JP3176568B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップ装
置に関し、特にランド部とグルーブ部との幅が等しい光
ディスクを用い、ランド部とグルーブ部との両方に記録
再生を行う、回折素子を用いた光ピックアップ装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】近年、画像情報や音声情報をはじめとす
る各種の情報がデジタル化されるにつれてデジタル情報
の量が飛躍的に増大して来た。

【０００３】これに伴い、情報記憶装置にも大容量化、
高密度化が強く求められるようになってきており、これ
まで、光ディスク装置においては、トラックに沿った方
向の線記録密度を上げると共に、トラックピッチを小さ
くすることによって、高密度化に対応して来た。

【０００４】しかし、適切なトラッキング制御信号を得
るためには、トラックピッチをむやみに小さくすること
はできず、トラックピッチの狭小化には限界がある。そ
こで、ランド部もしくはグルーブ部のどちらか一方にの
み情報の記録再生を行っていた従来方式に対し、ランド
部及びグルーブ部の両方に情報を記録再生する装置が提
案されている。この提案方式のようにランド部及びグル
ーブ部の両方に情報を記録することをランド／グルーブ
記録と呼ぶ。

【０００５】ここで、ランド／グルーブ記録を行った際
に発生する課題について説明する。

【０００６】図１３（ａ）は、ランド部あるいはグルー
ブ部のどちらか一方にのみ記録を行ってきた従来方式に
おける、ディスク上の光スポットの位置とディスク反射
光量（ＴＯＴＡＬ）の関係を示す。また、図１３（ｂ）
は、ランド／グルーブ記録の場合のディスク上の光スポ
ットの位置とディスク反射光量（ＴＯＴＡＬ）の関係を
示す。

【０００７】図１３（ａ）に示す従来方式では、ランド
部上の各点（図中のｌ点）からの反射光量（ＴＯＴＡ
Ｌ）は最小になるのに対して、グルーブ部上の各点（図
中のｇ点）からの反射光量（ＴＯＴＡＬ）は最大とな
る。これは、ランド部上に光スポットがあるときに光の
回折の影響が最も大きく、そのため反射光量の低下が最
も大きいためである。このような反射光量のランド部上
とグルーブ部上での大小関係は、ランド部の幅とグルー
ブ部の幅の大小関係で異なり、図１３（ａ）では、グル
ーブ部の幅がランド部の幅より大きい場合を示してい
る。なお、図中のＰはトラップピッチである。

【０００８】一方、ランド／グルーブ記録を行うための
ディスクでは、記録情報ビットの幅をランド部とグルー
ブ部とで同一にするのが望ましいため、ランド部の幅と
グルーブ部の幅とはほぼ等しく設定される。そのため、
ディスク上の光スポットの位置と反射光量（ＴＯＴＡ
Ｌ）の関係は、図１３（ｂ）に示すようになり、反射光
量（ＴＯＴＡＬ）は、図１３（ａ）に示す従来方式の場
合の２倍周期となる。つまり、ランド部上の各点（図中
のｌ点）及び、グルーブ部上の各点（図中のｇ点）で常
に最大値を示す。これは、従来方式の場合と違って、ラ
ンド部の幅とグルーブ部の幅がほぼ等しいため、光の回
折の影響もランド部上とグルーブ部上とでほぼ等しくな
るためである。

【０００９】これまで、この反射光量（ＴＯＴＡＬ）
は、光スポットがランド部上あるいはグルーブ部上に位
置するのかを判断するために用いられており、トラッキ
ング引き込み（トラッキングサーボオンの動作を行う）
等に利用されている。

【００１０】トラッキング制御の引き込みを行う場合、
トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）＝０となる極性（Ｔ
ＥＳカーブが右上がりとなるか、あるいは、右下がりと
なるか）は、ランド部とグルーブ部とで逆極性となるた
め、光スポットをランド部にトラッキングさせるか、あ
るいは、グルーブ部にトラッキングさせるかにより、予
め、トラッキング制御信号の極性を決めておく。その
後、光スポットがトラッキング制御を行うべきランド部
もしくはグルーブ部の中心付近にある時に、トラッキン
グ制御ループを閉じるのが良い。

【００１１】すなわち、ランド部上にトラッキング制御
をかけようとするときには、ランド部の中心付近でトラ
ッキング制御ループを閉じるのが良く、グルーブ部上に
トラッキング制御をかけようとするときには、グルーブ
部の中心付近でトラッキング制御ループを閉じるのが良
い。逆に、ランド部上にトラッキング制御をかけようと
するときに、グルーブ部上でトラッキング制御ループを
閉じると、トラッキング制御信号の極性が逆なのでトラ
ッキング制御の引き込みができない。

【００１２】そこで、光スポットがランド部中心もしく
はグルーブ部中心を横切っていることを検出する信号、
つまり、ランド／グルーブ判別信号が必要となり、従
来、図１３（ａ）に示した反射光量（ＴＯＴＡＬ）が用
いられてきた。

【００１３】しかしながら、ランド／グルーブ記録の場
合、図１３（ｂ）に示すように、従来方式の場合と違っ
てランド部の幅とグルーブ部の幅がほぼ等しく設定され
るため、反射光量（ＴＯＴＡＬ）がランド部上とグルー
ブ部上とでほぼ等しくなり、ランド／グルーブの判別が
不可能となるため、従来の技術では安定したトラッキン
グ引き込みができないという問題があった。

【００１４】次に、他の課題について説明する。

【００１５】その課題としては、トラッキング誤差（エ
ラー）信号（ＴＥＳ）の検出法として、ＣＤやＭＤ等で
採用されている３ビーム法が採用できなくなり、プッシ
ュプル法を採用せざるを得ないという点である。

【００１６】３ビーム法の検出方法としては、メインス
ポットに対して、２つのサブスポットを対称に配置し、
２つのサブスポットの反射光量（ＴＯＴＡＬ）の差をト
ラッキング誤差信号としている。そのため、３ビーム法
によるＴＥＳとしては、サブスポットの反射光量（ＴＯ
ＴＡＬ）と同じ周期を有するＴＥＳが得られる。つま
り、ランド部あるいはグルーブ部のどちらか一方にのみ
記録を行ってきた従来方式では、図１３（ａ）に示すよ
うにトラックピッチに対応した周期のＴＥＳが得られる
のに対して、ランド／グルーブ記録の場合には、ランド
幅とグルーブ幅が、ほぼ等しく設定されるため、図１３
（ｂ）に示すようにトラックピッチの１／２の周期に対
応したＴＥＳとなってしまう。つまり、ランド部あるい
はグルーブ部のどちらか一方にのみ記録を行ってきた従
来方式では、ランド部中心とグルーブ部中心においての
み、ＴＥＳ＝０が得られていたのに対して、ランド／グ
ルーブ記録の場合には、トラックピッチの１／２の周期
に対応したＴＥＳ（従来方式の倍周期のＴＥＳ）となる
ため、ランド部中心とグルーブ部中心以外のランド部と
グルーブ部との境界においても、ＴＥＳ＝０となるた
め、３ビーム法では安定したトラッキングが不可能とな
る。よって、ランド幅とグルーブ幅とがほぼ等しく設定
されたランド／グルーブ記録用ディスクでは、ＴＥＳ検
出方法として、プッシュプル法を採用せざるを得ない。

【００１７】このプッシュプル法を採用する際の問題点
としては、従来より言われているように対物レンズがデ
ィスクの偏心等に追従することにより、軸ずれが発生し
た場合、シフト量に対応してＴＥＳにオフセットが発生
することである。

【００１８】このオフセットを低減するためには、リニ
アモータ等により光ピックアップ装置の光学系全体をデ
ィスク偏心に追従させ、対物レンズのシフト量を小さく
する方法が考えられている。しかし、リニアモータの採
用は、通常の回転型モータとラックピニオンとの組み合
わせによる送り機構に比べ、コスト高となり、かつサイ
ズも大きいため、光ピックアップ装置の小型化の妨げと
なり、かつコストアップを招く。

【００１９】このようなプッシュプル法における欠点を
解決するための１つの方法が、特公平４−３４２１２に
開示されている。その方法を図１４及び図１５を用いて
説明する。図１４（ａ）にその光学系を示し、図１４
（ｂ）にディスク上でのスポットの配置を示し、図１４
（ｃ）に光検出器の形状を示している。

【００２０】図１４（ａ）において、半導体レーザ１０
１から出射された光は、コリメートレンズ１０４によっ
て平行光に変換された後、回折格子１０２により、０次
光と±１次光の３つの光に分離される。これらの光は、
ビームスプリッタ１０５を透過した後、対物レンズ１０
６により、図１４（ｂ）に示すように０次光により形成
されるメインスポット１０８と±１次光により形成され
るサブスポット１０９、１１０の３つのスポットを光デ
ィスク１０７の上に形成する。

【００２１】光ディスク１０７からの反射光は、再び、
対物レンズ１０６およびビームスプリッタ１０５を透過
して半導体レーザ１０１側に戻るが、一部の光はビーム
スプリッタ１０５により反射され、集光レンズ１５０に
より光検出器１５１上に集光される。

【００２２】なお、特公平４−３４２１２では、光ディ
スク１０７上のメインスポット１０８とサブスポット１
０９、１１０は、図１４（ｂ）に示すようにメインスポ
ット１０８とサブスポット１０９または１１０との間隔
をトラックピッチＰの１／２に配置する構成を最良とし
ている。

【００２３】光検出器１５１は、図１４（ｃ）に示すよ
うに、光ディスク１０７上のメインスポット１０８とサ
ブスポット１０９、１１０の回折パターン１０８’、１
０９’、１１０’を各々受光する領域５１１、５１２、
５１３を有しており、さらにそれぞれの領域５１１、５
１２、５１３は、光ディスク１０７のトラック方向に２
分割されている。これら２分割された領域の各々を、図
１４（ｃ）に示すようにａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆとし、
それぞれの出力をａ_s、ｂ_s、ｃ_s、ｄ_s、ｅ_s、ｆ_sとすれ
ば、トラッキング誤差信号（ＴＥＳ）は、次の演算をす
ることにより得られる。

【００２４】ＴＥＳ＝（ｅ_s−ｆ_s）−［α（ａ_s−ｂ_s）
＋β（ｃ_s−ｄ_s）］ 但し、α、βは定数 このＴＥＳは、通常のプッシュプル法で用いられる信号
である（ｅ_s−ｆ_s）から、サブスポットにより生成され
るプッシュプル信号を差し引いたものとなっている。こ
のＴＥＳを用いることにより、対物レンズ１０６がシフ
トし、回折パターン１０８’、１０９’、１１０’が、
光検出器１５１上において、図１４（ｃ）の実線から点
線で示す位置にずれたときでも、オフセットが発生しな
いＴＥＳを得ることができる。

【００２５】このことを、光検出器１５１から得られる
出力（ｅ_s−ｆ_s）、（ａ_s−ｂ_s）及び（ｃ_s−ｄ_s）の各
波形をディスク上の位置に対応させて示した図１５を用
いて説明する。

