CN101876674A - 特性阻抗测试系统及方法 - Google Patents

特性阻抗测试系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101876674A
CN101876674A CN2009103019988A CN200910301998A CN101876674A CN 101876674 A CN101876674 A CN 101876674A CN 2009103019988 A CN2009103019988 A CN 2009103019988A CN 200910301998 A CN200910301998 A CN 200910301998A CN 101876674 A CN101876674 A CN 101876674A
Authority
CN
China
Prior art keywords
measured
probe
pcb
circuit board
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2009103019988A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101876674B (zh
Inventor
梁献全
李昇军
陈永杰
许寿国
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2009103019988A priority Critical patent/CN101876674B/zh
Priority to US12/605,434 priority patent/US8081008B2/en
Publication of CN101876674A publication Critical patent/CN101876674A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101876674B publication Critical patent/CN101876674B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2843—In-circuit-testing

Abstract

一种特性阻抗测试方法，包括如下步骤：设置测试文档；获取待测零件的位置；将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上待测零件的位置；获取待测零件的特性阻抗；对待测零件的特性阻抗进行分析；生成测试报告并存储。本发明还提供一种特性阻抗测试系统。利用本发明可以自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。

Description

特性阻抗测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其是一种特性阻抗测试系统及方法。
背景技术
随着电子科学技术的发展，印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)已成为各种电器设备(如计算机)不可缺少的重要组成部分。由于印刷电路板的电路中传递有超高频率的微波信号，若要保证印刷电路板在使用时的可靠性，就必须在出厂时对其零件的特性阻抗进行检测。所述特性阻抗是指如果零件(如信号线)无限长所具有的阻抗，单位为欧姆。
以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作，由于检测的范围广、功能多，因此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳动强度大，工作效率低，而且容易产生人为错误，检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种特性阻抗测试系统，其可自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。
鉴于以上内容，还有必要提供一种特性阻抗测试方法，其可自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。
一种特性阻抗测试系统，运行于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连，该系统包括：文档设置模块，用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档，所述测试文档包括：待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置；探针定位模块，用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令，由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；所述探针定位模块，还用于判断探针定位是否准确；所述测试电脑还包括：信号测试模块，用于当探针定位准确时，获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗；所述信号测试模块，还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内；所述信号测试模块，还用于生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
一种特性阻抗测试方法，应用于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连，该方法包括如下步骤：于测试电脑中设置不同类型的印刷电路板的测试文档，所述测试文档包括：待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径；当测试开始时，测试电脑从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置；测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；当探针定位准确时，时域反射仪通过交换机将采集到的待测零件的特性阻抗返回至测试电脑；测试电脑根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内；测试电脑生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
相较于现有技术，所述的特性阻抗测试系统及方法，可以自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗，避免了人工作业的错误发生，提高了测试的可靠度及效率。
附图说明
图1是本发明特性阻抗测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中所示特性阻抗测试系统的功能模块图。
图3是本发明特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明特性阻抗测试系统较佳实施例的系统架构图，该特性阻抗测试20系统运行于测试电脑2中。其中，所述测试电脑2通过交换机4与控制电脑1和时域反射仪3相连，所述控制电脑1与机械手臂5相连。所述机械手臂5上安装有探针抓取装置50，该探针抓取装置50用于抓取时域反射仪3的探针。所述印刷电路板6放置于测试机台7上，在其它实施例中，所述印刷电路板6也可以用其它电子设备替代。
当测试开始后，特性阻抗测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令，所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的待测零件。然后，时域反射仪3将测试到的数据通过交换机4返回至测试电脑2。测试电脑2中的特性阻抗测试系统20对该测试数据进行分析处理。
