JP7312442B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査装置
が提供される。
少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査方法
が提供される。
図9は実施例に係る検査装置10の構成を例示するブロック図である。本実施例に係る検査装置10は、以下に説明する点を除いて実施形態に係る検査装置10と同様である。本実施例に係る検査装置10について以下に詳しく説明する。
1-1. 少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査装置。
1-2. 1-1.に記載の検査装置において、
周波数fmは、10Hz以上100kHz以下である検査装置。
1-3. 1-1.または1-2.に記載の検査装置において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査装置。
1-4. 1-3.に記載の検査装置において、
前記被測定物は鉄を含む検査装置。
1-5. 1-1.から1-4.のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査装置。
1-6. 1-5.に記載の検査装置において、
周波数fmは、前記電線に流れる電流の周波数fwの4倍以上である検査装置。
1-7. 1-1.から1-6.のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記生成部は、複数の周波数fmに対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査装置。
1-8. 1-7.に記載の検査装置において、
前記コイルを複数備え、
前記複数のコイルは互いに異なる周波数fmで変調された磁場を発生させる検査装置。
1-9. 1-1.から1-8.のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記生成部は、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査装置。
1-10. 1-1.から1-9.のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は1cm以上10cm以下である検査装置。
1-11. 1-1.から1-10.のいずれか一つに記載の検査装置において、
シャフトと、
前記シャフトの一端側に取り付けられ、前記コイルを支持するコイル支持部と、
前記シャフトの前記一端側に取り付けられ、前記磁気センサを支持するセンサ支持部と、
をさらに備え、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査装置。
1-12. 1-11.に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端とは反対側の他端側には、前記角度を操作する操作部が設けられている検査装置。
1-13. 1-11.または1-12.に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端側には、カメラが配置されている検査装置。
2-1. 少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査方法。
2-2. 2-1.に記載の検査方法において、
周波数fmは、10Hz以上100kHz以下である検査方法。
2-3. 2-1.または2-2.に記載の検査方法において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査方法。
2-4. 2-3.に記載の検査方法において、
前記被測定物は鉄を含む検査方法。
2-5. 2-1.から2-4.のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査方法。
2-6. 2-5.に記載の検査方法において、
周波数fmは、前記電線に流れる電流の周波数fwの4倍以上である検査方法。
2-7. 2-1.から2-6.のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記生成ステップでは、複数の周波数fmに対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査方法。
2-8. 2-7.に記載の検査方法において、
前記磁場発生ステップでは、複数の前記コイルから互いに異なる周波数fmで変調された磁場を発生させる検査方法。
2-9. 2-1.から2-8.のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記生成ステップでは、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査方法。
2-10. 2-1.から2-9.のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は1cm以上10cm以下である検査方法。
90 被測定物
92 電線
94 吊り下げ部品
96 碍子
100 測定装置
120 コイル
122 コイル支持部
130 連結部
140 磁気センサ
142 センサ支持部
150 カメラ
170 操作部
180 シャフト
190 持ち手
210 コイル駆動部
220 生成部
230 記憶部
240 表示部
302 支持部
303a,303b,305 回路
304a,304b,307 ケーブル
306 電池
308 位置調整部
309 カメラ支持部
311 第1角度調整部
312 第2角度調整部
314 固定具
400 端末
420 第1の表示内容
421 第2の表示内容
422 第1の遷移ボタン
423 撮影ボタン
424 画像表示部
425 測定情報表示部
426 保存ボタン
427 第3の表示内容
428 第2の遷移ボタン
429 ピン
430 測定情報
Claims (15)
- 少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、複数の周波数f m に対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記コイルを複数備え、
前記複数のコイルは互いに異なる周波数fmで変調された磁場を発生させる検査装置。 - 少なくとも一つの周波数f m で変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数f m 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記生成部は、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査装置。 - 少なくとも一つの周波数f m で変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部と、
シャフトと、
前記シャフトの一端側に取り付けられ、前記コイルを支持するコイル支持部と、
前記シャフトの前記一端側に取り付けられ、前記磁気センサを支持するセンサ支持部と、
を備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数f m 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査装置。 - 請求項4に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端とは反対側の他端側には、前記角度を操作する操作部が設けられている検査装置。 - 請求項4または5に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端側には、カメラが配置されている検査装置。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載の検査装置において、
周波数fmは、10Hz以上100kHz以下である検査装置。 - 請求項1から7のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査装置。 - 請求項8に記載の検査装置において、
前記被測定物は鉄を含む検査装置。 - 請求項1から9のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査装置。 - 請求項10に記載の検査装置において、
周波数fmは、前記電線に流れる電流の周波数fwの4倍以上である検査装置。 - 請求項1から11のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は1cm以上10cm以下である検査装置。 - 少なくとも一つの周波数fmで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数fm成分を検波して検波信号を生成し、複数の周波数f m に対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査方法。 - 少なくとも一つの周波数f m で変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数f m 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記生成ステップでは、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査方法。 - 少なくとも一つの周波数f m で変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数f m 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記コイルは、シャフトの一端側に取り付けられたコイル支持部に支持されており、
前記磁気センサは、前記シャフトの前記一端側に取り付けられたセンサ支持部に支持されており、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査方法。
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JP2019144195A JP7312442B2 (ja) | 2019-08-06 | 2019-08-06 | 検査装置および検査方法 |
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JP2019144195A Active JP7312442B2 (ja) | 2019-08-06 | 2019-08-06 | 検査装置および検査方法 |
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