【００２６】対物レンズ１０６がシフトすることによ
り、回折パターン１０８’が図１４（ｃ）に点線で示し
た方向にずれたとすると、出力ｅ_sが出力ｆ_sに対して光
量の増加したものとなるため、通常のプッシュプル法で
は、図１５に示した（ｅ_s−ｆ_s）が図中上側に移動し、
オフセットが発生する。一方、サブスポットの回折パタ
ーン１０９’、１１０’に関しても、出力ａ_sとｃ_sが、
出力ｂ_sとｄ_sに対して、光量の増加したものとなるた
め、図１５に示した（ａ_s−ｂ_s）および（ｃ_s−ｄ_s）も
図中上側に移動する。

【００２７】これに対して、（ｅ_s−ｆ_s）、（ａ_s−
ｂ_s）及び（ｃ_s−ｄ_s）の位相関係については、メイン
スポットの回折パターン１０８’により得られるプッシ
ュプル信号（ｅ_s−ｆ_s）が、図１５に示すようにサブス
ポットの回折パターン１０９’、１１０’より得られる
信号（ａ_s−ｂ_s）、（ｃ_s−ｄ_s）と、位相が１８０°ず
れた反転した信号となっている。

【００２８】これは、トラックピッチＰを１周期とする
メインスポットによるプッシュプル信号（ｅ_S−ｆ_S）に
対して、その配置からサブスポットによるプッシュプル
信号（ａ_s−ｂ_s）、（ｃ_s−ｄ_s）は、トラックピッチの
１／２（Ｐ／２）逆方向にずれることによるものであ
る。つまり、対物レンズのシフトにより発生するオフセ
ットが、メインスポットとサブスポットとで同方向に発
生するのに対して、ディスクのトラックに対応した信号
は反転した信号となるため、これらの差を検出すること
により、信号振幅が２倍となり、さらにオフセットがキ
ャンセルされたＴＥＳを検出することができる。

【００２９】しかし、この方法では、図１５に示したよ
うに、メインスポットの出力信号及び一対のサブスポッ
トの出力信号は、ランド部上の各点（図中のｌ点）及び
グルーブ部上の各点（図中のｇ点）で常に０となる。つ
まり、特公平４−３４２１２に開示されている方法で
は、ランド部とグルーブ部で共に同じ信号しか得られな
いため、図１３（ｂ）に示した従来の反射光量（ＴＯＴ
ＡＬ）を用いた場合と同様に、ランド幅とグルーブ幅が
ほぼ等しく設定されたランド／グルーブ記録用ディスク
のランド／グルーブ判別信号を得ることは不可能であ
る。

【００３０】これは、特公平４−３４２１２が、従来の
ランド部あるいはグルーブ部のどちらか一方にのみ記録
を行ってきた従来方式を想定しているため、図１３
（ａ）に示した反射光量（ＴＯＴＡＬ）によるランド／
グルーブ判別が可能であり、問題が発生しないことによ
るものである。

【００３１】さらに、特公平４−３４２１２は、レンズ
やプリズムを用いた検出光学系を用いた光ピックアップ
装置を示しているに過ぎないため、光ピックアップ装置
の小型化には限界がある。

【００３２】

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来技術においては、ランド幅とグルーブ幅がほぼ等し
い場合に、ランドとグルーブの判別信号が得られず、そ
のため、ランドとグルーブの判別ができないために、ト
ラッキング制御を安定に引き込むことができないという
問題があった。

【００３３】さらに、ランド幅とグルーブ幅がほぼ等し
いディスクにおいては、トラッキング誤差信号として、
ＣＤやＭＤ等で採用されている３ビーム法が採用できな
いため、プッシュプル法を採用しなければならず、対物
レンズのシフトによりトラッキング誤差信号にオフセッ
トが発生するという問題があり、これを避けるために
は、リニアモータの採用が必要となる。そのため、通常
の回転モータに比べ、コスト高となり、サイズも大きい
ため、光ピックアップ装置の小型化の妨げとなり、かつ
コストアップを招来していた。

【００３４】本発明は、このような問題を解決すべくな
されたものであり、ランド幅とグルーブ幅がほぼ等しい
場合にもランドとグルーブの判別ができ、さらにトラッ
キング誤差信号にオフセットが発生しない回折素子を用
いた小型、薄型化が可能な光ピックアップ装置を提供す
ることを目的としている。

【００３５】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１の光ピ
ックアップ装置は、トラックを形成する溝部であるグル
ーブ部と溝間部であるランド部とが、ほぼ等しい幅で形
成された光ディスクに対し、情報の記録再生を行う光ピ
ックアップ装置において、０次光のメインスポットと、
ディスク半径方向に該メインスポットに対してトラック
ピッチの略１／４である（グルーブ幅＋ランド幅）／４
の間隔で対称に配置された一対の±１次光のサブスポッ
トとを形成する第１の回折素子と、該第１の回折素子に
て形成されたメインスポットと一対のサブスポットによ
るディスクからの反射光を回折する、少なくともトラッ
クと平行方向に分割された第２の回折素子と、＋１次光
のサブスポットについて第２の回折素子によるトラック
と平行方向に分割されたそれぞれの領域からの回折光を
検出する受光部（Ａ、Ｂ）、および、−１次光のサブス
ポットについて第２の回折素子によるトラックと平行方
向に分割されたそれぞれの領域からの回折光を検出する
受光部（Ｃ、Ｄ）を少なくとも有する受光素子と、該受
光素子の各受光部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の出力をＡ_S、
Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_Sとする場合に、（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ
_S）をランド／グルーブ判別信号として演算する演算手
段とを具備し、そのことにより上記目的が達成される。

【００３６】本発明の請求項２の光ピックアップ装置
は、トラックを形成する溝部であるグルーブ部と溝間部
であるランド部とが形成された光ディスクに対し、情報
の記録再生を行う光ピックアップ装置において、０次光
のメインスポットと、ディスク半径方向にメインスポッ
トに対してトラックピッチの略１／４である（グルーブ
幅＋ランド幅）／４の間隔で対称に配置された一対の±
１次の光サブスポットとを形成する第１の回折素子と、
該第１の回折素子にて形成されたメインスポットと一対
のサブスポットによるディスクからの反射光を回折す
る、少なくともトラックと平行方向に分割された第２の
回折素子と、＋１次光のサブスポットについて第２の回
折素子によるトラックと平行方向に分割されたそれぞれ
の領域からの回折光を検出する受光部（Ａ、Ｂ）、−１
次光のサブスポットについて第２の回折素子によるトラ
ックと平行方向に分割されたそれぞれの領域からの回折
光を検出する受光部（Ｃ、Ｄ）、および、メインスポッ
トについて第２の回折素子によるトラックと平行方向に
分割されたそれぞれの領域からの回折光を検出する受光
部（Ｅ、Ｆ）を少なくとも有する受光素子と、該受光素
子のそれぞれの受光部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ）の出
力をＡ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_Sとする場合に、（Ｅ
_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但
し、αは定数）をトラッキング誤差信号として演算する
演算手段とを具備し、そのことにより上記目的が達成さ
れる。

【００３７】本発明の請求項３の光ピックアップ装置
は、請求項１または２に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記第２の回折素子は、光ディスクのトラックと
直交方向に２分割された一方の領域（３２＋３３）と他
方の領域（３１）を有し、該一方の領域（３２＋３３）
がトラックと平行方向に２分割された領域（３２）と領
域（３３）を有する構成であり、光ディスクのトラック
と直交方向に分割された他方の領域（３１）からの回折
光をフォーカスエラー信号として検出することを特徴と
する。

【００３８】本発明の請求項４の光ピックアップ装置
は、請求項３に記載の光ピックアップ装置において、前
記受光素子が、メインスポットについて第２の回折素子
のトラックと直交方向に分割された前記他方の領域（３
１）からの回折光を検出する隣接した受光部（Ｈ、Ｇ）
を有する構成であり、前記回折光が受光部（Ｈ、Ｇ）の
分割線上に集光されて得られる出力をＨ_S、Ｇ_Sとする場
合に、前記演算手段がＧ_S−Ｈ_Sをフォーカスエラー信号
として演算することを特徴とする。

【００３９】本発明の請求項５の光ピックアップ装置
は、請求項３または４に記載の光ピックアップ装置にお
いて、＋１次光のサブスポットについて第２の回折素子
によるトラックと直交方向に分割された他方の領域（３
１）からの回折光、および、−１次光のサブスポットに
ついて第２の回折素子によるトラックと平行方向に分割
された一方の領域（３２）からの回折光を同一の受光部
で受光し、かつ、−１次光のサブスポットについて第２
の回折素子によるトラックと直交方向に分割された他方
の領域（３１）からの回折光、および、＋１次光のサブ
スポットについて第２の回折素子によるトラックと平行
方向に分割された一方の領域（３２）からの回折光を別
の同一の受光部で受光する構成としてあることを特徴と
する。

【００４０】本発明の請求項６の光ピックアップ装置
は、請求項１または２に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記第２の回折素子は、光ディスクのトラックと
平行方向に２分割された領域（３４と３５）を有する構
成となっていることを特徴とする。

【００４１】本発明の請求項７の光ピックアップ装置
は、請求項６に記載の光ピックアップ装置において、メ
インスポットについて第２の回折素子によるトラックと
平行方向に分割されたそれぞれの領域からの各回折光を
検出する受光部が、それぞれ分割された受光部（Ｅ１と
Ｅ２）及び分割された受光部（Ｆ１とＦ２）であり、メ
インスポットについて第２の回折素子のトラックと平行
方向に分割された一方の領域（３４）による回折光が受
光部（Ｅ１とＥ２）の分割線上に集光され、他方の領域
（３５）による回折光が受光部（Ｆ１とＦ２）の分割線
上に集光されて、得られる各出力をＥ１_S、Ｅ２_S、Ｆ１
_S、Ｆ２_Sとする場合に、（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ１_S＋
Ｆ２_S）をフォーカスエラー信号として演算し、また、
｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S)−（Ｆ１_S＋Ｆ２_S）｝−｛α（Ａ_S−
Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但し、αは定数）をトラッ
キングエラー信号として演算する構成となっていること
を特徴とする。

【００４２】以下に、本発明の作用を説明する。

【００４３】本発明の請求項１の光ピックアップ装置に
よる場合は、０次光のメインスポットと、ディスク半径
方向に該メインスポットに対してトラックピッチの略１
／４である（グルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で対称
に配置された一対の±１次光のサブスポットとを形成す
る第１の回折素子を備え、受光素子の受光部（Ａ、Ｂ）
が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割された
それぞれの領域からの＋１次光のサブスポットについて
の回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｃ、Ｄ）
が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割された
それぞれの領域からの−１次光のサブスポットについて
の回折光を検出する。このとき、受光素子の各受光部
（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の出力をＡ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_Sとする
場合、演算手段が（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S）をランド
／グルーブ判別信号として演算すると、ランド部で最大
（または最小）となり、グルーブ部で最小（または最
大）となるランド／グルーブ判別信号を得ることがで
き、グルーブ幅とランド幅が等しいディスクにおいても
安定したトラッキング引き込みを行うことができる。