如图2所示，是图1中所示特性阻抗测试系统20的功能模块图。所述特性阻抗测试系统20包括文档设置模块201、参数获取模块202、探针定位模块203和信号测试模块204。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
其中，所述文档设置模块201用于设置不同类型的印刷电路板6的测试文档，并将该测试文档存储在测试电脑2的存储器中(如硬盘)。所述测试文档中包括：待测零件在印刷电路板6中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径等。用户可以根据印刷电路板6的类型在所述测试文档中增加、修改或删除待测零件的种类和数量。在本实施例中，以测试印刷电路板6上一个零件的特性阻抗为例进行说明。
所述参数获取模块202用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。
所述探针定位模块203用于根据待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。在本实施例中，以印刷电路板6的中心为原点建立坐标系，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。
所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的待测零件。假设待测零件在印刷电路板6中的坐标位置为(10，12)，单位为毫米(mm)，则待测零件到原点的X轴偏移量为10毫米，Y轴偏移量为12毫米。当控制电脑1接收到探针定位模块203发送过来的探针定位指令后，控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针沿X轴正方向移动10毫米，沿Y轴正方向移动12毫米，定位到待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。待测零件在坐标系中的Z轴坐标为零，控制电脑1将根据探针抓取装置50相对于待测零件的高度控制时域反射仪3的探针沿Z轴方向移动。
所述探针定位模块203还用于判断探针定位是否准确。在本实施例中，如果测试电脑在设定的时间内(如5秒钟)接收到时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗，则探针定位模块203判断探针定位准确；如果测试电脑在设定的时间内没有接收到时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗，则探针定位模块203判断探针定位不准确，并输出定位失败信息，结束测试。
在其它实施例中，所述文档设置模块201还可以用于在测试文档中设定探针定位失败后，重新定位的次数及每次定位移动的方向。
所述探针定位模块203还用于在探针定位不准确时，重新计算待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，并向控制电脑1发出探针定位指令。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到该重新计算得到的坐标位置。其中，该探针定位指令包括重新计算得到的待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。在本实施例中，探针定位模块203重新计算待测零件在印刷电路板6中的坐标位置是指：探针定位模块203以待测零件的当前坐标位置为中心，以设定的方向(正方向或负方向)在X轴和Y轴上移动固定的距离，获得待测零件在印刷电路板6中新的坐标位置。
举例而言，假设设定重新定位的次数为两次。第一次重新定位时，以当前坐标位置(10，12)为中心，沿X轴正方向和Y轴正方向移动1毫米，得到待测零件在印刷电路板6中新的坐标位置(11，13)。如果探针定位仍不准确，则进行第二次重新定位。第二次重新定位时，以当前坐标位置(11，13)为中心，沿X轴负方向和Y轴负方向移动2毫米，得到待测零件在印刷电路板6中新的坐标位置(9，11)。如果在设定的重新定位的次数到达后，探针定位仍不准确，则探针定位模块203输出定位失败信息，结束测试。
在本实施例中，以变量i记录重新定位的次数，变量i的初始值等于0，每重新定位一次，将变量i的值累加1。假设重新定位的次数为N，如果i大于等于N，则探针定位模块203判断定位失败，并输出定位失败信息，结束测试。
所述信号测试模块204用于当探针定位准确时，获取时域反射仪3采集到的待测零件的特性阻抗，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为：E:\PCB\Test。
所述信号测试模块204还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定待测零件特性阻抗的标准值范围为[5，30]，单位为欧姆。如果时域反射仪3采集到的待测零件的特性阻抗为4.5欧姆，则信号测试模块204判断该待测零件的特性阻抗不合格。
所述信号测试模块204还用于生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。该测试报告包括待测零件的特性阻抗和分析结果等。
如图3所示，是本发明特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S1，文档设置模块201设置不同类型的印刷电路板6的测试文档，并将该测试文档存储在测试电脑2的存储器中。所述测试文档中包括：待测零件在印刷电路板6中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径等。
步骤S2，当测试开始时，参数获取模块202从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。
步骤S3，探针定位模块203根据待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。在本实施例中，以印刷电路板6的中心为原点建立坐标系，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。
所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的待测零件。
步骤S4，探针定位模块203判断探针定位是否准确。如果探针定位准确，执行步骤S5；如果探针定位不准确，则探针定位模块203输出定位失败信息，结束测试。
步骤S5，信号测试模块204获取时域反射仪3采集到的待测零件的特性阻抗，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为：E:\PCB\Test。
步骤S6，信号测试模块204根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储至设定的测试结果存储路径中。
步骤S7，信号测试模块204生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。该测试报告包括待测零件的特性阻抗和分析结果等。
在本实施例中，当探针定位不准确时，则结束测试流程。在其它实施例中，该方法还可以包括如下步骤(1)至步骤(3)。
步骤(1)，通过文档设置模块在测试文档中设定探针定位失败后，重新定位的次数及每次定位移动的方向。
步骤(2)，在探针定位不准确时，探针定位模块203重新计算待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，并向控制电脑1发出探针定位指令。所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到该重新计算得到的坐标位置。其中，该探针定位指令包括重新计算得到的待测零件在印刷电路板6中的坐标位置。在本实施例中，探针定位模块203重新计算待测零件在印刷电路板6中的坐标位置是指：探针定位模块203以待测零件的当前坐标位置为中心，以设定的方向(正方向或负方向)在X轴和Y轴上移动固定的距离，获得待测零件在印刷电路板6中新的坐标位置。
