全频段探头130的位置信息，处理器140根据位置信息确定全频段探头130的探头标识，并依据全频段探头130的探头标识生成探测指令；若用户通过输入输出单元170发送的信号包括全频段探头130的探头标识，则处理器140直接依据该全频段探头130的探头标识生成探测指令。

上述的切换控制单元120可以采用单片机，还可以是数字信号处理器140(DigitalSignal Processing，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。在一些可能的实现方式中，全频段探头130与切换控制单元120通过同轴线连接。

例如，切换控制单元120可以采用SKY-19256-701LF系列的单片机，该单片机具备4个射频通道，因此可以适用于具备4个全频段探头130的检测装置100，通过Mipi协议来切换射频1/2/3/4通道，让各通道在需要时直接进行工作，而不需要时保持关闭状态。当检测装置100具备更多的全频段探头130时，还可以采用其他具有相同或相似功能的切换控制单元120。

在对待测物体进行检测或探测时，首先将待测物体放置在探头夹具160上，控制多个全频段探头130依次进行探测，采集每一个全频段探头130对应位置处的干扰信号，扫频仪110对干扰信号进行解析得到干扰频段及干扰强度，处理器140根据不同全频段探头130探测的干扰频段及干扰强度生以及全频段探头130的位置信息生成干扰点云数据，解决了在解决干扰问题时需要耗费大量时间和精力寻找干扰源和干扰路径，自动、高效地实现对待测物体的全覆盖探测，自动定位干扰，节省人力无力。

综上所述，本申请提供的检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；多个全频段探头与切换控制单元连接，切换控制单元还与扫频仪连接；多个全频段探头呈阵列排布，切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收全频段探头探测的干扰信号；切换控制单元将干扰信号发送至扫频仪，扫频仪分析得出干扰信号的干扰强度数据，干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。本申请通过设置多个高频探头，对待测物体不同位置的干扰强度和干扰频点进行探测，并将测试结果通过扫频仪传输到处理器进行分析存储，处理器根据不同探头的干扰强度和干扰频段，生成干扰云图，简便地完成对待测物体不同位置的检测，提高了检测效率。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括扫频仪、切换控制单元以及多个全频段探头；

所述多个全频段探头与所述切换控制单元连接，所述切换控制单元与所述扫频仪连接；

所述多个全频段探头呈阵列排布，所述切换控制单元用于根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，探测待测物体的干扰信号，并接收所述全频段探头探测的干扰信号；

所述切换控制单元将所述干扰信号发送至所述扫频仪，所述扫频仪分析得出所述干扰信号的干扰强度数据，所述干扰强度数据包括干扰频段及干扰强度。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括处理器，所述处理器存储有每一个全频段探头的探头标识以及位置信息；

所述处理器与所述切换控制单元连接；

所述处理器用于向所述切换控制单元发出探测指令，以使所述切换控制单元根据全频段探头的探头标识控制对应的全频段探头进入工作状态，其中，所述探测指令包括所述全频段探头的探头标识。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述处理器还与所述扫频仪连接；

所述扫频仪用于将所述干扰强度数据发送至所述处理器，所述处理器根据所述干扰强度数据以及所述全频段探头的位置信息生成干扰点云数据。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括显示单元，所述显示单元与所述处理器连接，所述处理器将所述干扰点云数据发送至所述显示单元进行显示。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括探头夹具，所述探头夹具上设置有多个安装部，多个所述安装部在所述探头夹具上呈阵列排布，每个所述全频段探头安装在一个所述安装部。

6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括输入输出单元，所述输入输出单元与所述处理器连接；

所述输入输出单元用于响应用户的操作，向所述处理器发送信号，所述信号包括全频段探头的位置信息和/或探头标识；

所述处理器根据所述信号确定所述全频段探头的探头标识；并依据所述全频段探头的探头标识生成探测指令，所述探测指令包括所述全频段探头的探头标识。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述切换控制单元包括单片机。

8.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述扫频仪与所述处理器通过串口总线连接。

9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述全频段探头与所述切换控制单元通过同轴线连接。

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