【００４４】また、本発明の請求項２の光ピックアップ
装置による場合は、０次光のメインスポットと、ディス
ク半径方向にメインスポットに対してトラックピッチの
略１／４である（グルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で
対称に配置された一対の±１次の光サブスポットとを形
成する第１の回折素子を備え、受光素子の受光部（Ａ、
Ｂ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からの＋１次光のサブスポットにつ
いての回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｃ、
Ｄ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からの−１次光のサブスポットにつ
いての回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｅ、
Ｆ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からのメインスポットについての回
折光を検出する。このとき、受光素子のそれぞれの受光
部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ）の出力をＡ_S、Ｂ_S、
Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_Sとする場合、演算手段が（Ｅ_S−
Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但し、
αは定数）をトラッキング誤差信号として演算すると、
回折素子を用いた光ピックアップ装置においても、対物
レンズがディスクの偏心等に追従ししシフトが発生して
も、オフセットの生じないトラッキング誤差信号を得る
ことができ、サーボ信号検出に回折素子を用いることに
より従来のレンズの組み合わせによるサーボ信号検出を
行う光ピックアップ装置に比べてより小型、薄型化が可
能となる。さらに、メインスポットに対してトラックピ
ッチの略１／４の間隔で一対のサブスポット（±１次
光）を形成することにより、ランド／グルーブ判別信号
の検出も可能な光ピックアップ装置を構成することがで
きる。

【００４５】本発明の請求項３の光ピックアップ装置に
おける第２の回折素子の構成としては、光ディスクのト
ラックと直交方向に２分割されており、分割された一方
の領域が、さらにトラックと平行方向に２分割された計
３分割の構成としている。この場合、トラックと直交方
向に分割された領域（３１）から回折光では、プッシュ
プル信号成分が相殺されるため、この回折光を用いてフ
ォーカスエラー信号を検出することにより、ディスクの
トラックの影響を受けないフォーカスエラー信号の検出
が可能な光ピックアップ装置を構成することができる。

【００４６】本発明の請求項４の光ピックアップ装置に
よる場合は、第２の回折素子が３分割されている構成に
おいて、メインスポット（０次光）の第２の回折素子の
トラックと直交方向に分割された領域３１からの回折光
を、受光素子の隣接した受光部Ｈ、Ｇが検出し、その出
力をＨ_S、Ｇ_Sとすれば、その差を演算することにより、
フーコー法によるフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）を検
出可能である。また、このような演算結果をフォーカス
エラー信号とすることにより、ランド／グルーブ判別信
号、及びトラッキングエラー信号とともに、ほぼ一体化
された検出系（回折素子と受光素子）で３種類の信号を
検出することができるため、信頼性が高くより小型な光
ピックアップ装置を構成することができる。

【００４７】本発明の請求項５の光ピックアップ装置に
よる場合は、上記第２の回折素子が３分割されている構
成において、＋１次光のサブスポットの第２の回折素子
によるトラックと直交方向に分割された領域からの回折
光と、−１次光のサブスポットの第２の回折素子による
トラックと平行方向に分割された一方の領域からの回折
光とを、受光素子の同一の受光部で受光し、かつ、−１
次光のサブスポットの第２の回折素子によるトラックと
直交方向に分割された領域からの回折光と、＋１次光の
サブスポットの第２の回折素子によるトラックと平行方
向に分割された上記領域と異なる領域からの回折光と
を、受光素子の別の同一の受光部で受光することによ
り、受光部を小さく構成できるため、受光素子を一体化
することが可能となり、光ピックアップ装置をより小型
化することができる。

【００４８】本発明の請求項６の光ピックアップ装置に
よる場合は、前記第２の回折素子は、光ディスクのトラ
ックと平行方向に２分割された領域（３４と３５）を有
する構成となっている。この２分割構成の場合は、３分
割された第２の回折素子を用いる光ピックアップ装置に
比べ、メインスポット（０次光）及び、２つのサブスポ
ット（±１次光）の回折光を受光する受光部（Ａ、Ｂ、
Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ）の出力（Ａ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、
Ｆ_S）を２倍とすることができるため、より信頼性の高
いランド／グルーブ判別信号及び、トラッキングエラー
信号を検出することが可能となる。

【００４９】本発明の請求項７の光ピックアップ装置に
よる場合は、第２の回折素子が２分割されている構成に
おいて、メインスポット（０次光）の第２の回折素子の
トラックと平行方向に分割された領域による回折光を受
光する受光部Ｅ、Ｆのそれぞれを、Ｅ１とＥ２及びＦ１
とＦ２に分割し、それぞれの受光部Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１お
よびＦ２から得られる出力をＥ１_S、Ｅ２_S、Ｆ１_S、Ｆ
２_Sとすると、（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ１_S＋Ｆ２_S）を
演算することにより、ダブルナイフエッジ法によるＦＥ
Ｓ検出が可能となる。また、この演算結果である（Ｅ１
_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ２_S＋Ｆ２_S）をフォーカスエラー信号
とし、また、｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋Ｆ２_S）｝
−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但し、αは定
数）を演算した結果をトラッキングエラー信号とするこ
とにより、ランド／グルーブ判別信号とともに、ほぼ一
体化された検出系（回折素子と受光素子）で３種類の信
号を検出することができるため、信頼性が高くより小型
な光ピックアップ装置を構成することができる。

【００５０】なお、本発明に係る回折素子を用いた光ピ
ックアップ装置に類似の構成が、特開平５−２０５２９
５に開示されている。しかし、この開示された技術は、
従来のランド部あるいはグルーブ部のどちらか一方にの
み記録を行ってきた従来方式を想定しており、サブスポ
ットの回折素子によるトラックと平行方向に分割された
領域からの回折光を検出する受光部が開示されていな
い。そのため、本発明の目的であるランドの幅とグルー
ブの幅がほぼ等しく設定されたランド／グルーブ記録用
ディスクにおいて、ランド／グルーブ判別信号の検出や
対物レンズシフト時に発生するトラッキング誤差信号の
オフセットの除去が不可能である。

【００５１】

【発明の実施の形態】

（第１の実施形態）図１〜図４を用いて、本発明による
第１の実施形態について説明する。

【００５２】なお、第１〜第４の実施形態の構成におい
ては、磁気光学効果を利用した光磁気ディスクを記録再
生が可能な光ディスクの例として、説明して行く。

【００５３】図１は、第１の実施形態の光ピックアップ
装置における光学系を示した斜視図である。半導体レー
ザ１から出射された光は、第１の回折素子２により、光
磁気ディスク７上にメインスポットと２つのサブスポッ
トとを形成するために、０次光と±１次光の３つの光に
分離される。その後、第２の回折素子３を透過する。な
お、第２の回折素子３により、半導体レーザ１から光磁
気ディスク７に至る往路中に発生する±１次光は、対物
レンズ６に入射しない構成となっているため、説明は省
略する。

【００５４】その後、コリメートレンズ４により平行光
に変換された後、その光はビームスプリッタ５を透過
し、対物レンズ６により、ランド幅とグルーブ幅がほぼ
等しく形成され、かつ、ランド部とグルーブ部の両方に
情報が記録再生される光磁気ディスク７上に照射され
る。このとき、図２（ａ）に示すように第１の回折素子
２により生成された０次光によるメインスポット８と±
１次光による２つのサブスポット９、１０とが形成され
る。

【００５５】光磁気ディスク７からの反射光は、再び、
対物レンズ６により平行光となり、一部の光はビームス
プリッタ５を反射して、図には示していないが、磁気光
学効果を利用した光磁気ディスクの信号を再生するため
の検光子、及び光を電気信号に変換する受光素子等によ
り形成される光磁気信号検出系により、光磁気ディスク
７に記録された情報が再生される。

【００５６】一方、ビームスプリッタ５、コリメートレ
ンズ４を透過した光は、第２の回折素子３によって回折
され、その１次回折光が受光素子１１〜１３に受光さ
れ、受光素子１１〜１３により、サーボ信号（フォーカ
ス誤差信号：ＦＥＳ、トラッキング誤差信号：ＴＥＳ）
とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号が検出される。

【００５７】次に、図２を用い、図１に示した光学系に
おける光磁気ディスク７上でのメインスポット８とサブ
スポット９、１０の位置関係、及び、第２の回折素子３
による回折光が受光素子１１〜１３のどの領域で受光さ
れるかにつき説明する。

【００５８】図２（ａ）に示すように、光磁気ディスク
７は、ランド部ｌとグルーブ部ｇが、それぞれＰ／２の
等しい幅で形成されており、ランド部ｌとグルーブ部ｇ
の幅を足し合わせたＰがディスク７のトラックピッチと
なる。さらに、光磁気ディスク７上には、メインスポッ
ト８に対して、サブスポット９、１０の位置が対称に配
置され、メインスポット８とサブスポット９、及びメイ
ンスポット８とサブスポット１０のディスク半径方向の
間隔は、図に示すようにトラックピッチＰの１／４（Ｐ
／４）に配置されている。

【００５９】次に、各ディスク反射光による回折パター
ン８’、９’、及び１０’が、第２の回折素子３と受光
素子１１〜１３により、どのように回折され、受光され
るかを説明する。

【００６０】図２（ｂ）は、サブスポット９のディスク
による回折パターン９’と第２の回折素子３、及び受光
素子１１〜１３の位置関係を示し、図２（ｃ）はメイン
スポット８のディスクによる回折パターン８’と第２の
回折素子３、及び受光素子１１〜１３の位置関係を示
し、図２（ｄ）はサブスポット１０のディスクによる回
折パターン１０’と第２の回折素子３、及び受光素子１
１〜１３の位置関係を示す。

【００６１】第２の回折素子３は、領域３１〜３３に３
分割されており、それぞれの領域３１〜３３は、ディス
クのトラックと直交方向に領域３１と他の領域（３２＋
３３）とに２分割され、さらに分割された一方の領域が
トラックと平行方向に領域３２と領域３３に２分割され
た構成となっている。

【００６２】図２（ｂ）に示すように、サブスポット９
の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パター
ンを９’とすると、回折パターン９’の回折素子３によ
る回折光のうち、領域３１による回折光は受光素子１２
の２分割された受光部Ｇ、Ｈに受光されず、領域３２に
よる回折光は、受光素子１１の３分割された受光部Ａ、
Ｅ、ＣのうちのＣにより検出され、領域３３による回折
光は、受光素子１３の３分割された受光部Ｂ、Ｆ、Ｄの
うちのＤにより検出される。

【００６３】図２（ｃ）に示すように、メインスポット
８の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パタ
ーンを８’とすると、回折パターン８’の回折素子３に
よる回折光のうち、領域３１による回折光は、受光素子
１２の受光部ＧとＨの分割線上に集光され、領域３２に
よる回折光は、受光素子１１の３分割された真中の受光
部Ｅにより検出され、領域３３による回折光は、受光素
子１３の３分割された真中の受光部Ｆにより検出され
る。

【００６４】図２（ｄ）に示すように、サブスポット１
０の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パタ
ーンを１０’とすると、回折パターン１０’の回折素子
３による回折光のうち、領域３１による回折光は受光素
子１２に受光されず、領域３２による回折光は、受光素
子１１の３分割された受光部Ａにより検出され、領域３
３による回折光は、受光素子１３の３分割された受光部
Ｂにより検出される。

【００６５】次に、図３を用いて、サーボ信号（ＦＥ
Ｓ、ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号の
検出について、説明する。なお、図３には、繁雑となる
ため、回折素子３によるメインビームの回折光の回折方
向のみ点線で示してある。

