JPH11134677A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JPH11134677A JPH11134677A JP9299079A JP29907997A JPH11134677A JP H11134677 A JPH11134677 A JP H11134677A JP 9299079 A JP9299079 A JP 9299079A JP 29907997 A JP29907997 A JP 29907997A JP H11134677 A JPH11134677 A JP H11134677A
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- diffracted light
- diffraction grating
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G—PHYSICS
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- G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
- G11B7/00718—Groove and land recording, i.e. user data recorded both in the grooves and on the lands
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- G—PHYSICS
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
- G11B7/0903—Multi-beam tracking systems
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0912—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by push-pull method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号
にオフセットを生じず、かつ同一幅のランド／グルーブ
の位置検出が可能な光ヘッド装置を提供する。 【解決手段】 光源１、回折格子３ａ、対物レンズ５、
及び光検出器８ａと、この光検出器の出力に基づいてト
ラック誤差信号を生成する信号処理回路とを備えてい
る。回折格子は、光入射面が複数の領域に分割されると
共に、隣接する領域間では透過光の位相が異なるように
設定されている。これを、＋１次回折光，０次光及び−
１次回折光が光記録媒体上で同一のトラックに配置され
るように制御する。回折格子は、隣接する領域間で透過
光の位相がπ／２ずれるように構成する。光検出器は、
回折格子を透過した＋１次回折光及び−１次回折光を当
該回折格子の分割された領域毎に受光する複数の受光部
から構成する。信号処理回路は、複数の受光素子の出力
に基づいて光記録媒体上の集光スポットがランド又はグ
ルーブのいずれに配置されているかを判別可能な信号を
生成するように構成する。
にオフセットを生じず、かつ同一幅のランド／グルーブ
の位置検出が可能な光ヘッド装置を提供する。 【解決手段】 光源１、回折格子３ａ、対物レンズ５、
及び光検出器８ａと、この光検出器の出力に基づいてト
ラック誤差信号を生成する信号処理回路とを備えてい
る。回折格子は、光入射面が複数の領域に分割されると
共に、隣接する領域間では透過光の位相が異なるように
設定されている。これを、＋１次回折光，０次光及び−
１次回折光が光記録媒体上で同一のトラックに配置され
るように制御する。回折格子は、隣接する領域間で透過
光の位相がπ／２ずれるように構成する。光検出器は、
回折格子を透過した＋１次回折光及び−１次回折光を当
該回折格子の分割された領域毎に受光する複数の受光部
から構成する。信号処理回路は、複数の受光素子の出力
に基づいて光記録媒体上の集光スポットがランド又はグ
ルーブのいずれに配置されているかを判別可能な信号を
生成するように構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ヘッド装置に係
り、特に、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号
にオフセットを生じず、かつランド／グルーブの位置検
出も可能な光ヘッド装置に関する。
り、特に、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号
にオフセットを生じず、かつランド／グルーブの位置検
出も可能な光ヘッド装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ヘッド装置におけるトラック誤差信号
の検出方法の一つとしてプッシュプル法が知られてい
る。プッシュプル法は、光学系および電気回路の構成が
簡単であるが、対物レンズがシフトするとトラック誤差
信号にオフセットを生じる。
の検出方法の一つとしてプッシュプル法が知られてい
る。プッシュプル法は、光学系および電気回路の構成が
簡単であるが、対物レンズがシフトするとトラック誤差
信号にオフセットを生じる。
【０００３】これに対し、回折格子により０次光、±１
次回折光の３つのビームを生成し、０次光と±１次回折
光の差動により対物レンズシフト時のトラック誤差信号
のオフセットを相殺する方法が知られている。光の入射
側から見た光記録媒体の凹部、凸部をそれぞれランド、
グルーブと呼ぶと、この方法では、０次光をランド（ま
たはグルーブ）上に、±１次回折光を隣接するグルーブ
（またはランド）上にそれぞれ配置する。ところが、設
計と異なるトラックピッチの光記録媒体に対しては、３
つの集光スポットをこのように配置することができず、
対物レンズシフト時のトラック誤差信号のオフセットを
相殺することができない。
次回折光の３つのビームを生成し、０次光と±１次回折
光の差動により対物レンズシフト時のトラック誤差信号
のオフセットを相殺する方法が知られている。光の入射
側から見た光記録媒体の凹部、凸部をそれぞれランド、
グルーブと呼ぶと、この方法では、０次光をランド（ま
たはグルーブ）上に、±１次回折光を隣接するグルーブ
（またはランド）上にそれぞれ配置する。ところが、設
計と異なるトラックピッチの光記録媒体に対しては、３
つの集光スポットをこのように配置することができず、
対物レンズシフト時のトラック誤差信号のオフセットを
相殺することができない。
【０００４】これに対し、互いに位相がπずれた２つの
領域から成る回折格子により０次光、±１次回折光の３
つのビームを生成し、０次光と±１次回折光の差動によ
り対物レンズシフト時のトラック誤差信号のオフセット
を相殺する方法が、特開平９−８１９４２号公報に開示
されている。この方法では、０次光、±１次回折光を同
一のランド（またはグルーブ）上に配置する。従って、
設計と異なるトラックピッチの光記録媒体に対しても、
３つの集光スポットの配置は変わらず、対物レンズシフ
ト時のトラック誤差信号のオフセットを相殺することが
できる。
領域から成る回折格子により０次光、±１次回折光の３
つのビームを生成し、０次光と±１次回折光の差動によ
り対物レンズシフト時のトラック誤差信号のオフセット
を相殺する方法が、特開平９−８１９４２号公報に開示
されている。この方法では、０次光、±１次回折光を同
一のランド（またはグルーブ）上に配置する。従って、
設計と異なるトラックピッチの光記録媒体に対しても、
３つの集光スポットの配置は変わらず、対物レンズシフ
ト時のトラック誤差信号のオフセットを相殺することが
できる。
【０００５】図１７にこの方法を用いた従来の光ヘッド
装置の構成を示す。半導体レーザ５１からの出射光はコ
リメータレンズ５２で平行光化され、回折格子５３ｄに
より０次光、±１次回折光の３つの光に分割される。こ
れらの光はビームスプリッタ５４を約半分が透過し、対
物レンズ５５によりディスク５６上に集光される。ディ
スク５６からの３つの反射光は対物レンズ５５を透過
し、ビームスプリッタ５４で約半分が反射され、複合レ
ンズ５７を介して光検出器５８ｄに受光される。複合レ
ンズ５７は凸レンズと円筒レンズとの組み合わせから成
り、光検出器５８ｄは複合レンズ５７の２つの焦線の中
間に設置されている。
装置の構成を示す。半導体レーザ５１からの出射光はコ
リメータレンズ５２で平行光化され、回折格子５３ｄに
より０次光、±１次回折光の３つの光に分割される。こ
れらの光はビームスプリッタ５４を約半分が透過し、対
物レンズ５５によりディスク５６上に集光される。ディ
スク５６からの３つの反射光は対物レンズ５５を透過
し、ビームスプリッタ５４で約半分が反射され、複合レ
ンズ５７を介して光検出器５８ｄに受光される。複合レ
ンズ５７は凸レンズと円筒レンズとの組み合わせから成
り、光検出器５８ｄは複合レンズ５７の２つの焦線の中
間に設置されている。
【０００６】図１８は回折格子５３ｄの平面図である。
回折格子５３ｄは、領域７８ａ、領域７８ｂの２領域に
分割されている。その分割線は、入射光５９の光軸を通
るタンジェンシャル方向（トラックに平行な方向）の直
線である。領域７８ａ、領域７８ｂの格子の位相は互い
にπずれている。従って、領域７８ａからの±１次回折
光と領域７８ｂからの±１次回折光の位相は互いにπず
れる。
回折格子５３ｄは、領域７８ａ、領域７８ｂの２領域に
分割されている。その分割線は、入射光５９の光軸を通
るタンジェンシャル方向（トラックに平行な方向）の直
線である。領域７８ａ、領域７８ｂの格子の位相は互い
にπずれている。従って、領域７８ａからの±１次回折
光と領域７８ｂからの±１次回折光の位相は互いにπず
れる。
【０００７】図１９にディスク５６上の集光スポットの
配置を示す。集光スポット７９ａ、７９ｂ、７９ｃは、
それぞれ０次光、＋１次回折光、−１次回折光に相当
し、同一のトラック６１（ランドまたはグルーブ）上に
配置されている。集光スポット７９ｂ、７９ｃは、ラジ
アル方向（トラックに垂直な方向）に強度の等しい２つ
のピークを持つ。
配置を示す。集光スポット７９ａ、７９ｂ、７９ｃは、
それぞれ０次光、＋１次回折光、−１次回折光に相当
し、同一のトラック６１（ランドまたはグルーブ）上に
配置されている。集光スポット７９ｂ、７９ｃは、ラジ
アル方向（トラックに垂直な方向）に強度の等しい２つ
のピークを持つ。
【０００８】図２０に光検出器５８ｄの受光部と光検出
器５８ｄ上の光スポットの配置を示す。光スポット８０
ａは０次光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方向
およびラジアル方向の２つの直線で４つに分割された受
光部８１ａ〜８１ｄで受光される。光スポット８０ｂは
＋１次回折光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方
向の直線で２つに分割された受光部８１ｅ、８１ｆで受
光される。光スポット８０ｃは−１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割さ
れた受光部８１ｇ、８１ｈで受光される。ディスク５６
上の集光スポット７９ａ〜７９ｃはタンジェンシャル方
向に並ぶが、光検出器５８ｄ上の光スポット８０ａ〜８
０ｃは、複合レンズ５７の作用によりラジアル方向に並
ぶ。
器５８ｄ上の光スポットの配置を示す。光スポット８０
ａは０次光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方向
およびラジアル方向の２つの直線で４つに分割された受
光部８１ａ〜８１ｄで受光される。光スポット８０ｂは
＋１次回折光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方
向の直線で２つに分割された受光部８１ｅ、８１ｆで受
光される。光スポット８０ｃは−１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割さ
れた受光部８１ｇ、８１ｈで受光される。ディスク５６
上の集光スポット７９ａ〜７９ｃはタンジェンシャル方
向に並ぶが、光検出器５８ｄ上の光スポット８０ａ〜８
０ｃは、複合レンズ５７の作用によりラジアル方向に並
ぶ。
【０００９】受光部８１ａ〜８１ｈの出力をＶ８１ａ〜
Ｖ８１ｈとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｄ）−（Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ
８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−
（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝（Ｋは定数）の演算から得ら
れる。また、再生信号はＶ８１ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ
＋Ｖ８１ｄの演算から得られる。
Ｖ８１ｈとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｄ）−（Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ
８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−
（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝（Ｋは定数）の演算から得ら
れる。また、再生信号はＶ８１ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ
＋Ｖ８１ｄの演算から得られる。
【００１０】図２１に、ディスク５６上の集光スポット
７９ａとトラック６１の位置ずれに伴うディスク５６か
らの０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光ス
ポット７９ａは光ビーム６６ｄにより形成される。
７９ａとトラック６１の位置ずれに伴うディスク５６か
らの０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光ス
ポット７９ａは光ビーム６６ｄにより形成される。
【００１１】図２１（ａ）の（１）では、光ビーム６６
ｄがグルーブ６７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の位相を０とすると、±１次回折光の位相は−π／
２となる。図２１（ａ）の（２）では、光ビーム６６ｄ
がグルーブ６７ａとランド６７ｂの境界上に照射されて
いる。このとき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ
／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、
０次光の位相を０とすると、＋１次回折光の位相は±
π、−１次回折光の位相は０となる。図２１（ａ）の
（３）では、光ビーム６６ｄがランド６７ｂ上に照射さ
れている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の位相を０とすると、±１次回折光の位相は
π／２となる。図２１（ａ）の（４）では、光ビーム６
６ｄがランド６７ｂとグルーブ６７ａの境界上に照射さ
れている。このとき（３）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の位相を０とすると、＋１次回折光の位相は
０、−１次回折光の位相は±πとなる。
ｄがグルーブ６７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の位相を０とすると、±１次回折光の位相は−π／
２となる。図２１（ａ）の（２）では、光ビーム６６ｄ
がグルーブ６７ａとランド６７ｂの境界上に照射されて
いる。このとき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ
／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、
０次光の位相を０とすると、＋１次回折光の位相は±
π、−１次回折光の位相は０となる。図２１（ａ）の
（３）では、光ビーム６６ｄがランド６７ｂ上に照射さ
れている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の位相を０とすると、±１次回折光の位相は
