JPH11144274A - ガルバノミラーの偏向角検出装置 - Google Patents
ガルバノミラーの偏向角検出装置Info
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- JPH11144274A JPH11144274A JP32702497A JP32702497A JPH11144274A JP H11144274 A JPH11144274 A JP H11144274A JP 32702497 A JP32702497 A JP 32702497A JP 32702497 A JP32702497 A JP 32702497A JP H11144274 A JPH11144274 A JP H11144274A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高精度に偏向ミラーの偏向角を検出すること
ができる偏向角検出装置を提供すること。 【解決手段】 電磁駆動により偏向ミラーを取り付けた
可動部を回転軸を中心に所定角度範囲回動させるガルバ
ノミラーにおいて、前記偏光ミラーに角度検出光を入射
させてその反射光を入射角度に応じて反射率が変化する
分離面を有する光束分離手段によって2光束に分離し、
これらの2光束の光量を2つの光検出器で独立に検出
し、これら2つの光検出器の出力の差により前記偏向ミ
ラーの偏向角を検出する 構成とした。
ができる偏向角検出装置を提供すること。 【解決手段】 電磁駆動により偏向ミラーを取り付けた
可動部を回転軸を中心に所定角度範囲回動させるガルバ
ノミラーにおいて、前記偏光ミラーに角度検出光を入射
させてその反射光を入射角度に応じて反射率が変化する
分離面を有する光束分離手段によって2光束に分離し、
これらの2光束の光量を2つの光検出器で独立に検出
し、これら2つの光検出器の出力の差により前記偏向ミ
ラーの偏向角を検出する 構成とした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ガルバノミラー
の偏向角検出装置に関し、特に光学式情報記録再生装置
の微動トラッキングの認識に好適な技術に関するもので
ある。
の偏向角検出装置に関し、特に光学式情報記録再生装置
の微動トラッキングの認識に好適な技術に関するもので
ある。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】近時、面記録密度が1
0Gビット/(インチ)2を越える光磁気ディスク装置の
開発が進んでいる。この装置では、光磁気ディスクのト
ラックと交差する方向に例えば回動する粗動用アームの
先端部に設けた対物光学系に対するレーザ光束の入射角
をガルバノミラー等の偏向手段により微調整して、微動
トラッキングを例えば0.34μmと狭いトラックピッチ
レベルで正確に行うようなことが考えられている。この
場合、微動トラッキングを実現するためには、ガルバノ
ミラーのミラー回動量を検出する必要がある。
0Gビット/(インチ)2を越える光磁気ディスク装置の
開発が進んでいる。この装置では、光磁気ディスクのト
ラックと交差する方向に例えば回動する粗動用アームの
先端部に設けた対物光学系に対するレーザ光束の入射角
をガルバノミラー等の偏向手段により微調整して、微動
トラッキングを例えば0.34μmと狭いトラックピッチ
レベルで正確に行うようなことが考えられている。この
場合、微動トラッキングを実現するためには、ガルバノ
ミラーのミラー回動量を検出する必要がある。
【0003】
【課題を解決するための手段】この発明は、上述のよう
な背景に鑑みてなさせたものであり、請求項1の発明
は、電磁駆動により偏向ミラーを取り付けた可動部を回
転軸を中心に所定角度範囲回動させるガルバノミラーに
おいて、前記偏光ミラーに角度検出光を入射させてその
反射光を入射角度に応じて反射率が変化する分離面を有
する光束分離手段によって2光束に分離し、これらの2
光束の光量を2つの光検出器で独立に検出し、これら2
つの光検出器の出力の差により前記偏向ミラーの偏向角
を検出するようにしたことを特徴とする。
な背景に鑑みてなさせたものであり、請求項1の発明
は、電磁駆動により偏向ミラーを取り付けた可動部を回
転軸を中心に所定角度範囲回動させるガルバノミラーに
おいて、前記偏光ミラーに角度検出光を入射させてその
反射光を入射角度に応じて反射率が変化する分離面を有
する光束分離手段によって2光束に分離し、これらの2
光束の光量を2つの光検出器で独立に検出し、これら2
つの光検出器の出力の差により前記偏向ミラーの偏向角
を検出するようにしたことを特徴とする。
【0004】
【発明の実施の形態】まず、近年のコンピューターにま
つわるハード,ソフトの進歩に伴う外部記憶装置への要
求、特に大記憶容量への要求の高まりに対して提案され