【００６６】受光素子１１〜１３の受光部Ａ〜Ｈの出力
をＡ_S〜Ｈ_Sとすると、ＦＥＳは、回折素子３のうち、デ
ィスクのトラックと直交方向に分割された領域３１によ
るメインスポットの回折光を受光する受光部Ｈ、Ｇの出
力を差動増幅器２１にて演算し、フーコー法により検出
される。

【００６７】受光部Ｈ、Ｇで検出される信号は、図２
（ｃ）に示したように、ディスクのトラックと直交方向
に分割された領域３１による回折光に基づいたものとな
るため、プッシュプル信号を検出するためのディスクの
トラックと平行方向に分割された領域３２、３３による
回折光に基づいたものを加え合わせたものと等価とな
る。そのため、領域３１による回折光は、プッシュプル
信号成分を相殺することが可能となり、ディスクのトラ
ックの影響を受けないＦＥＳとすることができるため、
領域３１による回折光により良好なＦＥＳを検出するこ
とができる。

【００６８】ランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号に関
しては、トラックと平行方向に分割された回折素子３の
領域３２と領域３３によるサブスポットの回折パターン
９’の回折光（Ｃ_S、Ｄ_S）の差信号を差動増幅器２０に
より求め、さらにサブスポット１０の回折パターン１
０’の回折光（Ａ_S、Ｂ_S）の差信号を差動増幅器２３に
より求め、これらの差信号を差動増幅器２７により求め
ることにより得られる。

【００６９】さらに、ＴＥＳに関しては、トラックと平
行方向に分割された回折素子３の領域３２と領域３３に
よるメインスポットの回折パターン８’の回折光
（Ｅ_S、Ｆ_Ｓ）の差信号を差動増幅器２２により求め、
先程の差動増幅器２０、２３で求めたサブスポットの回
折パターンによる信号（Ｃ_Ｓ−Ｄ_S、Ａ_S−Ｂ_S）を、増
幅器２４、２５によりα倍した後、加算増幅器２６によ
り足し合わせ、差動増幅器２２より得られた信号（Ｅ_S
−Ｆ_S）から、差動増幅器２８により差し引くことによ
り得られる。

【００７０】以上の信号をまとめると次のようになる。

【００７１】ＦＥＳ＝Ｇ_S−Ｈ_S ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−
Ｄ_S）｝ 但し、αは定数 上記ＴＥＳにおいて、増幅器２４、２５のゲインαはメ
インスポット８とサブスポット９、１０の強度比を合わ
すため設定されたものであり、第１の回折素子２の０次
回折光の強度と±１次回折光の強度との関係は、次のよ
うになっている。

【００７２】−１次回折光強度：０次回折光強度：＋１
次回折光強度＝１：２・α：１ 次に、各信号の波形を示した図４を用いて、ｌ／ｇ判別
信号の検出及び、オフセットの発生しないＴＥＳが得ら
れる理由を示す。なお、図４の波形は、同図（ａ）に示
すディスク上の各位置にメインスポットが位置したとき
の信号波形を示している。

【００７３】図３に示した差動増幅器２２、２３、２０
の各出力Ｅ_S−Ｆ_S、Ａ_S−Ｂ_S、Ｃ_S−Ｄ_Sは、図４（ｂ）
および（ｃ）に示すように、それぞれディスクのトラッ
クピッチＰを１周期とするサイン波状の信号波形とな
る。

【００７４】メインスポットより生成される差動増幅器
２２の出力Ｅ_S−Ｆ_Sは、トラックと平行方向に分割され
た回折素子３の領域３２と領域３３による回折光である
ため、図４（ｂ）には、オフセットのある状態の信号を
示してあるが、オフセットがなければ、プッシュプル信
号と同じランド部の中心とグルーブ部の中心で０となる
信号波形となる。

【００７５】一方、サブスポットより生成される差動増
幅器２３の出力Ａ_S−Ｂ_Sと、同じく差動増幅器２０の出
力Ｃ_S−Ｄ_Sとは、図４（ｃ）に示すように、メインスポ
ットより生成される図４（ｂ）に示すＥ_S−Ｆ_Sと同じ波
形であるが、ディスク上において、メインスポットと２
つのサブスポットのディスク半径方向の間隔は、トラッ
クピッチＰの１／４（Ｐ／４）に配置されているため、
それぞれのサブスポットによる信号Ａ_S−Ｂ_SとＣ_S−Ｄ_S
は、Ｅ_S−Ｆ_Sに対して、前後にπ／２位相のずれたサイ
ン波信号となる。その理由は、トラックピッチＰを１周
期とするプッシュプル信号Ｅ_S−Ｆ_Sに対して、サブスポ
ットによる信号Ａ_S−Ｂ_SとＣ_S−Ｄ_Sとは、その配置から
トラックピッチＰの１／４（Ｐ／４）逆方向にずれるた
めである。

【００７６】さらに、

【従来の技術】の項で示したように、対物レンズがディ
スクの偏心等に追従することにより軸ずれが発生した場
合等に、オフセットが発生する。このオフセットを図４
（ｂ）中に示した一点鎖線のように仮定すると、オフセ
ットの無い上記メインスポットによるプッシュプル信号
Ｅ_S−Ｆ_Sに、一点鎖線で示したオフセットが加算された
信号となる。よって、信号を記録再生するためのメイン
スポットがランド部ないしグルーブ部の中心にトラッキ
ングしていても、通常のプッシュプル信号（Ｅ_S−Ｆ_S）
では、図４（ｂ）に示す波形となり、オフセットが発生
することになる。

【００７７】一方、２つのサブスポットによるプッシュ
プル信号Ａ_S−Ｂ_S、Ｃ_S−Ｄ_Sに関しても、対物レンズに
軸ずれが発生した場合、オフセットが発生する。このオ
フセット量は、対物レンズの軸ずれにより発生するた
め、メインスポットと同じ方向に発生し、その信号波形
は、図４（ｃ）に示す波形となる。

【００７８】上述したように、回折素子２の０次回折光
の強度と±１次回折光の強度との関係は、 −１次回折光強度：０次回折光強度：＋１次回折光強度
＝１：２・α：１ のようになっているため、メインスポットの光量を１と
すれば、サブスポットの光量は１／（２・α）となる。
ここで、一点鎖線で示したメインスポットのオフセット
量をａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）とする。但し、ａ、ｂ、θ
は定数であり、ディスク上でのメインスポットの位置を
Ｘとする。

【００７９】このとき、メインスポットによるプッシュ
プル信号及び、サブスポットによるプッシュプル信号
は、トラックピッチＰを１周期とするサイン波として表
されるので、メインスポットのプッシュプル信号の振幅
をＫとし、ディスク上のメインスポットの位置をＸ（ラ
ンド部中心をＸ＝０）とすれば、次のような式となる。

【００８０】 メインスポットのプッシュプル信号Ｅ_S−Ｆ_S ＝Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）…(１) プッシュプル信号は、各スポットのディスク上の位置に
対応して生成されるのに対して、オフセットは、対物レ
ンズの軸ずれ等の影響により発生するため、メインスポ
ットとサブスポットともに同じオフセット量が発生す
る。そのため、サブビームのプッシュプル信号Ａ_S−
Ｂ_S、Ｃ_S−Ｄ_Sは次のように表される。

【００８１】 サブスポットのプッシュプル信号Ａ_S−Ｂ_S ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋Ｐ／４）｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ＋π／２｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…(２) サブスポットのプッシュプル信号Ｃ_S−Ｄ_Ｓ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ−Ｐ／４）｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ（２π／Ｐ）・Ｘ−π／２｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…（３) 上式から、ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−
Ｄ_S）つまり、（(２)−(３)）を計算すると次のように
なる。

【００８２】 （Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋ θ）］−（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉ ｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝］…(４) この信号は、図４（ｄ）に示した波形であり、上式より
分かるようにオフセット量がキャンセルされ、かつ、ラ
ンド部（Ｘ＝０、２π、４π…）で最大値となり、グル
ーブ部（Ｘ＝π、３π、５π…）で最小値となる。

【００８３】次に、ＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S
−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝について考える。まず、
（Ａ_S−Ｂ_S）＋（Ｃ_S−Ｄ_S）つまり、(２)＋(３)を計算
すると、 （Ａ_S−Ｂ_S）＋（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋ θ）］−（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉ ｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／α）・｛ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）｝…(５) となり、図４（ｅ）に示すオフセット量そのものが検出
できる。

【００８４】この値をもとにＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−
｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝を計算すると、 ＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝ ＝Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ） −［α・（１／α）・｛ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）｝］ ＝Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝…(６) となり、オフセットのないＴＥＳ検出ができる。

【００８５】(１)〜(６)式では、ディスク上において、
メインスポットと２つのサブスポットのディスク半径方
向の間隔が、トラックピッチＰの１／４（Ｐ／４）に正
確に配置されている場合のｌ／ｇ判別信号及び、ＴＥＳ
に対して示したものであるが、以下にメインスポットと
２つのサブスポットのディスク半径方向の間隔がトラッ
クピッチＰの１／４（Ｐ／４）からずれた場合につい
て、そのずれ量をｙとして、計算していく。

【００８６】サブスポットは、回折素子の±１次光によ
り形成されるため、メインスポットに対して常に対称に
配置される。そのため、図２（ａ）に示したメインスポ
ット８に対するサブスポット９の間隔を（Ｐ／４＋ｙ）
とすれば、メインスポット８に対するサブスポット１０
の間隔は−（Ｐ／４＋ｙ）となる。

【００８７】 サブスポットのプッシュプル信号Ａ_S−Ｂ_S ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋Ｐ／４＋ｙ）｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋ｙ）＋π／２｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋ｙ）｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…(２)’ サブスポットのプッシュプル信号Ｃ_S−Ｄ_S ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ−（Ｐ／４＋ｙ））｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ−ｙ）−π／２｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ−ｙ）｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…(３)’ 上式から、ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−
Ｄ_S）つまり、（(２)’−(３)’）を計算すると次のよ
うになる。

【００８８】 （Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋ｙ）｝＋ａ・ｓｉｎ （ｂＸ＋θ）］−（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ− ｙ）｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ） ・ｙ｝−Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝ ＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］−（１／２α）［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ ）・Ｘ｝・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝−Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ ｝・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（Ｋ／α）・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝ …(７) (７)式において、ｙはメインスポットとサブスポットと
の間隔によって決まる値であり、ディスク上のスポット
の位置によって変化しないため、ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）
・ｙ｝＝Ｌ（定数）とすることができる。

【００８９】そのため、(７)式は次のように記載するこ
とができる。

【００９０】 （Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（Ｋ・Ｌ／α）・｛ｃｏｓ（（２π／Ｐ）・Ｘ）｝…(８) この信号は、定数Ｌが乗算されているものの、(４)式と
同じ変化を示し、ランド部（Ｘ＝０、２π、４π…）で
最大値となり、グルーブ部（Ｘ＝π、３π、５π…）で
最小値となる。

【００９１】次に、ＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S
−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝について考える。まず、
（Ａ_S−Ｂ_S）＋（Ｃ_S−Ｄ_S）つまり、(２)’＋(３)’を
計算すると、 （Ａ_S−Ｂ_S）＋（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（１／２α）・［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ＋ｙ）｝＋ａ・ｓｉｎ （ｂＸ＋θ）］＋（１／２α）・［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・（Ｘ− ｙ）｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／２α）［Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝・ｃｏｓ（２π／Ｐ）・ ｙ｝−Ｋ・ｓｉｎ（２π／Ｐ）・Ｘ｝｝・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝＋ ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］＋（１／２α）［−Ｋ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ） ・Ｘ｝・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝−Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝ ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・ｙ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝（１／α）・［−Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ ）・ｙ｝＋２・ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…(９) (９)式において、ｙはメインスポットとサブスポットと
の間隔によって決まる値であり、ディスク上のスポット
の位置によって変化しないため、ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）
・ｙ｝＝Ｍ（定数）とすることができる。