π／２となる。図２１（ａ）の（４）では、光ビーム６
６ｄがランド６７ｂとグルーブ６７ａの境界上に照射さ
れている。このとき（３）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の位相を０とすると、＋１次回折光の位相は
０、−１次回折光の位相は±πとなる。
【００１２】図２１（ｂ）に示す、０次光と＋１次回折
光の重なる領域８２ａ、及び０次光と−１次回折光の重
なる領域８２ｂにおける強度は以下のようになる。図２
１（ａ）の（１）では、０次光と±１次回折光の位相差
は共にπ／２であるため、領域８２ａ、領域８２ｂにお
ける強度は等しい。図２１（ａ）の（２）では、０次光
と＋１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合い、０
次光と−１次回折光の位相差は０で干渉により強め合う
ため、領域８２ａにおける強度は低く、領域８２ｂにお
ける強度は高い。図２１（ａ）の（３）では、０次光と
±１次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域８
２ａ、領域８２ｂにおける強度は等しい。図２１（ａ）
の（４）では、０次光と＋１次回折光の位相差は０で干
渉により強め合い、０次光と−１次回折光の位相差はπ
で干渉により弱め合うため、領域８２ａにおける強度は
高く、領域８２ｂにおける強度は低い。
光の重なる領域８２ａ、及び０次光と−１次回折光の重
なる領域８２ｂにおける強度は以下のようになる。図２
１（ａ）の（１）では、０次光と±１次回折光の位相差
は共にπ／２であるため、領域８２ａ、領域８２ｂにお
ける強度は等しい。図２１（ａ）の（２）では、０次光
と＋１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合い、０
次光と−１次回折光の位相差は０で干渉により強め合う
ため、領域８２ａにおける強度は低く、領域８２ｂにお
ける強度は高い。図２１（ａ）の（３）では、０次光と
±１次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域８
２ａ、領域８２ｂにおける強度は等しい。図２１（ａ）
の（４）では、０次光と＋１次回折光の位相差は０で干
渉により強め合い、０次光と−１次回折光の位相差はπ
で干渉により弱め合うため、領域８２ａにおける強度は
高く、領域８２ｂにおける強度は低い。
【００１３】図２２に、ディスク５６上の集光スポット
７９ｂとトラック６１の位置ずれに伴うディスク５６か
らの０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光ス
ポット７９ｂは光ビーム６６ｅにより形成される。光ビ
ーム６６ｅは、左側と右側の位相が互いにπずれてい
る。
７９ｂとトラック６１の位置ずれに伴うディスク５６か
らの０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光ス
ポット７９ｂは光ビーム６６ｅにより形成される。光ビ
ーム６６ｅは、左側と右側の位相が互いにπずれてい
る。
【００１４】図２２（ａ）の（１）では、光ビーム６６
ｅがグルーブ６７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、±１次回折光の左側の位相は−π、右側の位相は
０となる。図２２（ａ）の（２）では、光ビーム６６ｅ
がグルーブ６７ａとランド６７ｂの境界上に照射されて
いる。このとき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ
／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、
０次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２と
すると、＋１次回折光の左側の位相はπ／２、右側の位
相は−π／２、−１次回折光の左側の位相は−π／２、
右側の位相はπ／２となる。図２２（ａ）の（３）で
は、光ビーム６６ｅがランド６７ｂ上に照射されてい
る。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相はπ／
２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、±１次回折光の左側の位相は０、右側の位相はπ
となる。図２２（ａ）の（４）では、光ビーム６６ｅが
ランド６７ｂとグルーブ６７ａの境界上に照射されてい
る。このとき（３）に対し、＋１次回折光の位相はπ／
２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、＋１次回折光の左側の位相は−π／２、右側の位
相はπ／２、−１次回折光の左側の位相はπ／２、右側
の位相は−π／２となる。
ｅがグルーブ６７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、±１次回折光の左側の位相は−π、右側の位相は
０となる。図２２（ａ）の（２）では、光ビーム６６ｅ
がグルーブ６７ａとランド６７ｂの境界上に照射されて
いる。このとき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ
／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、
０次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２と
すると、＋１次回折光の左側の位相はπ／２、右側の位
相は−π／２、−１次回折光の左側の位相は−π／２、
右側の位相はπ／２となる。図２２（ａ）の（３）で
は、光ビーム６６ｅがランド６７ｂ上に照射されてい
る。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相はπ／
２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、±１次回折光の左側の位相は０、右側の位相はπ
となる。図２２（ａ）の（４）では、光ビーム６６ｅが
ランド６７ｂとグルーブ６７ａの境界上に照射されてい
る。このとき（３）に対し、＋１次回折光の位相はπ／
２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０
次光の左側の位相を−π／２、右側の位相をπ／２とす
ると、＋１次回折光の左側の位相は−π／２、右側の位
相はπ／２、−１次回折光の左側の位相はπ／２、右側
の位相は−π／２となる。
【００１５】図２２（ｂ）に示す、０次光と＋１次回折
光の重なる領域８３ａと、０次光と−１次回折光の重な
る領域８３ｂとにおける強度は以下のようになる。図２
２（ａ）の（１）では、０次光と±１次回折光の位相差
は共にπ／２であるため、領域８３ａ、領域８３ｂにお
ける強度は等しい。図２２（ａ）の（２）では、０次光
と＋１次回折光の位相差は０で干渉により強め合い、０
次光と−１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合う
ため、領域８３ａにおける強度は高く、領域８３ｂにお
ける強度は低い。図２２（ａ）の（３）では、０次光と
±１次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域８
３ａ、領域８３ｂにおける強度は等しい。図２２（ａ）
の（４）では、０次光と＋１次回折光の位相差はπで干
渉により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は０
で干渉により強め合うため、領域８３ａにおける強度は
低く、領域８３ｂにおける強度は高い。
光の重なる領域８３ａと、０次光と−１次回折光の重な
る領域８３ｂとにおける強度は以下のようになる。図２
２（ａ）の（１）では、０次光と±１次回折光の位相差
は共にπ／２であるため、領域８３ａ、領域８３ｂにお
ける強度は等しい。図２２（ａ）の（２）では、０次光
と＋１次回折光の位相差は０で干渉により強め合い、０
次光と−１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合う
ため、領域８３ａにおける強度は高く、領域８３ｂにお
ける強度は低い。図２２（ａ）の（３）では、０次光と
±１次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域８
３ａ、領域８３ｂにおける強度は等しい。図２２（ａ）
の（４）では、０次光と＋１次回折光の位相差はπで干
渉により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は０
で干渉により強め合うため、領域８３ａにおける強度は
低く、領域８３ｂにおける強度は高い。
【００１６】図２３にトラック誤差信号に関わる各種の
波形を示す。横軸はディスク５６上の集光スポットとト
ラック６１との位置ずれであり、矢印のａ〜ｄがそれぞ
れ図２１（ａ）、図２２（ａ）の（１）〜（４）の状態
に対応している。
波形を示す。横軸はディスク５６上の集光スポットとト
ラック６１との位置ずれであり、矢印のａ〜ｄがそれぞ
れ図２１（ａ）、図２２（ａ）の（１）〜（４）の状態
に対応している。
【００１７】図２１（ｂ）の領域８２ａは光検出器５８
ｄの受光部８１ｃ，８１ｄに、領域８２ｂは光検出器５
８ｄの受光部８１ａ，８１ｂにそれぞれ対応する。この
とき、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１
ｄ）の波形は図２３（ａ）の実線のようになる。図２２
（ｂ）の領域８３ａは光検出器５８ｄの受光部８１ｆ
に、領域８３ｂは光検出器５８ｄの受光部８１ｅにそれ
ぞれ対応する。このとき、Ｖ８１ｅ−Ｖ８１ｆの波形は
図２３（ｂ）の実線のようになる。同様の考察により、
Ｖ８１ｇ−Ｖ８１ｈの波形は図２３（ｃ）の実線のよう
になる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）
−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）の波形は図２３（ｄ）の実線
のようになる。（ａ）、（ｄ）の波形は逆相であるた
め、トラック誤差信号である｛（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）
−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１
ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝の波形は図２３（ｅ）
の実線のようになる。
ｄの受光部８１ｃ，８１ｄに、領域８２ｂは光検出器５
８ｄの受光部８１ａ，８１ｂにそれぞれ対応する。この
とき、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１
ｄ）の波形は図２３（ａ）の実線のようになる。図２２
（ｂ）の領域８３ａは光検出器５８ｄの受光部８１ｆ
に、領域８３ｂは光検出器５８ｄの受光部８１ｅにそれ
ぞれ対応する。このとき、Ｖ８１ｅ−Ｖ８１ｆの波形は
図２３（ｂ）の実線のようになる。同様の考察により、
Ｖ８１ｇ−Ｖ８１ｈの波形は図２３（ｃ）の実線のよう
になる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）
−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）の波形は図２３（ｄ）の実線
のようになる。（ａ）、（ｄ）の波形は逆相であるた
め、トラック誤差信号である｛（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）
−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１
ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝の波形は図２３（ｅ）
の実線のようになる。
【００１８】対物レンズ５５がラジアル方向にシフトす
ると、光検出器５８ｄ上の光スポット８０ａ〜８０ｃも
ラジアル方向にシフトする。光スポット８０ａ〜８０ｃ
が図２０で上向きにシフトしたとすると、受光部８１
ａ、８１ｂの出力は増え、受光部８１ｃ、８１ｄの出力
は減るため、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ
８１ｄ）の波形は図２３（ａ）の点線のようになる。受
光部８１ｅの出力は増え、受光部８１ｆの出力は減るた
め、Ｖ８１ｅ−Ｖ８１ｆの波形は図２３（ｂ）の点線の
ようになる。同様に、Ｖ８１ｇ−Ｖ８１ｈの波形は図２
３（ｃ）の点線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、
（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）の波
形は図２３（ｄ）の点線のようになる。（ａ）、（ｄ）
の波形は逆相であるが対物レンズシフト時の直流成分は
同符号であるため、トラック誤差信号である｛（Ｖ８１
ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ
８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝の波形
は図２３（ｅ）の実線のようになる。すなわち、対物レ
ンズがシフトしてもトラック誤差信号にオフセットを生
じない。
ると、光検出器５８ｄ上の光スポット８０ａ〜８０ｃも
ラジアル方向にシフトする。光スポット８０ａ〜８０ｃ
が図２０で上向きにシフトしたとすると、受光部８１
ａ、８１ｂの出力は増え、受光部８１ｃ、８１ｄの出力
は減るため、（Ｖ８１ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ
８１ｄ）の波形は図２３（ａ）の点線のようになる。受
光部８１ｅの出力は増え、受光部８１ｆの出力は減るた
め、Ｖ８１ｅ−Ｖ８１ｆの波形は図２３（ｂ）の点線の
ようになる。同様に、Ｖ８１ｇ−Ｖ８１ｈの波形は図２
３（ｃ）の点線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、
（Ｖ８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）の波
形は図２３（ｄ）の点線のようになる。（ａ）、（ｄ）
の波形は逆相であるが対物レンズシフト時の直流成分は
同符号であるため、トラック誤差信号である｛（Ｖ８１
ａ＋Ｖ８１ｂ）−（Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ
８１ｅ＋Ｖ８１ｇ）−（Ｖ８１ｆ＋Ｖ８１ｈ）｝の波形
は図２３（ｅ）の実線のようになる。すなわち、対物レ
ンズがシフトしてもトラック誤差信号にオフセットを生
じない。
【００１９】ここで、光ヘッド装置においては、ランド
（またはグルーブ）にアクセスを行う場合、トラックサ
ーボの暴走を防ぐため、集光スポットがランド（または
グルーブ）上に位置することを確認してからトラックサ
ーボを引き込むことが望ましい。このため、集光スポッ
トがランド、グルーブのどちらの上に位置するかを検出
する機能（ランド／グルーブの位置検出機能）が必要と
される。
（またはグルーブ）にアクセスを行う場合、トラックサ
ーボの暴走を防ぐため、集光スポットがランド（または
グルーブ）上に位置することを確認してからトラックサ
ーボを引き込むことが望ましい。このため、集光スポッ
トがランド、グルーブのどちらの上に位置するかを検出
する機能（ランド／グルーブの位置検出機能）が必要と
される。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光ヘッド装置には、ランド／グルーブの位置検出が必ず
しもできないという不都合がある。グルーブ６７ａとラ
ンド６７ｂの幅が異なる場合は、集光スポット７９ａが
グルーブ６７ａ上に位置する場合とランド６７ｂ上に位
置する場合でＶ８１ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ
のレベルが異なるため、ランド／グルーブの位置検出が
可能であるが、グルーブ６７ａとランド６７ｂの幅が同
一の場合は、集光スポット７９ａがグルーブ６７ａ上に
位置する場合とランド６７ｂ上に位置する場合でＶ８１
ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄのレベルが同一のた