步骤(3)，如果在设定的重新定位的次数到达后，探针定位仍不准确，则探针定位模块203输出定位失败信息，结束测试。
本实施例是以一个待测零件为例进行说明的，如果印刷电路板6中包含两个以上的待测零件，则当测试完一个待测零件后，探针定位模块203将根据下一个待测零件在印刷电路板6中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。所述控制电脑1根据该偏移量控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的下一个待测零件，开始下一个测试流程，具体过程参阅图3的描述，在此不在赘述。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种特性阻抗测试系统，运行于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连，其特征在于，该系统包括：
文档设置模块，用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档，所述测试文档包括：待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径；
参数获取模块，用于当测试开始时，从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置；
探针定位模块，用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令，由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；
所述探针定位模块，还用于判断探针定位是否准确；
所述测试电脑还包括：
信号测试模块，用于当探针定位准确时，获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗；
所述信号测试模块，还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内；及
所述信号测试模块，还用于生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
2.如权利要求1所述的特性阻抗测试系统，其特征在于，所述探针定位模块根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令包括：
根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标位置是以印刷电路板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置。
3.如权利要求1所述的特性阻抗测试系统，其特征在于：
所述文档设置模块，还用于在测试文档中设定探针定位失败后，重新定位的次数及每次定位移动的方向；
所述探针定位模块，还用于在探针定位不准确时，重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置，并向控制电脑发出探针定位指令；
所述控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到该重新计算得到的坐标位置；及
所述探针定位模块，还用于当设定的重新定位次数到达后，如果探针定位仍不准确，则输出定位失败信息，结束测试。
4.如权利要求3所述的特性阻抗测试系统，其特征在于，所述探针定位模块重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置是指：以待测零件的当前坐标位置为中心，以设定的方向在X轴和Y轴上移动固定的距离，获得待测零件在印刷电路板中新的坐标位置。
5.如权利要求1或3所述的特性阻抗测试系统，其特征在于，所述探针定位模块还用于：
当印刷电路板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，根据下一个待测零件在印刷电路板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
6.一种特性阻抗测试方法，应用于测试电脑中，该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连，其特征在于，该方法包括如下步骤：
于测试电脑中设置不同类型的印刷电路板的测试文档，所述测试文档包括：待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径；
当测试开始时，测试电脑从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置；
测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；
控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件；
当探针定位准确时，时域反射仪通过交换机将采集到的待测零件的特性阻抗返回至测试电脑；
测试电脑根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析，以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内；及
测试电脑生成测试报告，并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
7.如权利要求6所述的特性阻抗测试方法，其特征在于，所述步骤测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令包括：
根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标位置是以印刷电路板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置。
8.如权利要求6所述的特性阻抗测试方法，其特征在于，还包括如下步骤：
于测试文档中设定探针定位失败后，重新定位的次数及每次定位移动的方向；
在探针定位不准确时，重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置，并向控制电脑发出探针定位指令；
控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到该重新计算得到的坐标位置；及
当设定的重新定位次数到达后，如果探针定位仍不准确，则测试电脑输出定位失败信息，结束测试。
9.如权利要求8所述的特性阻抗测试方法，其特征在于，所述步骤重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置包括：以待测零件的当前坐标位置为中心，以设定的方向在X轴和Y轴上移动固定的距离，获得待测零件在印刷电路板中新的坐标位置。
10.如权利要求6或8所述的特性阻抗测试方法，其特征在于，还包括步骤：
当印刷电路板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，测试电脑根据下一个待测零件在印刷电路板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
CN2009103019988A 2009-04-30 2009-04-30 特性阻抗测试系统及方法 Expired - Fee Related CN101876674B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2009103019988A CN101876674B (zh) 2009-04-30 2009-04-30 特性阻抗测试系统及方法
US12/605,434 US8081008B2 (en) 2009-04-30 2009-10-26 System and method for testing a characteristic impedance of an electronic component