【００９２】そのため、(９)式は次のように記載するこ
とができる。

【００９３】 （Ａ_S−Ｂ_S）＋（Ｃ_S−Ｄ_S） ＝（１／α）・［（−Ｋ）・Ｍ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝ ＋２・ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］…(１０) この値をもとにＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−
Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝を計算すると、 ＴＥＳ ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝ ＝［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）｝］−ａ・ （１／α）・［−Ｋ・Ｍ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋２・ａ・ｓｉｎ （ｂＸ＋θ）｝］ ＝［Ｋ・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋ａ・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］−［−Ｋ ・Ｍ・ｃｏｓ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝＋２・ｓｉｎ（ｂＸ＋θ）］ ＝Ｋ・（１＋Ｍ）・ｓｉｎ｛（２π／Ｐ）・Ｘ｝…(１１) となり、オフセットのないＴＥＳ検出ができる。

【００９４】(８)式において、ｌ／ｇ判別信号が検出で
きない条件としては、Ｌ＝０となる場合であり、メイン
スポットと２つのサブスポットのディスク半径方向の間
隔がトラックピッチＰの１／４（Ｐ／４）からずれた場
合におけるずれ量ｙが、 ｙ＝ｎπ±π／２（ｎ＝０、±１、±２…） となったとき、ｌ／ｇ判別信号の検出が不可能となる。

【００９５】また、(１１)式において、ＴＥＳが検出で
きない条件としては、Ｍ＝１となる場合であり、メイン
スポットと２つのサブスポットのディスク半径方向の間
隔がトラックピッチの１／４（Ｐ／４）からずれた場合
におけるずれ量ｙが、 ｙ＝２ｎπ±π／２（ｎ＝０、±１、±２…） となったとき、ＴＥＳの検出が不可能となる。

【００９６】つまり、メインスポットと２つのサブスポ
ットのディスク半径方向の間隔がトラックピッチの１／
４（Ｐ／４）からずれた場合におけるずれ量ｙが、 ｙ≠２ｎπ±π／２（ｎ＝０、±１、±２…） であれば、ｌ／ｇ判別信号、及びＴＥＳともに検出可能
となる。

【００９７】（第２の実施形態）次に、図５、図６を用
い、第２の実施形態について説明して行く。

【００９８】図５及び図６に示した第２の実施形態にお
いて、回折素子３の分割は、図１〜図４に示した第１の
実施形態と同じであり、回折される方向のみ第１の実施
形態と異なっている。

【００９９】図５に示した光学系において、図１に示し
た光学系と同様に、半導体レーザ１から出射された光
は、第１の回折素子２により、ディスク７上にメインス
ポットと２つのサブスポットを形成するために０次光と
±１次光の３つの光に分離される。その後、第２の回折
素子３を透過後、コリメートレンズ４により平行光に変
換された後、ビームスプリッタ５を透過し、対物レンズ
６により、ランド幅とグルーブ幅がほぼ等しく形成さ
れ、ランド部とグルーブ部の両方に情報が記録再生され
る光磁気ディスク７上に照射される。このとき、第１の
回折素子２により生成された０次光によるメインスポッ
ト８と±１次光による２つのサブスポット９、１０とが
形成される。

【０１００】光磁気ディスク７からの反射光は、再び、
対物レンズ６により平行光となり、一部の光はビームス
プリッタ５を反射して、図には示していないが、磁気光
学効果を利用した光磁気ディスク７の信号を再生するた
めの検光子、及び光を電気信号に変換する受光素子等に
より形成される光磁気信号検出系により、光磁気ディス
ク７に記録された情報が再生される。

【０１０１】一方、ビームスプリッタ５、コリメートレ
ンズ４を透過した光は、回折素子３によって回折され、
１次回折光が受光素子１４により受光され、サーボ信号
（フォーカス誤差信号：ＦＥＳ、トラッキング誤差信
号：ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号と
が検出される。

【０１０２】次に、図５に示した光学系において、光磁
気ディスク７上でのメインスポット８とサブスポット
９、１０の位置関係及び、回折素子３による回折光が、
受光素子１４のどの領域で受光され、信号の演算がどの
ように行われるかを図６を用いて説明する。なお、図６
には、繁雑となるため、回折素子３によるメインビーム
の回折光の回折方向のみ点線で示してある。

【０１０３】回折素子３は、領域３１〜３３に３分割さ
れており、それぞれの領域は、ディスクのトラックと直
交方向に領域３１と他の領域（３２＋３３）に２分割さ
れ、さらに分割された一方の領域がさらにトラックと平
行方向に領域３２と領域３３に２分割されている。この
回折素子３により、メインスポット８の回折素子３によ
る回折光のうち、領域３１による回折光は、受光素子１
４の２分割された受光部ＧとＨの分割線上に集光され、
領域３２による回折光は、受光素子１４の３分割された
受光部Ａ、Ｅ、ＣのＥにより検出され、領域３３による
回折光は、受光素子１４の３分割された受光部Ｂ、Ｆ、
ＤのＦにより検出される。

【０１０４】また、サブスポット９の回折素子３による
回折光のうち、領域３１による回折光は受光されず、領
域３２による回折光は、受光素子１４の３分割された受
光部Ｃにより検出され、領域３３による回折光は、受光
素子１４の３分割された受光部Ｄにより検出される。

【０１０５】さらに、サブスポット１０の回折素子３に
よる回折光のうち、領域３１による回折光は受光され
ず、領域３２による回折光は、受光素子１４の３分割さ
れた受光部Ａにより検出され、領域３３による回折光
は、受光素子１４の３分割された受光部Ｂにより検出さ
れる。

【０１０６】受光素子１４の受光部Ａ〜Ｈの出力をＡ_S
〜Ｈ_Sとすると、ＦＥＳは、回折素子３のうち、ディス
クのトラックと直交方向に分割された領域３１によるメ
インスポットの回折光を受光する受光部Ｈ、Ｇの出力を
差動増幅器２１にて演算し、フーコー法により検出す
る。

【０１０７】次に、ｌ／ｇ判別信号に関しては、トラッ
クと平行方向に分割された回折素子３の領域３２と領域
３３によるサブスポット９の回折光（Ｃ_S、Ｄ_S）の差信
号を差動増幅器２０により求め、さらにサブスポット１
０の回折光（Ａ_S、Ｂ_S）の差信号を差動増幅器２３によ
り求め、これらの差信号を差動増幅器２７により求める
ことにより得られる。

【０１０８】さらに、ＴＥＳに関しては、トラックと平
行方向に分割された回折素子３の領域３２と領域３３に
よるメインスポットの回折光（Ｅ_S、Ｆ_S）の差信号を差
動増幅器２２により求め、先程の差動増幅器２０、２３
で求めたサブスポットの回折パターンによる信号（Ｃ_S
−Ｄ_S、Ａ_S−Ｂ_S）を、増幅器２４、２５によりα倍し
た後、加算増幅器２６により足し合わせ、差動増幅器２
２より得られた信号（Ｅ_S−Ｆ_S）から、差動増幅器２８
にて差し引くことにより得られる。

【０１０９】以上の信号をまとめると次のようになる。

【０１１０】ＦＥＳ＝Ｇ_S−Ｈ_S ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＴＥＳ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−
Ｄ_S）｝ 但し、αは定数 上記ＴＥＳにおいて、増幅器２４、２５のゲインαはメ
インスポット８とサブスポット９、１０の強度比を合わ
すため設定されたものであり、回折素子２の０次回折光
の強度と±１次回折光の強度との関係は、次のようにな
っている。

【０１１１】−１次回折光強度：０次回折光強度：＋１
次回折光強度＝１：２・α：１図６に示した信号検出系
より得られる信号は、図１〜４に示した第１の実施形態
と同じとなり、得られる効果も同じであるから、対物レ
ンズの軸ずれ等により発生するオフセットの影響の受け
ないｌ／ｇ判別信号、及びＴＥＳを得ることができる。

【０１１２】第２の実施形態に示したように、回折素子
３により、第１の実施形態と異なる回折方向に光を回折
させることによっても、同様の効果を得ることができ
る。

【０１１３】さらに、第１の実施形態では、受光素子が
１１〜１３の３つに分離していたのに対して、第２の実
施形態では、容易に受光素子を一体化することが可能と
なる。

【０１１４】（第３の実施形態）次に、図７〜図９を用
い、第３の実施形態について説明して行く。

【０１１５】図７〜図９に示した第３の実施形態におい
て、回折素子３の分割は、図１〜図４に示した第１の実
施形態と同じであるが、回折素子３により回折される光
の受光される形態が異なっている。

【０１１６】図７に示した光学系において、図１及び図
５に示した光学系と同様に、半導体レーザ１から出射さ
れた光は、第１の回折素子２により、ディスク上にメイ
ンスポットと２つのサブスポットを形成するために０次
光と±１次光の３つの光に分離される。その後、第２の
回折素子３と透過後、コリメートレンズ４により平行光
に変換された後、ビームスプリッタ５を透過し、対物レ
ンズ６により、ランド幅とグルーブ幅がほぼ等しく形成
され、ランド部とグルーブ部の両方に情報が記録再生さ
れる光磁気ディスク７上に照射される。このとき、第１
の回折素子２により生成された０次光によるメインスポ
ット８と±１次光による２つのサブスポット９、１０と
が形成される。

【０１１７】光磁気ディスク７からの反射光は、再び、
対物レンズ６により平行光となり、一部の光はビームス
プリッタ５を反射して、図には示していないが、磁気光
学効果を利用した光磁気ディスクの信号を再生するため
の検光子、及び光を電気信号に変換する受光素子等によ
り形成される光磁気信号検出系により、光磁気ディスク
７に記録された情報が再生される。

【０１１８】一方、ビームスプリッタ５、コリメートレ
ンズ４を透過した光は、回折素子３によって回折され、
１次回折光が受光素子１５により受光され、サーボ信号
（フォーカス誤差信号：ＦＥＳ、トラッキング誤差信
号：ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号と
が検出される。

【０１１９】次に、図７に示した光学系において、光磁
気ディスク７上でのメインスポット８とサブスポット
９、１０の位置関係及び、回折素子３による回折光が、
受光素子１５のどの領域で受光されるかを図８を用いて
説明する。

【０１２０】図８（ａ）に示すように、第１及び第２の
実施形態と同様に、光磁気ディスク７上には、メインス
ポット８に対して、サブスポット９、１０が対称に配置
され、メインスポット８とサブスポット９、及びメイン
スポット８とサブスポット１０のディスク半径方向の間
隔は、図に示すようにトラックピッチＰの略１／４（Ｐ
／４）に配置されている。