たニア・フィールド記録(NFR:near field recordin
g) 技術と呼ばれる記録再生方式を用いた光磁気ディス
ク記録再生装置の概要を図1乃至図5を参照して説明す
る。
つわるハード,ソフトの進歩に伴う外部記憶装置への要
求、特に大記憶容量への要求の高まりに対して提案され
たニア・フィールド記録(NFR:near field recordin
g) 技術と呼ばれる記録再生方式を用いた光磁気ディス
ク記録再生装置の概要を図1乃至図5を参照して説明す
る。
【0005】図1はその光ディスク装置の全体概要図で
ある。ディスクドライブ装置1には光ディスク2が図示
しないスピンドルモータの回転軸に装着されている。一
方、光ディスク2の情報を再生または記録するために回
動(粗動)アーム3が光ディスク2の記録面に対して平
行になるように取り付けられている。この回動アーム3
はボイスコイルモーター4によって回転軸5を回転中心
として回動可能となっている。この回動アーム3の光デ
ィスク2に対向する先端には、光学素子を搭載した浮上
型光学ヘッド6が搭載されている。また、回動アーム3
の回転軸5近傍には光源ユニットおよび受光ユニットを
備えた光源モジュール7が配設され、回動アーム3と一
体となって駆動する構成となっている。
ある。ディスクドライブ装置1には光ディスク2が図示
しないスピンドルモータの回転軸に装着されている。一
方、光ディスク2の情報を再生または記録するために回
動(粗動)アーム3が光ディスク2の記録面に対して平
行になるように取り付けられている。この回動アーム3
はボイスコイルモーター4によって回転軸5を回転中心
として回動可能となっている。この回動アーム3の光デ
ィスク2に対向する先端には、光学素子を搭載した浮上
型光学ヘッド6が搭載されている。また、回動アーム3
の回転軸5近傍には光源ユニットおよび受光ユニットを
備えた光源モジュール7が配設され、回動アーム3と一
体となって駆動する構成となっている。
【0006】図2、図3は回動アーム3の先端部を説明
するものであり、特に浮上型光学ヘッド6を詳細に説明
するものである。浮上型光学ユニット6はフレクシャー
ビーム8に取り付けられており、光ディスク2に対向し
て配置されている。また、フレクシャービーム8は他端
で回動アーム3に固着されており、フレクシャービーム
8の弾性力により先端部の浮上光学ユニット6を光ディ
スク2に接触させる方向に加圧している。
するものであり、特に浮上型光学ヘッド6を詳細に説明
するものである。浮上型光学ユニット6はフレクシャー
ビーム8に取り付けられており、光ディスク2に対向し
て配置されている。また、フレクシャービーム8は他端
で回動アーム3に固着されており、フレクシャービーム
8の弾性力により先端部の浮上光学ユニット6を光ディ
スク2に接触させる方向に加圧している。
【0007】浮上型光学ユニット6は浮上スライダー
9,対物レンズ10,ソリッドイマージョンレンズ(S
IL)11,磁気コイル12から構成されており、光源
モジュール7から出射された平行なレーザー光束13を
光ディスク2上に収束させるはたらきをする。また、回
動アーム3の先端部には前記レーザー光束13を浮上型
光学ユニット6に導くために立ち上げミラー31が固着
されている。 立ち上げミラー31により対物レンズ1
0に入射したレーザー光束13は、対物レンズ10の屈
折作用により収束される。この集光点近傍にはソリッド
イマージョンレンズ(SIL)11が配置されており、
前記収束光を更に微細なエバネッセント光15として光
ディスク2に照射させる。
9,対物レンズ10,ソリッドイマージョンレンズ(S
IL)11,磁気コイル12から構成されており、光源
モジュール7から出射された平行なレーザー光束13を
光ディスク2上に収束させるはたらきをする。また、回
動アーム3の先端部には前記レーザー光束13を浮上型
光学ユニット6に導くために立ち上げミラー31が固着
されている。 立ち上げミラー31により対物レンズ1
0に入射したレーザー光束13は、対物レンズ10の屈
折作用により収束される。この集光点近傍にはソリッド
イマージョンレンズ(SIL)11が配置されており、
前記収束光を更に微細なエバネッセント光15として光
ディスク2に照射させる。
【0008】また、光ディスク2に面したソリッドイマ
ージョンレンズ(SIL)11の周囲には、光磁気記録
方式で記録するための磁気コイル12が形成されてお
り、記録時には必要な磁界を光ディスク2の記録面上に
印加出来るようになっている。このエバネッセント光1
5と磁気コイル12により、光ディスク2への高密度な
記録および再生が可能となる。なお、浮上型光学ユニッ
ト6は光ディスク2の回転による空気流により微小量浮
上するものであり、光ディスク2の面振れ等に追従す
る。このため従来の光ディスク装置では必要であった対