め、ランド／グルーブの位置検出が不可能となるからで
ある。
光ヘッド装置には、ランド／グルーブの位置検出が必ず
しもできないという不都合がある。グルーブ６７ａとラ
ンド６７ｂの幅が異なる場合は、集光スポット７９ａが
グルーブ６７ａ上に位置する場合とランド６７ｂ上に位
置する場合でＶ８１ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄ
のレベルが異なるため、ランド／グルーブの位置検出が
可能であるが、グルーブ６７ａとランド６７ｂの幅が同
一の場合は、集光スポット７９ａがグルーブ６７ａ上に
位置する場合とランド６７ｂ上に位置する場合でＶ８１
ａ＋Ｖ８１ｂ＋Ｖ８１ｃ＋Ｖ８１ｄのレベルが同一のた
め、ランド／グルーブの位置検出が不可能となるからで
ある。
【００２１】
【発明の目的】本発明は、かかる従来例の有する不都合
を改善し、特に、対物レンズがシフトしてもトラック誤
差信号にオフセットを生じず、かつ同一幅のランド／グ
ルーブの位置検出が可能な光ヘッド装置を提供すること
を、その目的とする。
を改善し、特に、対物レンズがシフトしてもトラック誤
差信号にオフセットを生じず、かつ同一幅のランド／グ
ルーブの位置検出が可能な光ヘッド装置を提供すること
を、その目的とする。
【００２２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、光源と、この光源の出力光を＋１次回
折光，０次光及び−１次回折光に分離する回折格子とを
備えている。また、この回折格子の透過光を光記録媒体
の情報記録面に集光する対物レンズと、光記録媒体から
の反射光を受光する光検出器と、この光検出器の出力に
基づいてトラック誤差信号を生成する信号処理回路とを
有する。このうち、回折格子は、光入射面が複数の領域
に分割されると共に、隣接する領域間では透過光の位相
が異なるように設定されている。そして、＋１次回折
光，０次光及び−１次回折光が光記録媒体上で同一のラ
ンド又はグルーブに配置されるように制御される。特に
本発明では、回折格子を、隣接する領域間で透過光の位
相がπ／２ずれるように構成する。また、光検出器は、
回折格子を透過した＋１次回折光及び−１次回折光を当
該回折格子の分割された領域毎に受光する複数の受光部
から構成する。更に、信号処理回路は、複数の受光部の
出力に基づいて光記録媒体上の集光スポットがランド又
はグルーブのいずれに配置されているかを判別可能な信
号を生成するように構成する。
め、本発明では、光源と、この光源の出力光を＋１次回
折光，０次光及び−１次回折光に分離する回折格子とを
備えている。また、この回折格子の透過光を光記録媒体
の情報記録面に集光する対物レンズと、光記録媒体から
の反射光を受光する光検出器と、この光検出器の出力に
基づいてトラック誤差信号を生成する信号処理回路とを
有する。このうち、回折格子は、光入射面が複数の領域
に分割されると共に、隣接する領域間では透過光の位相
が異なるように設定されている。そして、＋１次回折
光，０次光及び−１次回折光が光記録媒体上で同一のラ
ンド又はグルーブに配置されるように制御される。特に
本発明では、回折格子を、隣接する領域間で透過光の位
相がπ／２ずれるように構成する。また、光検出器は、
回折格子を透過した＋１次回折光及び−１次回折光を当
該回折格子の分割された領域毎に受光する複数の受光部
から構成する。更に、信号処理回路は、複数の受光部の
出力に基づいて光記録媒体上の集光スポットがランド又
はグルーブのいずれに配置されているかを判別可能な信
号を生成するように構成する。
【００２３】この際、回折格子は、光記録媒体のトラッ
クに平行な方向の直線により２つの領域に分割されてい
ても良い。また、回折格子は、光記録媒体のトラックに
平行な方向の直線により３つの領域に分割されていても
良い。更にまた、回折格子は、光記録媒体のトラックに
平行な方向の直線と当該光記録媒体のトラックに垂直な
方向の直線とにより４つの領域に分割されていても良
い。また本発明は、光記録媒体と光検出器との間に当該
光記録媒体からの反射光を透過するホログラム素子が装
備されていても良い。これらにより前述した目的を達成
しようとするものである。
クに平行な方向の直線により２つの領域に分割されてい
ても良い。また、回折格子は、光記録媒体のトラックに
平行な方向の直線により３つの領域に分割されていても
良い。更にまた、回折格子は、光記録媒体のトラックに
平行な方向の直線と当該光記録媒体のトラックに垂直な
方向の直線とにより４つの領域に分割されていても良
い。また本発明は、光記録媒体と光検出器との間に当該
光記録媒体からの反射光を透過するホログラム素子が装
備されていても良い。これらにより前述した目的を達成
しようとするものである。
【００２４】本発明の光ヘッド装置では、互いに位相が
π／２ずれた隣接領域から成る回折格子により、光源か
らの出射光を０次光、±１次回折光の３つの光に分割
し、３つの集光スポットを光記録媒体の同一のトラック
上に配置する。そして、光記録媒体で反射された回折格
子の各領域からの±１次回折光の光量に基づいて、ラン
ド／グルーブの位置検出を行う。この構成によれば、±
１次回折光からトラック誤差信号に対して位相がπ／２
ずれた信号を生成し、これをランド／グルーブの位置検
出に用いることができる。
π／２ずれた隣接領域から成る回折格子により、光源か
らの出射光を０次光、±１次回折光の３つの光に分割
し、３つの集光スポットを光記録媒体の同一のトラック
上に配置する。そして、光記録媒体で反射された回折格
子の各領域からの±１次回折光の光量に基づいて、ラン
ド／グルーブの位置検出を行う。この構成によれば、±
１次回折光からトラック誤差信号に対して位相がπ／２
ずれた信号を生成し、これをランド／グルーブの位置検
出に用いることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第１実施形態を図
１乃至図４に基づいて説明する。
１乃至図４に基づいて説明する。
【００２６】図１に本実施形態における光ヘッド装置の
構成を示す。半導体レーザ１からの出射光はコリメータ
レンズ２で平行光化され、回折格子３ａにより０次光、
±１次回折光の３つの光に分割される。これらの光はビ
ームスプリッタ４を約半分が透過し、対物レンズ５でデ
ィスク６上に集光される。ディスク６からの３つの反射
光は対物レンズ５を透過し、ビームスプリッタ４で約半
分が反射され、複合レンズ７を介して光検出器８ａで受
光される。複合レンズ７は凸レンズと円筒レンズの組み
合わせであり、光検出器８ａは複合レンズ７の２つの焦
線の中間に設置されている。
構成を示す。半導体レーザ１からの出射光はコリメータ
レンズ２で平行光化され、回折格子３ａにより０次光、
±１次回折光の３つの光に分割される。これらの光はビ
ームスプリッタ４を約半分が透過し、対物レンズ５でデ
ィスク６上に集光される。ディスク６からの３つの反射
光は対物レンズ５を透過し、ビームスプリッタ４で約半
分が反射され、複合レンズ７を介して光検出器８ａで受
光される。複合レンズ７は凸レンズと円筒レンズの組み
合わせであり、光検出器８ａは複合レンズ７の２つの焦
線の中間に設置されている。
【００２７】図２は回折格子３ａの平面図である。回折
格子３ａは、入射光９の光軸を通るタンジェンシャル方
向の直線により、領域１０ａ、領域１０ｂの２つに分割
されている。領域１０ａ、領域１０ｂの格子の位相は互
いにπ／２ずれている。その他の部分は従来例と同様に
構成されている。このため、＋１次回折光、−１次回折
光を図２でそれぞれ上側に回折される光、下側に回折さ
れる光とすると、領域１０ａからの＋１次回折光は領域
１０ｂからの＋１次回折光に対して位相がπ／２遅れ、
領域１０ａからの−１次回折光は領域１０ｂからの−１
次回折光に対して位相がπ／２進む。
格子３ａは、入射光９の光軸を通るタンジェンシャル方
向の直線により、領域１０ａ、領域１０ｂの２つに分割
されている。領域１０ａ、領域１０ｂの格子の位相は互
いにπ／２ずれている。その他の部分は従来例と同様に
構成されている。このため、＋１次回折光、−１次回折
光を図２でそれぞれ上側に回折される光、下側に回折さ
れる光とすると、領域１０ａからの＋１次回折光は領域
１０ｂからの＋１次回折光に対して位相がπ／２遅れ、
領域１０ａからの−１次回折光は領域１０ｂからの−１
次回折光に対して位相がπ／２進む。
【００２８】図３にディスク６上の集光スポットの配置
を示す。集光スポット１２ａ、１２ｂ、１２ｃは、それ
ぞれ回折格子３ａからの０次光、＋１次回折光、−１次
回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたはグ
ルーブ）上に配置されている。集光スポット１２ｂは、
ラジアル方向に左側は強度が低く右側は強度が高い２つ
のピークを持ち、集光スポット１２ｃは、ラジアル方向
に左側は強度が高く右側は強度が低い２つのピークを持
つ。
を示す。集光スポット１２ａ、１２ｂ、１２ｃは、それ
ぞれ回折格子３ａからの０次光、＋１次回折光、−１次
回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたはグ
ルーブ）上に配置されている。集光スポット１２ｂは、
ラジアル方向に左側は強度が低く右側は強度が高い２つ
のピークを持ち、集光スポット１２ｃは、ラジアル方向
に左側は強度が高く右側は強度が低い２つのピークを持
つ。
【００２９】図４に光検出器８ａの受光部と光検出器８
ａ上の光スポットの配置を示す。光スポット１３ａは回
折格子３ａからの０次光に相当し、光軸を通るタンジェ
ンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つに
分割された受光部１４ａ〜１４ｄで受光する。光スポッ
ト１３ｂは回折格子３ａからの＋１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割さ
れた受光部１４ｅ、１４ｆで受光する。光スポット１３
ｃは回折格子３ａからの−１次回折光に相当し、光軸を
通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割された受
光部１４ｇ、１４ｈで受光する。ディスク６上の集光ス
ポット１２ａ〜１２ｃの列は夕シジェンシャル方向であ
るが、複合レンズ７の作用により、光検出器８ａ上の光
スポット１３ａへ１３ｃの列はラジアル方向となるよう
に光学系を装備する。
ａ上の光スポットの配置を示す。光スポット１３ａは回
折格子３ａからの０次光に相当し、光軸を通るタンジェ
ンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つに
分割された受光部１４ａ〜１４ｄで受光する。光スポッ
ト１３ｂは回折格子３ａからの＋１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割さ
れた受光部１４ｅ、１４ｆで受光する。光スポット１３
ｃは回折格子３ａからの−１次回折光に相当し、光軸を
通るタンジェンシャル方向の直線で２つに分割された受
光部１４ｇ、１４ｈで受光する。ディスク６上の集光ス
ポット１２ａ〜１２ｃの列は夕シジェンシャル方向であ
るが、複合レンズ７の作用により、光検出器８ａ上の光
スポット１３ａへ１３ｃの列はラジアル方向となるよう
に光学系を装備する。
【００３０】受光部１４ａへ１４ｈの出力をＶ１４ａ〜
Ｖ１４ｈとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｄ）−（Ｖ１４ｂ＋Ｖ１４
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ
１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−
（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）｝（Ｋは定数）の演算から得ら
れる。ランド／グルーブの位置検出信号は（Ｖ１４ｅ＋
Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の演算から得られ
る。また、再生信号はＶ１４ａ＋Ｖ１４ｂ＋Ｖ１４ｃ＋
Ｖ１４ｄの演算から得られる。そこで、そのような信号
処理系を設ける（図示略）。
Ｖ１４ｈとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｄ）−（Ｖ１４ｂ＋Ｖ１４
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ
１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−
（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）｝（Ｋは定数）の演算から得ら
れる。ランド／グルーブの位置検出信号は（Ｖ１４ｅ＋
Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の演算から得られ
る。また、再生信号はＶ１４ａ＋Ｖ１４ｂ＋Ｖ１４ｃ＋
Ｖ１４ｄの演算から得られる。そこで、そのような信号
処理系を設ける（図示略）。
【００３１】ディスク６上の集光スポット１２ａとトラ
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
【００３２】図５に、ディスク６上の集光スポット１２
ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０
次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポット
１２ｂは光ビーム１６ａにより形成される。光ビーム１
６ａは、左側が右側に対して位相がπ／２遅れている。
ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０
次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポット
１２ｂは光ビーム１６ａにより形成される。光ビーム１
６ａは、左側が右側に対して位相がπ／２遅れている。
【００３３】図５（ａ）の（１）では、光ビーム１６ａ
がグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０次
光の左側の位相を−π／４、右側の位相をπ／４とする
と、±１次回折光の左側の位相は−３π／４、右側の位
相は−π／４となる。図５（ａ）の（２）では、光ビー
ム１６ａがグルーブ１７ａとランド１７ｂの境界上に照
射されている。このとき（１）に対し、＋１次回折光の
位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。
従って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の位相を
π／４とすると、＋１次回折光の左側の位相は３π／
４、右側の位相は−３π／４、−１次回折光の左側の位
相は−π／４、右側の位相はπ／４となる。図５（ａ）
の（３）では、光ビーム１６ａがランド１７ｂ上に照射
されている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位
相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従
って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の位相をπ
／４とすると、±１次回折光の左側の位相はπ／４、右
側の位相は３π／４となる。図５（ａ）の（４）では、
光ビーム１６ａがランド１７ｂとグルーブ１７ａの境界
上に照射されている。このとき（３）に対し、＋１次回
折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２
進む。従って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の
位相をπ／４とすると、＋１次回折光の左側の位相は−
π／４、右側の位相はπ／４、−１次回折光の左側の位
相は３π／４、右側の位相は−３π／４となる。
がグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０次
光の左側の位相を−π／４、右側の位相をπ／４とする
と、±１次回折光の左側の位相は−３π／４、右側の位
相は−π／４となる。図５（ａ）の（２）では、光ビー
ム１６ａがグルーブ１７ａとランド１７ｂの境界上に照
