JPH11112837A - 電子的撮像装置 - Google Patents
電子的撮像装置Info
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- JPH11112837A JPH11112837A JP9268835A JP26883597A JPH11112837A JP H11112837 A JPH11112837 A JP H11112837A JP 9268835 A JP9268835 A JP 9268835A JP 26883597 A JP26883597 A JP 26883597A JP H11112837 A JPH11112837 A JP H11112837A
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Abstract
信号処理を適切に行うことによって、良好な画像信号を
得ることができる電子的撮像装置を提供する。 【解決手段】二次元配列の固体撮像素子(CCD)2と
露光時間を制御する電子シャッタ手段と固体撮像素子2
からの出力信号を調整するゲイン制御手段(AMP)4
と、輪郭信号処理を施す輪郭強調手段(コアリング部1
4、エッジ強調度積算器15)とを備えた電子的撮像装
置において、撮影動作時のゲイン制御手段によるゲイン
値に応じて、輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御
する。
Description
置、詳しくは固体撮像素子等によって撮影された画像を
電子的に記録する電子的撮像装置に関するものである。
て光学的に撮影された被写体像を撮像素子等の撮像手段
によって光電変換し、この光電変換された電気信号とし
ての画像信号を電子的に記録するようにした電子カメラ
等の電子的撮像装置(以下、電子カメラという)が広く
普及している。このような電子カメラにおいては、撮像
手段としてCCD等が一般的に利用されている。
られる電気信号としての画像信号には、同CCDの製造
過程中における種々の要因により発生する白点キズ等の
欠陥による固定パターンノイズの他、ショットノイズ等
のランダムノイズが混在する。
示するために、上記画像信号からノイズ等を抑圧又は除
去するための様々な信号処理が施されている。また、被
写体像を画像として忠実に表示するために、上記画像信
号に対して各種の補正等を施す様々な信号処理が行われ
ている。
C(オートゲインコントロール)回路を設け、CCDに
より光電変換されて出力される画像信号の出力レベルを
調整したり、AWB(オートホワイトバランス)回路等
を設けて色バランスの補正処理や、カメラの撮像特性を
負の分光特性を有する理想撮像特性に近付けるためのマ
スキング処理、輪郭信号(エッジ信号)出力のノイズ成
分を抑圧してS/N比を向上するコアリング処理等の様
々な信号処理が行われている。
被写体像の撮影を行う際に必要となる露出調節や焦点調
節等の動作を自動的に行わしめるためのAE、AF等の
制御回路を設け、カメラの操作を容易にするようにして
いるものが普通である。
ける撮影動作時のタイミングチャートを示している。図
18によって、上記電子カメラの撮影時の動作を、以下
に簡単に説明する。
しており、一般的なCCDの電子シャッタ機能(手段)
は垂直帰線期間(VD)に同期して開動作又は閉動作が
行われるようになっている。また、電子カメラの主電源
がオン状態にあるときには、CCDは常に駆動されてお
り、AE動作が常時行われるようになっている。この状
態において、二段スイッチからなるトリガースイッチの
第1トリガー信号が発生すると、これを受けてAF動作
が開始される。このAF動作が終了すると、次いで第2
トリガー信号の発生を待って本露光動作が開始される。
このときの本露光動作は、CCDの電子シャッタ機能に
よる露出時間の制御によって行われ、同電子シャッタ手
段は、上述したようにVDに同期して動作することとな
る。
カメラにおいては、上記AGC回路によって撮影時の画
像信号の出力レベル値(以下、ゲイン値という)を、図
18に示すように高い値(符号<Hi>で示す)に設定
すると、これによって得られる画像信号に含まれるノイ
ズ成分の信号レベルも高い値を示すことになり、これに
よって得られる画像信号のS/N比(符号<Low>で
示す)が劣化する場合がある。
の画像信号であって、A/D変換前の画像信号に含まれ
るノイズ成分のうち、CCDのショットノイズ以外のノ
イズが大部分を占める場合においては、図19に示すよ