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2009103019988A CN101876674B (zh) 2009-04-30 2009-04-30 特性阻抗测试系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101876674A true CN101876674A (zh) 2010-11-03
CN101876674B CN101876674B (zh) 2012-11-21

Family

ID=43019283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2009103019988A Expired - Fee Related CN101876674B (zh) 2009-04-30 2009-04-30 特性阻抗测试系统及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8081008B2 (zh)
CN (1) CN101876674B (zh)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102636698A (zh) * 2011-02-10 2012-08-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电路板自动化测试系统及方法
CN102694893A (zh) * 2011-03-15 2012-09-26 弗兰克公司 电话测试装置的tdr
CN102707147A (zh) * 2012-06-19 2012-10-03 清华大学 一种基于扫频法的大型电力设备阻抗特性的测试方法
CN103995202A (zh) * 2014-05-23 2014-08-20 深圳市易瑞来科技开发有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动化测量系统及方法
CN105675990A (zh) * 2016-01-01 2016-06-15 广州兴森快捷电路科技有限公司 多层互连线路板的链路阻抗测试方法
CN107271883A (zh) * 2017-06-27 2017-10-20 北京小米移动软件有限公司 电路检测方法及系统
CN107589300A (zh) * 2017-09-22 2018-01-16 信利光电股份有限公司 一种线路阻抗检测方法、系统、装置与可读存储介质
CN107632202A (zh) * 2017-09-22 2018-01-26 信利光电股份有限公司 贴钢片线路的阻抗测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN107656141A (zh) * 2017-09-22 2018-02-02 信利光电股份有限公司 线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质
CN107664717A (zh) * 2017-09-22 2018-02-06 信利光电股份有限公司 贴pi补强线路测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN107677890A (zh) * 2017-09-22 2018-02-09 信利光电股份有限公司 贴电磁屏蔽膜线路测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN109696616A (zh) * 2019-01-30 2019-04-30 大族激光科技产业集团股份有限公司 飞针测试机的测试方法及装置
CN110192114A (zh) * 2017-01-09 2019-08-30 卡普雷斯股份有限公司 位置校正方法和用于关于四个探针电阻测量进行位置校正的系统
CN110286269A (zh) * 2019-06-13 2019-09-27 广合科技（广州）有限公司 一种pcb板阻抗信息自动采集及分析方法
CN111352060A (zh) * 2020-04-01 2020-06-30 电子科技大学 一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101900787A (zh) * 2009-05-25 2010-12-01 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电路板测试系统及方法
CN102735953A (zh) * 2011-04-15 2012-10-17 纬创资通股份有限公司 自动化测试装置
US9239350B2 (en) 2012-02-29 2016-01-19 GM Global Technology Operations LLC Methods and apparatus for determining abnormal conditions in vehicular electrical system
WO2014150385A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Defelsko Corporation Probe communications module and a computing device
CN103995183B (zh) * 2014-06-06 2017-06-30 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种基于快速脉冲响应的pcb布线阻抗连续性检测方法
TWI530700B (zh) * 2015-03-11 2016-04-21 旺矽科技股份有限公司 測試機台及其操作方法
CN111352059B (zh) * 2020-04-01 2020-09-29 电子科技大学 一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法
CN116973673B (zh) * 2023-09-25 2024-01-05 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 电子器件的失效定位方法、装置、系统及计算机设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6891392B2 (en) * 2003-02-21 2005-05-10 Lsi Logic Corporation Substrate impedance measurement
US7726190B2 (en) * 2005-03-03 2010-06-01 Tokyo Electron Limited Device, method and program for inspecting microstructure
CN1916915A (zh) * 2005-08-19 2007-02-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 改良过孔阻抗的方法
CN101324643A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 传输线特性阻抗测试装置及测试方法
CN101930030B (zh) * 2009-06-26 2014-12-03 深圳市齐创美科技有限公司 电子信号走线特性阻抗测试系统及方法