射されている。このとき（１）に対し、＋１次回折光の
位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。
従って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の位相を
π／４とすると、＋１次回折光の左側の位相は３π／
４、右側の位相は−３π／４、−１次回折光の左側の位
相は−π／４、右側の位相はπ／４となる。図５（ａ）
の（３）では、光ビーム１６ａがランド１７ｂ上に照射
されている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位
相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従
って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の位相をπ
／４とすると、±１次回折光の左側の位相はπ／４、右
側の位相は３π／４となる。図５（ａ）の（４）では、
光ビーム１６ａがランド１７ｂとグルーブ１７ａの境界
上に照射されている。このとき（３）に対し、＋１次回
折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２
進む。従って、０次光の左側の位相を−π／４、右側の
位相をπ／４とすると、＋１次回折光の左側の位相は−
π／４、右側の位相はπ／４、−１次回折光の左側の位
相は３π／４、右側の位相は−３π／４となる。
【００３４】図５（ｂ）に示す、０次光と＋１次回折光
との重なる領域１５ａ、及び０次光と−１次回折光の重
なる領域１５ｂにおける強度は以下のようになる。図５
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
０で干渉により強め合い、０次光と−１次回折光の位相
差はπで干渉により弱め合うため、領域１５ａにおける
強度は高く、領域１５ｂにおける強度は低い。図５
（ａ）の（２）では、０次光と±１次回折光の位相差は
共にπ／２であるため、領域１５ａ、領域１５ｂにおけ
る強度は等しい。図５（ａ）の（３）では、０次光と＋
１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合い、０次光
と−１次回折光の位相差は０で干渉により強め合うた
め、領域１５ａにおける強度は低く、領域１５ｂにおけ
る強度は高い。図５（ａ）の（４）では、０次光と±１
次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域１５
ａ、領域１５ｂにおける強度は等しい。
との重なる領域１５ａ、及び０次光と−１次回折光の重
なる領域１５ｂにおける強度は以下のようになる。図５
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
０で干渉により強め合い、０次光と−１次回折光の位相
差はπで干渉により弱め合うため、領域１５ａにおける
強度は高く、領域１５ｂにおける強度は低い。図５
（ａ）の（２）では、０次光と±１次回折光の位相差は
共にπ／２であるため、領域１５ａ、領域１５ｂにおけ
る強度は等しい。図５（ａ）の（３）では、０次光と＋
１次回折光の位相差はπで干渉により弱め合い、０次光
と−１次回折光の位相差は０で干渉により強め合うた
め、領域１５ａにおける強度は低く、領域１５ｂにおけ
る強度は高い。図５（ａ）の（４）では、０次光と±１
次回折光の位相差は共にπ／２であるため、領域１５
ａ、領域１５ｂにおける強度は等しい。
【００３５】図６にトラック誤差信号、ランド／グルー
ブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸はデ
ィスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれで
あり、矢印ａ〜ｄが図５の（１）〜（４）の状態にそれ
ぞれ対応している。
ブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸はデ
ィスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれで
あり、矢印ａ〜ｄが図５の（１）〜（４）の状態にそれ
ぞれ対応している。
【００３６】従来の光ヘッド装置と同様に、（Ｖ１４ａ
＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）の波形は図６
（ａ）の実線のようになる。図５（ｂ）の領域１５ａは
光検出器８ａの受光部１４ｆ、領域１５ｂは光検出器８
ａの受光部１４ｅにそれぞれ対応する。このとき、Ｖ１
４ｅ−Ｖ１４ｆの波形は図６（ｂ）の実線のようにな
る。同様の考察により、Ｖ１４ｇ−Ｖ１４ｈの波形は図
６（ｃ）の実線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、
（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）の波
形は図６（ｄ）の実線のようになる。（ａ）、（ｄ）よ
り、トラック誤差信号である｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）
−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４
ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）｝の波形は図６（ｅ）の
実線のようになる。
＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）の波形は図６
（ａ）の実線のようになる。図５（ｂ）の領域１５ａは
光検出器８ａの受光部１４ｆ、領域１５ｂは光検出器８
ａの受光部１４ｅにそれぞれ対応する。このとき、Ｖ１
４ｅ−Ｖ１４ｆの波形は図６（ｂ）の実線のようにな
る。同様の考察により、Ｖ１４ｇ−Ｖ１４ｈの波形は図
６（ｃ）の実線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、
（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）の波
形は図６（ｄ）の実線のようになる。（ａ）、（ｄ）よ
り、トラック誤差信号である｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）
−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４
ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）｝の波形は図６（ｅ）の
実線のようになる。
【００３７】一方、（ｂ）、（ｃ）の波形は逆相である
ため、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ１４
ｅ＋Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の波形は図６
（ｈ）の実線のようになる。図６（ｈ）の信号は図６
（ｅ）のトラック誤差信号に対して位相がπ／２ずれて
おり、光ビーム１６ａがグルーブ１７ａ上、ランド１７
ｂ上に照射されている場合にそれぞれ負、正となるた
め、ランド／グルーブの位置検出が可能である。
ため、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ１４
ｅ＋Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の波形は図６
（ｈ）の実線のようになる。図６（ｈ）の信号は図６
（ｅ）のトラック誤差信号に対して位相がπ／２ずれて
おり、光ビーム１６ａがグルーブ１７ａ上、ランド１７
ｂ上に照射されている場合にそれぞれ負、正となるた
め、ランド／グルーブの位置検出が可能である。
【００３８】対物レンズ５がラジアル方向にシフトする
と、光検出器８ａ上の光スポット１３ａ〜１３ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット１３ａ〜１３ｃが図
４で上向きにシフトしたとすると、受光部１４ａ、１４
ｂの出力は増え、受光部１４ｃ、１４ｄの出力は減るた
め、（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）
の波形は図６（ａ）の点線のようになる。受光部１４ｅ
の出力は増え、受光部１４ｆの出力は減るため、Ｖ１４
ｅ−Ｖ１４ｆの波形は図６（ｂ）の点線のようになる。
同様に、Ｖ１４ｇ−Ｖ１４ｈの波形は図６（ｃ）の点線
のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１
４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）の波形は図６（ｄ）の
点線のようになる。（ａ）、（ｄ）の対物レンズシフト
時の直流成分は同符号であるため、トラック誤差信号で
ある｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４
ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ
１４ｈ）｝の波形は図６（ｅ）の実線のようになる。す
なわち、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号に
オフセットを生じない。一方、（ｂ）、（ｃ）の波形は
逆相であるが対物レンズシフト時の直流成分は同符号で
あるため、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ
１４ｅ＋Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の波形は
図６（ｆ）の実線のようになる。即ち、対物レンズのシ
フトによる影響を受けない。
と、光検出器８ａ上の光スポット１３ａ〜１３ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット１３ａ〜１３ｃが図
４で上向きにシフトしたとすると、受光部１４ａ、１４
ｂの出力は増え、受光部１４ｃ、１４ｄの出力は減るた
め、（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４ｄ）
の波形は図６（ａ）の点線のようになる。受光部１４ｅ
の出力は増え、受光部１４ｆの出力は減るため、Ｖ１４
ｅ−Ｖ１４ｆの波形は図６（ｂ）の点線のようになる。
同様に、Ｖ１４ｇ−Ｖ１４ｈの波形は図６（ｃ）の点線
のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１
４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｈ）の波形は図６（ｄ）の
点線のようになる。（ａ）、（ｄ）の対物レンズシフト
時の直流成分は同符号であるため、トラック誤差信号で
ある｛（Ｖ１４ａ＋Ｖ１４ｂ）−（Ｖ１４ｃ＋Ｖ１４
ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ１４ｅ＋Ｖ１４ｇ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ
１４ｈ）｝の波形は図６（ｅ）の実線のようになる。す
なわち、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号に
オフセットを生じない。一方、（ｂ）、（ｃ）の波形は
逆相であるが対物レンズシフト時の直流成分は同符号で
あるため、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ
１４ｅ＋Ｖ１４ｈ）−（Ｖ１４ｆ＋Ｖ１４ｇ）の波形は
図６（ｆ）の実線のようになる。即ち、対物レンズのシ
フトによる影響を受けない。
【００３９】次に、本発明の第２実施形態を図７乃至図
１１に基づいて説明する。
１１に基づいて説明する。
【００４０】本実施形態にかかる光ヘッド装置は、図１
の構成における回折格子３ａを回折格子３ｂに、光検出
器８ａを光検出器８ｂにそれぞれ置き換えたものであ
る。
の構成における回折格子３ａを回折格子３ｂに、光検出
器８ａを光検出器８ｂにそれぞれ置き換えたものであ
る。
【００４１】図７は回折格子３ｂの平面図である。回折
格子３ｂは、入射光９の光軸に関して対称な夕ンジェン
シャル方向の２つの直線により、領域１８ａ〜領域１８
ｃの３つに分割されている。領域１８ａおよび領域１８
ｃの格子の位相と領域１８ｂの格子の位相は互いにπ／
２ずれている。＋１次回折光、−１次回折光を図７でそ
れぞれ上側に回折される光、下側に回折される光とする
と、領域１８ａおよび領域１８ｃからの＋１次回折光は
領域１８ｂからの＋１次回折光に対して位相がπ／２進
み、領域１８ａおよび領域１８ｃからの−１次回折光は
領域１８ｂからの−１次回折光に対して位相がπ／２遅
れる。
格子３ｂは、入射光９の光軸に関して対称な夕ンジェン
シャル方向の２つの直線により、領域１８ａ〜領域１８
ｃの３つに分割されている。領域１８ａおよび領域１８
ｃの格子の位相と領域１８ｂの格子の位相は互いにπ／
２ずれている。＋１次回折光、−１次回折光を図７でそ
れぞれ上側に回折される光、下側に回折される光とする
と、領域１８ａおよび領域１８ｃからの＋１次回折光は
領域１８ｂからの＋１次回折光に対して位相がπ／２進
み、領域１８ａおよび領域１８ｃからの−１次回折光は
領域１８ｂからの−１次回折光に対して位相がπ／２遅
れる。
【００４２】図８にディスク６上の集光スポットの配置
を示す。集光スポット１９ａ、１９ｂ、１９ｃは、それ
ぞれ回折格子３ｂからの０次光、＋１次回折光、−１次
回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたはグ
ルーブ）上に配置されている。集光スポット１９ｂ、１
９ｃは、集光スポット１９ａに比べてラジアル方向の径
が大きい。
を示す。集光スポット１９ａ、１９ｂ、１９ｃは、それ
ぞれ回折格子３ｂからの０次光、＋１次回折光、−１次
回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたはグ
ルーブ）上に配置されている。集光スポット１９ｂ、１
９ｃは、集光スポット１９ａに比べてラジアル方向の径
が大きい。
【００４３】図９に光検出器８ｂの受光部と光検出器８
ｂ上の光スポットの配置を示す。光スポット２０ａは回
折格子３ｂからの０次光に相当し、光軸を通るタンジェ
ンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つに
分割された受光部２１ａ〜２１ｄで受光する。光スポッ
ト２０ｂは回折格子３ｂからの＋１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線およびこれと平
行で光軸に関して対称な２つの直線で４つに分割された
受光部２１ｅ〜２１ｈで受光する。光スポット２０ｃは
回折格子３ｂからの−１次回折光に相当し、光軸を通る
タンジェンシャル方向の直線およびこれと平行で光軸に
関して対称な２つの直線で４つに分割された受光部２１
ｉ〜２１ｌで受光する。ディスク６上の集光スポット１
９ａ〜１９ｃの列はタンジェンシャル方向であるが、複
合レンズ７の作用により、光検出器８ｂ上の光スポット
２０ａ〜２０ｃの列はラジアル方向となるように光学系
を装備する。
ｂ上の光スポットの配置を示す。光スポット２０ａは回
折格子３ｂからの０次光に相当し、光軸を通るタンジェ
ンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つに
分割された受光部２１ａ〜２１ｄで受光する。光スポッ
ト２０ｂは回折格子３ｂからの＋１次回折光に相当し、
光軸を通るタンジェンシャル方向の直線およびこれと平
行で光軸に関して対称な２つの直線で４つに分割された
受光部２１ｅ〜２１ｈで受光する。光スポット２０ｃは
回折格子３ｂからの−１次回折光に相当し、光軸を通る
タンジェンシャル方向の直線およびこれと平行で光軸に
関して対称な２つの直線で４つに分割された受光部２１
ｉ〜２１ｌで受光する。ディスク６上の集光スポット１
９ａ〜１９ｃの列はタンジェンシャル方向であるが、複
合レンズ７の作用により、光検出器８ｂ上の光スポット
２０ａ〜２０ｃの列はラジアル方向となるように光学系
を装備する。
【００４４】受光部２１ａ〜２１ｌの出力をＶ２１ａ〜