うに画像信号に対してAGC回路の出力レベル値(ゲイ
ン値)を高い値に設定する程、これにより得られる画像
信号のS/N比が劣化する傾向にある。
子シャッタ手段のシャッタ速度(露光時間)を制御する
ことによってAE制御を行うようにしている。このよう
に、ゲイン値及び絞り値を一定として露光時間を可変制
御することで、CCDの撮像面への露光量を一定に維持
するように制御する場合には、シャッタ速度、即ち露光
時間(log)と、CCDの撮像面照度(log)は、
図20に示すように、直線的な時間制御にするのが理想
的である。
御は、水平駆動信号(HD)に同期して、即ち水平走査
期間を一単位として行われているので、図21に示すよ
うに高速シャッタになる程、即ち露光時間が短くなる
程、シャッタ間隔は粗い間隔になる傾向があり、このよ
うな従来のCCDでは、電荷の蓄積時間を精度良く制御
することができなかった。そこで、従来の電子カメラで
は、図22に示すように露光時間に応じてゲイン値を制
御することでAE精度を確保している。
は、撮像面の露光量を確保するために露光時間を長くと
る必要がある。しかし、電子シャッタ手段のシャッタ速
度による制御の制限があり、一垂直帰線期間(1V)以
上のシャッタ速度、即ち1垂直帰線期間(1V)を超え
る長い露光時間を設定することができない場合がある。
したがって、そのような従来の電子カメラでは、最低被
写体輝度に対する最低撮像面照度(図21で符号Aによ
って示す点)以下の照度において、露光量を確保するた
めに、上記ゲイン値を高く設定する等の制御が行われて
いる。しかし、上述したようにゲイン値を高く設定する
程、S/N比が劣化してしまう傾向があるという問題が
あった。
造過程中における種々の要因により発生する白点キズ等
の欠陥の位置情報を、カメラ内に配設されるROM等に
記憶させておき、その位置情報を随時参照することによ
り、欠陥の位置を確認できるようにしている。そして、
これら白点キズ等の欠陥に起因する固定パターンノイズ
(以下、白点ノイズ又は画像欠陥という)は、図24に
示すように画像欠陥を生じさせる画素(以下、欠陥画素
という)の信号Bに隣接した垂直方向の正常画素の信号
C1,C3及び水平方向の正常画素の信号C2,C4等
によって置換することによって、発生した画像欠陥を補
正する画像補間処理が施されるのが普通である。
すように、電子カメラの撮影時において、本露光時間<
LT>が長くなると、白点ノイズの出力信号レベル<H
i>が高くなる場合がある。そして、図25に示すよう
に露光時間が長くなる程、白点ノイズの出力信号は増大
する傾向にある。さらに、上記白点ノイズの出力信号
は、図26に示すようにCCDの温度が高くなる程、増
大する傾向にある。
増大すると、所定のレベル以下の微細な白点キズ等に起
因して生じ、同電子カメラが認識し得る白点ノイズの
数、即ち識別可能となる画素欠陥の数が多くなる。した
がって、図27に示すように露光時間が長くなる程、ま
た図28に示すようにCCDの温度が高くなる程、画像
欠陥が目立ってしまう、即ち認識し得る欠陥画素(画素
欠陥)の数が増加するという傾向がある。
のであって、その目的とするところは、CCD等の撮像
素子により光電変換することによって得られる電気信号
としての画像信号に対して適切な信号処理を施して、よ
り良好な画像を表示装置に再生表示し得る画像信号を得
るようにした電子的撮像装置を提供するにある。
に、第1の発明による電子的撮像装置は、二次元配列の
固体撮像素子と、露光時間を制御する電子シャッタ手段
と、上記固体撮像素子からの出力信号を調整するゲイン
制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭強調手段とを備え
た電子的撮像装置において、撮影動作時の上記ゲイン制
御手段によるゲイン値に応じて、上記輪郭強調手段によ
る輪郭強調度を可変制御することを特徴とする。
は、二次元配列の固体撮像素子と、露光時間を制御する
電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子からの出力信号
を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭
強調手段とを備えた電子的撮像装置において、撮影動作
時の上記ゲイン制御手段によるゲイン値に応じて、上記
輪郭強調手段によるコアリングレベルを可変制御するこ
とを特徴とする。
は、二次元配列の固体撮像素子と、露光時間を制御する