物レンズの焦点制御(フォーカスサーボ)が不要となっ
ている。
ージョンレンズ(SIL)11の周囲には、光磁気記録
方式で記録するための磁気コイル12が形成されてお
り、記録時には必要な磁界を光ディスク2の記録面上に
印加出来るようになっている。このエバネッセント光1
5と磁気コイル12により、光ディスク2への高密度な
記録および再生が可能となる。なお、浮上型光学ユニッ
ト6は光ディスク2の回転による空気流により微小量浮
上するものであり、光ディスク2の面振れ等に追従す
る。このため従来の光ディスク装置では必要であった対
物レンズの焦点制御(フォーカスサーボ)が不要となっ
ている。
【0009】以下、図4,図5を用いて回動アーム3上
に搭載された光源モジュール7および浮上型光学ユニッ
ト6へ導かれる光束に関し詳細に説明する。回動アーム
3は先端部に浮上型光学ユニット6を搭載し、他端には
ボイスコイルモーター4を駆動するための駆動コイル1
6が固着されている。駆動コイル16は扁平状のコイル
であり、図示せぬ磁気回路内に空隙をおいて挿入配置さ
れている。回転軸5と回動アーム3はベアリング17,
17により回動自在に締結されており、駆動コイルに電
流を印加すると磁気回路との電磁作用により回転軸5を
回転中心として回動アーム3を回動させることができ
る。
に搭載された光源モジュール7および浮上型光学ユニッ
ト6へ導かれる光束に関し詳細に説明する。回動アーム
3は先端部に浮上型光学ユニット6を搭載し、他端には
ボイスコイルモーター4を駆動するための駆動コイル1
6が固着されている。駆動コイル16は扁平状のコイル
であり、図示せぬ磁気回路内に空隙をおいて挿入配置さ
れている。回転軸5と回動アーム3はベアリング17,
17により回動自在に締結されており、駆動コイルに電
流を印加すると磁気回路との電磁作用により回転軸5を
回転中心として回動アーム3を回動させることができ
る。
【0010】回動アーム3上に搭載された光源モジュー
ル7には半導体レーザー18,レーザー駆動回路19,
コリメートレンズ20,複合プリズムアッセイ21,レ
ーザーパワーモニターセンサー22,反射プリズム2
3,データ検出センサー24,およびトラッキング検出
センサー25が配置されている。半導体レーザー18か
ら放出された発散光束状態のレーザー光束は、コリメー
トレンズ20によって平行光束に変換される。この平行
光束の断面形状は半導体レーザー18の特性から長円状
であり、光ビームを光ディスク2上に微小に絞り込むに
は都合が悪いため略円形断面に変換する必要がある。こ
のためコリメートレンズ20から出射された断面長円状
の平行光束を、複合プリズムアッセイ21に入射させる
ことにより平行光束の断面形状を整形する。
ル7には半導体レーザー18,レーザー駆動回路19,
コリメートレンズ20,複合プリズムアッセイ21,レ
ーザーパワーモニターセンサー22,反射プリズム2
3,データ検出センサー24,およびトラッキング検出
センサー25が配置されている。半導体レーザー18か
ら放出された発散光束状態のレーザー光束は、コリメー
トレンズ20によって平行光束に変換される。この平行
光束の断面形状は半導体レーザー18の特性から長円状
であり、光ビームを光ディスク2上に微小に絞り込むに
は都合が悪いため略円形断面に変換する必要がある。こ
のためコリメートレンズ20から出射された断面長円状
の平行光束を、複合プリズムアッセイ21に入射させる
ことにより平行光束の断面形状を整形する。
【0011】複合プリズムアッセイ21の入射面21a
は入射光軸に対して所定の斜面を形成しており、入射光
を屈折させることにより平行光束の断面形状を長円形状
から略円形形状に整形することが出来る。整形されたレ
ーザー光束は複合プリズムアッセイ21内を進み第1の
ハーフミラー面21bに入射する。第1のハーフミラー
面21bは光ディスク2から得られた情報を、データ検
出センサー24,およびトラッキング検出センサー25
に導くために設定されているが、往路においては半導体
レーザー18から出射されたレーザーの出力パワーを検
出するためのレーザーパワーモニターセンサー22への
光束を分離する役目を果たす。
は入射光軸に対して所定の斜面を形成しており、入射光
を屈折させることにより平行光束の断面形状を長円形状
から略円形形状に整形することが出来る。整形されたレ
ーザー光束は複合プリズムアッセイ21内を進み第1の
ハーフミラー面21bに入射する。第1のハーフミラー
面21bは光ディスク2から得られた情報を、データ検
出センサー24,およびトラッキング検出センサー25
に導くために設定されているが、往路においては半導体
レーザー18から出射されたレーザーの出力パワーを検
出するためのレーザーパワーモニターセンサー22への
光束を分離する役目を果たす。
【0012】レーザーパワーモニターセンサー22は受