Ｖ２１ｌとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｄ）−（Ｖ２１ｂ＋Ｖ２１
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ
２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ
２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ
＋Ｖ２１ｌ）｝（Ｋは定数）の演算から得られる。ラン
ド／グルーブの位置検出信号は（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｈ＋
Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１
ｉ＋Ｖ２１ｌ）の演算から得られる。また、再生信号は
Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ＋Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄの演算から得
られる。そこで、そのような信号処理系を設ける（図示
略）。
Ｖ２１ｌとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｄ）−（Ｖ２１ｂ＋Ｖ２１
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ
２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ
２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ
＋Ｖ２１ｌ）｝（Ｋは定数）の演算から得られる。ラン
ド／グルーブの位置検出信号は（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｈ＋
Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１
ｉ＋Ｖ２１ｌ）の演算から得られる。また、再生信号は
Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ＋Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄの演算から得
られる。そこで、そのような信号処理系を設ける（図示
略）。
【００４５】ディスク６上の集光スポット１９ａとトラ
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
【００４６】図１０に、ディスク６上の集光スポット１
９ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの
０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポッ
ト１９ｂは光ビーム１６ｂにより形成される。光ビーム
１６ｂは、左外側および右外側が内側に対して位相がπ
／２進んでいる。
９ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの
０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポッ
ト１９ｂは光ビーム１６ｂにより形成される。光ビーム
１６ｂは、左外側および右外側が内側に対して位相がπ
／２進んでいる。
【００４７】図１０（ａ）の（１）では、光ビーム１６
ｂがグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左外側および右外側の位相をπ／４、内側の位相
を−π／４とすると、±１次回折光の左外側および右外
側の位相は−π／４、内側の位相は−３π／４となる。
図１０（ａ）の（２）では、光ビーム１６ｂがグルーブ
１７ａとランド１７ｂの境界上に照射されている。この
とき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ／２遅れ、
−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０次光の左
外側および右外側の位相をπ／４、内側の位相を−π／
４とすると、＋１次回折光の左外側および右外側の位相
は−３π／４、内側の位相は３π／４、−１次回折光の
左外側および右外側の位相はπ／４、内側の位相は−π
／４となる。図１０（ａ）の（３）では、光ビーム１６
ｂがランド１７ｂ上に照射されている。このとき（２）
に対し、＋１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折
光の位相はπ／２進む。従って、０次光の左外側および
右外側の位相をπ／４、内側の位相を−π／４とする
と、±１次回折光の左外側および右外側の位相は３π／
４、内側の位相はπ／４となる。図１０（ａ）の（４）
では、光ビーム１６ｂがランド１７ｂとグルーブ１７ａ
の境界上に照射されている。このとき（３）に対し、＋
１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相は
π／２進む。従って、０次光の左外側および右外側の位
相をπ／４、内側の位相を−π／４とすると、＋１次回
折光の左外側および右外側の位相はπ／４、内側の位相
は−π／４、−１次回折光の左外側および右外側の位相
は−３π／４、内側の位相は３π／４となる。
ｂがグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左外側および右外側の位相をπ／４、内側の位相
を−π／４とすると、±１次回折光の左外側および右外
側の位相は−π／４、内側の位相は−３π／４となる。
図１０（ａ）の（２）では、光ビーム１６ｂがグルーブ
１７ａとランド１７ｂの境界上に照射されている。この
とき（１）に対し、＋１次回折光の位相はπ／２遅れ、
−１次回折光の位相はπ／２進む。従って、０次光の左
外側および右外側の位相をπ／４、内側の位相を−π／
４とすると、＋１次回折光の左外側および右外側の位相
は−３π／４、内側の位相は３π／４、−１次回折光の
左外側および右外側の位相はπ／４、内側の位相は−π
／４となる。図１０（ａ）の（３）では、光ビーム１６
ｂがランド１７ｂ上に照射されている。このとき（２）
に対し、＋１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折
光の位相はπ／２進む。従って、０次光の左外側および
右外側の位相をπ／４、内側の位相を−π／４とする
と、±１次回折光の左外側および右外側の位相は３π／
４、内側の位相はπ／４となる。図１０（ａ）の（４）
では、光ビーム１６ｂがランド１７ｂとグルーブ１７ａ
の境界上に照射されている。このとき（３）に対し、＋
１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相は
π／２進む。従って、０次光の左外側および右外側の位
相をπ／４、内側の位相を−π／４とすると、＋１次回
折光の左外側および右外側の位相はπ／４、内側の位相
は−π／４、−１次回折光の左外側および右外側の位相
は−３π／４、内側の位相は３π／４となる。
【００４８】図１０（ｂ）に示す、０次光と＋１次回折
光の重なる外側の領域２２ａ、内側の領域２２ｂ、及び
０次光と−１次回折光の重なる内側の領域２２ｃ、外側
の領域２２ｄにおける強度は以下のようになる。図１０
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
外側はπで干渉により弱め合い、内側は０で干渉により
強め合い、０次光と−１次回折光の位相差は内側は０で
干渉により強め合い、外側はπで干渉により弱め合うた
め、領域２２ａにおける強度は低く、領域２２ｂにおけ
る強度は高く、領域２２ｃにおける強度は高く、領域２
２ｄにおける強度は低い。図１０（ａ）の（２）では、
０次光と±１次回折光の位相差は外側は共にπ／２であ
り、内側も共にπ／２であるため、領域２２ａ、領域２
２ｂ、領域２２ｃ、領域２２ｄにおける強度は等しい。
図１０（ａ）の（３）では、０次光と＋１次回折光の位
相差は外側は０で干渉により強め合い、内側は紙で干渉
により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は内側
はπで干渉により弱め合い、外側は０で干渉により強め
合うため、領域２２ａにおける強度は高く、領域２２ｂ
における強度は低く、領域２２ｃにおける強度は低く、
領域２２ｄにおける強度は高い。図１０（ａ）の（４）
では、０次光と±１次回折光の位相差は外側は共にπ／
２であり、内側も共にπ／２であるため、領域２２ａ、
領域２２ｂ、領域２２ｃ、領域２２ｄにおける強度は等
しい。
光の重なる外側の領域２２ａ、内側の領域２２ｂ、及び
０次光と−１次回折光の重なる内側の領域２２ｃ、外側
の領域２２ｄにおける強度は以下のようになる。図１０
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
外側はπで干渉により弱め合い、内側は０で干渉により
強め合い、０次光と−１次回折光の位相差は内側は０で
干渉により強め合い、外側はπで干渉により弱め合うた
め、領域２２ａにおける強度は低く、領域２２ｂにおけ
る強度は高く、領域２２ｃにおける強度は高く、領域２
２ｄにおける強度は低い。図１０（ａ）の（２）では、
０次光と±１次回折光の位相差は外側は共にπ／２であ
り、内側も共にπ／２であるため、領域２２ａ、領域２
２ｂ、領域２２ｃ、領域２２ｄにおける強度は等しい。
図１０（ａ）の（３）では、０次光と＋１次回折光の位
相差は外側は０で干渉により強め合い、内側は紙で干渉
により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は内側
はπで干渉により弱め合い、外側は０で干渉により強め
合うため、領域２２ａにおける強度は高く、領域２２ｂ
における強度は低く、領域２２ｃにおける強度は低く、
領域２２ｄにおける強度は高い。図１０（ａ）の（４）
では、０次光と±１次回折光の位相差は外側は共にπ／
２であり、内側も共にπ／２であるため、領域２２ａ、
領域２２ｂ、領域２２ｃ、領域２２ｄにおける強度は等
しい。
【００４９】図１１にトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸は
ディスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれ
であり、矢印ａ〜ｄが図１０の（１）〜（４）の状態に
対応している。
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸は
ディスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれ
であり、矢印ａ〜ｄが図１０の（１）〜（４）の状態に
対応している。
【００５０】従来の光ヘッド装置と同様に、（Ｖ２１ａ
＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）の波形は図１１
（ａ）の実線のようになる。図１０の領域２２ａは光検
出器８ｂの受光部２１ｈ、領域２２ｂは光検出器８ｂの
受光部２１ｇ、領域２２ｃは光検出器８ｂの受光部２１
ｆ、領域２２ｄは光検出器８ｂの受光部２１ｅにそれぞ
れ対応する。このとき、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ）−（Ｖ
２１ｇ＋Ｖ２１ｈ）の波形は図１１（ｂ）の実線のよう
になる。同様の考察により、（Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−
（Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｃ）の実線の
ようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１
ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ
２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｄ）の実線のよう
になる。（ａ）、（ｄ）より、トラック誤差信号である
｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）｝
−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−
（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）｝の波形
は図１１（ｅ）の実線のようになる。−方、（Ｖ２１ｅ
＋Ｖ２１ｈ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ）の波形は図１１
（ｆ）の実線のようになる。同様の考察により、（Ｖ２
１ｉ＋Ｖ２１ｌ）−（Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）の波形は図
１１（ｇ）の実線のようになる。（ｆ）、（ｇ）の波形
は逆相であるため、ランド／グルーブの位置検出信号で
ある（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−
（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）の波形は
図１１（ｈ）の実線のようになる。図１１（ｈ）の信号
は図１１（ｅ）のトラック誤差信号に対して位相がπ／
２ずれており、光ビーム１６ｂがグルーブ１７ａ上、ラ
ンド１７ｂ上に照射されている場合にそれぞれ負、正と
なるため、ランド／グルーブの位置検出が可能である。
＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）の波形は図１１
（ａ）の実線のようになる。図１０の領域２２ａは光検
出器８ｂの受光部２１ｈ、領域２２ｂは光検出器８ｂの
受光部２１ｇ、領域２２ｃは光検出器８ｂの受光部２１
ｆ、領域２２ｄは光検出器８ｂの受光部２１ｅにそれぞ
れ対応する。このとき、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ）−（Ｖ
２１ｇ＋Ｖ２１ｈ）の波形は図１１（ｂ）の実線のよう
になる。同様の考察により、（Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−
（Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｃ）の実線の
ようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１
ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ
２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｄ）の実線のよう
になる。（ａ）、（ｄ）より、トラック誤差信号である
｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）｝
−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−
（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）｝の波形
は図１１（ｅ）の実線のようになる。−方、（Ｖ２１ｅ
＋Ｖ２１ｈ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ）の波形は図１１
（ｆ）の実線のようになる。同様の考察により、（Ｖ２
１ｉ＋Ｖ２１ｌ）−（Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）の波形は図
１１（ｇ）の実線のようになる。（ｆ）、（ｇ）の波形
は逆相であるため、ランド／グルーブの位置検出信号で
ある（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−
（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）の波形は
図１１（ｈ）の実線のようになる。図１１（ｈ）の信号
は図１１（ｅ）のトラック誤差信号に対して位相がπ／
２ずれており、光ビーム１６ｂがグルーブ１７ａ上、ラ
ンド１７ｂ上に照射されている場合にそれぞれ負、正と