電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子からの出力信号
を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭
強調手段とを備えた電子的撮像装置において、撮影動作
時の上記電子シャッタ手段による露光時間に応じて、上
記輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御することを
特徴とする。
元配列の固体撮像素子と、露光時間を制御する電子シャ
ッタ手段と、上記固体撮像素子からの出力信号を調整す
るゲイン制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭強調手段
とを備えた電子的撮像装置において、上記固体撮像素子
の温度を検出する温度検出手段を備え、撮影動作時に上
記温度検出手段により検出された上記固体撮像素子の温
度に応じて、上記輪郭強調手段による輪郭強調度を可変
制御することを特徴とする。
元配列の固体撮像素子を用いた電子的撮像装置におい
て、画像欠陥の補間処理を施す画素欠陥補正手段を備
え、撮影動作時の上記電子シャッタ手段による露光時間
に応じて、上記画素欠陥補正手段による補間処理を施す
対象画素を切り換えることを特徴とする。
元配列の固体撮像素子を用いた電子的撮像装置におい
て、上記固体撮像素子の温度を検出する温度検出手段
と、画像欠陥の補間処理を施す画素欠陥補正手段とを具
備し、撮影動作時に上記温度検出手段により検出された
上記固体撮像素子の温度に応じて、上記画像欠陥補正手
段による補間処理を施す対象画素を切り換えることを特
徴とする。
元配列の固体撮像素子と、露光時間を制御する電子シャ
ッタ手段と、上記固体撮像素子からの出力信号を調整す
るゲイン制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭強調手段
とを備えた電子的撮像装置において、欠陥画素の位置を
判別する判別手段と、上記欠陥画素によって生じる画像
欠陥の補間処理を施す画像欠陥補正手段とを備え、上記
判別手段による欠陥画素の位置情報に基いて、欠陥画素
のある位置と欠陥画素のない位置とでは、異なる輪郭強
調度によって輪郭信号処理を施すようにしたことを特徴
とする。
元配列の固体撮像素子と、露光時間を制御する電子シャ
ッタ手段と、上記固体撮像素子からの出力信号を調整す
るゲイン制御手段と、輪郭信号処理を施す輪郭強調手段
とを備えた電子的撮像装置において、画像欠陥の出力レ
ベルに応じて、上記輪郭強調手段による輪郭強調度を可
変制御することを特徴とする。
本発明を説明する。図1は、本発明の第1の実施形態の
電子的撮像装置の内部構成を示すブロック構成図であ
る。
像装置は、撮影レンズやこれを駆動する駆動モータ及び
駆動機構等からなる撮影光学系1と、この撮影光学系1
により結像される光学的な被写体像を光電変換し、同被
写体像の画像信号を生成するCCD等の固体撮像素子
(以下、単にCCDという)2と、このCCD2の出力
信号から画像信号成分を抽出するCDS回路(相関二重
サンプリング回路;correlated double sampling)3
と、このCDS回路3の出力信号レベルを所定のゲイン
値に調整するためのAGC回路等を含むゲイン制御手段
である増幅器(AMP)4と、このAMP4から出力さ
れるアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換
器5と、上記CCD2の白点キズ等の欠陥等(以下、白
点キズ等という)に起因する画像欠陥を補間する画素欠
陥補正手段である画素欠陥補正回路6と、上記CCD2
の白点キズの位置情報等が予め記録されたメモリ等の欠
陥補正用ROM25と、上記画素欠陥補正回路6によっ
て画像欠陥が補正済みの画像信号をRL信号,GL信
号,BL信号の三原色の各色信号に分離する色分離回路
8と、画像信号のホワイトバランス(WB)を調整する
WB27と、色再現性を改善するための色補正を行う色
補正回路28と、色信号のガンマ(γ)補正処理を施す
色γ補正回路29と、R,G,Bの各色信号を輝度信号
YLと二つの色差信号(R−Y信号及びB−Y信号)に
変換して色相や色の飽和度等を調整する色差マトリクス
回路10と、上記画素欠陥補正回路6から出力される画
像信号のγ補正処理を施すγ補正回路26と、このγ補
正回路26によりγ補正処理が施された画像信号から輝
度信号(Y信号)のみを抽出し生成するY信号生成部1