【０１２１】次に、図８（ｂ）〜（ｄ）を用いて、各デ
ィスク反射光による回折パターン８’、９’及び１０’
が、回折素子３と受光素子１５により、どのように回折
され、受光されるかを説明する。図８（ｂ）は、サブス
ポット９のディスクによる回折パターン９’と回折素子
３、及び受光素子１５の位置関係を示し、図８（ｃ）
は、メインスポット８のディスクによる回折パターン
８’と回折素子３、及び受光素子１５の位置関係を示
し、図８（ｄ）はサブスポット１０のディスクによる回
折パターン１０’と回折素子３、及び受光素子１５の位
置関係を示す。

【０１２２】回折素子３は、領域３１〜３３に３分割さ
れており、それぞれの領域は、ディスクのトラックと直
交方向に領域３１と他の領域（３２＋３３）に２分割さ
れ、さらに分割された一方の領域がさらにトラックと平
行方向に領域３２と領域３３に２分割されている。

【０１２３】図８（ｂ）に示したように、サブスポット
９の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パタ
ーンを９’とすると、回折パターン９’の回折素子３に
よる回折光のうち、領域３１による回折光は受光素子１
５の８分割された受光部Ａ〜ＨのＡにより検出され、領
域３２による回折光は、受光部Ｃにより検出され、領域
３３による回折光は、受光部Ｄにより検出される。

【０１２４】図８（ｃ）に示したように、メインスポッ
ト８の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パ
ターンを８’とすると、回折パターン８’の回折素子３
による回折光のうち、領域３１による回折光は、受光素
子１５の受光部ＧとＨの分割線上に集光され、領域３２
による回折光は、受光部Ｅにより検出され、領域３３に
よる回折光は、受光部Ｆにより検出される、図８（ｄ）
に示したように、サブスポット１０の回折素子３上での
ディスクの反射光による回折パターンを１０’とする
と、回折パターン１０’の回折素子３による回折光のう
ち、領域３１による回折光は受光素子１５の分割された
受光部Ｄにより検出され、領域３２による回折光は、受
光部Ａにより検出され、領域３３による回折光は、受光
素子１３の分割された受光部Ｂにより検出される。

【０１２５】次に、図９を用いて、サーボ信号（ＦＥ
Ｓ、ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号と
の検出について説明する。なお、図９には、繁雑となる
ため、回折素子３によるメインビームの回折光のみ示し
てある。

【０１２６】受光素子１５の受光部Ａ〜Ｈの出力を
Ａ_S’〜Ｈ_S’とすると、ＦＥＳは、回折素子３のうち、
ディスクのトラックと直交方向に分割された領域３１に
よるメインスポットの回折光を受光する受光部Ｈ、Ｇの
出力Ｈ_S’、Ｇ_S’の差信号（Ｇ_S’−Ｈ_S’）を差動増幅
器２１にて演算し、フーコー法により検出する。

【０１２７】ｌ／ｇ判別信号に関しては、トラックと平
行方向に分割された回折素子３の領域３２と領域３３に
よるサブスポットの回折パターン９’の回折光を受光す
る受光部Ｃ、Ｄの出力（Ｃ_S’、Ｄ_S’）の差信号
（Ｃ_S’−Ｄ_S’）を差動増幅器２０により求める。さら
に、サブスポット１０の回折パターン１０’の回折光を
受光する受光部Ａ、Ｂの出力（Ａ_S’、Ｂ_S’）の差信号
（Ａ_S’−Ｂ_S’）を差動増幅器２３により求め、これら
の差信号を差動増幅器２７にて求めることにより得られ
る。

【０１２８】さらに、ＴＥＳに関しては、トラックと平
行方向に分割された回折素子３の領域３２と領域３３に
よるメインスポットの回折パターン８’の回折光を受光
する受光部Ｅ、Ｆの出力（Ｅ_S’、Ｆ_S’）の差信号（Ｅ
_S’−Ｆ_S’）を差動増幅器２２により求め、先程の差動
増幅器２０、２３で求めたサブスポットの回折パターン
による信号（Ｃ_S’−Ｄ_S’、Ａ_S’−Ｂ_S’）を、増幅器
２４、２５によりα倍した後、加算増幅器２６により足
し合わせ、差動増幅器２２より得られた信号（Ｅ_S’−
Ｆ_S’）から、差動増幅器２８にて差し引くことにより
得られる。

【０１２９】以上の信号をまとめると次のようになる。

【０１３０】ＦＥＳ＝Ｇ_S’−Ｈ_S’ ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S’−Ｂ_S’）−（Ｃ_S’−Ｄ_S’） ＴＥＳ＝（Ｅ_S’−Ｆ_S’）−｛α（Ａ_S’−Ｂ_S’）＋α
（Ｃ_S’−Ｄ_S’）｝ 但し、αは定数 上記ＴＥＳにおいて、増幅器２４、２５のゲインαはメ
インスポット８とサブスポット９、１０の強度比を合わ
すため設定されたものであり、回折素子２の０次回折光
の強度と±１次回折光の強度との関係は、次のようにな
っている。

【０１３１】−１次回折光強度：０次回折光強度：＋１
次回折光強度＝１：２・α：１上式において、第１及び
第２の実施形態と異なる点は以下の通りである。即ち、
第１及び第２の実施形態では、図２に示したように、受
光部Ａでは、サブスポット１０の回折パターン１０’の
回折素子３による回折光のうち、領域３２による回折光
のみ検出され、受光部Ｄでは、サブスポット９の回折パ
ターン９’の回折素子３による回折光のうち、領域３３
による回折光のみ検出される。これに対して、第３の実
施形態では、図８（ｂ）〜（ｄ）に示すように、受光部
Ａでは、回折パターン９’の領域３１による回折光＋回
折パターン１０’の領域３２による回折光、受光部Ｄで
は、回折パターン９’の領域３３による回折光＋回折パ
ターン１０’の領域３１による回折光が検出されること
になり、第１及び第２の実施形態に比べ、回折素子３の
分割された領域のうちディスクのトラックと直交方向に
分割された領域３１の回折光が余分に入射することにな
る。

【０１３２】このトラックに直交する領域の回折光量変
化は、トラックに平行方向の領域の回折光量変化より生
成されるプッシュプル信号成分を有さないため、第１の
実施形態で示したｌ／ｇ判別信号やＴＥＳを生成するた
めの（Ａ_S−Ｂ_S）や（Ｃ_S−Ｄ_S）に一定光量が加えられ
た変化が検出される。

【０１３３】つまり、この一定光量をｆとすれば、 ＦＥＳ＝Ｇ_S’−Ｈ_S’＝Ｇ_S−Ｈ_S ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S’−Ｂ_S’）−（Ｃ_S’−Ｄ_S’） ＝｛（Ａ_S＋ｆ）−Ｂ_S｝−｛Ｃ_S−（Ｄ_S＋ｆ）｝ ＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S）＋２ｆ ＴＥＳ＝（Ｅ_S’−Ｆ_S’）−｛α（Ａ_S’−Ｂ_S’）＋α（Ｃ_S’−Ｄ_S’）｝ ＝（Ｅ_S−Ｆ_S） −［α｛（Ａ_S＋ｆ）−Ｂ_S｝＋α｛Ｃ_S−（Ｄ_S＋ｆ）｝］ ＝（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝ となり、ＦＥＳ及びＴＥＳに関しては、第１及び第２の
実施形態と同じ信号が得られる。ｌ／ｇ判別信号に関し
ては一定光量２ｆが加えられた信号となるが、ｌ／ｇ判
別は、信号のピークないしボトムでランド部とグルーブ
部の判別を行うため、一定光量の付加は、信号検出に対
して問題とならない。

【０１３４】以上のように、第３の実施形態においても
第１及び第２の実施形態と同じ効果が得られる。

【０１３５】さらに、第３の実施形態では、第１及び第
２の実施形態に対して、受光素子の大きさを小さくでき
るメリットがあるので、光ピックアップ装置の大きさを
小さくできるという利点を有している。

【０１３６】上述した第１〜第３の実施形態において
は、回折素子を３分割し、トラックと直交方向に分割さ
れた領域（３１）から回折光を隣接した受光部Ｈ、Ｇの
分割線上に集光し、得られる出力（Ｈ_S、Ｇ_S）の差信号
（Ｇ_S−Ｈ_S）をフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）とした
が、トラックと直交方向に分割された領域（３１）によ
る回折光には、プッシュプル信号成分が相殺されるた
め、この回折光を用いて、非点収差法等の他の方法によ
るフォーカスエラー信号検出も可能である。

【０１３７】（第４の実施形態）次に、図１０〜図１２
を用い、第４の実施形態について説明して行く。

【０１３８】図１０〜図１２に示した第４の実施形態に
おいては、回折素子３の分割は、図１〜図９に示した第
１〜第３の実施形態と異なり、ディスクのトラックと平
行方向に２分割されている。

【０１３９】実施形態４では、回折素子３をトラックと
平行方向に２分割することにより、回折素子３が３分割
された第１〜第３の実施形態と比べて、ランド／グルー
ブ判別信号及び、ＴＥＳを生成する信号（Ａ_S、Ｂ_S、Ｃ
_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_S）量を２倍とする事ができ、より信頼
性の高い信号検出が可能となる。

【０１４０】図１０に示した光学系において、図１、図
５、及び図７に示した光学系と同様に、半導体レーザ１
から出射された光は、第１の回折素子２により、ディス
ク上にメインスポットと２つのサブスポットを形成する
ために０次光と±１次光の３つの光に分離される。その
後、第２の回折素子３を透過後、コリメートレンズ４に
より平行光に変換された後、ビームスプリッタ５を透過
し、対物レンズ６により、ランド幅とグルーブ幅がほぼ
等しく形成され、ランド部とグルーブ部の両方に惰報が
記録再生される光磁気ディスク７上に照射される。この
とき、第１の回折素子２により生成された０次光による
メインスポット８と±１次光による２つのサブスポット
９、１０とが形成される。

【０１４１】光磁気ディスク７からの反射光は、再び、
対物レンズ６により平行光となり、一部の光はビームス
プリッタ５を反射して、図には示していないが、磁気光
学効果を利用した光磁気ディスクの信号を再生するため
の検光字、及び光を電気信号に変換する受光素子等によ
り形成される光磁気信号検出系により、光磁気ディスク
７に記録された情報が再生される。

【０１４２】一方、ビームスプリッタ５、コリメートレ
ンズ４を透過した光は、回折素子３によって回折され、
１次回折光が受光素子１６により受光され、サーボ信号
（フォーカス誤差信号：ＦＥＳ、トラッキング誤差信
号：ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号と
が検出される。

【０１４３】次に、図１０に示した光学系において、光
磁気ディスク７上でのメインスポット８とサブスポット
９、１０の位置関係及び、回折素子３による回折光が、
受光素子１６のどの領域で受光されるかを図１１を用い
て説明する。

【０１４４】図１１（ａ）に示すように、第１〜第３の
実施形態と同様に、光磁気ディスク７上には、メインス
ポット８に対して、サブスポット９、１０が対称に配置
され、メインスポット８とサブスポット９、及びメイン
スポット８とサブスポット１０のディスク半径方向の間
隔は、図に示すようにトラックピッチＰの略１／４（Ｐ
／４）に配置されている。