なるため、ランド／グルーブの位置検出が可能である。
【００５１】対物レンズ５がラジアル方向にシフトする
と、光検出器８ｂ上の光スポット２０ａ〜２０ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット２０ａ〜２０ｃが図
９で上向きにシフトしたとすると、受光部２１ａ、２１
ｂの出力は増え、受光部２１ｃ、２１ｄの出力は減るた
め、（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）
の波形は図１１（ａ）の点線のようになる。受光部２１
ｅの出力は増え、受光部２１ｈの出力は減るため、（Ｖ
２１ｅ＋Ｖ２１ｆ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ）の波形は
図１１（ｂ）の点線のようになる。同様に、（Ｖ２１ｉ
＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１
（ｃ）の点線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ
２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ
＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１
（ｄ）の点線のようになる。（ａ）、（ｄ）の対物レン
ズシフト時の直流成分は同符号であるため、トラック誤
差信号である｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋
Ｖ２１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋
Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１
ｌ）｝の波形は図１１（ｅ）の実線のようになる。すな
わち、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号にオ
フセットを生じない。−方、受光部２１ｅの出力は増
え、受光部２１ｈの出力は減るため、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２
１ｈ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ）の波形は図１１（ｆ）
の実線のようになる。同様に、（Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）
−（Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）の波形は図１１（ｇ）の実線
のようになる。（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるた
め、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ２１ｅ
＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２
１ｇ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｈ）の実
線のようになる。
と、光検出器８ｂ上の光スポット２０ａ〜２０ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット２０ａ〜２０ｃが図
９で上向きにシフトしたとすると、受光部２１ａ、２１
ｂの出力は増え、受光部２１ｃ、２１ｄの出力は減るた
め、（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋Ｖ２１ｄ）
の波形は図１１（ａ）の点線のようになる。受光部２１
ｅの出力は増え、受光部２１ｈの出力は減るため、（Ｖ
２１ｅ＋Ｖ２１ｆ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ）の波形は
図１１（ｂ）の点線のようになる。同様に、（Ｖ２１ｉ
＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１
（ｃ）の点線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ
２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ
＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１
（ｄ）の点線のようになる。（ａ）、（ｄ）の対物レン
ズシフト時の直流成分は同符号であるため、トラック誤
差信号である｛（Ｖ２１ａ＋Ｖ２１ｂ）−（Ｖ２１ｃ＋
Ｖ２１ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｉ＋
Ｖ２１ｊ）−（Ｖ２１ｇ＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｋ＋Ｖ２１
ｌ）｝の波形は図１１（ｅ）の実線のようになる。すな
わち、対物レンズがシフトしてもトラック誤差信号にオ
フセットを生じない。−方、受光部２１ｅの出力は増
え、受光部２１ｈの出力は減るため、（Ｖ２１ｅ＋Ｖ２
１ｈ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２１ｇ）の波形は図１１（ｆ）
の実線のようになる。同様に、（Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）
−（Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）の波形は図１１（ｇ）の実線
のようになる。（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるた
め、ランド／グルーブの位置検出信号である（Ｖ２１ｅ
＋Ｖ２１ｈ＋Ｖ２１ｊ＋Ｖ２１ｋ）−（Ｖ２１ｆ＋Ｖ２
１ｇ＋Ｖ２１ｉ＋Ｖ２１ｌ）の波形は図１１（ｈ）の実
線のようになる。
【００５２】次に、本発明の第３実施形態を図１２乃至
図１６に基づいて説明する。本実施形態に係る光ヘッド
装置は、図１の構成における回折格子３ａを回折格子３
ｃに、光検出器８ａを光検出器８ｃにそれぞれ置き換え
たものである。
図１６に基づいて説明する。本実施形態に係る光ヘッド
装置は、図１の構成における回折格子３ａを回折格子３
ｃに、光検出器８ａを光検出器８ｃにそれぞれ置き換え
たものである。
【００５３】図１２は回折格子３ｃの平面図である。回
折格子３ｃは、入射光９の光軸を通るタンジェンシャル
方向およびラジアル方向の２つの直線で、領域２３ａ〜
領域２３ｄの４つに分割されている。領域２３ａおよび
領域２３ｄの格子の位相と領域２３ｂおよび領域２３ｃ
の格子の位相は互いにπ／２ずれている。＋１次回折
光、−１次回折光を図１２でそれぞれ上側に回折される
光、下側に回折される光とすると、領域２３ａおよび領
域２３ｄからの＋１次回折光は領域２３ｂおよび領域２
３ｃからの＋１次回折光に対して位相がπ／２進み、領
域２３ａおよび領域２３ｄからの−１次回折光は領域２
３ｂおよび領域２３ｃからの−１次回折光に対して位相
がπ／２遅れる。
折格子３ｃは、入射光９の光軸を通るタンジェンシャル
方向およびラジアル方向の２つの直線で、領域２３ａ〜
領域２３ｄの４つに分割されている。領域２３ａおよび
領域２３ｄの格子の位相と領域２３ｂおよび領域２３ｃ
の格子の位相は互いにπ／２ずれている。＋１次回折
光、−１次回折光を図１２でそれぞれ上側に回折される
光、下側に回折される光とすると、領域２３ａおよび領
域２３ｄからの＋１次回折光は領域２３ｂおよび領域２
３ｃからの＋１次回折光に対して位相がπ／２進み、領
域２３ａおよび領域２３ｄからの−１次回折光は領域２
３ｂおよび領域２３ｃからの−１次回折光に対して位相
がπ／２遅れる。
【００５４】図１３にディスク６上の集光スポットの配
置を示す。集光スポット２４ａ、２４ｂ、２４ｃは、そ
れぞれ回折格子３ｃからの０次光、＋１次回折光、−１
次回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたは
グルーブ）上に配置されている。集光スポット２４ｂ、
２４ｃは、タンジェンシャル方向およびラジアル方向に
対して±４５°の方向に４つのサイドローブを持つ。
置を示す。集光スポット２４ａ、２４ｂ、２４ｃは、そ
れぞれ回折格子３ｃからの０次光、＋１次回折光、−１
次回折光に相当し、同一のトラック１１（ランドまたは
グルーブ）上に配置されている。集光スポット２４ｂ、
２４ｃは、タンジェンシャル方向およびラジアル方向に
対して±４５°の方向に４つのサイドローブを持つ。
【００５５】図１４に光検出器８ｃの受光部と光検出器
８ｃ上の光スポットの配置を示す。光スポット２５ａは
回折格子３ｃからの０次光に相当し、光軸を通るタンジ
ェンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つ
に分割された受光部２６ａ〜２６ｄで受光する。光スポ
ット２５ｂは回折格子３ｃからの＋１次回折光に相当
し、光軸を通るタンジェンシャル方向およびラジアル方
向の２つの直線で４つに分割された受光部２６ｅ〜２６
ｈで受光する。光スポット２５ｃは回折格子３ｃからの
−１次回折光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方
向およびラジアル方向の２つの直線で４つに分割された
受光部２６ｉ〜２６ｌで受光する。ディスク６上の集光
スポット２４ａ〜２４ｃの列はタンジェンシャル方向で
あるが、複合レンズ７の作用により、光検出器８ｃ上の
光スポット２５ａ〜２５ｃの列はラジアル方向となるよ
うに設定する。
８ｃ上の光スポットの配置を示す。光スポット２５ａは
回折格子３ｃからの０次光に相当し、光軸を通るタンジ
ェンシャル方向およびラジアル方向の２つの直線で４つ
に分割された受光部２６ａ〜２６ｄで受光する。光スポ
ット２５ｂは回折格子３ｃからの＋１次回折光に相当
し、光軸を通るタンジェンシャル方向およびラジアル方
向の２つの直線で４つに分割された受光部２６ｅ〜２６
ｈで受光する。光スポット２５ｃは回折格子３ｃからの
−１次回折光に相当し、光軸を通るタンジェンシャル方
向およびラジアル方向の２つの直線で４つに分割された
受光部２６ｉ〜２６ｌで受光する。ディスク６上の集光
スポット２４ａ〜２４ｃの列はタンジェンシャル方向で
あるが、複合レンズ７の作用により、光検出器８ｃ上の
光スポット２５ａ〜２５ｃの列はラジアル方向となるよ
うに設定する。
【００５６】受光部２６ａ〜２６ｌの出力をＶ２６ａ〜
Ｖ２６ｌとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｄ）−（Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ
２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ
２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ
＋２６ｌ）｝（Ｋは定数）の演算から得られる。ランド
／グルーブの位置検出信号は（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ
２６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｉ
＋Ｖ２６ｌ）の演算から得られる。また、再生信号はＶ
２６ａ＋Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄの演算から得ら
れる。そこで、そのような信号処理系を併設する（図示
略）。
Ｖ２６ｌとすると、フォーカス誤差信号は非点収差法に
より、（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｄ）−（Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６
ｃ）の演算から得られる。トラック誤差信号は差動のプ
ッシュプル法により、｛（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ
２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ
２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ
＋２６ｌ）｝（Ｋは定数）の演算から得られる。ランド
／グルーブの位置検出信号は（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ
２６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｉ
＋Ｖ２６ｌ）の演算から得られる。また、再生信号はＶ
２６ａ＋Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄの演算から得ら
れる。そこで、そのような信号処理系を併設する（図示
略）。
【００５７】ディスク６上の集光スポット２４ａとトラ
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
ック１１の位置ずれに伴うディスク６からの０次光、±
１次回折光の位相の変化は図２１に示す通りである。
【００５８】図１５に、ディスク６上の集光スポット２
４ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの
０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポッ
ト２４ｂは光ビーム１６ｃにより形成される。光ビーム
１６ｃは、左上側および右下側が右上側および左下側に
対して位相がπ／２進んでいる。
４ｂとトラック１１の位置ずれに伴うディスク６からの
０次光、±１次回折光の位相の変化を示す。集光スポッ
ト２４ｂは光ビーム１６ｃにより形成される。光ビーム
１６ｃは、左上側および右下側が右上側および左下側に
対して位相がπ／２進んでいる。
【００５９】図１５（ａ）の（１）では、光ビーム１６
ｃがグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左上側および右下側の位相をπ／４、右上側およ
び左下側の位相を−π／４とすると、±１次回折光の左
上側および右下側の位相は−π／４、右上側および左下
側の位相は−３π／４となる。図１５（ａ）の（２）で
は、光ビ−ム１６ｃがグルーブ１７ａとランド１７ｂの
境界上に照射されている。このとき（１）に対し、＋１
次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ
／２進む。従って、０次光の左上側および右下側の位相
をπ／４、右上側および左下側の位相を−π／４とする
と、＋１次回折光の左上側および右下側の位相は−３π
／４、右上側および左下側の位相は３π／４、−１次回
折光の左上側および右下側の位相はπ／４、右上側およ
び左下側の位相は−π／４となる。図１５（ａ）の
（３）では、光ビーム１６ｃがランド１７ｂ上に照射さ
れている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の左上側および右下側の位相をπ／４、右上
側および左下側の位相を−π／４とすると、±１次回折
光の左上側および右下側の位相は３π／４、右上側およ
び左下側の位相はπ／４となる。図１５（ａ）の（４）
では、光ビ一ム１６ｃがランド１７ｂとグルーブ１７ａ
の境界上に照射されている。このとき（３）に対し、＋
１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相は
π／２進む。従って、０次光の左上側および右下側の位
相をπ／４、右上側および左下側の位相を−π／４とす
ると、＋１次回折光の左上側および右下側の位相はπ／
４、右上側および左下側の位相は−π／４、−１次回折
光の左上側および右下側の位相は−３π／４、右上側お
よび左下側の位相は３π／４となる。なお、図には左上
側および右上側の位相のみを示している。
ｃがグルーブ１７ａ上に照射されている。このとき、０
次光の左上側および右下側の位相をπ／４、右上側およ
び左下側の位相を−π／４とすると、±１次回折光の左
上側および右下側の位相は−π／４、右上側および左下
側の位相は−３π／４となる。図１５（ａ）の（２）で