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102636698A (zh) * 2011-02-10 2012-08-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电路板自动化测试系统及方法
CN102694893A (zh) * 2011-03-15 2012-09-26 弗兰克公司 电话测试装置的tdr
CN102707147A (zh) * 2012-06-19 2012-10-03 清华大学 一种基于扫频法的大型电力设备阻抗特性的测试方法
CN102707147B (zh) * 2012-06-19 2014-05-28 清华大学 一种基于扫频法的大型电力设备阻抗特性的测试方法
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动化测量系统及方法
CN103995202A (zh) * 2014-05-23 2014-08-20 深圳市易瑞来科技开发有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN103995202B (zh) * 2014-05-23 2017-01-04 深圳市易瑞来科技股份有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN105675990B (zh) * 2016-01-01 2019-01-18 广州兴森快捷电路科技有限公司 多层互连线路板的链路阻抗测试方法
CN105675990A (zh) * 2016-01-01 2016-06-15 广州兴森快捷电路科技有限公司 多层互连线路板的链路阻抗测试方法
US11131700B2 (en) 2017-01-09 2021-09-28 Capres A/S Position correction method and a system for position correction in relation to four probe resistance measurements
CN110192114A (zh) * 2017-01-09 2019-08-30 卡普雷斯股份有限公司 位置校正方法和用于关于四个探针电阻测量进行位置校正的系统
CN107271883A (zh) * 2017-06-27 2017-10-20 北京小米移动软件有限公司 电路检测方法及系统
CN107632202A (zh) * 2017-09-22 2018-01-26 信利光电股份有限公司 贴钢片线路的阻抗测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN107677890A (zh) * 2017-09-22 2018-02-09 信利光电股份有限公司 贴电磁屏蔽膜线路测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN107664717A (zh) * 2017-09-22 2018-02-06 信利光电股份有限公司 贴pi补强线路测试方法、系统、设备及可读存储介质
CN107656141A (zh) * 2017-09-22 2018-02-02 信利光电股份有限公司 线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质
CN107589300A (zh) * 2017-09-22 2018-01-16 信利光电股份有限公司 一种线路阻抗检测方法、系统、装置与可读存储介质
CN109696616A (zh) * 2019-01-30 2019-04-30 大族激光科技产业集团股份有限公司 飞针测试机的测试方法及装置
CN110286269A (zh) * 2019-06-13 2019-09-27 广合科技（广州）有限公司 一种pcb板阻抗信息自动采集及分析方法
CN111352060A (zh) * 2020-04-01 2020-06-30 电子科技大学 一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法

Also Published As

Publication number Publication date
US8081008B2 (en) 2011-12-20
CN101876674B (zh) 2012-11-21
US20100277198A1 (en) 2010-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101876674B (zh) 特性阻抗测试系统及方法
CN101865975B (zh) 主板测试系统及方法
CN101900787A (zh) 电路板测试系统及方法
JP5395272B2 (ja) オシロスコープ及びその信号波形収集と表示の方法及びシステム
CN101930030B (zh) 电子信号走线特性阻抗测试系统及方法
TWI445980B (zh) 訊號完整性測試系統及方法
CN103033738A (zh) 一种电路板全自动测试系统
CN101750597A (zh) 用于自动测试设备的有效性校准方法
CN102187233A (zh) 用于确定散射参数的测量系统
TW201500747A (zh) 自動化測量系統及方法
CN102636698A (zh) 电路板自动化测试系统及方法
CN110850269A (zh) 测试系统、测试方法、控制设备和存储介质
CN102799853A (zh) 电路板的测试点图形化辨识系统及方法
CN203178431U (zh) 一种电路板全自动测试系统
CN104297664A (zh) 主板时序测量装置及方法
US8008938B2 (en) Testing system module
CN208847781U (zh) 一种仿真万用表
CN108319516B (zh) 一种测试系统及测试方法
CN102967820A (zh) 移动终端和移动终端的自检方法
CN104251966A (zh) 自动化测量系统及方法
CN104569502A (zh) 一种具有自动对位功能的电板检测治具
TWI412754B (zh) 特性阻抗測試系統及方法
CN107271883A (zh) 电路检测方法及系统
CN113253006A (zh) 票据模块底板的检测方法、装置、计算机设备及存储介质
JP2978774B2 (ja) 無線機検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20121121

Termination date: 20150430

EXPY Termination of patent right or utility model