【０１４５】次に、図１１（ｂ）〜（ｄ）を用いて、各
ディスク反射光による回折パターン８’、９’及び１
０’が、回折素子３と受光素子１６により、どのように
回折され、受光されるかを説明する。図１１（ｂ）は、
サブスポット９のディスクによる回折パターン９’と回
折素子３、及び受光素子１６の位置関係を示し、図１１
（ｃ）はメインスポット８のディスクによる回折パター
ン８’と回折素子３、及び受光素子１６の位置関係を示
し、図１１（ｄ）はサブスポット１０のディスクによる
回折パターン１０’と回折素子３、及び受光素子１６の
位置関係を示す。

【０１４６】回折素子３は、ディスクのトラックと平行
方向に領域３４と領域３５に２分割されている。

【０１４７】図１１（ｂ）に示したように、サブスポッ
ト９の回折素子３上でのディスクの反射光による回折パ
ターンを９’とすると、回折パターン９’の回折素子３
による回折光のうち、領域３５による回折光は、受光部
Ｃにより検出され、領域３４による回折光は、受光部Ｄ
により検出される。

【０１４８】図１１（ｃ）に示したように、メインスポ
ット８の回折素子３上でのディスクの反射光による回折
パターンを８’とすると、回折パターン８’の回折素子
３による回折光のうち、領域３４による回折光は、受光
素子１６の受光部Ｆ１とＦ２の分割線上に集光され、領
域３５による回折光は、受光素子１６の受光部Ｅ１とＥ
２の分割線上に集光され、検出される。

【０１４９】図１１（ｄ）に示したように、サブスポッ
ト１０の回折素子３上でのディスクの反射光による回折
パターンを１０’とすると、領域３５による回折光は、
受光部Ａにより検出され、領域３４による回折光は、受
光部Ｂにより検出される。

【０１５０】次に、図１２を用いて、サーボ信号（ＦＥ
Ｓ、ＴＥＳ）とランド／グルーブ（ｌ／ｇ）判別信号と
の検出について説明する、なお、図１２には、繁雑とな
るため、回折素子３によるメインビームの回折光の回折
方向のみ点線で示してある。

【０１５１】受光素子１５の受光部Ａ〜Ｄ及び、Ｅ１〜
Ｆ２の出力をＡ_S〜Ｄ_S及び、Ｅ１_S〜Ｆ２_Sとすると、Ｆ
ＥＳは、Ｅ１_SとＦ１_Sの和信号（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）、及び
Ｅ２_SとＦ２_Sの和信号（Ｅ２_S＋Ｆ２_S）を加算増幅器４
０、及び４１により求め、これらの差｛（Ｅ１_S＋Ｆ
１_S）−（Ｅ２_S＋Ｆ２_S）｝を差動増幅器２１にて演算
し、ダブルナイフエッジ法により検出する。

【０１５２】これは、第１〜第３の実施形態に示したＦ
ＥＳ検出のように回折素子３の領域３４（または３５）
だけを用いて、Ｆ１−Ｆ２（またはＥ１−Ｅ２）を演算
すれば、ＦＥＳ検出が可能と思われるが、領域３４ある
いは領域３５による回折光だけを用いてＦＥＳを検出し
た場合、回折素子３は、ディスクのトラックに対して、
平行方向に分割されているため、ＦＥＳにプッシュプル
信号成分が含まれることになり、良好なＦＥＳ検出がで
きない。

【０１５３】そのため、上述したようにＥ１_SとＦ１_S、
及びＥ２_SとＦ２_Sのそれぞれの和信号を求め、さらに、
これらの差信号をＦＥＳとすることにより、プッシュプ
ル信号成分を相殺し、良好なＦＥＳ検出を可能としてい
る。

【０１５４】ｌ／ｇ判別信号に関しては、回折素子３の
領域３４と領域３５によるサブスポットの回折パターン
９’の回折光を受光する受光部Ｃ、Ｄの出力（Ｃ_S、
Ｄ_S）の差信号（Ｃ_S−Ｄ_S）を差動増幅器２０により求
め、さらにサブスポット１０の回折パターン１０’の回
折光を受光する受光部Ａ、Ｂの出力（Ａ_S、Ｂ_S）の差信
号（Ａ_S−Ｂ_S）を差動増幅器２３により求め、これらの
差信号を差動増幅器２７にて求めることにより得られ
る。

【０１５５】さらに、ＴＥＳに関しては、回折素子３の
領域３４と領域３５によるメインスポットの回折パター
ン８’の回折光成分Ｅ１_S＋Ｅ２_S、及びＦ１_S＋Ｆ２_Sを
加算増幅器４２、及び４３により求め、これらの差信号
｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋Ｆ２_S）｝を差動増幅器
２２により求める。その後、先程の差動増幅器２０、２
３で求めたサブスポットの回折パターンによる信号（Ｃ
_S’−Ｄ_S’、Ａ_S’−Ｂ_S’）を、増幅器２４、２５によ
りα倍した後、加算増幅器２６により足し合わせ、差動
増幅器２２より得られた信号｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ
１_S＋Ｆ２_S）｝から、差動増幅器２８にて差し引くこと
により得られる。

【０１５６】以上の信号をまとめると次のようになる。

【０１５７】 ＦＥＳ＝（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ２_S＋Ｆ２_S） ｌ／ｇ判別信号＝（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S） ＴＥＳ＝｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋Ｆ２_S）｝−
｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝ 但し、αは定数 上記ＴＥＳにおいて、増幅器２４、２５のゲインαはメ
インスポット８とサブスポット９、１０の強度比を合わ
すため設定されたものであり、回折素子２の０次回折光
の強度と±１次回折光の強度との関係は、次のようにな
っている。

【０１５８】−１次回折光強度：０次回折光強度：＋１
次回折光強度＝１：２・α：１ 上式に示したＴＥＳにおける（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１
_S＋Ｆ２_S）は、メインスポットの回折素子３のトラック
方向と平行方向に分割された領域３４と領域３５による
回折光成分を検出していることと等価である。

【０１５９】そのため、（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋
Ｆ２_S）はメインスポットによるプッシュプル信号とな
るため、ＴＥＳは、 ＴＥＳ＝｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋Ｆ２_S）｝−
｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝ 但し、αは定数 と、図１〜９に示した第１〜第３の実施形態による場合
と同じになり、得られる効果も同じであるから、対物レ
ンズの軸ずれ等により発生するオフセットの影響の受け
ないＴＥＳを得ることができる、なお、ｌ／ｇ判別信号
に関しても、第１〜第３の実施形態による場合と同じに
なり、得られる効果も同じである。

【０１６０】さらに、第４の実施形態では、回折素子３
をトラックと平行方向に２分割することにより、回折素
子３が３分割された第１〜第３の実施形態と比べて、ラ
ンド／グルーブ判別信号および、ＴＥＳを生成する信号
（Ａ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_S）量を２倍とする事が
でき、より信頼性の高い信号検出が可能となる。

【０１６１】なお、第１〜第４の実施形態については、
光ディスクを磁気光学効果を利用した光磁気ディスクと
して示したが、その他の効果を利用した光ディスク、例
えば相変化ディスクに記録再生するための光ピックアッ
プ装置においても上記の効果を発生させることができ
る。

【０１６２】また、第１〜第４の実施形態では、ディス
クのランド部とグルーブ部の幅が等しいディスクに関し
て、その例を示したが、ランド部とグルーブ部の幅が異
なり、どちらか一方に情報の記録再生を行う光ディスク
に関しても、上記構成をとることにより、対物レンズが
シフトしてもオフセットの発生しないＴＥＳを検出する
ことができる。

【０１６３】さらに、第１〜第４の実施形態の光学系を
示した図１、図５、図７及び、図１０では、第１の回折
素子２と第２の回折素子３が別の基板上に構成された例
となっているが、同じ基板に裏表に第１と第２の回折素
子を形成してもよく、この場合、第１と第２の回折素子
の位置ずれが発生せず、より信頼性の高い光ピックアッ
プ装置を構成することができる。

【０１６４】

【発明の効果】以上詳述したように本発明による場合に
は、以下のような効果がある。

【０１６５】本発明の請求項１の光ピックアップ装置に
よる場合は、０次光のメインスポットと、ディスク半径
方向に該メインスポットに対してトラックピッチの略１
／４である（グルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で対称
に配置された一対の±１次光のサブスポットとを形成す
る第１の回折素子を備え、受光素子の受光部（Ａ、Ｂ）
が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割された
それぞれの領域からの＋１次光のサブスポットについて
の回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｃ、Ｄ）
が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割された
それぞれの領域からの−１次光のサブスポットについて
の回折光を検出する。このとき、受光素子の各受光部
（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の出力をＡ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_Sとする
場合、演算手段が（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ_S−Ｄ_S）をランド
／グルーブ判別信号として演算すると、ランド部で最大
（または最小）となり、グルーブ部で最小（または最
大）となるランド／グルーブ判別信号を得ることがで
き、グルーブ幅とランド幅が等しいディスクにおいても
安定したトラッキング引き込みを行うことができる。

【０１６６】また、本発明の請求項２の光ピックアップ
装置による場合は、０次光のメインスポットと、ディス
ク半径方向にメインスポットに対してトラックピッチの
略１／４である（グルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で
対称に配置された一対の±１次の光サブスポットとを形
成する第１の回折素子を備え、受光素子の受光部（Ａ、
Ｂ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からの＋１次光のサブスポットにつ
いての回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｃ、
Ｄ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からの−１次光のサブスポットにつ
いての回折光を検出し、また、受光素子の受光部（Ｅ、
Ｆ）が、第２の回折素子のトラックと平行方向に分割さ
れたそれぞれの領域からのメインスポットについての回
折光を検出する。このとき、受光素子のそれぞれの受光
部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ）の出力をＡ_S、Ｂ_S、
Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_Sとする場合、演算手段が（Ｅ_S−
Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但し、
αは定数）をトラッキング誤差信号として演算すると、
回折素子を用いた光ピックアップ装置においても、対物
レンズがディスクの偏心等に追従ししシフトが発生して
も、オフセットの生じないトラッキング誤差信号を得る
ことができ、従来のレンズの組み合わせによる光ピック
アップ装置に比べてより小型、薄型化が可能となる。さ
らに、メインスポットに対してトラックピッチの略１／
４の間隔で一対のサブスポット（±１次光）を形成する
ことにより、ランド／グルーブ判別信号の検出も可能な
光ピックアップ装置を構成することができる。

【０１６７】本発明の請求項３の光ピックアップ装置に
おける第２の回折素子の構成としては、光ディスクのト
ラックと直交方向に２分割されており、分割された一方
の領域が、さらにトラックと平行方向に２分割された計
３分割の構成としている。この場合、トラックと直交方
向に分割された領域（３１）から回折光では、プッシュ
プル信号成分が相殺されるため、この回折光を用いてフ
ォーカスエラー信号を検出することにより、ディスクの
トラックの影響を受けないフォーカスエラー信号の検出
が可能な光ピックアップ装置を構成することができる。

【０１６８】本発明の請求項４の光ピックアップ装置に
よる場合は、第２の回折素子が３分割されている構成に
おいて、メインスポット（０次光）の第２の回折素子の
トラックと直交方向に分割された領域３１からの回折光
を、受光素子の隣接した受光部Ｈ、Ｇが検出し、その出
力をＨ_S、Ｇ_Sとすれば、その差を演算することにより、
フーコー法によるフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）を検
出可能である。また、このような演算結果をフォーカス
エラー信号とすることにより、ランド／グルーブ判別信
号、及びトラッキングエラー信号とともに、ほぼ一体化
された検出系（回折素子と受光素子）で３種類の信号を
検出することができるため、信頼性が高くより小型な光
ピックアップ装置を構成することができる。