は、光ビ−ム１６ｃがグルーブ１７ａとランド１７ｂの
境界上に照射されている。このとき（１）に対し、＋１
次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ
／２進む。従って、０次光の左上側および右下側の位相
をπ／４、右上側および左下側の位相を−π／４とする
と、＋１次回折光の左上側および右下側の位相は−３π
／４、右上側および左下側の位相は３π／４、−１次回
折光の左上側および右下側の位相はπ／４、右上側およ
び左下側の位相は−π／４となる。図１５（ａ）の
（３）では、光ビーム１６ｃがランド１７ｂ上に照射さ
れている。このとき（２）に対し、＋１次回折光の位相
はπ／２遅れ、−１次回折光の位相はπ／２進む。従っ
て、０次光の左上側および右下側の位相をπ／４、右上
側および左下側の位相を−π／４とすると、±１次回折
光の左上側および右下側の位相は３π／４、右上側およ
び左下側の位相はπ／４となる。図１５（ａ）の（４）
では、光ビ一ム１６ｃがランド１７ｂとグルーブ１７ａ
の境界上に照射されている。このとき（３）に対し、＋
１次回折光の位相はπ／２遅れ、−１次回折光の位相は
π／２進む。従って、０次光の左上側および右下側の位
相をπ／４、右上側および左下側の位相を−π／４とす
ると、＋１次回折光の左上側および右下側の位相はπ／
４、右上側および左下側の位相は−π／４、−１次回折
光の左上側および右下側の位相は−３π／４、右上側お
よび左下側の位相は３π／４となる。なお、図には左上
側および右上側の位相のみを示している。
【００６０】図１５（ｂ）に示す、０次光と＋１次回折
光の重なる上側の領域２７ａ、下側の領域２７ｃ、及び
０次光と−１次回折光の重なる上側の領域２７ｂ、下側
の領域２７ｄにおける強度は以下のようになる。図１５
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
上側はπで干渉により弱め合い、下側は０で干渉により
強め合い、０次光と−１次回折光の位相差は上側は０で
干渉により強め合い、下側はπで干渉により弱め合うた
め、領域２７ａにおける強度は低く、領域２７ｂにおけ
る強度は高く、領域２７ｃにおける強度は高く、領域２
７ｄにおける強度は低い。図１５（ａ）の（２）では、
０次光と±１次回折光の位相差は上側は共にπ／２であ
り、下側も共にπ／２であるため、領域２７ａ、領域２
７ｂ、領域２７ｃ、領域２７ｄにおける強度は等しい。
図１５（ａ）の（３）では、０次光と＋１次回折光の位
相差は上側は０で干渉により強め合い、下側はπで干渉
により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は上側
はπで干渉により弱め合い、下側は０で干渉により強め
合うため、領域２７ａにおける強度は高く、領域２７ｂ
における強度は低く、領域２７ｃにおける強度は低く、
領域２７ｄにおける強度は高い。図１５（ａ）の（４）
では、０次光と±１次回折光の位相差は上側は共にπ／
２であり、下側も共にπ／２であるため、領域２７ａ、
領域２７ｂ、領域２７ｃ、領域２７ｄにおける強度は等
しい。
光の重なる上側の領域２７ａ、下側の領域２７ｃ、及び
０次光と−１次回折光の重なる上側の領域２７ｂ、下側
の領域２７ｄにおける強度は以下のようになる。図１５
（ａ）の（１）では、０次光と＋１次回折光の位相差は
上側はπで干渉により弱め合い、下側は０で干渉により
強め合い、０次光と−１次回折光の位相差は上側は０で
干渉により強め合い、下側はπで干渉により弱め合うた
め、領域２７ａにおける強度は低く、領域２７ｂにおけ
る強度は高く、領域２７ｃにおける強度は高く、領域２
７ｄにおける強度は低い。図１５（ａ）の（２）では、
０次光と±１次回折光の位相差は上側は共にπ／２であ
り、下側も共にπ／２であるため、領域２７ａ、領域２
７ｂ、領域２７ｃ、領域２７ｄにおける強度は等しい。
図１５（ａ）の（３）では、０次光と＋１次回折光の位
相差は上側は０で干渉により強め合い、下側はπで干渉
により弱め合い、０次光と−１次回折光の位相差は上側
はπで干渉により弱め合い、下側は０で干渉により強め
合うため、領域２７ａにおける強度は高く、領域２７ｂ
における強度は低く、領域２７ｃにおける強度は低く、
領域２７ｄにおける強度は高い。図１５（ａ）の（４）
では、０次光と±１次回折光の位相差は上側は共にπ／
２であり、下側も共にπ／２であるため、領域２７ａ、
領域２７ｂ、領域２７ｃ、領域２７ｄにおける強度は等
しい。
【００６１】図１６にトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸は
ディスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれ
であり、矢印ａ〜ｄが図１５の（１）〜（４）の状態に
対応している。
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す。横軸は
ディスク６上の集光スポットとトラック１１の位置ずれ
であり、矢印ａ〜ｄが図１５の（１）〜（４）の状態に
対応している。
【００６２】従来の光ヘッド装置と同様に、（Ｖ２６ａ
＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）の波形は図１６
（ａ）の実線のようになる。図１５（ｂ）の領域２７ａ
は光検出器８ｃの受光部２６ｈに、領域２７ｂは光検出
器８ｃの受光部２６ｆに、領域２７ｃは光検出器８ｃの
受光部２６ｇに、領域２７ｄは光検出器８ｃの受光部２
６ｅにそれぞれ対応する。このとき、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２
６ｆ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ）の波形は図１６（ｂ）
の実線のようになる。同様の考察により、（Ｖ２６ｉ＋
Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６
（ｃ）の実線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ
２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ
＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６
（ｄ）の実線のようになる。（ａ）、（ｄ）より、トラ
ック誤差信号である｛（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２
６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２
６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６ｋ＋
Ｖ２６ｌ）｝の波形は図１６（ｅ）の実線のようにな
る。−方、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２
６ｇ）の波形は図１６（ｆ）の実線のようになる。同様
の考察により、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｌ）−（Ｖ２６ｊ＋
Ｖ２６ｋ）の波形は図１６（ｇ）の実線のようになる。
（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるため、ランド／グル
ーブの位置検出信号である（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２
６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｉ＋
Ｖ２６ｌ）の波形は図１６（ｈ）の実線のようになる。
図１６（ｈ）の信号は図１６（ｅ）のトラック誤差信号
に対して位相がπ／２ずれており、光ビーム１６ｃがグ
ルーブ１７ａ上、ランド１７ｂ上に照射されている場合
にそれぞれ負、正となるため、ランド／グルーブの位置
検出が可能である。
＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）の波形は図１６
（ａ）の実線のようになる。図１５（ｂ）の領域２７ａ
は光検出器８ｃの受光部２６ｈに、領域２７ｂは光検出
器８ｃの受光部２６ｆに、領域２７ｃは光検出器８ｃの
受光部２６ｇに、領域２７ｄは光検出器８ｃの受光部２
６ｅにそれぞれ対応する。このとき、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２
６ｆ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ）の波形は図１６（ｂ）
の実線のようになる。同様の考察により、（Ｖ２６ｉ＋
Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６
（ｃ）の実線のようになる。（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ
２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ
＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６
（ｄ）の実線のようになる。（ａ）、（ｄ）より、トラ
ック誤差信号である｛（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２
６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２
６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｂ＋Ｖ２６ｋ＋
Ｖ２６ｌ）｝の波形は図１６（ｅ）の実線のようにな
る。−方、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２
６ｇ）の波形は図１６（ｆ）の実線のようになる。同様
の考察により、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｌ）−（Ｖ２６ｊ＋
Ｖ２６ｋ）の波形は図１６（ｇ）の実線のようになる。
（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるため、ランド／グル
ーブの位置検出信号である（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２
６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｉ＋
Ｖ２６ｌ）の波形は図１６（ｈ）の実線のようになる。
図１６（ｈ）の信号は図１６（ｅ）のトラック誤差信号
に対して位相がπ／２ずれており、光ビーム１６ｃがグ
ルーブ１７ａ上、ランド１７ｂ上に照射されている場合
にそれぞれ負、正となるため、ランド／グルーブの位置
検出が可能である。
【００６３】対物レンズ５がラジアル方向にシフトする
と、光検出器８ｃ上の光スポット２５ａへ２５ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット２５ａ〜２５ｃが図
１４で上向きにシフトしたとすると、受光部２６ａ、２
６ｂの出力は増え、受光部２６ｃ、２６ｄの出力は減る
ため、（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６
ｄ）の波形は図１６（ａ）の点線のようになる。受光部
２６ｅ、２６ｆの出力は増え、受光部２６ｇ、２６ｈの
出力は減るため、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ）−（Ｖ２６ｇ
＋Ｖ２６ｈ）の波形は図１６（ｂ）の点線のようにな
る。同様に、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｋ＋Ｖ
２６ｌ）の波形は図１６（ｃ）の点線のようになる。
（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ
＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２
６ｌ）の波形は図１６（ｄ）の点線のようになる。
（ａ）、（ｄ）の対物レンズシフト時の直流成分は同符
号であるため、トラック誤差信号である｛（Ｖ２６ａ＋
Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６
ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ
２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）｝の波形は図１６（ｅ）
の実線のようになる。すなわち、対物レンズがシフトし
てもトラック誤差信号にオフセットを生じない。一方、
受光部２６ｅ、２６ｆの出力は増え、受光部２６ｇ、２
６ｈの出力は減るため、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ）−（Ｖ
２６ｆ＋Ｖ２６ｇ）の波形は図１６（ｆ）の実線のよう
になる。同様に、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｌ）−（Ｖ２６ｊ
＋Ｖ２６ｋ）の波形は図１６（ｇ）の実線のようにな
る。（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるため、ランド／
グル−ブの位置検出信号である（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋
Ｖ２６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６
ｉ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６（ｈ）の実線のようにな
る。
と、光検出器８ｃ上の光スポット２５ａへ２５ｃもラジ
アル方向にシフトする。光スポット２５ａ〜２５ｃが図
１４で上向きにシフトしたとすると、受光部２６ａ、２
６ｂの出力は増え、受光部２６ｃ、２６ｄの出力は減る
ため、（Ｖ２６ａ＋Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６
ｄ）の波形は図１６（ａ）の点線のようになる。受光部
２６ｅ、２６ｆの出力は増え、受光部２６ｇ、２６ｈの
出力は減るため、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ）−（Ｖ２６ｇ
＋Ｖ２６ｈ）の波形は図１６（ｂ）の点線のようにな
る。同様に、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｋ＋Ｖ
２６ｌ）の波形は図１６（ｃ）の点線のようになる。
（ｂ）、（ｃ）より、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ
＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２
６ｌ）の波形は図１６（ｄ）の点線のようになる。
（ａ）、（ｄ）の対物レンズシフト時の直流成分は同符
号であるため、トラック誤差信号である｛（Ｖ２６ａ＋
Ｖ２６ｂ）−（Ｖ２６ｃ＋Ｖ２６ｄ）｝−Ｋ｛（Ｖ２６
ｅ＋Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｊ）−（Ｖ２６ｇ＋Ｖ
２６ｈ＋Ｖ２６ｋ＋Ｖ２６ｌ）｝の波形は図１６（ｅ）
の実線のようになる。すなわち、対物レンズがシフトし
てもトラック誤差信号にオフセットを生じない。一方、
受光部２６ｅ、２６ｆの出力は増え、受光部２６ｇ、２
６ｈの出力は減るため、（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ）−（Ｖ
２６ｆ＋Ｖ２６ｇ）の波形は図１６（ｆ）の実線のよう
になる。同様に、（Ｖ２６ｉ＋Ｖ２６ｌ）−（Ｖ２６ｊ
＋Ｖ２６ｋ）の波形は図１６（ｇ）の実線のようにな
る。（ｆ）、（ｇ）の波形は逆相であるため、ランド／
グル−ブの位置検出信号である（Ｖ２６ｅ＋Ｖ２６ｈ＋
Ｖ２６ｊ＋Ｖ２６ｋ）−（Ｖ２６ｆ＋Ｖ２６ｇ＋Ｖ２６
ｉ＋Ｖ２６ｌ）の波形は図１６（ｈ）の実線のようにな
る。
【００６４】ここで、ディスク６に偏芯があると、ディ
スク６上の集光スポットの列がタンジェンシャル方向か
らずれる。本発明の第１実施形態においては、図６の
（ｂ）、（ｃ）の波形の位相が（ａ）の波形の位相に対