2と、輪郭強調手段の一部を形成し、上記Y信号から低
周波成分を除去して輪郭信号(以下、エッジ信号とい
う)を抽出するハイパスフイルタ(HPF)部13と、
輪郭強調手段の一部であって、上記HPF13により生
成されたエッジ信号のノイズ成分を抑圧又は除去し、S
/N比を改善するコアリング処理を施すコアリング部1
4と、このコアリング部14によってコアリング処理が
施されたY信号に対して所定の係数を掛け合わせエッジ
強調処理を施す輪郭強調手段の一部であるエッジ強調度
積算器15と、このエッジ強調度積算器15から出力さ
れるエッジ強調処理済みのY信号を上記色差マトリクス
回路10から出力される輝度信号YLに加算して、輝度
信号YHを出力する加算器11と、画像信号を表示可能
な形態に処理する信号処理回路を含む表示手段である液
晶ディスプレイ(LCD)19と、画像信号を一時的に
記憶するメモリ等からなるカメラ内蔵記憶手段であるD
RAM16と、画像信号に圧縮処理及び伸長処理を施す
圧縮伸長回路17と、画像信号を保存するメモリカード
等の記録媒体18と、撮影時にAF動作を開始させると
共に、露光動作を開始させるトリガー信号を発生させ得
るトリガースイッチ等、複数のスイッチからなる操作部
21と、上記CCD2の温度状態を検出する温度検出手
段である温度センサ部22と、上記CCD2の駆動パル
ス等の同期信号を発生させるタイミングジェネレータ
(TG)23及びシグナルジェネレータ(SG)24等
によって構成されている。
るCPU20に電気的に接続されており、本実施形態の
電子的撮像装置全体は、同CPU20によって統括的に
制御されている。なお、上記CCD2は、電子シャッタ
機能(手段)を有しており、これにより露光時間の制御
を行なうことができるようになっている。
において、撮影時に行われる作用は以下の通りである。
なお、ここでは撮影時に行われる作用のうち、本発明に
かかわる部分のみを説明している。
は、CDS回路3において画像信号成分が抽出され、A
MP4において出力信号レベルが所定のゲイン値に調整
された後、A/D変換器5においてデジタル信号に変換
される。このデジタル信号に変換された画像信号は、画
素欠陥補正回路6に入力され、ここで欠陥補正用ROM
25に予め記録されている白点キズの位置情報等に基い
て欠陥画素の位置が判別され、これに対して所定の補正
量による画像欠陥補正処理が施される。したがって、上
記画素欠陥補正回路6は、欠陥画素の位置を判別する判
別手段としての役目もしている。
力される主信号と、上記γ補正回路26に出力される副
信号とに分岐される。ここで、上記主信号に対しては、
上記色分離回路8以降の各回路において、所定の色補正
処理等の信号処理が施される。
補正回路26によってγ補正処理が施された後、Y信号
生成部12において、輝度信号(Y信号)のみが抽出さ
れて、生成される。このY信号は上記HPF部13に入
力され、これを受けてHPF部13は、上記Y信号から
エッジ信号を生成して、これを上記コアリング部14に
出力する。このコアリング部14において、上記エッジ
信号に対して所定のコアリング処理を施した後、これを
上記エッジ強調度積算器15へ出力する。そして、この
エッジ強調度積算器15においてエッジ強調処理がなさ
れた後、このエッジ強調処理済みのY信号は、上記加算
器11において上記主信号の輝度信号YLに加算され、
上記LCD19に出力されて、画像の再生表示処理がな
される。
って施されるエッジ強調処理は、図2に示すように高い
エッジ強調度によってエッジ強調処理を強くかける程、
画像信号(Y信号)のS/N比が劣化する傾向がある。
ける上記エッジ強調度積算器15では、図3に示すよう
に画像信号の信号レベル(ゲイン値)に応じて、エッジ
強調処理を施すための係数、即ちエッジ強調度を変化さ
せるように制御している。
チャートは、図4に示すようになる。図4において、画
像信号の信号レベルを高ゲイン値<Hi>に設定して撮
影を行った場合、上記エッジ強調度積算器15はエッジ
強調度を可変制御して、所定のS/N比を確保し得る低
エッジ強調度<Low>を設定し、これによってエッジ
強調処理を施す。
画像信号の信号レベル(ゲイン値)に応じてエッジ強調
度を可変制御するようにしたので、所定のS/N比を確
保した画像信号を得ることができ、よって良好な画像で
再生表示することができる。
てS/N比の劣化を防ぐ手段としては、上述の第1の実
施形態に示したエッジ強調度の可変制御による手段の他
に、例えばコアリング部14によって施されるコアリン