【０１６９】本発明の請求項５の光ピックアップ装置に
よる場合は、上記第２の回折素子が３分割されている構
成において、＋１次光のサブスポットの第２の回折素子
によるトラックと直交方向に分割された領域からの回折
光と、−１次光のサブスポットの第２の回折素子による
トラックと平行方向に分割された一方の領域からの回折
光とを、受光素子の同一の受光部で受光し、かつ、−１
次光のサブスポットの第２の回折素子によるトラックと
直交方向に分割された領域からの回折光と、＋１次光の
サブスポットの第２の回折素子によるトラックと平行方
向に分割された上記領域と異なる領域からの回折光と
を、受光素子の別の同一の受光部で受光することによ
り、受光部を小さく構成できるため、受光素子を一体化
することが可能となり、光ピックアップ装置をより小型
化することができる。

【０１７０】本発明の請求項６の光ピックアップ装置に
よる場合は、前記第２の回折素子は、光ディスクのトラ
ックと平行方向に２分割された領域（３４と３５）を有
する構成となっている。この２分割構成の場合は、３分
割された第２の回折素子を用いる光ピックアップ装置に
比べ、メインスポット（０次光）及び、２つのサブスポ
ット（±１次光）の回折光を受光する受光部（Ａ、Ｂ、
Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ）の出力（Ａ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、
Ｆ_S）を２倍とすることができるため、より信頼性の高
いランド／グルーブ判別信号及び、トラッキングエラー
信号を検出することが可能となる。

【０１７１】本発明の請求項７の光ピックアップ装置に
よる場合は、第２の回折素子が２分割されている構成に
おいて、メインスポット（０次光）の第２の回折素子の
トラックと平行方向に分割された領域による回折光を受
光する受光部Ｅ、Ｆのそれぞれを、Ｅ１とＥ２及びＦ１
とＦ２に分割し、それぞれの受光部Ｅ１、Ｅ２、Ｆ１お
よびＦ２から得られる出力をＥ１_S、Ｅ２_S、Ｆ１_S、Ｆ
２_Sとすると、（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ１_S＋Ｆ２_S）を
演算することにより、ダブルナイフエッジ法によるＦＥ
Ｓ検出が可能となる。また、このような演算結果である
（Ｅ１_S＋Ｆ１_S）−（Ｅ２_S＋Ｆ２_S）をフォーカスエラ
ー信号とし、また、｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S）−（Ｆ１_S＋Ｆ
２_S）｝−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但
し、αは定数）を演算した結果をトラッキングエラー信
号とすることにより、ランド／グルーブ判別信号ととも
に、ほぼ一体化された検出系（回折素子と受光素子）で
３種類の信号を検出することができるため、信頼性が高
くより小型な光ピックアップ装置を構成することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における第１の実施形態における光ピッ
クアップ装置の光学系を示す斜視図である。

【図２】本発明における第１の実施形態における光ディ
スク上でのスポットの配置、および第２の回折素子と受
光素子の受光部の関係を示す図である。

【図３】本発明における第１の実施形態の信号処理部
（演算部）を示すブロック図である。

【図４】本発明における各信号波形を示す図である。

【図５】本発明における第２の実施形態における光ピッ
クアップ装置の光学系を示す斜視図である。

【図６】本発明における第２の実施形態の信号処理部
（演算部）を示すブロック図である。

【図７】本発明における第３の実施形態における光ピッ
クアップ装置の光学系を示す斜視図である。

【図８】本発明における第３の実施形態における光ディ
スク上でのスポットの配置、および第２の回折素子と受
光素子の受光部の関係を示す図である。

【図９】本発明における第３の実施形態の信号処理部
（演算部）を示すブロック図である。

【図１０】本発明における第４の実施形態における光ピ
ックアップ装置の光学系を示す図である。

【図１１】本発明における第４の実施形態における光デ
ィスク上でのスポットの配置、および第２の回折素子と
受光素子の受光部の関係を示す図である。

【図１２】本発明における第４の実施形態の信号処理部
（演算部）を示すブロック図である。

【図１３】ランド幅とグルーブ幅が等しい場合と異なる
場合のディスク反射光量を示した図である。

【図１４】従来例における光ピックアップ装置の光学
系、ディスク上でのスポット配置、及び光検出器の形状
を示した図である。

【図１５】従来例における信号波形を示した図である。

【符号の説明】

１ 半導体レーザ ２ 第１の回折素子 ３ 第２の回折素子 ４ コリメートレンズ ５ ビームスプリッタ ６ 対物レンズ ７ 光ディスク ８ ディスク上のメインスポット ９、１０ ディスク上のサブスポット ８’ メインスポットの回折パターン ９’、１０’ サブスポットの回折パターン １１〜１６ 受光素子 Ａ〜Ｈ 受光部 ３１〜３５ 第２の回折素子の分割された領域

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−195727（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−68734（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−288831（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−167353（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−306055（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−296389（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−55361（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−302263（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/22

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 トラックを形成する溝部であるグルーブ
   部(１０)と溝間部であるランド部とが、ほぼ等しい幅で
   形成された光ディスクに対し、情報の記録再生を行う光
   ピックアップ装置において、 ０次光のメインスポットと、ディスク半径方向に該メイ
   ンスポットに対してトラックピッチの略１／４である
   （グルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で対称に配置され
   た一対の±１次光のサブスポットとを形成する第１の回
   折素子と、 該第１の回折素子にて形成されたメインスポットと一対
   のサブスポットによるディスクからの反射光を回折す
   る、少なくともトラックと平行方向に分割された第２の
   回折素子と、 ＋１次光のサブスポットについて第２の回折素子による
   トラックと平行方向に分割されたそれぞれの領域からの
   回折光を検出する受光部（Ａ、Ｂ）、および、−１次光
   のサブスポットについて第２の回折素子によるトラック
   と平行方向に分割されたそれぞれの領域からの回折光を
   検出する受光部（Ｃ、Ｄ）を少なくとも有する受光素子
   と、 該受光素子の各受光部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）の出力を
   Ａ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_Sとする場合に、（Ａ_S−Ｂ_S）−（Ｃ
   _S−Ｄ_S）をランド／グルーブ判別信号として演算する演
   算手段とを具備する光ピックアップ装置。
2. 【請求項２】 トラックを形成する溝部であるグルーブ
   部と溝間部であるランド部とが形成された光ディスクに
   対し、情報の記録再生を行う光ピックアップ装置におい
   て、 ０次光のメインスポットと、ディスク半径方向にメイン
   スポットに対してトラックピッチの略１／４である（グ
   ルーブ幅＋ランド幅）／４の間隔で対称に配置された一
   対の±１次の光サブスポットとを形成する第１の回折素
   子と、 該第１の回折素子にて形成されたメインスポットと一対
   のサブスポットによるディスクからの反射光を回折す
   る、少なくともトラックと平行方向に分割された第２の
   回折素子と、 ＋１次光のサブスポットについて第２の回折素子による
   トラックと平行方向に分割されたそれぞれの領域からの
   回折光を検出する受光部（Ａ、Ｂ）、−１次光のサブス
   ポットについて第２の回折素子によるトラックと平行方
   向に分割されたそれぞれの領域からの回折光を検出する
   受光部（Ｃ、Ｄ）、および、メインスポットについて第
   ２の回折素子によるトラックと平行方向に分割されたそ
   れぞれの領域からの回折光を検出する受光部（Ｅ、Ｆ）
   を少なくとも有する受光素子と、 該受光素子のそれぞれの受光部（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、
   Ｆ）の出力をＡ_S、Ｂ_S、Ｃ_S、Ｄ_S、Ｅ_S、Ｆ_Sとする場合
   に、（Ｅ_S−Ｆ_S）−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−
   Ｄ_S）｝（但し、αは定数）をトラッキング誤差信号と
   して演算する演算手段とを具備する光ピックアップ装
   置。
3. 【請求項３】 前記第２の回折素子は、光ディスクのト
   ラックと直交方向に２分割された一方の領域（３２＋３
   ３）と他方の領域（３１）を有し、該一方の領域（３２
   ＋３３）がトラックと平行方向に２分割された領域（３
   ２）と領域（３３）を有する構成であり、光ディスクの
   トラックと直交方向に分割された他方の領域（３１）か
   らの回折光をフォーカスエラー信号として検出する請求
   項１または２に記載の光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 前記受光素子が、メインスポットについ
   て第２の回折素子のトラックと直交方向に分割された前
   記他方の領域（３１）からの回折光を検出する隣接した
   受光部（Ｈ、Ｇ）を有する構成であり、前記回折光が受
   光部（Ｈ、Ｇ）の分割線上に集光されて得られる出力を
   Ｈ_S、Ｇ_Sとする場合に、前記演算手段がＧ_S−Ｈ_Sをフォ
   ーカスエラー信号として演算する請求項３に記載の光ピ
   ックアップ装置。
5. 【請求項５】 ＋１次光のサブスポットについて第２の
   回折素子によるトラックと直交方向に分割された他方の
   領域（３１）からの回折光、および、−１次光のサブス
   ポットについて第２の回折素子によるトラックと平行方
   向に分割された一方の領域（３２）からの回折光を同一
   の受光部で受光し、かつ、−１次光のサブスポットにつ
   いて第２の回折素子によるトラックと直交方向に分割さ
   れた他方の領域（３１）からの回折光、および、＋１次
   光のサブスポットについて第２の回折素子によるトラッ
   クと平行方向に分割された一方の領域（３２）からの回
   折光を別の同一の受光部で受光する構成としてある請求
   項３または４に記載の光ピックアップ装置。
6. 【請求項６】 前記第２の回折素子は、光ディスクのト
   ラックと平行方向に２分割された領域（３４と３５）を
   有する構成となっている請求項１または２に記載の光ピ
   ックアップ装置。
7. 【請求項７】 メインスポットについて第２の回折素子
   によるトラックと平行方向に分割されたそれぞれの領域
   からの各回折光を検出する受光部が、それぞれ分割され
   た受光部（Ｅ１とＥ２）及び分割された受光部（Ｆ１と
   Ｆ２）であり、メインスポットについて第２の回折素子
   のトラックと平行方向に分割された一方の領域（３４）
   による回折光が受光部（Ｅ１とＥ２）の分割線上に集光
   され、他方の領域（３５）による回折光が受光部（Ｆ１
   とＦ２）の分割線上に集光されて、得られる各出力をＥ
   １_S、Ｅ２_S、Ｆ１_S、Ｆ２_Sとする場合に、（Ｅ１_S＋Ｆ
   １_S）−（Ｅ１_S＋Ｆ２_S）をフォーカスエラー信号とし
   て演算し、また、｛（Ｅ１_S＋Ｅ２_S)−（Ｆ１_S＋Ｆ
   ２_S）｝−｛α（Ａ_S−Ｂ_S）＋α（Ｃ_S−Ｄ_S）｝（但
   し、αは定数）をトラッキングエラー信号として演算す
   る構成となっている請求項６に記載の光ピックアップ装
   置。