光した光の強度に比例した電流を出力するため、図示せ
ぬレーザーパワーコントロール回路にこの出力を帰還さ
せることにより半導体レーザー18の出力を安定化させ
ることが出来る。複合プリズムアッセイ21から出射さ
れた略円形断面形状をもったレーザー光束13は偏向ミ
ラー26に照射され、レーザー光束13の進行方向が変
えられる。この偏向ミラー26は紙面に垂直な軸を回動
中心とするガルバノモーター27に取り付いており、レ
ーザー光束13を紙面に平行な方向に微小角度振ること
が出来るようになっている。
光した光の強度に比例した電流を出力するため、図示せ
ぬレーザーパワーコントロール回路にこの出力を帰還さ
せることにより半導体レーザー18の出力を安定化させ
ることが出来る。複合プリズムアッセイ21から出射さ
れた略円形断面形状をもったレーザー光束13は偏向ミ
ラー26に照射され、レーザー光束13の進行方向が変
えられる。この偏向ミラー26は紙面に垂直な軸を回動
中心とするガルバノモーター27に取り付いており、レ
ーザー光束13を紙面に平行な方向に微小角度振ること
が出来るようになっている。
【0013】また、ガルバノモーター27には偏向ミラ
ー26の回転角度を検出する偏向ミラー位置検出センサ
ー28が配設されている。偏向ミラー26を反射したレ
ーザー光束13は、第1のリレーレンズ29および第2
のリレーレンズ(イメージングレンズ)30を経て、立
ち上げミラー31で反射後浮上型光学ユニット6に至
る。この第1のリレーレンズ29および第2のリレーレ
ンズ30は、偏向ミラー26の反射面と浮上型光学ユニ
ット6に配置されている対物レンズ10の瞳面(主平
面)との関係を共役関係になるようにするもので、リレ
ーレンズ光学系を形成するものである。すなわち光ディ
スク2上の集光ビームが所定のトラックから僅かにずれ
た場合、偏向ミラー26を僅かに回転させることにより
対物レンズ10に入射させるレーザー光束13を傾か
せ、光ディスク2上の焦点を移動させて補正するもので
ある。しかしながら、この方式で焦点の補正を行う時、
偏向ミラー26と対物レンズ10の光学的距離が長い場
合は、対物レンズ10へ入射するレーザー光束13の移
動量が大きくなり、対物レンズ10に入射出来なくなる
場合がある。
ー26の回転角度を検出する偏向ミラー位置検出センサ
ー28が配設されている。偏向ミラー26を反射したレ
ーザー光束13は、第1のリレーレンズ29および第2
のリレーレンズ(イメージングレンズ)30を経て、立
ち上げミラー31で反射後浮上型光学ユニット6に至
る。この第1のリレーレンズ29および第2のリレーレ
ンズ30は、偏向ミラー26の反射面と浮上型光学ユニ
ット6に配置されている対物レンズ10の瞳面(主平
面)との関係を共役関係になるようにするもので、リレ
ーレンズ光学系を形成するものである。すなわち光ディ
スク2上の集光ビームが所定のトラックから僅かにずれ
た場合、偏向ミラー26を僅かに回転させることにより
対物レンズ10に入射させるレーザー光束13を傾か
せ、光ディスク2上の焦点を移動させて補正するもので
ある。しかしながら、この方式で焦点の補正を行う時、
偏向ミラー26と対物レンズ10の光学的距離が長い場
合は、対物レンズ10へ入射するレーザー光束13の移
動量が大きくなり、対物レンズ10に入射出来なくなる
場合がある。
【0014】この様な現象を回避するため、第1のリレ
ーレンズ29および第2のリレーレンズ30によって、
偏向ミラー26の反射面と対物レンズ10の瞳面との関
係を共役関係になるように設定し、偏向ミラー26が回
動しても対物レンズ10に入射するレーザー光束13は
移動せず、正確なトラッキング制御が可能となるように
している。なお、光ディスク2の内周/外周に渡るアク
セス動作は、ボイスコイルモーター4により回動アーム
3を回動させて行い、極微小なトラッキング制御のみ偏
向ミラー26を回動させて行う。
ーレンズ29および第2のリレーレンズ30によって、
偏向ミラー26の反射面と対物レンズ10の瞳面との関
係を共役関係になるように設定し、偏向ミラー26が回
動しても対物レンズ10に入射するレーザー光束13は
移動せず、正確なトラッキング制御が可能となるように
している。なお、光ディスク2の内周/外周に渡るアク
セス動作は、ボイスコイルモーター4により回動アーム
3を回動させて行い、極微小なトラッキング制御のみ偏
向ミラー26を回動させて行う。
【0015】光ディスク2から反射されて戻ってきた復
路のレーザー光束13は、往路と逆に進み偏向ミラー2
6に反射されて複合プリズムアッセイ21に入射する。
その後第1のハーフミラー面21bで反射され、第2の
ハーフミラー面21cに向かう。第2のハーフミラー面
21cは、トラッキング検出センサー25へ向かう透過
光と、データ検出センサー24へ向かう反射光を生成