グ処理のコアリングレベルを可変制御する手段が考えら
れる。
は、画像信号の信号レベル(ゲイン値)に応じてコアリ
ングレベルを可変制御するようにしたものである。な
お、この一変形例の電子的撮像装置は、上述の第1の実
施形態の電子的撮像装置と同様の構成からなるものであ
り、輪郭信号手段における信号処理が若干異なるのみで
ある。したがって、装置内部の構成については、その詳
細な説明及び図示を省略する。
アリング部14によって施されるコアリング処理の入出
力特性を図5に示す。図5に示されるように、通常のコ
アリング処理は、画像信号のY信号から上記HPF部1
3によって抽出されたエッジ信号の入力に対する出力に
不感帯域(図5の符号Fに示す領域)を設け、これによ
りエッジ信号の出力のノイズ成分を抑圧するというもの
である。
記不感帯域Fを拡げて、抑圧すべきノイズレベルを上げ
る程、即ちコアリングレベルを上げる程、図6に示すよ
うにS/N比は向上し、またコアリングレベルを低く設
定すればS/N比も劣化するという傾向がある。
一定レベルに保持するためには、図7に示すように画像
信号の信号レベル(ゲイン値)に応じてコアリングレベ
ルを変化させるように制御すれば良い。そこで、本変形
例においては、画像信号の信号レベルに応じて、上記コ
アリング部14により施されるコアリング処理のコアリ
ングレベルを可変制御するようにしている。
タイミングチャートに示すようになる。図8において、
画像信号の信号レベルが高ゲイン値<Hi>に設定され
ているときには、上記コアリング部14はコアリングレ
ベルを可変制御して、所定のS/N比を確保し得る高コ
アリングレベル<Hi>を設定し、これによってコアリ
ング処理を施す。このように上記一変形例によっても、
上記第1の実施形態と全く同様の効果を得ることができ
る。
撮像装置においては、画像信号のS/N比を所定の一定
レベルに保持するために、画像信号の信号レベルに応じ
てエッジ強調度を可変制御するようにしている。この場
合においては、図9に示すようにエッジ強調度が上がる
と、これに伴って白点ノイズの出力レベルが高くなる傾
向がある。また、通常のCCDにおいては、上述したよ
うに撮影時の本露光時間が長くなると、白点ノイズの出
力レベルが高くなる傾向がある(図23、図25参
照)。
として、次のような信号処理の手段が考えられる。なお
本変形例においても、その主要な構成については上述の
第1の実施形態と同様であり、輪郭信号手段における信
号処理が若干異なるのみである。したがって、装置内部
の構成の詳細な説明及び図示は省略している、本変形例
における電子的撮像装置は、上記第1の実施形態の電子
的撮像装置と同様にCCD2の電子シャッタ機能によっ
て露光時間が制御されている。このCCD2は、上記C
PU20によって制御されており、同CPU20は撮影
時の電子シャッタ手段による露出時間に応じて、エッジ
強調度積算器15を制御することにより、同エッジ強調
度積算器15によるエッジ強調処理を施す際のエッジ強
調度を可変制御している。
定レベルに保持するため、即ち白点ノイズの信号出力レ
ベルを一定レベルに保持するために、上記CCD2の露
光時間に応じて制御されるエッジ強調度の関係を示して
いる。
すタイミングチャートに示すように、撮影時の電子シャ
ッタの露光時間<LT>が長くなったときには、上記エ
ッジ強調度積算器15はエッジ強調度を可変制御して、
所定のS/N比を確保し得る低エッジ強調度<Low>
を設定し、これによってエッジ強調処理を施す。このよ
うに上記他の変形例によれば、長時間露光時における白
点ノイズの出力レベルを一定レベルに抑えることができ
るので、画像信号のS/N比の劣化を防ぎ、よって良好
な画像を再生表示し得る画像信号を得ることができる。
ようにCCDの温度が高くなる程、白点ノイズの出力信
号が増大する傾向にある(図26参照)。そこで、上記
第1の実施形態の別の変形例として、次のような信号処
理の手段が考えられる。なお、本変形例においても、そ
の構成は上述の第1の実施形態と同様であって、輪郭信
号手段における信号処理が若干異なるのみである。した
がって、装置内部の構成の詳細な説明及び図示は省略す
る。
第1の実施形態の電子的撮像装置と同様に温度センサ部
22が配設されており、これによって、同電子的撮像装
置が電源オン状態となっている間は、上記CCD2の温
度状態が常に検出されている。この温度センサ部22は
上記CPU20によって制御されており、同CPU20
は、上記温度センサ部22により検出された撮影時のC