して互いに逆向きにずれる。（ａ）の波形をＡ（ｓｉｎ
Ｘ＋Ｃ）（Ｃは対物レンズシフト時の直流成分）と表す
と、（ｂ）、（ｃ）の波形はそれぞれＢ｛−ｃｏｓ（Ｘ
＋Δ）＋Ｃ｝、｛Ｂ（ｃｏｓ（Ｘ−Δ）＋Ｃ｝（Δは偏
芯による位相ずれ量）と表すことができる。このとき、
（ｄ）の波形は
スク６上の集光スポットの列がタンジェンシャル方向か
らずれる。本発明の第１実施形態においては、図６の
（ｂ）、（ｃ）の波形の位相が（ａ）の波形の位相に対
して互いに逆向きにずれる。（ａ）の波形をＡ（ｓｉｎ
Ｘ＋Ｃ）（Ｃは対物レンズシフト時の直流成分）と表す
と、（ｂ）、（ｃ）の波形はそれぞれＢ｛−ｃｏｓ（Ｘ
＋Δ）＋Ｃ｝、｛Ｂ（ｃｏｓ（Ｘ−Δ）＋Ｃ｝（Δは偏
芯による位相ずれ量）と表すことができる。このとき、
（ｄ）の波形は
【００６５】Ｂ｛−ｃｏｓ（Ｘ＋Δ）＋Ｃ｝＋Ｂ｛ｃｏ
ｓ（Ｘ−Δ）＋Ｃ｝＝２Ｂ（ｓｉｎＸｓｉｎΔ＋Ｃ）
ｓ（Ｘ−Δ）＋Ｃ｝＝２Ｂ（ｓｉｎＸｓｉｎΔ＋Ｃ）
【００６６】となり、（ｅ）の波形は
【００６７】Ａ（ｓｉｎＸ＋Ｃ）−２ＫＢ（ｓｉｎＸｓ
ｉｎΔ＋Ｃ）＝（Ａ−２ＫＢｓｉｎΔ）ｓｉｎＸ＋（Ａ
−２ＫＢ）Ｃ
ｉｎΔ＋Ｃ）＝（Ａ−２ＫＢｓｉｎΔ）ｓｉｎＸ＋（Ａ
−２ＫＢ）Ｃ
【００６８】となる。対物レンズがシフトしてもトラッ
ク誤差信号にオフセットを生じない条件はＫ＝Ａ／２Ｂ
であるから、（ｅ）の波形はＡ（１−ｓｉｎΔ）ｓｉｎ
Ｘとなる。すなわち、偏芯によりトラック誤差信号の振
幅が（１−ｓｉｎΔ）倍に変化する。これに対し、本発
明の第２及び第３実施形態においては、図１１の
（ｂ）、（ｃ）の波形および図１６の（ｂ）、（ｃ）の
波形は対物レンズシフト時の直流成分のみであるため、
偏芯によりトラック誤差信号の振幅は変化しない。
ク誤差信号にオフセットを生じない条件はＫ＝Ａ／２Ｂ
であるから、（ｅ）の波形はＡ（１−ｓｉｎΔ）ｓｉｎ
Ｘとなる。すなわち、偏芯によりトラック誤差信号の振
幅が（１−ｓｉｎΔ）倍に変化する。これに対し、本発
明の第２及び第３実施形態においては、図１１の
（ｂ）、（ｃ）の波形および図１６の（ｂ）、（ｃ）の
波形は対物レンズシフト時の直流成分のみであるため、
偏芯によりトラック誤差信号の振幅は変化しない。
【００６９】ここで、ディスク６からの反射光を複数の
領域に分割して受光する方法として、本発明の第１乃至
第３の実施形態においては、複数の領域に分割された受
光部を有する光検出器で受光しているが、ディスク６と
光検出器の間に複数の領域に分割されたホログラム光学
素子を設け、複数の領域からの回折光の各々に対応した
複数の受光部を有する光検出器で受光する形態も可能で
ある。
領域に分割して受光する方法として、本発明の第１乃至
第３の実施形態においては、複数の領域に分割された受
光部を有する光検出器で受光しているが、ディスク６と
光検出器の間に複数の領域に分割されたホログラム光学
素子を設け、複数の領域からの回折光の各々に対応した
複数の受光部を有する光検出器で受光する形態も可能で
ある。
【００７０】
【発明の効果】本発明は、以上のように構成され機能す
るので、これによると、位相がπ／２ずれた隣接領域か
ら成る回折格子により、光源からの出射光を０次光、±
１次回折光の３つの光に分割すると共に、３つの集光ス
ポットを光記録媒体の同一トラック上に配置し、当該光
記録媒体で反射された回折格子の各領域からの±１次回
折光の光量に基づいてトラック誤差信号に対し位相がπ
／２ずれた信号を生成し、これをランド／グルーブの位
置検出に用いるので、ランド／グルーブの位置検出が可
能である。しかも、従来例と同様に対物レンズシフト時
のトラック誤差信号のオフセットを防止することも可能
である、という従来にない優れた光ヘッド装置を提供す
ることができる。
るので、これによると、位相がπ／２ずれた隣接領域か
ら成る回折格子により、光源からの出射光を０次光、±
１次回折光の３つの光に分割すると共に、３つの集光ス
ポットを光記録媒体の同一トラック上に配置し、当該光
記録媒体で反射された回折格子の各領域からの±１次回
折光の光量に基づいてトラック誤差信号に対し位相がπ
／２ずれた信号を生成し、これをランド／グルーブの位
置検出に用いるので、ランド／グルーブの位置検出が可
能である。しかも、従来例と同様に対物レンズシフト時
のトラック誤差信号のオフセットを防止することも可能
である、という従来にない優れた光ヘッド装置を提供す
ることができる。
【図１】本発明の光ヘッド装置の第１実施形態の構成を
示す図である。
示す図である。
【図２】本発明の光ヘッド装置の第１実施形態に用いる
回折格子の平面図である。
回折格子の平面図である。
【図３】本発明の光ヘッド装置の第１実施形態における
ディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
ディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
【図４】本発明の光ヘッド装置の第１実施形態における
光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を示
す図である。
光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を示
す図である。
【図５】図５（ａ）は、第１実施形態でのトラックの位
置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位
相の変化を示し、図５（ｂ）は、第１実施形態における
ディスク上の集光スポットを示す。
置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位
相の変化を示し、図５（ｂ）は、第１実施形態における
ディスク上の集光スポットを示す。
【図６】（ａ）〜（ｆ）は、本発明の光ヘッド装置の第
１実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グルー
ブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図である。
１実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グルー
ブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図である。
【図７】本発明の光ヘッド装置の第２実施形態に用いる
回折格子の平面図である。
回折格子の平面図である。
【図８】本発明の光ヘッド装置の第２実施形態における
ディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
ディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
【図９】本発明の光ヘッド装置の第２実施形態における
光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を示
す図である。
光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を示
す図である。
【図１０】図１０（ａ）は、第２実施形態でのトラック
の位置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光
の位相の変化を示し、図１０（ｂ）は、第２実施形態に
おけるディスク上の集光スポットを示す。
の位置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光
の位相の変化を示し、図１０（ｂ）は、第２実施形態に
おけるディスク上の集光スポットを示す。
【図１１】（ａ）〜（ｈ）は、本発明の光ヘッド装置の
第２実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
第２実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
【図１２】本発明の光ヘッド装置の第３実施形態に用い
る回折格子の平面図である。
る回折格子の平面図である。
【図１３】本発明の光ヘッド装置の第３実施形態におけ
るディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
るディスク上の集光スポットの配置を示す図である。
【図１４】本発明の光ヘッド装置の第３実施形態におけ
る光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を
示す図である。
る光検出器の受光部と光検出器上の光スポットの配置を
示す図である。
【図１５】図１５（ａ）は、第３実施形態でのトラック
の位置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光
の位相の変化を示し、図１５（ｂ）は、第３実施形態に
おけるディスク上の集光スポットを示す。
の位置ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光
の位相の変化を示し、図１５（ｂ）は、第３実施形態に
おけるディスク上の集光スポットを示す。
【図１６】（ａ）〜（ｈ）は、本発明の光ヘッド装置の
第３実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
第３実施形態におけるトラック誤差信号、ランド／グル
ーブの位置検出信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
【図１７】従来の光ヘッド装置の構成を示す図である。
【図１８】従来の光ヘッド装置に用いる回折格子の平面
図である。
図である。
【図１９】従来の光ヘッド装置におけるディスク上の集
光スポットの配置を示す図である。
光スポットの配置を示す図である。
【図２０】従来の光ヘッド装置における光検出器の受光
部と光検出器上の光スポットの配置を示す図である。
部と光検出器上の光スポットの配置を示す図である。
【図２１】図２１（ａ）は、従来例でのトラックの位置
ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位相
の変化を示し、図２１（ｂ）は、従来例におけるディス
ク上での集光スポットを示す。
ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位相
の変化を示し、図２１（ｂ）は、従来例におけるディス
ク上での集光スポットを示す。
【図２２】図２１（ａ）は、従来例でのトラックの位置
ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位相
の変化を示し、図２１（ｂ）は、従来例におけるディス
ク上での他の集光スポットを示す。
ずれに伴うディスクからの０次光、±１次回折光の位相
の変化を示し、図２１（ｂ）は、従来例におけるディス
ク上での他の集光スポットを示す。
【図２３】（ａ）〜（ｅ）は、従来の光ヘッド装置にお
けるトラック誤差信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
けるトラック誤差信号に関わる各種の波形を示す図であ
る。
１ 半導体レーザ（光源） ２ コリメータレンズ ３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ 回折格子 ４ ビームスプリッタ ５ 対物レンズ ６ ディスク（光記録媒体） ７ 複合レンズ ８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ 光検出器 ９ 入射光 １０ａ、１０ｂ、１８ａ〜１８ｃ、２３ａ〜２３ｄ 領
域 １１ トラック １２ａ〜１２ｃ、１９ａ〜１９ｃ、２４ａ〜２４ｃ 集
光スポット １３ａ〜１３ｃ、２０ａ〜２０ｃ、２５ａ〜２５ｃ 光
スポット １４ａ〜１４ｈ、２１ａ〜２１ｌ、２６ａ〜２６ｌ 受
光部 １５ａ、１５ｂ、２２ａ〜２２ｄ、２７ａ〜２７ｄ 領
域 １６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、１６ｅ 光ビーム １７ａ グルーブ １７ｂ ランド
域 １１ トラック １２ａ〜１２ｃ、１９ａ〜１９ｃ、２４ａ〜２４ｃ 集
光スポット １３ａ〜１３ｃ、２０ａ〜２０ｃ、２５ａ〜２５ｃ 光
スポット １４ａ〜１４ｈ、２１ａ〜２１ｌ、２６ａ〜２６ｌ 受
光部 １５ａ、１５ｂ、２２ａ〜２２ｄ、２７ａ〜２７ｄ 領
域 １６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、１６ｅ 光ビーム １７ａ グルーブ １７ｂ ランド
Claims (5)
- 【請求項１】 光源と、この光源の出力光を＋１次回折
光，０次光及び−１次回折光に分離する回折格子と、こ
の回折格子の透過光を光記録媒体の情報記録面に集光す
る対物レンズと、前記光記録媒体からの反射光を受光す
る光検出器と、この光検出器の出力に基づいてトラック
誤差信号を生成する信号処理回路とを備え、 前記回折格子は、光入射面が複数の領域に分割されると
共に、隣接する領域間では透過光の位相が異なるように
設定されており、 前記＋１次回折光，０次光及び−１次回折光が前記光記
録媒体上で同一のランド又はグルーブに配置されるよう
に制御される光ヘッド装置において、 前記回折格子を、前記隣接する領域間で透過光の位相が
π／２ずれるように構成すると共に、 前記光検出器は、前記回折格子を透過した＋１次回折光
及び−１次回折光を当該回折格子の分割された領域毎に
受光する複数の受光部から構成し、 前記信号処理回路は、前記複数の受光部の出力に基づい
て前記光記録媒体上の集光スポットが前記ランド又はグ
ルーブのいずれに配置されているかを判別可能な信号を
生成するように構成したことを特徴とする光ヘッド装
置。 - 【請求項２】 前記回折格子は、前記光記録媒体のトラ
ックに平行な方向の直線により２つの領域に分割されて
いることを特徴とした請求項１記載の光ヘッド装置。 - 【請求項３】 前記回折格子は、前記光記録媒体のトラ
ックに平行な方向の直線により３つの領域に分割されて
いることを特徴とした請求項１記載の光ヘッド装置。 - 【請求項４】 前記回折格子は、前記光記録媒体のトラ
ックに平行な方向の直線と当該光記録媒体のトラックに
垂直な方向の直線とにより４つの領域に分割されている
ことを特徴とした請求項１記載の光ヘッド装置。 - 【請求項５】 前記光記録媒体と前記光検出器との間に
当該光記録媒体からの反射光を透過するホログラム素子
が装備されていることを特徴とした請求項１記載の光ヘ
ッド装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9299079A JP3063707B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | 光ヘッド装置 |
| US09/177,578 US6282164B1 (en) | 1997-10-30 | 1998-10-23 | Optical head having a phase-shifting diffraction grating |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9299079A JP3063707B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11134677A true JPH11134677A (ja) | 1999-05-21 |
| JP3063707B2 JP3063707B2 (ja) | 2000-07-12 |
Family
ID=17867923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9299079A Expired - Fee Related JP3063707B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | 光ヘッド装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6282164B1 (ja) |
| JP (1) | JP3063707B2 (ja) |
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1998
- 1998-10-23 US US09/177,578 patent/US6282164B1/en not_active Expired - Lifetime
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