し、復路のレーザー光束を分離する。第2のハーフミラ
ー面21cを透過したレーザー光束はトラッキング検出
センサー25へ照射され、トラッキング誤差信号を出力
する。
路のレーザー光束13は、往路と逆に進み偏向ミラー2
6に反射されて複合プリズムアッセイ21に入射する。
その後第1のハーフミラー面21bで反射され、第2の
ハーフミラー面21cに向かう。第2のハーフミラー面
21cは、トラッキング検出センサー25へ向かう透過
光と、データ検出センサー24へ向かう反射光を生成
し、復路のレーザー光束を分離する。第2のハーフミラ
ー面21cを透過したレーザー光束はトラッキング検出
センサー25へ照射され、トラッキング誤差信号を出力
する。
【0016】一方、第2のハーフミラー面21cで反射
されたレーザー光束はウォラストンプリズム32により
偏光分離され、かつ集光レンズ33によって収束光に変
換後、反射プリズム23で反射されてデータ検出センサ
ー24に照射される。データ検出センサー24は2つの
受光領域をもっており、ウォラストンプリズム32によ
り偏光分離された2つの偏光ビームをそれぞれ受光する
ことにより、光ディスク2に記録されているデータ情報
を読み取りデータ信号を出力する。なお、正確には前記
トラッキング誤差信号およびデータ信号は図示せぬヘッ
ドアンプ回路によって生成され、制御回路または情報処
理回路に送られるものである。
されたレーザー光束はウォラストンプリズム32により
偏光分離され、かつ集光レンズ33によって収束光に変
換後、反射プリズム23で反射されてデータ検出センサ
ー24に照射される。データ検出センサー24は2つの
受光領域をもっており、ウォラストンプリズム32によ
り偏光分離された2つの偏光ビームをそれぞれ受光する
ことにより、光ディスク2に記録されているデータ情報
を読み取りデータ信号を出力する。なお、正確には前記
トラッキング誤差信号およびデータ信号は図示せぬヘッ
ドアンプ回路によって生成され、制御回路または情報処
理回路に送られるものである。
【0017】次に、図6〜9を参照して、上記ディスク
ドライブ装置1に適用されるガルバノミラーの位置検出
センサー28の構成について説明する。図6に示すよう
に、偏向ミラー26(ガルバノミラー)の裏面(光源モ
ジュール7から射出された光束が反射され第1のリレー
レンズ7へ向かう面26aと反対側の面)26bに反射
面126が形成されており、反射面126に向けて、光
源60から角度検出用の光束が照射される。角度検出用
光束は所定の方向の偏光光束である。反射面126で反
射された光束は、ビームスプリッター40に入射し、そ
の一部は分離面40aで光検出器51に向けて反射さ
れ、一部は分離面40aを透過して光検出器52に照射
される。ここで、ビームスプリッター40の分離面40
aは、入射光束(偏光光束)の入射角に応じてその反射
率が変化するようなコーティングがなされている。図9
にビームスプリッター40の傾角特性(分離面40aへ
の光束の入射角θと反射率との関係)を示す。
ドライブ装置1に適用されるガルバノミラーの位置検出
センサー28の構成について説明する。図6に示すよう
に、偏向ミラー26(ガルバノミラー)の裏面(光源モ
ジュール7から射出された光束が反射され第1のリレー
レンズ7へ向かう面26aと反対側の面)26bに反射
面126が形成されており、反射面126に向けて、光
源60から角度検出用の光束が照射される。角度検出用
光束は所定の方向の偏光光束である。反射面126で反
射された光束は、ビームスプリッター40に入射し、そ
の一部は分離面40aで光検出器51に向けて反射さ
れ、一部は分離面40aを透過して光検出器52に照射
される。ここで、ビームスプリッター40の分離面40
aは、入射光束(偏光光束)の入射角に応じてその反射
率が変化するようなコーティングがなされている。図9
にビームスプリッター40の傾角特性(分離面40aへ
の光束の入射角θと反射率との関係)を示す。
【0018】図6〜図8に示すように、偏向ミラー26
が回動すると、それに応じて反射面126で反射されて
ビームスプリッター40へ入射する光束と分離面40a
とがなす角θが変化する。この時、光検出器51、52
上には常に光束(入射角θに応じて光検出器51にはP
1、P2またはP3、光検出器52にはP1'、P2'またはP3')
が入射する。しかし、図8に示す関係から、光検出器5
1、52に入射する光量は偏向ミラー26の偏向角に応
じて変化する。すなわち、光検出器51に入射する光束
の光量は、入射各θが小さくなるに従って増加し、光検
出器52に入射する光束の光量はθが小さくなるに従っ
て減少する。この関係を利用して、光検出器51の出力
Aと光検出器52の出力Bとの差(A−B)に基づき、
偏向ミラーの偏向角を正確検出することができる。
が回動すると、それに応じて反射面126で反射されて