CD2の温度状態に応じて、上記エッジ強調度積算器1
5を制御してエッジ強調処理を施す際のエッジ強調度を
可変制御している(図12参照)。
って本変形例によれば、上記CCD2の温度変化に関ら
ず、これに応じたエッジ強調度によってエッジ強調処理
を施すようにしているので、画像信号のS/N比を所定
の一定レベルに保持することができ、よって良好な画像
信号を得ることができる。
の電子的撮像装置においては、欠陥補正用ROM25に
予め記録されている白点キズの位置情報等に基いて、画
素欠陥補正回路6が欠陥画素の位置を判別し、判別され
た欠陥画素に対して所定の補正量によって画像欠陥補正
処理を施している。
露光時間が長くなったり、CCDの温度が高くなったり
した場合には、個々の白点ノイズの出力信号が増大し、
所定のレベル以下の微細な白点キズ等に起因する画像欠
陥が目立つようになる(図27、図28参照)。
画素欠陥補正回路6のように、常に一定の補正量によっ
て画像欠陥の補正処理を施すようにした場合、撮影時の
露光時間や温度等の条件によっては、補正が不足した
り、逆に過剰に補正をかけてしまうことになり、これに
よって画質を劣化させてしまう場合があった。
Dへの露光量に応じて、欠陥画素の補正量を変化させる
ようにすれば、常に適切な補正量によって欠陥画素の補
正を施すことができ、よって画質を劣化させることもな
い。
は、CCDの電子シャッタ手段による露光時間に応じ
て、画素欠陥補正回路によって施される補正処理の補正
量を切り換えるようにしたものである。
構成は、図13のブロック構成図に示すように上述の第
1の実施形態における欠陥補正用ROM25に代えて、
構成の異なる欠陥補正用ROM25Aを用いた点が異な
るのみであり、その他の構成部材は、上述の第1の実施
形態と同様である。したがって、これら第1の実施形態
と同様の構成部材には同じ符号を付して、その説明を省
略し異なる部分、即ち欠陥補正用ROM25Aについて
のみ、以下に説明する。
補正用ROM25Aは、第1ROM25aと第2ROM
25bの二つのROMによって構成されている。各RO
M25a,25bには、それぞれにCCD2の白点キズ
等の欠陥に関する異なる情報、例えば白点キズ等の位置
情報等が記録されている。この情報としては、例えば第
1ROM25aには、露光時間が比較的長い場合に対応
する画像欠陥を補正する補正量の情報や、露光時間が長
い場合に認識される白点キズ等の欠陥の数や位置情報等
が、また第2ROM25bには露光時間が比較的短い場
合に対応する画像欠陥の補正量や、露光時間が短い場合
に認識される欠陥の数や位置情報等が、それぞれ記録さ
れている。
に応じて欠陥補正用ROM25Aの第1ROM25aと
第2ROM25bを切換制御して、画素欠陥補正手段で
ある画素欠陥補正回路6が施す補正処理の対象画素を切
り換えるように構成されている。
において、例えば長い露光時間による撮影が行われた場
合には、上記CPU20は欠陥補正用ROM25Aを第
1ROM25a側に切り換えて、これに記録されている
情報を上記画素欠陥補正回路6に伝達する。これを受け
て、同補正回路6は、伝達された情報に基いて画素欠陥
補正処理を施す。
によれば、撮影時の露光時間に応じて、画素欠陥補正回
路6による補間処理を施す対象画素を切り換えるようし
たので、画像信号に対して過剰な補正をかけることがな
く、よって画質の劣化を防ぎ、良好な画像を得ることが
できる。
ては、露光時間に応じて欠陥補正要路M25Aの切換制
御を行うようにしているが、上述したように撮影時のC
CD2の温度状態によっても、個々の白点ノイズの出力
信号が増大することにより、画像欠陥が目立つ場合があ
る。
撮影時のCCDの温度を検出し、その検出結果に応じ
て、欠陥画素の補正量を変化させるようにすれば、同様
に適切な欠陥画素の補正を施すことができることとな
る。そこで、次に示すような変形例が考えられる(図1
3参照)。
CD2の温度状態を温度センサ部22によって検出し、
検出された温度情報に基いて欠陥補正用ROM25Aの
切換制御を行うようにしている。
M25Aの第1ROM25aには、CCDの温度状態が
比較的高い場合に対応する画像欠陥の補正量や、温度状
態が高いときの白点キズ等の欠陥の数や位置情報等が、
また第2ROM25bにはCCDの温度情報が比較的低
い場合に対応する画像欠陥の補正量や、温度状態が低い
ときの欠陥の数や位置情報等が、それぞれ記録されてい
る。このように構成した場合にも、上述の第2の実施形
態と同様の効果を得ることができる。