ビームスプリッター40へ入射する光束と分離面40a
とがなす角θが変化する。この時、光検出器51、52
上には常に光束(入射角θに応じて光検出器51にはP
1、P2またはP3、光検出器52にはP1'、P2'またはP3')
が入射する。しかし、図8に示す関係から、光検出器5
1、52に入射する光量は偏向ミラー26の偏向角に応
じて変化する。すなわち、光検出器51に入射する光束
の光量は、入射各θが小さくなるに従って増加し、光検
出器52に入射する光束の光量はθが小さくなるに従っ
て減少する。この関係を利用して、光検出器51の出力
Aと光検出器52の出力Bとの差(A−B)に基づき、
偏向ミラーの偏向角を正確検出することができる。
【0019】
【発明の効果】上述の通り、偏向ミラーに角度検出光を
入射し、その反射光をさらに入射角度に応じて反射率が
変化する分離面で分離させ、その分離面で反射した反射
光の光量と分離面を透過した光束の光量とをそれぞれ光
検出器で検出し、その出力の差に基づいて前記偏向ミラ
ーの偏向角を検出するようにしたため、偏向ミラーの特
定の方向の角度検出を高精度に行うことができ、さらに
は、光検出器の調整も容易に行うことが可能になる。
入射し、その反射光をさらに入射角度に応じて反射率が
変化する分離面で分離させ、その分離面で反射した反射
光の光量と分離面を透過した光束の光量とをそれぞれ光
検出器で検出し、その出力の差に基づいて前記偏向ミラ
ーの偏向角を検出するようにしたため、偏向ミラーの特
定の方向の角度検出を高精度に行うことができ、さらに
は、光検出器の調整も容易に行うことが可能になる。
【図1】実施形態の光磁気ディスク装置の基本構成を示
す図である。
す図である。
【図2】回動アームの先端部を示す図である。
【図3】浮上型光学ユニットを示す断面図である。
【図4】偏向ミラーと浮上型光学ユニットを示す平面図
である。
である。
【図5】回動アームの側断面図である。
【図6】位置検出センサーの構成を詳細に示す図であ
る。
る。
【図7】偏向ミラーの異なる回動位置における光検出器
への入射光束の位置を示す図である。
への入射光束の位置を示す図である。
【図8】偏向ミラーの異なる回動位置における光検出器
への入射光束の位置を示す図である。
への入射光束の位置を示す図である。
【図9】ビームスプリッターの傾角特性を示す図であ
る。
る。
2 光ディスク 3 回動アーム 4 ボイスコイルモーター 6 浮上型光学ユニット 8 フレクシャー 26 偏向ミラー 29 第1のリレーレンズ 30 第2のリレーレンズ(イメージングレン
ズ) 40 ビームスプリッター 51 光検出器 52 光検出器 60 角度検出用光源
ズ) 40 ビームスプリッター 51 光検出器 52 光検出器 60 角度検出用光源
Claims (1)
- 【請求項1】 電磁駆動により偏向ミラーを取り付けた
可動部を回転軸を中心に所定角度範囲回動させるガルバ
ノミラーにおいて、前記偏光ミラーに角度検出光を入射
させてその反射光を入射角度に応じて反射率が変化する
分離面を有する光束分離手段によって2光束に分離し、
これらの2光束の光量を2つの光検出器で独立に検出
し、これら2つの光検出器の出力の差により前記偏向ミ
ラーの偏向角を検出するようにしたことを特徴とするガ
ルバノミラーの偏向角検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32702497A JPH11144274A (ja) | 1997-11-12 | 1997-11-12 | ガルバノミラーの偏向角検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32702497A JPH11144274A (ja) | 1997-11-12 | 1997-11-12 | ガルバノミラーの偏向角検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11144274A true JPH11144274A (ja) | 1999-05-28 |
Family
ID=18194465
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32702497A Pending JPH11144274A (ja) | 1997-11-12 | 1997-11-12 | ガルバノミラーの偏向角検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11144274A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003076873A1 (fr) * | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Olympus Optical Co., Ltd. | Detecteur d'angle de miroir, systeme de commutation de signaux optiques, et procede de commutation de signaux optiques |