15におけるエッジ強調度を上げてエッジ強調処理を施
すと、これに伴って白点ノイズの出力レベルも高くなる
傾向がある(図9参照)ことから、画像信号より抽出さ
れたエッジ信号に対して、一定のエッジ強調度によって
エッジ強調処理を施した場合には、図16に示すよう
に、撮像面W内において欠陥画素のある位置(符号Y)
における処理結果と、欠陥画素のない位置(符号N)、
即ち正常画素に対する処理結果とでは異なる結果とな
り、欠陥画素に起因して生じる白点ノイズの出力信号レ
ベルが目立つ場合がある。
は、欠陥画素の有無を判別し、欠陥画素のある位置と欠
陥画素のない位置(正常画素)とで、それぞれ異なるエ
ッジ強調度によってエッジ強調処理を施すようにしてい
る。なお、その他の構成は、上述の第1、第2の実施形
態と同様である(図1、図13参照)。
欠陥補正用ROM25(図1参照)又は欠陥補正用RO
M25A(図13参照)に記録されている欠陥の位置情
報等が利用されることとなる。その他の構成について
は、上述の第1、第2の実施形態と同様である。
欠陥補正用ROM25,25Aに予め記録されている欠
陥画素の位置情報等に基いて、欠陥画素のある位置と欠
陥画素のない位置とで、異なるエッジ強調度によってエ
ッジ強調処理を施すようにしたので、これによって欠陥
画素が目立つことがなくS/N比の劣化を防ぐと共に、
良好な画像を再生表示し得る画像信号を得ることができ
る。
欠陥画素の位置情報に応じたエッジ強調処理を施すよう
にしたが、これとは別に、例えば画像欠陥(白点ノイ
ズ)の出力レベルに応じて、全体のエッジ強調処理のエ
ッジ強調度を可変制御するようにした変形例も考えられ
る。
白点ノイズ信号の出力レベルに応じたエッジ強調度によ
るエッジ強調処理が施されることとなる。このような信
号処理の制御を施すことによっても、上述の第3の実施
形態と同様の効果を得ることができる。
ン制御手段によるゲイン値に応じて輪郭強調手段による
輪郭強調度を可変制御するようにしたので、S/N比の
劣化を防ぐことができる。
制御手段によるゲイン値に応じて輪郭強調手段によるコ
アリングレベルを可変制御するようにしたので、S/N
比の劣化を防ぐことができる。
ャッタ手段による露光時間に応じて、輪郭強調手段によ
る輪郭強調度を可変制御するようにしたので、画像欠陥
を目立たなくすることができる。
を検出する温度検出手段を備え、撮影動作時に温度検出
手段により検出された固体撮像素子の温度に応じて輪郭
強調手段による輪郭強調度を可変制御するようにしたの
で、画像欠陥を目立たなくすることができる。
を施す画素欠陥補正手段を備え、撮影動作時の電子シャ
ッタ手段による露光時間に応じて画素欠陥補正手段によ
る補間処理を施す対象画素を切り換えるようにしたの
で、適正な補正量でによる補間処理を施すことができ、
画像の劣化を防止することができる。
を検出する温度検出手段と、画像欠陥の補間処理を施す
画素欠陥補正手段とを具備し、撮影動作時に温度検出手
段により検出された固体撮像素子の温度に応じて画像欠
陥補正手段による補間処理を施す対象画素を切り換える
ようにしたので、適正な補正量でによる補間処理を施す
ことができ、画像の劣化を防止することができる。
別する判別手段と、欠陥画素によって生じる画像欠陥の
補間処理を施す画像欠陥補正手段とを備え、判別手段に
よる欠陥画素の位置情報に基いて欠陥画素のある位置と
欠陥画素のない位置とでは、異なる輪郭強調度によって
輪郭信号処理を施すようにしたので、画像欠陥を目立た
なくすることができる。
ルに応じて輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御す
るようにしたので、画像欠陥を目立たなくすることがで
きる。
等の撮像素子により光電変換することによって得られる
電気信号としての画像信号に対して適切な信号処理を施
して、より良好な画像として表示装置に再生表示し得る
画像信号を得るようにした電子的撮像装置を提供するこ
とができる。
部構成を示すブロック構成図。
強調度と画像信号のS/N比の関係を示す図。
信号の出力レベル(ゲイン)に応じて制御されるエッジ
強調度の関係を示す図。
グチャート。
によるコアリング処理の入出力特性を示す図。
影時のコアリングレベルと画像信号のS/N比の関係を
示す図。
信号の信号レベル(ゲイン)に応じて制御されるコアリ
ングレベルの関係を示す図。
グチャート。
強調度と白点ノイズ信号の出力レベルの関係を示す図。
て、撮影時の露光時間に応じて制御されるエッジ強調度
の関係を示す図。