US6975389B2 (en) | 2002-03-20 | 2005-12-13 | Olympus Corporation | Deflection angle measuring device, optical signal switching system, information recording and replaying system, deflection angle measuring method, and optical signal switching method |
US7113269B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-09-26 | Olympus Corporation | Angle measuring device, optical switching system, and information recording/replaying system |
US7116412B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-10-03 | Olympus Corporation | Angle detection optical system, angle detection apparatus, optical signal switch system and information recording and reproduction system |
US7151596B2 (en) | 2002-07-05 | 2006-12-19 | Olympus Optical Co., Ltd. | Deflection angle detecting device |
EP2549223A1 (en) * | 2011-07-20 | 2013-01-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser light deflection amount detecting apparatus, displacement measuring apparatus, method for manufacturing mold for molding optical element, and optical element |
-
1997
- 1997-11-12 JP JP32702497A patent/JPH11144274A/ja active Pending
Cited By (7)
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US7113269B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-09-26 | Olympus Corporation | Angle measuring device, optical switching system, and information recording/replaying system |
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EP2549223A1 (en) * | 2011-07-20 | 2013-01-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser light deflection amount detecting apparatus, displacement measuring apparatus, method for manufacturing mold for molding optical element, and optical element |
US8867036B2 (en) | 2011-07-20 | 2014-10-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser light deflection amount detecting apparatus, displacement measuring apparatus, method for manufacturing mold for molding optical element, and optical element |
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