ミングチャート。
て、撮影時のCCDの検出温度に応じて制御されるエッ
ジ強調度の関係を示している。
内部構成を示すブロック構成図。
CCDへの露光量に応じて欠陥画素の補正量を変化させ
た場合の露光量と補正量との関係を示す図。
CCDの温度状態に応じて欠陥画素の補正量を変化させ
た場合の温度状態と補正量との関係を示す図。
撮影時の白点ノイズ信号の出力レベルに応じて制御され
るエッジ強調度の関係を示す図。
イミングチャート。
の出力レベル値(ゲイン)とS/N比の関係を示す図。
撮像面照度の関係を示す図。
間と撮像面照度の関係を示す図。
の出力信号レベル(ゲイン)と撮像面照度の関係を示す
図。
間が長い場合のタイミングチャート。
説明する図。
と白点ノイズの出力信号の関係を示す図。
温度と白点ノイズの出力信号の関係を示す図。
と認識し得る欠陥画素(画像欠陥)の数の関係を示す
図。
温度と認識し得る欠陥画素(画像欠陥)の数の関係を示
す図。
段) 14……コアリング部(輪郭強調手段) 15……エッジ強調度積算器(輪郭強調手段) 20……CPU(制御手段) 21……操作部(トリガースイッチ等) 22……温度センサ部(温度検出手段) 25,25A……欠陥補正用ROM 26……γ補正回路
Claims (8)
- 【請求項1】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 撮影動作時の上記ゲイン制御手段によるゲイン値に応じ
て、上記輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御する
ことを特徴とする電子的撮像装置。 - 【請求項2】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 撮影動作時の上記ゲイン制御手段によるゲイン値に応じ
て、上記輪郭強調手段によるコアリングレベルを可変制
御することを特徴とする電子的撮像装置。 - 【請求項3】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 撮影動作時の上記電子シャッタ手段による露光時間に応
じて、上記輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御す
ることを特徴とする電子的撮像装置。 - 【請求項4】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 上記固体撮像素子の温度を検出する温度検出手段を備
え、 撮影動作時に上記温度検出手段により検出された上記固
体撮像素子の温度に応じて、上記輪郭強調手段による輪
郭強調度を可変制御することを特徴とする電子的撮像装
置。 - 【請求項5】 二次元配列の固体撮像素子を用いた電
子的撮像装置において、 画像欠陥の補間処理を施す画素欠陥補正手段を備え、 撮影動作時の上記電子シャッタ手段による露光時間に応
じて、上記画素欠陥補正手段による補間処理を施す対象
画素を切り換えることを特徴とする電子的撮像装置。 - 【請求項6】 二次元配列の固体撮像素子を用いた電
子的撮像装置において、 上記固体撮像素子の温度を検出する温度検出手段と、 画像欠陥の補間処理を施す画素欠陥補正手段と、 を具備し、 撮影動作時に上記温度検出手段により検出された上記固
体撮像素子の温度に応じて、上記画像欠陥補正手段によ
る補間処理を施す対象画素を切り換えることを特徴とす
る電子的撮像装置。 - 【請求項7】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 欠陥画素の位置を判別する判別手段と、 上記欠陥画素によって生じる画像欠陥の補間処理を施す
画像欠陥補正手段と、 を備え、 上記判別手段による欠陥画素の位置情報に基いて、欠陥
画素のある位置と欠陥画素のない位置とでは、異なる輪
郭強調度によって輪郭信号処理を施すようにしたことを
特徴とする電子的撮像装置。 - 【請求項8】 二次元配列の固体撮像素子と、露光時
間を制御する電子シャッタ手段と、上記固体撮像素子か
らの出力信号を調整するゲイン制御手段と、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段とを備えた電子的撮像装置におい
て、 画像欠陥の出力レベルに応じて、上記輪郭強調手段によ
る輪郭強調度を可変制御することを特徴とする電子的撮
像装置。
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